KR100987702B1 - 커넥터 - Google Patents

커넥터 Download PDF

Info

Publication number
KR100987702B1
KR100987702B1 KR1020100033544A KR20100033544A KR100987702B1 KR 100987702 B1 KR100987702 B1 KR 100987702B1 KR 1020100033544 A KR1020100033544 A KR 1020100033544A KR 20100033544 A KR20100033544 A KR 20100033544A KR 100987702 B1 KR100987702 B1 KR 100987702B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
cam
pin
contact
pressing
cam member
Prior art date
Application number
KR1020100033544A
Other languages
English (en)
Inventor
박준언
안상일
최창주
Original Assignee
(주)케미텍
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주)케미텍 filed Critical (주)케미텍
Priority to KR1020100033544A priority Critical patent/KR100987702B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100987702B1 publication Critical patent/KR100987702B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2601Apparatus or methods therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416Connectors, terminals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/70Coupling devices
    • H01R12/82Coupling devices connected with low or zero insertion force
    • H01R12/85Coupling devices connected with low or zero insertion force contact pressure producing means, contacts activated after insertion of printed circuits or like structures
    • H01R12/88Coupling devices connected with low or zero insertion force contact pressure producing means, contacts activated after insertion of printed circuits or like structures acting manually by rotating or pivoting connector housing parts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Abstract

본 발명은 한 방향 이상으로 개구되며 핀부재를 구비하는 하우징과, 상기 하우징에 위치하며 하우징으로 삽입되는 접속 부품의 전기적 단자에 접촉하는 복수의 컨택트핀을 가지는 핀부재와, 상기 하우징에 회전 가능하게 구비되며 캠부를 가지는 캠부재와, 상기 캠부재의 캠부와 접촉하여 캠부재의 회전에 의하여 컨택트핀을 접속 부품으로 가압하는 방향과 가압이 해제되는 방향으로 왕복 운동하는 가압부재를 포함하여 구성되는 커넥터에 관한 것으로; 하나의 캠부재만으로 양측에서 가압되는 구조로 할 수 있으며, 양측에서 가압되는 구조이면서도 하나의 핸들만을 구비하는 것이 가능하므로 콤팩트하게 되고, 커넥터의 길이 방향으로 강성이 일정하게 유지될 수 있으며, 핸들이 내경쪽으로 위치하여야 하거나 외경쪽으로 위치하여야 하는 반도체 시험장치에 모두 사용할 수 있는 효과가 있다.

