KR100940852B1 - Write driver - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 반도체 메모리 장치의 설계에 관한 것으로, 더 상세하게는 라이트 드라이버에 관한 것이다.The present invention relates to the design of semiconductor memory devices, and more particularly to a write driver.
일반적으로 반도체 메모리 장치는 라이트 드라이버(Write Driver)를 구비하여 라이트(Write) 동작을 수행한다. 상기 라이트 드라이버는 반도체 메모리 장치의 라이트 동작시 글로벌 입출력 라인(Global I/O Line)을 활성화시키게 된다.In general, a semiconductor memory device includes a write driver to perform a write operation. The write driver activates a global I / O line during a write operation of the semiconductor memory device.
도 1은 종래기술에 따른 반도체 메모리 장치의 라이트 드라이버의 회로도이다.1 is a circuit diagram of a write driver of a semiconductor memory device according to the prior art.
종래기술에 따른 라이트 드라이버는 드라이빙부(10) 및 래치부(20)로 구성된다. 상기 드라이빙부(10)는 데이터(Din)를 입력 받아 글로벌 입출력 라인(GIO)을 풀업 또는 풀다운 구동한다. 상기 드라이빙부(10)는 피모스 트랜지스터(PD) 및 엔모스 트랜지스터(ND)로 구성된다. 상기 피모스 트랜지스터(PD)는 로우 레벨의 데이터(Din)가 입력될 때 턴온되어, 글로벌 입출력 라인(GIO)을 외부전압(VDD) 레벨로 풀업 구동한다. 상기 엔모스 트랜지스터(ND)는 하이 레벨의 데이터(Din)가 입력될 때 턴온되어, 글로벌 입출력 라인(GIO)을 접지전압(VSS) 레벨로 풀다운 구동한다.The light driver according to the related art is composed of a
상기 래치부(20)는 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)의 레벨을 래치한다. 상기 래치부(20)는 일반적으로 서로의 출력을 입력으로 하는 인버터 두 개(IV1, IV2)로 구성된다.The
상기 글로벌 입출력 라인(GIO)의 안정성을 위해서 상기 래치부(20)를 구성하는 트랜지스터의 사이즈(Size)를 크게 하는 것이 바람직하다. 그러나 종래기술은 상기 래치부(20)를 구성하는 트랜지스터의 사이즈를 크게 하는데 한계를 갖고 있다. 즉, 래치부(20)를 구성하는 트랜지스터의 사이즈를 너무 크게 키울 경우, 글로벌 입출력 라인(GIO)을 반대 레벨로 구동하는데 오랜 시간을 요하고 이는 전류소모가 커지는 문제점을 발생시킨다.In order to stabilize the global input / output line GIO, it is preferable to increase the size of the transistors constituting the
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해서 래치 기능을 강화하면서도 글로벌 입출력 라인을 빠르게 구동할 수 있는 라이트 드라이버를 제공하는데 그 목적이 있다.An object of the present invention is to provide a write driver capable of quickly driving a global input / output line while enhancing a latch function in order to solve the above problems.
본 발명의 실시예에 따른 라이트 드라이버는 인에이블 신호에 응답하여 활성화 되고, 입력 받은 데이터를 차동 증폭하여 제 1 및 제 2 구동신호를 생성하는 구동신호 생성부; 상기 제 1 및 제 2 구동신호에 응답하여 글로벌 입출력 라인을 구동하는 드라이빙부; 및 상기 제 1 및 제 2 구동신호의 인에이블 여부 및 상기 글로벌 입출력 라인의 레벨에 따라 활성화 여부가 결정되어 상기 글로벌 입출력 라인을 래치하는 제어 래치부; 를 포함한다According to an exemplary embodiment of the present invention, a write driver is activated in response to an enable signal, and generates a first and second driving signal by differentially amplifying input data; A driving unit driving a global input / output line in response to the first and second driving signals; And a control latch unit configured to latch the global input / output line by determining whether the first and second driving signals are enabled or not and activation according to the level of the global input / output line. Contains
또한, 본 발명의 실시예에 따른 라이트 드라이버는 인에이블 신호에 응답하여 활성화 여부가 결정되고, 데이터를 입력 받아 상기 글로벌 입출력 라인을 하이 레벨로 풀업 구동, 로우 레벨로 풀다운 구동하거나 상기 글로벌 입출력 라인을 플로팅 시키는 3 상태 드라이빙부; 및 상기 3상태 드라이빙부가 상기 글로벌 입출력 라인을 반대 레벨로 풀업 또는 풀다운 구동할 때부터 소정 시점까지 비활성화 되어있다가, 상기 소정 시점 이후 활성화되어 상기 글로벌 입출력 라인을 래치하는 래치 제어부; 를 포함한다. In addition, the write driver according to an embodiment of the present invention determines whether to activate in response to the enable signal, and receives data to pull up the global input / output line to a high level, pull-down driving to a low level, or to operate the global input / output line. A three-state driving unit for floating; And a latch control unit which is inactivated from a time when the three-state driving unit pulls up or pulls down the global input / output line to the opposite level, and then activates the latch after the predetermined time to latch the global input / output line. It includes.
본 발명에 의하면, 글로벌 입출력 라인을 래치하는 트랜지스터의 사이즈를 확장시킬 수 있어 글로벌 입출력 라인의 안정성을 확보할 수 있다. 또한, 글로벌 입출력 라인을 빠르게 구동하여 동작속도를 향상시키고, 전류소모를 감소시킬 수 있는 효과가 있다.According to the present invention, the size of the transistor latching the global input / output line can be increased, thereby ensuring the stability of the global input / output line. In addition, there is an effect that can quickly drive the global input and output lines to improve the operating speed, and reduce the current consumption.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 라이트 드라이버의 구성을 보여주는 블록도이다.2 is a block diagram illustrating a configuration of a write driver according to an exemplary embodiment of the present invention.
본 발명의 실시예에 따른 라이트 드라이버는 구동신호 생성부(100), 드라이빙부(10) 및 제어 래치부(200)를 포함한다. 상기 구동신호 생성부(100)는 데이터(Din, Dinb)를 인가 받고, 인에이블 신호(wtclk)에 응답하여 상기 데이터(Din, Dinb)를 차동 증폭하여 제 1 및 제 2 구동신호(A, B)를 생성한다. 상기 드라이빙부(10)는 상기 제 1 및 제 2 구동신호(A, B)에 응답하여 글로벌 입출력 라인(GIO)을 구동한다. 상기 제어 래치부(200)는 상기 제 1 및 제 2 구동신호(A, B)에 응답하여 활성화 여부가 결정되고, 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)의 레벨에 따라 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 래치 구동한다.The write driver according to an exemplary embodiment of the present invention includes a
상기 구동신호 생성부(100)는 상기 인에이블 신호(wtclk) 및 데이터(Din, Dinb)를 입력 받아 제 1 및 제 2 구동신호(A, B)를 생성한다. 즉, 상기 구동신호 생성부(100)는 차동 증폭부(110), 비반전 증폭부(120) 및 반전 증폭부(130)로 구성된다. 상기 차동 증폭부(110)는 상기 인에이블 신호(wtclk)에 의해 활성화 되어 상기 데이터(Din, Dinb)를 입력 받아 제 1 및 제 2 드라이버 입력신호(D, Db)를 생성 한다. 상기 비반전 증폭부(120)는 상기 제 1 드라이버 입력신호(D)를 비반전 증폭하여 상기 제 1 구동신호(A)를 생성한다. 상기 반전 증폭부(130)는 상기 제 2 드라이버 입력신호(Db)를 반전 증폭하여 상기 제 2 구동신호(B)를 생성한다.The
상기 데이터(Din, Dinb)는 외부에서 라이트 명령(Write Command)이 인가 되면, 데이터 패드(Data Pad)를 통해 입력될 수 있다. 상기 인에이블 신호(wtclk)는, 예를 들어, 반도체 메모리 장치의 액티브(Active) 동작 시에 활성화되고, 반도체 메모리 장치가 스탠바이(Standby) 상태일 때는 디스에이블 되는 라이트 클럭(Write Clock)일 수 있다.The data Din and Dinb may be input through a data pad when a write command is applied from the outside. The enable signal wtclk may be, for example, a write clock activated when the semiconductor memory device is active and disabled when the semiconductor memory device is in a standby state. .
또, 상기 드라이빙부(10)는 상기 제 1 및 제 2 구동신호(A, B)를 입력 받아 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 구동하도록 종래기술과 동일하게 구성될 수 있다.In addition, the
특히 상기 구동신호 생성부(100)와 상기 드라이빙부(10)는 데이터와 인에이블 신호에 따라 상기 글로벌 입출력 라인을 3가지 상태로 만든다. 즉, 상기 인에이블 신호(wtclk)가 인에이블 되었을 때, 상기 데이터(Din, Dinb)에 따라 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 풀업 구동하거나 풀다운 구동하고, 상기 인에이블 신호(wtclk)가 디스에이블 되었을 때는 상기 데이터(Din, Dinb)에 무관하게 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 플로팅(Floating) 시킨다. 상기와 같은 동작을 수행하므로 상기 구동신호 생성부(100) 및 상기 드라이빙부(10)는 3 상태 드라이버(Tri-state Driver)라고도 불린다.In particular, the driving
상기 제어 래치부(200)는 상기 제 1 및 제 2 구동신호(A, B)에 응답하여 글로벌 입출력 라인(GIO)의 상태에 따라 다른 동작을 수행한다. 상기 제어 래치 부(200)는 상기 제 1 및 제 2 구동신호(A, B)가 디스에이블 되면 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 래치한다. 상기 제어 래치부(200)는 상기 제 1 구동신호(A)가 인에이블 되면 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)의 레벨에 따라 외부전압(VDD)을 인가하여 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 래치하고, 상기 제 2 구동신호(B)가 인에이블 되면 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)의 레벨에 따라 접지전압(VSS)을 인가하여 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 래치한다. 본 발명의 실시예에서 상기 제 1 구동신호(A)는 로우로 인에이블 되는 신호이며, 상기 제 2 구동신호(B)는 하이로 인에이블 되는 신호이다.The
더 상세히 설명하면, 상기 인에이블 신호(wtclk)가 디스에이블 되는 경우, 상기 제어 래치부(200)는 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 래치한다. 상기 인에이블 신호(wtclk)가 인에이블 되어 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)이 로우 레벨에서 하이 레벨로 풀업 구동될 때, 상기 제어 래치부(200)는 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)이 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이하기 전까지는 비활성화 되고, 하이 레벨로 천이하는 시점부터 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 풀업 구동함과 동시에 래치한다. 마찬가지로, 상기 글로벌 입출력(GIO)이 하이 레벨에서 로우 레벨로 풀다운 구동될 때, 상기 제어 래치부(200)는 상기 글로벌 입출력 라인이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이하기 전까지는 비활성화 되고, 로우 레벨로 천이하는 시점부터 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 풀다운 구동함과 동시에 래치한다.In more detail, when the enable signal wtclk is disabled, the
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 구동신호 생성부(100)의 상세한 구성을 보여주는 회로도이다. 3 is a circuit diagram illustrating a detailed configuration of a
상기 구동신호 생성부(100)는 차동 증폭부(110), 비반전 구동부(120), 반전 구동부(130)로 구성된다. 상기 차동 증폭부(110)는 제 1 내지 제 5 피모스 트랜지스터(P1~P5) 및 제 1 내지 제 5 엔모스 트랜지스터(N1~N5)를 포함한다. 상기 차동 증폭부(110)는 데이터(Din, Dinb)를 입력 받아 차동 증폭시켜 제 1 드라이버 입력신호(D) 및 제 2 드라이버 입력신호(Db)를 생성한다.The
상기 비반전 증폭부(120)는 직렬로 연결된 짝수개의 인버터로 구성될 수 있다. 본 발명의 실시예에서는, 상기 비반전 구동부(120)는 두 개의 인버터(IV3, IV4)로 구성됨을 예로 보였다. 상기 반전 증폭부(130)는 직렬로 연결된 홀수개의 인버터로 구성될 수 있다. 본 발명의 실시예에서는 상기 반전 구동부가 한 개의 인버터(IV5)로 구성됨을 예로 보였다.The
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 라이트 드라이버의 드라이빙부(10) 및 제어 래치부(200)의 상세한 구성을 보여주는 회로도이다.4 is a circuit diagram illustrating a detailed configuration of the
상기 드라이빙부(10)는 풀업 드라이버(11) 및 풀다운 드라이버(12)를 포함한다. 상기 풀업 드라이버(11)는 상기 제 1 구동신호(A)를 입력 받아 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 외부전압(VDD) 레벨로 풀업 구동한다. 상기 풀업 드라이버(11)는 게이트로 상기 제 1 구동신호(A)를 인가받고, 소스 단으로 외부전압(VDD)을 인가 받으며, 드레인 단이 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)과 연결되는 피모스 트랜지스터(PD)로 구성될 수 있다.The
상기 풀다운 드라이버(12)는 상기 제 2 구동신호(B)를 입력 받아 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 접지전압(VSS) 레벨로 풀다운 구동한다. 상기 풀다운 드라 이버(12)는 게이트로 상기 제 2 구동신호(B)를 인가 받고, 소스 단이 접지전압(VSS) 단과 연결되며, 드레인 단이 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)과 연결되는 엔모스 트랜지스터(ND)로 구성될 수 있다.The pull-
상기 제어 래치부(200)는 전압 감지부(210) 및 래치 구동부(220)를 포함한다. 상기 전압 감지부(210)는 입력 단이 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)과 연결된다. 상기 전압 감지부(210)는 글로벌 입출력 라인(GIO)의 레벨이 반전된 신호를 상기 래치 구동부(220)에 인가하도록 구성된다. 본 발명의 실시예에서 상기 전압 감지부(210)는 일반적인 인버터(IV1)로 구현할 수 있다. The
상기 래치 구동부(220)는 제 1 및 제 2 구동신호(A, B)에 의해 활성화 여부가 결정되어, 상기 제어 래치부(200)가 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 래치하도록 한다. 상기 래치 구동부(220)는 글로벌 입출력 라인(GIO)이 플로팅 되면 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)이 플로팅 되기 직전의 레벨을 유지하도록, 제어 래치부(200)가 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 래치하도록 한다. The
상기 래치 구동부(220)는 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)이 로우 레벨에서 풀업 구동될 때, 하이 레벨로 천이하기 직전까지는 상기 제어 래치부(200)를 비활성화 시켜, 드라이빙부(10)가 글로벌 입출력 라인(GIO)을 충분히(Fully) 풀업 구동하도록 한다. 이후 글로벌 입출력 라인(GIO)이 하이 레벨로 천이하는 시점부터는, 상기 제어 래치부(200)가 드라이빙부(10)와 함께 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 풀업 구동함과 동시에 래치하는 기능을 수행하도록 한다.When the global input / output line GIO is pulled-up at a low level, the
마찬가지로, 상기 래치 구동부(210)는 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)이 하이 레벨에서 로우 레벨로 풀다운 구동될 때, 로우 레벨로 천이하기 직전까지는 상기 제어 래치부(200)를 비활성화 시켜, 드라이빙부(10)가 글로벌 입출력 라인(GIO)을 충분히 풀다운 구동하도록 하고, 이후 글로벌 입출력 라인(GIO)이 로우 레벨로 천이하는 시점부터는 상기 제어 래치부(200)가 드라이빙부와 함께 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 풀다운 구동함과 동시에 래치하는 기능을 수행하도록 한다.Similarly, when the global input / output line GIO is pulled down from a high level to a low level, the
상기 래치 구동부(220)는 저전압 인가부(221), 고전압 인가부(222) 및 스위칭부(223)로 구성된다. 상기 저전압 인가부(221)는 제 1 구동신호(A)에 응답하여 접지전압(VSS)을 제공한다. 상기 고전압 인가부(222)는 제 2 구동신호(B)에 응답하여 외부전압(VDD)을 제공한다. 상기 스위칭부(223)는 전압 감지부(210)의 출력에 응답하여 상기 저전압 인가부(221) 및 상기 고전압 인가부(222)와 선택적으로 연결된다.The
본 발명의 실시예에서, 상기 래치 구동부(220)는 3 상태 인버터(Tri-state Inverter, TIV)로 구성됨을 예로 들었다. 상기 3 상태 인버터(TIV)는 상기 제 1 구동신호(A) 및 상기 제 2 구동신호(B)에 의해 턴온 여부가 결정되고, 입력 단이 상기 인버터(IV)의 출력 단과 연결되며, 출력 단이 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)과 연결된다. 상기 3 상태 인버터(TIV)는 제 1 및 제 2 피모스 트랜지스터(PI1, PI2)와 제 1 및 제 2 엔모스 트랜지스터(NI1, NI2)를 포함한다. 상기 제 1 피모스 트랜지스터(PI1)는 게이트로 상기 제 2 구동신호(B)를 인가 받으며, 소스 단으로 외부전압(VDD)이 인가된다. 상기 제 2 피모스 트랜지스터(PI2)는 게이트가 상기 인버터(IV)의 출력 단과 연결되고, 소스 단이 상기 제 1 피모스 트랜지스터(PI1)의 드 레인 단과 연결되며, 드레인 단이 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)과 연결된다. 상기 제 1 엔모스 트랜지스터(NI1)는 게이트로 상기 제 1 구동신호(A)를 인가 받고, 소스 단이 접지전압(VSS) 단과 연결된다. 상기 제 2 엔모스 트랜지스터(NI2)는 게이트가 상기 인버터(IV)의 출력 단과 연결되고, 소스 단이 상기 제 1 엔모스 트랜지스터(NI1)의 드레인 단과 연결되며, 드레인 단이 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)과 연결된다.In the exemplary embodiment of the present invention, the
도 2 내지 도 4를 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 라이트 드라이버의 동작을 살펴보면 다음과 같다.The operation of the light driver according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 2 to 4 as follows.
반도체 메모리 장치가 스탠바이 상태일 때 상기 인에이블 신호(wtclk)가 로우로 디스에이블 된다. 따라서, 상기 구동신호 생성부(100)는 상기 데이터(Din, Dinb)와 무관하게 상기 제 1 및 제 2 드라이버 입력신호를(D, Db)를 하이 레벨로 고정시킨다. 상기 제 1 및 제 2 드라이버 입력신호(D, Db)가 하이 레벨로 고정되면, 상기 제 1 드라이버 입력신호(D)는 비반전 증폭부(120)에 의해 비반전 증폭되어 하이 레벨로 비반전 증폭된 제 1 구동신호(A)가 상기 풀업 드라이버(11)를 구성하는 피모스 트랜지스터(PD)의 게이트 및 상기 래치 구동부(220)의 상기 제 1 엔모스 트랜지스터(NI1)의 게이트로 인가된다. 따라서 상기 피모스 트랜지스터(PD)는 턴오프되고, 상기 제 1 엔모스 트랜지스터(NI1)는 턴온된다. 상기 제 2 드라이버 입력신호(Db)는 반전 증폭부(130)에 의해 반전 증폭되어 로우 레벨로 반전 증폭된 제 2 구동신호(B)가 상기 풀다운 드라이버(12)을 구성하는 엔모스 트랜지스터(ND)의 게이트 및 상기 래치 구동부(220)의 제 1 피모스 트랜지스터(PI1)의 게이트로 인가된다. 따라서 상기 엔모스 트랜지스터(ND)는 턴오프되고, 상기 제 1 피모스 트랜지스터(PI1)는 턴온된다. 상기 피모스 트랜지스터(PD) 및 상기 엔모스 트랜지스터(ND)가 턴오프되어, 상기 드라이빙부(10)는 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 구동하지 않고 플로팅 시킨다. 상기 제 1 피모스 트랜지스터(PI1) 및 상기 제 1 엔모스 트랜지스터(NI1)는 턴온되어 래치 구동부(220)를 구성하는 상기 3 상태 인버터(TIV)가 일반적인 인버터의 기능을 수행하도록 한다. 따라서 상기 제어 래치부(200)는 인버터(IV1)와 상기 3 상태 인버터(TIV)를 통해 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 래치하게 된다. The enable signal wtclk is disabled low when the semiconductor memory device is in a standby state. Therefore, the driving
반도체 메모리 장치의 액티브 동작 시 라이트 명령이 인가되면, 상기 인에이블 신호(wtclk)는 인에이블 된다. 상기 인에이블 신호(wtclk)가 인에이블 되면, 상기 구동신호 생성부(100)는 외부에서 입력되는 데이터(Din, Dinb)에 응답하여 상기 제 1 또는 제 2 드라이버 입력신호(D, Db)를 선택적으로 인에이블 시킨다. 본 발명의 실시예에서는, 상기 데이터(Din, Dinb)는 한쌍의 신호로 이루어 질 수 있다. 예를 들어, 데이터(Din)가 하이 레벨이면 그의 상보신호(Dinb)는 로우 레벨이 되고, 상기 데이터(Din)가 로우로 레벨이면 그의 상보신호(Dinb)는 하이 레벨이 된다. 상기 데이터(Din)가 하이 레벨이고, 그의 상보신호(Dinb)는 로우 레벨인 경우, 상기 제 1 드라이버 입력신호(D)는 로우 레벨이 되고, 상기 제 2 드라이버 입력신호(Db)는 하이 레벨이 된다.When the write command is applied during the active operation of the semiconductor memory device, the enable signal wtclk is enabled. When the enable signal wtclk is enabled, the driving
상기 제 1 드라이버 입력신호(D)는 비반전 증폭되어 로우 레벨의 제 1 구동신호(A)가 되고, 상기 제 1 구동신호(A)는 상기 풀업 드라이버(11)를 구성하는 피 모스 트랜지스터(PD)의 게이트 및 상기 래치 구동부(220)의 제 1 엔모스 트랜지스터(NI1)로 인가된다. 따라서, 상기 피모스 트랜지스터(PD)는 턴온되고, 상기 제 1 엔모스 트랜지스터(NI1)는 턴오프된다. The first driver input signal D is non-inverted and amplified to become a low level first driving signal A, and the first driving signal A is a MOS transistor PD constituting the pull-up driver 11. ) Is applied to the first NMOS transistor NI1 of the
상기 제 2 드라이버 입력신호(Db)는 반전 증폭되어 로우 레벨의 제 2 구동신호(B)가 되고, 상기 제 2 구동신호(B)가 상기 풀다운 드라이버(12)를 구성하는 엔모스 트랜지스터(ND)의 게이트 및 상기 래치 구동부(220)의 제 1 피모스 트랜지스터(PI1)의 게이트로 인가된다. 따라서, 상기 엔모스 트랜지스터(ND)는 턴오프되고, 상기 제 1 피모스 트랜지스터(PI1)는 턴온된다.The second driver input signal Db is inverted and amplified to become a low level second driving signal B, and the second driving signal B forms the pull-
그러므로, 상기 드라이빙부(10)는 상기 풀업 드라이버(11)를 통해 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 외부전압(VDD) 레벨로 풀업 구동한다. 상기 제어 래치부(200)는 글로벌 입출력 라인(GIO)이 하이 레벨로 천이되기 전까지는 제 2 피모스 트랜지스터(PI2)를 턴오프시켜 비활성화 상태를 유지하고, 글로벌 입출력 라인(GIO)이 하이 레벨로 천이하는 시점부터는 상기 제 2 피모스 트랜지스터(PI2)를 턴온시켜 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 외부전압(VDD) 레벨로 풀업 구동한다.Therefore, the driving
반대로 상기 데이터(Din)가 로우 레벨이고, 그의 상보신호(Dinb)가 하이 레벨인 경우, 상기 제 1 드라이버 입력신호(D)는 하이 레벨이 되고 상기 제 2 드라이버 입력신호(Db)는 로우 레벨이 된다.On the contrary, when the data Din is at the low level and its complementary signal Dinb is at the high level, the first driver input signal D is at the high level and the second driver input signal Db is at the low level. do.
상기 제 1 드라이버 입력신호는(D)는 비반전 증폭되어 하이 레벨의 제 1 구동신호(A)가 되고, 상기 제 1 구동신호(A)가 상기 풀업 드라이버(11)를 구성하는 피모스 트랜지스터(PD)의 게이트 및 상기 래치 구동부(220)의 제 1 엔모스 트랜지 스터(NI1)의 게이트로 인가된다. 따라서, 상기 피모스 트랜지스터(PD)는 턴오프되고 상기 제 1 엔모스 트랜지스터(NI1)는 턴온된다. The first driver input signal (D) is non-inverted and amplified to become a high level first driving signal (A), and the first driving signal (A) constitutes a PMOS transistor constituting the pull-up driver 11 ( It is applied to the gate of the PD and the gate of the first NMOS transistor NI1 of the
상기 제 2 드라이버 입력신호(Db)는 반전 증폭되어 하이 레벨의 제 2 구동신호(B)가 되고, 상기 제 2 구동신호(B)가 상기 풀다운 드라이버(12)를 구성하는 엔모스 트랜지스터(ND)의 게이트 및 상기 래치 구동부(220)의 제 1 피모스 트랜지스터(PI1)의 게이트로 인가된다. 따라서, 상기 엔모스 트랜지스터(ND)는 턴온되고, 상기 제 1 피모스 트랜지스터(PI1)는 턴오프된다.The second driver input signal Db is inverted and amplified to become a high level second driving signal B, and the second driving signal B forms the pull-
그러므로, 상기 드라이빙부(10)는 상기 풀다운 드라이버(12)를 통해 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 접지전압(VSS) 레벨로 풀다운 구동한다. 상기 제어 래치부(200)는 글로벌 입출력 라인(GIO)이 로우 레벨로 천이되기 전까지는 제 2 엔모스 트랜지스터(NI2)를 턴오프시켜 비활성화 상태를 유지하고, 글로벌 입출력 라인(GIO)이 로우 레벨로 천이하는 시점부터는 상기 제 2 피모스 트랜지스터(NI2)를 턴온시켜 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 외부전압(VDD) 레벨로 풀업 구동한다.Therefore, the driving
인에이블 신호(wtclk)가 디스에이블 되면, 제어 래치부(200)가 글로벌 입출력 라인(GIO)을 래치하는 기능을 수행한다. 인에이블 신호(wtclk)가 인에이블 되어 상기 드라이빙부(10)가 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 풀업 구동하는 경우, 상기 제어 래치부(200)는 상기 드라이빙부(10)의 풀업 구동을 방해하지 않으면서 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 풀업 구동함과 동시에 래치기능을 수행한다. 또한 상기 인에이블 신호(wtclk)가 인에이블 되어 상기 드라이빙부(10)가 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 풀다운 구동하는 경우, 상기 제어 래치부(200)는 상기 드라이빙부(10) 의 풀다운 구동을 방해하지 않으면서 상기 글로벌 입출력 라인(GIO)을 풀다운 구동함과 동시에 래치기능을 수행한다. When the enable signal wtclk is disabled, the
따라서, 글로벌 입출력 라인의 안정성을 증가시키기 트랜지스터의 사이즈를 크게 하여 래치 기능을 강화할 수 있다. 또한, 래치 기능을 수행하는 트랜지스터의 사이즈를 키우더라도, 드라이빙부가 글로벌 입출력 라인을 충분히 구동할 수 있도록 하고, 아울러 일정시점 이후에는 추가적인 구동력을 제공하도록 구성됨으로써 라이트 드라이버의 동작속도를 향상 시킬 수도 있다.Accordingly, the latch function can be enhanced by increasing the size of the transistor to increase the stability of the global input / output line. In addition, even if the size of the transistor that performs the latch function is increased, the driving unit may sufficiently drive the global input / output lines, and after the predetermined time, it may be configured to provide additional driving force to improve the operation speed of the write driver.
도 5는 종래기술 및 본 발명의 실시예에 따른 글로벌 입출력 라인(GIO)의 동작파형을 나타낸 도면이다. 5 is a view illustrating an operation waveform of a global input / output line (GIO) according to the prior art and the embodiment of the present invention.
도 5에서 볼 수 있는 바와 같이, 본 발명에서는 종래기술보다 글로벌 입출력 라인의 슬롭(Slope)이 예리해져(Sharp), 안정적인 파형을 이루고 있음을 확인할 수 있다.As can be seen in Figure 5, in the present invention it can be seen that the slope of the global input / output line (Sharp) is sharper than the prior art, forming a stable waveform.
본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있으므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.As those skilled in the art to which the present invention pertains may implement the present invention in other specific forms without changing the technical spirit or essential features, the embodiments described above should be understood as illustrative and not restrictive in all aspects. Should be. The scope of the present invention is shown by the following claims rather than the detailed description, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalents should be construed as being included in the scope of the present invention. do.
도 1은 종래기술에 따른 라이트 드라이버의 회로도,1 is a circuit diagram of a light driver according to the prior art,
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 라이트 드라이버의 구성을 보여주는 블록도,2 is a block diagram showing the configuration of a write driver according to an embodiment of the present invention;
도 3은 도 2의 구동신호 생성부의 상세한 구성을 보여주는 회로도,3 is a circuit diagram illustrating a detailed configuration of a driving signal generator of FIG. 2;
도 4는 도 2의 드라이빙부 및 제어 래치부의 상세한 구성을 보여주는 회로도,4 is a circuit diagram illustrating a detailed configuration of a driving unit and a control latch unit of FIG. 2;
도 5는 종래기술과 본 발명의 실시예에 따른 글로벌 입출력 라인의 동작 파형을 비교한 파형도이다.5 is a waveform diagram comparing operating waveforms of a global input / output line according to an exemplary embodiment of the present invention.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
10: 드라이빙부 100: 구동신호 생성부10: driving unit 100: driving signal generation unit
300: 제어 래치부 310: 전압 감지부300: control latch unit 310: voltage detection unit
320: 래치 구동부320: latch drive unit
Claims (18)
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KR1020080088660A KR100940852B1 (en) | 2008-09-09 | 2008-09-09 | Write driver |
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KR1020080088660A KR100940852B1 (en) | 2008-09-09 | 2008-09-09 | Write driver |
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KR100940852B1 true KR100940852B1 (en) | 2010-02-09 |
Family
ID=42083101
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KR101747206B1 (en) * | 2010-12-29 | 2017-06-27 | 에스케이하이닉스 주식회사 | Write circuit |
Citations (2)
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KR20080001386A (en) * | 2006-06-29 | 2008-01-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | Internal voltage generator |
KR20080087441A (en) * | 2007-03-27 | 2008-10-01 | 주식회사 하이닉스반도체 | Semiconductor memory device |
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Patent Citations (2)
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