KR100924228B1 - Liquid Crystal Display Panel And Fabricating Method Thereof - Google Patents

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Abstract

본 발명은 정전기로 인한 손상을 방지할 수 있는 액정 표시 패널 및 그 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display panel and a method of manufacturing the same that can prevent damage caused by static electricity.

본 발명의 액정 표시 패널은 외부신호 입력단을 가지는 신호라인과, 상기 신호라인들과 교차하며 기저전압이 공급되는 공통라인과, 상기 공통라인과 접속됨과 아울러 상기 공통라인 및 신호라인들의 교차점과 상기 외부신호입력단 사이에서 상기 신호라인에 접속되어 상기 신호라인으로부터의 정전기를 제거하는 정전기방지소자를 구비하는 것을 특징으로 한다.
According to an exemplary embodiment of the present invention, a liquid crystal display panel includes a signal line having an external signal input terminal, a common line intersecting the signal lines, and a base voltage supplied thereto, an intersection point between the common line and the signal lines, and the external line connected to the common line. And an antistatic device connected to the signal line between signal input terminals to remove static electricity from the signal line.

Description

액정 표시 패널 및 그 제조방법{Liquid Crystal Display Panel And Fabricating Method Thereof} Liquid crystal display panel and manufacturing method therefor {Liquid Crystal Display Panel And Fabricating Method Thereof}             

도 1은 종래 액정 표시 패널의 검사패드부를 나타내는 도면이다.1 is a diagram illustrating an inspection pad part of a conventional liquid crystal display panel.

도 2는 종래 액정 표시패널의 다른 검사패드부를 나타내는 도면이다.2 is a view illustrating another test pad part of a conventional liquid crystal display panel.

도 3은 도 2에 도시된 접촉홀부분을 상세히 나타내는 단면도이다.3 is a cross-sectional view showing in detail the contact hole shown in FIG.

도 4는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 액정표시패널의 검사패드부를 상세히 나타내는 도면이다.4 is a view illustrating in detail a test pad part of a liquid crystal display panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 5는 도 4에 도시된 정전기방지소자의 다른 위치를 나타내는 도면이다.5 is a view showing another position of the antistatic device shown in FIG.

도 6은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 액정표시패널의 검사패드부를 상세히 나타내는 도면이다.
6 is a view illustrating in detail a test pad unit of a liquid crystal display panel according to a second exemplary embodiment of the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 간단한 설명><Brief description of symbols for the main parts of the drawings>

1 : 기판 2,38 : 정전기방지소자1 substrate 2,38 antistatic device

4,34,36 : 검사패드 6,40,42 : 접촉홀4,34,36: Test pad 6,40,42: Contact hole

8 : 절연막 32 : 표시영역
8 insulating film 32 display area

본 발명은 액정 표시 장치에 관한 것으로, 특히 정전기로 인한 손상을 방지할 수 있는 액정 표시 패널 및 그 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to a liquid crystal display panel and a method of manufacturing the same that can prevent damage caused by static electricity.

통상의 액정표시장치는 전계를 이용하여 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시하게 된다. 이를 위하여 액정표시장치는 액정셀들이 매트릭스 형태로 배열되어진 액정 표시 패널과, 액정 표시 패널을 구동하기 위한 구동회로를 구비한다. Conventional liquid crystal display devices display an image by adjusting the light transmittance of the liquid crystal using an electric field. To this end, the liquid crystal display includes a liquid crystal display panel in which liquid crystal cells are arranged in a matrix, and a driving circuit for driving the liquid crystal display panel.

액정 표시 패널은 서로 대향하는 박막트랜지스터 어레이 기판 및 칼러필터 어레이 기판과, 두 기판 사이에 일정한 셀갭 유지를 위해 위치하는 스페이서와, 그 셀갭에 채워진 액정을 구비한다.The liquid crystal display panel includes a thin film transistor array substrate and a color filter array substrate facing each other, a spacer positioned to maintain a constant cell gap between the two substrates, and a liquid crystal filled in the cell gap.

박막트랜지스터 어레이 기판은 게이트라인들 및 데이터라인들과, 그 게이트라인들과 데이터라인들의 교차부마다 형성된 박막트랜지스터(Thin Film Transisitor ; 이하 "TFT"라 함)와, 액정셀 단위로 형성되어 TFT에 접속된 화소전극 등으로 구성된다. 게이트라인들과 데이터라인들은 각각의 패드부를 통해 구동회로들로부터 신호를 공급받는다. TFT는 게이트라인에 공급되는 스캔신호에 응답하여 데이터라인에 공급되는 화소전압신호를 화소전극에 공급한다.The thin film transistor array substrate includes gate lines and data lines, thin film transistors (TFTs) formed at intersections of the gate lines and data lines, and formed in a liquid crystal cell unit and formed in a TFT. A pixel electrode or the like connected thereto. The gate lines and the data lines receive signals from the driving circuits through the respective pad parts. The TFT supplies the pixel voltage signal supplied to the data line to the pixel electrode in response to the scan signal supplied to the gate line.

칼라필터 어레이 기판은 액정셀 단위로 형성된 칼라필터들과, 칼러필터들간의 구분 및 외부광 흡수를 위한 블랙매트릭스와, 액정셀들에 공통적으로 기준전압 을 공급하는 공통전극 등으로 구성된다.The color filter array substrate includes color filters formed in units of liquid crystal cells, a black matrix for distinguishing between color filters and absorbing external light, a common electrode for supplying a reference voltage to the liquid crystal cells in common.

액정 표시 패널은 박막트랜지스터 어레이 기판과 칼라필터 어레이 기판을 별도로 제작하여 합착한 다음 액정을 주입하여 완성하게 된다.The liquid crystal display panel is manufactured by separately manufacturing a thin film transistor array substrate and a color filter array substrate, and then injecting a liquid crystal.

특히 박막트랜지스터 어레이 기판은 제조공정 후에 신호라인들의 쇼트, 오픈과 같은 신호 라인 불량과 TFT의 불량여부를 검출하기 위하여 점등 검사 등과 같은 검사 과정을 거치게 된다. In particular, the thin film transistor array substrate undergoes an inspection process such as a lighting test to detect whether a signal line defect such as short or open signal lines or a TFT is defective after a manufacturing process.

도 1에 도시된 액정패널은 다수개의 액정셀들이 마련된 표시영역과, 표시영역의 외곽에 형성되며 검사과정에서 이용되는 검사패드부가 위치하는 비표시영역을 구비한다.The liquid crystal panel illustrated in FIG. 1 includes a display area in which a plurality of liquid crystal cells are provided, and a non-display area formed at an outer side of the display area and in which an inspection pad part used in an inspection process is located.

표시영역에는 게이트라인과 데이터라인의 교차부에 각각 형성되는 TFT와, TFT와 연결되는 액정셀, 즉 액정캐패시터를 구비한다. 액정 캐패시터(Clc)는 액정셀을 사이에 두고 대면하는 화소 전극과 공통 전극으로 구성된다. 이러한 액정 캐패시터(Clc)는 화소 전극에 공급된 데이터 신호에 따라 유전 이방성을 가지는 액정을 구동시킴으로써 광 투과율을 조절하게 된다.The display area includes TFTs formed at intersections of gate lines and data lines, and liquid crystal cells connected to the TFTs, that is, liquid crystal capacitors. The liquid crystal capacitor Clc includes a pixel electrode and a common electrode that face each other with the liquid crystal cell interposed therebetween. The liquid crystal capacitor Clc adjusts the light transmittance by driving the liquid crystal having dielectric anisotropy according to the data signal supplied to the pixel electrode.

비표시영역에 위치하는 검사패드부는 다수개의 검사 패드들(4)과, 검사 패드들(4) 각각과 접속되는 정전기 방지 소자(2)를 구비한다.The test pad unit positioned in the non-display area includes a plurality of test pads 4 and an antistatic element 2 connected to each of the test pads 4.

검사패드(4)는 액정표시패널의 검사과정에서 필요로 하는 테스트신호들을 표시영역의 게이트라인 및 데이터라인 중 적어도 어느 하나의 신호라인들(SL)에 공급한다. 이를 위해, 검사패드(4)는 표시영역의 신호라인들(SL) 및 비표시영역의 공급라인들(PL)과 전기적으로 접속되며, 공급라인들(PL)은 테스트신호가 공급되는 쇼 팅바(SB)와 접속된다.The test pad 4 supplies test signals necessary for the inspection process of the liquid crystal display panel to at least one signal line SL of the gate line and the data line of the display area. To this end, the test pad 4 is electrically connected to the signal lines SL of the display area and the supply lines PL of the non-display area, and the supply lines PL are shorting bars to which test signals are supplied. SB).

정전기방지소자(2) 각각은 공통전압(Vcom), 기저전압(GND) 및 플로팅(Flating)전압 중 적어도 어느 하나가 공급되는 공통라인(CL)과 신호라인(SL) 사이에 접속되어 검사패드(4)를 통해 유입되는 정전기를 차단하게 된다. 이러한 정전기 방지 소자(2)는 일반적으로 다수개의 박막트랜지스터들로 구성되어 정전기 등에 의한 고전압 영역에서는 낮은 임피던스를 가져 과전류가 공통라인(CL)을 통해 방전되게 함으로써 정전기 유입을 차단하게 된다. 그리고, 정전기 방지 소자(2)는 정상적인 구동환경에서는 높은 임피던스(예를 들면, 수십㏁)를 가져 신호라인을 통해 공급되는 구동신호에 영향을 주지 않게 한다.Each of the antistatic devices 2 is connected between the common line CL and the signal line SL, to which at least one of the common voltage Vcom, the ground voltage GND, and the floating voltage are supplied, so that the test pad ( It blocks the static electricity flowing through 4). The antistatic device 2 is generally composed of a plurality of thin film transistors to block the inflow of static electricity by having a low impedance in the high voltage region due to static electricity or the like so that the overcurrent is discharged through the common line CL. In addition, the antistatic element 2 has a high impedance (for example, several tens of kHz) in a normal driving environment so as not to affect the driving signal supplied through the signal line.

도 1에 도시된 종래 액정표시패널의 공급라인(PL)은 검사구동회로(도시하지 않음)에서 생성된 테스트신호를 검사패드(4)를 통해 표시영역의 신호라인(SL)에 공급하게 된다. 이러한 공급라인(PL)과 신호라인(SL)을 동일한 금속 예를 들어, 상대적으로 비저항성이 높은 몰리브덴(Mo)으로 형성하는 경우, 신호지연이 발생하는 문제점이 있다. 특히, 테스트신호를 생성하는 검사구동회로의 외곽출력라인과 대응되는 공급라인(PL)과 외곽출력라인보다 상대적으로 길이가 짧은 중앙출력라인과 대응되는 공급라인(PL) 간에 인가되는 구동신호에 출력편차가 발생하는 문제점이 있다. 이러한 문제점을 해결하기 위하여, 도 2에 도시된 바와 같이 공급라인(PL)을 상대적으로 저항성이 낮은 알루미늄 계열의 물질로 형성한다.The supply line PL of the conventional liquid crystal display panel illustrated in FIG. 1 supplies a test signal generated by an inspection driver circuit (not shown) to the signal line SL of the display area through the inspection pad 4. When the supply line PL and the signal line SL are formed of the same metal, for example, relatively high resistivity of molybdenum, there is a problem in that signal delay occurs. In particular, an output is output to a driving signal applied between a supply line PL corresponding to the outer output line of the inspection driving circuit generating a test signal and a supply line PL corresponding to the central output line having a shorter length than the outer output line. There is a problem that a deviation occurs. In order to solve this problem, as shown in FIG. 2, the supply line PL is formed of a relatively low resistance aluminum-based material.

도 2에 도시된 액정표시패널의 공급라인(PL)과 신호라인(SL)은 서로 다른 층에 형성되어 접촉홀(6)을 통해 전기적으로 접속된다. 예를 들어, 공급라인(PL)은 도 3에 도시된 바와 같이 기판(1) 상에 게이트전극, 게이트라인을 포함하는 게이트패턴과 함께 게이트금속으로 동일층에 형성되고, 신호라인(SL)은 게이트패턴과 절연막(8)을 사이에 두고 형성되는 소스 및 드레인전극을 포함하는 데이터패턴과 함께 데이터금속으로 동일층에 형성된다. 즉, 공급라인(PL)은 저항성이 낮은 금속, 예를 들어 알루미늄/네오듐(AlNd)로 형성되며, 신호라인(SL)은 몰리브덴(Mo)으로 형성된다. The supply line PL and the signal line SL of the liquid crystal display panel illustrated in FIG. 2 are formed on different layers and electrically connected to each other through the contact hole 6. For example, as illustrated in FIG. 3, the supply line PL is formed on the same layer as a gate metal together with a gate pattern including a gate electrode and a gate line on the substrate 1, and the signal line SL A data metal is formed on the same layer together with a data pattern including a source and a drain electrode formed with the gate pattern and the insulating film 8 interposed therebetween. That is, the supply line PL is formed of a metal having low resistance, for example, aluminum / neodium (AlNd), and the signal line SL is formed of molybdenum (Mo).

이와 같이 공급라인(PL)은 신호라인(SL)과 다른 층에 상대적으로 저항성이 낮은 물질로 형성되어 신호라인(SL)과 접촉홀(6)을 통해 전기적으로 접촉된다. 이에 따라, 검사구동회로의 외곽출력라인과 중앙출력라인에 대응하는 공급라인(PL)의 구동신호의 출력편차를 줄일 수 있어 표시부의 화질저하를 방지할 수 있다.As such, the supply line PL is formed of a material having low resistance to the layer different from the signal line SL and is electrically contacted with the signal line SL through the contact hole 6. Accordingly, the output deviation of the drive signal of the supply line PL corresponding to the outer output line and the center output line of the inspection driver circuit can be reduced, and thus the image quality of the display can be prevented.

도 1 및 도 2에 도시된 종래 액정표시패널의 게이트라인들 및 데이터라인들 중 적어도 어느 하나의 신호라인(SL)과 공통라인들(CL)의 교차영역(A)에서 외부로부터의 정전기 유입으로 인한 절연막(8)의 절연파괴가 발생하게 되어 공통라인들(CL)과 신호라인들(SL)과의 쇼트불량이 발생한다. 또는 그 교차영역(A)에서 정전기유입으로 인하여 신호라인들(SL) 자체가 오프되는 불량이 발생하기도 한다.In the cross-sectional area A of at least one of the signal lines SL and the common lines CL of the gate lines and the data lines of the conventional liquid crystal display panel shown in FIGS. As a result, an insulation breakdown of the insulating layer 8 occurs, causing a short defect between the common lines CL and the signal lines SL. Alternatively, a defect may occur in that the signal lines SL are turned off due to the inflow of static electricity in the intersection area A.

또한, 도 2에 도시된 종래 액정표시패널의 신호라인들(SL)과 공급라인들(PL)과의 접촉영역(B)은 외부로부터의 정전기유입에 대해 상대적으로 약해 신호라인들(SL)과 공급라인들(PL) 자체가 오프되는 불량이 발생하기도 한다.
In addition, the contact area B between the signal lines SL and the supply lines PL of the conventional liquid crystal display panel illustrated in FIG. 2 is relatively weak against the inflow of static electricity from the outside, A failure may occur in which the supply lines PL itself are turned off.

따라서, 본 발명의 목적은 정전기로 인한 손상을 방지할 수 있는 액정 표시 패널 및 그 제조방법을 제공하는 것이다.
Accordingly, an object of the present invention is to provide a liquid crystal display panel and a method of manufacturing the same that can prevent damage caused by static electricity.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 액정 표시 패널은 공급라인을 가지는 신호라인과, 상기 신호라인들과 교차하며 기저전압이 공급되는 공통라인과, 상기 공통라인과 접속됨과 아울러 상기 공통라인 및 신호라인들의 교차점과 상기 공급라인 사이에서 상기 신호라인에 접속되어 상기 신호라인으로부터의 정전기를 제거하는 정전기방지소자를 구비하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a liquid crystal display panel according to the present invention includes a signal line having a supply line, a common line crossing the signal lines and supplied with a base voltage, connected to the common line, and the common line and And an antistatic device connected to the signal line between an intersection of signal lines and the supply line to remove static electricity from the signal line.

상기 액정표시패널은 상기 교차점과 상기 공급라인 사이에서 상기 신호라인 상에 형성되어 탐침이 접속되는 검사패드를 더 구비하는 것을 특징으로 한다. The liquid crystal display panel may further include a test pad formed on the signal line between the intersection point and the supply line and connected to the probe.

상기 정전기방지소자는 상기 공급라인과 상기 검사패드 사이에서 상기 신호라인에 접속되는 것을 특징으로 한다.The antistatic device is connected to the signal line between the supply line and the test pad.

상기 신호라인은 상기 공급라인을 가지는 제1 금속의 제1 신호라인과, 상기 제1 신호라인과 접촉홀을 통해 접속되는 제2 금속의 제2 신호라인을 구비하는 것을 특징으로 한다.The signal line may include a first signal line of a first metal having the supply line and a second signal line of a second metal connected to the first signal line through a contact hole.

상기 제1 및 제2 신호라인은 동일층에 형성되는 것을 특징으로 한다.The first and second signal lines may be formed on the same layer.

상기 제1 및 제2 신호라인은 서로 다른 층에 위치하는 것을 특징으로 한다. The first and second signal lines may be located on different layers.                     

상기 제1 신호라인은 상기 제2 신호라인에 비해 저저항의 금속으로 형성되는 것을 특징으로 한다.The first signal line may be formed of a metal having a lower resistance than the second signal line.

상기 정전기방지소자는 상기 접촉홀 이전에 상기 제1 신호라인과 공통라인 사이에 접속되는 것을 특징으로 한다.The antistatic device may be connected between the first signal line and the common line before the contact hole.

상기 액정표시패널은 상기 신호라인들 중 우수 신호라인과 공통 접속되는 우수 쇼팅바와, 기수 신호라인과 공통 접속된 기수 쇼팅바를 추가로 구비하는 것을 특징으로 한다.The liquid crystal display panel may further include an even shorting bar commonly connected to the even signal line among the signal lines, and an odd shorting bar commonly connected to the odd signal line.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 액정표시패널의 제조방법은 공급라인을 가지는 신호라인을 형성하는 단계와, 상기 신호라인들과 교차하며 기저전압이 공급되는 공통라인을 형성하는 단계와, 상기 공통라인과 접속됨과 아울러 상기 공통라인 및 신호라인들의 교차점과 상기 공급라인 사이에서 상기 신호라인에 접속되어 상기 신호라인으로부터의 정전기를 제거하는 정전기방지소자를 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the manufacturing method of the liquid crystal display panel according to the present invention comprises the steps of forming a signal line having a supply line, forming a common line crossing the signal lines and the base voltage is supplied; And forming an antistatic element connected to the common line and connected to the signal line between the intersection of the common line and the signal lines and the supply line to remove static electricity from the signal line. .

상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 이점들은 첨부 도면을 참조한 본 발명의 바람직한 실시예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.Other objects and advantages of the present invention in addition to the above object will become apparent from the description of the preferred embodiment of the present invention with reference to the accompanying drawings.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예들을 도 4 내지 도 6을 참조하여 상세하게 설명하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 4 to 6.

도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시 패널을 도시한 것이다.4 illustrates a liquid crystal display panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 본 발명에 따른 액정표시패널은 다수개의 액정셀들이 마련된 표시영역(32)과, 표시영역(32)의 외곽영역에 형성되며 검사과정에서 이용되는 검사패드부가 위치하는 비표시영역을 구비한다Referring to FIG. 4, a liquid crystal display panel according to the present invention includes a display area 32 in which a plurality of liquid crystal cells are provided, and a non-display in which an inspection pad part used in an inspection process is formed in an outer area of the display area 32. With area

표시영역(32)은 게이트 라인들(GL)과, 그 게이트 라인들(GL)과 절연되게 교차하는 데이터 라인들(DL)과, 게이트 라인들(GL) 및 데이터 라인들(DL)의 교차부에 각각 형성된 박막 트랜지스터(TFT)와, 박막 트랜지스터(TFT)에 연결된 액정셀, 즉 액정 캐패시터(Clc)를 구비한다. The display area 32 includes gate lines GL, data lines DL intersecting the gate lines GL insulated from the gate lines GL, and intersection portions of the gate lines GL and the data lines DL. And a liquid crystal cell, that is, a liquid crystal capacitor Clc, connected to the thin film transistor TFT.

게이트 라인들(GL) 각각은 게이트 구동회로로부터 게이트 신호를 공급받고, 데이터 라인들(DL) 각각은 데이터 구동회로로부터 데이터 신호를 공급받는다.Each of the gate lines GL receives a gate signal from a gate driving circuit, and each of the data lines DL receives a data signal from a data driving circuit.

박막 트랜지스터(TFT)는 게이트 라인(GL)으로부터의 게이트 신호에 응답하여 데이터라인(DL)으로부터의 데이터신호를 액정 캐패시터(Clc)로 공급한다.The thin film transistor TFT supplies the data signal from the data line DL to the liquid crystal capacitor Clc in response to the gate signal from the gate line GL.

액정 캐패시터(Clc)는 액정셀을 사이에 두고 대면하는 화소 전극과 공통 전극으로 구성된다. 이러한 액정 캐패시터(Clc)는 화소 전극에 공급된 데이터 신호에 따라 유전 이방성을 가지는 액정을 구동시킴으로써 광 투과율을 조절하게 된다.The liquid crystal capacitor Clc includes a pixel electrode and a common electrode that face each other with the liquid crystal cell interposed therebetween. The liquid crystal capacitor Clc adjusts the light transmittance by driving the liquid crystal having dielectric anisotropy according to the data signal supplied to the pixel electrode.

비표시영역은 표시 영역(32)의 게이트 라인들(GL)에 각각 접속된 게이트 검사패드(34)와, 데이터 라인들(DL)에 각각 접속된 데이터 검사패드(36)와, 표시 영역(32)으로의 정전기 유입을 차단하기 위하여 공급라인(PL : 외부신호입력단)과 공통라인(CL) 사이에 접속된 정전기 방지 소자(38)를 구비한다. 또한, 비표시영역은 오드 공급라인(PL)을 통해 오드 게이트 라인들(GL)에 공통으로 접속된 오드 게이트 쇼팅바(OGSB)와, 이븐 공급라인(PL)을 통해 이븐 게이트 라인들(GL)에 공통으로 접속된 이븐 게이트 쇼팅바(EGSB)와, 오드 공급라인(PL)을 통해 오드 데이터 라인들(DL)에 공통으로 접속된 오드 데이터 쇼팅바(ODSB)와, 이븐 공급라인(PL)을 통해 이븐 데이터 라인들(DL)에 공통으로 접속된 이븐 데이터 쇼팅바(EDSB)를 추가로 구비한다. The non-display area includes a gate test pad 34 connected to the gate lines GL of the display area 32, a data test pad 36 connected to the data lines DL, and a display area 32, respectively. An antistatic device 38 is connected between the supply line PL (external signal input terminal) and the common line CL to block static electricity from flowing into. In addition, the non-display area includes an odd gate shorting bar OGSB commonly connected to the odd gate lines GL through the odd supply line PL, and even gate lines GL through the even supply line PL. The even gate shorting bar EGSB connected to the common gate, the odd data shorting bar ODSB commonly connected to the odd data lines DL through the odd supply line PL, and the even supply line PL. An even data shorting bar EDSB is connected to the even data lines DL in common.

정전기 방지 소자(38)는 공통전압(Vcom), 기저전압(GND) 및 플로팅(Floating)전압 중 적어도 어느 하나가 공급되는 공통라인(CL)과 데이터라인에 테스트신호를 공급하기 위한 공급라인(PL) 각각의 사이에 접속되어 데이터검사패드(36)를 통해 유입되는 정전기를 차단하게 된다. 또한, 정전기 방지 소자(38)는 공통라인(CL)과 공급라인(PL) 각각의 사이에 접속되어 게이트검사패드(34)를 통해 유입되는 정전기를 차단하게 된다. 이러한 정전기 방지 소자(38)는 일반적으로 다수개의 박막트랜지스터들로 구성되어 정전기 등에 의한 고전압 영역에서는 낮은 임피던스를 가져 과전류가 공통라인(CL)을 통해 방전되게 함으로써 정전기 유입을 차단하게 된다. 그리고, 정전기 방지 소자(38)는 정상적인 구동환경에서는 높은 임피던스(예를 들면, 수십㏁)를 가져 공급라인을 통해 공급되는 구동신호에 영향을 주지 않게 한다. The antistatic device 38 may include a supply line PL for supplying a test signal to the common line CL and the data line to which at least one of the common voltage Vcom, the ground voltage GND, and the floating voltage are supplied. ) Is connected between the respective to block the static electricity flowing through the data test pad (36). In addition, the antistatic element 38 is connected between each of the common line CL and the supply line PL to block the static electricity flowing through the gate inspection pad 34. The anti-static element 38 is generally composed of a plurality of thin film transistors to block the inflow of static electricity by having a low impedance in the high voltage region due to static electricity and the like to discharge the overcurrent through the common line (CL). In addition, the antistatic element 38 has a high impedance (for example, several tens of kHz) in a normal driving environment so as not to affect the driving signal supplied through the supply line.

특히, 정전기방지소자(38)는 공통라인(CL)과 공급라인(PL) 사이에 접속되어 데이터검사패드(36)를 통해 데이터라인(DL)과 공통라인(CL)이 교차하는 중첩영역에 유입되는 정전기를 미리 차단하게 된다. 즉, 데이터라인(DL)과 공통라인(CL)의 교차점 이전에 정전기방지소자(38)가 공통라인(CL)과 공급라인(PL) 사이에 접속되어 정전기를 미리 차단하게 된다. 이에 따라, 데이터라인(DL)과 공통라인(CL)의 교차하는 중첩영역에 위치하는 절연막(도시하지 않음)의 절연파괴를 방지할 수 있다. In particular, the antistatic device 38 is connected between the common line CL and the supply line PL, and flows into the overlapping area where the data line DL and the common line CL intersect through the data inspection pad 36. The static electricity is blocked in advance. That is, before the intersection of the data line DL and the common line CL, the antistatic device 38 is connected between the common line CL and the supply line PL to block static electricity in advance. As a result, insulation breakdown of an insulating film (not shown) positioned in an overlapping region intersecting the data line DL and the common line CL can be prevented.

또한, 정전기방지소자(38)는 공통라인(CL)과 공급라인(PL) 사이에 접속되어 게이트검사패드(34)를 통해 게이트라인(GL)과 공통라인(CL)이 교차하는 중첩영역에 유입되는 정전기를 미리 차단하게 된다. 즉, 게이트라인(GL)과 공통라인(CL)의 교차점 이전에 정전기방지소자(38)가 공통라인(CL)과 공급라인(PL) 사이에 접속되어 정전기를 미리 차단하게 된다. 이에 따라, 게이트라인(GL)과 공통라인(CL)의 교차하는 중첩영역에 위치하는 절연막(도시하지 않음)의 절연파괴를 방지할 수 있다. In addition, the antistatic device 38 is connected between the common line CL and the supply line PL, and flows into the overlapping area where the gate line GL and the common line CL cross through the gate test pad 34. The static electricity is blocked in advance. That is, before the intersection point of the gate line GL and the common line CL, the antistatic device 38 is connected between the common line CL and the supply line PL to block static electricity in advance. As a result, insulation breakdown of an insulating film (not shown) positioned in an overlapping region where the gate line GL crosses the common line CL may be prevented.

한편, 정전기방지소자(38)는 도 5에 도시된 바와 같이 교차점(C)과 검사패드(34,36) 사이의 게이트라인(GL) 및 데이터라인(DL) 중 적어도 어느 하나의 신호라인(SL)과 공통라인(CL) 사이에 위치할 수도 있다. Meanwhile, as illustrated in FIG. 5, the antistatic device 38 includes at least one signal line SL among the gate line GL and the data line DL between the intersection point C and the test pads 34 and 36. ) And the common line CL.

본 발명에 따른 게이트 라인들(DL)의 오픈, 쇼트와 같은 불량은 오드 게이트 쇼팅바(OGSB)와 이븐 게이트 쇼팅바(EGSB)에 테스트 신호를 공급한 다음 그 오드 게이트 쇼팅바(OGSB)와 이븐 게이트 쇼팅바(EGSB) 간의 저항치를 검출하여 판단하게 된다. 구체적으로, 오드 게이트 쇼팅바(OGSB)와 이븐 게이트 쇼팅바(EGSB) 간의 저항치가 임계 저항치 보다 낮은 경우 게이트 쇼트 불량으로 판정되고, 임계 저항치 보다 높은 경우 게이트 오픈 불량으로 판정된다.Defects such as opening and shorting of the gate lines DL according to the present invention supply a test signal to the odd gate shorting bar OGSB and even gate shorting bar EGSB, and then the odd gate shorting bar OGSB and even The resistance value between the gate shorting bars EGSB is detected and determined. Specifically, when the resistance value between the odd gate shorting bar OGSB and the even gate shorting bar EGSB is lower than the threshold resistance value, the gate short failure is determined, and when the resistance value is higher than the threshold resistance value, the gate open failure is determined.

이와 유사하게, 데이터 라인들(DL)의 오픈, 쇼트와 같은 불량은 오드 데이터 쇼팅바(ODSB)와 이븐 데이터 쇼팅바(EDSB)에 테스트 신호를 공급한 다음 그 오드 데이터 쇼팅바(ODSB)와 이븐 데이터 쇼팅바(EDSB) 간의 저항치를 검출하여 판단하게 된다. 구체적으로, 오드 데이터 쇼팅바(ODSB)와 이븐 게이트 쇼팅바(EDSB) 간의 저항치가 임계 저항치를 보다 낮은 경우 데이터 쇼트 불량으로 판정되고, 임계 저항치 보다 높은 경우 데이터 오픈 불량으로 판정된다. Similarly, defects such as open or short of the data lines DL are supplied with test signals to the odd data shorting bar (ODSB) and even data shorting bar (EDSB), and then the odd data shorting bar (ODSB) and even The resistance value between the data shorting bars EDSB is detected and determined. Specifically, when the resistance value between the odd data shorting bar ODSB and the even gate shorting bar EDSB is lower than the threshold resistance value, it is determined as a data short failure, and when it is higher than the threshold resistance value, it is determined as a data open failure.                     

이와 같이 본 발명의 제1 실시 예에 따른 액정표시패널은 게이트라인들 및 데이터라인들 중 적어도 어느 하나의 신호라인과 공통라인 이전에 공통라인과 공급라인 사이에 정전기방지소자가 접속된다. 이에 따라, 외부로부터의 정전기 유입으로 인한 공통라인들과 신호라인들과 교차하는 중첩영역에서의 절연막 절연파괴로 인한 쇼트불량을 방지함과 동시에 신호라인들 자체의 오픈 불량을 방지할 수 있다.As described above, in the liquid crystal display panel according to the first exemplary embodiment, an antistatic device is connected between the common line and the supply line before the signal line and the common line of at least one of the gate lines and the data lines. Accordingly, it is possible to prevent short defects due to insulation breakdown in the overlapping area crossing the common lines and the signal lines due to the inflow of static electricity from the outside, and to prevent the open defects of the signal lines themselves.

도 6은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 액정표시패널을 나타내는 도면이다.6 is a diagram illustrating a liquid crystal display panel according to a second exemplary embodiment of the present invention.

도 6을 참조하면, 본 발명의 제2 실시 예에 따른 액정표시패널은 도 4에 도시된 액정표시패널과 비교하여 게이트라인(GL)과 데이터라인(DL) 중 적어도 어느 하나의 신호라인(GL,DL)과 공급라인(PL ; 외부신호입력단)이 서로 다른 층에 형성되는 것을 제외하고는 동일한 구성요소를 구비한다.Referring to FIG. 6, the liquid crystal display panel according to the second exemplary embodiment of the present invention has at least one signal line GL among the gate line GL and the data line DL in comparison with the liquid crystal display panel illustrated in FIG. 4. , DL and the supply line (PL) have the same components except that they are formed on different layers.

도 6에 도시된 액정표시패널의 공급라인(PL)과 신호라인(GL,DL)은 서로 다른 층에 형성되어 접촉홀(40)을 통해 전기적으로 접속된다. 예를 들어, 공급라인(PL)은 표시영역의 게이트라인(GL)을 포함하는 게이트패턴과 게이트금속으로 동일층에 형성되고, 신호라인은 데이터라인(DL)으로써 게이트패턴과 절연막(도시하지 않음)을 사이에 두고 형성된다. 예를 들어, 공급라인(PL)은 비저항성이 낮은 금속, 알루미늄/네오듐(AlNd)로 형성되며, 신호라인은 몰리브덴(Mo)으로 형성된다. The supply line PL and the signal lines GL and DL of the liquid crystal display panel illustrated in FIG. 6 are formed on different layers and electrically connected to each other through the contact hole 40. For example, the supply line PL is formed on the same layer as the gate pattern including the gate line GL of the display area and the gate metal, and the signal line is the data line DL. It is formed with). For example, the supply line PL is formed of a low resistivity metal, aluminum / neodium (AlNd), and the signal line is formed of molybdenum (Mo).

이와 같이 공급라인(PL)은 신호라인(SL)과 다른 층에 상대적으로 비저항성을 갖는 물질로 형성되어 신호라인(SL)과 접촉홀(38,40)을 통해 전기적으로 접촉된다. 이러한 신호라인(SL)과 접촉홀(38,40)을 통해 접속되는 공급라인(PL)과 공통라인(CL) 사이에는 정전기방지소자(38)가 위치하게 된다. As such, the supply line PL is formed of a material having a resistivity relative to the layer different from the signal line SL and is in electrical contact with the signal line SL through the contact holes 38 and 40. The antistatic device 38 is positioned between the signal line SL and the supply line PL and the common line CL connected through the contact holes 38 and 40.                     

즉, 정전기방지소자(38)는 공통라인(CL)과 공급라인(PL) 사이의 게이트접촉홀(42) 이전에 접속되어 게이트접촉홀(42)과, 게이트라인(GL)과 공통라인(CL)의 교차점(E)에 유입되는 정전기를 미리 차단하게 된다. 이에 따라, 게이트라인(GL)과 공통라인(CL)의 교차하는 중첩영역에 위치하는 절연막(도시하지 않음)의 절연파괴를 방지함과 동시에 게이트라인들(GL)과 공급라인들(PL)과의 게이트 접촉홀(42)영역의 게이트라인들(GL)과 공급라인들(PL) 자체가 오픈되는 불량을 방지할 수 있다.That is, the antistatic element 38 is connected before the gate contact hole 42 between the common line CL and the supply line PL, so that the gate contact hole 42 and the gate line GL and the common line CL are connected. The static electricity flowing into the intersection point (E) of) is blocked in advance. Accordingly, an insulation breakdown of an insulating layer (not shown) positioned at an overlapping region intersecting the gate line GL and the common line CL is prevented, and at the same time, the gate lines GL and the supply lines PL The failure of opening the gate lines GL and the supply lines PL themselves in the gate contact hole 42 region of the gate contact hole 42 may be prevented.

또한, 정전기방지소자(38)는 공통라인(CL)과 공급라인(PL) 사이의 데이터접촉홀(40) 이전에 접속되어 데이터접촉홀(40)과, 데이터라인(DL)과 공통라인(CL)의 교차점(D)에 유입되는 정전기를 미리 차단하게 된다. 이에 따라, 데이터라인(DL)과 공통라인(CL)의 교차하는 중첩영역에 위치하는 절연막(도시하지 않음)의 절연파괴를 방지함과 동시에 데이터라인들(DL)과 공급라인들(PL)과의 데이터접촉홀(40)영역의 데이터라인들(DL)과 공급라인들(PL) 자체가 오픈되는 불량을 방지할 수 있다.In addition, the antistatic device 38 is connected before the data contact hole 40 between the common line CL and the supply line PL to connect the data contact hole 40, the data line DL, and the common line CL. The static electricity flowing into the intersection point (D) of) is blocked in advance. Accordingly, an insulation breakdown of an insulating layer (not shown) positioned at an overlapping area intersecting the data line DL and the common line CL is prevented, and at the same time, the data lines DL and the supply lines PL It is possible to prevent defects in which the data lines DL and the supply lines PL of the region of the data contact hole 40 are opened.

이와 같이 본 발명의 제2 실시 예에 따른 액정표시패널은 게이트라인들 및 데이터라인들 중 적어도 어느 하나의 신호라인과 공통라인 이전에 공통라인과 공급라인 사이에 정전기방지소자가 접속된다. 이에 따라, 외부로부터의 정전기 유입으로 인한 공통라인들과 신호라인들과 교차하는 중첩부분에서의 절연막 절연파괴로 인한 쇼트불량을 방지함과 동시에 신호라인들 자체의 오픈 불량을 방지할 수 있다.As described above, in the liquid crystal display panel according to the second exemplary embodiment, an antistatic device is connected between the common line and the supply line before the signal line and the common line of at least one of the gate lines and the data lines. Accordingly, it is possible to prevent short defects due to insulation breakdown at the overlapping portions crossing the common lines and the signal lines due to the inflow of static electricity from the outside, and to prevent the open defects of the signal lines themselves.

또한, 본 발명의 제2 실시 예에 따른 액정표시패널은 서로 다른 층에 형성되는 신호라인과 공급라인의 접촉홀부분 이전에 공통라인과 공급라인 사이에 정전기방지소자가 접속된다. 이에 따라, 신호라인과 공급라인의 접촉홀부분에서 외부로 부터 유입되는 정전기로 인해 발생되는 신호라인들과 공급라인들 자체의 오픈 불량을 방지할 수 있다.
In addition, in the liquid crystal display panel according to the second exemplary embodiment of the present invention, an antistatic device is connected between the common line and the supply line before the contact hole portion of the signal line and the supply line formed on the different layers. Accordingly, it is possible to prevent open defects of the signal lines and the supply lines themselves, which are generated due to static electricity flowing from the outside in the contact hole portions of the signal lines and the supply lines.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 액정 표시 패널 및 그 제조방법은 게이트라인 및 데이터라인 중 적어도 어느 하나의 신호라인과 공통라인의 교차점 이전에 상기 신호라인들 및 공급라인 중 적어도 어느 하나와 상기 공통라인 사이에 접속되는 정전기방지소자를 구비한다. 이에 따라, 신호라인과 공통라인의 교차점으로 유입되는 정전기를 미리 차단할 수 있어 정전기유입으로 인한 절연파괴를 방지할 수 있다. 또한, 신호라인과 공급라인의 접촉홀영역에서 정전기로 인한 접촉홀의 오픈을 방지할 수 있다.As described above, the liquid crystal display panel and the method of manufacturing the same according to the present invention are common to at least one of the signal lines and the supply line before the intersection of the signal line and the common line of at least one of the gate line and the data line. An antistatic device is connected between the lines. Accordingly, the static electricity flowing into the intersection of the signal line and the common line may be blocked in advance, thereby preventing breakdown of the insulation due to the inflow of static electricity. In addition, it is possible to prevent the opening of the contact hole due to static electricity in the contact hole region of the signal line and the supply line.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the technical spirit of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification but should be defined by the claims.

Claims (11)

공급라인을 가지는 신호라인과,A signal line having a supply line, 상기 신호라인들과 교차되게 형성되는 공통라인과,A common line formed to cross the signal lines; 상기 공통라인과 접속됨과 아울러 상기 공통라인 및 신호라인들의 교차점과 상기 공급라인 사이에서 상기 신호라인에 접속되어 상기 신호라인으로부터의 정전기를 제거하는 정전기방지소자를 구비하고, And an antistatic device connected to the signal line and connected to the signal line between the intersection of the common line and the signal lines and the supply line to remove static electricity from the signal line. 상기 교차점과 상기 공급라인 사이에서 상기 신호라인 상에 형성되는 검사패드를 더 구비하고, And a test pad formed on the signal line between the intersection point and the supply line. 상기 정전기방지소자는 상기 공급라인과 상기 검사패드 사이에서 상기 신호라인에 접속되는 것을 특징으로 하는 액정표시패널.And the antistatic device is connected to the signal line between the supply line and the test pad. 삭제delete 삭제delete 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 신호라인은The signal line is 상기 공급라인을 가지는 제1 금속의 제1 신호라인과,A first signal line of a first metal having said supply line; 상기 제1 신호라인과 접촉홀을 통해 접속되는 제2 금속의 제2 신호라인을 구비하는 것을 특징으로 하는 액정표시패널.And a second signal line of a second metal connected to the first signal line through a contact hole. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 제1 및 제2 신호라인은 동일층에 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시패널.And the first and second signal lines are formed on the same layer. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 제1 및 제2 신호라인은 서로 다른 층에 위치하는 것을 특징으로 하는 액정표시패널.And the first and second signal lines are on different layers. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 제1 신호라인은 상기 제2 신호라인에 비해 저저항의 금속으로 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시패널.And the first signal line is formed of a metal having a lower resistance than the second signal line. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 정전기방지소자는 상기 접촉홀 이전에 상기 제1 신호라인과 공통라인 사이에 접속되는 것을 특징으로 하는 액정표시패널.And the antistatic device is connected between the first signal line and the common line before the contact hole. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 공통라인에는 기저전압과 플로팅전압 및 공통전압 중 어느 하나의 전압 이 공급되는 것을 특징으로 하는 액정표시패널.And one of a base voltage, a floating voltage, and a common voltage is supplied to the common line. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 신호라인들 중 우수 신호라인과 공통 접속되는 우수 쇼팅바와, 기수 신호라인과 공통 접속된 기수 쇼팅바를 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 패널.And an even shorting bar commonly connected to the even signal line among the signal lines, and an odd shorting bar commonly connected to the odd signal line. 공급라인을 가지는 신호라인을 형성하는 단계와,Forming a signal line having a supply line, 상기 신호라인들과 교차하며 기저전압이 공급되는 공통라인을 형성하는 단계와,Forming a common line crossing the signal lines and supplied with a base voltage; 상기 공통라인과 접속됨과 아울러 상기 공통라인 및 신호라인들의 교차점과 상기 공급라인 사이에서 상기 신호라인에 접속되어 상기 신호라인으로부터의 정전기를 제거하는 정전기방지소자를 형성하는 단계를 포함하고, Forming an antistatic device connected to the common line and connected to the signal line between the intersection of the common line and the signal lines and the supply line to remove static electricity from the signal line, 상기 교차점과 상기 공급라인 사이에서 상기 신호라인 상에 형성되는 검사패드를 더 구비하고, And a test pad formed on the signal line between the intersection point and the supply line. 상기 정전기방지소자는 상기 공급라인과 상기 검사패드 사이에서 상기 신호라인에 접속되는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 제조방법.And the antistatic device is connected to the signal line between the supply line and the test pad.
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