Description

커넥터{Connector}
본 발명은 반도체 부품의 전기적 특성을 시험하는 반도체 부품 시험 장치 등에 사용되는 커넥터에 관한 것으로, 보다 상세하게는 콤팩트하며 컨택트핀의 내구성이 향상되며 접촉이 양호하게 이루어지는 커넥터에 관한 것이다.
커넥터와 커넥터에 접속되는 접속 부품이 전기적으로 확실하게 접촉하기 위해서는 커넥터에 구비되는 컨택트핀과 접속 부품에 구비되는 전기적 단자가 가압될 필요가 있다. 가압하는 힘이 강하면 전기적인 접촉성은 높아지지만 마찰력도 커지므로 커넥터에 접속 부품을 삽입하거나 또는 분리하는 것이 곤란하게 된다. 특히, 커넥터에 다수의 핀이 설치된 경우나 다수의 커넥터에 대하여 접속 부품을 동시에 삽입해야 하는 경우에는 접속 부품을 삽입하기 위하여 큰 힘을 가해야 한다. 이와 같은 문제를 해결하기 위하여 접속 부품을 삽입할 때는 힘을 필요로 하지 않고 접속 부품을 삽입한 후에 컨택트핀을 접속 부품에 가압하는 이른바 제로 인서션 포스(Zero Insertion Force) 커넥터(ZIF)가 제안되어 있다.
미소한 반도체를 시험하기 위하여 사용하는 반도체 시험 장치에서는 작동 상 높은 신뢰성이 필요하게 된다. 반도체를 고속으로 그리고 신뢰성 있게 시험하기 위해서는 시험 장치에 사용되는 커넥터가 접속 부품에 확실하게 접촉해야 한다.
도 22는 종래 기술에 의한 커넥터(50)에 접속 부품(40)이 삽입되는 상태를 도시한 단면도이며, 도 23은 커넥터(50)의 평면도 및 측면도이다. 도 22 및 도 23에 도시한 커넥터는 대한민국 등록 제10-0490608호 특허 공보에 기재되어 있다. 커넥터는 대한민국 등록 제10-0490608호 특허 공보 도면 2 및 4에 도시한 바와 같이 방사상으로 설치되거나, 직선상으로 설치되며 일측으로 기판 등에 연결된 접속 부품이 삽입되어 접속 부품의 전기적 단자와 접촉되도록 작동된다. 이에 대한 상세한 설명은 생략한다.
도 22에 도시한 바와 접속 부품(40)은 기판(30)에 부착되기 위한 리벳(42)과, 리벳(42)이 고정되는 부분을 보강하는 보강판(46)과, 기판(30)에 전기 신호를 공급하는 전기적 단자(48)와, 전기적 단자(48)를 지지하는 전기적 단자 지지부(44)로 이루어진다.
접속 부품(40)이 삽입되는 커넥터(50)는 접속 부품(40)의 전기적 단자(48)에 접촉하는 컨택트 핀(70)과, 컨택트 핀(70)을 지지하는 하우징(68)과, 컨택트핀(70)을 전기적 단자(48)에 가압하는 좌우 대칭으로 설치된 2개의 가압부(78)를 가진다.
상기 가압부(78)는 각각이 회전 캠(72)과 회전 캠(72)을 지지하는 회전 캠 지지부(76)를 가진다. 회전 캠(72)이 회전함으로써 회전 캠(72)과 컨택트 핀(70)의 접촉부(74)가 접속 부품(40) 방향으로 이동하여 컨택트 핀(70)이 접속 부품(40)의 전기적 단자(48)로 가압되어 접촉하게 된다. 상기 회전 캠 지지부(76)는 회전 캠(72)이 컨택트 핀(70)을 가압했을 때의 반력을 받으므로 변형을 방지하기 위하여 강성을 충분히 크게 하여야 한다. 따라서 회전 캠 지지부(76)의 두께를 두껍게 하고 하우징(68)의 외측에까지 두께가 두꺼운 부분을 돌출시켜 두었다.
상기 회전 캠(72)은 중심으로부터의 거리가 동등한 원주부(75)와 중심으로부터의 거리가 원주부까지의 거리보다 짧은 절단부(77)를 포함한다. 컨택트 핀(70)은 접속 부품(40)에 대하여 좌우 대칭으로 2열로 나란히 배열되어 있다. 2개의 회전 캠(72)이 회전함으로써, 2개의 가압부(78)는 각각 좌, 우측에 배열된 복수의 컨택트 핀(70)을 가압한다.
컨택트 핀(70)은 접속 부품(40)의 전기적 단자(48)에 접촉하는 컨택트부(74)를 포함한다. 이 컨택트부(74)는 가압부(78)가 컨택트 핀(70)을 눌렀을 때 전기적 단자(48)에 접촉하면서 전기적 단자(48)를 따라 슬라이딩한다. 이에 따라서, 전기적 단자(48)의 표면이 스크러빙되어 산화막이나 오물이 제거되므로 컨택트 핀(70)을 확실하게 전기적 단자(48)에 접촉시킬 수 있다.
도 23은 커넥터(50)를 도시한 평면도 및 측면도로서 방사상으로 배치된 복수의 커넥터(50)의 외주 측에는 회전 캠(72)을 회전시키는 핸들(52)이 회전 캠(72)마다 설치되어 있다. 핸들(52)은 회전 캠(72)에 접속되고 회전 캠(72)의 반경 방향으로 연장되는 레버부(56)와, 레버부(56)의 선단에 부착되고 회전 캠(72)의 축 방향으로 연장되는 연장부(58)를 가지며, 연장부(58)의 선단에는 외면이 구면인 핸들 작용부(60)가 더 구비되어 있다. 도 23에서 도면부호 62와 66은 커넥터(50)를 고정 설치하기 위하여 구비되는 설치부를 도시한 것이다.
최근에는 반도체 시험 장치에서 다수의 커넥터(50)는 방사상으로 배열되므로, 방사상으로 배열될 때 더 많은 숫자의 커넥터(50)가 서로 인접하게 배치되도록 하기 위하여 커텍터(50)는 회전 캠(72)의 축 방향을 따라 두께가 얇아지는 테이퍼부(66)를 가진다.
도 22 및 도 23에 도시한 커넥터(50)는 복수의 회전 캠(72)을 구비하고, 따라서 커넥터(50)마다 2개의 핸들(52)을 구비하여야 한다. 그리고 회전 캠(72)을 지지하기 위한 회전 캠 지지부(76)가 양측으로 구비되어야 하며, 회전 캠(72)이 컨택트 핀(70)을 가압했을 때의 반력에 의하여 변형되지 않고 확실하게 전기적 접촉이 되도록 하기 위하여 상기 회전 캠 지지부(76)의 두께를 두껍게 하여야 하였다. 따라서 커넥터(50)의 부피가 커질 수밖에 없는 구조이다. 또한 방사상으로 서로 인접하게 설치되도록 하기 위하여 테이퍼(66)를 가지도록 하였으나, 테이퍼부(66)를 형성함으로써 일단으로 갈수록 두께가 얇아지게 되어 회전 캠 지지부(76)의 강성이 유지되지 못하는 문제가 발생하였고, 방사상으로 설치될 때 핸들(52)이 내경쪽으로 위치하여야 하는 반도체 시험 장치에서는 사용할 수 없으므로 핸들(52)이 외경쪽으로 위치하여야 하는 반도체 시험 장치에서만 사용할 수 있는 문제점이 있었다.
