KR100908902B1 - Manufacturing Method of Substrate Module and Flexible Array Substrate - Google Patents
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Abstract
본 발명은 가요성 어레이 기판의 제조 방법에 관한 것이다. 우선, 경질 기판을 제공하고, 그 경질 기판에 버퍼층을 형성한다. 상기 버퍼층 상에 가요성 기판을 부착하여, 기판 모듈을 형성한다. 그 후, 상기 가요성 기판상에서 박막형성공정을 수행한다. 특히, 경질 기판상에 버퍼층을 형성하는 것에 의하여 야기된 응력 상태와 버퍼층의 물리적 성질은 상기 박막형성공정 중에 열팽창수축으로 인한 가요성 기판의 밴딩을 감소시킬 수 있다. 상기 박막형성공정을 수행한 이후에, 가요성 기판은 용이하게 밴딩되거나 변형되지 않아, 가요성 어레이 기판의 공정 수율을 향상시킬 수 있다.The present invention relates to a method of manufacturing a flexible array substrate. First, a hard substrate is provided, and a buffer layer is formed on the hard substrate. A flexible substrate is attached on the buffer layer to form a substrate module. Thereafter, a thin film forming process is performed on the flexible substrate. In particular, the stress state caused by the formation of the buffer layer on the rigid substrate and the physical properties of the buffer layer can reduce the bending of the flexible substrate due to thermal expansion shrinkage during the thin film formation process. After performing the thin film forming process, the flexible substrate is not easily bent or deformed, thereby improving the process yield of the flexible array substrate.
Description
도 1A 내지 도 1D는 본 발명의 실시예의 가요성 어레이 기판의 제조공정 단면도.1A-1D are cross-sectional views of a manufacturing process of the flexible array substrate of the embodiment of the present invention.
도 1E는 본 발명의 실시예의 기판 모듈 사시도.1E is a perspective view of a substrate module in an embodiment of the invention.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
100: 기판 모듈100: board module
110:경질 기판110: rigid board
120:버퍼층120: buffer layer
130:가요성 기판130: Flexible board
132:패널132 : Panel
140:점착층140: adhesion layer
150:박막형성공정150: thin film formation process
160:어레이 구조160: Array structure
B1:제1 밴딩 방향B1 : 1st bending direction
B2:제2 밴딩 방향B2: 2nd bending direction
본 발명은 기판 모듈 및 어레이 기판의 제조 방법에 관한 것으로, 특히 기판모듈 및 가요성 어레이 기판의 제조 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a method for manufacturing a substrate module and an array substrate, and more particularly, to a method for manufacturing a substrate module and a flexible array substrate.
평면 디스플레이의 가요성 구비 여부는 사용된 기판의 재질에 의해 좌우된다. 평면 디스플레이에 사용된 기판이 경질 기판(유리 기판 등)일 경우, 평면 디스플레이는 가요성을 구비하지 않는다. 반대로 평면 디스플레이에 사용된 기판이 가요성 기판(플라스틱 기판 등)일 경우, 평면 디스플레이는 양호한 가요성을 구비한다. Whether or not the flat panel display is flexible depends on the material of the substrate used. When the substrate used for the flat panel display is a hard substrate (such as a glass substrate), the flat panel display does not have flexibility. Conversely, when the substrate used for the flat panel display is a flexible substrate (such as a plastic substrate), the flat panel display has good flexibility.
