KR100930271B1 - Unification test apparatus for usn module - Google Patents

Unification test apparatus for usn module Download PDF

Info

Publication number
KR100930271B1
KR100930271B1 KR1020080056673A KR20080056673A KR100930271B1 KR 100930271 B1 KR100930271 B1 KR 100930271B1 KR 1020080056673 A KR1020080056673 A KR 1020080056673A KR 20080056673 A KR20080056673 A KR 20080056673A KR 100930271 B1 KR100930271 B1 KR 100930271B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
module
usn
test
testing
usn module
Prior art date
Application number
KR1020080056673A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
서대화
김홍록
류도훈
송봉기
최병준
Original Assignee
경북대학교 산학협력단
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 경북대학교 산학협력단 filed Critical 경북대학교 산학협력단
Priority to KR1020080056673A priority Critical patent/KR100930271B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100930271B1 publication Critical patent/KR100930271B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2829Testing of circuits in sensor or actuator systems
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416Connectors, terminals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q1/00Details of, or arrangements associated with, antennas
    • H01Q1/12Supports; Mounting means
    • H01Q1/22Supports; Mounting means by structural association with other equipment or articles
    • H01Q1/24Supports; Mounting means by structural association with other equipment or articles with receiving set
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10BELECTRONIC MEMORY DEVICES
    • H10B69/00Erasable-and-programmable ROM [EPROM] devices not provided for in groups H10B41/00 - H10B63/00, e.g. ultraviolet erasable-and-programmable ROM [UVEPROM] devices

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

PURPOSE: A USN(Ubiquitous Sensor Network) module integrated test apparatus is provided to increase test efficiency by testing various USN modules integrally. CONSTITUTION: A USN module connection connector is connected to a USN module. RF functional devices comprise an antenna, a balun and a regulator for testing the USB module. An RF module(302) comprises a control device for testing the USN module. A button array(306) performs interface operation with a tester. An LCD module(304) guides all kinds of testing states according to the control of the RF module. A memory unit(308) stores test information of the USN module. Plural adjacent equipment connection connectors(318-324) are connected to an adjacent equipment. A communication module(310) is connected to the adjacent equipment. The communication module performs parallel communication function. Power control systems(314,316) change an input voltage into operation voltages of various levels.

Description

USN 모듈 통합 시험 장치{UNIFICATION TEST APPARATUS FOR USN MODULE}UNSIC module integrated test device {UNIFICATION TEST APPARATUS FOR USN MODULE}

본 발명은 USN(Ubiqutous Sensor Network) 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 다양한 USN 모듈을 대량으로 시험할 수 있는 USN 모듈 통합 시험 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a Ubiqutous Sensor Network (USN) system, and more particularly, to a USN module integrated test apparatus that can test various USN modules in large quantities.

USN 시스템은 시간과 장소에 구애받지 않고 언제나 네트워크에 접속할 수 있는 통신환경으로, 시간 및 장소를 초월한 통신환경을 목표로 하는 서비스를 제공하기 위한 것이다. The USN system is a communication environment that can be connected to a network at any time regardless of time and place, and is intended to provide a service aiming at a communication environment that transcends time and place.

상기 USN 시스템의 적용분야가 확산됨에 따라 무선 네트워크의 신뢰성 및 안정성의 검증을 위해 USN 시스템을 구성하는 많은 수의 USN 모듈에 대한 시험이 요구된다. As the field of application of the USN system spreads, a test of a large number of USN modules constituting the USN system is required to verify reliability and stability of the wireless network.

상기한 바와 같이 USN 시스템에 구비되는 USN 모듈의 수가 많고, 상기 USN 모듈의 종류가 다양함에 따라 많은 양의 다양한 USN 모듈을 통합하여 시험할 수 있는 시험 장치의 개발이 절실하게 요망되었다. As described above, as the number of USN modules provided in the USN system is large, and the types of the USN modules vary, it is urgently required to develop a test apparatus capable of integrating and testing a large amount of various USN modules.

본 발명은 USN 시스템에 많은 양의 다양한 USN 모듈을 통합하여 시험할 수 있는 USN 모듈 통합 시험 장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다. It is an object of the present invention to provide a USN module integrated test apparatus capable of integrating and testing a large amount of various USN modules in a USN system.

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 USN 모듈 통합 시험장치는, USN 모듈과 접속되기 위한 USN 모듈 접속 커넥터, 상기 USN 모듈의 시험을 위한 안테나 및 벌룬, 레귤레이터를 포함하는 RF 기능 장치들과, 상기 USN 모듈의 시험을 위한 제어장치가 포함된 RF 모듈; 시험자와의 인터페이스를 위한 버튼 어레이; 상기 RF 모듈의 제어에 따라 각종 시험 상태를 안내하기 위한 LCD 모듈; 상기 USN 모듈의 시험정보를 저장하는 메모리부; 인접 장치와의 접속을 위한 다수의 인접 장치 접속 커넥터; 인접 장치와의 접속되어 병렬 통신을 이행하는 통신모듈; 전원을 입력받아 다양한 전위의 구동전원으로 변환하는 전원제어장치가 포함된 시험모듈을 구비한다. USN module integrated test apparatus of the present invention for achieving the above object, RF functional devices including a USN module connection connector for connecting to the USN module, an antenna, a balloon, a regulator for testing the USN module, and An RF module including a control device for testing a USN module; A button array for interfacing with the tester; An LCD module for guiding various test states according to the control of the RF module; A memory unit for storing test information of the USN module; A plurality of neighbor device connection connectors for connection with a neighbor device; A communication module connected to an adjacent device to perform parallel communication; It is equipped with a test module including a power control device which receives power and converts it into driving power of various potentials.

본 발명은 USN 시스템에 구비되는 많은 양의 다양한 USN 모듈을 통합하여 시험할 수 있어, 시험 업무의 효율성을 증대시킬 수 있는 효과가 있다. The present invention can integrate and test a large amount of various USN modules provided in the USN system, thereby increasing the efficiency of the test work.

본 발명의 USN 모듈 통합 시험 장치는 USN 시스템에 구비되는 많은 양의 다양한 USN 모듈을 통합하여 시험한다.The USN module integrated test apparatus of the present invention integrates and tests a large amount of various USN modules included in the USN system.

상기한 시험장치는 다수의 시험모듈이 방사형으로 결합된 시험모듈그룹을 다수 구비하는 시험랙이 다수 구비되어 형성된다.The test apparatus is provided with a plurality of test racks having a plurality of test module groups in which a plurality of test modules are radially coupled.

<시험랙의 구성><Configuration of Test Rack>

상기 시험장치를 구성하는 다수의 시험랙은 그 구성 및 기능이 동일하므로, 이하 도 1을 참조하여 상기 시험랙의 구성 및 동작을 설명한다.Since a plurality of test racks constituting the test apparatus have the same configuration and function, the configuration and operation of the test rack will be described below with reference to FIG. 1.

상기 시험랙(100)은 다수의 시험모듈 그룹장치(1021~102N)와 상기 다수의 시험모듈 그룹장치(1021~102N)를 거치하는 거치대(104)로 구성된다.The test rack 100 is composed of a plurality of test module group devices (1021 ~ 102N) and the cradle 104 for mounting the plurality of test module group devices (1021 ~ 102N).

상기 거치대(110)는 전면과 후면 각각에 4장의 시험모듈 그룹장치를 거치시키며, 상기 거치되는 시험모듈 그룹장치의 수는 가변 가능하다. The holder 110 mounts four test module group devices on each of the front and rear surfaces, and the number of the test module group devices to be mounted is variable.

상기 거치대(110)에 거치되는 다수의 시험모듈 그룹장치(1021~102N) 각각은 사각형의 시험모듈들이 방사형으로 배치되어 결합되어 구성된다. Each of the plurality of test module group devices 1021 to 102N mounted on the cradle 110 is configured by combining rectangular test modules arranged radially.

<시험모듈 그룹장치의 제조과정><Manufacture process of test module group device>

상기 다수의 시험모듈 그룹장치(1021~102N)의 구성방법을 도 2를 참조하여 설명한다. A configuration method of the plurality of test module group devices 1021 to 102N will be described with reference to FIG. 2.

먼저 제조자는 도 2의 (a)에 도시한 바와 같이 사각형의 시험모듈(M)들을 방사형으로 배치하여 결합시킨 시험모듈 그룹(L1)을 형성하다.First, the manufacturer forms a test module group L1 in which the rectangular test modules M are radially arranged and coupled as shown in FIG.

이후 제조자는 도 2의 (b)에 도시한 바와 같이 상기 시험모듈 그룹(L1)의 크기에 대응되는 아크릴 판(L2)을 형성한다. Thereafter, the manufacturer forms an acrylic plate L2 corresponding to the size of the test module group L1 as shown in FIG.

상기 시험모듈 그룹(L1)과 아크릴 판(L2)의 형성이 완료되면, 상기 제조자는 도 2의 (c)에 도시한 바와 같이 상기 시험모듈 그룹(L1)과 아크릴 판(L2)을 결합한 다. Once the formation of the test module group L1 and the acrylic plate L2 is completed, the manufacturer combines the test module group L1 and the acrylic plate L2 as shown in FIG.

상기 시험모듈 그룹(L1)과 아크릴 판(L2)이 결합되면, 상기 제조자는 상기 도 2의 (d)에 도시한 바와 같이 상기 시험모듈 그룹(L1)과 결착된 아크릴 판(L2)의배면에 철판 지지대(L3)를 부착한다. 또한 상기 철판 지지대(L3)는 상기 시험모듈 그룹장치를 안정되게 지지함은 물론이며, 시험모듈 그룹장치간 차폐를 이행한다. 또한 상기 철판 지지대(L3)의 가장자리에는 거치대(100)와의 결합을 위한 결합부재가 구비될 수 있다. When the test module group (L1) and the acrylic plate (L2) is combined, the manufacturer is on the back of the acrylic plate (L2) bound to the test module group (L1) as shown in (d) of FIG. Attach the steel plate support (L3). In addition, the steel plate support (L3) not only stably supports the test module group device, but also performs shielding between the test module group devices. In addition, a coupling member for coupling with the cradle 100 may be provided at the edge of the iron plate support (L3).

<시험모듈><Test Module>

상기 시험모듈 그룹을 구성하는 다수의 시험모듈은 그 구성 및 동작이 동일하므로, 어느 한 시험모듈에 대해서만 도 3을 참조하여 그 구성 및 동작을 설명한다. Since a plurality of test modules constituting the test module group have the same configuration and operation, only one test module will be described with reference to FIG. 3.

상기 시험모듈(300)는 RF 모듈(302), LCD 모듈(304), 버튼 어레이(306), 메모리부(308), 통신모듈(310), 전원제어장치(314,316), 제1 내지 제4커넥터(318~324), 전원 스위치(326)로 구성된다. The test module 300 includes an RF module 302, an LCD module 304, a button array 306, a memory unit 308, a communication module 310, a power controller 314 and 316, and first to fourth connectors. 318 to 324, and a power switch 326.

상기 RF 모듈(302)은 상기 시험모듈(300)을 전반적으로 제어함은 물론이며, 내부 커넥터를 통해 연결된 다양한 종류의 USN 모듈에 대한 시험을 이행한다. The RF module 302 not only controls the test module 300 as a whole, but also performs tests on various types of USN modules connected through internal connectors.

상기 LCD 모듈(304)은 상기 RF 모듈(302) 또는 상기 버튼 어레이(306), 상기 전원 스위치(326), 상기 통신모듈(310)의 동작 상태를 나타내는 정보를 표시한다. The LCD module 304 displays information indicating an operating state of the RF module 302 or the button array 306, the power switch 326, and the communication module 310.

상기 버튼 어레이(306)는 다수의 버튼으로 구성되어, 시험자로부터 각종 명령 또는 정보를 입력받아 상기 RF 모듈(302)로 제공한다. The button array 306 is composed of a plurality of buttons, and receives various commands or information from the tester and provides them to the RF module 302.

상기 메모리부(308)는 상기 RF 모듈(302) 또는 상기 통신모듈(310)의 처리 동작에 따라 발생되는 각종 정보를 저장한다. 특히 상기 메모리부(308)는 EEPROMD이 채용되어, 대량의 정보를 저장한다. The memory unit 308 stores various types of information generated according to processing operations of the RF module 302 or the communication module 310. In particular, the memory unit 308 employs EEPROMD, and stores a large amount of information.

상기 통신모듈(310)은 RS 485 인터페이스를 채택하며, 상기 RS 485 인터페이스는 병렬 연결을 지원하여 최대 32개의 모듈을 하나의 케이블로 동시에 연결할 수 있다. 이에 따라 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 시험모듈을 32개까지 그룹화할 수 있다.The communication module 310 adopts an RS 485 interface, and the RS 485 interface supports parallel connection so that up to 32 modules can be simultaneously connected with one cable. Accordingly, up to 32 test modules according to a preferred embodiment of the present invention can be grouped.

상기 전원제어장치(314,316)는 제1 및 제2커넥터(322,324)를 통해 입력되는 구동전원을 상기 시험모듈(300)내의 각부의 구동전원으로 변환하여 상기 시험모듈(300)의 각부에 제공한다.The power control devices 314 and 316 convert driving power input through the first and second connectors 322 and 324 into driving power of each part in the test module 300, and provide the driving power to each part of the test module 300.

상기 제1커넥터(318)는 상측으로 다른 시험모듈과 접속시키기 위한 것이고, 상기 제2커넥터(320)는 우측으로 다른 시험모듈과 접속시키기 위한 것이고, 상기 제3커넥터(322)는 좌측으로 다른 시험모듈과 접속시키기 위한 것이고, 상기 제4커넥터(324)는 하측으로 다른 시험모듈과 접속시키기 위한 것이다.The first connector 318 is for connecting to the other test module to the upper side, the second connector 320 is for connecting to the other test module to the right, the third connector 322 to the other test to the left It is for connecting with the module, and the fourth connector 324 is for connecting with another test module to the lower side.

상기한 제1 내지 제4커넥터(318~324)는 상하좌우로 시험모듈과의 접속을 가능하게 함으로써, 다수의 시험모듈이 방사형으로 결합될 수 있게 한다.The first to fourth connectors 318 to 324 enable connection with test modules in up, down, left, and right, and thus allow a plurality of test modules to be radially coupled.

또한 상기 제1 내지 제4커넥터(318~324)를 통해 시험모듈들은 전원을 공유함과 아울러 통신모듈(310)을 통한 외부 통신 인터페이스를 이행할 수 있게 한다.In addition, the first to fourth connectors 318 to 324 allow the test modules to share power and to implement an external communication interface through the communication module 310.

<RF 모듈><RF module>

여기서, 상기 RF 모듈(302)의 구성 및 동작을 도 4를 참조하여 설명한다. Here, the configuration and operation of the RF module 302 will be described with reference to FIG. 4.

상기 RF 모듈(302)은 제어모듈(400), 레귤레이터(402), 제1 및 제2커넥터(404,406), 칩 안테나(408), 외부 안테나 커넥터(410), 리셋 스위치(412), LED(414), 제3커넥터(416), 발룬(418)으로 구성된다. The RF module 302 includes a control module 400, a regulator 402, first and second connectors 404 and 406, a chip antenna 408, an external antenna connector 410, a reset switch 412, and an LED 414. ), A third connector 416, and a balloon 418.

상기 제어모듈(400)은 제1 또는 제2커넥터(404,406) 중 어느 한 커넥터를 통해 연결된 USN 모듈에 대해 시험을 이행한다. 여기서, 상기 제어모듈(400)은 상기 제3커넥터(416)를 통해 연결된 통신망을 통해 다양한 USN 모듈에 적합한 시험 프로그램을 다운로드받는다. The control module 400 performs a test on a USN module connected through either connector of the first or second connectors 404 and 406. Here, the control module 400 downloads a test program suitable for various USN modules through a communication network connected through the third connector 416.

또한 레귤레이터(402)는 전원제어장치(314,316)로부터 제공되는 구동전원을 제1 또는 제2커넥터(404,406)에 연결된 USN 모듈의 구동전원으로 레귤레이팅하여 상기 제1 또는 제2커넥터(404,406)를 통해 상기 연결된 USN 모듈에 공급한다. In addition, the regulator 402 regulates the driving power provided from the power control devices 314 and 316 to the driving power of the USN module connected to the first or second connectors 404 and 406, and through the first or second connectors 404 and 406. Supply to the connected USN module.

상기 제1 또는 제2커넥터(404,406)는 다양한 종류의 USN 모듈과 제어모듈(400)간의 접속을 위한 것이다.The first or second connectors 404 and 406 are for connection between various types of USN modules and the control module 400.

상기 칩 안테나(408)은 무선 통신 시험을 위한 안테나를 제공한다. The chip antenna 408 provides an antenna for a wireless communication test.

상기 외부 안테나 커넥터(410)는 무선 통신 시험을 위해 외부 안테나를 접속시킬 수 있게 한다.The external antenna connector 410 allows the external antenna to be connected for the wireless communication test.

상기 리셋 스위치(412)는 상기 RF 모듈(302)의 리셋을 명령하기 위한 것으로, 상기 리셋 스위치(412)의 조작정보는 상기 제어모듈(400)로 제공되며, 상기 제어모듈(400)은 상기 리셋 스위치(412)의 조작정보에 따라 리셋을 이행한다. The reset switch 412 is for instructing the reset of the RF module 302, the operation information of the reset switch 412 is provided to the control module 400, the control module 400 is the reset Reset is performed in accordance with the operation information of the switch 412.

상기 LED(414)는 상기 제어모듈(400)의 제어에 따라 RF 모듈(302)의 동작상태를 표시한다. The LED 414 indicates an operation state of the RF module 302 under the control of the control module 400.

상기 제3커넥터(416)는 RF 칩 제조사에 따라 개발환경이 다르므로, 상기 제어모듈(400)에 설치되는 시험 프로그램을 다운로드받을 수 있는 통신경로를 형성한다. Since the third connector 416 has a development environment different according to the RF chip manufacturer, the third connector 416 forms a communication path for downloading a test program installed in the control module 400.

상기 발룬(418)은 안테나(408) 또는 외부 안테나 커넥터(410)를 통해 연결된 외부 안테나와의 임피던스 매칭을 이행한다. The balloon 418 performs impedance matching with an external antenna connected via an antenna 408 or an external antenna connector 410.

상기한 RF 모듈(302)은 RF 종속적인 요소만을 분리시킨 것으로, 예를들어 TI 사의 CC2420 RF 모듈, Radiopluse 사의 MG2400 RF 모듈, MG2455 RF 모듈, 삼성전기사의 ISPZBS240 RF 모듈 등으로 구성될 수 있다. The RF module 302 separates only RF-dependent elements. For example, the RF module 302 may be composed of a CC2420 RF module of TI, an MG2400 RF module of Radiopluse, an MG2455 RF module, and an ISPZBS240 RF module of Samsung Electro-Mechanics.

상기한 바와 같이 본 발명은 USN 모듈의 시험을 위해 가변되어야 할 RF 기능 장치나 시험 프로그램에 따라 펌웨어가 달라져야 하는 기능부들을 RF 모듈로서 분리시킴으로써, 다양한 USN 모듈의 시험을 위한 USN 모듈 시험장치의 용이한 변경이 가능하게 한다. As described above, the present invention is to facilitate the USN module test apparatus for testing various USN modules by separating the RF functional device to be changed for the test of the USN module or the functional parts whose firmware should be changed according to the test program as the RF module. One change is possible.

또한 본 발명은 USN 모듈 시험장치들을 방사형으로 연결한 상태에서도 개별적으로 전원 온/오프를 이행할 수 있게 한다. 이로서 다양한 시험환경에 적합하게 이용될 수 있는 효과가 있다. In addition, the present invention makes it possible to perform the power on / off individually even when the USN module test apparatus is connected radially. This has the effect that can be suitably used in various test environments.

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 USN 모듈 시험장치의 랙의 구조를 도시한 도면. 1 is a view showing the structure of a rack of the USN module test apparatus according to a preferred embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 시험모듈 그룹의 구성방법을 도시한 도면. 2 is a diagram illustrating a method of configuring a test module group according to a preferred embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 시험모듈의 구성도. 3 is a block diagram of a test module according to a preferred embodiment of the present invention.

도 4는 도 3의 RF 모듈의 구성도. 4 is a configuration diagram of the RF module of FIG.

Claims (6)

USN 모듈 통합 시험장치에 있어서, In the USN module integrated test apparatus, USN 모듈과 접속되기 위한 USN 모듈 접속 커넥터, USN module connector for connecting with USN module, 상기 USN 모듈의 시험을 위한 안테나 및 벌룬, 레귤레이터를 포함하는 RF 기능 장치들과,RF functional devices including an antenna, a balloon, and a regulator for testing the USN module; 상기 USN 모듈의 시험을 위한 제어장치가 포함된 RF 모듈;An RF module including a control device for testing the USN module; 시험자와의 인터페이스를 위한 버튼 어레이;A button array for interfacing with the tester; 상기 RF 모듈의 제어에 따라 각종 시험 상태를 안내하기 위한 LCD 모듈;An LCD module for guiding various test states according to the control of the RF module; 상기 USN 모듈의 시험정보를 저장하는 메모리부;A memory unit for storing test information of the USN module; 인접 장치와의 접속을 위한 다수의 인접 장치 접속 커넥터;A plurality of neighbor device connection connectors for connection with a neighbor device; 인접 장치와의 접속되어 병렬 통신을 이행하는 통신모듈;A communication module connected to an adjacent device to perform parallel communication; 전원을 입력받아 다양한 전위의 구동전원으로 변환하는 전원제어장치가 포함된 시험모듈을 구비하는 것을 특징으로 하는 USN 모듈 통합 시험장치.USN module integrated test device, characterized in that it comprises a test module including a power control unit for receiving a power input and converting the driving power of various potentials. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 RF 모듈에는 상기 제어장치와 외부기기간의 통신경로를 연결하는 커넥터가 더 구비되며,The RF module is further provided with a connector for connecting a communication path between the control device and an external device, 상기 제어장치는 상기 통신경로를 통해 다양한 종류의 USN 모듈에 대한 시험 프로그램을 다운로드받아 저장 또는 갱신함을 특징으로 하는 USN 모듈 통합 시험장 치. The control device USN module integrated test device, characterized in that for downloading and storing or updating the test program for the various types of USN module through the communication path. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 시험모듈은 전원 제어를 명령하기 위한 전원 스위치가 더 구비됨을 특징으로 하는 USN 모듈 통합 시험장치. The test module is a USN module integrated test device, characterized in that further provided with a power switch for commanding power control. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 다수의 인접 장치 접속 커넥터는,Many adjacent device connector 사각 평판의 프레임의 상하좌우 가장자리 각각에 설치되어, Installed on each of the top, bottom, left and right edges of the frame of the square plate, 다수의 시험모듈이 방사형으로 결합되어 시험모듈 그룹을 구성함을 특징으로 하는 USN 모듈 통합 시험장치. USN module integrated test device, characterized in that a plurality of test modules are combined radially to form a test module group. 제4항에 있어서, The method of claim 4, wherein 상기 시험모듈 그룹의 배면을 지지하는 아크릴판;An acrylic plate supporting a rear surface of the test module group; 상기 아크릴판의 배면에 대해 지지 및 전자 차폐를 이행하는 철판 지지대Iron plate support for performing support and electromagnetic shielding on the back of the acrylic plate 더 포함하는 것을 특징으로 하는 USN 모듈 통합 시험장치. USN module integrated test device, characterized in that it further comprises. 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 철판 지지대 다수와 결합되어,In combination with a number of the steel plate support, 상기 다수의 철판 지지대를 지지하는 지지대를 더 구비하여, Further comprising a support for supporting the plurality of iron plate support, 하나의 랙을 구성함을 특징으로 하는 USN 모듈 통합 시험장치. USN module integrated test device, characterized in that one rack configuration.
KR1020080056673A 2008-06-17 2008-06-17 Unification test apparatus for usn module KR100930271B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080056673A KR100930271B1 (en) 2008-06-17 2008-06-17 Unification test apparatus for usn module

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080056673A KR100930271B1 (en) 2008-06-17 2008-06-17 Unification test apparatus for usn module

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR100930271B1 true KR100930271B1 (en) 2009-12-09

Family

ID=41683917

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080056673A KR100930271B1 (en) 2008-06-17 2008-06-17 Unification test apparatus for usn module

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100930271B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20230106334A (en) * 2022-01-06 2023-07-13 대한민국(과학기술정보통신부 국립전파연구원장) Transceiver of wire communication signal and control method of communication equipment connected with transceiver of wire communication signal

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100780729B1 (en) 2005-07-15 2007-11-30 주식회사 맥스포 RFID Reader Intergration Module
KR100791913B1 (en) 2006-07-05 2008-01-04 주식회사 맥스포 Tester for node module of ubiquitous sensor network system, test method for node module and remote monitoring apparatus for ubiquitous sensor network system

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100780729B1 (en) 2005-07-15 2007-11-30 주식회사 맥스포 RFID Reader Intergration Module
KR100791913B1 (en) 2006-07-05 2008-01-04 주식회사 맥스포 Tester for node module of ubiquitous sensor network system, test method for node module and remote monitoring apparatus for ubiquitous sensor network system

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20230106334A (en) * 2022-01-06 2023-07-13 대한민국(과학기술정보통신부 국립전파연구원장) Transceiver of wire communication signal and control method of communication equipment connected with transceiver of wire communication signal
KR102602786B1 (en) * 2022-01-06 2023-11-17 대한민국 Transceiver of wire communication signal and control method of communication equipment connected with transceiver of wire communication signal

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10247781B2 (en) Compact electronics test system having user programmable device interfaces and on-board functions adapted for use in proximity to a radiation field
US7649366B2 (en) Method and apparatus for switching tester resources
US8832344B2 (en) Baseboard, extension module, and structure for connecting baseboard and extension module
CN112485653A (en) Integrated circuit testing system and method
CN106526455A (en) Circuit board detection and diagnosis system and method for missile launch control device
CN106018886B (en) Reconfiguration of large-scale automated test system
CN211826353U (en) DDR tests mainboard and DDR test platform
KR100930271B1 (en) Unification test apparatus for usn module
CN116660719A (en) Universal ATE interface sub-motherboard testing method based on FLEX testing system
US20140016483A1 (en) Wireless multi-channel electronic signal measurement and generation device.
US20140203795A1 (en) Wiring test device for electronics cabinets having internal signal wiring
KR20140078170A (en) JTAG interface board
CN103902417A (en) Switchable debug card
CN103163395A (en) Power on-off testing device
CN206387909U (en) A kind of universal satellite navigation receiver test platform
CN217007495U (en) Burn-in equipment
US20130171841A1 (en) Test device for testing usb sockets
CN101738505B (en) Test pallet
US8561288B2 (en) Electronic display test device and related method
CN208443945U (en) Drive product function test equipment
CN103822770A (en) Drop test device
KR20230021735A (en) How Test Support Modules and Automated Test Equipment Work
CN110596576A (en) Modularized integrated measuring system
CN217766647U (en) Aging device
US9395315B2 (en) Lens module testing device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20121101

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20131028

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141020

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160420

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170217

Year of fee payment: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee