KR101010066B1 - Voltage variable controller in test board - Google Patents

Voltage variable controller in test board Download PDF

Info

Publication number
KR101010066B1
KR101010066B1 KR1020030090016A KR20030090016A KR101010066B1 KR 101010066 B1 KR101010066 B1 KR 101010066B1 KR 1020030090016 A KR1020030090016 A KR 1020030090016A KR 20030090016 A KR20030090016 A KR 20030090016A KR 101010066 B1 KR101010066 B1 KR 101010066B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
voltage
test board
detecting means
output
temperature
Prior art date
Application number
KR1020030090016A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20050057820A (en
Inventor
조영출
윤용식
장준
배진하
김진영
정세영
Original Assignee
주식회사 하이닉스반도체
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 하이닉스반도체 filed Critical 주식회사 하이닉스반도체
Priority to KR1020030090016A priority Critical patent/KR101010066B1/en
Publication of KR20050057820A publication Critical patent/KR20050057820A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101010066B1 publication Critical patent/KR101010066B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/31721—Power aspects, e.g. power supplies for test circuits, power saving during test
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
    • G01R19/257—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques using analogue/digital converters of the type with comparison of different reference values with the value of voltage or current, e.g. using step-by-step method

Abstract

본 발명은 전원을 하드웨어적으로 처리하여 미세한 전원 조정을 자동적으로 수행하고, 현재 전압, 전류 및 온도 상태를 사용자에게 실시간으로 소프트웨어 및 디스플레이를 통해 제공하는 테스트 보드용 전압 가변 제어기에 관한 것으로, 해당하는 부분의 온도 변화를 검출하는 온도 검출수단과, 출력전압의 상태를 검출하는 전압 검출수단과, 온도 검출수단으로부터 출력된 온도 검출신호와 전압 검출 수단으로부터 출력된 전압 검출신호를 이용하여 안정된 전압 레벨을 설정하기 위한 데이터를 출력하는 MCU와, MCU로부터 출력된 데이터에 해당하는 기본전압을 발생하는 전압 발생수단과, 기본전압을 조절하여 출력전압을 발생하는 레귤레이터를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to a voltage variable controller for a test board that automatically processes a power supply to perform fine power adjustment and provides a current voltage, current, and temperature state to a user through software and a display in real time. The temperature detection means for detecting the temperature change of the part, the voltage detection means for detecting the state of the output voltage, the temperature detection signal output from the temperature detection means and the voltage detection signal output from the voltage detection means MCU for outputting data for setting, voltage generating means for generating a base voltage corresponding to the data output from the MCU, and a regulator for generating an output voltage by adjusting the base voltage.

Description

테스트 보드용 전압 가변 제어기{Voltage variable controller in test board}Voltage variable controller in test board

도 1은 본 발명에 따른 테스트 보드를 나타낸 블록도.1 is a block diagram showing a test board according to the present invention.

도 2는 도 1의 전압 가변 제어기를 나타낸 블록도.FIG. 2 is a block diagram illustrating the voltage variable controller of FIG. 1. FIG.

본 발명은 테스트 보드(test board)용 전압 가변 제어기에 관한 것으로, 보다 상세하게는 전원을 하드웨어적으로 처리하여 미세한 전원 조정을 자동적으로 수행하고, 현재 전압, 전류 및 온도 상태를 사용자에게 실시간으로 소프트웨어 및 디스플레이를 통해 제공하는 테스트 보드용 전압 가변 제어기에 관한 것이다.The present invention relates to a voltage variable controller for a test board, and more particularly, to process the power in hardware to perform fine power adjustment automatically, and to present the current voltage, current and temperature status to the user in real time. And a voltage variable controller for a test board provided through a display.

일반적으로 메인보드는 ATX 파워 장치를 통해 전원을 공급받는다. 따라서 DDR 메모리의 경우도 ATX 파워 장치에 의해 공급된 전원이 메인보드의 레귤레이터를 통해서 고정된 전압을 공급받는다. 대부분의 시스템에서는 전원공급 장치를 회로적으로 처리하여 고정된 전원을 공급한다.Generally, motherboards are powered by ATX power devices. Thus, in the case of DDR memory, the power supplied by the ATX power device is supplied with a fixed voltage through the regulator of the motherboard. In most systems, the power supply is circuited to provide a fixed power source.

그러나, 메모리를 테스트하는 실장 평가에서는 메모리 모듈을 가장 효율적으로 테스트하기 위해 안정적인 전원 공급이 필요하며, 공급되어지는 전원 레벨에 대 해서도 미세하게 조정할 수 있어야 한다. 왜냐하면, 메모리를 테스트하기 위한 조건들이 조금씩 바뀔 수 있기 때문에 미세한 전원 제어를 사용자에게 제공하여야 한다.However, the evaluation of the implementation of testing the memory requires a stable power supply to test the memory module most efficiently, and must be able to fine tune the power supply level being supplied. Because the conditions for testing the memory can change little by little, the user must be provided with fine power control.

종래 기술에 따른 전원 공급 장치는 메모리를 테스트 할 때 메모리 테스트 아이템에 따라 많은 전류를 소모하기 때문에 순간적인 전압 강하 현상으로 메모리 테스트를 수행할 때 테스트 결과에 대한 신뢰성을 떨어지는 문제점이 있다.Since the power supply according to the prior art consumes a lot of current depending on the memory test item when testing the memory, there is a problem that the reliability of the test result is lowered when the memory test is performed due to the instantaneous voltage drop phenomenon.

이와 같은 문제점을 해결하기 위해 전원의 미세한 조정이 필요할 때마다 사용자가 수작업으로 조정해야만 하며, 현재의 전압과 전류를 감시하기 위해 수작업으로 별도의 장치를 통해 측정을 해야하는 문제점이 있다. In order to solve such a problem, whenever a fine adjustment of the power supply is required, the user needs to manually adjust, and there is a problem that a manual measurement is performed through a separate device to monitor the current voltage and current.

상기 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은 미세한 전압 조정 시 하드웨어로 처리하여 자동으로 오프셋을 적용하는 것이다.An object of the present invention for solving the above problems is to automatically apply an offset by processing in hardware when fine voltage adjustment.

본 발명의 다른 목적은 장시간 동안 메모리 테스트가 진행되어도 실시간으로 전압, 전류 및 온도 상태를 감시하여 안정적인 전압을 공급하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a stable voltage by monitoring the voltage, current and temperature conditions in real time even if the memory test is performed for a long time.

본 발명의 또 다른 목적은 메모리 테스트가 진행될 때 실시간으로 전압, 전류 및 온도 상태를 디스플레이 하여 테스트 결과에 대한 신뢰성을 향상시키는 것이다.Yet another object of the present invention is to improve the reliability of the test results by displaying the voltage, current and temperature status in real time as the memory test proceeds.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 테스트 보드용 전압 가변 제어기는 해당하는 부분의 온도 변화를 검출하는 온도 검출수단; 출력전압의 상태를 검출하는 전압 검출수단; 상기 온도 검출수단으로부터 출력된 온도 검출신호와 상기 전압 검출 수단으로부터 출력된 전압 검출신호를 이용하여 안정된 전압 레벨을 설정하기 위한 데이터를 출력하는 MCU; 상기 MCU로부터 출력된 데이터에 해당하는 기본전압을 발생하는 전압 발생수단; 및 상기 기본전압을 조절하여 출력전압을 발생하는 레귤레이터를 포함하는 것을 특징으로 한다.The variable voltage controller for a test board of the present invention for achieving the above object is a temperature detection means for detecting a temperature change of the corresponding portion; Voltage detecting means for detecting a state of an output voltage; A MCU for outputting data for setting a stable voltage level using the temperature detection signal output from the temperature detection means and the voltage detection signal output from the voltage detection means; Voltage generating means for generating a basic voltage corresponding to the data output from the MCU; And a regulator for generating an output voltage by adjusting the basic voltage.

상술한 목적 및 기타의 목적과 본 발명의 특징 및 이점은 첨부도면과 관련한 다음의 상세한 설명을 통해 보다 분명해 질 것이다.The above and other objects and features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description taken in conjunction with the accompanying drawings.

이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 따른 테스트 보드를 나타낸 블록도이다.1 is a block diagram showing a test board according to the present invention.

테스트 보드는 메인보드(2), ATX 파워 장치(4), 및 전압 가변 제어기(6)를 포함한다.The test board includes a main board 2, an ATX power device 4, and a voltage variable controller 6.

ATX 파워 장치(4)는 메인보드(2)에 ATX 전원(VATX)을 인가하고, 전압 가변 제어기(6)에 기준전원(VR)을 인가한다. 여기서 기준전원(VR)은 5V 및 12V 레벨을 갖는다.The ATX power device 4 applies the ATX power supply VATX to the main board 2 and the reference power supply VR to the voltage variable controller 6. Here, the reference power supply VR has 5V and 12V levels.

전압 가변 제어기(6)는 메인보드(2)와 RS-232C 직렬 통신을 수행하고, 메인보드(10)의 메모리 모듈에 공급전압(VDD)을 인가한다. 이때 공급전압(VDD)의 레벨(DET1, DET2)을 감시하여 안정적인 전압 레벨을 갖도록 제어한다.The voltage variable controller 6 performs RS-232C serial communication with the main board 2 and applies a supply voltage VDD to the memory module of the main board 10. At this time, the levels DET1 and DET2 of the supply voltage VDD are monitored to control to have a stable voltage level.

도 2는 도 1의 전압 가변 제어기(6)를 나타낸 블록도이다.FIG. 2 is a block diagram showing the voltage variable controller 6 of FIG.

전압 가변 제어기(6)는 MCU(Main Controller Unit)(8), 온도 센서(10), 전압 발생기(12), 레귤레이터(regulator)(14), 검출기(16), 및 디스플레이 장치(18)를 포함한다.The voltage variable controller 6 includes a main controller unit (MCU) 8, a temperature sensor 10, a voltage generator 12, a regulator 14, a detector 16, and a display device 18. do.

MCU(8)는 사용자 또는 프로그램에 의해 설정된 전압 레벨에 해당하는 데이터(DA)를 메인보드(2)로부터 입력받아 전압 발생기(12)로 전송하고, 설정된 전압 정보를 디스플레이 장치(18)를 통해 사용자에게 알린다. 또한, MCU(8)는 온도 센서(10)로부터 출력된 온도 검출신호(DETT)와 검출기(16)로부터 출력된 전압 검출신호(DETV)를 이용하여 안정된 전압 레벨을 설정하기 위한 데이터(DA)를 출력한다. 그리고, MCU(8)는 프로그램된 전압 레벨에 대응하여 오프셋이 조정된 전압 레벨을 설정하기 위한 데이터(DA)를 출력한다. The MCU 8 receives data DA corresponding to a voltage level set by a user or a program from the motherboard 2 and transmits the data DA to the voltage generator 12, and transmits the set voltage information to the user through the display device 18. Notify In addition, the MCU 8 uses the temperature detection signal DETT output from the temperature sensor 10 and the voltage detection signal DETV output from the detector 16 to supply data DA for setting a stable voltage level. Output The MCU 8 outputs data DA for setting the voltage level at which the offset is adjusted in correspondence to the programmed voltage level.

온도 센서(10)는 다수의 8 비트(bit) ADC 칩(chip)을 사용하여 해당하는 부분의 온도 변화를 검출한다. 즉, 온도 센서(10)는 다수의 8 비트 ADC 칩이 센서를 통해 검출된 아날로그 온도 신호를 디지털 신호로 변환하여 검출된 온도에 대응하는 디지털 값을 MCU(8)에 출력한다.The temperature sensor 10 uses a plurality of 8-bit ADC chips to detect temperature changes in the corresponding parts. That is, the temperature sensor 10 converts an analog temperature signal detected by a plurality of 8-bit ADC chips into a digital signal and outputs a digital value corresponding to the detected temperature to the MCU 8.

전압 발생기(12)는 디지털 아날로그 변환기(Digital to Analog Converter; 이하 DAC라 한다)로 구성되고, MCU(10)로부터 출력된 데이터(DA)에 해당하는 기본전압(VOB)을 출력한다.The voltage generator 12 is configured as a digital to analog converter (hereinafter referred to as a DAC) and outputs a basic voltage VOB corresponding to the data DA output from the MCU 10.

레귤레이터(14)는 기본전압(VOB)을 조절하여 출력전압(VDD)을 발생한다.The regulator 14 generates the output voltage VDD by adjusting the basic voltage VOB.

검출기(16)는 아날로그 디지털 변환기(Analog to Digital Converter; 이하 ADC라 한다)로 구성되고, 출력전압(VDD)의 상태를 검출한다. 여기서 검출기(16)는 전압 뿐 만 아니라 전류도 검출한다. 또한 전압과 전류의 상태를 출력 케이블의 출력단자와 메인보드의 접속단자에서 모두 검출하는 듀얼 채널(dual channel) 방식을 사용한다.The detector 16 is composed of an analog to digital converter (hereinafter referred to as an ADC) and detects a state of the output voltage VDD. The detector 16 detects not only voltage but also current. In addition, the dual channel method is used to detect the voltage and current state at both the output terminal of the output cable and the connection terminal of the motherboard.

한편, MCU(8)는 사용자로부터 원하는 전압 레벨을 설정하기 위한 데이터를 입력받고, 또한 온도 센서(10) 및 검출기(16)로부터 검출된 정보를 사용자 및 프로그램에게 알려준다. 따라서 사용자 또는 프로그램이 자동적으로 오프셋을 적용하거나 안정된 전압 레벨로 재설정한다.Meanwhile, the MCU 8 receives data for setting a desired voltage level from the user, and also informs the user and the program of the information detected from the temperature sensor 10 and the detector 16. Therefore, the user or program automatically applies the offset or resets to a stable voltage level.

현재 전원 가변 제어기(6)를 사용자가 제어하기 위해서는 RS-232C의 통신 프로토콜을 사용하기 때문에 전원 가변 제어기(6)와 메인보드(2)는 일대일 직렬 통신 케이블을 이용하여 연결된다.Since the user uses the communication protocol of RS-232C to control the power variable controller 6, the power variable controller 6 and the main board 2 are connected by using a one-to-one serial communication cable.

종래에는 테스트를 수행하기 전에 메인보드(2)에 따른 미세한 전압 차이는 사용자가 수작업으로 오프셋 조정을 수행하였지만, 본 발명은 출력 전압을 검출하여 프로그램으로 오프셋을 조정한다.Conventionally, before performing the test, the minute voltage difference according to the motherboard 2 is manually adjusted by the user, but the present invention detects the output voltage and adjusts the offset by a program.

따라서, 검출기(16)의 전압 감시 회로를 통해서 전압이 자동으로 정확하게 설정되어지고, 현재의 전압에 대해 실시간으로 감시가 가능하다. Therefore, the voltage is automatically and accurately set through the voltage monitoring circuit of the detector 16, and the present voltage can be monitored in real time.

또한 현재의 온도와 현재의 전류도 사용자가 실시간으로 감시가 가능하고, 소프트웨어를 통해 자동적으로 설정 가능하다.In addition, the current temperature and current can be monitored by the user in real time, and can be set automatically through software.

상기한 바와 같이 본 발명은 12 비트 검출기(ADC)(16)와 12 비트 전압 발생기(DAC)(12)가 상호 피드백 방식으로 서로를 실시간으로 감시하고 제어하도록 설계되었다.As described above, the present invention is designed such that the 12 bit detector (ADC) 16 and the 12 bit voltage generator (DAC) 12 monitor and control each other in real time in a mutual feedback manner.

따라서, 현재의 전압 상태, 전류 상태 및 온도 상태를 실시간으로 감시하고 사용자에게 소프트웨어와 디스플레이 장치(18)를 통해 제공함으로써 오동작 및 환경에 따른 오차로 인해 발생되는 테스트 불량을 방지하여 메모리 테스트의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.Therefore, by monitoring the current voltage state, current state and temperature state in real time and providing the user through the software and the display device 18, it is possible to prevent the test failure caused by malfunction and error due to the environment to improve the reliability of the memory test. Can be improved.

이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명에 따른 전압 가변 제어기는 미세한 전압 조정 시 하드웨어로 처리하여 자동으로 오프셋을 적용할 수 있는 효과가 있다.As described above, the voltage variable controller according to the present invention has an effect of automatically applying an offset by processing the hardware during fine voltage adjustment.