현재 경질 기판 위에 박막 트랜지스터(TFT)를 제작하는 기술이 이미 성숙단계로 들어서고 있지만, 가요성 기판 위에 TFT를 제작하는 기술이 아직도 더 개발될 필요가 있다. 일반적으로 가요성 기판 위에 TFT를 제작할 때에는 먼저 가요성 기판을 경질 기판 위에 점착시킨 후에 박막형성공정을 진행해야 한다. 가요성 기판과 경질 기판의 열팽창 계수의 차이(thermal expansion coefficient mis-match)가 매우 크기 때문에, 가요성 기판 위에서 다양한 박막형성공정(고온공정), 리소그라피(Lithography) 공정, 에칭 공정을 실시할 때, 조작 온도 상승으로 인해 가요성 기판에 밴딩이 생긴다. 주의할 것은 밴딩이 심한 가요성 기판 위에서 박막형성공정을 수행할 경우 막층과 막층 사이에 심각한 오정열(mis-alignment)이 나타나서 공정이 실패하게 되므로, 가요성 어레이 기판의 공정 수율을 높이기 어렵다는 것이 다. At present, the technology for fabricating thin film transistors (TFTs) on rigid substrates has already matured, but the technology for fabricating TFTs on flexible substrates still needs to be further developed. In general, when manufacturing a TFT on a flexible substrate, the flexible substrate is first adhered to the rigid substrate, and then a thin film forming process must be performed. Since the thermal expansion coefficient mismatch between the flexible substrate and the rigid substrate is very large, various thin film formation processes (high temperature processes), lithography processes, and etching processes are performed on the flexible substrate. The rise in operating temperature causes banding to the flexible substrate. It should be noted that when the thin film forming process is performed on a flexible band with severe banding, a serious mis-alignment may occur between the film layer and the film layer, causing the process to fail, making it difficult to increase the process yield of the flexible array substrate.
본 발명은 가요성 어레이 기판의 제조 방법을 제공하여 가요성 기판에 밴딩이 발생하는 문제를 개선할 수 있다. The present invention can provide a method of manufacturing a flexible array substrate can improve the problem that the banding occurs in the flexible substrate.
본 발명은 기판 모듈을 제공하여 가요성 기판의 공정 수율을 높일 수 있다.The present invention can provide a substrate module to increase the process yield of the flexible substrate.
본 발명은 가요성 어레이 기판의 제조 방법에 관한 것으로, 다음의 단계를 포함한다. 우선 경질 기판을 제공한 후, 경질 기판 위에 버퍼층을 형성시켜, 버퍼층과 경질 기판에 제1 밴딩 방향을 형성시킨다. 가요성 기판을 버퍼층에 접착시키고, 가요성 기판 위에서 박막형성공정을 수행한다. 박막형성공정을 수행할 때, 가요성 기판에 제2 밴딩 방향이 형성되며, 제1 밴딩 방향과 제2 밴딩 방향은 대략 상반된다. The present invention relates to a method of manufacturing a flexible array substrate, and includes the following steps. First, after providing a hard substrate, a buffer layer is formed on the hard substrate to form a first bending direction in the buffer layer and the hard substrate. The flexible substrate is bonded to the buffer layer, and a thin film forming process is performed on the flexible substrate. When the thin film forming process is performed, a second bending direction is formed on the flexible substrate, and the first bending direction and the second bending direction are approximately opposite.
본 발명은 또 다른 가요성 어레이 기판의 제조 방법도 제공한다. 우선 경질 기판 위에 버퍼층을 형성한다. 버퍼층의 재질은 금속 또는 금속화합물이다. 그 후, 가요성 기판을 버퍼층 상부에 접착시키고, 가요성 기판 위에서 박막형성공정을 수행한다.The present invention also provides another method of making a flexible array substrate. First, a buffer layer is formed on the hard substrate. The material of the buffer layer is a metal or a metal compound. Thereafter, the flexible substrate is adhered on the buffer layer, and a thin film forming process is performed on the flexible substrate.
본 발명은 또 다른 가요성 어레이 기판의 제조 방법도 제공한다. 우선 경질 기판 위에 버퍼층을 형성한 후, 점착층을 이용하여 가요성 기판과 버퍼층을 접합시키고, 가요성 기판 위에서 박막형성공정을 수행한다. The present invention also provides another method of making a flexible array substrate. First, a buffer layer is formed on a hard substrate, and then a flexible substrate and a buffer layer are bonded using an adhesive layer, and a thin film forming process is performed on the flexible substrate.
본 발명의 실시예에 있어서, 전술한 버퍼층의 열팽창 계수는 경질 기판의 열팽창 계수보다 작거나, 경질 기판의 열팽창 계수와 같다. 또한 버퍼층의 열팽창 계수도 경질 기판의 열팽창 계수와 가요성 기판의 열팽창 계수 사이에 있다. In the embodiment of the present invention, the above-described thermal expansion coefficient of the buffer layer is less than or equal to the thermal expansion coefficient of the hard substrate. The thermal expansion coefficient of the buffer layer is also between the thermal expansion coefficient of the rigid substrate and the thermal expansion coefficient of the flexible substrate.
본 발명의 실시예에 있어서, 전술한 가요성 기판을 버퍼층에 접착시키는 단계에는 버퍼층 위에 점착층을 형성시키고, 점착층을 이용하여 가요성 기판과 버퍼층을 접착하는 방법과, 가요성 기판 위에 점착층을 형성시키고, 점착층을 이용하여 가요성 기판과 버퍼층을 형성시키는 방법이 포함된다. In an embodiment of the present invention, in the step of adhering the above-mentioned flexible substrate to the buffer layer, a pressure-sensitive adhesive layer is formed on the buffer layer, a method of adhering the flexible substrate and the buffer layer using the pressure-sensitive adhesive layer, and the pressure-sensitive adhesive layer on the flexible substrate. And a method of forming a flexible substrate and a buffer layer using an adhesive layer.
본 발명의 실시예에 있어서, 박막형성공정이 완성된 후에는 가요성 기판과 버퍼층을 분리시키는 과정이 포함된다. In an embodiment of the present invention, after the thin film forming process is completed, a process of separating the flexible substrate and the buffer layer is included.
본 발명의 실시예에 있어서, 전술한 가요성 기판에는 플라스틱 기판이 포함되고, 경질 기판에는 유리기판이 포함된다. In an embodiment of the present invention, the above-described flexible substrate includes a plastic substrate, and the rigid substrate includes a glass substrate.
본 발명의 실시예에 있어서, 전술한 박막형성공정에는 능동 부품어레이 공정과 컬러 필터 공정, 또는 전술한 공정이 결합된 공정이 포함된다. 이 가운데 능동 부품 어레이 공정에는 a-Si TFT 어레이 공정이나 p-Si TFT 어레이 공정이 포함된다.In an embodiment of the present invention, the above-described thin film forming process includes an active component array process, a color filter process, or a process in which the aforementioned process is combined. Active component array processes include a-Si TFT array processes and p-Si TFT array processes.
본 발명의 실시예 중, 전술한 버퍼층의 재질에는 금속, 또는 금속화합물이 포함된다. 특히, 버퍼층의 재질은 알루미늄, 구리, 몰리브데늄, 티타늄, 크롬, 탄탈, 또는 텅스텐 등의 금속이나 그 화합물이 될 수 있다. In an embodiment of the present invention, the material of the above-described buffer layer includes a metal or a metal compound. In particular, the material of the buffer layer may be a metal such as aluminum, copper, molybdenum, titanium, chromium, tantalum, or tungsten, or a compound thereof.
본 발명에서 제공하는 기판모듈에는 경질 기판, 버퍼층, 점착층, 가요성 기판이 포함된다. 버퍼층은 경질 기판 위에 위치하며, 점착층은 버퍼층 위에 위치하고, 가요성 기판은 점착층에 의해 버퍼층과 결합된다. The substrate module provided by the present invention includes a hard substrate, a buffer layer, an adhesive layer, and a flexible substrate. The buffer layer is positioned over the rigid substrate, the adhesive layer is positioned over the buffer layer, and the flexible substrate is bonded with the buffer layer by the adhesive layer.
본 발명에서 제공하는 또 다른 기판모듈에는 경질 기판, 버퍼층, 가요성 기 판이 포함된다. 버퍼층은 경질 기판 위에 위치하며, 버퍼층의 재질은 금속, 또는 금속화합물이며, 가요성 기판은 버퍼층 위에 접착된다. Another substrate module provided by the present invention includes a hard substrate, a buffer layer, a flexible substrate. The buffer layer is located on the rigid substrate, and the material of the buffer layer is a metal or a metal compound, and the flexible substrate is bonded onto the buffer layer.
본 발명의 실시예에 있어서, 전술한 버퍼층의 열팽창 계수는 경질 기판의 열팽창 계수보다 작거나, 경질 기판의 열팽창 계수와 같다. 이밖에도 버퍼층의 열팽창 계수가 경질 기판의 열팽창 계수와 가요성 기판의 열팽창 계수 사이에 있을 수 있다.In the embodiment of the present invention, the above-described thermal expansion coefficient of the buffer layer is less than or equal to the thermal expansion coefficient of the hard substrate. In addition, the thermal expansion coefficient of the buffer layer may be between the thermal expansion coefficient of the rigid substrate and the thermal expansion coefficient of the flexible substrate.
본 발명의 실시예에 있어서, 전술한 기판모듈에는 점착층이 포함되어, 가요성 기판이 점층에 의해 버퍼층과 결합된다. In an embodiment of the present invention, the above-described substrate module includes an adhesive layer, and the flexible substrate is bonded to the buffer layer by the viscous layer.
본 발명의 실시예에 있어서, 전술한 기판모듈에는 어레이 구조가 포함되며, 가요성 기판 위에 위치한다. 이밖에도 전술한 어레이 구조에는 능동 부품 어레이, 컬러 필터 어레이 또는 전술한 조합이 포함된다. 이 가운데 능동 부품 어레이에는 a-Si TFT 어레이, 또는 p-Si TFT 어레이가 포함된다. In an embodiment of the present invention, the above-described substrate module includes an array structure and is positioned on the flexible substrate. In addition, the above-described array structure includes an active component array, a color filter array, or a combination of the foregoing. Among these, the active component array includes an a-Si TFT array or a p-Si TFT array.
본 발명의 실시예에 있어서, 전술한 가요성 기판에는 플라스틱 기판이 포함되고, 경질 기판에는 유리기판이 포함된다.In an embodiment of the present invention, the above-described flexible substrate includes a plastic substrate, and the rigid substrate includes a glass substrate.
본 발명의 실시예에 있어서, 전술한 버퍼층의 재질에는 금속, 또는 금속화합물이 포함된다. 실제로 버퍼층의 재질에는 알루미늄, 구리, 몰리브데늄, 티타늄, 크롬, 탄탈, 또는 텅스텐 등의 금속, 또는 금속화합물이다. In an embodiment of the present invention, the material of the above-described buffer layer includes a metal or a metal compound. In practice, the material of the buffer layer is a metal such as aluminum, copper, molybdenum, titanium, chromium, tantalum, or tungsten, or a metal compound.
본 발명에서 가요성 기판을 버퍼층 위에 접착시키기 때문에, 가요성 기판이 온도 변화에 의해 팽창되거나 수축됨으로써 야기된 응력이 버퍼층의 내부응력에 의해 상쇄될 수 있다. 가요성 기판의 박막형성공정이 가요성 기판의 밴딩이나 변형 에 의해 실패할 가능성이 적다. Since the flexible substrate is bonded to the buffer layer in the present invention, the stress caused by the expansion or contraction of the flexible substrate by the temperature change can be canceled by the internal stress of the buffer layer. The thin film forming process of the flexible substrate is less likely to fail due to bending or deformation of the flexible substrate.
본 발명의 전술한 내용과 기타 목적, 특징, 장점 등의 이해를 돕기 위해 다음에서 실시예와 도면을 통해 상세하게 설명하도록 한다. In order to understand the above-described contents and other objects, features, advantages, etc. of the present invention will be described in detail with reference to the following examples and drawings.
도 1A 내지 도 1D은 본 발명의 실시예의 가요성 어레이 기판의 제조공정 단면도이고, 도 1E는 본 발명의 실시예의 기판모듈 사시도이다. 1A to 1D are cross-sectional views of a manufacturing process of the flexible array substrate of the embodiment of the present invention, and FIG. 1E is a perspective view of the substrate module of the embodiment of the present invention.
도 1A에 관하여, 우선 경질 기판(110)을 제공한다. 이 경질 기판(110)은 유리기판, 석영기판, 또는 규소기판 등이다. 경질 기판(110) 위에 버퍼층(120)을 형성한다. 특히, 버퍼층(120)은 알루미늄, 구리, 몰리브데늄, 티타늄, 크롬, 탄탈, 또는 텅스텐 등 금속이나 그 화합물로 구성된다. 본 실시예 중, 버퍼층(120)의 형성방식은 PVD(물리증착법, 스퍼터링 등)나 CVD(화학증착법) 등의 방식으로 금속이나 금속화합물을 경질 기판(110) 위에 형성시키는 것이다. 버퍼층(120) 형성과정 중, 본 실시예에서는 공정온도, 반응기체유량, 공정압력 등 PVD, 또는 CVD 공정의 조건을 조정함으로써, 경질 기판(110) 위에 접착된 금속이나 금속화합물이 각기 다른 응력 상태를 구비하게 할 수 있다. 본 실시예 중 버퍼층(120) 형성 공정을 조정함으로써 버퍼층(120)과 경질 기판(110)이 제1 밴딩 방향 B1으로 밴딩되도록 할 수 있다. With regard to FIG. 1A, first, a
도 1B는 가요성 기판(130)과 버퍼층(120)을 결합시키는 과정에 관한 것으로 가요성 기판(130)을 버퍼층(120) 위에 접착시키는 것이 그 한 예이다. 구체적으로는, 본 실시예에서는 먼저 버퍼층(120) 위에 점착층(140)을 형성시키고, 점착층(140)을 이용하여 가요성 기판(130)과 버퍼층(120)을 접착시킨다. 그러나 기타 실시예에서는 먼저 점착층(140)을 가요성 기판(130) 위에 형성시킨 다음, 점착층(140)을 이용하여 가요성 기판(130)과 버퍼층(120)을 접착시킨다. 이 중, 가요성(flexibility)이 양호한 플라스틱 기판이 가요성 기판(130)이 될 수 있다. FIG. 1B relates to a process of bonding the
도 1C는 가요성 기판(130) 위에서 박막형성공정(150)을 수행해, 가요성 기판(130) 위에 어레이 구조(160)를 형성하는 과정에 관한 것이다. 일반적으로 박막형성공정(150)은 능동 부품 어레이 공정, 컬러 필터 공정, 또는 전술한 공정의 조합이다. 박막형성공정(150)이 능동 부품어레이 공정인 경우, 가요성 기판(130) 위에 형성된 어레이 구조(160)는 능동 부품 어레이이고, 박막형성공정(150)이 컬러 필터 공정인 경우, 가요성 기판(130) 위에 형성된 어레이 구조(160)는 컬러 필터 어레이이다. 또한 박막형성공정(150)에 능동 부품 어레이 공정과 컬러 필터 공정이 모두 포함되는 경우에는 가요성 기판(130) 위에 형성된 어레이 구조(160)가 COA(color filter on Array) 어레이 구조, 또는 AOC(array on color filter) 어레이 구조이다. 전술한 능동 부품 어레이 공정은 a-Si TFT 어레이 공정이나 p-Si TFT 어레이 공정이 될 수 있다. FIG. 1C illustrates a process of forming the
일반적으로, 박막형성공정(150)을 진행할 때에는 온도가 변화함에 따라 가요성 기판(130)이 비교적 큰 팽창 계수를 구비하고, 온도 상승 과정에서 현저한 체적변화가 나타나게 된다. 박막형성공정(150)을 진행할 때에는 경질 기판(110) 위에 접착된 가요성 기판(130)이 팽창하거나 수축하면서 가요성 기판(130)을 제2 밴딩 방향 B2로 밴딩시키거나 변형시켜 노출이나 초점 불량 등의 문제를 야기한다. 따라서 본 발명에서는 버퍼층(120)의 배치를 통해 가요성 기판(130)이 박막형성공 정(150) 중에 밴딩되는 정도를 감소시킨다. 구체적으로는, 버퍼층(120)의 열팽창 계수가 가요성 기판(130)과 경질 기판(110) 사이에 있을 때에는, 버퍼층(120)의 열팽창과 수축으로 인해 가요성 기판(130)이 박막형성공정(150) 중 야기하는 밴딩 현상을 감소시킬 수 있다. 그러나 버퍼층(120)의 열팽창 계수가 경질 기판(110)의 열팽창 계수보다 작거나 동일하면, 버퍼층(120)을 형성할 때 생성된 응력으로 박막형성공정(150) 중 가요성 기판(130)에 생성된 열팽창수축의 응력을 상쇄시킬 수 있다. 본 실시예에서는 버퍼층(120)을 형성할 때, 공정조건을 통제함으로써 버퍼층(120)과 경질 기판(110)에 생성된 밴딩의 제1 밴딩 방향 B1과 가요성 기판(130)에 생성된 밴딩의 제2 밴딩 방향 B2를 대략 상반되게 만들 수 있다. 이렇게 할 경우, 가요성 기판(130)이 온도 변화에 따라 체적에 변화가 생겨 제2 밴딩 방향 B2로 밴딩되는 양을 크게 감소시킬 수 있으며, 이로 인해 가요성 어레이 기판의 공정 수율도 효과적으로 제고할 수 있다. In general, when the thin
도 1D에 관해서, 박막형성공정(150)이 완성된 후, 본 실시예에서는 가열, 온도 하강, 조명 등의 처리방법을 통해 가요성 기판(130)과 경질 기판(110)을 분리시킬 수 있다. 구체적으로는, 본 실시예에서는 먼저 가열, 온도 하강, 조명 등의 처리 방법을 통해 점착층(140)의 점성을 감소시킨 후, 가요성 기판(130)을 경질 기판(110) 위에서 분리해낸다. 실제로 도 1E의 기판모듈(100) 사시도를 참고하면, 가요성 기판(130)을 크기가 작은 여러 개의 패널(132)로 절단할 수 있다. 구체적으로는, 가요성 기판(130)을 경질 기판(110) 위에서 떼어내기 전에, 가요성 기판(130)을 여러 개의 패널(132)로 절단한 후, 가요성 기판(130)과 경질 기판(110) 을 분리하거나, 가요성 기판(130)과 경질 기판(110)을 분리한 후에 가요성 기판(130)을 여러 개의 패널(132)로 절단할 수 있다. 이 가운데, 가요성 기판(130)을 절단하는 방법으로 레이저 절단이나 기계 절단 방식을 사용할 수 있다. 1D, after the thin
종합적으로 볼 때, 본 발명의 기판모듈과 가요성 어레이 기판의 제조 방법에서는 다양한 공정조건을 통해 버퍼층을 경질 기판 위에 증착시킴으로써 형성되는 응력 상태를 필요에 따라 조정할 수 있다. 버퍼층의 열팽창 계수가 경질 기판의 열팽창 계수보다 작거나 동일할 경우, 공정 조건을 조정함으로써 경질 기판 위에서 생성된 버퍼층의 응력으로 박막형성공정 중 가요성 기판의 열팽창수축으로 나타난 응력을 상쇄시킬 수 있다. 또한 버퍼층의 열팽창 계수가 가요성 기판과 경질 기판의 사이에 있다면, 박막형성공정을 통해 가요성 기판에 나타난 밴딩 현상을 효과적으로 감소시킬 수 있다. 따라서 온도 상승과 하강으로 인해 가요성 기판에 밴딩이나 변형이 나타나는 정도를 크게 줄여, 박막형성공정의 대위(Counterpoint) 정확도와 가요성 어레이 기판의 공정 수율을 높일 수 있다. Overall, in the manufacturing method of the substrate module and the flexible array substrate of the present invention, the stress state formed by depositing the buffer layer on the hard substrate through various process conditions can be adjusted as necessary. When the thermal expansion coefficient of the buffer layer is less than or equal to the thermal expansion coefficient of the hard substrate, by adjusting the process conditions, the stress caused by thermal expansion contraction of the flexible substrate during the thin film formation process may be offset by the stress of the buffer layer generated on the hard substrate. In addition, if the thermal expansion coefficient of the buffer layer is between the flexible substrate and the hard substrate, the banding phenomenon appearing on the flexible substrate can be effectively reduced through the thin film formation process. Therefore, the degree of bending or deformation of the flexible substrate due to the rise and fall of the temperature is greatly reduced, thereby increasing the counterpoint accuracy of the thin film forming process and the process yield of the flexible array substrate.
본 발명의 실시예를 나열했지만, 본 발명에만 국한되어 사용되는 것은 아니며, 본 발명이 속한 기술범위에 대한 통상적인 지식을 가진 사람은 본 발명의 정신 및 범위 내에서 약간의 수정을 가할 수 있다. 따라서 본 발명의 보호범위는 다음의 특허청구범위에 준한다. Although the embodiments of the present invention have been listed, it is not limited to the present invention and used by those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains may make minor modifications within the spirit and scope of the present invention. Therefore, the protection scope of the present invention shall be subject to the following claims.
본 발명의 기판모듈과 가요성 어레이 기판의 제조 방법에 따르면, 다양한 공정조건을 통해 버퍼층을 경질 기판 위에 증착시킴으로써 형성되는 응력 상태를 필 요에 따라 조정할 수 있다. 버퍼층의 열팽창 계수가 경질 기판의 열팽창 계수보다 작거나 동일할 경우, 공정 조건을 조정함으로써 경질 기판 위에서 생성된 버퍼층의 응력으로 박막형성공정 중 가요성 기판의 열팽창수축으로 나타난 응력을 상쇄시킬 수 있다. 또한 버퍼층의 열팽창 계수가 가요성 기판과 경질 기판의 사이에 있다면, 박막형성공정을 통해 가요성 기판에 나타난 밴딩 현상을 효과적으로 감소시킬 수 있다. 따라서 온도 상승과 하강으로 인해 가요성 기판에 밴딩이나 변형이 나타나는 정도를 크게 줄여, 박막형성공정의 대위(Counterpoint) 정확도와 가요성 어레이 기판의 생산 수율을 높일 수 있다. According to the manufacturing method of the substrate module and the flexible array substrate of the present invention, the stress state formed by depositing the buffer layer on the hard substrate through various process conditions can be adjusted as needed. When the thermal expansion coefficient of the buffer layer is less than or equal to the thermal expansion coefficient of the hard substrate, by adjusting the process conditions, the stress caused by thermal expansion contraction of the flexible substrate during the thin film formation process may be offset by the stress of the buffer layer generated on the hard substrate. In addition, if the thermal expansion coefficient of the buffer layer is between the flexible substrate and the hard substrate, the banding phenomenon appearing on the flexible substrate can be effectively reduced through the thin film formation process. Therefore, the degree of bending or deformation of the flexible substrate due to the rise and fall of the temperature is greatly reduced, thereby increasing the counterpoint accuracy of the thin film forming process and the yield of the flexible array substrate.
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