KR100925517B1 - System for testing embedded device and method therefor - Google Patents

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Abstract

본 발명은 임베디드 디바이스 테스트 시스템 및 그 방법에 관한 것으로서, 호스트(Host) 단말기와 임베디드 디바이스 간의 데이터 통신으로 임베디드 디바이스를 테스트하는 임베디드 디바이스 테스트 시스템 및 그 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an embedded device test system and a method thereof, and more particularly to an embedded device test system and method for testing an embedded device by data communication between a host terminal and an embedded device.

본 발명은 테스트 제어명령들을 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷으로 변환시켜 테스트 대상에 전송하는 호스트 단말기; 및 호스트 단말기로부터 수신한 데이터 패킷을 분석하여 해당 제어명령에 따라 테스트를 하고, 테스트한 결과를 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷으로 변환시켜 호스트 단말기로 전송하는 임베디드 디바이스;를 포함한다.The present invention includes a host terminal for converting test control commands into data packets according to a test protocol and transmitting the test control commands to a test target; And an embedded device that analyzes the data packet received from the host terminal, performs a test according to the control command, converts the test result into a data packet according to the test protocol, and transmits the result to the host terminal.

상기와 같은 본 발명은 다양한 종류의 임베디드 디바이스에 대한 시험 자동화를 수행하는 경우, 임베디드 디바이스에 본 데이터 전송 프로토콜이 적용되어 있으면 호스트 단말기에서 한가지 종류의 테스팅 도구를 이용하여 모든 종류의 임베디드 디바이스에 대한 시험을 실시할 수 있는 효과가 있다.As described above, when the test automation is performed on various types of embedded devices, when the data transmission protocol is applied to the embedded devices, tests on all types of embedded devices using one type of testing tool in the host terminal are performed. There is an effect that can be carried out.

임베디드 디바이스, 테스트, 프로토콜, 인터페이스 Embedded Devices, Tests, Protocols, and Interfaces

Description

임베디드 디바이스 테스트 시스템 및 그 방법{System for testing embedded device and method therefor}System for testing embedded device and method therefor}

본 발명은 임베디드 디바이스 테스트 시스템 및 그 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 호스트(Host) 장치와 임베디드 디바이스 간의 데이터 통신으로 임베디드 디바이스를 테스트하는 임베디드 디바이스 테스트 시스템 및 그 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an embedded device test system and a method thereof, and more particularly, to an embedded device test system and method for testing an embedded device by data communication between a host device and an embedded device.

최근들어 휴대폰, PDA, PMP, 네비게이터, 셋탑박스 등 임베디드 시스템의 구성이 다양화됨에 따라 하나의 데이터 전송 방식으로 다양한 임베디드 시스템들과의 통신하고자 하는 요구 사항이 급속히 증가하고 있다.Recently, as the configuration of embedded systems such as mobile phones, PDAs, PMPs, navigators, and set-top boxes have been diversified, requirements for communicating with various embedded systems through a single data transmission method are rapidly increasing.

퀄컴(Qualcomm)칩을 사용하는 CDMA 휴대폰의 경우에는 퀄컴사에서 정의한 DM(Diagnostic Monitor)프로토콜을 이용하여 PC 등과 데이터를 주고 받을 수 있으나 다른 칩을 이용하는 GSM 휴대폰의 경우에는 다른 프로토콜을 정의해서 사용한다. 마이크로소프트사의 윈도우즈 모바일(Windows Mobile)을 탑재한 스마트폰, PDA 등은 ActiveSync 기반으로 PC와 통신할 수는 있지만 어플리케이션들끼리 주고 받는 데이터에 대한 프로토콜은 각 어플리케이션마다 별도로 정의되고 개발되어야 한다.In case of CDMA mobile phone using Qualcomm chip, data can be exchanged with PC etc. using DM (Diagnostic Monitor) protocol defined by Qualcomm, but in case of GSM mobile phone using other chip, use different protocol. . Smartphones and PDAs with Microsoft's Windows Mobile can communicate with PCs based on ActiveSync, but protocols for data exchange between applications must be defined and developed for each application separately.

종래, 임베디드 디바이스 테스트에 대한 기술은 대한민국 공개특허 제2003-0070420호 '임베디드 시스템의 디버깅 장치' 이외에 다수 출원 및 공개된 상태이다.Conventionally, the technology for the embedded device test has been published and published a number of applications other than the Republic of Korea Patent Publication No. 2003-0070420 'debugging device of the embedded system'.

상기 임베디드 시스템의 디버깅 장치는 다수의 태스크를 실행함과 아울러 소프트웨어 에이전트를 실행하여 태스크의 동작상태를 감지하여, 그 동작상태를 송출하고, 외부에서 전송된 제어신호에 응답하여 레지스터를 변경하는 프로세서와, 그 프로세서에서 검출된 동작상태를 외부로 전송하고, 외부의 제어신호를 수신하는 적외선 포트를 구비하는 임베디드 시스템과; 상기 임베디드 시스템과 적외선 통신이 가능하며, 사용자와 상기 임베디드 시스템의 소프트웨어 에이전트를 인터페이스하는 에이전트 모니터 소프트웨어를 구비하는 퍼스널 컴퓨터;를 포함한다.The debugging device of the embedded system executes a plurality of tasks, and also executes a software agent to detect an operation state of the task, send the operation state, and change a register in response to a control signal transmitted from the outside; An embedded system including an infrared port for transmitting an operation state detected by the processor to an external device and receiving an external control signal; And a personal computer capable of infrared communication with the embedded system and including agent monitor software for interfacing a user with a software agent of the embedded system.

그러나, 상기 종래기술은 퍼스털 컴퓨터와 특정한 임베디드 시스템이 데이터를 주고 받기 위해서는 임베디드 시스템의 하드웨어, 운영체제, 통신 프로토콜에 따라 각각 다른 데이터 전송 방식을 이용하여야 하는 문제점이 있었다.However, the conventional technology has a problem in that the personal computer and a specific embedded system must use different data transmission methods according to the hardware, operating system, and communication protocol of the embedded system.

본 발명의 목적은, 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, PC에서 다양한 하드웨어, 운영체제를 탑재한 다양한 종류의 임베디드 디바이스들과 동일한 방법으로 데이터를 주고받는 데이터 전송 방식으로 임베디드 디바이스를 테스트하는 임베디드 디바이스 테스트 시스템 및 그 방법을 제공함에 있다.An object of the present invention is to solve the above problems, an embedded device for testing the embedded device in a data transmission method of transmitting and receiving data in the same way as a variety of embedded devices equipped with a variety of hardware, operating system in a PC The present invention provides a test system and a method thereof.

또한, 본 발명의 다른 목적은, PC와 임베디드 디바이스 간의 물리적 연결 방법, 통신 프로토콜에 독립적인 데이터 전송 방식으로 임베디드 디바이스를 테스트하는 임베디드 디바이스 테스트 시스템 및 그 방법을 제공함에 있다.In addition, another object of the present invention is to provide an embedded device test system and method for testing an embedded device in a physical connection method between a PC and an embedded device, and a data transmission method independent of a communication protocol.

그리고, 본 발명의 또 다른 목적은, 임베디드 디바이스의 시험 자동화를 위해 필요한 정보를 포함하는 데이터 전송 방식으로 임베디드 디바이스를 테스트하는 임베디드 디바이스 테스트 시스템 및 그 방법을 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide an embedded device test system and method for testing an embedded device by a data transmission method including information necessary for test automation of an embedded device.

임베디드 디바이스 테스트 시스템에 있어서, 테스트 제어명령들을 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷으로 변환시켜 테스트 대상에 전송하는 호스트 단말기(100); 및 상기 호스트 단말기로부터 수신한 상기 데이터 패킷을 분석하여 해당 제어명령에 따라 테스트를 하고, 테스트한 결과를 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷으로 변환시켜 상기 호스트 단말기로 전송하는 임베디드 디바이스(200); 를 포함한다.An embedded device test system comprising: a host terminal (100) for converting test control commands into a data packet according to a test protocol and transmitting the test control commands to a test target; An embedded device (200) for analyzing the data packet received from the host terminal and performing a test according to a corresponding control command, converting the test result into a data packet according to a test protocol and transmitting the data packet to the host terminal; It includes.

한편, 임베디드 디바이스 테스트방법에 있어서, (a) 호스트 단말기의 제어부 가 입력부를 통해 임의의 데이터값 또는 제어명령을 수신하는 단계; (b) 상기 제어부가 테스트 라이브러리부로부터 테스트 프로토콜을 호스트 어플리케이션부로 로드시키는 단계; (c) 상기 제어부가 탐색부를 통해 테스트 대상 임베디드 디바이스를 탐색하여 연결하는 단계; (d) 상기 제어부가 탐색된 임베디드 디바이스의 테스트 프로토콜에 대한 지원여부를 탐색부를 통해 판단하는 단계; (e) 상기 제 (d) 단계의 판단결과, 탐색된 임베디드 디바이스가 테스트 프로토콜을 지원하는 경우, 제어부가 탐색된 임베디드 디바이스에 대한 테스트를 수행하는 단계; (f) 상기 제어부가 연결된 임베디드 디바이스를 연결해체시키는 단계; 및 (g) 상기 제어부가 테스트 라이브러리부로부터 테스트 프로토콜을 언로드시키는 단계;를 포함한다.On the other hand, the embedded device test method, comprising the steps of: (a) the control unit of the host terminal receives any data value or control command through the input unit; (b) the control unit loading a test protocol from a test library unit to a host application unit; (c) searching and connecting the test target embedded device through the search unit; (d) determining, by the searching unit, whether the control unit supports the test protocol of the found embedded device; (e) if the found embedded device supports the test protocol as a result of the determination in step (d), performing a test on the found embedded device by the controller; (f) disconnecting the embedded device to which the control unit is connected; And (g) the control unit unloading the test protocol from the test library unit.

상기와 같은 본 발명은 다양한 종류의 임베디드 디바이스에 대한 시험 자동화를 수행하는 경우, 임베디드 디바이스에 본 데이터 전송 프로토콜이 적용되어 있으면 호스트 단말기에서 한가지 종류의 테스팅 도구를 이용하여 모든 종류의 임베디드 디바이스에 대한 시험을 실시할 수 있는 효과가 있다.As described above, when the test automation is performed on various types of embedded devices, when the data transmission protocol is applied to the embedded devices, tests on all types of embedded devices using one type of testing tool in the host terminal are performed. There is an effect that can be carried out.

그리고, 본 발명은 임베디드 디바이스의 안정성을 향상시키고 개발기간을 단축시키는 효과가 있다.In addition, the present invention has the effect of improving the stability of the embedded device and shortening the development period.

본 발명의 특징 및 이점들은 첨부도면에 의거한 다음의 상세한 설명으로 더욱 명백해질 것이다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 발명자가 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적 절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야 할 것이다. 또한, 본 발명에 관련된 공지 기능 및 그 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는, 그 구체적인 설명을 생략하였음에 유의해야 할 것이다.The features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description based on the accompanying drawings. Prior to this, the terms or words used in the present specification and claims are based on the principle that the inventor can appropriately define the concept of the term in order to explain the invention in the best way. It should be interpreted as meanings and concepts corresponding to In addition, when it is determined that the detailed description of the known function and its configuration related to the present invention may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, it should be noted that the detailed description is omitted.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세하게 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail the present invention.

본 발명의 일실시예에 따른 임베디드 디바이스 테스트 시스템에 관하여 도 1을 참조하여 설명하면 다음과 같다.An embedded device test system according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 1 as follows.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 임베디드 디바이스 테스트 시스템에 관한 개략적인 블록도이다.1 is a schematic block diagram of an embedded device test system according to an exemplary embodiment of the present invention.

본 발명의 일실시예에 따른 임베디드 디바이스 테스트 시스템은 도 1에 도시된 바와 같이, 호스트(host) 단말기(100) 및 다수의 임베디드 디바이스(200)를 포함한다.Embedded device test system according to an embodiment of the present invention, as shown in Figure 1, includes a host (host) terminal 100 and a plurality of embedded devices 200.

호스트 단말기(100)는 임베디드 디바이스(200)를 테스트하기 위한 테스트 제어명령들을 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷으로 변환시켜 테스트 대상에 전송하여 테스트 결과를 수신하는 기능을 수행한다. 이러한 기능을 수행하기 위하여, 호스트(100)는 입력부(110), 호스트 어플리케이션부(120), 테스트 라이브러리부(130), 추상화부(140), 탐색부(150), 인터페이스부(160), 드라이버부(170), 출력부(180) 및 제어부(190)를 포함한다.The host terminal 100 converts test control commands for testing the embedded device 200 into data packets according to a test protocol, and transmits the test control commands to a test target to receive a test result. In order to perform this function, the host 100 may include an input unit 110, a host application unit 120, a test library unit 130, an abstraction unit 140, a search unit 150, an interface unit 160, and a driver. The unit 170, an output unit 180, and a controller 190 are included.

입력부(110)는 사용자로부터 임의의 데이터값 또는 테스트 제어명령을 수신하는 기능을 수행한다.The input unit 110 receives a data value or a test control command from a user.

또한 호스트 어플리케이션부(120)는 임베디드 디바이스에 대한 테스트를 요청하는 기능을 수행한다.In addition, the host application unit 120 performs a function of requesting a test for the embedded device.

본 발명의 일실시예에 따른 호스트 어플리케이션부(120)는 TestQuest Pro, SKT TIM과 같은 테스트 자동화 프로그램, 타겟 동작 로깅/분석 프로그램, 타겟 동작 모니터링 프로그램 등 다양한 형태의 프로그램을 포함한다.The host application unit 120 according to an embodiment of the present invention includes various types of programs, such as a test automation program such as TestQuest Pro and SKT TIM, a target motion logging / analysis program, and a target motion monitoring program.

또한 테스트 라이브러리부(130)는 테스트 프로토콜을 구현한 라이브러리 컴포넌트로서, 상기 호스트 어플리케이션부(120)에 표준화된 테스트 어플리케이션프로그램인터페이스(Application Programming Interface:Test API)를 제공한다.In addition, the test library unit 130 is a library component implementing the test protocol, and provides a standardized test application program interface (Application Programming Interface: Test API) to the host application unit 120.

본 발명의 실시예에 따른 테스트 프로토콜은 Serial, HDLC, TCP/IP, EMMI 등을 통합한 것으로, 표 1과 같은 테스트 제어명령(command)들을 포함하는 데이터 패킷으로 정의되고, 상기 테스트 제어명령들은 필요에 따라 확장될 수 있다.Test protocol according to an embodiment of the present invention is an integrated serial, HDLC, TCP / IP, EMMI, etc., is defined as a data packet including the test control commands (Table 1), the test control commands are required Can be extended according to.

또한 추상화부(140)는 상기 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷으로 변환시키고, 임베디드 디바이스(200)로부터 수신한 데이터 패킷을 분석하는 기능을 수행한다. 이러한 기능을 수행하는 추상화부(140)는 변환모듈(141) 및 분석모듈(142)을 포함한다.In addition, the abstraction unit 140 converts the data packet according to the test protocol and performs a function of analyzing the data packet received from the embedded device 200. The abstraction unit 140 performing such a function includes a conversion module 141 and an analysis module 142.

Figure 112007068079191-pat00001
Figure 112007068079191-pat00001

상기 추상화부(140)의 변환모듈(141)은 일관되고 동일한 응용프로그램인터페이스로(API)로 사용 가능하도록 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷으로 변환시키고, 상기 추상화부(140)의 분석모듈(142)는 임베디드 디바이스(200)로부터 수신한 데이터 패킷을 분석한다.The conversion module 141 of the abstraction unit 140 converts the data packet according to the test protocol to be used as a consistent and identical application program interface (API), and the analysis module 142 of the abstraction unit 140 The data packet received from the embedded device 200 is analyzed.

또한 탐색부(150)는 테스트 대상인 임베디드 디바이스를 탐색하고, 상기 테스트 대상 임베디드 디바이스에 대한 테스트 프로토콜의 지원여부를 판단하는 기능을 수행한다.In addition, the searcher 150 searches for the embedded device to be tested and determines whether the test protocol is supported for the embedded device under test.

또한 인터페이스부(160)는 임베디드 디바이스(200)와 각종 개별 네트워크 전송 프로토콜의 실제 송수신을 처리하는 기능을 수행한다. 본 실시예에서 상기 각종 개별 네트워크 전송 프로토콜은 TCP/IP, UDP, OBEX, Serial Communication 등을 말한다. In addition, the interface unit 160 performs a function of processing actual transmission and reception of the embedded device 200 and various individual network transmission protocols. In the present embodiment, the various network transmission protocols refer to TCP / IP, UDP, OBEX, Serial Communication, and the like.

또한 드라이버부(170)는 임베디드 디바이스(200)와 물리적인 링크(link)를 제공하는 기능을 수행한다. 본 실시예에 따른 드라이버부(170)는 Ethernet, USB, RS-232C, Bluetooth, Wireless Network Connection 등을 포함한다.In addition, the driver unit 170 performs a function of providing a physical link with the embedded device 200. The driver unit 170 according to the present embodiment includes Ethernet, USB, RS-232C, Bluetooth, Wireless Network Connection, and the like.

또한 출력부(180)는 임베디드 디바이스(200)를 테스트한 결과를 출력하는 기능을 수행한다.In addition, the output unit 180 performs a function of outputting a test result of the embedded device 200.

그리고 제어부(190)는 상술한 입력부(110), 호스트 어플리케이션부(120), 테스트 라이브러리부(130), 추상화부(140), 탐색부(150), 인터페이스부(160), 드라이버부(170) 및 출력부(180)를 제어하는 기능을 수행한다.The controller 190 may include the input unit 110, the host application unit 120, the test library unit 130, the abstraction unit 140, the search unit 150, the interface unit 160, and the driver unit 170. And a function of controlling the output unit 180.

그리고, 임베디드 디바이스(200)는 호스트 단말기(100)로부터 수신한 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷을 분석하여 해당 제어명령에 따라 테스트를 하고, 테스트한 결과를 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷으로 변환시켜 호스트 단말기(100)로 전송하는 기능을 수행한다. 이러한 기능을 수행하기 위하여, 임베디드 디바이스(200)는 타겟 테스트부(210), 타겟 추상화부(220), 타겟 인터페이스부(230), 타겟 드라이버부(240) 및 타겟 제어부(250)를 포함한다.The embedded device 200 analyzes the data packet according to the test protocol received from the host terminal 100, performs a test according to the corresponding control command, and converts the test result into a data packet according to the test protocol. 100). In order to perform such a function, the embedded device 200 includes a target test unit 210, a target abstraction unit 220, a target interface unit 230, a target driver unit 240, and a target control unit 250.

타겟 테스트부(210)는 호스트 단말기(100)로부터 전달되는 테스트 요청을 처리하는 기능을 수행한다.The target test unit 210 performs a function of processing a test request transmitted from the host terminal 100.

또한 타겟 추상화부(220)는 호스트 단말기(100)로부터 수신하는 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷을 분석하고, 상기 타겟 테스트부(210)에서 처리한 테스트 결과를 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷으로 변환시키는 기능을 수행한다.In addition, the target abstraction unit 220 analyzes the data packet according to the test protocol received from the host terminal 100 and converts the test result processed by the target test unit 210 into a data packet according to the test protocol. Perform.

또한 타겟 인터페이스부(230)는 호스트 단말기(100)와 네트워크 전송 프로토콜의 송수신을 처리하는 기능을 수행한다.In addition, the target interface unit 230 performs a function of processing transmission and reception of the network transmission protocol with the host terminal 100.

또한 타겟 드라이버부(240)는 호스트 단말기(100)와 물리적인 링크를 제공하는 기능을 수행한다.In addition, the target driver 240 performs a function of providing a physical link with the host terminal 100.

그리고 타겟 제어부(250)는 상기 타겟 테스트부(210), 타겟 추상화부(220), 타겟 인터페이스부(230) 및 타겟 드라이버부(240)를 제어하는 기능을 수행한다.The target controller 250 controls the target test unit 210, the target abstraction unit 220, the target interface unit 230, and the target driver unit 240.

한편, 상술한 구성으로 이루어진 임베디드 디바이스 테스트 시스템을 이용한 방법(이하, '임베디드 디바이스 테스트방법')에 관한 전체적인 흐름을 도 2를 참조하여 설명하면 다음과 같다.Meanwhile, the overall flow of the method (hereinafter, the embedded device test method) using the embedded device test system having the above-described configuration will be described with reference to FIG. 2.

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 임베디드 디바이스 테스트방법의 전체흐름도이다.2 is an overall flowchart of an embedded device test method according to an exemplary embodiment of the present invention.

먼저, 도 2에 도시된 바와 같이, 호스트 단말기(100)의 제어부(190)는 입력부를 통해 임의의 데이터값 또는 제어명령을 수신한다(S2).First, as shown in FIG. 2, the controller 190 of the host terminal 100 receives an arbitrary data value or a control command through the input unit (S2).

다음으로, 제어부(190)는 테스트 라이브러리부(130)로부터 테스트 프로토콜을 호스트 어플리케이션부(120)로 로드시킨다(S4).Next, the controller 190 loads the test protocol from the test library unit 130 to the host application unit 120 (S4).

다음으로, 제어부(190)는 탐색부(150)를 통해 테스트 대상인 임베디드 디바이스(200)를 탐색하여 연결한다(S6).Next, the controller 190 searches for and connects the embedded device 200 to be tested through the searcher 150 (S6).

다음으로, 제어부(190)는 탐색된 임베디드 디바이스(200)를 탐색부(150)를 통해 테스트 프로토콜의 지원여부를 판단한다(S8).Next, the controller 190 determines whether the test protocol is supported by the searcher 150 through the searched embedded device 200 (S8).

다음으로, 제 S8 단계의 판단결과, 탐색된 임베디드 디바이스(200)가 테스트 프로토콜을 지원하는 경우, 제어부(190)는 탐색된 임베디드 디바이스(200)에 대한 테스트를 수행한다(S10).Next, as a result of the determination of step S8, when the found embedded device 200 supports the test protocol, the controller 190 performs a test on the found embedded device 200 (S10).

다음으로, 제어부(190)는 연결된 임베디드 디바이스(200)를 연결해제시킨다(S12).Next, the controller 190 disconnects the connected embedded device 200 (S12).

다음으로, 제어부(190)는 테스트 라이브러리부(130)로부터 테스트 프로토콜을 언로드시킨다(S14).Next, the controller 190 unloads the test protocol from the test library unit 130 (S14).

그리고, 제 S8 단계의 판단결과, 탐색된 임베디드 디바이스(200)가 테스트 프로토콜을 지원하지 아니한 경우, 제 S12 단계로 절차를 이행한다.As a result of the determination of step S8, when the found embedded device 200 does not support the test protocol, the procedure proceeds to step S12.

이하, 본 발명의 일실시예에 따른 임베디드 디바이스 테스트 수행에 대한 상세한 흐름을 도 3을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a detailed flow of performing an embedded device test according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 3.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 임베디드 디바이스 테스트 수행에 대한 상세한 흐름도이다.3 is a detailed flowchart of performing an embedded device test according to an embodiment of the present invention.

도 3에 도시된 바와 같이, 호스트 단말기(100)의 제어부(190)는 테스트 라이브러리부(130)를 통해 호스트 어플리케이션부(120)로 테스트 어플리케이션프로그램인터페이스(Test API)를 호출한다(S22).As shown in FIG. 3, the control unit 190 of the host terminal 100 calls a test application program interface (Test API) to the host application unit 120 through the test library unit 130 (S22).

다음으로, 제어부(190)는 추상화부(140)의 변환모듈(141)을 통해 테스트 제어명령을 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷으로 변환시킨다(S24).Next, the control unit 190 converts the test control command into a data packet according to the test protocol through the conversion module 141 of the abstraction unit 140 (S24).

다음으로, 제어부(190)는 상기 데이터 패킷을 인터페이스부(160)로부터 드라이버부(170)를 통해 임베디드 디바이스(200)와 통신한다(S26).Next, the controller 190 communicates the data packet with the embedded device 200 through the driver unit 170 from the interface unit 160 (S26).

다음으로, 제어부(190)는 추상화부(140)의 분석모듈(142)을 통해 임베디드 디바이스(200)로부터 수신한 데이터 패킷을 분석한다(S28).Next, the controller 190 analyzes the data packet received from the embedded device 200 through the analysis module 142 of the abstraction unit 140 (S28).

그리고, 제어부(190)는 분석된 데이터 패킷에 대한 테스트 결과를 출력부(180)를 통해 출력한다(S30).The controller 190 outputs the test result for the analyzed data packet through the output unit 180 (S30).

이하, 본 발명의 일실시예에 따른 호스트 단말기 및 임베디드 디바이스의 통신에 대한 상세한 흐름을 도 4를 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a detailed flow of communication between a host terminal and an embedded device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 4.

도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 호스트 단말기 및 임베디드 디바이스의 통신에 대한 상세한 흐름도이다.4 is a detailed flowchart of communication of a host terminal and an embedded device according to an embodiment of the present invention.

도 4에 도시된 바와 같이, 호스트 단말기(100)의 제어부(190)는 추상화부(140)로부터 변환된 데이터 패킷을 인터페이스부(160)로 전송한다(S32).As shown in FIG. 4, the control unit 190 of the host terminal 100 transmits the data packet converted from the abstraction unit 140 to the interface unit 160 (S32).

다음으로, 제어부(190)는 인터페이스부(160)로부터 드라이버부(170)를 통해 변환된 데이터 패킷을 임베디드 디바이스(200)로 전송하여 테스트 동작을 하도록 한다(S34).Next, the controller 190 transmits the data packet converted from the interface unit 160 through the driver unit 170 to the embedded device 200 to perform a test operation (S34).

다음으로, 제어부(190)는 임베디드 디바이스(200)의 테스트 동작에 대한 결과에 따른 데이터 패킷을 드라이버부(170)로부터 인터페이스부(160)를 통해 수신한다(S36).Next, the controller 190 receives a data packet according to the result of the test operation of the embedded device 200 from the driver unit 170 through the interface unit 160 (S36).

그리고, 제어부(190)는 테스트 동작에 대한 결과에 따른 데이터 패킷을 추상화부(140)로 전송한다(S38).The controller 190 transmits the data packet according to the result of the test operation to the abstraction unit 140 (S38).

이하, 본 발명의 일실시예에 따른 임베디드 디바이스의 테스트 동작에 대한 상세한 흐름을 도 5를 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a detailed flow of a test operation of an embedded device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 5.

도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 임베디드 디바이스의 테스트 동작에 대한 상세한 흐름도이다.5 is a detailed flowchart of a test operation of an embedded device according to an exemplary embodiment of the present disclosure.

도 5에 도시된 바와 같이, 임베디드 디바이스(200)의 타겟 제어부(250)는 호스트 단말기(100)의 드라이버부(170)로부터 타겟 드라이버부(240)를 통해 타겟 인터페이스부(230)로 데이터 패킷을 수신한다(S42).As shown in FIG. 5, the target controller 250 of the embedded device 200 transmits a data packet from the driver unit 170 of the host terminal 100 to the target interface unit 230 through the target driver unit 240. Receive (S42).

다음으로, 타겟 제어부(250)는 타겟 추상화부(220)를 통해 데이터 패킷을 분석한다(S44).Next, the target controller 250 analyzes the data packet through the target abstraction unit 220 (S44).

다음으로, 타겟 제어부(250)는 제 S44 단계의 분석결과, 테스트 프로토콜에서 정의하는 데이터 패킷인지를 판단한다(S46).Next, the target controller 250 determines whether the data packet is defined by the test protocol as a result of the analysis in step S44 (S46).

다음으로, 타겟 제어부(250)는 제 S46 단계의 판단결과, 테스트 프로토콜에서 정의하는 데이터 패킷인 경우, 타겟 테스트부(210)를 통해 데이터 패킷의 해당 테스트 제어명령에 따라 테스트한다(S48).Next, when the target controller 250 determines that the data packet is defined in the test protocol in operation S46, the target controller 250 tests the target control unit 210 according to the corresponding test control command of the data packet (S48).

다음으로, 타겟 제어부(250)는 타겟 테스트부(210)의 테스트 결과를 타겟 추상화부(220)를 통해 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷으로 변환시킨다(S50).Next, the target control unit 250 converts the test result of the target test unit 210 into a data packet according to the test protocol through the target abstraction unit 220 (S50).

그리고, 타겟 제어부(250)는 타겟 인터페이스부(230)로부터 타겟 드라이버부(240)를 통해 테스트 결과에 대한 데이터 패킷을 호스트 단말기(100)로 전송한다(S52).The target controller 250 transmits a data packet for a test result from the target interface unit 230 to the host terminal 100 through the target driver 240 (S52).

이상으로 본 발명의 기술적 사상을 예기하기 위한 바람직한 실시예와 관련하여 설명하고 도시하였지만, 본 발명은 이와 같이 도시되고 설명된 그대로의 구성 및 작용에만 국한되는 것이 아니며, 기술적 사상의 범주를 일탈함이 없이 본 발명에 대해 다수의 변경 및 수정이 가능함을 당업자들은 잘 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 그러한 모든 적절한 변경 및 수정과 균등물들도 본 발명의 범위에 속하는 것으로 간주되어야 할 것이다.As described above and described with reference to a preferred embodiment for anticipating the technical idea of the present invention, the present invention is not limited to the configuration and operation as shown and described as described above, it is a deviation from the scope of the technical idea It will be understood by those skilled in the art that many modifications and variations can be made to the invention without departing from the scope of the invention. Accordingly, all such suitable changes and modifications and equivalents should be considered to be within the scope of the present invention.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 임베디드 디바이스 테스트 시스템에 관한 개략적인 블록도.1 is a schematic block diagram of an embedded device test system according to an embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 임베디드 디바이스 테스트방법의 전체흐름도.2 is an overall flow chart of an embedded device test method according to an embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 임베디드 디바이스 테스트 수행에 대한 상세한 흐름도.3 is a detailed flowchart of performing an embedded device test according to an embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 호스트 단말기 및 임베디드 디바이스의 통신에 대한 상세한 흐름도.4 is a detailed flowchart of communication of a host terminal and an embedded device according to an embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 임베디드 디바이스의 테스트 동작에 대한 상세한 흐름도.5 is a detailed flowchart of a test operation of an embedded device according to an embodiment of the present invention.

<도면부호에 대한 설명><Description of Drawing>

100 : 호스트 단말기 110 : 입력부100: host terminal 110: input unit

120 : 호스트 어플리케이션부 130 : 테스트 라이브러리부120: host application unit 130: test library unit

140 : 추상화부 141 : 변환모듈140: abstraction unit 141: conversion module

142 : 분석모듈 150 : 탐색부142: analysis module 150: search unit

160 : 인터페이스부 170 : 드라이버부160: interface unit 170: driver unit

180 : 출력부 190 : 제어부180: output unit 190: control unit

200 : 임베디드 디바이스 210 : 타겟 테스트부200: embedded device 210: target test unit

220 : 타겟 추상화부 230 : 타겟 인터페이스부220: target abstraction unit 230: target interface unit

240 : 타겟 드라이버부 250 : 타겟 제어부240: target driver 250: target controller

Claims (11)

임베디드 디바이스 테스트 시스템에 있어서,In an embedded device test system, 테스트 제어명령들을 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷으로 변환시켜 테스트 대상에 전송하는 호스트 단말기(100); 및A host terminal 100 converting the test control commands into a data packet according to the test protocol and transmitting the test control commands to the test target; And 상기 호스트 단말기로부터 수신한 상기 데이터 패킷을 분석하여 해당 제어명령에 따라 테스트를 하고, 테스트한 결과를 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷으로 변환시켜 상기 호스트 단말기로 전송하는 임베디드 디바이스(200); 를 포함하되,An embedded device (200) for analyzing the data packet received from the host terminal and performing a test according to a corresponding control command, converting the test result into a data packet according to a test protocol and transmitting the test result to the host terminal; Including but not limited to: 상기 호스트 단말기(100)는,The host terminal 100, 임의의 데이터값 또는 테스트 제어명령을 수신하는 입력부(110);An input unit 110 for receiving an arbitrary data value or a test control command; 상기 임베디드 디바이스(200)에 대한 테스트를 요청하는 호스트 어플리케이션부(120);A host application unit 120 for requesting a test for the embedded device 200; 테스트 프로토콜을 구현하여, 상기 호스트 어플리케이션부에 표준화된 테스트 어플리케이션프로그램인터페이스를 제공하는 테스트 라이브러리부(130);A test library unit 130 that implements a test protocol and provides a standardized test application program interface to the host application unit; 상기 테스트 제어명령을 데이터 패킷으로 변환시키고, 상기 임베디드 디바이스로부터 수신한 데이터 패킷을 분석하는 추상화부(140);An abstraction unit 140 converting the test control command into a data packet and analyzing a data packet received from the embedded device; 상기 임베디드 디바이스와 송수신을 처리하는 인터페이스부(160);An interface unit 160 which processes transmission and reception with the embedded device; 상기 인터페이스부와 연결되어 임베디드 디바이스와 물리적인 링크를 제공하는 드라이버부(170); 및A driver unit 170 connected to the interface unit to provide a physical link with an embedded device; And 상기 입력부, 호스트 어플리케이션부, 테스트 라이브러리부, 추상화부, 인터페이스부 및 드라이버부를 제어하는 제어부(190); 를 포함하는 것을 특징으로 하는 임베디드 디바이스 테스트 시스템.A controller 190 for controlling the input unit, the host application unit, the test library unit, the abstraction unit, the interface unit, and the driver unit; Embedded device test system comprising a. 삭제delete 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 호스트 단말기(100)는,The host terminal 100, 상기 임베디드 디바이스를 탐색하여 연결하고, 탐색된 임베디드 디바이스에 대한 테스트 프로토콜의 지원여부를 판단하는 탐색부(150); A search unit 150 for searching and connecting the embedded device and determining whether a test protocol is supported for the found embedded device; 상기 임베디드 디바이스를 테스트한 결과를 출력하는 출력부(180); 및An output unit 180 for outputting a test result of the embedded device; And 상기 탐색부 및 출력부를 제어하는 제어부(190); 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 임베디드 디바이스 테스트 시스템.A controller 190 for controlling the search unit and the output unit; Embedded device test system, characterized in that it further comprises. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 임베디드 디바이스(200)는,The embedded device 200, 상기 호스트 단말기(100)로부터 전달되는 테스트 요청을 처리하는 타겟 테스트부(210);A target test unit 210 for processing a test request transmitted from the host terminal 100; 상기 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷을 분석하고, 상기 타겟 테스트부에서 처리한 테스트 결과를 상기 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷으로 변환시 키는 타겟 추상화부(220);A target abstraction unit 220 for analyzing a data packet according to the test protocol and converting a test result processed by the target test unit into a data packet according to the test protocol; 상기 호스트 단말기와 송수신을 처리하는 타겟 인터페이스부(230);A target interface unit 230 for transmitting and receiving with the host terminal; 상기 호스트 단말기와 물리적인 링크를 제공하는 타겟 드라이버부(240); 및A target driver unit 240 for providing a physical link with the host terminal; And 상기 타겟 테스트부, 타겟 추상화부, 타겟 인터페이스부 및 타겟 드라이버부를 제어하는 타겟 제어부(250); 를 포함하는 것을 특징으로 하는 임베디드 디바이스 테스트 시스템.A target controller 250 for controlling the target test unit, the target abstraction unit, the target interface unit, and the target driver unit; Embedded device test system comprising a. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 테스트 프로토콜은,The test protocol, 테스트 제어명령들을 포함하는 데이터 패킷으로 정의되는 것을 특징으로 하는 임베디드 디바이스 테스트 시스템.Embedded device test system characterized in that it is defined as a data packet containing test control instructions. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 추상화부(140)는,The abstraction unit 140, 테스트 프로토콜에 따라 데이터 패킷으로 변환시키는 변환모듈(141); 및A conversion module 141 converting the data packet according to the test protocol; And 상기 임베디드 디바이스(200)로부터 수신한 데이터 패킷을 분석하는 분석모듈(142); 을 포함하는 것을 특징으로 하는 임베디드 디바이스 테스트 시스템.An analysis module 142 analyzing the data packet received from the embedded device 200; Embedded device test system comprising a. 임베디드 디바이스 테스트방법에 있어서,In the embedded device test method, (a) 호스트 단말기의 제어부가 입력부를 통해 임의의 데이터값 또는 제어명령을 수신하는 단계;(a) receiving, by the controller of the host terminal, an arbitrary data value or a control command through the input unit; (b) 상기 제어부가 테스트 라이브러리부로부터 테스트 프로토콜을 호스트 어플리케이션부로 로드시키는 단계;(b) the control unit loading a test protocol from a test library unit to a host application unit; (c) 상기 제어부가 탐색부를 통해 테스트 대상 임베디드 디바이스를 탐색하여 연결하는 단계;(c) searching and connecting the test target embedded device through the search unit; (d) 상기 제어부가 탐색된 임베디드 디바이스의 테스트 프로토콜에 대한 지원여부를 탐색부를 통해 판단하는 단계;(d) determining, by the searching unit, whether the control unit supports the test protocol of the found embedded device; (e) 상기 제 (d) 단계의 판단결과, 탐색된 임베디드 디바이스가 테스트 프로토콜을 지원하는 경우, 제어부가 탐색된 임베디드 디바이스에 대한 테스트를 수행하는 단계;(e) if the found embedded device supports the test protocol as a result of the determination in step (d), performing a test on the found embedded device by the controller; (f) 상기 제어부가 연결된 임베디드 디바이스를 연결해체시키는 단계; 및(f) disconnecting the embedded device to which the control unit is connected; And (g) 상기 제어부가 테스트 라이브러리부로부터 테스트 프로토콜을 언로드시키는 단계;를 포함하며,(g) the control unit unloading a test protocol from a test library unit; 상기 제 (e) 단계는,The step (e) is (e-1) 상기 호스트 단말기의 제어부가 테스트 라이브러리부를 통해 테스트 어플리케이션프로그램인터페이스를 호출하여 호스트 어플리케이션부로 제공하는 단계;(e-1) a control unit of the host terminal calling a test application program interface through a test library unit and providing the test application program interface to the host application unit; (e-2) 상기 제어부가 추상화부를 통해 테스트 제어명령을 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷으로 변환시키는 단계;(e-2) converting, by the control unit, a test control command into a data packet according to a test protocol through an abstraction unit; (e-3) 상기 제어부가 상기 데이터 패킷을 인터페이스부로부터 드라이버부를 통해 임베디드 디바이스와 통신하는 단계; 및(e-3) the control unit communicating the data packet with an embedded device from an interface unit through a driver unit; And (e-4) 상기 제어부가 상기 추상화부를 통해 임베디드 디바이스로부터 수신한 데이터 패킷을 분석하는 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 임베디드 디바이스 테스트방법.(e-4) analyzing, by the controller, a data packet received from an embedded device through the abstraction unit; Embedded device test method comprising the. 삭제delete 제 7 항에 있어서,The method of claim 7, wherein (e-5) 상기 제어부가 분석된 데이터 패킷에 대한 테스트 결과를 출력부를 통해 출력하는 단계; 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 임베디드 디바이스 테스트방법.(e-5) the control unit outputting a test result for the analyzed data packet through an output unit; Embedded device test method characterized in that it further comprises. 제 7 항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 제 (e-3) 단계는,The (e-3) step, (e-3-1) 상기 제어부가 추상화부로부터 변환된 데이터 패킷을 인터페이스부로 전송하는 단계;(e-3-1) the control unit transmitting a data packet converted from the abstraction unit to an interface unit; (e-3-2) 상기 제어부가 상기 인터페이스부로부터 드라이버부를 통해 변환된 데이터 패킷을 상기 임베디드 디바이스로 전송하여 테스트 동작을 하도록 하는 단계;(e-3-2) the control unit transmitting a data packet converted from the interface unit through the driver unit to the embedded device to perform a test operation; (e-3-3) 상기 제어부가 상기 임베디드 디바이스의 테스트 동작에 대한 결과에 따른 데이터 패킷을 상기 드라이버부로부터 상기 인터페이스부를 통해 수신하는 단계; 및(e-3-3) the control unit receiving a data packet according to a result of a test operation of the embedded device from the driver unit through the interface unit; And (e-3-4) 상기 제어부가 테스트 동작에 대한 결과에 다른 데이터 패킷을 상기 추상화부로 전송하는 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 임베디드 디바이스 테스트방법.(e-3-4) the control unit transmitting a data packet different from the result of the test operation to the abstraction unit; Embedded device test method comprising the. 제 10 항에 있어서,The method of claim 10, 상기 제 (e-3-2) 단계는,The (e-3-2) step, (h-1) 임베디드 디바이스의 타겟 제어부가 호스트 단말기의 드라이버부로부터 타겟 드라이버부를 통해 타겟 인터페이스부로 데이터 패킷을 수신하는 단계;(h-1) receiving, by the target controller of the embedded device, a data packet from the driver of the host terminal to the target interface through the target driver; (h-2) 상기 타겟 제어부가 타겟 추상화부를 통해 데이터 패킷을 분석하는 단계;(h-2) analyzing, by the target controller, a data packet through a target abstraction unit; (h-3) 상기 타겟 제어부가 테스트 프로토콜에서 정의하는 데이터 패킷인지를 판단하는 단계;(h-3) determining, by the target controller, whether the data packet is defined by a test protocol; (h-4) 상기 제 (h-3) 단계의 판단결과, 테스트 프로토콜에서 정의하는 데이터 패킷인 경우, 상기 타겟 제어부가 타겟 테스트부를 통해 데이터 패킷의 해당 테스트 제어명령에 따라 테스트하는 단계;(h-4) in the case of the data packet defined in the test protocol as a result of the determination in the (h-3) step, testing by the target control unit according to a corresponding test control command of the data packet through a target test unit; (h-5) 상기 타겟 제어부가 상기 타겟 테스트부의 테스트 결과를 상기 타겟 추상화부를 통해 테스트 프로토콜에 따른 데이터 패킷으로 변환시키는 단계; 및(h-5) the target controller converting a test result of the target test unit into a data packet according to a test protocol through the target abstraction unit; And (h-6) 상기 타겟 제어부가 상기 타겟 인터페이스부로부터 상기 타겟 드라이 버부를 통해 테스트 결과에 대한 데이터 패킷을 상기 호스트 단말기로 전송하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 임베디드 디바이스 테스트방법.(h-6) the target control unit transmitting a data packet for a test result from the target interface unit to the host terminal through the target driver unit; embedded device test method comprising a.
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