본 발명은 종래 기술이 가지는 문제점을 해결하여 콤팩트하며, 강성이 커넥터 길이 방향으로 일정하게 유지될 수 있는 한편, 핸들이 내경쪽이나 외경쪽으로 위치하는 반도체 시험 장치에 모두 사용될 수 있는 커넥터를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기와 같은 종래 기술이 가지는 문제점을 해결하기 위하여 본 발명은 한 방향 이상으로 개구된 중공의 하우징과, 상기 하우징에 위치하며 하우징으로 삽입되는 접속 부품의 전기적 단자에 접촉하는 복수의 컨택트핀을 가지는 핀부재와, 상기 하우징에 회전 가능하게 구비되며 캠부를 가지는 캠부재와, 상기 캠부재의 캠부와 접촉하여 캠부재의 회전에 의하여 컨택트핀을 접속 부품으로 가압하는 방향과 가압이 해제되는 방향으로 왕복 운동하는 가압부재를 포함하여 구성되는 커넥터를 제공한다.
또한, 본 발명은 상기 가압부재는 캠부재의 길이 방향으로 연장된 본체부와, 상기 본체부의 양측에서 캠부재 쪽으로 연장되며 캠부재가 삽입되는 캠삽입부가 형성된 걸림부로 이루어지고; 상기 캠삽입부에 캠부재의 캠부가 위치하며, 핀부재의 컨택트핀은 캠부재와 가압부재 사이에 위치하는 커넥터를 제공한다.
또한, 본 발명은 상기 본체부는 핀부재의 컨택트핀을 향하여 볼록하게 돌출된 구조인 가압부를 구비하는 커넥터를 제공한다.
또한, 본 발명은 상기 가압부재는 캠부재의 길이 방향으로 연장된 본체부와, 상기 본체부의 양측에서 캠부재 쪽으로 연장되며 캠삽입부가 형성된 걸림부로 이루어지고; 상기 핀부재의 컨택트핀은 측방향으로 서로 이격되어 복열로 구비되고, 상기 가압부재는 본체부가 서로 이격되도록 복수로 구비되며, 상기 핀부재의 컨택트핀은 상기 가압부재의 본체부 사이에 위치하고, 상기 캠부재는 복열의 컨택트핀 사이에 위치하며; 상기 캠부재는 캠삽입부에 삽입되며 캠부재에 구비되는 캠부가 캠삽입부와 접촉하여 캠부재의 양측으로 위치한 가압부재를 측방향으로 운동시키는 커넥터를 제공한다.
또한, 본 발명은 상기 핀부재는 하우징에 고정 구비되며 절연체로 이루어진 고정부와, 상기 고정부를 관통하여 구비되며 캠부재의 길이 방향으로 배열되는 복수의 컨택트핀으로 이루어지며; 상기 컨택트핀은 고정부의 일측으로 연장된 제1 돌출부와, 고정부의 타측으로 연장되어 하우징으로 삽입되는 접속 부품에 접촉하게 되는 제2 돌출부로 이루어지며; 상기 제2 돌출부는 접속 부품에 접촉하는 접촉부와, 가압부재와 접촉하여 가압되는 핀가압부와, 상기 핀가압부의 양측으로 구비되는 핀경사부로 이루어지며; 상기 핀가압부는 편평하게 형성되며, 상기 핀경사부는 측방으로 캠부재가 위치한 방향으로 경사지게 형성된 커넥터를 제공한다.
또한, 본 발명은 상기 캠부재를 회전시키는 레버를 더 포함하며, 상기 레버는 캠부재에 연결되는 연결부와, 상기 연결부로부터 연장되고 단부가 분기된 작동부로 이루어지고, 상기 작동부의 분기된 내면은 서로를 향하여 볼록하게 만곡된 만곡접촉부가 형성된 커넥터를 제공한다.
본 발명에 따르는 커텍터(100)는 하나의 캠부재만을 구비하고, 하나의 캠부재만으로 양측에서 가압되는 구조로 할 수 있으며, 양측에서 가압되는 구조이면서도 하나의 핸들만을 구비하는 것이 가능하므로 콤팩트하게 되고, 커넥터(100)의 길이 방향으로 강성이 일정하게 유지되는 한편, 핸들이 내경쪽으로 위치하여야 하거나 외경쪽으로 위치하여야 하는 반도체 시험장치에 모두 사용할 수 있으며, 컨택트핀이 편평부에서 가압되므로 컨택트핀의 내구성이 향상되는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따르는 커넥터의 사시도이다.
도 2는 도 1의 A-A선에 따르는 개략적인 단면도이다.
도 3은 본 발명 커넥터에 구비되는 하우징을 도시한 개략적인 사시도이다.
도 4는 본 발명 커넥터에 구비되는 하우징의 내부를 설명하기 위하여 도시한 개략적인 사시도이다.
도 5는 도 4의 좌측 부분을 확대 도시한 개략적인 사시도이다.
도 6은 도 4의 우측 부분을 확대 도시한 개략적인 사시도이다.
도 7은 본 발명 커넥터에 구비되는 가이드부재를 도시한 사시도이다.
도 8은 도 7의 가이드부재의 우측 부분을 확대 도시한 저면 사시도이다.
도 9 및 도 10은 본 발명 커넥터에 구비되는 가압부재를 도시한 개략적인 사시도이다.
도 11은 도 10의 A-A선에 따르는 개략적인 단면도이다.
도 12는 본 발명 커넥터에 구비되는 캠부재와 레버를 도시한 사시도이다.
도 13은 도 12의 좌측 부분을 확대 도시한 사시도이다.
도 14는 본 발명 커넥터에 구비되는 캠부재와 가압부재의 작동을 설명하기 위하여 도시한 사시도이다.
도 15는 핀부재를 포함시켜 도 14의 좌측 부분을 확대 도시한 것이다.
도 16은 본 발명 커넥터에 구비되는 핀부재를 도시한 사시도이다.
도 17은 본 발명의 다른 실시 예에 따르는 커넥터의 사시도이다.
도 18은 도 17의 커넥터에 구비되는 레버를 확대 도시한 사시도이다.
도 19는 도 17에 도시한 커넥터의 설치 예를 도시한 일부 사시도이다.
도 20은 도 19의 저면사시도이다.
도 21은 도 20의 좌측 부분을 확대 도시한 사시도이다.
도 22는 종래 기술에 의한 커넥터와 커넥터에 삽입되는 접속 부품을 도시한 단면도이다.
도 23은 종래 기술에 의한 커넥터를 도시한 평면도 및 측면도이다.
이하에서, 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 따르는 커넥터에 대하여 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따르는 커넥터의 사시도이며, 도 2는 도 1의 A-A선에 따르는 개략적인 단면도이며, 도 3은 본 발명 커넥터에 구비되는 하우징을 도시한 개략적인 사시도이며, 도 4는 본 발명 커넥터에 구비되는 하우징의 내부를 설명하기 위하여 도시한 개략적인 사시도이며, 도 5는 도 4의 좌측 부분을 확대 도시한 개략적인 사시도이며, 도 6은 도 4의 우측 부분을 확대 도시한 개략적인 사시도이며, 도 7은 본 발명 커넥터에 구비되는 가이드부재를 도시한 사시도이며, 도 8은 도 7의 가이드부재의 우측 부분을 확대 도시한 저면 사시도이며, 도 9 및 도 10은 본 발명 커넥터에 구비되는 가압부재를 도시한 개략적인 사시도이며, 도 11은 도 10의 A-A선에 따르는 개략적인 단면도이며, 도 12는 본 발명 커넥터에 구비되는 캠부재와 레버를 도시한 사시도이며, 도 13은 도 12의 좌측 부분을 확대 도시한 사시도이며, 도14는 본 발명 커넥터에 구비되는 캠부재와 가압부재의 작동을 설명하기 위하여 도시한 사시도이며, 도 15는 핀부재를 포함시켜 도 14의 좌측 부분을 확대 도시한 것이며, 도 16은 본 발명 커넥터에 구비되는 핀부재를 도시한 사시도이며, 도 17은 본 발명의 다른 실시 예에 따르는 커넥터의 사시도이며, 도 18은 도 17의 커넥터에 구비되는 레버를 확대 도시한 사시도이며, 도 19는 도 17에 도시한 커넥터의 설치 예를 도시한 일부 사시도이며, 도 20은 도 19의 저면사시도이며, 도 21은 도 20의 좌측 부분을 확대 도시한 사시도이다.
본 발명의 설명에서 도 2의 지면에 수직한 방향을 "축방향", "캠부재의 길이방향" 또는 "길이 방향"이라 하고, 도 2의 좌우 방향을 "측방" 또는 "측방향"이라고 하며, 세로 방향으로 "상하방향"이라 한다.
도 1 및 도 2에 도시한 바와 같이 본 발명에 따르는 커넥터(100)는 하우징(110)과, 하우징(110)에 삽입되는 접속 부품을 향하여 핀부재(130)를 가압하도록 작동하는 가압부재(120)와, 가압부재(120)에 의하여 가압되어 접속 부품의 전기적 단자와 접촉하는 컨택트핀(133)을 가지는 핀부재(130)와, 상기 하우징(110)에 회전 가능하게 구비되어 가압부재(120)를 측방향으로 이동시키는 캠부재(140)로 이루어진다. 상기 캠부재(140)에는 레버(150)가 연결된다. 상기 레버(150)는 캠부재(140)의 길이 방향에 대하여 수직한 방향으로 연장되도록 구비된다. 도 2에서 도면부호 137은 컨택트핀(133)에 피복되는 절연부재를 도시한 것이다.
도 1 내지 도 6에 도시한 바와 같이, 상기 하우징(110)은 한 방향 이상으로 개구된 중공체로서, 길이 방향으로 양측에 커넥터(100)를 고정하기 위한 설치부(113)를 가진다. 상기 설치부(113)에는 설치공(1131)이 형성되어 나사 등으로 고정 설치할 수 있다. 상기 설치공(1131)에는 관통공이 형성된 보조체결부(170)를 더 구비하고, 보조체결부(170)의 관통공을 나사 등으로 고정 설치하는 것도 가능하다. 상기 하우징(110)은 복수의 결합공(1112)이 형성된 2개의 본체(111)를 결합나사(101)로 결합하여 형성하는 것도 가능하다. 이때 상기 설치부(113)와 설치공(1131)은 2개의 본체(111)가 결합하여 형성될 수 있다. 2개의 본체(111)가 서로 결합할 때 커넥터(100)의 양쪽 측면을 형성하는 본체(111)의 외면(1111) 사이의 거리가 길이 방향으로 중심부에서 가장 멀게 형성되고 양단으로 갈수록 좁아지는 형태를 가지도록 외면을 형성할 수 있다. 상기와 같이 본체(111)의 외면(1111)이 형성되면, 커넥터(100)는 도 19에 도시한 바와 같이 길이 방향으로 중심부에서 폭이 크고 양단으로 갈수록 폭이 감소하는 형태로 형성된다. 즉, 양측으로 볼록하게 만곡된 형태로 형성된다.
도 3은 본 발명 커넥터에 구비되는 하우징을 개략적으로 도시한 것으로, 2개의 본체(111)로 이루어진 것을 도시한 사시도이며, 도 4는 하우징을 이루는 마주하는 본체 중 일측의 본체를 도시한 것이며, 도 5는 도 4의 좌측 부분을 도 6은 도 4의 우측 부분을 확대 도시한 것이다.
도 3 내지 도 6에 도시한 바와 같이, 하우징(110)은 내측에 길이 방향으로 양측에 캠부재(140)를 회전 가능하게 지지하는 회전지지공(1113)이 형성된다. 상기 회전지지공(1113) 중 레버(150)가 구비되지 않는 쪽의 회전지지공(1113)은 오목한 홈으로 형성하는 것도 가능하다. 도 4 내지 도 6에는 좌측의 회전지지공(1113)은 관통공으로 형성되고 우측의 회전 지지공은 오목한 홈으로 형성된 것으로 도시하고 있다. 상기 회전지지공(1113)의 단면은 원형으로 형성한다. 상기 회전지지공(1113) 사이에 가압부재(120)가 측방향으로 미끄럼 가능하게 안착하는 가압부재안착부(1115)가 측방향으로 오목하게 형성된다. 도면부호 1118은 상기 가압부재안착부(1115)의 상부로 이격되어 측방향으로 오목하게 형성되며 가이드부재(160)가 고정 구비되는 가이드안착부(1118)를 도시한 것이다. 본 발명에서 하우징(110)은 가압부재(120)나 캠부재(140)를 지지할 필요가 없으므로 상기 가압부재안착부(1115)로 연통된 측면공(1117)을 형성하는 것도 가능하다. 따라서 하우징(110)은 접속 부품이 삽입되는 방향과, 가압부재가 안착되는 가압부재안착부(1115)의 측방으로 개구된 형태로 형성될 수 있다.
도 3 내지 도 6에서 도면부호 1119는 2개의 본체(111)를 결합하여 하우징(110)을 형성하는 경우 결합되는 다른 본체에 형성된 핀공에 삽입되어 조립을 용이하게 하는 제1 핀을, 1114는 마주하는 다른 본체의 제1 핀이 삽입되는 핀공을, 1133은 설치부(113)의 설치공(1131) 상부로 형성되는 제1 턱부를 도시한 것이다. 상기 본체(111)의 일측으로는 설치부(113)와의 사이에는 레버(150)가 위치하는 오목한 홈인 간격부(1138)가 형성된다. 상기 간격부(1138)로 캠부재(140)의 일단이 노출되며, 간격부(1138)에서 캠부재(140)에 레버(150)가 연결된다.
도 1 내지 도 3에서 도면부호 117은 접속 부품이 삽입되는 반대 방향으로 본체(111)로부터 연장되며 체결공(1171)이 형성된 제1 연장부를 도시한 것으로, 상기 제1 연장부(117) 사이로 테스트헤드가 삽입되고 체결공(1171)에 체결나사(103)가 체결되어 하우징(110)에 결합되며, 하우징(110)의 하부로 돌출 연장된 컨택트핀(133)의 제1 돌출부(1339)와 테스트헤드의 전기적 단자는 서로 전기적으로 접촉하게 된다.
도 1, 도 2, 도 7 및 도 8에 도시한 바와 같이, 상기 하우징(110)의 가이드안착부(1118)에는 가이드부재(160)가 안착하여 고정된다. 상기 가이드부재(160)는 측방향 양측으로 돌출되어 상기 가이드안착부(1118)에 삽입되는 측방돌출부(167)를 구비하며, 길이방향 양단으로 하우징(110)에 형성된 턱부에 걸리도록 돌출 형성된 걸림돌출부(165)를 구비한다. 상기 가이드부재(160)는 상하방향으로 관통공(163)이 형성되며, 상기 관통공(163)을 통하여 접속 부품이 삽입된다. 상기 가이드부재(160)는 하부에 상기 관통공(163) 측방으로 길이 방향을 따라 이격된 복수의 가이드격벽(161)을 가진다. 상기 가이드격벽(161) 사이마다 컨택트핀(133)의 연장핀부(1333)가 위치하여, 가압부재(120)에 의하여 가압되면서 변형할 때 이웃하는 컨택트핀(133)이 서로 접촉하는 것을 방지하고, 접속 부품의 전기적 단자에 정확하게 접촉되도록 할 수 있다. 상기 가이드격벽(161)은 관통공(163)을 사이에 두고 측방향으로 양측에 형성될 수 있다.
도 2, 도 12 및 도 13에 도시한 바와 같이 상기 캠부재(140)는 길이를 가지는 봉상으로서, 양측으로 하우징(110)의 회전지지공(1113)에 회전 가능하게 삽입되는 지지부(143)를 구비하며, 상기 지지부(143) 사이에 캠부(141)를 가진다. 상기 캠부(141) 사이에 지지부(143)가 위치할 수도 있다. 그리고 상기 지지부(143)의 일측으로 연장되어 레버(150)가 연결되는 레버연결부(145)를 가진다. 상기 캠부(141)는 지지부(143)에 인접하여 위치하며 지지부(143) 사이에 2개의 캠부를 가질 수 있고, 일측의 지지부(143)로부터 타측의 지지부(143)까지 연장되는 형태로 형성할 수도 있다. 상기 캠부(141)는 단면이, 예를 들면 타원형 등과 같은 원형이 아닌 형태로 형성될 수도 있고, 원형으로 형성되는 경우 지지부(143)의 회전 중심축과 캠부(141)의 회전 중심축을 서로 어긋나게 하여 형성할 수도 있다. 상기 레버연결부(145)는 단면이 다각형으로 형성될 수 있다. 상기 지지부(143)는 회전지지공(1113)에 회전 가능하게 안착하는 구성으로 단면을 원형으로 형성할 수 있다.
상기 레버연결부(145)는 하우징(110)의 외부로 노출되며, 노출된 레버연결부(145)에 레버(150)가 삽입 연결된다. 상기 레버연결부(145)는 설치부(113)와 본체(111) 사이에 형성된 간격부(1138)로 연장될 수 있으며, 이때 상기 레버(150)는 간격부(138)에 위치하게 된다.
상기 레버(150)는 일측으로 레버연결부(145)에 연결되는 연결부(151)를 구비하고, 상기 연결부(151)로부터 연장된 형태를 가진다. 도 12 및 도 13에서 도면부호 153은 레버(150)의 타측으로부터 축방향으로 연장된 축방향 연장부를, 155는 상기 축방향 연장부(153)에 구비된 단면이 원형인 핸들을 도시한 것이다. 상기 연결부(151)는 레버연결부(145)가 삽입되는 통공이나 오목한 홈 형태로 형성될 수 있다. 상기 레버(150)를 회전시키면 양측 하우징(110)의 회전지지공(1113)에 회전 가능하게 지지된 캠부재(140)도 함께 회전하게 된다.
도 9, 도 10, 도 11, 도 12, 도 14 및 도 15에 도시한 바와 같이, 상기 가압부재(120)는 캠부재(140)의 길이 방향으로 연장된 본체부(121)와, 상기 본체부(121)의 양측에서 캠부재(140)를 향하여 측방으로 연장되며 캠부재(140)가 삽입되는 캠삽입부(125)가 형성된 걸림부(123)로 이루어진다. 상기 가압부재(120)는 대략 "ㄷ"자 형태로 형성된다. 상기 본체부(121)는 걸림부(123)가 연장되는 방향으로 핀부재(130)의 컨태트핀(133)를 가압하는 가압부(1211)를 가지며, 상기 가압부(1211)는 핀부재(130)를 향하여 측방으로 볼록하게 돌출된 형태를 가진다. 볼록하게 돌출된 가압부(1211)가 컨태트핀(133)의 편평한 핀가압부(1335)를 가압하게 된다. 상기 본체부(121)는 길이 방향으로 중심부의 두께가 두껍게 형성되고, 걸림부(123)에 가까워질수록 두께가 감소하는 형태로 형성될 수 있다. 상기 가압부(1211)는 길이 방향으로 직선으로 형성되며, 상기 걸림부(123) 연장 방향의 반대 방향으로 구비되는 외측면(1211)은 만곡된 형태를 가진다. 상기 가압부재(120)는 강성이 큰 플라스틱이나 금속으로 제조되는 것이 가능하다. 상기 가압부재(120)는 핀부재(130)의 컨태트핀(133)을 가압하는 구성이므로 금속으로 제조되는 경우 핀부재(130)를 향하며 핀부재(130)의 컨태트핀(133)과 접촉하게 되는 가압부(1211)에는 절연재로 이루어진 코팅층인 절연층부(1213)를 가질 수 있다. 도 9에서 도면부호 127은 본체부(121)의 외측으로 돌출 구비되는 돌출부를 도시한 것이다. 돌출부(127)를 구비하는 경우 상기 외측면(1211)은 돌출부(127)의 외측면으로 형성된다. 상기 캠삽입부(125)는 통공으로 형성하는 것도 가능하며 일측으로 오목하게 형성된 형태로 형성하는 것도 가능하다.
도 14 및 도 15에 도시한 바와 같이 상기 가압부재(120)의 캠삽입부(125)로 캠부재(140)가 삽입되며, 상기 가압부재(120)는 캠부재(140)의 양측으로 구비될 수 있다. 캠부재(140)가 가압부재(120)의 캠삽입부(125)로 삽입된 때, 캠부재(140)의 캠부(141)가 캠삽입부(125)에 위치한다. 도 15에 도시한 바와 같이 상기 가압부재(120)는 캠부재(140)의 양측으로 구비되며, 핀부재(130)의 컨택트핀(133)은 가압부재(120)와 캠부재(140) 사이에 위치하게 된다. 상기 가압부재(120)는 캠부재(140)의 양측으로 구비되는 경우 도 14에 도시한 바와 같이 마주하는 가압부재(120)의 걸림부(123)를 서로 어긋나게 하여 구비할 수도 있고, 일측 가압부재(120)의 걸림부(123) 사이의 간격을 타측 가압부재(120)의 걸림부(123) 사이의 간격보다 좁게 하여 구비할 수도 있다.
도 14 및 도 15에 도시한 바와 같이 캠부재(140)가 가압부재(120)의 캠삽입부(125)로 삽입된 상태로 하우징(110) 내에 구비되어 가압부재(120)가 가압부재안착부(1115)에 안착되고, 캠부재(140)의 지지부(143)가 회전지지공(1113)에 회전 가능하게 삽입된 상태에서, 캠부재(140)가 회전하면 가압부재(120)가 가압부재안착부(1115)에 안착된 상태에서 캠삽입부(125)와 캠부(141)의 상호 작용에 의하여 가압부재(120)는 캠부재(140)를 향하여 양측에서 전진하거나 후퇴하는 운동을 반복하며, 전진시 가압부재(120)의 본체부(121)와 캠부재(140) 사이에 위치한 핀부재(130)의 컨택트핀(133)을 외측에서 캠부재(140) 쪽-즉, 접속 부품이 삽입된 때 핀부재(130)의 컨택트핀(133)을 접속 부품 쪽-으로 가압하게 된다. 가압부재(120)가 캠부재(140)의 양측으로 구비되어 작동할 때, 캠부(141)에는 양측의 가압부재(120)에 의하여 크기가 같고 방향이 반대인 외력이 작용하여 서로 상쇄될 수 있는 구조이므로 캠부재(140)에 변위나 변형이 발생하지 않게 되어 캠부재(140)를 지지하는 구조를 별도로 구비할 필요가 없게 된다. 따라서 하우징(110)의 측방으로 길이 방향으로 연장되는 측면공(1117)을 형성하는 것이 가능하며, 상기 측면공(1117)으로 가압부재(120)의 돌출부(127)가 미끄럼 가능하게 삽입되는 구조로 할 수 있다.
도 2 및 도 16에 도시한 바와 같이, 상기 핀부재(130)는 하우징(110)에 고정 구비되며 절연체로 이루어진 고정부(131)와, 상기 고정부(131)를 관통하여 구비되며 캠부재(140)의 길이 방향으로 배열되는 복수의 컨택트핀(133)으로 이루어진다.
상기 컨택트핀(133)은 고정부의 일측으로 연장된 제1 돌출부(1339)와, 고정부의 타측으로 연장되어 하우징(110)으로 삽입되는 접속 부품에 접촉하게 되는 제2 돌출부로 이루어진다. 상기 제2 돌출부는 접속 부품에 접촉하는 접촉부(1331)와, 가압부재(120)와 접촉하여 가압되는 핀가압부(1335)와, 상기 핀가압부(1335)의 양측으로 구비되는 핀경사부(1337, 1339)로 이루어지며, 상기 핀가압부(1335)는 편평부를 가지며, 상기 핀경사부(1337, 1339)는 측방으로 캠부재(140)가 위치한 방향으로 경사지게 형성된다. 상기 핀가압부(1335)는 편평부에서 가압부재(120)에 의하여 가압된다.
상기 핀부재(130)의 컨택트핀(133)은 측방향으로 서로 이격되어 복열로 구비될 수 있다. 이때, 상기 가압부재(120)의 본체부(121)는 서로 이격되되록 복수로 구비되며, 상기 핀부재(130)의 컨택트핀(133)은 상기 가압부재(120)의 본체부(121) 사이에 위치하고, 상기 캠부재(140)는 복열의 컨택트핀(133) 사이에 위치한다.
상기 핀부재(130)의 컨택트핀(133)이 측방향으로 이격되어 복열로 구비될 때, 서로 마주하는 컨택트핀(133)의 핀가압부(1335) 사이의 간격은 접촉부(1331) 사이의 간격보다 넓게 형성되고, 핀가압부(1335)의 일측으로 구비되는 핀경사부(1337)에 의하여 핀가압부(1335)로부터 하방향으로 멀어질수록 컨택트핀(133) 사이의 간격은 감소하게 된다. 상기 컨택트핀(133)은 접촉부(1331)에서 연장된 연장핀부(1333)를 더 구비한다. 상기 연장핀부(1333)가 가이드부재(160)의 가이드격벽(161) 사이에 위치하게 된다. 도 16에서 도면부호 1311은 고정부에 구비되는 제2 핀을, 1313은 이웃하는 고정부의 제2 핀이 삽입되는 제2 핀공을 도시한 것이다.
도 17 내지 도 21은 본 발명의 변형 예를 도시한 것으로, 본 발명에 따르는 커넥터(100)는 복열로 배열되는 다수의 컨택트핀(133)을 구비하여 접속 부품의 양측에서 접속 부품에 컨택트핀(133)이 접촉되도록 하는 구조로 하면서도, 하나의 레버(150)만을 구비하는 것이 가능하므로, 커넥터(100)가 설치되는 작동부의 구조를 간단하게 하기 위하여 도 18에 도시한 바와 같은 구조의 레버(150)를 구비하는 것이 가능하다.
도 17 및 도 18에 도시한 바와 같이 본 발명의 변형 예에 구비되는 레버(150)는 캠부재(140)에 연결되는 연결부(151)와, 상기 연결부(151)로부터 연장되고 단부가 분기된 작동부(154)로 이루어진다. 상기 작동부(154)의 분기된 내면은 서로를 향하여 볼록하게 만곡된 만곡접촉부(156)가 형성되어 작동시 가동핀(1003)과의 사이에 미끄럼을 최소로 할 수 있다. 상기 작동부(154)의 단부는 대략 "U"자형으로 형성된다.
도 19 내지 도 21에 도시된 바와 같이, 다수의 커넥터(100)는 양측 설치부(113)를 원형으로 이루는 고정부(1000)에 방사상으로 고정 설치하고, 상기 고정부(1000)의 일측으로 위치하는 원형의 가동부(1001)를 회전시켜 레버(150)가 회전되도록 함으로써 구동할 수 있다. 이때, 상기 가동부(1003)에 레버(150)의 만곡접촉부(156)에 위치하는 봉상의 가동핀(1003)을 설치하는 것으로 커넥터(100)의 작동이 가능하게 된다.
본 발명을 도면을 참조하여 설명하였으나, 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니며, 본 발명으로부터 당업자가 용이하게 변형 가능한 범위까지 본 발명의 권리범위로 해석하여야 한다.
100: 커넥터 110: 하우징
120: 가압부재 130: 핀부재
140: 캠부재 150: 레버

Claims (6)

  1. 한 방향 이상으로 개구된 중공의 하우징과, 상기 하우징에 위치하며 하우징으로 삽입되는 접속 부품의 전기적 단자에 접촉하는 복수의 컨택트핀을 가지는 핀부재와, 상기 하우징에 회전 가능하게 구비되며 캠부를 가지는 캠부재와, 상기 캠부재의 캠부와 접촉하여 캠부재에 의하여 컨택트핀이 접속 부품으로 가압하는 방향과 가압이 해제되는 방향으로 왕복 운동하는 가압부재를 포함하여 구성되며; 상기 가압부재는 캠부재의 길이 방향으로 연장된 본체부와, 상기 본체부의 양측에서 캠부재 쪽으로 연장되며 캠부재가 삽입되는 캠삽입부가 형성된 걸림부로 이루어지고; 상기 캠삽입부에 캠부재의 캠부가 위치하고, 핀부재의 컨택트핀은 캠부재와 가압부재의 본체부 사이에 위치하며, 상기 컨택트핀의 가압시 상기 컨택트핀은 가압부재에 접촉되어 가압되는 것을 특징으로 하는 커넥터.
  2. 삭제
  3. 제1 항에 있어서, 상기 본체부는 핀부재의 컨택트핀을 향하여 볼록하게 돌출된 구조인 가압부를 구비하는 것을 특징으로 하는 커넥터.
  4. 제1 항에 있어서, 상기 핀부재의 컨택트핀은 측방향으로 서로 이격되어 복열로 구비되고, 상기 가압부재는 본체부가 측방향으로 서로 이격되도록 복수로 구비되어 상기 캠부재는 양 가압부재의 걸림부에 형성된 캠삽입부로 삽입되며, 상기 핀부재의 복열의 컨택트핀은 상기 가압부재의 본체부 사이에 위치하고, 상기 캠부재는 복열의 컨택트핀 사이에 위치하며; 상기 캠부재는 캠삽입부에 삽입되며 캠부재에 구비되는 캠부가 캠삽입부와 접촉하여 캠부재의 양측으로 위치한 가압부재를 측방향으로 운동시키는 것을 특징으로 하는 커넥터.
  5. 제1 항에 있어서, 상기 핀부재는 하우징에 고정 구비되며 절연체로 이루어진 고정부와, 상기 고정부를 관통하여 구비되며 캠부재의 길이 방향으로 배열되는 복수의 컨택트핀으로 이루어지며; 상기 컨택트핀은 고정부의 일측으로 연장된 제1 돌출부와, 고정부의 타측으로 연장되어 하우징으로 삽입되는 접속 부품에 접촉하게 되는 제2 돌출부로 이루어지며; 상기 제2 돌출부는 접속 부품에 접촉하는 접촉부와, 가압부재와 접촉하여 가압되는 핀가압부와, 상기 핀가압부의 양측으로 구비되는 핀경사부로 이루어지며; 상기 핀가압부는 편평하게 형성되며, 상기 핀경사부는 측방으로 캠부재가 위치한 방향으로 경사지게 형성된 것을 특징으로 하는 커넥터.
  6. 제1 항에 있어서, 상기 캠부재를 회전시키는 레버를 더 포함하며, 상기 레버는 캠부재에 연결되는 연결부와, 상기 연결부로부터 연장되고 단부가 분기된 작동부로 이루어지고, 상기 작동부의 분기된 내면은 서로를 향하여 볼록하게 만곡된 만곡접촉부가 형성된 것을 특징으로 하는 커넥터.


KR1020100033544A 2010-04-12 2010-04-12 커넥터 KR100987702B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100033544A KR100987702B1 (ko) 2010-04-12 2010-04-12 커넥터

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100033544A KR100987702B1 (ko) 2010-04-12 2010-04-12 커넥터

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR100987702B1 true KR100987702B1 (ko) 2010-10-13

Family

ID=43135431

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100033544A KR100987702B1 (ko) 2010-04-12 2010-04-12 커넥터

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100987702B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180055238A (ko) * 2016-11-16 2018-05-25 (주)케미텍 커넥터
KR101984493B1 (ko) * 2018-04-11 2019-05-31 (주)케미텍 테스트 장치용 커넥터 어셈블리

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050040762A (ko) * 2003-10-27 2005-05-03 니혼 앗사쿠단시세이조 가부시키가이샤 Zif 커넥터 및 이것을 이용한 반도체 시험 장치
KR100793261B1 (ko) 2006-06-13 2008-01-10 주식회사 엑시콘 멀티 구동형 커넥터
KR100864372B1 (ko) 2007-03-16 2008-10-21 주식회사 앱스코 커넥터 장치
KR100898600B1 (ko) 2008-08-05 2009-05-21 (주)퓨쳐하이테크 프로브카드 접속용 헤드소켓과 인터페이스 및 이를포함하는 웨이퍼 테스트장치

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050040762A (ko) * 2003-10-27 2005-05-03 니혼 앗사쿠단시세이조 가부시키가이샤 Zif 커넥터 및 이것을 이용한 반도체 시험 장치
KR100793261B1 (ko) 2006-06-13 2008-01-10 주식회사 엑시콘 멀티 구동형 커넥터
KR100864372B1 (ko) 2007-03-16 2008-10-21 주식회사 앱스코 커넥터 장치
KR100898600B1 (ko) 2008-08-05 2009-05-21 (주)퓨쳐하이테크 프로브카드 접속용 헤드소켓과 인터페이스 및 이를포함하는 웨이퍼 테스트장치

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180055238A (ko) * 2016-11-16 2018-05-25 (주)케미텍 커넥터
KR101885711B1 (ko) * 2016-11-16 2018-08-06 (주)케미텍 커넥터
KR101984493B1 (ko) * 2018-04-11 2019-05-31 (주)케미텍 테스트 장치용 커넥터 어셈블리
WO2019199039A1 (ko) * 2018-04-11 2019-10-17 주식회사케미텍 테스트 장치용 커넥터 어셈블리

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI59509C (fi) Anslutningsdon foer en bandkabel
JP3767810B2 (ja) スプリングコネクタ
US8721372B2 (en) Contact and electrical connecting apparatus
JP4303736B2 (ja) 電気コネクタ
TWI697683B (zh) 測試裝置
KR20060058028A (ko) 접속시 인가된 응력이 컨택에 의해 수용되는 커넥터
TWI721151B (zh) 探針及具有探針的測試插槽
KR20090104659A (ko) 반도체 칩 검사용 소켓
KR100987702B1 (ko) 커넥터
KR101045899B1 (ko) Zif 커넥터 및 이것을 이용한 반도체 시험 장치
US7819672B2 (en) Electrical connecting apparatus with inclined probe recess surfaces
KR100987703B1 (ko) 커넥터
KR20110023767A (ko) 커넥터
US4066312A (en) High density cable connector
US11442079B2 (en) Contact device for electrical test
US6413110B2 (en) Zero insertion force socket
JPH1131566A (ja) 被検査体試験用補助装置
US11293941B2 (en) Interface element for a testing apparatus of electronic devices and corresponding manufacturing method
KR100898600B1 (ko) 프로브카드 접속용 헤드소켓과 인터페이스 및 이를포함하는 웨이퍼 테스트장치
US20230039251A1 (en) High performance outer cylindrical spring pin
JPH0935825A (ja) 多芯丸形のプラグコネクタ及びリセプタクルコネクタ
KR20090012539A (ko) 프로브카드 접속용 헤드소켓 및 웨이퍼 테스트장치
KR100588188B1 (ko) 플렉시블 기판용 커넥터
KR101885711B1 (ko) 커넥터
CN111474391A (zh) 高速探针卡装置及其矩形探针

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130719

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee