KR100932549B1 - Inclination surface test method and inclination surface test apparatus for test workpiece of electron parts using the same - Google Patents

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Abstract

본 발명은 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사 방법을 제공한다. 상기 경사 표면 검사 방법은 전자부품의 양측단에 형성되는 경사 표면을 갖는 검사대상물에 대하여 서로 다른 각도에서 상기 경사 표면에 백색광을 순차적으로 조사하는 제 1단계와, 상기 경사 표면에서 서로 다른 각도를 이루어 반사되는 상기 백색광으로부터 서로 다른 색 성분들을 순차적으로 추출하고, 상기 추출된 색 성분들을 서로 합성하여 상기 검사대상물의 경사 표면에 대한 양부를 결정하는 제 2단계를 포함함으로써, 인쇄회로기판에 설치되는 전자부품의 납땜부의 들뜸상태를 백색광으로부터 한 쌍의 서로 다른 색 정보를 추출하고, 이 추출된 색 정보를 사용하여 다양한 패턴 정보를 기준으로 납땜부의 양부를 용이하게 판별할 수 있다.The present invention provides an inclined surface inspection method for an inspection object of an electronic component. The inclined surface inspection method includes a first step of sequentially irradiating white light to the inclined surface at different angles with respect to an inspection object having inclined surfaces formed at both ends of the electronic component, and making different angles at the inclined surface. And a second step of sequentially extracting different color components from the reflected white light and synthesizing the extracted color components with each other to determine whether the inclined surface of the inspection object is inclined. A pair of different color information is extracted from the white light of the soldering part of the component, and the extracted color information can be used to easily determine whether the soldering part is based on various pattern information.

납땜부, 들뜸 Soldering Section, Lifted

Description

전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사 방법 및 이를 사용한 검사 대상물의 경사 표면 검사 장치{INCLINATION SURFACE TEST METHOD AND INCLINATION SURFACE TEST APPARATUS FOR TEST WORKPIECE OF ELECTRON PARTS USING THE SAME}Method for inspecting the inclined surface for the inspection object of the electronic component and device for inspecting the inclination surface of the inspection object using the same {Inclination SURFACE TEST METHOD AND INCLINATION SURFACE TEST APPARATUS FOR TEST WORKPIECE OF ELECTRON PARTS USING THE SAME}

본 발명은 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 인쇄회로기판에 설치되는 전자부품의 납땜부의 들뜸상태를 백색광으로부터 한 쌍의 서로 다른 색 정보를 추출하고, 이 추출된 색 정보를 사용하여 다양한 패턴 정보를 기준으로 납땜부의 양부를 용이하게 판별할 수 있는 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사 방법 및 이를 사용한 검사 대상물의 경사 표면 검사 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting an inclined surface for an object to be inspected for electronic components, and more particularly, extracting a pair of different color information from a white light to lift the soldering state of an electronic component installed on a printed circuit board. The present invention relates to an inclined surface inspection method for an inspection object of an electronic component and an inclined surface inspection device for an inspection object using the same, which can easily determine the quality of the soldering part based on various pattern information using the color information.

전형적으로 각각의 고유의 기능을 갖는 전자부품들은 PCB(printed circuit board, 이하, 인쇄회로기판이라 함)상에 납땜이 되어 설치된다.Typically, each electronic component having its own function is soldered onto a printed circuit board (PCB).

상기 납땜은 납땜 초기시의 납의 양이나 납땜시 가열조건에 따라 매우 다양한 형태의 납땜부를 형성하게 되며, 그 표면이 경사 표면으로 형성된다.The soldering forms a very wide variety of soldering parts according to the amount of lead at the initial soldering time and the heating conditions during soldering, and the surface is formed as an inclined surface.

또한, 납땜에 의하여 인쇄회로기판 상에 전자부품을 실장 또는 삽입하였을 때, 상기 납땜부의 상태는 인쇄회로기판 상에 구성된 전자회로의 신뢰성을 좌우하 는 중요한 요소 중의 하나로이다.In addition, when mounting or inserting an electronic component on a printed circuit board by soldering, the state of the soldering portion is one of important factors that determine the reliability of the electronic circuit formed on the printed circuit board.

따라서, 상기 납땜부의 상태에 대한 검사는 제품의 품질향상 측면에서 매우 중요하다.Therefore, inspection of the state of the soldering portion is very important in terms of improving the quality of the product.

그리고, 최근의 전자산업은 모든 전자기기들이 점점 경박단소화를 추구하고 있고, 이에 따라 전자부품들의 표면 실장기술인 납땜의 정밀도에 대한 요구도 점점 증가된다.In recent years, the electronic industry is increasingly seeking to reduce the size of all electronic devices, and accordingly, the demand for precision of soldering, which is a surface mounting technology of electronic components, is gradually increased.

즉, 표면 실장부품에 대한 검사작업은 직접적으로 제품의 품질에 큰 영향을 미치므로, 상기 납땜부에 대한 검사작업을 고속으로 신뢰성있게 수행할 수 있는 검사방법에 대한 연구가 활발히 진행되고 있다.That is, since the inspection work on the surface-mounted parts directly affects the quality of the product directly, research on an inspection method capable of performing the inspection work on the soldering portion at high speed and reliability is being actively conducted.

종래에는 납땜부의 양·불량을 검사하는 방법들은 납땜부의 외관 형상인 납땜부의 높이 분포나 경사도를 측정하여 납땜부의 이상유무를 판단하는 원리를 사용하였다.Conventionally, the methods for checking the quality and defect of the soldering part have used the principle of determining the abnormality of the soldering part by measuring the height distribution or the inclination of the soldering part which is the external shape of the soldering part.

즉, 납땜부에 빛을 입사시키면 전기한 바와 같이 납땜면이 거울면이므로 납땜면에서 입사된 빛의 반사가 일어나며, 이 반사광을 측정하여 외관형상을 측정하였다.That is, when light is incident on the soldering portion, as described above, the soldering surface is a mirror surface, so that the incident light is reflected from the soldering surface, and the reflected light is measured to measure the appearance.

물체가 경면일 경우에 입사되는 빛은 물체 표면의 겅사도에 따라 정해진 방향으로 대부분의 빛이 반사되므로, 방향을 알고 있는 빛을 납땜부에 적절히 입사시켜 반사되는 빛의 방향을 확인하여 납땜부 표면의 경사도 분포를 측정하여 납땜부의 외관형상을 추정하는 방법에 의해 납땜부의 결함을 검출하는 방법이 사용되어 왔다.When the object is mirror surface, most of the light is reflected in the direction determined according to the degree of the surface of the object. Therefore, the light whose direction is known is properly incident on the soldering part to check the direction of the reflected light. A method of detecting defects in solder parts has been used by measuring the distribution of the inclination of the metal parts and estimating the appearance of the solder parts.

상술한 바와 같이 빛을 이용하여 납땜부의 외관형상을 추정하여 납땜부를 검사하는 종래의 대표적인 방법은 다음과 같다.As described above, the conventional representative method of inspecting the soldering portion by estimating the appearance shape of the soldering portion using light is as follows.

종래에는 인쇄회로기판 상에 실장된 전자부품을 그 상부에서 카메라를 이용하여 화상을 취득한다.Conventionally, an electronic component mounted on a printed circuit board is acquired using a camera on the upper portion thereof.

이어, 이 취득된 이미지를 이치화하여 검은색과 흰색의 픽셀의 비율을 설정값과 비교하여 납땜이 정상적으로 이루어져 있는가를 판별한다.Subsequently, the acquired image is binarized and the ratio of black and white pixels is compared with the set value to determine whether soldering is normally performed.

그러나, 상기와 같이 컬러 영상 이미지를 흑백이미지로 이치화하는 경우에 이차화에 따른 레벨설정이 어려운 문제점이 있고, 이에 따라 리드부분과 납땜부 부분의 영역 구분이 난해해지는 문제점이 발생된다.However, when the color image image is binarized into a black and white image as described above, it is difficult to set the level due to the secondaryization, and thus there is a problem in that it is difficult to distinguish the regions of the lead portion and the solder portion.

또한, USP 5,032,735호에는 광센서와 레이저로 구성된 검사장치를 사용하여 납땜부를 상태를 검사하는 방법이 개시되어 있다. Further, US Pat. No. 5,032,735 discloses a method for inspecting a soldered portion using an inspection device composed of an optical sensor and a laser.

상기 방법에 사용되는 검사장치는 광센서(22)를 센서 고정틀(21)의 다섯 면에 설치하고 레이저빔의 반사각을 측정하여 납땜부를 측정하는 장치로서, 인쇄회로기판(1)에 레이저빔(25)이 수직으로 입사되도록 레이저 방출기(24)에서 방출된 레이저를 레이저 스캐닝 장치(23)에 의해 일정간격씩 이동시키면서 납땜부(3)의 표면에 입사시키면, 레이저빔이 반사되는 경향이 납땜부(3)의 표면법선에 의해 볼록한 경우와 오목한 경우에 따라 시게방향 혹은 반시계방향으로 구분되게 한다.The inspection apparatus used in the method is a device for installing the optical sensor 22 on the five sides of the sensor fixing frame 21 and measuring the reflection angle of the laser beam to measure the soldering portion, the laser beam 25 on the printed circuit board 1 When the laser emitted from the laser emitter 24 is incident on the surface of the soldering portion 3 while moving the laser beam at a predetermined interval by the laser scanning device 23 so that the incident light is incident vertically, the laser beam tends to be reflected. According to the surface normal of 3), it shall be divided into clockwise or counterclockwise depending on convex and concave cases.

상술한 바와 같은 방법에 의해 납땜부의 검사를 수행하면 레이저빔의 반사경향으로부터 대략적인 납땜부의 형태는 측정할 수 있으나, 상기한 종래의 검사방법 역시 납땜부의 리드 들뜸과 과납의 구분, 급경사 부품의 납땜부 검사를 수행할 수 없는 문제점이 있다.If the soldering part is inspected by the method described above, the approximate shape of the soldering part can be measured from the reflection tendency of the laser beam. However, the conventional inspection method also distinguishes the lead lifting and the over soldering of the soldering part and solders the steep inclination parts. There is a problem that a subtest cannot be performed.

또한, 상기한 종래의 납땜부 검사방법은 납땜부에서 반사된 빛에 의해 납땜부의 경사도와 높이 등을 추정하고, 추정된 외관형상에 의해 납땜부의 양·불량을 판단하여 납땜부에 발생한 불량을 검출할 수는 있으나, 납땜부에 발생된 결함의 종류를 식별하기가 어려울 뿐 아니라, 납땜부의 검사수행시 오차가 많이 발생하여 보정이 필수적으로 요구되며, 납땜부의 검사에 장시간이 소요된다는 문제점을 지니고 있다.In addition, in the conventional soldering part inspection method, the inclination and height of the soldering part are estimated by the light reflected from the soldering part, and the quantity or defect of the soldering part is judged based on the estimated appearance shape to detect a defect occurring in the soldering part. Although it is possible to do this, it is difficult to identify the kind of defects generated in the soldering part, and it is necessary to correct the error because a lot of errors occur when performing the soldering part inspection, and it takes a long time to inspect the soldering part. .

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결할 수 있도록 안출된 것으로서, 본 발명의 제 1목적은 인쇄회로기판 상에 실장된 전자부품에 백색광을 조사하여 전자부품의 검사 대상물에서 반사되는 청색과 적색의 두 색 정보를 추출하고, 이 추출되는 색 정보를 합성함으로써 얻어지는 패턴 정보를 기준으로 전자부품의 양부를 판별할 수 있는 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사 방법 및 이를 사용한 검사 대상물의 경사 표면 검사 장치를 제공함에 있다.The present invention has been made to solve the above problems, the first object of the present invention is to irradiate the white light to the electronic component mounted on the printed circuit board two colors of blue and red reflected from the inspection object of the electronic component Provided is a method of inspecting an inclined surface for an inspection object of an electronic part and an apparatus for inspecting an inclination surface of an inspection object using the same, which can extract information and determine whether the electronic component is good or not based on pattern information obtained by synthesizing the extracted color information. Is in.

본 발명의 제 2목적은 검사 대상물로 조사되는 백색광으로부터 청색과 적색의 두 가지 색상의 색 정보 만을 사용하여 검사 대상물의 양부를 판별함으로써, 납땜이 된 부분에서의 들뜸 검사를 비롯한, 들뜨지 않아도 납땜부에 정상적인 경사 표면이 형성되었는가를 단시간 내에 검사할 수 있는 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사 방법 및 이를 사용한 검사 대상물의 경사 표면 검사 장치를 제공함에 있다.The second object of the present invention is to determine the quality of the inspection object by using only two colors of blue and red color information from the white light irradiated to the inspection object, so that the soldering part is not lifted, including lifting inspection in the soldered part. The present invention provides an inclined surface inspection method for an inspection object of an electronic component capable of inspecting whether or not a normal inclined surface is formed in a short time, and an inclined surface inspection apparatus for an inspection object using the same.

본 발명의 제 3목적은 상기에서 얻어지는 패턴 정보를 색 정보의 배열 패턴과 색 정보의 비율 및 색 정보의 농도를 저장 수단에 저장하여 기준 정보로 활용하고, 이 기준 정보로 동일 전자부품에 대하여 다량으로 검사할 수 있는 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사 방법 및 이를 사용한 검사 대상물의 경사 표면 검사 장치를 제공함에 있다.The third object of the present invention is to use the pattern information obtained above as the reference information by storing the arrangement pattern of the color information, the ratio of the color information, and the density of the color information in the storage means, and this reference information provides a large amount for the same electronic component. The present invention provides an inclined surface inspection method for an inspection object of an electronic component which can be inspected by using the same and an inclined surface inspection apparatus for an inspection object using the same.

전술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 전자부품용 검사 대상물의 경사 표면 검사 방법은 전자부품의 양측단에 형성되는 경사 표면을 갖는 검사대상물이 안착부에 안착되고, 상기 안착부의 양측방에서 상기 안착부의 상면을 기준으로 제 1예각을 이루도록 배치되는 제 1광원을 사용하여 상기 경사 표면의 제 1위치로 백색광을 조사하고, 상기 안착부의 양측방에서 상기 제 1광원의 상부에 위치되도록 상기 안착부의 상면을 기준으로 제 2예각을 이루도록 배치되는 제 2광원을 사용하여 상기 제 1위치로 조사되는 백색광의 경로와 교차되도록 상기 경사 표면의 제 2위치로 백색광을 조사하고, 색 성분 검사부를 사용하여 상기 경사 표면의 제 1위치에서 반사되는 백색광으로부터 청색광 및 상기 색 성분 검사부를 사용하여 상기 경사 표면의 제 2위치에서 반사되는 백색광으로부터 적색광을 동시에 추출하고, 상기 색 성분 검사부를 사용하여 각 위치에서 동시에 독립적으로 추출되는 상기 청색광과 적색광을 서로 합성하여 상기 검사대상물의 경사 표면에 대한 양부를 결정한다.
여기서, 상기 색 성분 검사부를 사용하는 경우에, 화상 취득 수단을 사용하여 상기 검사 대상물의 상부에 위치되어 상기 제 1위치와 제 2위치로 조사되는 백색광에 의하여 반사되는 상기 검사대상물을 포함한 상기 검사대상물에 대한 화상 정보를 상기 제 1위치와 제 2위치 순서로 순차적으로 취득하고, 상기 화상 취득 수단과 전기적으로 연결되는 색 성분 추출 수단을 사용하여 상기 순차적으로 취득된 화상 정보를 전송 받아 상기 순차적으로 취득된 화상 정보로부터 상기 제 1위치에서 반사되는 백색광으로부터 청색광을 추출하고 상기 제 2위치에서 반사되는 백색광으로부터 적색광을 각각 추출하고, 상기 색 성분 추출 수단과 전기적으로 연결되는 색 성분 합성 수단을 사용하여 상기 색 성분 추출 수단으로부터 상기 각각 추출된 청색광과 적색광에 대한 정보를 전송 받아 상기 청색광과 적색광을 서로 합성시키고, 상기 색 성분 합성 수단과 전기적으로 연결되는 판별 수단을 사용하여, 상기 합성된 청색광과 적색광을 전기적 신호의 형태로 전송 받아 상기 전자 부품의 양측단으로부터의 상기 청색광과 적색광이 배열 패턴에 따라 상기 검사대상물의 경사 표면에 대한 양부를 결정하고, 상기 판별 수단과 전기적으로 연결되는 저장 수단을 사용하여 상기 판별되는 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부에 대한 결과를 전송 받아 상기 검사 대상물의 양품과 불량의 비율을 저장하는 것이 바람직하다.
그리고, 상기 색 성분 검사부를 사용하는 경우에, 화상 취득 수단을 사용하여 상기 검사 대상물의 상부에 위치되어 상기 제 1위치와 제 2위치로 조사되는 백색광에 의하여 반사되는 상기 검사대상물을 포함한 상기 검사대상물에 대한 화상 정보를 상기 제 1위치와 제 2위치 순서로 순차적으로 취득하고, 상기 화상 취득 수단과 전기적으로 연결되는 색 성분 추출 수단을 사용하여 상기 순차적으로 취득된 화상 정보를 전송 받아 상기 순차적으로 취득된 화상 정보로부터 상기 제 1위치에서 반사되는 백색광으로부터 청색광을 추출하고 상기 제 2위치에서 반사되는 백색광으로부터 적색광을 각각 추출하고, 상기 색 성분 추출 수단과 전기적으로 연결되는 색 성분 합성 수단을 사용하여 상기 색 성분 추출 수단으로부터 상기 각각 추출된 청색광과 적색광에 대한 정보를 전송 받아 상기 청색광과 적색광을 서로 합성시키고, 상기 색 성분 합성 수단과 전기적으로 연결되는 판별 수단을 사용하여, 상기 합성된 청색광과 적색광을 전기적 신호의 형태로 전송 받아 상기 청색광과 적색광을 모두 포함하는 전체 비율을 설정하고, 상기 전체 비율 중 상기 청색광 또는 적색광이 차지 하는 비율의 정도에 따라 상기 검사대상물의 경사 표면에 대한 양부를 결정하고, 상기 판별 수단과 전기적으로 연결되는 저장 수단을 사용하여 상기 판별되는 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부에 대한 결과를 전송 받아 상기 검사 대상물의 양품과 불량의 비율을 저장할 수 있다.
또한, 상기 색 성분 검사부를 사용하는 경우에, 화상 취득 수단을 사용하여 상기 검사 대상물의 상부에 위치되어 상기 제 1위치와 제 2위치로 조사되는 백색광에 의하여 반사되는 상기 검사대상물을 포함한 상기 검사대상물에 대한 화상 정보를 상기 제 1위치와 제 2위치 순서로 순차적으로 취득하고, 상기 화상 취득 수단과 전기적으로 연결되는 색 성분 추출 수단을 사용하여 상기 순차적으로 취득된 화상 정보를 전송 받아 상기 순차적으로 취득된 화상 정보로부터 상기 제 1위치에서 반사되는 백색광으로부터 청색광을 추출하고 상기 제 2위치에서 반사되는 백색광으로부터 적색광을 각각 추출하고, 상기 색 성분 추출 수단과 전기적으로 연결되는 색 성분 합성 수단을 사용하여 상기 색 성분 추출 수단으로부터 상기 각각 추출된 청색광과 적색광에 대한 정보를 전송 받아 상기 청색광과 적색광을 서로 합성시키고, 상기 색 성분 합성 수단과 전기적으로 연결되는 판별 수단을 사용하여, 상기 합성된 청색광과 적색광을 전기적 신호의 형태로 전송 받아 기 설정되는 기준 체적정보와 상기 합성된 청색광과 적색광으로부터 상기 청색광과 상기 적색광 각각의 체적정보를 서로 비교하여 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부를 판별하고, 상기 판별 수단과 전기적으로 연결되는 저장 수단을 사용하여 상기 판별되는 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부에 대한 결과를 전송 받아 상기 검사 대상물의 양품과 불량의 비율을 저장할 수도 있다.
여기서, 상기 체적 정보는, 상기 경사 표면에 대한 검사 영역을 설정하고, 상기 검사 영역 내에서 추출되어 서로 합성된 청색광과 적색광 전체에서 상기 청색광과 적색광을 순차적으로 선택하여 상기 청색광의 함유율과 상기 적색광의 함유율을 각각 산출하고, 상기 각각 산출되는 함유율을 상기 청색광 및 적색광 각각에 따르는 기울기값으로 매칭시키고, 상기 기울기값을 적분하여 상기 검사 대상물의 체적을 산출하여 이루어지는 것이 바람직하다.
전술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 전자부품용 검사 대상물의 경사 표면 검사 장치는 전자부품의 양측단에 형성되는 경사 표면을 갖는 검사대상물이 안착되는 안착부; 상기 안착부의 양측방에서 상기 안착부의 상면을 기준으로 제 1예각을 이루도록 배치되며, 상기 경사 표면의 제 1위치로 백색광을 조사하는 제 1광원; 상기 안착부의 양측방에서 상기 제 1광원의 상부에 위치되도록 상기 안착부의 상면을 기준으로 제 2예각을 이루도록 배치되며, 상기 제 1위치로 조사되는 백색광의 경로와 교차되도록 상기 경사 표면의 제 2위치로 백색광을 조사하는 제 2광원; 상기 안착부 상부에 배치되며, 상기 검사대상물의 저면을 기준으로 수직이 되도록 상기 경사표면의 상면에 백색광을 조사하는 제 3광원; 및 상기 경사 표면의 제 1위치에서 반사되는 백색광으로부터 청색광 및 상기 경사 표면의 제 2위치에서 반사되는 백색광으로부터 적색광을 동시에 추출하고, 각 위치에서 동시에 독립적으로 추출되는 상기 청색광과 적색광을 서로 합성하여 상기 검사대상물의 경사 표면에 대한 양부를 결정하는 색 성분 검사부를 포함한다.
여기서, 상기 색 성분 검사부는 상기 검사 대상물의 상부에 위치되어 상기 제 1위치와 제 2위치로 조사되는 백색광에 의하여 반사되는 상기 검사대상물을 포함한 상기 검사대상물에 대한 화상 정보를 상기 제 1위치와 제 2위치 순서로 순차적으로 취득하는 화상 취득 수단과, 상기 화상 취득 수단과 전기적으로 연결되며, 상기 순차적으로 취득된 화상 정보를 전송 받아 상기 순차적으로 취득된 화상 정보로부터 상기 제 1위치에서 반사되는 백색광으로부터 청색광을 추출하고 상기 제 2위치에서 반사되는 백색광으로부터 적색광을 각각 추출하는 색 성분 추출 수단과, 상기 색 성분 추출 수단과 전기적으로 연결되며 상기 색 성분 추출 수단으로부터 상기 각각 추출된 청색광과 적색광에 대한 정보를 전송 받아 상기 청색광과 적색광을 서로 합성시키는 색 성분 합성 수단과, 상기 색 성분 합성 수단과 전기적으로 연결되며 상기 합성된 청색광과 적색광을 전기적 신호의 형태로 전송 받아 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부를 판별하는 판별 수단과, 상기 판별 수단과 전기적으로 연결되며 상기 판별되는 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부에 대한 결과를 전송 받아 상기 검사 대상물의 양품과 불량의 비율을 저장하는 저장 수단을 구비하되, 상기 판별 수단은 상기 전자 부품의 양측단으로부터의 상기 청색광과 적색광이 배열 패턴에 따라 상기 검사대상물의 경사 표면에 대한 양부를 결정하고, 상기 판별 수단은 상기 배열 패턴이 청색광에 이어 적색광의 순의 배열을 이루면 상기 검사대상물을 정상으로 판별하는 것이 바람직하다.
그리고, 상기 색 성분 검사부는 상기 검사 대상물의 상부에 위치되어 상기 제 1위치와 제 2위치로 조사되는 백색광에 의하여 반사되는 상기 검사대상물을 포함한 상기 검사대상물에 대한 화상 정보를 상기 제 1위치와 제 2위치 순서로 순차적으로 취득하는 화상 취득 수단과, 상기 화상 취득 수단과 전기적으로 연결되며, 상기 순차적으로 취득된 화상 정보를 전송 받아 상기 순차적으로 취득된 화상 정보로부터 상기 제 1위치에서 반사되는 백색광으로부터 청색광을 추출하고 상기 제 2위치에서 반사되는 백색광으로부터 적색광을 각각 추출하는 색 성분 추출 수단과, 상기 색 성분 추출 수단과 전기적으로 연결되며 상기 색 성분 추출 수단으로부터 상기 각각 추출된 청색광과 적색광에 대한 정보를 전송 받아 상기 청색광과 적색광을 서로 합성시키는 색 성분 합성 수단과, 상기 색 성분 합성 수단과 전기적으로 연결되며 상기 합성된 청색광과 적색광을 전기적 신호의 형태로 전송받아 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부를 판별하는 판별 수단과, 상기 판별 수단과 전기적으로 연결되며 상기 판별되는 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부에 대한 결과를 전송 받아 상기 검사 대상물의 양품과 불량의 비율을 저장하는 저장 수단을 구비하되, 상기 판별 수단은 상기 청색광과 적색광을 모두 포함하는 전체 비율을 설정하고, 상기 전체 비율 중 상기 청색광 또는 적색광이 차지 하는 비율의 정도에 따라 상기 검사대상물의 경사 표면에 대한 양부를 결정하고, 상기 판별 수단은 상기 청색광의 비율이 상기 적색광의 비율보다 상대적으로 높은 경우에, 상기 검사대상물을 정상으로 판별할 수 있다.
또한, 상기 색 성분 검사부는 상기 검사 대상물의 상부에 위치되어 상기 제 1위치와 제 2위치로 조사되는 백색광에 의하여 반사되는 상기 검사대상물을 포함한 상기 검사대상물에 대한 화상 정보를 상기 제 1위치와 제 2위치 순서로 순차적으로 취득하는 화상 취득 수단과, 상기 화상 취득 수단과 전기적으로 연결되며, 상기 순차적으로 취득된 화상 정보를 전송 받아 상기 순차적으로 취득된 화상 정보로부터 상기 제 1위치에서 반사되는 백색광으로부터 청색광을 추출하고 상기 제 2위치에서 반사되는 백색광으로부터 적색광을 각각 추출하는 색 성분 추출 수단과, 상기 색 성분 추출 수단과 전기적으로 연결되며 상기 색 성분 추출 수단으로부터 상기 각각 추출된 청색광과 적색광에 대한 정보를 전송 받아 상기 청색광과 적색광을 서로 합성시키는 색 성분 합성 수단과, 상기 색 성분 합성 수단과 전기적으로 연결되며 상기 합성된 청색광과 적색광을 전기적 신호의 형태로 전송받아 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부를 판별하는 판별 수단과, 상기 판별 수단과 전기적으로 연결되며 상기 판별되는 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부에 대한 결과를 전송 받아 상기 검사 대상물의 양품과 불량의 비율을 저장하는 저장 수단을 구비하되, 상기 판별 수단은 기 설정되는 기준 체적정보와 상기 합성된 청색광과 적색광으로부터 상기 청색광과 상기 적색광 각각의 체적정보를 서로 비교하여 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부를 판별할 수도 있다.
여기서, 상기 체적 정보는, 상기 경사 표면에 대한 검사 영역을 설정하고, 상기 검사 영역 내에서 추출되어 서로 합성된 청색광과 적색광 전체에서 상기 청색광과 적색광을 순차적으로 선택하여 상기 청색광의 함유율과 상기 적색광의 함유율을 각각 산출하고, 상기 각각 산출되는 함유율을 상기 청색광 및 적색광 각각에 따르는 기울기값으로 매칭시키고, 상기 기울기값을 적분하여 상기 검사 대상물의 체적을 산출하여 이루어지는 것이 바람직하다.
In the method for inspecting the inclined surface of the inspection object for an electronic component of the present invention for achieving the above object, an inspection object having an inclined surface formed at both ends of the electronic component is seated on a seating portion, and the seating is provided on both sides of the seating portion. The white light is irradiated to a first position of the inclined surface by using a first light source arranged to form a first acute angle with respect to the upper surface of the negative part, and the upper surface of the seating part is positioned above the first light source on both sides of the seating part. Irradiating white light to a second position of the inclined surface to intersect a path of white light irradiated to the first position using a second light source arranged to form a second acute angle with respect to the second acute angle, and using the color component inspection unit Blue light from the white light reflected at the first position of the surface and half at the second position of the inclined surface using the color component inspection unit Simultaneously extracting red light from the white light to be emitted and synthesizing the blue light and the red light which are independently extracted simultaneously at each position using the color component inspection unit together to determine whether the inclined surface of the inspection object.
In the case where the color component inspection unit is used, the inspection object including the inspection object positioned above the inspection object by using image acquisition means and reflected by white light irradiated to the first and second positions. Sequentially acquire the image information about the first position and the second position, and receive the sequentially obtained image information by using color component extraction means electrically connected to the image acquisition means. Extracting the blue light from the white light reflected at the first position from the extracted image information, and extracting the red light from the white light reflected at the second position, respectively, and using the color component synthesizing means electrically connected to the color component extracting means. The blue light and the red light extracted from the color component extraction means, respectively. Receiving the information and synthesize the blue light and red light with each other, using the discriminating means electrically connected to the color component synthesizing means, the synthesized blue light and red light is transmitted in the form of an electrical signal, both ends of the electronic component The blue light and the red light from the light emitting device determine whether the inclined surface of the inspection object is inclined according to an arrangement pattern, and the incidence of the inclined surface of the inspection object that is determined using storage means electrically connected to the determination means. It is desirable to store the ratio between the quality of the object and the defect of the inspection object received.
And the inspection object including the inspection object positioned on the inspection object and reflected by the white light irradiated to the first and second positions using an image acquisition means when using the color component inspection unit. Sequentially acquire the image information about the first position and the second position, and receive the sequentially obtained image information by using color component extraction means electrically connected to the image acquisition means. Extracting the blue light from the white light reflected at the first position from the extracted image information, and extracting the red light from the white light reflected at the second position, respectively, and using the color component synthesizing means electrically connected to the color component extracting means. The blue light and the red light extracted from the color component extraction means, respectively. Receiving the information and synthesize the blue light and red light with each other, and using the discriminating means electrically connected to the color component synthesizing means, receiving the synthesized blue light and red light in the form of an electrical signal to receive both the blue light and the red light By using a storage means electrically connected to the discriminating means by setting a total ratio to include, determining the quality of the inclined surface of the inspection object according to the degree of the ratio of the blue light or the red light of the total ratio. The ratio of the quality of the inspection object and the defect may be stored by receiving the result of the identification on the inclined surface of the inspection object to be determined.
Further, when the color component inspection unit is used, the inspection object including the inspection object positioned above the inspection object by the image acquisition means and reflected by white light irradiated to the first and second positions. Sequentially acquire the image information about the first position and the second position, and receive the sequentially obtained image information by using color component extraction means electrically connected to the image acquisition means. Extracting the blue light from the white light reflected at the first position from the extracted image information, and extracting the red light from the white light reflected at the second position, respectively, and using the color component synthesizing means electrically connected to the color component extracting means. For the blue light and the red light extracted from the color component extraction means, respectively. Receiving the information, combining the blue light and the red light with each other, and using the discriminating means electrically connected to the color component synthesizing means, the reference volume information which is previously set by receiving the synthesized blue light and the red light in the form of an electrical signal; The volume information of each of the blue light and the red light is compared with each other from the synthesized blue light and the red light to determine whether the inclined surface of the object is inspected, and the determination is performed using storage means electrically connected to the discriminating means. The ratio of the quality of the object to be inspected and the defect may be stored by receiving a result about the quality of the inclined surface of the object to be tested.
The volume information may include setting an inspection area for the inclined surface, sequentially selecting the blue light and the red light from all of the blue light and the red light extracted and synthesized in the inspection area to determine the content of the blue light and the red light. It is preferable that the content is calculated by calculating the content, respectively, matching the content with the inclination value corresponding to each of the blue light and the red light, and integrating the inclination value to calculate the volume of the inspection object.
An inclined surface inspection apparatus for an inspection object for an electronic component of the present invention for achieving the above object includes a seating portion on which an inspection object having an inclined surface formed at both ends of the electronic component is seated; First light sources disposed at both sides of the seating part to form a first acute angle with respect to the top surface of the seating part, and irradiating white light to a first position of the inclined surface; A second position of the inclined surface is disposed to form a second acute angle with respect to the upper surface of the seating portion so as to be located above the first light source on both sides of the seating portion, and to cross the path of the white light irradiated to the first position. A second light source for irradiating white light with; A third light source disposed above the seating portion and irradiating white light to an upper surface of the inclined surface to be perpendicular to a bottom surface of the inspection object; And simultaneously extracting red light from blue light reflected from a first position of the inclined surface and white light reflected from a second position of the inclined surface, and synthesizing the blue light and red light independently extracted simultaneously from each position to each other. And a color component inspection unit for determining the quality of the inclined surface of the inspection object.
Here, the color component inspecting unit is configured to display image information about the inspected object including the inspected object positioned on the inspected object and reflected by the white light emitted to the first and second positions. From image acquisition means for acquiring sequentially in two-position order, and white light electrically connected to said image acquiring means, and received from said sequentially acquired image information from said sequentially acquired image information at said first position; Color component extraction means for extracting blue light and extracting red light from the white light reflected at the second position, and information about the blue light and the red light extracted respectively from the color component extraction means and electrically connected to the color component extraction means; Is a color that synthesizes the blue and red light A discriminating means which is electrically connected to the component synthesizing means, the color component synthesizing means, and receives the synthesized blue light and the red light in the form of an electrical signal to discriminate whether the inclined surface of the test object is inclined. And storage means for receiving a result of the quality of the inspection object on the inclined surface of the inspection object and storing the ratio of the quality of the object to be inspected and the defect, wherein the determination means is provided from both ends of the electronic component. The blue light and the red light of the to determine whether or not to the inclined surface of the inspection object according to the array pattern, and the discriminating means is to determine the inspection object to be normal if the array pattern is arranged in order of blue light followed by red light. desirable.
The color component inspecting unit is configured to display image information about the inspected object including the inspected object positioned on the inspected object and reflected by the white light emitted to the first and second positions. From image acquisition means for acquiring sequentially in two-position order, and white light electrically connected to said image acquiring means, and received from said sequentially acquired image information from said sequentially acquired image information at said first position; Color component extraction means for extracting blue light and extracting red light from the white light reflected at the second position, and information about the blue light and the red light extracted respectively from the color component extraction means and electrically connected to the color component extraction means; Is a color that synthesizes the blue and red light A discriminating means which is electrically connected to the component synthesizing means, the color component synthesizing means, and receives the synthesized blue light and the red light in the form of an electrical signal to discriminate the good or bad of the inclined surface of the inspection object; And storage means for receiving a result of the good or bad for the inclined surface of the test object to be determined and storing a ratio of good or bad of the test object, wherein the discriminating means includes both the blue light and the red light. And determining the quality of the inclined surface of the inspection object according to the degree of the ratio of the blue light or the red light of the total ratio, wherein the discriminating means determines that the ratio of the blue light is greater than the ratio of the red light. In a relatively high case, the inspection object may be determined to be normal.
The color component inspector may further include image information about the inspected object including the inspected object positioned on the inspected object and reflected by the white light emitted to the first and second positions. From image acquisition means for acquiring sequentially in two-position order, and white light electrically connected to said image acquiring means, and received from said sequentially acquired image information from said sequentially acquired image information at said first position; Color component extraction means for extracting blue light and extracting red light from the white light reflected at the second position, and information about the blue light and the red light extracted respectively from the color component extraction means and electrically connected to the color component extraction means; Is a color that synthesizes the blue and red light A discriminating means, and discriminating means electrically connected to the color component synthesizing means and receiving the synthesized blue light and red light in the form of an electrical signal to discriminate whether the inclined surface of the test object is inclined. Storage means for receiving a result of the good or bad for the inclined surface of the object to be inspected and storing a ratio of the quality of the object to be inspected and the defect, wherein the discriminating means comprises: predetermined volumetric information; The volume information of each of the blue light and the red light may be compared with each other from the synthesized blue light and the red light to determine whether the surface of the test object is inclined.
The volume information may include setting an inspection area for the inclined surface, sequentially selecting the blue light and the red light from all of the blue light and the red light extracted and synthesized in the inspection area to determine the content of the blue light and the red light. It is preferable that the content is calculated by calculating the content, respectively, matching the content with the inclination value corresponding to each of the blue light and the red light, and integrating the inclination value to calculate the volume of the inspection object.

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본 발명은 인쇄회로기판 상에 실장된 전자부품에 백색광을 조사하여 전자부품의 검사 대상물에서 반사되는 청색과 적색의 두 색 정보를 추출하고, 이 추출되는 색 정보를 합성함으로써 얻어지는 패턴 정보를 기준으로 전자부품의 양부를 판별할 수 있는 효과를 갖는다. The present invention is based on the pattern information obtained by irradiating white light to an electronic component mounted on a printed circuit board to extract two color information of blue and red reflected from the inspection object of the electronic component, and synthesized the extracted color information It has an effect which can discriminate the quality of an electronic component.

또한, 본 발명은 검사 대상물로 조사되는 백색광으로부터 청색과 적색의 두 가지 색상의 색 정보 만을 사용하여 검사 대상물의 양부를 판별함으로써, 납땜이 된 부분에서의 들뜸 검사를 비롯한, 들뜨지 않아도 납땜부에 정상적인 경사 표면이 형성되었는가를 단시간 내에 검사할 수 있는 효과를 갖는다.In addition, the present invention determines the quality of the inspection object by using only two colors of blue and red color information from the white light irradiated to the inspection object, so that it is possible to lift the It is possible to check whether the inclined surface is formed in a short time.

또한, 본 발명은 상기에서 얻어지는 패턴 정보를 색 정보의 배열 패턴과 색 정보의 비율 및 색 정보의 농도를 저장 수단에 저장하여 기준 정보로 활용하고, 이 기준 정보로 동일 전자부품에 대하여 다량으로 검사할 수 있는 효과를 갖는다.In addition, the present invention stores the arrangement information of the color information, the ratio of the color information, and the density of the color information in the storage means to use the pattern information obtained as the reference information, and a large amount of inspection for the same electronic component with the reference information. It has an effect that can be done.

이하, 첨부되는 도면들을 참조로 하여 본 발명의 실시예를 따르는 전자부품용 검사 대상물의 경사 표면 검사장치 및 이를 사용한 전자부품용 검사 대상물의 경사 표면 검사방법을 설명하도록 한다.Hereinafter, an inclined surface inspection apparatus for inspecting an electronic component and an inclined surface inspection method for an electronic component using the same will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1을 참조하면, 본 발명의 전자부품용 검사 대상물의 경사 표면 검사장치는 크게 전자부품(10)의 양측의 전극(11)을 인쇄회로기판(20)에 고정하는 납땜부와 같은 검사 대상물(15)로 백색광들을 서로 다른 위치에서 조사하는 광 조사부(100)와, 상기 검사 대상물(15)에서 반사되는 백색광으로부터 추출되는 한 쌍의 색 정보를 사용하여 전자부품(10)의 검사대상물(15)의 양부를 판별하는 색 성분 검사부(200)와, 상기 검사대상물(15)이 양측에 구비된 전자부품(10)이 안착되는 안착부(300)로 구성된다.Referring to FIG. 1, the apparatus for inspecting the inclined surface of the inspection object for an electronic component of the present invention is largely an inspection object such as a soldering part for fixing the electrodes 11 on both sides of the electronic component 10 to the printed circuit board 20. 15) the inspection object 15 of the electronic component 10 by using the light irradiation unit 100 for irradiating white light at different positions and a pair of color information extracted from the white light reflected from the inspection object 15. It consists of a color component inspection unit 200 for determining the positive and negative, and the seating portion 300 on which the electronic component 10 provided on both sides of the inspection object 15 is seated.

상기 광 조사부(100)의 구성은 다음과 같다.The configuration of the light irradiation unit 100 is as follows.

도 1에 도시된 바와 같이, 상기 광 조사부(100)는 상기 검사 대상물(15)의 저면을 기준으로 제 1각(θ1)을 이루는 방향을 따라 검사 대상물(15)의 경사 표면(15a)에 백색광을 조사하는 제 1광원(110)과, 상기 검사 대상물(15)의 저면을 기 준으로 제 1각(θ1)보다 큰 제 2각(θ2)을 이루는 방향을 따라 백색광을 조사하는 제 2광원(120)과, 상기 검사 대상물(15)의 저면과 직각을 이루는 방향을 따라 상기 경사 표면(15a)에 백색광을 조사하는 제 3광원(130)으로 구성된다.As shown in FIG. 1, the light irradiator 100 may emit white light on the inclined surface 15a of the inspection object 15 along a direction forming a first angle θ1 based on the bottom surface of the inspection object 15. A second light source for irradiating white light along a direction forming a first light source 110 for irradiating the light and a second angle θ2 larger than the first angle θ1 based on the bottom of the inspection object 15 ( 120 and a third light source 130 irradiating white light to the inclined surface 15a along a direction perpendicular to the bottom surface of the inspection object 15.

여기서, 상기 제 1각(θ1)과 상기 제 2각(θ2)은 상기 검사 대상물(15)의 저면과 상기 검사 대상물(15)의 저면에 대한 법선축의 범위 내에 포함된다.Here, the first angle θ1 and the second angle θ2 are included in the range of the normal axis with respect to the bottom surface of the inspection object 15 and the bottom surface of the inspection object 15.

상기 제 3광원(130)은 동축 광원으로써, 이로부터 조사되는 백색광은 미러(131)에 의하여 그 경로가 상기 검사 대상물(15)의 저면과 직각을 이루는 방향을 따르도록 할 수 있다.The third light source 130 is a coaxial light source, and the white light irradiated from the third light source 130 may be along the direction perpendicular to the bottom surface of the inspection object 15 by the mirror 131.

따라서, 상기 서로 다른 조사각을 갖는 제 1광원(110)과 제 2광원(120)으로부터 조사되는 백색광은 검사 대상물(15)의 경사 표면(15a)에 서로 다른 각도에서 조사될 수 있다.Accordingly, the white light emitted from the first light source 110 and the second light source 120 having different irradiation angles may be irradiated to the inclined surface 15a of the inspection object 15 at different angles.

그리고, 상기 제 1광원(110)과 상기 제 2광원(120)은 백색광을 상기 검사 대상물(15)의 경사 표면(15a)에 순차적으로 조사한다.The first light source 110 and the second light source 120 sequentially irradiate the inclined surface 15a of the inspection object 15 with white light.

여기서, 본 발명에 따르는 제 1광원(110)과 제 2광원(120)을 이용하여 검사 대상물(15)로 백색광을 조사하는 이유는 다음과 같다.Here, the reason for irradiating the white light to the inspection object 15 using the first light source 110 and the second light source 120 according to the present invention is as follows.

첫째, 전자 부품(10)에 문자(미도시)가 형성되는 경우에, 이 문자를 인식하고자 할 때, 백색광이 조명되면 전자 부품과 문자의 구분이 용이하다.First, when a character (not shown) is formed in the electronic component 10, when white letters are illuminated when the character is to be recognized, it is easy to distinguish between the electronic component and the character.

그러나, RGB 컬러 조명에서는, 전자 부품(10)과 문자가 붉은 색 계열일 경우, 전자 부품(10)과 문자가 구분이 되지 않기 때문에 문자 인식이 용이하게 될 수 없기 때문이다.However, in the RGB color illumination, when the electronic component 10 and the character are of the red color series, character recognition cannot be facilitated because the electronic component 10 and the character are not distinguished.

둘째, 전자 부품(10)이 인쇄회로기판(20)에 장착되었는지의 유무를 검사 하고자 할 경우에, 인쇄회로기판(20)의 녹색(Green) 성분이, 적색(Red)과 청색(Blue) 조명에서 검정색으로 표시가 되기 때문에, 전자 부품(10)과 인쇄회로기판(20)의 구분을 용이하게 할 수 없기 때문에, 이를 용이하게 구분하기 위하여 백색광을 사용한다.Second, in the case where the electronic component 10 is to be mounted on the printed circuit board 20, the green component of the printed circuit board 20 is red and blue illumination. Since it is displayed in black, since the electronic component 10 and the printed circuit board 20 cannot be easily distinguished, white light is used to easily distinguish the electronic component 10 from the printed circuit board 20.

셋째, 인쇄회로기판(20)에 휨이 발생한 경우에, 백색광을 사용하여 조명을 하였을 경우에 비하여 컬러 조명을 사용한 경우가 상기 인쇄회로기판(20)의 휨에 따른 반응 정도가 더 민감하여, 가성 불량의 발생이 많아진다.Third, in the case where warpage occurs in the printed circuit board 20, color illumination is more sensitive than the case in which the illumination is performed using white light, and thus the degree of reaction due to the warpage of the printed circuit board 20 is more sensitive. The occurrence of defects increases.

따라서, 이러한 가성 불량을 줄이기 위하여 본 발명은 백색광을 사용한다.Therefore, the present invention uses white light to reduce such false falsehoods.

이어, 상기 색 성분 검사부(200)의 구성은 다음과 같다.Next, the configuration of the color component inspection unit 200 is as follows.

상기 색 성분 검사부(200)는 상기 안착부(300)의 상부에 배치되는 화상 취득부(210)와, 상기 화상 취득부(210)와 전기적으로 연결되는 색 성분 추출 수단(220)과, 상기 색 성분 추출 수단(220)과 전기적으로 연결되는 색 성분 합성 수단(230)과, 상기 색 성분 합성 수단(230)과 전기적으로 연결되는 판별 수단(240)과, 상기 색 성분 합성 수단(230)과 전기적으로 연결되는 저장 수단(250)으로 구성된다.The color component inspection unit 200 includes an image acquisition unit 210 disposed above the seating unit 300, a color component extraction unit 220 electrically connected to the image acquisition unit 210, and the color. A color component synthesizing means 230 electrically connected to the component extraction means 220, a discrimination means 240 electrically connected to the color component synthesizing means 230, and a color component synthesizing means 230. It consists of a storage means 250 connected to.

상기 화상 취득부(210)는 상기 순차적으로 조사되는 백색광에 의하여 반사된 상기 검사 대상물(15) 및 이를 포함하는 주변에 대한 화상 정보를 취득한다.The image acquisition unit 210 acquires image information about the inspection object 15 reflected by the sequentially irradiated white light and the surroundings including the same.

상기 화상 취득부(210)에서 취득되는 화상 정보는 제 1광원(110)과 제 2광원(120)으로부터 조사되는 백색광이 경사 표면(15a)에 조사되어 반사되어 취득된 화상이다.The image information acquired by the image acquisition unit 210 is an image obtained by reflecting the white light irradiated from the first light source 110 and the second light source 120 onto the inclined surface 15a.

상기 색 정보 추출 수단(220)은 제 1광원(110)으로부터 조사된 백색광으로 인하여 반사되고 취득된 상기 검사 대상물(15)의 경사 표면(15a)의 화상 정보로부터 청색광(B; Blue)에 대한 색 성분을 추출한다.The color information extracting means 220 reflects the color for the blue light B from the image information of the inclined surface 15a of the inspection object 15 which is reflected and acquired due to the white light emitted from the first light source 110. Extract the ingredients.

이어, 제 2광원(120)으로부터 제 1광원(110)으로부터 조사된 백색광으로 인하여 반사되고 취득된 상기 검사 대상물(15)의 경사 표면(15a)의 화상 정보로부터 적색광(R; Red)에 대한 색 성분을 추출한다.Subsequently, the color for the red light R from the image information of the inclined surface 15a of the inspection object 15 that is reflected and acquired due to the white light irradiated from the first light source 110 from the second light source 120. Extract the ingredients.

상기 색 정보 합성 수단(230)은 상기 동시에 추출된 서로 다른 한 쌍의 색 성분, 즉 청색과 적색의 색정보를 서로 합성시킨다.The color information synthesizing means 230 synthesizes the pair of color components extracted simultaneously, that is, color information of blue and red.

그리고, 상기 판별 수단(240)은 상기 합성된 한 쌍의 색 성분으로부터 패턴 정보를 취득하고, 이 패턴 정보를 기준으로 상기 검사 대상물(15)의 경사 표면(15a)에 대한 양부를 판별한다.Then, the discriminating means 240 acquires pattern information from the synthesized pair of color components, and determines whether the inclined surface 15a of the inspected object 15 is based on the pattern information.

상기 패턴 정보를 설명하도록 한다.The pattern information will be described.

상기 패턴 정보는 상기 검사 대상물(15)의 경사 표면(15a)에서 반사된 상기 서로 다른 한 쌍의 색 정보가 상기 검사 대상물(15)의 일정 기준점으로부터 순차적으로 배치되는 상기 색 정보들의 배열 패턴이다.The pattern information is an arrangement pattern of the color information in which the pair of different color information reflected from the inclined surface 15a of the inspection object 15 is sequentially arranged from a predetermined reference point of the inspection object 15.

따라서, 상기 판별 수단(240)은 상기 색 정보들의 배열 패턴에 따라 상기 검사 대상물(15)의 표면에 대한 양부를 판별할 수 있다.Therefore, the determination unit 240 may determine whether the surface of the inspection object 15 is good or not according to the arrangement pattern of the color information.

다음, 상기 배열 패턴을 사용한 검사 대상물(15)의 경사 표면(15a)에 대한 양부를 판별하는 예를 설명하도록 한다.Next, an example of determining whether the inclined surface 15a of the inspected object 15 is used using the array pattern will be described.

도 4a 와 도 4c에서는 본 발명에 따르는 색 정보들의 배열 패턴에 따라 정상 의 전자부품과 불량의 전자부품을 보여주고 있다. 이들 도면에서의 조명 1은 제 1광원(110)으로부터 조사되는 수평 광일 수 있고, 조명 2는 제 2광원(120)으로부터 조사되는 수직 광일 수 있다.4A and 4C show a normal electronic component and a defective electronic component according to an arrangement pattern of color information according to the present invention. Illumination 1 in these figures may be horizontal light emitted from the first light source 110, and illumination 2 may be vertical light emitted from the second light source 120.

상기 정상의 전자부품(10)은 부품본체(12)의 양측부에 전극(11)이 형성되고, 이 전극(11)의 외측부에는 상기 전극(11)을 인쇄회로기판(20)에 전기적으로 결합시키는 검사 대상물(15)이 형성된다. 상기 검사 대상물(15)은 경사 표면(15a)을 갖는 납땜부이다.In the normal electronic component 10, electrodes 11 are formed at both sides of the component body 12, and the electrodes 11 are electrically coupled to the printed circuit board 20 at the outer side of the electrode 11. The inspection object 15 to be formed is formed. The inspection object 15 is a soldered portion having an inclined surface 15a.

상기 정상의 전자부품(10)의 경우에, 상기 납땜부는 도 4a에 도시된 바와 같이 하방으로 오목한 경사 표면을 갖는다.In the case of the normal electronic component 10, the soldering portion has an inclined surface which is concave downward as shown in Fig. 4A.

이에 따라, 본 발명에 따르는 색 정보 합성 수단(230)에 의하여 청색광에 대한 색 정보와 적색광에 대한 색 정보가 서로 합성되어 이루는 배열 패턴은 상기 전극(11)으로부터 외측을 따라 청색과 적색의 배열 패턴을 갖는다.Accordingly, the arrangement pattern formed by combining the color information for the blue light and the color information for the red light by the color information synthesizing means 230 according to the present invention is an array pattern of blue and red along the outside from the electrode 11. Has

이에 따라, 본 발명에 따르는 판별 수단(240)은 상기 청색-적색의 배열 패턴을 갖는 경우에 정상적인 납땜부로 판단하여, 검사 대상물(15)의 경사 표면(15a)이 정상적으로 형성된 것으로 인식할 수 있다.Accordingly, the discriminating means 240 according to the present invention can determine that the inclined surface 15a of the inspection object 15 is normally formed by judging that it is a normal soldering part when it has the blue-red arrangement pattern.

또한, 상기 판별 수단(240)은 상기와 같은 배열 패턴을 저장 수단(250)으로 전기적 신호의 형태로 전송하여 정상을 판단하는 정보로써 상기 저장 수단(250)에 저장할 수도 있다.In addition, the determination means 240 may transmit the above-described arrangement pattern to the storage means 250 in the form of an electrical signal and store the information in the storage means 250 as information for determining normality.

반면에, 상기 불량의 전자부품(10)은 부품본체(12)의 양측부에 전극(11)이 형성되고, 이 전극(11)의 외측부에는 상기 전극(11)을 인쇄회로기판(20)에 전기적 으로 결합시키는 납땜부(15)가 형성되되, 상기 불량의 전자부품(10)의 경우에, 상기 납땜부(15)는 도 4b에 도시된 바와 같이 상방으로 볼록한 경사 표면(15a)을 갖는다.On the other hand, in the defective electronic component 10, electrodes 11 are formed at both sides of the component body 12, and the electrodes 11 are attached to the printed circuit board 20 at the outer side of the electrode 11. A soldering portion 15 for electrically coupling is formed, in the case of the defective electronic component 10, the soldering portion 15 has an upwardly convex inclined surface 15a as shown in FIG. 4B.

이에 따라, 본 발명에 따르는 색 정보 합성 수단(230)에 의하여 청색광에 대한 색 정보와 적색광에 대한 색 정보가 서로 합성되어 이루는 배열 패턴은 상기 전극(11)으로부터 외측을 따라 적색과 청색의 배열 패턴을 갖는다.Accordingly, the arrangement pattern formed by combining the color information for the blue light and the color information for the red light by the color information synthesizing means 230 according to the present invention is an array pattern of red and blue along the outside from the electrode 11. Has

이에 따라, 본 발명에 따르는 판별 수단(240)은 상기 적색-청색의 배열 패턴을 갖는 경우에 불량의 납땜부로 판단하여, 검사 대상물(15)의 경사 표면(15a)이 정상적으로 형성되지 않은 것으로 인식할 수 있다.Accordingly, the discriminating means 240 according to the present invention judges the defective soldering portion in the case of having the red-blue arrangement pattern, and recognizes that the inclined surface 15a of the inspection object 15 is not normally formed. Can be.

또한, 상기 판별 수단(240)은 상기와 같은 배열 패턴을 저장 수단(250)으로 전기적 신호의 형태로 전송하여 불량을 판단하는 정보로써 상기 저장 수단(250)에 저장할 수도 있다.In addition, the determination means 240 may transmit the above-described arrangement pattern to the storage means 250 in the form of an electrical signal and store it in the storage means 250 as information for determining a failure.

한편, 본 발명에 따르는 판별 수단(240)은 상기 서로 다른 한 쌍의 색 정보들 전체에 대하여 상기 한 쌍의 색 정보들 중 어느 하나의 비율을 산출하여 상기 검사 대상물(15)의 경사 표면(15a)에 대한 양부를 판별할 수도 있다.Meanwhile, the discriminating means 240 according to the present invention calculates a ratio of any one of the pair of color information with respect to the entire pair of different color information, thereby inclining the surface 15a of the inspection object 15. ) Can be determined.

도 4c에서는 불량의 전자부품에 대한 본 발명에 따르는 색 정보들의 비율을 보여주고 있다. 도 4c에서의 조명 1은 제 1광원(110)으로부터 조사되는 수평 광일 수 있고, 조명 2는 제 2광원(120)으로부터 조사되는 수직 광일 수 있다.4C shows the ratio of color information according to the invention to a defective electronic component. Illumination 1 in FIG. 4C may be horizontal light emitted from the first light source 110, and illumination 2 may be vertical light emitted from the second light source 120.

상기 판별 수단(240)은 상기 색 정보 합성 수단(230)으로부터 합성된 한 쌍의 색 정보를 전송 받는다.The determination means 240 receives a pair of color information synthesized from the color information synthesizing means 230.

상기 판별 수단(240)은 상기 청색과 적색에 대한 색 정보의 비율을 산출할 수 있다.The determination unit 240 may calculate a ratio of color information to the blue and the red.

즉, 도 4c에 도시된 바와 같이 상기 판별 수단(240)은 청색과 적색의 전체에 대한 색 정보를 100%라 가정하는 경우에 청색의 색 정보에 비하여 적색의 색 정보의 비율이 70% 정도로 더 큰 비율을 이루는 것을 볼 수 있다.That is, as shown in FIG. 4C, when the determination means 240 assumes 100% of the color information of all the blue and red colors, the ratio of the red color information is 70% more than the blue color information. You can see a large proportion.

따라서, 상기 판별 수단(240)은 검사대상물(15)의 경사 표면(15a)이 불량인 것으로 판단한다.Thus, the discriminating means 240 determines that the inclined surface 15a of the inspection object 15 is defective.

또한, 상기 판별 수단(240)은 상기와 같은 비율을 저장 수단(250)으로 전기적 신호의 형태로 전송하여 불량을 판단하는 정보로써 상기 저장 수단(250)에 저장할 수도 있다.In addition, the determination means 240 may transmit the above ratio in the form of an electrical signal to the storage means 250 and store the information in the storage means 250 as information for determining a failure.

이에 더하여, 상기 판별 수단(240)은 상기와 같은 비율을 저장 수단(250)으로 전기적 신호의 형태로 전송하여 불량을 판단하는 정보로써 상기 저장 수단(250)에 저장할 수도 있다.In addition, the determination means 240 may transmit the above ratio in the form of an electrical signal to the storage means 250 and store the information in the storage means 250 as information for determining a failure.

한편, 도 7 내지 도 10c를 참조하면, 본 발명에 따르는 판별 수단(240)은 기 설정되는 기준 체적 정보와 상기 추출된 서로 다른 색 성분들, 즉 청색과 적색의 성분들로부터 산출되는 체적 정보를 서로 비교하여 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부를 판별할 수도 있다.Meanwhile, referring to FIGS. 7 to 10C, the discriminating means 240 according to the present invention may store preset volume information and volume information calculated from the extracted different color components, that is, blue and red components. By comparing with each other, it is possible to determine whether the inclined surface of the inspection object.

상기 체적 정보를 이루는 방법을 설명하도록 한다.It will be described how to achieve the volume information.

먼저, 도 7에 도시된 바와 같이, 상기 경사 표면(15a)에 대한 검사 영역(A)을 설정한다.First, as shown in FIG. 7, the inspection area A for the inclined surface 15a is set.

이어, 상기 검사 영역(A) 내에서 추출되어 서로 합성된 색 성분들의 전체에서 상기 색성분들을 순차적으로 선택하여 상기 선택되는 색 성분의 함유율을 산출한다.Subsequently, the content of the selected color component is calculated by sequentially selecting the color components from all of the color components extracted in the inspection area A and synthesized with each other.

그리고, 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 산출되는 색 성분들의 함유율을 상기 색 성분들 각에 따르는 기울기값으로 매칭시키고, 즉 'B/(B+R)'을 계산한다. 여기서 B는 Blue, R은 Red'이다. As shown in FIG. 8, the calculated content ratio of the color components is matched with an inclination value corresponding to each of the color components, that is, 'B / (B + R)' is calculated. Where B is Blue and R is Red '.

이어, 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 기울기값을 적분하여 상기 검사 대상물의 체적을 산출한다.Next, as shown in FIG. 9, the inclination value is integrated to calculate a volume of the test object.

도 8에 도시된 바와 같이, B/(B+R) 값이 Z축을 따라 상승된 위치에 설정되는 값은 기울기가 급하다는 의미이며, Z축을 따라 0에 가깝도록 하강된 위치에 설정되는 값은 기울기가 완만하다는 의미의 결과 그래프이다.As shown in FIG. 8, a value set at a position where the value of B / (B + R) is raised along the Z axis means that the slope is steep, and a value set at a position which is lowered to near 0 along the Z axis is It is a graph of the result, which means that the slope is gentle.

이에 따라, 도 8에 도시된 B/(B+R) 값을 적분하면, 전자부품(10)의 경사 표면(15a)을 포함한 검사영역의 실제 체적을 가시적으로 확인할 수 있다.Accordingly, by integrating the B / (B + R) values shown in FIG. 8, the actual volume of the inspection region including the inclined surface 15a of the electronic component 10 can be visually confirmed.

도 9에 도시된 경우에는 X축을 기준으로 좌에서 우를 따라 경사 표면(15a)의 기울기가 급하고 점차적으로 기울기가 완만해지는 체적 정보가 표시된다.In the case shown in Fig. 9, volume information is displayed in which the inclination of the inclined surface 15a is steep and gradually gradually gradually along the left to right with respect to the X axis.

여기서, 상기 기울기가 급한 영역은 청색광의 색정보가 분포되고, 기울기가 완만한 영역은 적색광의 색정보가 분포된다.Here, the color information of the blue light is distributed in the steep region, and the color information of the red light is distributed in the gentle slope region.

또한, 본 발명에 따르는 판별 수단(240)에는 기준 체적 정보가 기설정되고, 상기 산출된 체적 정보를 상기 기준 체적 정보와 비교하여 기준 체적 정보의 범위를 벗어나는 경우에 납땝부(15)를 불량으로 판별할 수 있다.In addition, the discriminating means 240 according to the present invention is preset reference volume information, and the lead portion 15 is defective when the calculated volume information is out of the range of the reference volume information by comparing with the reference volume information. Can be determined.

이에 반하여, 상기 산출된 체적 정보가 기준 체적 정보의 범위에 포함되는 경우에 납땜부(15)를 양품이라고 판별할 수 있다.On the contrary, when the calculated volume information is included in the range of the reference volume information, the soldering unit 15 can be determined as good quality.

여기서, 상기 기준 체적 정보는 산출된 체적 정보로 부터의 체적값일 수도 있고, 도 8에 도시된 B/(B+R) 값일 수도 있다.Here, the reference volume information may be a volume value from the calculated volume information or may be a B / (B + R) value shown in FIG. 8.

또한, 본 발명의 저장 수단(240)에는 상기 판별된 결과가 저장될 수 있다.In addition, the determined result may be stored in the storage unit 240 of the present invention.

이에 따라, 상기 판별 수단(240)으로 인하여 판별되는 전자 부품(10)의 납땜부(15)에 대한 양부 판별 결과가 저장 수단(250)에 저장되기 때문에, 일련의 공정에서 발생되는 양품과 불량의 비율을 저장하여 추후의 공정에서 제품의 불량룰을 확인 할 수 있다.Accordingly, since the result of the determination of the quality of the soldering unit 15 of the electronic component 10 determined by the determination unit 240 is stored in the storage unit 250, By storing the ratio, you can check the defect rule of the product in a later process.

도 1은 본 발명의 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사장치를 보여주는 도면이다.1 is a view showing an inclined surface inspection apparatus for the inspection object of the electronic component of the present invention.

도 2는 본 발명의 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사장치의 동작을 보여주는 블록도이다.2 is a block diagram showing the operation of the inclined surface inspection apparatus for the inspection object of the electronic component of the present invention.

도 3a는 본 발명에 따르는 색 정보 추출 수단에 의하여 청색(靑色) 성분의 색 정보가 추출된 전자부품이 배치된 기판을 보여주는 도면이다.3A is a view showing a substrate on which an electronic component in which color information of a blue component is extracted by color information extraction means according to the present invention is disposed.

도 3b는 본 발명에 따르는 색 정보 추출 수단에 의하여 적색(赤色) 성분의 색 정보가 추출된 전자부품이 배치된 기판을 보여주는 도면이다.3B is a view showing a substrate on which an electronic component in which color information of a red component is extracted by color information extraction means according to the present invention is disposed.

도 3c는 도 3a와 도 3b에 도시된 청색 성분과 적색 성분이 합성된 전자부품이 배치된 기판을 보여주는 도면이다.FIG. 3C is a view illustrating a substrate on which electronic components in which the blue component and the red component illustrated in FIGS. 3A and 3B are combined are arranged.

도 4a는 정상의 전자부품에 대한 본 발명에 따르는 색 정보들의 배열 패턴을 보여주는 도면이다.4A shows an arrangement pattern of color information according to the present invention for a normal electronic component.

도 4b는 불량의 전자부품에 대한 본 발명에 따르는 색 정보들의 배열 패턴을 보여주는 도면이다.4B shows an arrangement pattern of color information according to the present invention for a defective electronic component.

도 4c는 불량의 전자부품에 대한 본 발명에 따르는 색 정보들의 비율을 보여주는 도면이다.4C shows the ratio of color information according to the invention to a defective electronic component.

도 5는 본 발명의 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사 방법을 보여주는 흐름도이다.5 is a flowchart illustrating a method of inspecting an inclined surface for an inspection object of an electronic component of the present invention.

도 6은 본 발명의 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사 방법을 상세하 게 보여주는 흐름도이다.6 is a flowchart showing in detail a method for inspecting the inclined surface for the inspection object of the electronic component of the present invention.

도 7은 본 발명에 따르는 판별 수단에 의하여 검사 영역이 선택되는 것을 보여주는 도면이다.7 is a view showing that the inspection area is selected by the discriminating means according to the present invention.

도 8은 본 발명에 따르는 판별 수단에 의하여 B/(B+R)값이 측정된 것을 보여주는 그래프이다.8 is a graph showing that the B / (B + R) value is measured by the discriminating means according to the present invention.

도 9는 본 발명에 따르는 판별 수단에 의하여 산출된 체적 정보를 보여주는 그래프이다.9 is a graph showing volume information calculated by the discriminating means according to the present invention.

도 10a는 본 발명에 따르는 판별 수단에 의하여 R 영역에서 B/(B+R)값이 측정된 것을 보여주는 그래프이다.10A is a graph showing that a B / (B + R) value is measured in an R region by a discriminating means according to the present invention.

도 10b는 본 발명에 따르는 판별 수단에 의하여 B 영역에서 B/(B+R)값이 측정된 것을 보여주는 그래프이다.10B is a graph showing that the B / (B + R) value is measured in the area B by the discriminating means according to the present invention.

** 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 **** Description of symbols for the main parts of the drawing **

100 : 광 조사부 110 : 제 1광원100: light irradiation unit 110: first light source

120 : 제 2광원 130 : 제 3광원120: second light source 130: third light source

200 : 색 성분 검사부 210 : 화상 취득 수단200: color component inspection unit 210: image acquisition means

220 : 색 성분 추출 수단 230 : 색 성분 합성 수단220: color component extraction means 230: color component synthesis means

240 : 판별 수단 250 : 저장 수단240: discrimination means 250: storage means

300 : 안착부300: seating part

Claims (16)

전자부품의 양측단에 형성되는 경사 표면을 갖는 검사대상물이 안착부에 안착되고,An inspection object having an inclined surface formed at both ends of the electronic component is seated on the seating portion, 상기 안착부의 양측방에서 상기 안착부의 상면을 기준으로 제 1예각을 이루도록 배치되는 제 1광원을 사용하여 상기 경사 표면의 제 1위치로 백색광을 조사하고,White light is irradiated to a first position of the inclined surface by using a first light source arranged to form a first acute angle with respect to the upper surface of the seating portion on both sides of the seating portion, 상기 안착부의 양측방에서 상기 제 1광원의 상부에 위치되도록 상기 안착부의 상면을 기준으로 제 2예각을 이루도록 배치되는 제 2광원을 사용하여 상기 제 1위치로 조사되는 백색광의 경로와 교차되도록 상기 경사 표면의 제 2위치로 백색광을 조사하고,The inclination to intersect the path of the white light irradiated to the first position using a second light source disposed to form a second acute angle with respect to the upper surface of the seating portion so as to be positioned above the first light source on both sides of the seating portion; Irradiates white light to the second position on the surface, 색 성분 검사부를 사용하여 상기 경사 표면의 제 1위치에서 반사되는 백색광으로부터 청색광 및 상기 색 성분 검사부를 사용하여 상기 경사 표면의 제 2위치에서 반사되는 백색광으로부터 적색광을 동시에 추출하고,Simultaneously extract blue light from the white light reflected at the first position of the inclined surface using a color component inspector and red light from the white light reflected at the second position of the inclined surface using the color component inspector, 상기 색 성분 검사부를 사용하여 각 위치에서 동시에 독립적으로 추출되는 상기 청색광과 적색광을 서로 합성하여 상기 검사대상물의 경사 표면에 대한 양부를 결정하는 것을 특징으로 하는 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사방법.The method for inspecting the inclined surface of the electronic component according to claim 1, wherein the blue component and the red light extracted independently from each other at the same time are synthesized using the color component inspection unit to determine the quality of the inclined surface of the inspected object. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 색 성분 검사부를 사용하는 경우에,In the case of using the color component inspection unit, 화상 취득 수단을 사용하여 상기 검사 대상물의 상부에 위치되어 상기 제 1위치와 제 2위치로 조사되는 백색광에 의하여 반사되는 상기 검사대상물을 포함한 상기 검사대상물에 대한 화상 정보를 상기 제 1위치와 제 2위치 순서로 순차적으로 취득하고,The first position and the second position are used to obtain image information on the inspection object, including the inspection object located on the inspection object and reflected by the white light irradiated to the first position and the second position using image acquisition means. Acquire them in order of position, 상기 화상 취득 수단과 전기적으로 연결되는 색 성분 추출 수단을 사용하여 상기 순차적으로 취득된 화상 정보를 전송 받아 상기 순차적으로 취득된 화상 정보로부터 상기 제 1위치에서 반사되는 백색광으로부터 청색광을 추출하고 상기 제 2위치에서 반사되는 백색광으로부터 적색광을 각각 추출하고,The blue light is extracted from the white light reflected at the first position from the sequentially acquired image information by receiving the sequentially acquired image information using color component extraction means electrically connected to the image acquisition means, and the second Extract the red light from the white light reflected at the position, 상기 색 성분 추출 수단과 전기적으로 연결되는 색 성분 합성 수단을 사용하여 상기 색 성분 추출 수단으로부터 상기 각각 추출된 청색광과 적색광에 대한 정보를 전송 받아 상기 청색광과 적색광을 서로 합성시키고,Receiving information about the blue light and the red light extracted from the color component extraction means using the color component synthesizing means electrically connected to the color component extracting means to synthesize the blue light and the red light, and 상기 색 성분 합성 수단과 전기적으로 연결되는 판별 수단을 사용하여, 상기 합성된 청색광과 적색광을 전기적 신호의 형태로 전송 받아 상기 전자 부품의 양측단으로부터의 상기 청색광과 적색광이 배열 패턴에 따라 상기 검사대상물의 경사 표면에 대한 양부를 결정하고,The blue light and red light from both ends of the electronic component are received according to an arrangement pattern by receiving the synthesized blue light and red light in the form of an electrical signal by using a discrimination means electrically connected to the color component synthesizing means. Determine the adequacy for the inclined surface of 상기 판별 수단과 전기적으로 연결되는 저장 수단을 사용하여 상기 판별되는 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부에 대한 결과를 전송 받아 상기 검사 대상물의 양품과 불량의 비율을 저장하는 것을 특징으로 하는 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사방법. And storing the ratio of the quality of the object to be inspected and the defect of the object to be received by receiving a result of the quality of the inclined surface of the object to be inspected using a storage means electrically connected to the discriminating means. Method for inspecting the inclined surface for the inspection object. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 색 성분 검사부를 사용하는 경우에,In the case of using the color component inspection unit, 화상 취득 수단을 사용하여 상기 검사 대상물의 상부에 위치되어 상기 제 1위치와 제 2위치로 조사되는 백색광에 의하여 반사되는 상기 검사대상물을 포함한 상기 검사대상물에 대한 화상 정보를 상기 제 1위치와 제 2위치 순서로 순차적으로 취득하고,The first position and the second position are used to obtain image information on the inspection object, including the inspection object located on the inspection object and reflected by the white light irradiated to the first position and the second position using image acquisition means. Acquire them in order of position, 상기 화상 취득 수단과 전기적으로 연결되는 색 성분 추출 수단을 사용하여 상기 순차적으로 취득된 화상 정보를 전송 받아 상기 순차적으로 취득된 화상 정보로부터 상기 제 1위치에서 반사되는 백색광으로부터 청색광을 추출하고 상기 제 2위치에서 반사되는 백색광으로부터 적색광을 각각 추출하고,The blue light is extracted from the white light reflected at the first position from the sequentially acquired image information by receiving the sequentially acquired image information using color component extraction means electrically connected to the image acquisition means, and the second Extract the red light from the white light reflected at the position, 상기 색 성분 추출 수단과 전기적으로 연결되는 색 성분 합성 수단을 사용하여 상기 색 성분 추출 수단으로부터 상기 각각 추출된 청색광과 적색광에 대한 정보를 전송 받아 상기 청색광과 적색광을 서로 합성시키고,Receiving information about the blue light and the red light extracted from the color component extraction means using the color component synthesizing means electrically connected to the color component extracting means to synthesize the blue light and the red light, and 상기 색 성분 합성 수단과 전기적으로 연결되는 판별 수단을 사용하여, 상기 합성된 청색광과 적색광을 전기적 신호의 형태로 전송 받아 상기 청색광과 적색광을 모두 포함하는 전체 비율을 설정하고, 상기 전체 비율 중 상기 청색광 또는 적색광이 차지 하는 비율의 정도에 따라 상기 검사대상물의 경사 표면에 대한 양부를 결정하고,Receiving the synthesized blue light and red light in the form of an electrical signal by using the discriminating means electrically connected to the color component synthesizing means, sets an overall ratio including both the blue light and the red light, and among the total ratios, the blue light. Or according to the degree of the proportion of the red light occupies the quality of the inclined surface of the inspection object, 상기 판별 수단과 전기적으로 연결되는 저장 수단을 사용하여 상기 판별되는 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부에 대한 결과를 전송 받아 상기 검사 대상물의 양품과 불량의 비율을 저장하는 것을 특징으로 하는 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사방법. And storing the ratio of the quality of the object to be inspected and the defect of the object to be received by receiving a result of the quality of the inclined surface of the object to be inspected using a storage means electrically connected to the discriminating means. Method for inspecting the inclined surface for the inspection object. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 색 성분 검사부를 사용하는 경우에,In the case of using the color component inspection unit, 화상 취득 수단을 사용하여 상기 검사 대상물의 상부에 위치되어 상기 제 1위치와 제 2위치로 조사되는 백색광에 의하여 반사되는 상기 검사대상물을 포함한 상기 검사대상물에 대한 화상 정보를 상기 제 1위치와 제 2위치 순서로 순차적으로 취득하고,The first position and the second position are used to obtain image information on the inspection object, including the inspection object located on the inspection object and reflected by the white light irradiated to the first position and the second position using image acquisition means. Acquire them in order of position, 상기 화상 취득 수단과 전기적으로 연결되는 색 성분 추출 수단을 사용하여 상기 순차적으로 취득된 화상 정보를 전송 받아 상기 순차적으로 취득된 화상 정보로부터 상기 제 1위치에서 반사되는 백색광으로부터 청색광을 추출하고 상기 제 2위치에서 반사되는 백색광으로부터 적색광을 각각 추출하고,The blue light is extracted from the white light reflected at the first position from the sequentially acquired image information by receiving the sequentially acquired image information using color component extraction means electrically connected to the image acquisition means, and the second Extract the red light from the white light reflected at the position, 상기 색 성분 추출 수단과 전기적으로 연결되는 색 성분 합성 수단을 사용하여 상기 색 성분 추출 수단으로부터 상기 각각 추출된 청색광과 적색광에 대한 정보를 전송 받아 상기 청색광과 적색광을 서로 합성시키고,Receiving information about the blue light and the red light extracted from the color component extraction means using the color component synthesizing means electrically connected to the color component extracting means to synthesize the blue light and the red light, and 상기 색 성분 합성 수단과 전기적으로 연결되는 판별 수단을 사용하여, 상기 합성된 청색광과 적색광을 전기적 신호의 형태로 전송 받아 기 설정되는 기준 체적정보와 상기 합성된 청색광과 적색광으로부터 상기 청색광과 상기 적색광 각각의 체적정보를 서로 비교하여 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부를 판별하고,By using the discriminating means electrically connected to the color component synthesizing means, the synthesized blue light and red light are transmitted in the form of an electrical signal, and the predetermined volume information and the blue light and the red light from the synthesized blue light and red light, respectively. By comparing the volume information of each other with respect to the inclined surface of the inspection object, 상기 판별 수단과 전기적으로 연결되는 저장 수단을 사용하여 상기 판별되는 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부에 대한 결과를 전송 받아 상기 검사 대상물의 양품과 불량의 비율을 저장하는 것을 특징으로 하는 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사방법. And storing the ratio of the quality of the object to be inspected and the defect of the object to be received by receiving a result of the quality of the inclined surface of the object to be inspected using a storage means electrically connected to the discriminating means. Method for inspecting the inclined surface for the inspection object. 제 4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 체적 정보는,The volume information, 상기 경사 표면에 대한 검사 영역을 설정하고,Set an inspection area for the inclined surface, 상기 검사 영역 내에서 추출되어 서로 합성된 청색광과 적색광 전체에서 상기 청색광과 적색광을 순차적으로 선택하여 상기 청색광의 함유율과 상기 적색광의 함유율을 각각 산출하고,The content of the blue light and the content of the red light are respectively calculated by sequentially selecting the blue light and the red light from all of the blue light and the red light extracted and synthesized in the inspection area. 상기 각각 산출되는 함유율을 상기 청색광 및 적색광 각각에 따르는 기울기값으로 매칭시키고,Matching said respectively calculated content rate with the inclination value corresponding to each of the said blue light and a red light, 상기 기울기값을 적분하여 상기 검사 대상물의 체적을 산출하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사방법.An inclination surface inspection method for an inspection object for an electronic component, characterized by calculating the volume of the inspection object by integrating the inclination value. 전자부품의 양측단에 형성되는 경사 표면을 갖는 검사대상물이 안착되는 안착부;A seating part on which an inspection object having an inclined surface formed at both ends of the electronic component is seated; 상기 안착부의 양측방에서 상기 안착부의 상면을 기준으로 제 1예각을 이루도록 배치되며, 상기 경사 표면의 제 1위치로 백색광을 조사하는 제 1광원;First light sources disposed at both sides of the seating part to form a first acute angle with respect to the top surface of the seating part, and irradiating white light to a first position of the inclined surface; 상기 안착부의 양측방에서 상기 제 1광원의 상부에 위치되도록 상기 안착부의 상면을 기준으로 제 2예각을 이루도록 배치되며, 상기 제 1위치로 조사되는 백색광의 경로와 교차되도록 상기 경사 표면의 제 2위치로 백색광을 조사하는 제 2광원;A second position of the inclined surface is disposed to form a second acute angle with respect to the upper surface of the seating portion so as to be located above the first light source on both sides of the seating portion, and to cross the path of the white light irradiated to the first position. A second light source for irradiating white light with; 상기 안착부 상부에 배치되며, 상기 검사대상물의 저면을 기준으로 수직이 되도록 상기 경사표면의 상면에 백색광을 조사하는 제 3광원; 및A third light source disposed above the seating portion and irradiating white light to an upper surface of the inclined surface to be perpendicular to a bottom surface of the inspection object; And 상기 경사 표면의 제 1위치에서 반사되는 백색광으로부터 청색광 및 상기 경사 표면의 제 2위치에서 반사되는 백색광으로부터 적색광을 동시에 추출하고, 각 위치에서 동시에 독립적으로 추출되는 상기 청색광과 적색광을 서로 합성하여 상기 검사대상물의 경사 표면에 대한 양부를 결정하는 색 성분 검사부를 포함하는 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사장치.The red light is simultaneously extracted from the white light reflected at the first position of the inclined surface and the white light reflected at the second position of the inclined surface, and the blue light and the red light which are independently extracted simultaneously at each position are synthesized with each other. An inclined surface inspection apparatus for an inspection object for an electronic component, including a color component inspection unit that determines whether or not the inclined surface of the object is inclined. 제 6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 색 성분 검사부는 상기 검사 대상물의 상부에 위치되어 상기 제 1위치와 제 2위치로 조사되는 백색광에 의하여 반사되는 상기 검사대상물을 포함한 상기 검사대상물에 대한 화상 정보를 상기 제 1위치와 제 2위치 순서로 순차적으로 취득하는 화상 취득 수단과, 상기 화상 취득 수단과 전기적으로 연결되며, 상기 순차적으로 취득된 화상 정보를 전송 받아 상기 순차적으로 취득된 화상 정보로부터 상기 제 1위치에서 반사되는 백색광으로부터 청색광을 추출하고 상기 제 2위치에서 반사되는 백색광으로부터 적색광을 각각 추출하는 색 성분 추출 수단과, 상기 색 성분 추출 수단과 전기적으로 연결되며 상기 색 성분 추출 수단으로부터 상기 각각 추출된 청색광과 적색광에 대한 정보를 전송 받아 상기 청색광과 적색광을 서로 합성시키는 색 성분 합성 수단과, 상기 색 성분 합성 수단과 전기적으로 연결되며 상기 합성된 청색광과 적색광을 전기적 신호의 형태로 전송 받아 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부를 판별하는 판별 수단과, 상기 판별 수단과 전기적으로 연결되며 상기 판별되는 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부에 대한 결과를 전송 받아 상기 검사 대상물의 양품과 불량의 비율을 저장하는 저장 수단을 구비하되,The color component inspecting unit is configured to display image information about the inspected object including the inspected object positioned on an upper portion of the inspected object and reflected by the white light emitted to the first and second positions. Image acquiring means for sequentially acquiring sequentially, and blue light from white light electrically connected to the image acquiring means, and received from the sequentially acquired image information and reflected from the sequentially acquired image information at the first position. Color component extraction means for extracting red light from the white light reflected at the second position, and electrically connected to the color component extracting means, and transmitting information about the blue light and the red light extracted from the color component extracting means, respectively; The sum of color components that synthesize the blue light and the red light Means, and electrically connected with the color component synthesizing means, the discriminating means for receiving the synthesized blue light and the red light in the form of an electrical signal to determine whether the inclined surface of the object to be inspected is electrically connected to the discriminating means. And storage means for receiving a result of the quality of the inclined surface of the inspection object to be determined and storing a ratio of the quality of the inspection object and the defect, 상기 판별 수단은 상기 전자 부품의 양측단으로부터의 상기 청색광과 적색광이 배열 패턴에 따라 상기 검사대상물의 경사 표면에 대한 양부를 결정하고,The discriminating means determines whether the blue light and the red light from both ends of the electronic component are inclined to the inclined surface of the inspection object in accordance with an arrangement pattern, 상기 판별 수단은 상기 배열 패턴이 청색광에 이어 적색광의 순의 배열을 이루면 상기 검사대상물을 정상으로 판별하는 것을 특징으로 하는 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사장치.And said discriminating means discriminates the inspection object to be normal when the array pattern forms a sequence of red light followed by blue light. 제 6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 색 성분 검사부는 상기 검사 대상물의 상부에 위치되어 상기 제 1위치와 제 2위치로 조사되는 백색광에 의하여 반사되는 상기 검사대상물을 포함한 상기 검사대상물에 대한 화상 정보를 상기 제 1위치와 제 2위치 순서로 순차적으로 취득하는 화상 취득 수단과, 상기 화상 취득 수단과 전기적으로 연결되며, 상기 순차적으로 취득된 화상 정보를 전송 받아 상기 순차적으로 취득된 화상 정보로부터 상기 제 1위치에서 반사되는 백색광으로부터 청색광을 추출하고 상기 제 2위치에서 반사되는 백색광으로부터 적색광을 각각 추출하는 색 성분 추출 수단과, 상기 색 성분 추출 수단과 전기적으로 연결되며 상기 색 성분 추출 수단으로부터 상기 각각 추출된 청색광과 적색광에 대한 정보를 전송 받아 상기 청색광과 적색광을 서로 합성시키는 색 성분 합성 수단과, 상기 색 성분 합성 수단과 전기적으로 연결되며 상기 합성된 청색광과 적색광을 전기적 신호의 형태로 전송받아 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부를 판별하는 판별 수단과, 상기 판별 수단과 전기적으로 연결되며 상기 판별되는 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부에 대한 결과를 전송 받아 상기 검사 대상물의 양품과 불량의 비율을 저장하는 저장 수단을 구비하되,The color component inspecting unit is configured to display image information about the inspected object including the inspected object positioned on an upper portion of the inspected object and reflected by the white light emitted to the first and second positions. Image acquiring means for sequentially acquiring sequentially, and blue light from white light electrically connected to the image acquiring means, and received from the sequentially acquired image information and reflected from the sequentially acquired image information at the first position. Color component extraction means for extracting red light from the white light reflected at the second position, and electrically connected to the color component extracting means, and transmitting information about the blue light and the red light extracted from the color component extracting means, respectively; The sum of color components that synthesize the blue light and the red light Means, and electrically connected with the color component synthesizing means, the discriminating means for receiving the synthesized blue light and red light in the form of an electrical signal to determine whether the inclined surface of the object to be inspected is electrically connected to the discriminating means. And storage means for receiving a result of the quality of the inclined surface of the inspection object to be determined and storing a ratio of the quality of the inspection object and the defect, 상기 판별 수단은 상기 청색광과 적색광을 모두 포함하는 전체 비율을 설정하고, 상기 전체 비율 중 상기 청색광 또는 적색광이 차지 하는 비율의 정도에 따라 상기 검사대상물의 경사 표면에 대한 양부를 결정하고,The discriminating means sets the total ratio including both the blue light and the red light, and determines whether the inclined surface of the inspection object is inclined according to the degree of the ratio of the blue light or the red light of the total ratio, 상기 판별 수단은 상기 청색광의 비율이 상기 적색광의 비율보다 상대적으로 높은 경우에, 상기 검사대상물을 정상으로 판별하는 것을 특징으로 하는 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사장치.And said discriminating means discriminates the inspection object to be normal when the ratio of the blue light is relatively higher than the ratio of the red light. 제 6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 색 성분 검사부는 상기 검사 대상물의 상부에 위치되어 상기 제 1위치와 제 2위치로 조사되는 백색광에 의하여 반사되는 상기 검사대상물을 포함한 상기 검사대상물에 대한 화상 정보를 상기 제 1위치와 제 2위치 순서로 순차적으로 취득하는 화상 취득 수단과, 상기 화상 취득 수단과 전기적으로 연결되며, 상기 순차적으로 취득된 화상 정보를 전송 받아 상기 순차적으로 취득된 화상 정보로부터 상기 제 1위치에서 반사되는 백색광으로부터 청색광을 추출하고 상기 제 2위치에서 반사되는 백색광으로부터 적색광을 각각 추출하는 색 성분 추출 수단과, 상기 색 성분 추출 수단과 전기적으로 연결되며 상기 색 성분 추출 수단으로부터 상기 각각 추출된 청색광과 적색광에 대한 정보를 전송 받아 상기 청색광과 적색광을 서로 합성시키는 색 성분 합성 수단과, 상기 색 성분 합성 수단과 전기적으로 연결되며 상기 합성된 청색광과 적색광을 전기적 신호의 형태로 전송받아 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부를 판별하는 판별 수단과, 상기 판별 수단과 전기적으로 연결되며 상기 판별되는 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부에 대한 결과를 전송 받아 상기 검사 대상물의 양품과 불량의 비율을 저장하는 저장 수단을 구비하되,The color component inspecting unit is configured to display image information about the inspected object including the inspected object positioned on an upper portion of the inspected object and reflected by the white light emitted to the first and second positions. Image acquiring means for sequentially acquiring sequentially, and blue light from white light electrically connected to the image acquiring means, and received from the sequentially acquired image information and reflected from the sequentially acquired image information at the first position. Color component extraction means for extracting red light from the white light reflected at the second position, and electrically connected to the color component extracting means, and transmitting information about the blue light and the red light extracted from the color component extracting means, respectively; The sum of color components that synthesize the blue light and the red light Means, and electrically connected with the color component synthesizing means, the discriminating means for receiving the synthesized blue light and red light in the form of an electrical signal to determine whether the inclined surface of the object to be inspected is electrically connected to the discriminating means. And storage means for receiving a result of the quality of the inclined surface of the inspection object to be determined and storing a ratio of the quality of the inspection object and the defect, 상기 판별 수단은 기 설정되는 기준 체적정보와 상기 합성된 청색광과 적색광으로부터 상기 청색광과 상기 적색광 각각의 체적정보를 서로 비교하여 상기 검사 대상물의 경사 표면에 대한 양부를 판별하는 것을 특징으로 하는 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사장치.The discriminating means compares the volume information of each of the blue light and the red light with each other from the predetermined reference volume information and the synthesized blue light and red light to determine whether the inclined surface of the inspection object is inclined. Inclined surface inspection device for inspection objects. 제 9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 체적 정보는,The volume information, 상기 경사 표면에 대한 검사 영역을 설정하고,Set an inspection area for the inclined surface, 상기 검사 영역 내에서 추출되어 서로 합성된 청색광과 적색광 전체에서 상기 청색광과 적색광을 순차적으로 선택하여 상기 청색광의 함유율과 상기 적색광의 함유율을 각각 산출하고,The content of the blue light and the content of the red light are respectively calculated by sequentially selecting the blue light and the red light from all of the blue light and the red light extracted and synthesized in the inspection area. 상기 각각 산출되는 함유율을 상기 청색광 및 적색광 각각에 따르는 기울기값으로 매칭시키고,Matching said respectively calculated content rate with the inclination value corresponding to each of the said blue light and a red light, 상기 기울기값을 적분하여 상기 검사 대상물의 체적을 산출하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 전자부품의 검사 대상물용 경사 표면 검사장치.An inclination surface inspection apparatus for an inspection object for an electronic component, characterized by calculating the volume of the inspection object by integrating the inclination value. 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete
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