KR100929845B1 - Synchronous semiconductor memory device and driving method thereof - Google Patents
Synchronous semiconductor memory device and driving method thereof Download PDFInfo
- Publication number
- KR100929845B1 KR100929845B1 KR1020080040929A KR20080040929A KR100929845B1 KR 100929845 B1 KR100929845 B1 KR 100929845B1 KR 1020080040929 A KR1020080040929 A KR 1020080040929A KR 20080040929 A KR20080040929 A KR 20080040929A KR 100929845 B1 KR100929845 B1 KR 100929845B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- data
- signal
- alignment
- data strobe
- pulse
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4096—Input/output [I/O] data management or control circuits, e.g. reading or writing circuits, I/O drivers or bit-line switches
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4076—Timing circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4093—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. data buffers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1078—Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
- G11C7/1084—Data input buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1078—Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
- G11C7/109—Control signal input circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1078—Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
- G11C7/1093—Input synchronization
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1078—Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
- G11C7/1096—Write circuits, e.g. I/O line write drivers
Abstract
본 발명은 반도체 설계 기술에 관한 것으로, 특히 동기식 반도체 메모리 소자의 라이트 경로에 관한 것이다. 본 발명은 데이터 스트로브 신호(DQS)의 라이트 포스트앰블 링잉에 의한 데이터 오류 발생을 방지할 수 있는 동기식 반도체 메모리 소자 및 그의 구동방법을 제공하는데 그 목적이 있다. 본 발명에서는 해당 라이트 커맨드에 대응하는 마지막 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)에 의해 셋되고 해당 라이트 커맨드에 대응하는 데이터 입력 클럭(DINCLK)에 의해 리셋되는 정렬 홀드 신호를 추가적으로 생성하며, 이 신호가 글리치가 발생되는 구간에서 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)가 데이터 정렬부에 인가되는 것을 마스킹한다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to semiconductor design techniques, and more particularly, to a write path of a synchronous semiconductor memory device. SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a synchronous semiconductor memory device and a method of driving the same, which can prevent a data error from occurring due to write postamble of the data strobe signal DQS. The present invention additionally generates an alignment hold signal that is set by the last data strobe polling pulse (DSFP) corresponding to the write command and reset by the data input clock (DINCLK) corresponding to the write command. The data strobe polling pulse DSFP is applied to the data alignment unit in the generated section.
데이터 스트로브 신호, 라이트 포스트앰블 링잉, 데이터 오류, 정렬 홀드 신호, 마스킹 Data Strobe Signal, Light Postamble, Data Error, Alignment Hold Signal, Masking
Description
본 발명은 반도체 설계 기술에 관한 것으로, 특히 동기식 반도체 메모리 소자의 라이트 경로에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
DRAM을 비롯한 반도체 메모리 소자는 칩셋(메모리 컨트롤러)으로부터 라이트 데이터를 받아들이고, 칩셋으로 리드 데이터를 전송한다. 한편, 동기식 반도체 메모리 소자의 경우, 칩셋과 메모리가 모두 시스템 클럭에 의해 동기되어 동작한다. 그런데, 칩셋으로부터 데이터를 메모리에 전달할 때 데이터와 시스템 클럭의 로딩(loading)과 궤적(trace)이 서로 다르고, 또 시스템 클럭과 다수의 메모리간의 위치 차이에 의해 데이터와 시스템 클럭간에 스큐(skew)가 발생한다.Semiconductor memory devices, including DRAM, receive write data from a chipset (memory controller) and transfer read data to the chipset. On the other hand, in the synchronous semiconductor memory device, both the chipset and the memory operate in synchronization with the system clock. However, when data is transferred from the chipset to the memory, the loading and the trace of the data and the system clock are different from each other, and skew between the data and the system clock is caused by the position difference between the system clock and the plurality of memories. Occurs.
이러한 데이터와 시스템 클럭간의 스큐를 줄이기 위하여, 칩셋에서 데이터를 메모리로 전송할 때 데이터와 함께 데이터 스트로브 신호(DQS)를 함께 전송한다. 데이터 스트로브 신호(DQS)는 일명 에코 클럭(echo clock)이라 불리우며, 데이터와 동일한 로딩과 궤적을 가지기 때문에 메모리 측에서 이 신호를 이용하여 데이터를 스트로빙하면 시스템 클럭과 메모리간의 위치 차이에 의해 발생하는 스큐를 최소화할 수 있다. 한편, 리드 동작시에는 메모리가 데이터와 함께 리드 DQS를 칩셋으로 전송하게 된다.In order to reduce the skew between the data and the system clock, the data strobe signal (DQS) is transmitted together with the data when the data is transferred from the chipset to the memory. Since the data strobe signal (DQS) is called an echo clock and has the same loading and trajectory as the data, when the data is strobe using the signal, the data strobe is caused by the position difference between the system clock and the memory. Skew can be minimized. In the meantime, during the read operation, the memory transmits the read DQS to the chipset together with the data.
도 1은 종래기술에 따른 동기식 반도체 메모리 소자의 라이트 경로를 나타낸 회로도이다.1 is a circuit diagram illustrating a write path of a synchronous semiconductor memory device according to the prior art.
도 1을 참조하면, 종래기술에 따른 동기식 반도체 메모리 소자의 라이트 경로에는, DQS 버퍼 디스에이블 신호(DISABLE_DQS)에 응답하여 데이터 스트로브 신호(DQS)를 버퍼링하기 위한 DQS 입력 버퍼(110)와, DQS 입력 버퍼(110)의 출력신호를 입력받아 데이터 스트로브 신호(DQS)의 폴링 에지에 대응하는 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)를 생성하기 위한 DSFP 발생부(120)와, 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP), 데이터 스트로브 종료신호(DIS_DSP, 라이트 커맨드 인가 시점으로부터 버스트 길이(BL)에 대응하는 시간 이후에 논리레벨 하이로 펄싱하는 신호임), 라이트 펄스(WTPb, 라이트 커맨드 인가시 논리레벨 로우로 펄싱하는 신호임)에 응답하여 DQS 버퍼 디스에이블 신호(DISABLE_DQS)를 생성하기 위한 DQS 버퍼 디스에이블 신호 발생부(130)와, 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)에 응답하여 입력 데이터(Din, 데이터 입력 버퍼로부터 출력된 신호임)를 정렬하기 위한 데이터 정렬부(140)와, 데이터 정렬부(140)로부터 출력된 정렬 데이터(ALGN_R0, ALGN_R1, ALGN_F0, ALGN_F1)를 데이터 입력 클럭(DINCLK, 라이트 커맨드로부터 라이트 레이턴시(WL)를 고려한 일정 시간 이후에 논리레벨 하이로 펄싱하는 신호임)에 동기시 켜 글로벌 데이터 버스(GIO_Q0, GIO_Q1, GIO_Q2, GIO_Q3)에 전달하기 위한 GIO 라이트 구동부(150)가 구비된다.Referring to FIG. 1, a write path of a synchronous semiconductor memory device according to the related art includes a
여기서, DQS 버퍼 디스에이블 신호 발생부(130)는 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP) 및 데이터 스트로브 종료신호(DIS_DSP)를 입력으로 하는 앤드 게이트(AND1)와, 소오스가 전원전압단(VDD)에 접속되고 드레인이 DQS 버퍼 디스에이블 신호(DISABLE_DQS) 출력단(N1)에 접속되며 라이트 펄스(WTPb)를 게이트 입력으로 하는 풀업 PMOS 트랜지스터(MP1)와, 소오스가 접지전압단(VSS)에 접속되고 드레인이 DQS 버퍼 디스에이블 신호(DISABLE_DQS) 출력단(N1)에 접속되며 앤드 게이트(AND1)의 출력신호를 게이트 입력으로 하는 풀다운 NMOS 트랜지스터(MN1)와, DQS 버퍼 디스에이블 신호(DISABLE_DQS) 출력단(N1)을 래칭하기 위한 래치(INV1 및 INV2)를 구비한다.Here, the DQS buffer disable
또한, 데이터 정렬부(140)는 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)를 입력으로 하는 인버터(INV3)와, 인버터(INV3)의 출력신호의 폴링 에지에 응답하여 입력 데이터(Din)를 전송하는 D 플립플롭(142)과, 인버터(INV3)의 출력신호의 폴링 에지에 응답하여 D 플립플롭(142)으로부터 출력된 정렬 데이터(ALGN_R1)를 전송하는 D 플립플롭(144)과, 인버터(INV3)의 출력신호의 폴링 에지에 응답하여 입력 데이터(Din)를 전송하는 D 플립플롭(146)과, 인버터(INV3)의 출력신호의 폴링 에지에 응답하여 D 플립플롭(146)으로부터 출력된 정렬 데이터(ALGN_F1)를 전송하는 D 플립플롭(148)을 구비한다.In addition, the
그리고, GIO 라이트 구동부(150)는 D 플립플롭(144)으로부터 출력된 정렬 데 이터(ALGN_R0)를 데이터 입력 클럭(DINCLK)에 동기시켜 글로벌 데이터 버스(GIO_Q0)에 전달하기 위한 GIO 라이트 드라이버(152)와, D 플립플롭(142)으로부터 출력된 정렬 데이터(ALGN_R1)를 데이터 입력 클럭(DINCLK)에 동기시켜 글로벌 데이터 버스(GIO_Q1)에 전달하기 위한 GIO 라이트 드라이버(154)와, D 플립플롭(148)으로부터 출력된 정렬 데이터(ALGN_F0)를 데이터 입력 클럭(DINCLK)에 동기시켜 글로벌 데이터 버스(GIO_Q2)에 전달하기 위한 GIO 라이트 드라이버(156)와, D 플립플롭(146)으로부터 출력된 정렬 데이터(ALGN_F1)를 데이터 입력 클럭(DINCLK)에 동기시켜 글로벌 데이터 버스(GIO_Q3)에 전달하기 위한 GIO 라이트 드라이버(158)를 구비한다.The
도 2는 도 1에 도시된 회로의 타이밍 다이어그램이다.FIG. 2 is a timing diagram of the circuit shown in FIG. 1.
도 2를 참조하면, 우선, 라이트 커맨드가 인가되면 메모리는 데이터 스트로브 신호(DQS)와 함께 데이터(DQ)를 받아들인다. 도면에서는 연속된 라이트 커맨드가 인가된 경우를 나타내고 있으며(BL=4), 'INT_WT'는 라이트 커맨드를 받아서 생성된 내부 라이트 신호를 나타낸 것이다.Referring to FIG. 2, first, when a write command is applied, the memory receives the data DQ together with the data strobe signal DQS. The figure shows a case where a continuous write command is applied (BL = 4), and 'INT_WT' shows an internal write signal generated by receiving a write command.
한편, DSFP 발생부(120)는 데이터 스트로브 신호(DQS)의 폴링 에지마다 논리레벨 하이로 활성화되는 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)를 생성하고, 데이터 정렬부(140)에서는 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)의 라이징 에지에 맞춰 정렬 데이터 ALGN_R0, ALGN_R1, ALGN_F0, ALGN_F1를 출력한다.The
그리고, 데이터(DQ)의 입력이 완료되어 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)와 데이터 스트로브 종료신호(DIS_DSP)가 모두 논리레벨 하이가 되면, DQS 버퍼 디스 에이블 신호 발생부(130)는 DQS 버퍼 디스에이블 신호(DISABLE_DQS)를 논리레벨 로우로 천이시키고, 이에 따라 DQS 입력 버퍼(110)가 디스에이블되어 데이터 스트로브 신호(DQS)를 더 이상 받아들이지 않도록 한다.When the input of the data DQ is completed and both the data strobe polling pulse DSFP and the data strobe end signal DIS_DSP are at a logic level high, the DQS buffer disable
한편, 정렬 데이터 ALGN_R0, ALGN_R1, ALGN_F0, ALGN_F1는 데이터 입력 클럭(DINCLK)에 동기되어 GIO 라이트 드라이버(152, 154, 156, 158)에 의해 글로벌 데이터 버스(GIO_Q0, GIO_Q1, GIO_Q2, GIO_Q3)로 전달된다.Meanwhile, the alignment data ALGN_R0, ALGN_R1, ALGN_F0, and ALGN_F1 are transferred to the global data buses GIO_Q0, GIO_Q1, GIO_Q2, and GIO_Q3 by the GIO write
그런데, 데이터 스트로브 신호(DQS)가 토글링하다가 마지막 폴링 에지 이후 다시 고임피던스(Hi-Z) 상태로 돌아갈 때, 1회의 링잉(ringing)이 발생하는 경우가 종종 나타난다. 이러한 현상을 라이트 포스트앰블 링잉(write postamble ringing)이라 한다.However, when the data strobe signal DQS toggles and returns to the high impedance Hi-Z state after the last falling edge, one ringing often occurs. This phenomenon is called write postamble ringing.
도 3은 라이트 포스트앰블 링잉이 발생한 경우의 도 1에 도시된 회로의 타이밍 다이어그램이다.3 is a timing diagram of the circuit shown in FIG. 1 in the case where write postamble ringing occurs.
도 3을 참조하면, 데이터 스트로브 신호(DQS)가 토글링하다가 마지막 폴링 에지 이후 다시 고임피던스(Hi-Z) 상태로 돌아갈 때, 링잉이 발생한 것을 확인할 수 있다.Referring to FIG. 3, when the data strobe signal DQS is toggled and returns to the high impedance (Hi-Z) state after the last falling edge, it can be seen that ringing has occurred.
이와 같은 링잉이 DQS 버퍼 디스에이블 신호(DISABLE_DQS)가 논리레벨 로우로 천이하기 전에 발생하게 되면, DSFP 발생부(120)에서 이를 데이터 스트로브 신호(DQS)의 폴링 에지로 인식하여 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)에 작은 글리치(glitch)가 발생하게 된다.If such ringing occurs before the DQS buffer disable signal DISABLE_DQS transitions to a logic level low, the
그리고, 이러한 글리치에 의해 정렬 데이터 ALGN_R0, ALGN_R1, ALGN_F0, ALGN_F1의 값이 일찍 바뀌게 되고, 이에 따라 데이터 입력 클럭(DINCLK)의 라이징 에지에서 잘못된 데이터가 입력되면서 글로벌 데이터 버스(GIO_Q0, GIO_Q1, GIO_Q2, GIO_Q3)에 원하지 않는 데이터가 실리게 되는 오동작(fail)을 유발하는 문제점이 있었다.In addition, the values of the alignment data ALGN_R0, ALGN_R1, ALGN_F0, and ALGN_F1 are changed early by the glitches. As a result, incorrect data is input at the rising edge of the data input clock DINCLK. ) Has a problem that causes a malfunction (fail) that unwanted data is loaded.
이러한 문제점은 전술한 바와 같이 라이트 커맨드가 연속적으로 인가되는 경우뿐만 아니라, 라이트 커맨드가 단독으로 인가되는 경우에도 발생할 수 있다.This problem may occur not only when the write command is continuously applied as described above, but also when the write command is applied alone.
본 발명은 상기와 같은 종래기술의 문제점을 해결하기 위하여 제안된 것으로, 데이터 스트로브 신호(DQS)의 라이트 포스트앰블 링잉에 의한 데이터 오류 발생을 방지할 수 있는 동기식 반도체 메모리 소자 및 그의 구동방법을 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been proposed to solve the above problems of the prior art, and provides a synchronous semiconductor memory device and a driving method thereof capable of preventing data errors caused by write postamble of a data strobe signal (DQS). The purpose is.
상기의 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 측면에 따르면, 데이터 스트로브 신호에 응답하여 데이터 정렬 기준펄스를 생성하기 위한 데이터 정렬 기준펄스 발생수단; 상기 데이터 정렬 기준펄스와 데이터 입력 클럭에 응답하여 상기 데이터 스트로브 신호의 포스트앰블에 대응하는 일정 구간동안 활성화되는 정렬 홀드 신호를 생성하기 위한 정렬 홀드 신호 발생수단; 및 상기 데이터 정렬 기준펄스와 상기 정렬 홀드 신호에 응답하여 입력 데이터를 정렬하기 위한 데이터 정렬수단을 구비하는 동기식 반도체 메모리 소자가 제공된다.According to an aspect of the present invention for achieving the above technical problem, data alignment reference pulse generating means for generating a data alignment reference pulse in response to the data strobe signal; Alignment hold signal generating means for generating an alignment hold signal that is activated during a period corresponding to a postamble of the data strobe signal in response to the data alignment reference pulse and a data input clock; And data alignment means for aligning input data in response to the data alignment reference pulse and the alignment hold signal.
또한, 본 발명의 다른 측면에 따르면, 데이터 스트로브 신호를 버퍼링하기 위한 데이터 스트로브 신호 입력 버퍼; 상기 데이터 스트로브 신호 입력 버퍼의 출력신호를 입력받아 상기 데이터 스트로브 신호의 폴링 에지에 대응하는 데이터 스트로브 폴링 펄스를 생성하기 위한 데이터 스트로브 폴링 펄스 발생부; 상기 데이터 스트로브 폴링 펄스 및 정렬 홀드 신호에 응답하여 입력 데이터를 정렬하기 위 한 데이터 정렬부; 상기 데이터 정렬부로부터 출력된 정렬 데이터를 데이터 입력 클럭에 동기시켜 글로벌 데이터 라인에 전달하기 위한 글로벌 데이터 라인 라이트 구동부; 및 상기 데이터 스트로브 폴링 펄스 및 상기 데이터 입력 클럭에 응답하여 상기 데이터 스트로브 신호의 포스트앰블에 대응하는 일정 구간동안 활성화되는 상기 정렬 홀드 신호를 생성하기 위한 정렬 홀드 신호 발생부를 구비하는 동기식 반도체 메모리 소자가 제공된다.Further, according to another aspect of the invention, the data strobe signal input buffer for buffering the data strobe signal; A data strobe polling pulse generator configured to receive an output signal of the data strobe signal input buffer and generate a data strobe polling pulse corresponding to a falling edge of the data strobe signal; A data alignment unit for aligning input data in response to the data strobe polling pulse and an alignment hold signal; A global data line write driver for transferring alignment data output from the data alignment unit to a global data line in synchronization with a data input clock; And an alignment hold signal generator configured to generate the alignment hold signal activated during a period corresponding to a postamble of the data strobe signal in response to the data strobe polling pulse and the data input clock. do.
본 발명에서는 해당 라이트 커맨드에 대응하는 마지막 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)에 의해 셋되고 해당 라이트 커맨드에 대응하는 데이터 입력 클럭(DINCLK)에 의해 리셋되는 정렬 홀드 신호를 추가적으로 생성하며, 이 신호가 글리치가 발생되는 구간에서 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)가 데이터 정렬부에 인가되는 것을 마스킹한다.The present invention additionally generates an alignment hold signal that is set by the last data strobe polling pulse (DSFP) corresponding to the write command and reset by the data input clock (DINCLK) corresponding to the write command. The data strobe polling pulse DSFP is applied to the data alignment unit in the generated section.
본 발명은 데이터 스트로브 신호(DQS)의 라이트 포스트앰블 링잉이 발생하는 경우에도, 정렬 데이터의 불법적인 전송 동작을 차단함으로써 라이트 경로의 오동작을 방지할 수 있다.According to the present invention, even when the write post amble of the data strobe signal DQS occurs, the illegal operation of the write path can be prevented by blocking the illegal transmission operation of the alignment data.
이하, 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 보다 용이하게 실시할 수 있도록 하기 위하여 본 발명의 바람직한 실시예를 소개하기 로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be introduced in order to enable those skilled in the art to more easily implement the present invention.
본 실시예에 따른 동기식 반도체 메모리 소자는, 데이터 스트로브 신호(DQS)에 응답하여 데이터 정렬 기준펄스인 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)를 생성하기 위한 데이터 정렬 기준펄스 발생부와, 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)와 데이터 입력 클럭(DINCLK)에 응답하여 데이터 스트로브 신호(DQS)의 포스트앰블에 대응하는 일정 구간동안 활성화되는 정렬 홀드 신호(ALGN_HOLD)를 생성하기 위한 정렬 홀드 신호 발생부와, 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)와 정렬 홀드 신호(ALGN_HOLD)에 응답하여 입력 데이터(Din)를 정렬하기 위한 데이터 정렬부를 구비한다.The synchronous semiconductor memory device according to the present embodiment includes a data alignment reference pulse generator for generating a data strobe polling pulse DSFP, which is a data alignment reference pulse in response to the data strobe signal DQS, and a data strobe polling pulse DSFP. And an alignment hold signal generator for generating an alignment hold signal ALGN_HOLD which is activated for a period corresponding to the postamble of the data strobe signal DQS in response to the data input clock DINCLK, and a data strobe polling pulse And a data alignment unit for aligning the input data Din in response to the DSFP and the alignment hold signal ALGN_HOLD.
또한, 본 실시예에 따른 동기식 반도체 메모리 소자는, 데이터 입력 클럭(DINCLK)에 응답하여 데이터 정렬부로부터 출력된 정렬 데이터를 글로벌 데이터 라인으로 전송하기 위한 글로벌 데이터 라인 라이트 구동부를 더 구비한다.The synchronous semiconductor memory device according to the present embodiment further includes a global data line write driver for transmitting alignment data output from the data alignment unit to the global data line in response to the data input clock DINCLK.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 동기식 반도체 메모리 소자의 라이트 경로를 나타낸 회로도이다.4 is a circuit diagram illustrating a write path of a synchronous semiconductor memory device according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 4를 참조하면, 본 실시예에 따른 동기식 반도체 메모리 소자의 라이트 경로에는, DQS 버퍼 디스에이블 신호(DISABLE_DQS)에 응답하여 데이터 스트로브 신호(DQS)를 버퍼링하기 위한 DQS 입력 버퍼(410)와, DQS 입력 버퍼(410)의 출력신호를 입력받아 데이터 스트로브 신호(DQS)의 폴링 에지에 대응하는 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)를 생성하기 위한 DSFP 발생부(420)와, 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP), 데이터 스트로브 종료신호(DIS_DSP), 라이트 펄스(WTPb)에 응답하여 DQS 버퍼 디스에이블 신호(DISABLE_DQS)를 생성하기 위한 DQS 버퍼 디스에이블 신호 발 생부(430)와, 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP) 및 정렬 홀드 신호(ALGN_HOLD)에 응답하여 입력 데이터(Din)를 정렬하기 위한 데이터 정렬부(440)와, 데이터 정렬부(440)로부터 출력된 정렬 데이터(ALGN_R0, ALGN_R1, ALGN_F0, ALGN_F1)를 데이터 입력 클럭(DINCLK)에 동기시켜 글로벌 데이터 버스(GIO_Q0, GIO_Q1, GIO_Q2, GIO_Q3)에 전달하기 위한 GIO 라이트 구동부(450)와, 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP) 및 데이터 입력 클럭(DINCLK)에 응답하여 데이터 스트로브 신호(DQS)의 포스트앰블에 대응하는 일정 구간동안 활성화되는 정렬 홀드 신호(ALGN_HOLD)를 생성하기 위한 정렬 홀드 신호 발생부(460)가 구비된다.Referring to FIG. 4, the write path of the synchronous semiconductor memory device according to the present embodiment includes a
여기서, DQS 버퍼 디스에이블 신호 발생부(430)는, 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP) 및 데이터 스트로브 종료신호(DIS_DSP)를 입력으로 하는 앤드 게이트(AND2)와, 소오스가 전원전압단(VDD)에 접속되고 드레인이 DQS 버퍼 디스에이블 신호(DISABLE_DQS) 출력단(N2)에 접속되며 라이트 펄스(WTPb)를 게이트 입력으로 하는 풀업 PMOS 트랜지스터(MP2)와, 소오스가 접지전압단(VSS)에 접속되고 드레인이 DQS 버퍼 디스에이블 신호(DISABLE_DQS) 출력단(N2)에 접속되며 앤드 게이트(AND2)의 출력신호를 게이트 입력으로 하는 풀다운 NMOS 트랜지스터(MN2)와, DQS 버퍼 디스에이블 신호(DISABLE_DQS) 출력단(N2)을 래칭하기 위한 래치(INV4 및 INV5)를 구비한다.Here, the DQS buffer disable
또한, 데이터 정렬부(440)는 정렬 홀드 신호(ALGN_HOLD)에 따라 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)를 선택적으로 차단하기 위한 차단부(442)와, 차단부(442)의 출력신호의 폴링 에지에 응답하여 입력 데이터(Din)를 전송하는 D 플립플롭(444) 과, 차단부(442)의 출력신호의 폴링 에지에 응답하여 D 플립플롭(144)으로부터 출력된 정렬 데이터(ALGN_R1)를 전송하는 D 플립플롭(446)을 구비한다. 차단부(442)는 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP) 및 정렬 홀드 신호(ALGN_HOLD)를 입력으로 하는 낸드 게이트(NAND1)로 쉽게 구현할 수 있다.In addition, the
한편, 도 4에서는 도면을 단순화하기 위하여 정렬 데이터(ALGN_R1, ALGN_R0)를 생성하기 위한 D 플립플롭(444, 446)과 글로벌 데이터 버스(GIO_Q0)에 대응하는 GIO 라이트 드라이버(450)만을 도시하였으나, 도 1에 도시된 바와 같이 정렬 데이터(ALGN_R1)을 글로벌 데이터 버스(GIO_Q1)에 전달하기 위한 GIO 라이트 드라이버가 필요하며, 정렬 데이터(ALGN_F1, ALGN_F0)를 생성하기 위한 D 플립플롭들과 각각의 정렬 데이터(ALGN_F1, ALGN_F0)에 대응하는 GIO 라이트 드라이버들도 필요하다.In FIG. 4, only the D flip-
그리고, 정렬 홀드 신호 발생부(460)는, 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)의 2번째/4번째 펄스를 샘플링하기 위한 DSFP 2/4 선택부(462)와, DSFP 2/4 선택부(462)의 출력신호(DSFP2/4)를 셋 입력으로 하고 데이터 입력 클럭(DINCLK)을 리셋 입력으로 하는 RS 래치부(464)를 구비한다. RS 래치부(464)는 크로스 커플드 노어 게이트(NOR1, NOR2)로 쉽게 구현할 수 있다.The alignment
도 5는 도 4에 도시된 회로의 타이밍 다이어그램이다.5 is a timing diagram of the circuit shown in FIG.
도 5를 참조하면, 우선, 라이트 커맨드가 인가되면 메모리는 데이터 스트로브 신호(DQS)와 함께 데이터(DQ)를 받아들인다. 도면에서는 연속된 라이트 커맨드가 인가된 경우를 나타내고 있으며(BL=4), 'INT_WT'는 라이트 커맨드를 받아서 생 성된 내부 라이트 신호를 나타낸 것이다.Referring to FIG. 5, first, when a write command is applied, the memory receives the data DQ together with the data strobe signal DQS. The figure shows a case where a continuous write command is applied (BL = 4), and 'INT_WT' shows an internal write signal generated by receiving a write command.
한편, DSFP 발생부(420)는 데이터 스트로브 신호(DQS)의 폴링 에지마다 논리레벨 하이로 활성화되는 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)를 생성한다.The
또한, 정렬 홀드 신호 발생부(460)에서는 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)의 2번째/4번째 펄스의 라이징 에지를 받아 셋되고, 데이터 입력 클럭(DINCLK)의 라이징 에지를 받아 리셋되는 정렬 홀드 신호(ALGN_HOLD)를 출력한다.In addition, the alignment
한편, 데이터 정렬부(440)에서는 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)의 라이징 에지에 맞춰 정렬 데이터 ALGN_R0, ALGN_R1, ALGN_F0, ALGN_F1를 출력하는데, 단 정렬 홀드 신호(ALGN_HOLD)가 논리레벨 로우인 구간에서는 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)를 마스킹하여 그 구간 동안은 새로운 정렬 동작이 수행되지 않고 정렬 데이터가 유지되도록 한다.On the other hand, the
그리고, 데이터(DQ)의 입력이 완료되어 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)와 데이터 스트로브 종료신호(DIS_DSP)가 모두 논리레벨 하이가 되면, DQS 버퍼 디스에이블 신호 발생부(430)는 DQS 버퍼 디스에이블 신호(DISABLE_DQS)를 논리레벨 로우로 천이시키고, 이에 따라 DQS 입력 버퍼(410)가 디스에이블되어 데이터 스트로브 신호(DQS)를 더 이상 받아들이지 않도록 한다.When the input of the data DQ is completed and both the data strobe polling pulse DSFP and the data strobe end signal DIS_DSP are at the logic level high, the DQS buffer disable
한편, 정렬 데이터 ALGN_R0, ALGN_R1, ALGN_F0, ALGN_F1는 데이터 입력 클럭(DINCLK)에 동기되어 각각의 GIO 라이트 드라이버에 의해 글로벌 데이터 버스(GIO_Q0, GIO_Q1, GIO_Q2, GIO_Q3)로 전달된다.On the other hand, the alignment data ALGN_R0, ALGN_R1, ALGN_F0, and ALGN_F1 are transferred to the global data buses GIO_Q0, GIO_Q1, GIO_Q2, and GIO_Q3 by respective GIO write drivers in synchronization with the data input clock DINCLK.
이와 같이 동작하는 경우, 라이트 포스트앰블 링잉이 발생하여 데이터 스트 로브 폴링 펄스(DSFP)에 글리치가 발생하더라도, 글리치가 발생하는 구간에서는 정렬 홀드 신호(ALGN_HOLD)가 논리레벨 로우를 유지하여 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)를 차단하기 때문에 글리치에 의해 불법적인 데이터 정렬이 수행되는 것을 방지할 수 있다. 즉, 라이트 포스트앰블 링잉에 의한 데이터 오류를 방지할 수 있다.In this operation, even when the write postamble ringing occurs and the glitch occurs in the data strobe polling pulse (DSFP), the alignment hold signal ALGN_HOLD is kept at the logic level low so that the data strobe polling pulse occurs during the glitch period. Blocking (DSFP) prevents illegal collation by glitch. In other words, data errors due to write postamble can be prevented.
본 발명의 기술 사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술 분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 실시예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.Although the technical idea of the present invention has been described in detail according to the above preferred embodiment, it should be noted that the above-described embodiment is for the purpose of description and not of limitation. In addition, those skilled in the art will understand that various embodiments are possible within the scope of the technical idea of the present invention.
예컨대, 전술한 실시예에서는 연속된 라이트 커맨드에 의해 갭 없이 8개의 데이터가 입력되는 경우(BL=4)를 일례로 들어 설명하였으나, 라이트 커맨드가 단독으로 인가되는 경우를 포함하여 데이터 스트로브 신호(DQS)의 포스트앰블에서 링잉이 발생하는 모든 경우에 적용할 수 있다.For example, in the above-described embodiment, the case where 8 data is inputted without a gap by a continuous write command (BL = 4) is described as an example. However, the data strobe signal DQS is included, including the case where the write command is applied alone. This can be applied to all cases where ringing occurs in the postamble of.
또한, 전술한 실시예에서는 정렬 홀드 신호 발생부에서 데이터 스트로브 폴링 펄스(DSFP)의 1번째/3번째 펄스를 바이패스시키고 2번째/4번째 펄스를 통과시키는 경우를 일례로 들어 설명하였으나, 버스트 길이(BL)가 달라지면 샘플링 방식에 변경이 필요하다.In addition, in the above-described embodiment, the case in which the alignment hold signal generator bypasses the 1st / 3rd pulse of the data strobe polling pulse (DSFP) and passes the 2nd / 4th pulse is described as an example. If (BL) is different, the sampling method needs to be changed.
도 1은 종래기술에 따른 동기식 반도체 메모리 소자의 라이트 경로를 나타낸 회로도이다.1 is a circuit diagram illustrating a write path of a synchronous semiconductor memory device according to the prior art.
도 2는 도 1에 도시된 회로의 타이밍 다이어그램이다.FIG. 2 is a timing diagram of the circuit shown in FIG. 1.
도 3은 라이트 포스트앰블 링잉이 발생한 경우의 도 1에 도시된 회로의 타이밍 다이어그램이다.3 is a timing diagram of the circuit shown in FIG. 1 in the case where write postamble ringing occurs.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 동기식 반도체 메모리 소자의 라이트 경로를 나타낸 회로도이다.4 is a circuit diagram illustrating a write path of a synchronous semiconductor memory device according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 5는 도 4에 도시된 회로의 타이밍 다이어그램이다.5 is a timing diagram of the circuit shown in FIG.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings
430: DQS 버퍼 디스에이블 신호 발생부430: DQS buffer disable signal generator
440: 데이터 정렬부440: data alignment unit
460: 정렬 홀드 신호 발생부460: alignment hold signal generator
Claims (11)
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US12/164,637 US7715252B2 (en) | 2007-09-28 | 2008-06-30 | Synchronous semiconductor memory device and method for driving the same |
TW097125819A TWI382416B (en) | 2007-09-28 | 2008-07-09 | Synchronous semiconductor memory device |
CN200810211450XA CN101399078B (en) | 2007-09-28 | 2008-09-22 | Synchronous semiconductor memory device |
JP2008244682A JP5153540B2 (en) | 2007-09-28 | 2008-09-24 | Synchronous semiconductor memory device and driving method thereof |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR20070098224 | 2007-09-28 | ||
KR1020070098224 | 2007-09-28 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090032925A KR20090032925A (en) | 2009-04-01 |
KR100929845B1 true KR100929845B1 (en) | 2009-12-04 |
Family
ID=40517555
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080040929A KR100929845B1 (en) | 2007-09-28 | 2008-04-30 | Synchronous semiconductor memory device and driving method thereof |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100929845B1 (en) |
CN (1) | CN101399078B (en) |
TW (1) | TWI382416B (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8259519B2 (en) | 2010-08-27 | 2012-09-04 | Hynix Semiconductor Inc. | Synchronous semiconductor memory device |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104834476B (en) * | 2014-02-10 | 2016-10-19 | 安华高科技通用Ip(新加坡)公司 | The system and method for data alignment based on section end mark |
KR102495361B1 (en) * | 2018-03-14 | 2023-02-06 | 에스케이하이닉스 주식회사 | Input output circuit |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000156083A (en) * | 1998-11-19 | 2000-06-06 | Fujitsu Ltd | Semiconductor device |
KR20040093858A (en) * | 2003-04-30 | 2004-11-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | Synchronous memory device for preventing error operation by dqs ripple |
KR20050001912A (en) * | 2003-06-28 | 2005-01-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | A method for masking the ringing in DDR SDRAM |
KR20050011984A (en) * | 2003-07-24 | 2005-01-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | Synchronous memory device for deleting glitch of data align signal |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100522426B1 (en) * | 2003-04-29 | 2005-10-20 | 주식회사 하이닉스반도체 | Write data aligning circuit in semiconductor memory device |
US7287143B2 (en) * | 2003-04-30 | 2007-10-23 | Hynix Semiconductor Inc. | Synchronous memory device having advanced data align circuit |
KR100521049B1 (en) * | 2003-12-30 | 2005-10-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | Write circuit of the Double Data Rate Synchronous DRAM |
US7120084B2 (en) * | 2004-06-14 | 2006-10-10 | Marvell International Ltd. | Integrated memory controller |
KR100574989B1 (en) * | 2004-11-04 | 2006-05-02 | 삼성전자주식회사 | Memory device for improving efficiency of data strobe bus line and memory system including the same, and data strobe signal control method thereof |
KR100670654B1 (en) * | 2005-06-30 | 2007-01-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | Semiconductor memory device to increase domain crossing margin |
US7688925B2 (en) * | 2005-08-01 | 2010-03-30 | Ati Technologies, Inc. | Bit-deskewing IO method and system |
US7587640B2 (en) * | 2005-09-27 | 2009-09-08 | Agere Systems Inc. | Method and apparatus for monitoring and compensating for skew on a high speed parallel bus |
-
2008
- 2008-04-30 KR KR1020080040929A patent/KR100929845B1/en active IP Right Grant
- 2008-07-09 TW TW097125819A patent/TWI382416B/en not_active IP Right Cessation
- 2008-09-22 CN CN200810211450XA patent/CN101399078B/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000156083A (en) * | 1998-11-19 | 2000-06-06 | Fujitsu Ltd | Semiconductor device |
KR20040093858A (en) * | 2003-04-30 | 2004-11-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | Synchronous memory device for preventing error operation by dqs ripple |
KR20050001912A (en) * | 2003-06-28 | 2005-01-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | A method for masking the ringing in DDR SDRAM |
KR20050011984A (en) * | 2003-07-24 | 2005-01-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | Synchronous memory device for deleting glitch of data align signal |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8259519B2 (en) | 2010-08-27 | 2012-09-04 | Hynix Semiconductor Inc. | Synchronous semiconductor memory device |
KR101187640B1 (en) | 2010-08-27 | 2012-10-05 | 에스케이하이닉스 주식회사 | Synchronous semiconductor memory device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101399078B (en) | 2012-11-07 |
TWI382416B (en) | 2013-01-11 |
TW200915320A (en) | 2009-04-01 |
KR20090032925A (en) | 2009-04-01 |
CN101399078A (en) | 2009-04-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8867302B2 (en) | Data input circuit | |
US8477543B2 (en) | Data input circuit with a valid strobe signal generation circuit | |
US8023339B2 (en) | Pipe latch circuit and semiconductor memory device using the same | |
JP5153540B2 (en) | Synchronous semiconductor memory device and driving method thereof | |
JP2006190433A (en) | Circuit for generating data strobe signal of semiconductor memory device | |
KR101187640B1 (en) | Synchronous semiconductor memory device | |
US7173864B2 (en) | Data latch circuit and semiconductor device using the same | |
KR100956772B1 (en) | Device Preventing Ringing Noise | |
KR100929845B1 (en) | Synchronous semiconductor memory device and driving method thereof | |
KR100831677B1 (en) | Counter control signal generating circuit | |
US20150155019A1 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
KR20110133308A (en) | Semiconductor memory device and integrated circuit | |
KR100798739B1 (en) | Semiconductor memory device and the driving method thereof | |
KR100318434B1 (en) | A control signal generator for data strobe buffer in ddr sdram | |
KR100951657B1 (en) | Data Strobe Buffer Circuit And Data Input Buffer Device Using The Same | |
KR20080001977A (en) | Circuit for outputting data in semiconductor memory apparatus | |
US7263025B2 (en) | Semiconductor memory device for stably controlling power mode at high frequency and method of controlling power mode thereof | |
KR100633334B1 (en) | Method and device for controlling write scheme of DDR SDRAM | |
KR101096246B1 (en) | Data transmission circuit | |
KR100321182B1 (en) | Counter circuit for data prefetch | |
KR20060027057A (en) | Semiconductor device with good latch margin characteristic for transmitted data | |
KR20000073441A (en) | Global data bus latch | |
KR20090103497A (en) | Data Input Buffer | |
KR20080047027A (en) | Semiconductor memory device and method for driving the same | |
KR20120005349A (en) | Data strobe signal input circuit |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121022 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131023 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141021 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151020 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161024 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171025 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181022 Year of fee payment: 10 |