KR20050057821A - Power detecting device in test board - Google Patents
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Abstract
본 발명은 전원 공급 제어기의 출력 전압의 레벨을 검출하여 실시간으로 MCU(Main Controller Unit)에게 통보하고, 사용자가 설정한 범위의 전원 감시 조건을 비교하여 사용자에게 현재 상태를 알려주고, 오프셋을 측정하여 소프트웨어 처리에 의해 전원 공급 장치의 오프셋을 적용하는 테스트 보드용 전원 검출 장치에 관한 것으로, 전원 공급 장치로부터 출력된 전원 상태를 검출하는 전원 검출수단과, 전원 검출 수단으로부터 출력된 전원 검출신호를 이용하여 원하는 전원 레벨을 설정하고, 오프셋을 적용하기 위한 데이터를 출력하는 MCU와, 전압 검출 수단에 의해 검출된 전원 검출 정보를 사용자에게 알리는 디스플레이 장치를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention detects the level of the output voltage of the power supply controller in real time to inform the MCU (Main Controller Unit), compare the power monitoring conditions of the user-set range to inform the user of the current state, and measure the offset software A power supply device for a test board to apply an offset of a power supply device by a process, the method comprising: power supply detection means for detecting a power state output from a power supply device and power supply detection signal output from the power supply detection means. And a display device for setting the power level and outputting data for applying the offset, and a display device for notifying the user of the power detection information detected by the voltage detecting means.
Description
본 발명은 테스트 보드(test board)용 전원 검출 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 전원 공급 제어기의 출력 전압의 레벨을 검출하여 실시간으로 MCU(Main Controller Unit)에게 통보하고, 사용자가 설정한 범위의 전원 감시 조건을 비교하여 사용자에게 현재 상태를 알려주고, 오프셋을 측정하여 소프트웨어 처리에 의해 전원 공급 장치의 오프셋을 적용하는 테스트 보드용 전원 검출 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a power detection device for a test board, and more particularly, to detect the level of the output voltage of the power supply controller to notify the main controller unit (MCU) in real time, within the range set by the user The present invention relates to a power detection device for a test board that compares a power monitoring condition to inform a user of a current state, measures an offset, and applies an offset of a power supply by software processing.
일반적으로 다양한 시스템에서 전원 공급 장치로 다양한 레귤레이터(regulator)가 사용되고 있다. 대부분의 시스템에서는 전원 공급 장치를 회로적으로 처리하여 고정된 전원을 공급한다.In general, various regulators are used as power supplies in various systems. In most systems, the power supply is circuited to provide a fixed power source.
그러나, 메모리를 테스트하는 실장 평가에서는 메모리 모듈을 가장 효율적으로 테스트하기 위해 안정적인 전원 공급이 필요하며, 공급되어지는 전원 레벨에 대해서도 미세하게 조정할 수 있어야 한다. 왜냐하면, 메모리를 테스트하기 위한 조건들이 조금씩 바뀔 수 있기 때문에 미세한 전원 제어를 사용자에게 제공하여야 한다.However, the evaluation of the implementation of testing the memory requires a stable power supply to test the memory module most efficiently, and the power level to be supplied must be finely adjusted. Because the conditions for testing the memory can change little by little, the user must be provided with fine power control.
종래 기술에 따른 전원 공급 장치는 메모리를 테스트 할 때 메모리 테스트 아이템에 따라 많은 전류를 소모하기 때문에 순간적인 전압 강하 현상으로 메모리 테스트를 수행할 때 테스트 결과에 대한 신뢰성이 떨어지는 문제점이 있다.Since the power supply according to the prior art consumes a lot of current depending on the memory test item when testing the memory, there is a problem in that the reliability of the test result is inferior when the memory test is performed due to the instantaneous voltage drop phenomenon.
이와 같은 문제점을 해결하기 위해 전원의 미세한 조정이 필요할 때마다 사용자가 수작업으로 조정해야만 하며, 현재의 전압과 전류를 감시하기 위해 수작업으로 별도의 장치를 통해 측정을 해야하는 문제점이 있다. In order to solve such a problem, whenever a fine adjustment of the power supply is required, the user needs to manually adjust, and there is a problem that a manual measurement is performed through a separate device to monitor the current voltage and current.
즉, 메모리 모듈을 테스트하기 위해서는 다양한 전원 상태 조건과 테스트 환경(온도 등)을 가변하여 테스트를 진행하여야 하는데, 예를 들어 0℃∼50℃ 온도 상태에서는 사용자의 작업 공간과 작업 환경이 열악해지기 때문에 사용자가 수시로 테스트를 진행중인 장비마다 현재의 전원 상태를 검출하는 것은 매우 어려운 문제점이 있다. That is, in order to test the memory module, the test should be conducted by varying various power condition conditions and test environments (temperature, etc.). For example, the user's work space and working environment become poor at 0 ° C. to 50 ° C. temperature state. Therefore, it is very difficult for the user to detect the current power state for each device under test.
또한 사용자가 실시간으로 여러 대의 장비를 동시에 감시할 수 없는 문제점이 있다.In addition, there is a problem that the user can not monitor multiple devices at the same time in real time.
상기 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은 미세한 전원 조정 시 하드웨어로 처리하여 자동으로 오프셋을 적용하는 것이다.An object of the present invention for solving the above problems is to apply an offset automatically by processing in hardware at the time of fine power adjustment.
본 발명의 다른 목적은 장시간 동안 메모리 테스트가 진행되어도 실시간으로 전원 상태를 감시하여 안정적인 전원을 공급하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a stable power supply by monitoring the power state in real time even if the memory test proceeds for a long time.
본 발명의 또 다른 목적은 메모리 테스트가 진행될 때 실시간으로 전원 상태를 디스플레이 하여 테스트 결과에 대한 신뢰성을 향상시키는 것이다.Yet another object of the present invention is to improve the reliability of the test results by displaying the power state in real time as the memory test proceeds.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 테스트 보드용 전원 검출 장치는 전원 공급 장치로부터 출력된 전원 상태를 검출하는 전원 검출수단; 상기 전원 검출 수단으로부터 출력된 전원 검출신호를 이용하여 원하는 전원 레벨을 설정하고, 오프셋을 적용하기 위한 데이터를 출력하는 MCU; 및 상기 전압 검출 수단에 의해 검출된 전원 검출 정보를 사용자에게 알리는 디스플레이 장치를 포함하는 것을 특징으로 한다.The power detecting device for a test board of the present invention for achieving the above object comprises a power detecting means for detecting a power state output from the power supply; A MCU for setting a desired power level using the power detection signal output from the power detection means and outputting data for applying an offset; And a display device for notifying the user of the power detection information detected by the voltage detection means.
상술한 목적 및 기타의 목적과 본 발명의 특징 및 이점은 첨부도면과 관련한 다음의 상세한 설명을 통해 보다 분명해 질 것이다.The above and other objects and features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description taken in conjunction with the accompanying drawings.
이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명에 따른 테스트 보드를 나타낸 블록도이다.1 is a block diagram showing a test board according to the present invention.
테스트 보드는 메인보드(10), 전원 공급 장치(20), 및 전원 검출 장치(30)를 포함한다. The test board includes a main board 10, a power supply device 20, and a power detection device 30.
현재 전원 공급 장치(20)는 RS-232C의 통신 프로토콜을 사용하여 메인보드와 일대일 직렬 통신 케이블을 이용하여 연결된다. 따라서 전원 검출 장치(30)의 MCU(32)는 메인보드(10)와 병렬로 연결되어 통신한다. The power supply 20 is currently connected to the motherboard using a one-to-one serial communication cable using the communication protocol of RS-232C. Therefore, the MCU 32 of the power detection device 30 is connected in parallel with the main board 10 to communicate.
메인보드(10)는 CPU(Central Processing Unit), 메모리 모듈(memory module) 등을 포함한다.The main board 10 includes a central processing unit (CPU), a memory module, and the like.
전원 공급 장치(20)는 메인보드(10)와 일대일 직렬 통신 케이블을 이용하여 연결되고, 메인보드(10)에 전원(VDD)을 공급한다.The power supply device 20 is connected to the main board 10 using a one-to-one serial communication cable, and supplies power VDD to the main board 10.
전원 검출 장치(30)는 메인보드(10)와 병렬 통신을 하고, 전원 공급 장치(20)로부터 메인보드(10)로 공급되는 전원(VDD)의 레벨을 실시간으로 감시하여(DET1, DET2) 메인보드(10)에 통보한다. 따라서, 메인보드(10)는 전원 공급 장치(20)가 오프셋을 적용하고, 안정된 전원(VDD)을 공급하도록 제어한다.The power detecting device 30 communicates in parallel with the main board 10 and monitors the level of the power supply VDD supplied from the power supply device 20 to the main board 10 in real time (DET1, DET2). Notify board 10. Therefore, the main board 10 controls the power supply device 20 to apply an offset and to supply a stable power supply VDD.
도 2는 도 1의 전원 검출 장치(30)를 나타낸 블록도이다.FIG. 2 is a block diagram illustrating the power detection device 30 of FIG. 1.
전원 검출 장치(30)는 MCU(Main Controller Unit)(32), 전원 검출부(34) 및 디스플레이 장치(36)를 포함한다.The power detector 30 includes a main controller unit (MCU) 32, a power detector 34, and a display device 36.
MCU(32)는 전원 검출부(34)로부터 출력된 전압 검출신호(DETV)를 이용하여 원하는 전압 레벨을 설정하기 위한 데이터를 출력한다. 따라서, 전원 공급 장치(20)는 MCU(32)로부터 출력된 데이터에 따라 오프셋 적용된 안정된 전원(VDD)을 공급한다.The MCU 32 outputs data for setting a desired voltage level by using the voltage detection signal DETV output from the power detector 34. Therefore, the power supply device 20 supplies stable power VDD offset according to the data output from the MCU 32.
전원 검출부(34)는 12 비트 아날로그 디지털 변환기(Analog to Digital Converter; 이하 ADC라 한다)로 구성되어, 전원 공급 장치(20)로부터 출력된 출력 전압(VDD)의 상태(DET1, DET2)를 검출한다. 여기서 전원 검출부(34)는 전압 뿐 만 아니라 전류도 검출한다. 또한 전압과 전류의 상태를 출력 케이블의 출력단자(DET2)와 메인보드의 접속단자(DET1)에서 모두 검출하는 듀얼 채널(dual channel) 방식을 사용한다.The power detector 34 is composed of a 12-bit analog-to-digital converter (hereinafter referred to as an ADC) to detect the states DET1 and DET2 of the output voltage VDD output from the power supply device 20. . The power detector 34 detects a current as well as a voltage. In addition, a dual channel method is used to detect the state of voltage and current at both the output terminal DET2 of the output cable and the connection terminal DET1 of the motherboard.
한편, MCU(32)는 전원 검출부(34)로부터 검출된 12 비트 정보를 디스 플레이 장치(36) 및 메인보드(10)에게 알려준다. 따라서 사용자 또는 프로그램이 자동적으로 오프셋을 적용하거나 안정된 전압 레벨로 재설정한다.On the other hand, the MCU 32 informs the display device 36 and the main board 10 of the 12-bit information detected from the power detector 34. Therefore, the user or program automatically applies the offset or resets to a stable voltage level.
디스플레이 장치(36)는 전원 검출부(34)에 의해 검출된 전원 검출 정보(PDI)를 표시하여 사용자에게 알려준다. 여기서, 디스플레이 장치(36)로는 FND(Multi segmented LED Displays) 등이 사용될 수 있다.The display device 36 displays the power detection information PDI detected by the power detector 34 to inform the user. In this case, as the display device 36, a multi segmented LED displays (FND) may be used.
종래에는 테스트를 수행하기 전에 메인보드(10)에 따른 미세한 전압 차이는 사용자가 수작업으로 오프셋 조정을 수행하였지만, 본 발명의 전원 검출 장치(30)는 출력 전압을 검출하여 프로그램으로 오프셋을 조정한다.Conventionally, before performing the test, the minute voltage difference according to the main board 10 was manually adjusted by the user. However, the power detecting device 30 of the present invention detects the output voltage and adjusts the offset by a program.
즉, 자동으로 전원 검출부(34)를 통해서 출력 전압(VDD)이 정확하게 설정되어지고, 현재의 전압(VDD)에 대해 실시간으로 감시가 가능하고, 소프트웨어를 통해 자동적으로 오프셋 적용이 가능하다.That is, the output voltage VDD is automatically set correctly through the power detector 34, and the current voltage VDD can be monitored in real time, and offset can be automatically applied through software.
따라서, 현재의 전원 상태를 실시간으로 감시하고 사용자에게 소프트웨어와 디스플레이 장치(36)를 통해 제공함으로써 오동작 및 환경에 따른 오차로 인해 발생되는 테스트 불량을 방지하여 메모리 테스트의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.Therefore, by monitoring the current power state in real time and providing the user through the software and the display device 36, it is possible to prevent a test failure caused by a malfunction or an error due to the environment, thereby improving the reliability of the memory test.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명에 따른 전원 검출 장치는 미세한 전압 조정 시 하드웨어로 처리하여 자동으로 오프셋을 적용할 수 있는 효과가 있다.As described above, the power detecting apparatus according to the present invention has an effect of automatically applying an offset by processing the hardware when adjusting a fine voltage.
또한, 본 발명은 장시간 동안 메모리 테스트가 진행되어도 실시간으로 전원 상태를 감시하여 안정적인 전원을 공급할 수 있는 효과가 있다.In addition, the present invention has the effect of supplying a stable power by monitoring the power state in real time even if the memory test proceeds for a long time.
게다가, 본 발명은 메모리 테스트가 진행될 때 실시간으로 전원 상태를 디스플레이 하여 테스트 결과에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, the present invention has the effect of improving the reliability of the test results by displaying the power state in real time when the memory test is in progress.
아울러 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위한 것으로, 당업자라면 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상과 범위를 통해 다양한 수정, 변경, 대체 및 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정 변경 등은 이하의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.In addition, a preferred embodiment of the present invention is for the purpose of illustration, those skilled in the art will be able to various modifications, changes, substitutions and additions through the spirit and scope of the appended claims, such modifications and changes are the following claims It should be seen as belonging to a range.
도 1은 본 발명에 따른 테스트 보드를 나타낸 블록도.1 is a block diagram showing a test board according to the present invention.
도 2는 도 1의 전원 검출 장치를 나타낸 블록도.FIG. 2 is a block diagram illustrating a power detection device of FIG. 1. FIG.
Claims (6)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020030090017A KR20050057821A (en) | 2003-12-11 | 2003-12-11 | Power detecting device in test board |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020030090017A KR20050057821A (en) | 2003-12-11 | 2003-12-11 | Power detecting device in test board |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20050057821A true KR20050057821A (en) | 2005-06-16 |
Family
ID=37251534
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020030090017A KR20050057821A (en) | 2003-12-11 | 2003-12-11 | Power detecting device in test board |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20050057821A (en) |
-
2003
- 2003-12-11 KR KR1020030090017A patent/KR20050057821A/en not_active Application Discontinuation
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