또한, 본 발명은 장시간 동안 메모리 테스트가 진행되어도 실시간으로 전압, 전류 및 온도 상태를 감시하여 안정적인 전압을 공급할 수 있는 효과가 있다.In addition, the present invention has the effect of supplying a stable voltage by monitoring the voltage, current and temperature conditions in real time even if the memory test proceeds for a long time.

게다가, 본 발명은 메모리 테스트가 진행될 때 실시간으로 전압, 전류 및 온도 상태를 디스플레이 하여 테스트 결과에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, the present invention has the effect of improving the reliability of the test results by displaying the voltage, current and temperature status in real time when the memory test is in progress.

아울러 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위한 것으로, 당업자라면 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상과 범위를 통해 다양한 수정, 변경, 대체 및 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정 변경 등은 이하의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications, additions, and substitutions are possible, and that various modifications, additions and substitutions are possible, within the spirit and scope of the appended claims. As shown in Fig.

Claims (9)

온도 변화를 검출하는 온도 검출수단;Temperature detecting means for detecting a temperature change; 출력전압의 상태를 검출하는 전압 검출수단;Voltage detecting means for detecting a state of an output voltage; 상기 온도 검출수단으로부터 출력된 온도 검출신호와 상기 전압 검출 수단으로부터 출력된 전압 검출신호를 이용하여 안정된 전압 레벨을 설정하기 위한 데이터를 출력하는 MCU;A MCU for outputting data for setting a stable voltage level using the temperature detection signal output from the temperature detection means and the voltage detection signal output from the voltage detection means; 상기 MCU로부터 출력된 데이터에 대응하는 기본전압을 발생하는 전압 발생수단; 및Voltage generating means for generating a basic voltage corresponding to the data output from the MCU; And 상기 기본전압을 조절하여 출력전압을 발생하는 레귤레이터를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 보드용 전압 가변 제어기.And a regulator for generating an output voltage by adjusting the basic voltage. 제 1 항에 있어서, 상기 온도 검출 수단은 다수의 ADC 칩(chip)을 사용하는 것을 특징으로 하는 테스트 보드용 전압 가변 제어기.2. The variable voltage controller for a test board according to claim 1, wherein said temperature detecting means uses a plurality of ADC chips. 제 1 항에 있어서, 상기 전압 검출수단은 아날로그 디지털 변환기(Analog to Digital Convertor; ADC)로 구성되는 것을 특징으로 하는 테스트 보드용 전압 가변 제어기.2. The variable voltage controller for a test board according to claim 1, wherein the voltage detecting means comprises an analog to digital convertor (ADC). 제 1 항에 있어서, 상기 전압 검출수단은 출력 케이블의 출력단자와 메인보 드의 접속단자에서 모두 전압을 검출하는 듀얼 채널 방식을 사용하는 것을 특징으로 하는 테스트 보드용 전압 가변 제어기.The variable voltage controller for a test board according to claim 1, wherein the voltage detecting means uses a dual channel method for detecting a voltage at both an output terminal of the output cable and a connection terminal of the main board. 제 1 항에 있어서, 상기 전압 검출 수단은 전류 검출수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 보드용 전압 가변 제어기.The variable voltage controller for a test board according to claim 1, wherein the voltage detecting means further comprises a current detecting means. 제 1 항에 있어서, 상기 MCU는 사용자로부터 전압 레벨을 설정하기 위한 데이터를 입력받고, 상기 온도 검출수단 및 상기 전압 검출수단으로부터 검출된 정보를 사용자 및 프로그램에게 알려주는 것을 특징으로 하는 테스트 보드용 전압 가변 제어기.The test board voltage of claim 1, wherein the MCU receives data for setting a voltage level from a user and informs a user and a program of information detected from the temperature detecting means and the voltage detecting means. Variable controller. 제 1 항에 있어서, 상기 전압 발생수단은 디지털 아날로그 변환기(Digital to Analog convertor; DAC)로 구성되는 것을 특징으로 하는 테스트 보드용 전압 가변 제어기.The variable voltage controller for a test board according to claim 1, wherein the voltage generating means comprises a digital to analog converter (DAC). 제 1 항에 있어서, 상기 온도 검출수단에 의해 검출된 전압 레벨을 표시하는 디스플레이 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 보드용 전압 가변 제어기.The variable voltage controller for a test board according to claim 1, further comprising a display device for displaying the voltage level detected by said temperature detecting means. 제 8 항에 있어서, 상기 디스플레이 장치는 FND(Multi segmented LED Displays)인 것을 특징으로 하는 테스트 보드용 전압 가변 제어기.The variable voltage controller for a test board according to claim 8, wherein the display device is a multi segmented LED displays (FND).
KR1020030090016A 2003-12-11 2003-12-11 Voltage variable controller in test board KR101010066B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030090016A KR101010066B1 (en) 2003-12-11 2003-12-11 Voltage variable controller in test board

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030090016A KR101010066B1 (en) 2003-12-11 2003-12-11 Voltage variable controller in test board

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20050057820A KR20050057820A (en) 2005-06-16
KR101010066B1 true KR101010066B1 (en) 2011-01-24

Family

ID=37251533

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020030090016A KR101010066B1 (en) 2003-12-11 2003-12-11 Voltage variable controller in test board

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101010066B1 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101606991B1 (en) * 2014-06-17 2016-03-28 주식회사 한진중공업 Display Device for Welding Condition
CN112382328A (en) * 2020-11-06 2021-02-19 润昇系统测试(深圳)有限公司 Memory test device and test voltage adjusting method

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19980078958A (en) * 1997-04-30 1998-11-25 김영환 Voltage regulator
JP2000266795A (en) * 1999-03-17 2000-09-29 Nec Corp Voltage fluctuation testing system
KR20020036385A (en) * 2000-11-09 2002-05-16 윤종용 Apparatus and method for controlling test temperature of semiconductor integrated circuit
JP2005172549A (en) * 2003-12-10 2005-06-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd Verification method of semiconductor integrated circuit, and preparation method of test pattern

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19980078958A (en) * 1997-04-30 1998-11-25 김영환 Voltage regulator
JP2000266795A (en) * 1999-03-17 2000-09-29 Nec Corp Voltage fluctuation testing system
KR20020036385A (en) * 2000-11-09 2002-05-16 윤종용 Apparatus and method for controlling test temperature of semiconductor integrated circuit
JP2005172549A (en) * 2003-12-10 2005-06-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd Verification method of semiconductor integrated circuit, and preparation method of test pattern

Also Published As

Publication number Publication date
KR20050057820A (en) 2005-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108508343B (en) Detection device and method for printed circuit board
CN109611367B (en) Fan control system and server based on CPLD
US7433800B2 (en) System and method for measuring performance of a voltage regulator module attached to a microprocessor
US20080094056A1 (en) Device and method for detecting battery voltage level
KR102547060B1 (en) Wiring-disconnection detecting circuit and organic light emitting display device including the same
CN101726710B (en) Power supply testing control device, testing system and testing method thereof
US8791595B2 (en) Server management system and method
KR850003811A (en) Device for controlling and calibrating raw electrical signals
US6301167B1 (en) Apparatus for testing semiconductor memory
KR101010066B1 (en) Voltage variable controller in test board
US20090300377A1 (en) Computer system for Managing Power consumption and Method Thereof
US20070291569A1 (en) Non-volatile storage apparatus and a control method thereof
KR20050057821A (en) Power detecting device in test board
US6507210B1 (en) System and method for power testing a chassis
KR100321230B1 (en) Printed Circuit Board Test Apparatus and Method
JP2003107135A (en) Burn-in device
JP2007333455A (en) Semiconductor device
US11248617B2 (en) Fan control system
KR102078383B1 (en) Power observe apparatus and power observe system using thereof
US10401884B2 (en) Power supply array system capable of outputting multiple voltages
JP6378017B2 (en) Power supply monitoring apparatus and power supply monitoring method
JP2000206201A (en) Semiconductor integrated circuit
JP2001124817A (en) Burn-in board, test burn-in device, and skew correction method in test burn-in device
KR20030097082A (en) Device for detecting operation state of stepping motor
US20210063474A1 (en) Controlling power dissipation in an output stage of a test channel

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee