KR100928492B1 - Liquid crystal display - Google Patents

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최승규
우철민
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엘지디스플레이 주식회사
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Abstract

본 발명은 더미 패턴을 통해 외부로부터 유입되는 정전기를 방지한 액정 표시 장치에 관한 것으로, 스크라이브 라인과 공통 라인 사이에, 상기 스크라이브 라인 및 공통 라인과 교차되는 각각의 TFT 소자 검사 라인별로 각각 이격된 도전성의 복수개의 더미 패턴을 포함하여 이루어짐을 특징으로 한다.The present invention relates to a liquid crystal display device that prevents static electricity flowing from the outside through a dummy pattern, and is characterized in that a gap between a scribe line and a common line, And a plurality of dummy patterns.

더미 패턴, 정전기, 테스트, 스크라이브 라인Dummy pattern, static electricity, test, scribe line

Description

액정 표시 장치{Liquid Crystal Display Device}[0001] The present invention relates to a liquid crystal display device,

도 1의 종래의 액정 표시 장치를 나타낸 평면도1 is a plan view showing a conventional liquid crystal display device

도 2는 도 1의 라인단부의 TFT 검사부를 나타낸 회로도Fig. 2 is a circuit diagram showing a TFT inspection section at the line end of Fig. 1

도 3은 도 2의 I~I' 선상의 단면도3 is a cross-sectional view taken along line I-I '

도 4는 도 2의 Ⅱ~Ⅱ' 선상의 단면도Fig. 4 is a cross-sectional view taken along line II-II '

도 5는 본 발명의 액정 표시 장치를 나타낸 평면도5 is a plan view showing a liquid crystal display device of the present invention

도 6은 도 5의 Ⅲ~Ⅲ'선상의 단면도6 is a cross-sectional view taken along line III-III '

도 7은 도 5의 Ⅳ~Ⅳ' 선상의 단면도7 is a cross-sectional view taken along line IV-IV '

*도면의 주요 부분에 대한 부호 설명*Description of the Related Art [0002]

41 : 게이트 라인 42 : 데이터 라인41: gate line 42: data line

43 : 게이트 라인 측 ESD 소자 44 : 데이터 라인 측 ESD 소자43: gate line side ESD element 44: data line side ESD element

47 : 공통 라인 48 : 게이트 절연막47: common line 48: gate insulating film

49 : 콘택 홀 50, 51 : 더미 패턴49: contact hole 50, 51: dummy pattern

53, 54 : TFT 소자 검사 라인 60 : 기판53, 54: TFT element inspection line 60: substrate

본 발명은 액정 표시 장치에 관한 것으로 특히, 더미 패턴을 통해 외부로부터 유입되는 정전기를 방지한 액정 표시 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to a liquid crystal display device that prevents static electricity flowing from the outside through a dummy pattern.

정보화 사회가 발전함에 따라 표시 장치에 대한 요구도 다양한 형태로 점증하고 있으며, 이에 부응하여 근래에는 LCD(Liquid Crystal Display Device), PDP(Plasma Display Panel), ELD(Electro Luminescent Display), VFD(Vacuum Fluorescent Display) 등 여러 가지 평판 표시 장치가 연구되어 왔고, 일부는 이미 여러 장비에서 표시 장치로 활용되고 있다.(PDP), Electro Luminescent Display (ELD), Vacuum Fluorescent (VFD), and the like have been developed in recent years in response to the demand for display devices. Display) have been studied, and some of them have already been used as display devices in various devices.

그 중에, 현재 화질이 우수하고 경량, 박형, 저소비 전력의 특징 및 장점으로 인하여 이동형 화상 표시 장치의 용도로 CRT(Cathode Ray Tube)를 대체하면서 LCD가 가장 많이 사용되고 있으며, 노트북 컴퓨터의 모니터와 같은 이동형의 용도 이외에도 방송 신호를 수신하여 디스플레이하는 텔레비젼 및 컴퓨터의 모니터 등으로 다양하게 개발되고 있다.Among them, the LCD is the most widely used in place of a CRT (Cathode Ray Tube) for the purpose of a portable image display device because of its excellent image quality, light weight, thinness and low power consumption, A television monitor for receiving and displaying a broadcast signal, a computer monitor, and the like.

이와 같은 액정 표시 장치가 일반적인 화면 표시 장치로서 다양한 부분에 사용되기 위해서는 경량, 박형, 저 소비 전력의 특징을 유지하면서도 고정세, 고휘도, 대면적 등 고품위 화상을 얼마나 구현할 수 있는가에 관건이 걸려 있다고 할 수 있다.In order to use such a liquid crystal display device as a general screen display device in various parts, it is said that it is important to realize high quality image such as high definition, high brightness, and large area while maintaining characteristics of light weight, thin shape and low power consumption .

일반적인 액정 표시 장치는, 화상을 표시하는 액정 패널과 상기 액정 패널에 구동 신호를 인가하기 위한 구동부로 크게 구분될 수 있으며, 상기 액정 패널은 일정 공간을 갖고 합착된 제 1, 제 2 유리 기판과, 상기 제 1, 제 2 유리 기판 사이에 주입된 액정층으로 구성된다. A general liquid crystal display device can be broadly divided into a liquid crystal panel for displaying an image and a driving part for applying a driving signal to the liquid crystal panel. The liquid crystal panel includes first and second glass substrates, And a liquid crystal layer injected between the first and second glass substrates.                         

여기서, 상기 제 1 유리 기판(TFT 어레이 기판)에는 일정 간격을 갖고 일 방향으로 배열되는 복수개의 게이트 라인과, 상기 각 게이트 라인과 수직한 방향으로 일정한 간격으로 배열되는 복수개의 데이터 라인과, 상기 각 게이트 라인과 데이터 라인이 교차되어 정의된 각 화소 영역에 매트릭스 형태로 형성되는 복수개의 화소 전극과 상기 게이트 라인의 신호에 의해 스위칭되어 상기 데이터 라인의 신호를 각 화소 전극에 전달하는 복수개의 박막 트랜지스터가 형성된다.Here, the first glass substrate (TFT array substrate) has a plurality of gate lines arranged at regular intervals and arranged in one direction, a plurality of data lines arranged at regular intervals in a direction perpendicular to the gate lines, A plurality of pixel electrodes formed in a matrix form in each pixel region defined by intersecting gate lines and data lines and a plurality of thin film transistors switched by signals of the gate lines to transmit signals of the data lines to the pixel electrodes .

그리고, 제 2 유리 기판(칼라 필터 기판)에는, 상기 화소 영역을 제외한 부분의 빛을 차단하기 위한 차광층과, 칼라 색상을 표현하기 위한 R, G, B 칼라 필터층과 화상을 구현하기 위한 공통 전극이 형성된다.The second glass substrate (color filter substrate) is provided with a light-shielding layer for shielding light in a portion excluding the pixel region, an R, G, and B color filter layers for expressing color hues, .

상기 일반적인 액정 표시 장치의 구동 원리는 액정의 광학적 이방성과 분극 성질을 이용한다. 액정은 구조가 가늘고 길기 때문에 분자의 배열에 방향성을 갖고 있으며, 인위적으로 액정에 전기장을 인가하여 분자 배열의 방향을 제어할 수 있다.The driving principle of the general liquid crystal display device utilizes the optical anisotropy and the polarization property of the liquid crystal. Liquid crystals have a directional arrangement of molecules because the structure is thin and long, and the direction of the molecular arrangement can be controlled by artificially applying an electric field to the liquid crystal.

따라서, 상기 액정의 분자 배열 방향을 임의로 조절하면, 액정의 분자 배열이 변하게 되고, 광학적 이방성에 의하여 상기 액정의 분자 배열 방향으로 빛이 굴절하여 화상 정보를 표현할 수 있다.Therefore, when the molecular alignment direction of the liquid crystal is arbitrarily adjusted, the molecular arrangement of the liquid crystal is changed, and light is refracted in the molecular alignment direction of the liquid crystal due to optical anisotropy, so that image information can be expressed.

현재에는 박막 트랜지스터와 상기 박막 트랜지스터에 연결된 화소 전극이 행렬 방식으로 배열된 능동 행렬 액정 표시 장치(Active Matrix LCD)가 해상도 및 동영상 구현 능력이 우수하여 가장 주목받고 있다.At present, active matrix liquid crystal displays (LCDs), in which a thin film transistor and pixel electrodes connected to the thin film transistor are arranged in a matrix manner, have received the most attention because of their excellent resolution and video realization capability.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 종래의 액정 표시 장치를 설명하면 다음과 같 다.Hereinafter, a conventional liquid crystal display device will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1의 종래의 액정 표시 장치를 나타낸 평면도이다.1 is a plan view showing a conventional liquid crystal display device.

도 1과 같이, 종래의 액정 표시 장치는 서로 대향되어 형성된 상부 기판(1)과, 하부 기판(2)과, 상기 상하부 기판(1, 2) 사이의 액정층(미도시)으로 이루어져 있다. 이 때, 하부 기판(2)은 화소의 구동을 위한 구동부 형성을 위해 상기 상부 기판(1)에 비해 외곽에 일정한 면적(30)을 더 갖도록 형성되어 있다.1, a conventional liquid crystal display device comprises an upper substrate 1, a lower substrate 2, and a liquid crystal layer (not shown) between the upper and lower substrates 1 and 2 formed opposite to each other. At this time, the lower substrate 2 is formed so as to have a certain area 30 on the outer periphery of the upper substrate 1 in order to form a driving part for driving the pixels.

그리고, 상기 하부 기판(2)에는 전원부가 형성되지 않는 상부 기판(1) 측의 공통 전극에 전압을 인가하기 위해 공통 라인이 화소부(10) 외곽(20)에 형성된다. 상기 하부 기판의 공통 라인(17)과 상부 기판(1)과의 Ag 도트(15)를 형성하여 상기 공통 라인(17)에 인가된 전압이 상부 기판(1)의 공통 전극(미도시)으로 인가되도록 한다.A common line is formed in the outer portion 20 of the pixel portion 10 in order to apply a voltage to the common electrode on the side of the upper substrate 1 on which the power source portion is not formed. The common line 17 of the lower substrate and the Ag dot 15 of the upper substrate 1 are formed so that the voltage applied to the common line 17 is applied to the common electrode (not shown) of the upper substrate 1 .

도 2는 도 1의 라인단부의 TFT 검사부를 나타낸 회로도이고, 도 3은 도 2의 I~I' 선상의 단면도이며, 도 4는 도 2의 Ⅱ~Ⅱ' 선상의 단면도이다.FIG. 2 is a circuit diagram showing a TFT inspection portion of the line end of FIG. 1, FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line I-I 'of FIG. 2, and FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line II-II' of FIG.

도 2 내지 도 4와 같이, 게이트 라인(Gn)과 데이터 라인(Dn)의 일측 끝에는 각 내부 및 외부 정전기에 대한 방지책으로 공통 라인(17)이 연결되어 ESD(정전기 방지) 소자(22)를 더 형성한다.2 to 4, a common line 17 is connected to one end of each of the gate line Gn and the data line Dn as a countermeasure against internal and external static electricity so that the ESD (antistatic) .

여기서, 스크라이브 라인(scribe line)(21) 상으로 그라인딩(grinding 또는 컷팅) 공정으로 제거되기 전까지는 각 게이트 라인들(Gn) 및 각 데이터 라인(Dn)들은 외부로 형성되어 있고, 이러한 외부의 라인들을 통해 TFT 소자 특성을 테스팅하도록 한다. Here, the gate lines Gn and the data lines Dn are formed externally before being removed by the grinding or cutting process on the scribe line 21, Thereby testing the TFT device characteristics.                         

여기서, 상기 TFT 소자 특성을 검사하기 외부로 유출되는 라인(23)은 데이터 라인 메탈 성분으로, TFT 소자 특성을 검사한 후, 스크라이브 공정시 스크라이브 선 밖으로는 제거되게 된다. Here, the line 23 flowing out to the outside for inspecting the TFT device characteristics is a data line metal component, and after the TFT device characteristics are inspected, the scribe line is removed from the scribe line.

상기 스크라이브 라인의 컷팅 공정시 외부로부터는 상당한 고압의 정전기가 발생하는데, 이러한 정전기가 순간적으로 유입하게 될 때, 상기 공통 라인(17)과 게이트 라인 또는 데이터 라인간의 쇼트(short)가 발생한다.During the cutting process of the scribe line, considerable high-voltage static electricity is generated from the outside. When such static electricity instantaneously flows, a short occurs between the common line 17 and the gate line or the data line.

여기서, 상기 공통 라인(17)은 게이트 라인(Gn)과 동일층에 게이트 라인 메탈로 형성되며, 상기 TFT 소자 특성을 검사하기 위해 외부로 유출되는 검사 라인(23)은 공통 라인(17)을 교차하여 지나가는데, 둘 사이의 도통을 막기 위해 상기 검사 라인(23)은 데이터 라인 메탈로 형성한다.Here, the common line 17 is formed of a gate line metal on the same layer as the gate line Gn, and the inspection line 23 flowing out to the TFT device for testing the TFT device characteristics intersects the common line 17 The inspection line 23 is formed of a data line metal in order to prevent conduction between the two.

즉, 각각 다른 층에 형성된 게이트 라인 메탈로 이루어진 공통 라인(17)과, 검사 라인(23)이 고압 정전기 유입으로 두 라인 사이의 게이트 절연막(31) 또는 반도체층(미도시)의 절연 특성이 파괴되어 도통하게 되면, 순간적으로 공통 라인에 인가된 전압 값이 상기 검사 라인에 연결된 게이트 라인(Gn) 또는 데이터 라인(Dn) 측으로 인가된다. 따라서, 각 게이트 라인(Gn) 또는 데이터 라인(Dn)에 원하는 레벨의 전압 값이 아니라 순간적으로 공통 전압이 인가되어 표시 불량을 나타내게 된다.That is, the insulating property of the gate insulating film 31 or the semiconductor layer (not shown) between the two lines due to the introduction of the high-voltage static electricity is destroyed by the common line 17 composed of the gate line metal formed on the different layer The voltage value applied to the common line is momentarily applied to the gate line Gn or the data line Dn connected to the inspection line. Therefore, the common voltage is momentarily applied to each gate line Gn or the data line Dn, not the voltage value of the desired level, resulting in display failure.

또한, 상기 스크라이브 라인의 컷팅 공정 후는 상기 공통 라인이 가장 외곽에 위치하게 되며, 따라서, 컷팅 후 상기 공통 라인은 정전기에 가장 취약한 부분이 된다. Further, after the cutting process of the scribe line, the common line is located at the outermost position, so that the common line becomes the most vulnerable part to static electricity after cutting.

실제 정전기는 공정 전후로 발생할 수 있고, 액정 패널의 외부 및 내부에서도 모두 문제되는데, 이러한 상기 공통 라인의 취약성으로 인해 신뢰성이 저하된다.Actual static electricity can occur before and after the process, and both the outside and inside of the liquid crystal panel are problematic, and the reliability is lowered due to the weakness of the common line.

상기와 같은 종래의 액정 표시 장치는 다음과 같은 문제점이 있다.The conventional liquid crystal display device has the following problems.

일반적으로 TN 모드의 액정 표시 장치의 경우, 상부 전면에 공통 전극이 형성되며, 상기 공통 전극에 전압을 인가하기 위해 전원부에 연결된 하부 기판의 외곽부에 형성된 공통 라인과 Ag 도팅을 실시한다.Generally, in the case of a TN mode liquid crystal display, a common electrode is formed on an upper surface, and a common line formed on an outer frame of a lower substrate connected to a power source for applying a voltage to the common electrode is Ag-doped.

한편, 액정 패널의 스크라이브 라인의 컷팅 공정시 외부로부터 순간적으로 고압의 정전기가 발생, 유입되는데, 이 때, 스크라이빙 실시 후 가장 외곽에 있는 라인이 공통 라인으로, 상기 공통 라인과 데이터 라인 또는 게이트 라인의 쇼트가 발생한다.On the other hand, in the cutting process of the scribe line of the liquid crystal panel, static electricity is instantaneously generated and flowed from the outside. At this time, the outermost lines after the scribing are common lines, A short of the line occurs.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로 더미 패턴을 통해 외부로부터 유입되는 정전기를 방지한 액정 표시 장치를 제공하는 데, 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and it is an object of the present invention to provide a liquid crystal display device which prevents static electricity flowing from the outside through a dummy pattern.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 액정 표시 장치는 스크라이브 라인과 공통 라인 사이에, 상기 스크라이브 라인 및 공통 라인과 교차되는 각각의 TFT 소자 검사 라인별로 각각 이격된 도전성의 복수개의 더미 패턴을 포함하여 이루어짐을 특징으로 한다. According to an aspect of the present invention, there is provided a liquid crystal display device including a plurality of conductive dummy patterns spaced apart from each other by a TFT element inspection line crossing a scribe line and a common line between a scribe line and a common line .                     

상기 복수개의 더미 패턴은 게이트 라인과 동일층에 형성된다.The plurality of dummy patterns are formed on the same layer as the gate lines.

상기 공통 라인은 게이트 라인과 동일층에 형성된다.The common line is formed in the same layer as the gate line.

상기 TFT 소자 검사 라인은 상기 공통 라인과 다른 층에 형성된다.The TFT element inspection line is formed in a layer different from the common line.

상기 TFT 소자 검사 라인은 데이터 라인과 동일층에 형성된다.The TFT element inspection line is formed in the same layer as the data line.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 액정 표시 장치를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a liquid crystal display device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 5는 본 발명의 액정 표시 장치를 나타낸 평면도이고, 도 6은 도 5의 Ⅲ~Ⅲ'선상의 단면도이며, 도 7은 도 5의 Ⅳ~Ⅳ' 선상의 단면도이다.FIG. 5 is a plan view of the liquid crystal display device of the present invention, FIG. 6 is a sectional view taken along line III-III 'of FIG. 5, and FIG. 7 is a sectional view taken along line IV-IV' of FIG.

도 5와 같이, 본 발명의 액정 표시 장치는 스크라이브 라인(점선 표시)과 공통 라인(47) 사이에, 상기 스크라이브 라인 및 공통 라인(47)과 교차되는 각각의 TFT 소자 검사 라인(53, 54)별로 각각 이격된 도전성의 복수개의 더미 패턴(50, 51)을 형성한다.5, the liquid crystal display device according to the present invention includes TFT element inspection lines 53 and 54 crossing the scribe line and the common line 47 between a scribe line (dotted line display) and a common line 47, A plurality of electrically conductive dummy patterns 50 and 51 are formed.

이 때, 상기 복수개의 더미 패턴(50, 51)은 게이트 라인(41)과 동일층에 게이트 라인 메탈로 형성한다.At this time, the plurality of dummy patterns 50 and 51 are formed of the gate line metal in the same layer as the gate line 41.

또한, 상기 공통 라인(47)은 게이트 라인(41)과 동일층에 형성하도록 한다.The common line 47 is formed on the same layer as the gate line 41.

여기서, 스크라이브 라인(scribe line) 상으로 그라인딩(grinding 또는 컷팅) 공정으로 제거되기 전까지는 각 게이트 라인(41)들 및 각 데이터 라인(42)들은 ESD 소자(정전기 방지 소자)(43, 44) 전에 외부로 TFT 소자 검사 라인(52, 53)과 연결되어, 상기 TFT 소자 검사 라인(52, 53)에 소정의 전압 값을 인가하여 TFT 소자 특성을 테스팅하도록 한다. 또한, 상기 ESD 소자(43, 44)들은 공통 라인(47)과 연장배선(45, 46)을 통해 연결되어 있다.Here, each of the gate lines 41 and each data line 42 is connected to the ESD element (static electricity prevention element) 43, 44 before the gate line 41 is removed by a grinding or cutting process on a scribe line And is connected to the TFT element inspection lines 52 and 53 externally so that a predetermined voltage value is applied to the TFT element inspection lines 52 and 53 to test the TFT element characteristics. The ESD devices 43 and 44 are connected to the common line 47 through the extension wirings 45 and 46.

이 때, 상기 TFT 소자 라인(52, 53)은 공통 라인(47)을 지나가기 때문에, 상기 TFT 소자 라인(52, 53)과 공통 라인(47)의 도통을 막기 위해 상기 공통 라인(47)이 형성된 층과는 다른 층에 형성하도록 한다. 즉, 상기 공통 라인(47)은 게이트 라인(41)과 동일층에 형성되어 있으므로, 상기 공통 라인(47)은 게이트 라인(41) 이후의 형성된 데이터 라인(42)과 동일층에 형성하도록 한다.At this time, since the TFT element lines 52 and 53 pass through the common line 47, the common line 47 prevents the TFT element lines 52 and 53 from being electrically connected to the common line 47 Is formed on a layer different from the layer formed. That is, since the common line 47 is formed on the same layer as the gate line 41, the common line 47 is formed on the same layer as the data line 42 formed after the gate line 41.

이 때, 상기 데이터 라인(42)의 일측끝에 형성되는 TFT 소자 검사 라인(52)은 원래의 데이터 라인(42)과 연결되는 패턴으로 형성하면 되고, 상기 게이트 라인(41)의 일측끝에 형성되는 TFT 소자 검사 라인(53)은 게이터 라인(41)과 콘택홀(49)을 통해 전기적으로 연결되는 부분을 갖고 서로 다른 층에 형성하도록 한다. The TFT element inspection line 52 formed at one end of the data line 42 may be formed in a pattern connected to the original data line 42 and the TFT element inspection line 52 formed at one end of the gate line 41 The element inspection line 53 has a portion electrically connected to the gate line 41 through the contact hole 49 so as to be formed in different layers.

이 때, 상기 TFT 소자 검사 라인(52)은 상기 게이트 라인(41) 및 데이터 라인(42)과 모두 다른 층에 형성될 수도 있으나, 이 경우 기판 상에 형성되는 구조물의 높이가 커지는 문제점으로, 이러한 방법은 피하고 있다.In this case, the TFT element inspection line 52 may be formed in a different layer from both the gate line 41 and the data line 42. However, in this case, the height of the structure formed on the substrate is increased. The method is avoiding.

여기서, 상기 TFT 소자 특성을 검사하기 외부로 유출되는 검사 라인(53)은 데이터 라인(42) 메탈 성분으로, TFT 소자 특성을 검사한 후, 스크라이브 공정시 스크라이브 라인 밖으로는 제거되게 된다. Here, the inspection line 53 flowing out to the outside of the TFT device characteristic is a metal component of the data line 42, and after the TFT device characteristic is inspected, it is removed from the scribe line during the scribing process.

상기 스크라이브 라인의 컷팅 공정시 외부로부터는 상당한 고압의 정전기가 발생하는데, 이러한 정전기가 순간적으로 유입하게 될 때, 상기 공통 라인(47) 외부의 상기 더미 패턴(50, 51)이 일차적으로 정전기를 받게 되어, 내부의 화소부로 정전기가 유입됨을 방지한다.During the cutting process of the scribe line, considerable high-voltage static electricity is generated from the outside. When such static electricity instantaneously flows, the dummy patterns 50 and 51 outside the common line 47 receive static electricity primarily Thereby preventing the static electricity from flowing into the pixel portion in the inside.

따라서, 상기 스크라이브 라인의 컷팅 공정 후 또는 이후의 완성품의 액정 패널에 발생하는 정전기에 대해서도 상기 더미 패턴(50, 51)은 일차적으로 상기 공통 라인(47)에 대해 정전기 방지 기능을 갖고, 또한, 각각 스크라이브 라인과 공통 라인 사이에 교차하는 TFT 소자 검사 라인마다 분리됨으로써, 각 소자마다 정전기 방지 기능을 가질 수 있으며, 하나의 더미 패턴(50, 51)에 정전기가 유입되어 정전기 방지 기능을 상실하더라도, 나머지 영역에서는 정상적인 정전기 방지 기능을 갖게 되며, 이러한 정전기 방지에 대한 유효 특성이 오래 가게 된다.Accordingly, the static electricity generated in the liquid crystal panel of the finished product after or after the scribing line cutting process also has the antistatic function for the dummy patterns 50, 51 primarily against the common line 47, Each of the TFT element inspection lines crossing between the scribe line and the common line is separated for each inspection line so that each element can have an anti-static function. Even if the static electricity is lost due to the flow of static electricity into one dummy pattern 50 or 51, The area has a normal antistatic function, and the effective characteristics for such antistatic are prolonged.

상기와 같은 본 발명의 액정 표시 장치는 다음과 같은 효과가 있다.The liquid crystal display of the present invention as described above has the following effects.

스크라이브 라인의 컷팅이나 외부에서 패널측으로 유입되는 정전기를 일차로 게이트 라인 또는 데이터 라인 단부의 더미 패턴이 차단하여 내부 패널을 보호할 수 있다.

It is possible to protect the inner panel by cutting the scribe line or static electricity flowing from the outside to the panel side by blocking the dummy pattern of the gate line or the data line end.

Claims (5)

상부 기판, 하부 기판 및 그 사이에 액정이 개재되어 이루어지며, 상기 하부 기판의 중앙에 복수개의 게이트 라인과 데이터 라인을 포함한 화소부와, 상기 화소부의 인접한 두변에 대응되어 패드부를 구비하여 상기 화소부 외곽에 형성된 외곽부 및 상기 외곽부의 경계에 스크라이브 라인이 정의된 액정 표시 장치에 있어서,A pixel portion including a plurality of gate lines and a data line at the center of the lower substrate and a pad portion corresponding to adjacent two sides of the pixel portion, And a scribe line is defined at a boundary between the outer frame and the outer frame, 상기 하부 기판의 스크라이브 라인과 이격하여, 상기 패드부가 형성되지 않은 외곽부에 형성된 공통 라인;A common line spaced apart from a scribe line of the lower substrate and formed on an outer frame portion where the pad portion is not formed; 상기 화소부와 상기 공통 라인 사이에 대응되는 외곽부에, 각 게이트 라인들 및 데이터 라인들의 일측끝에 연결되어 각각 형성된 정전기 방전 소자;An electrostatic discharge element connected to one end of each of the gate lines and the data lines at an outer frame portion corresponding to the pixel portion and the common line; 상기 각 정전기 방전 소자 전의 외곽부에서 상기 각 정전기 방전 소자와 연결된 게이트 라인 또는 데이터 라인들의 일측끝과 접점을 갖고, 상기 공통 라인 및 스크라이브 라인과 교차되어 나가는 TFT 소자 검사 라인; 및A TFT element inspection line having one end and a contact point of a gate line or data lines connected to the electrostatic discharge elements at an outer frame before the electrostatic discharge elements and crossing the common line and the scribe line; And 상기 공통 라인과 스크라이브 라인 사이에, 상기 각 TFT 소자 검사 라인별로 형성된 더미 패턴을 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 액정 표시 장치.And a dummy pattern formed for each TFT element inspection line between the common line and the scribe line. 제 1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 더미 패턴은 상기 게이트 라인과 동일층에 형성된 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.Wherein the dummy pattern is formed on the same layer as the gate line. 제 1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 공통 라인은 상기 게이트 라인과 동일층에 형성된 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.Wherein the common line is formed on the same layer as the gate line. 제 1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 TFT 소자 검사 라인은 상기 공통 라인과 다른 층에 형성된 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.And the TFT element inspection line is formed in a layer different from the common line. 제 4항에 있어서,5. The method of claim 4, 상기 TFT 소자 검사 라인은 데이터 라인과 동일층에 형성된 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.And the TFT element inspection line is formed on the same layer as the data line.
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