KR100905520B1 - 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치 및 방법에 관한 것으로써, 더욱 상세하게는 엘시디 패널에 발생한 결함을 검사자가 목시 검사로 찾았을 때 해당 불량 위치의 좌표를 빠른 시간 내에 데이터화하여 입력함으로써 병목 현상을 최소화하고 생산성을 높일 수 있는 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치 및 방법에 관한 것이다.
본 발명인 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치는,
좌표획득장치에 있어서,
고유 아이디를 가진 고유키를 일정 간격으로 배치한 패턴이미지를 생성하는 좌표산출수단에서 생성된 패턴이미지를 검사 대상기판에 구현시키는 패턴제너레이터와;
상기 패턴제너레이터에 패턴이미지 출력 신호를 전송하는 조작버튼부와;
렌즈부를 통해 획득한 검사 대상기판에 구현된 패턴이미지를 촬상하는 이미지획득장치와;
상기 렌즈부와 이미지획득장치를 통해 보여지는 패턴을 실시간으로 보여주는 디스플레이부와;
상기 이미지획득장치를 통해 촬상된 패턴이미지를 획득하여 고유키 값의 유 효성을 확인하고 유효성이 확인된 고유키 값이 도출되면 고유키 값으로부터 불량의 위치좌표를 연산하는 좌표산출수단;을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
본 발명을 통해 엘시디 패널에 발생하는 불량 위치의 좌표를 빠른 시간 내에 데이터화하여 입력함으로써 병목 현상을 최소화하고 생산성을 높일 수 있는 효과를 제공하게 된다.
엘시디, PDP, 목시 검사, 좌표.
Description
본 발명은 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치 및 방법에 관한 것으로써, 더욱 상세하게는 엘시디 패널에 발생한 결함을 검사자가 목시 검사로 찾았을 때 해당 불량 위치의 좌표를 빠른 시간 내에 데이터화하여 입력함으로써 병목 현상을 최소화하고 생산성을 높일 수 있는 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치 및 방법에 관한 것이다.
일반적인 디스플레이 패널에 나타날 수 있는 생산공정 중 일반적인 결함은 픽셀의 색이 불량하거나 픽셀 자체가 이상이 있을 때, 드물게 긁힘 등의 파손이 있을 때 발생된다.
따라서, 상기 문제가 발생한 픽셀을 검사하기 위하여 목시 검사장치를 사용 하게 되는데 이는 결함 검출을 검사자의 시각에만 의존하는 문제점을 지니고 있어서 픽셀의 정확한 위치를 확인할 수가 없었다.
결함 검출 방식을 구체적으로 설명하자면, 검사자가 패턴제너레이터(Pattern generator)를 이용하여 패턴을 변경시켜 가면서 불량을 눈으로 확인하게 되는데 눈으로 불량 확인시 다음과 같은 방법 중 하나를 택하여 불량위치를 확인하게 된다.
즉, 첫째, 펜으로 불량을 마킹하여 이후 공정시 이를 확인하도록 하는 것이지만 이는 불량 좌표를 데이터화하여 관리할 수 없는 문제점을 가질 수 밖에 없었다.
둘째, 상기 패턴제너레이터에 조이스틱을 연결시켜 결함이 있는 곳까지 십자형 패턴을 이동시켜 불량의 위치좌표를 확인하도록 하는 방법을 사용하게 되는데 이는 사람이 조이스틱을 조작해야 하므로 개별 불량 검사 시간이 무척 오래 걸리게 되어(검사 시간에 비해 결함 위치를 찾는 시간이 2~3배 정도가 소요됨.) 병목현상을 유발시키게 되어 생상선 향상이 떨어지는 문제점을 가질 수 밖에 없었다.
결론적으로 상기와 같이 어느 픽셀이 결함이 발생하였는지를 좌표로 인식함은 물론 병목 현상을 방지할 수 있는 기술을 통해 수리 공정에서 해당 좌표를 확인하여 신속히 처리할 수 있는 방식을 요구하고 있는 실정이다.
따라서 본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 감안하여 제안된 것으로서, 본 발명의 목적은 엘시디 패널에 발생하는 불량 위치의 좌표를 빠른 시간 내에 데이터화하여 입력함으로써 병목 현상을 최소화하고 생산성을 높일 수 있도록 하는데 있다.
본 발명의 다른 목적은 확인이 가능한 Key값을 모두 확인하여 유효성을 확인하며, 고유Key값이 표시되는 부분에 불량이 있는 경우에는 고유Key값이 제대로 된 값이 아니게 되므로 유효하지 않은 값으로 처리하게 되어 고유Key값이 있는 곳에 불량이 있음을 확인할 수 있도록 하는데 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제를 달성하기 위하여,
본 발명의 일실시예에 따른 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치는,
좌표획득장치에 있어서,
고유 아이디를 가진 고유키를 일정 간격으로 배치한 패턴이미지를 생성하는 좌표산출수단에서 생성된 패턴이미지를 검사 대상기판에 구현시키는 패턴제너레이터와;
상기 패턴제너레이터에 패턴이미지 출력 신호를 전송하는 조작버튼부와;
렌즈부를 통해 획득한 검사 대상기판에 구현된 패턴이미지를 촬상하는 이미지획득장치와;
상기 렌즈부와 이미지획득장치를 통해 보여지는 패턴을 실시간으로 보여주는 디스플레이부와;
상기 이미지획득장치를 통해 촬상된 패턴이미지를 획득하여 고유키 값의 유효성을 확인하고 유효성이 확인된 고유키 값이 도출되면 고유키 값으로부터 불량의 위치좌표를 연산하는 좌표산출수단;을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
이상의 구성 및 작용을 지니는 본 발명에 따른 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치 및 방법은,
엘시디 패널에 발생하는 불량 위치의 좌표를 빠른 시간 내에 데이터화하여 입력함으로써 병목 현상을 최소화하고 생산성을 높일 수 있는 효과를 제공하게 된다.
또한, 확인이 가능한 Key값을 모두 확인하여 유효성을 확인하며, 고유Key값이 표시되는 부분에 불량이 있는 경우에는 고유Key값이 제대로 된 값이 아니게 되므로 유효하지 않은 값으로 처리하게 되어 고유Key값이 있는 곳에 불량이 있음을 확인할 수 있게 된다.
상기 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일실시예에 따른 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치는,
좌표획득장치에 있어서,
고유 아이디를 가진 고유키를 일정 간격으로 배치한 패턴이미지를 생성하는 좌표산출수단에서 생성된 패턴이미지를 검사 대상기판에 구현시키는 패턴제너레이터와;
상기 패턴제너레이터에 패턴이미지 출력 신호를 전송하는 조작버튼부와;
렌즈부를 통해 획득한 검사 대상기판에 구현된 패턴이미지를 촬상하는 이미지획득장치와;
상기 렌즈부와 이미지획득장치를 통해 보여지는 패턴을 실시간으로 보여주는 디스플레이부와;
상기 이미지획득장치를 통해 촬상된 패턴이미지를 획득하여 고유키 값의 유효성을 확인하고 유효성이 확인된 고유키 값이 도출되면 고유키 값으로부터 불량의 위치좌표를 연산하는 좌표산출수단;을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 디스플레이부는,
중앙에 불량을 위치시키기 위한 보조마크가 형성되어 있는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 패턴생성부는,
이미지 촬상이 가능한 FOV 내에서 적어도 한 개 이상의 고유키 값이 촬상될 수 있도록 패턴이미지를 생성하는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 고유키는,
해당 위치의 좌표 정보를 포함하며 키를 구성하는 고유ID의 훼손여부를 확인할 수 있는 값을 포함하고 있는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 좌표산출수단은,
검사대상 패널의 크기 및 특성에 맞는 패턴이미지를 생성하여 패턴제너레이터로 전송하는 패턴생성부와,
이미지획득장치를 통해 촬상된 패턴이미지를 획득하는 이미지획득부와,
상기 이미지획득부를 통해 전송된 이미지에서 키값을 추출하고, 이미지의 기울기를 보정하며, 보정된 이미지의 고유키 값의 유효성을 확인한 후 유효성이 확인된 고유키 값을 도출하며 불량까지의 거리 및 위치를 산출하여 불량의 좌표값을 분석하는 이미지분석부와,
상기 분석된 불량의 위치 좌표를 출력하는 좌표출력부와,
상기 패턴생성부와 이미지획득부와 이미지분석부 및 좌표출력부와 연결되어 전반적인 제어를 수행하는 중앙제어부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 이미지분석부는,
이미지획득부를 통해 전송된 이미지로부터 키값을 추출하는 키값추출부와,
상기 키값추출부에서 추출한 키값을 기준으로 이미지의 기울임을 보정하는 기울임보정부와,
상기 기울임보정부에 의해 보정된 이미지의 고유키 값의 유효성을 확인하는 키값확인부와,
상기 키값확인부에 의해 유효성이 확인된 고유키 값이 도출되면 불량의 위치 좌표를 연산하는 좌표연산부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 키값확인부는,
고유키 값이 표시되는 부분에 불량이 있는 경우에 유효하지 않은 값으로 처리하는 것을 특징으로 한다.
한편, 본 발명인 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 방법은,
엘시디 패널의 목시검사 방법에 있어서,
패턴제너레이터에 의해 구현된 패턴이미지를 이용하여 불량을 확인하는 단계와;
불량이 발견되면 해당 불량을 보조마크가 형성된 디스플레이부의 중앙에 위치시키는 단계와;
중앙에 위치시킨 후 조작버튼부를 누르는 단계와;
패턴생성부에서 해당 엘시디 패널의 규격에 맞는 패턴이미지를 생성하여 표출시키면 이미지획득장치를 통해 해당 이미지를 촬상하는 단계와;
이미지획득부에 의해 이미지를 획득한 후 키값추출부에서 키값을 추출하는 단계와;
상기 키값을 기준으로 이미지의 기울임을 보정하는 단계와;
상기 기울임 보정이 완료된 이미지로부터 고유키 값의 유효성을 확인한 후 유효한 고유키 값을 산출하는 단계와;
상기 고유키 값이 산출되면 고유키 값으로부터 불량까지의 거리 및 상대 위치를 산출하여 불량의 좌표를 출력하는 단계;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
이하, 본 발명에 의한 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치 및 방법의 실시예를 통해 상세히 설명하도록 한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치의 전체 구성도이다.
도 1에 도시한 바와 같이, 본 발명인 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치는,
좌표획득장치에 있어서,
고유 아이디를 가진 고유키를 일정 간격으로 배치한 패턴이미지를 생성하는 좌표산출수단에서 생성된 패턴이미지를 검사 대상기판에 구현시키는 패턴제너레이터(20)와;
상기 패턴제너레이터에 패턴이미지 출력 신호를 전송하는 조작버튼부(300)와;
렌즈부(400)를 통해 획득한 검사 대상기판에 구현된 패턴이미지를 촬상하는 이미지획득장치(200)와;
상기 렌즈부와 이미지획득장치를 통해 보여지는 패턴을 실시간으로 보여주는 디스플레이부(500)와;
상기 이미지획득장치를 통해 촬상된 패턴이미지를 획득하여 고유키 값의 유 효성을 확인하고 유효성이 확인된 고유키 값이 도출되면 고유키 값으로부터 불량의 위치좌표를 연산하는 좌표산출수단(100);을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
일반적인 패턴제너레이터는 검사 대상체인 엘시디 패널(10)에 원하는 화상을 보내주거나, 온오프하는 특성 패턴을 표출하는 장치로서 이는 사람이 불량을 눈으로 직업 확인하기 위하여 특성 패턴을 표출시키는 기능을 담당한다.
그러나, 상기 본 발명의 특징은 빠른 시간안에 불량 위치의 좌표를 데이터화하여 해당 좌표값을 가지고 해당 불량의 위치를 수리 공정에서 쉽게 확인할 수 있게 되어 이에 따른 병목 현상을 줄이고 생산성을 향상시킬 수 있는 것이다.
이를 위하여 본 발명의 시스템은 조작버튼부(300)와 렌즈부(400)와 이미지획득장치(200)와 좌표산출수단(100) 및 디스플레이부(500)를 포함하여 구성된다.
상기 디스플레이부는 LCD, PDP, AMOLED 등 다양한 패널로 적용이 가능하다.
또한, 상기 디스플레이부는 도 2에 도시한 바와 같이 중앙에 불량을 위치시키기 위한 보조마크가 형성되어 있으며, 상기 보조마크는 좌표산출수단에서 실시간으로 얻어진 이미지를 획득하여 별도의 이미지가공부(미도시)에서 가공하여 중앙에 보조마크 등을 구현하여 이미지출력부(미도시)에서 디스플레이부로 최종 영상을 실시간으로 출력하여 해당하는 중앙에 불량을 위치시켜 좌표를 산출하게 되는 것이다.
이때, 상기 이미지가공부 및 이미지출력부의 기능 및 동작 원리는 당업자들이라면 누구나 쉽게 이해할 수 있으므로 이에 대한 구체적인 설명은 생략하도록 한 다.
또한, 상기 보조마크는 십자, 별표, 원형 등 다양한 형태로 구현할 수 있다.
한편, 상기 디스플레이부를 연동할 경우에 디지털 카메라를 적용하는 것이 바람직하나 디스플레이가 없는 경우 육안으로 볼 수 있는 접안 렌즈나 아날로그 카메라를 구현할 경우에 디스플레이부 없이 단순하게 아날로그 카메라로 구현해도 무방하다.
상기 렌즈부는 시인성 확대를 위해 마이크로스코프 렌즈를 사용하는 것이 바람직하나, 필요에 따라 여타의 다른 렌즈를 구성할 수도 있다.
상기 패턴제너레이터(20)는 고유 아이디를 가진 고유키를 일정 간격으로 배치한 패턴이미지를 좌표산출수단의 패턴생성부(150)로부터 전송받아 검사 대상기판에 구현시키게 되는데, 상기 패턴생성부에서 생성되는 패턴이미지는 조작버튼부에 의해 동작하며, 종래의 목시검사장치의 패턴제너레이터를 통해 검사대상 기판에 구현되는 것이 바람직하다.
패턴생성부에서 생성되는 패턴이미지는 검사대상 기판의 모델별로 서로 다른 패턴이미지를 완벽하게 구현한다.
왜냐하면, 검사대상 기판의 모델마다 구성되는 픽셀수가 서로 상이하므로 모델별로 패턴이미지를 구현하여야 정확한 좌표값을 산출할 수 있기 때문이다.
상기 패턴이미지는 고유ID를 가진 고유Key를 일정 간격으로 배치한 형태의 패턴으로 이미지획득장치가 검사대상 기판의 어느 영역에 있는지에 관계없이 이미지 촬상이 가능한 FOV(Field of View)내에서 최소한 1개 이상의 고유key값이 반드 시 촬상되도록 하며, 바람직하게는 4개 이상의 key값이 촬상될 수 있도록 key를 배치하여야 한다.
예를 들어, 검사대상기판의 크기가 1203mm*752mm이고 FOV가 16mm*12mm인 경우, 검사대상 기판의 면적은 FOV의 약 4712배에 해당한다.
따라서 FOV내에 최소한 1개 이상의 Key가 촬상되기 위해서는 패턴이미지에 최소한 4712개 이상의 고유ID가 존재해야 하며, 바람직하게 4개 이상의 key를 FOV내에 담기 위해서는 최소한 18,847개 이상의 key가 패턴이미지에 일정간격으로 규칙적으로 배치되어야 한다.
이러한 고유 Key값은 해당값이 다른 key값과 구별되는 형태이며, 해당 위치의 좌표가 정확하게 구현된다는 가정하에 다양한 방법으로 구현 가능하다.
예를 들어, 화소의 on/off를 이용한 2진수의 ID집합으로 구현하는 경우, n개의 화소로 구현가능한 고유의 key는 2의 n승이 되므로 상기 예에서 18,847개 이상의 고유한 key값을 구현하기 위해 필요한 개별 key의 ID는 15개 이상이면 된다.
또한, 본 발명에서 설명하고 있는 검사대상 기판은 엘시디 패널로 설명하고 있으나 PDP, AMOLED 등 다양한 기판을 검사 대상으로 적용할 수 있다.
상기한 기술은 당업자들에게 널리 알려진 일반적인 기술이므로 이에 대한 상세한 설명은 생략한다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치의 좌표산출수단 블록도이다.
상기 좌표산출수단(100)은,
검사대상 패널의 크기 및 특성에 맞는 패턴이미지를 생성하여 패턴제너레이터로 전송하는 패턴생성부(150)와,
이미지획득장치를 통해 촬상된 패턴이미지를 획득하는 이미지획득부(110)와,
상기 이미지획득부를 통해 전송된 이미지에서 키값을 추출하고, 이미지의 기울기를 보정하며, 보정된 이미지의 고유키 값의 유효성을 확인한 후 유효성이 확인된 고유키 값을 도출하며 불량까지의 거리 및 위치를 산출하여 불량의 좌표값을 분석하는 이미지분석부(120)와,
상기 분석된 불량의 위치 좌표를 출력하는 좌표출력부(130)와,
상기 패턴생성부와 이미지획득부와 이미지분석부 및 좌표출력부와 연결되어 전반적인 제어를 수행하는 중앙제어부(140)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
상기 이미지획득부(110)는 이미지획득장치를 통해 촬상된 이미지를 획득하여 이미지분석부로 전송하게 되며, 상기 이미지분석부(120)는 전송된 이미지에서 키영역을 추출하고, 기울기를 보정하며, 보정된 이미지의 고유키 값의 유효성을 확인한 후 유효성이 확인된 고유키 값을 도출하며 불량까지의 거리 및 위치를 산출하여 불량의 좌표값을 분석하게 되며, 좌표출력부를 통해 분석된 불량의 위치 좌표를 출력하게 된다.
상기 출력된 불량의 위치 좌표값은 저장부(미도시)에 저장하게 되며, 후처리 공정에서 저장부에 저장된 불량의 위치 좌표값을 확인하여 이를 처리할 수 있게 되는 것이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치의 이미지분석부 블록도이다.
도 4에 도시한 바와 같이, 본 발명의 이미지분석부(120)는,
이미지획득부를 통해 전송된 이미지로부터 키값을 추출하는 키값추출부(121)와,
상기 키값추출부에서 추출한 키값을 기준으로 이미지의 기울임을 보정하는 기울임보정부(122)와,
상기 기울임보정부에 의해 보정된 이미지의 고유키 값의 유효성을 확인하는 키값확인부(123)와,
상기 키값확인부에 의해 유효성이 확인된 고유키 값이 도출되면 불량의 위치 좌표를 연산하는 좌표연산부(124)를 포함하여 구성된다.
상기 이미지획득부를 통해 전송된 이미지를 기울임보정부에서 기울임 보정을 통해 수평 및 수직을 보정하게 된다.
상기 기울임 보정은 키값추출부에서 추출한 고유키(30) 값의 위치를 이용해서 보정하는 형태로 일반적인 기술이므로 이에 대한 상세한 설명은 생략하도록 한다.
상기 기울임보정이 완료된 이미지는 키값확인부에서 고유Key값을 확인한다.
이때, 확인이 가능한 Key값은 모두 확인하여 유효성을 확인하며, 고유Key값이 표시되는 부분에 불량이 있는 경우에는 고유Key값이 제대로 된 값이 아니게 되므로 유효하지 않은 값으로 처리한다.
이를 통해 고유Key값이 있는 곳에 불량이 있음을 확인할 수 있는 부수적인 효과도 있다.
유효성이 확인된 고유Key(30) 값이 도출되면, 좌표연산부에서는 불량(40)의 위치좌표를 연산한다.
이때, 먼저 고유 Key값의 위치를 패턴생성부에서 얻은 패턴이미지와 비교하여 확정하고, 이 고유 Key값으로부터 불량까지의 거리 및 상대 위치를 산출하여 불량의 좌표를 산출하게 된다.
고유Key값으로부터 불량까지의 거리 및 상대 위치를 파악하는 것은 수학적으로 잘 알려진 일반적인 기술이므로, 자세한 설명은 생략한다.
물론 수학적 방법 외에 개별 픽셀의 개수를 카운트하여 거리 및 상대 위치를 파악할 수도 있는데, 이러한 기술은 본 발명에 포함되는 것으로 보는 것이 옳다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 방법을 나타낸 흐름도이다.
도 5에 도시한 바와 같이, 본 발명인 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 방법은,
엘시디 패널의 목시검사 방법에 있어서,
패턴제너레이터에 의해 구현된 패턴이미지를 이용하여 불량을 확인하는 단계(S100)와;
불량이 발견(S110)되면 해당 불량을 보조마크가 형성된 디스플레이부의 중앙에 위치시키는 단계(S120)와;
중앙에 위치(S130)시킨 후 조작버튼부를 누르는 단계(S140)와;
패턴생성부에서 해당 엘시디 패널의 규격에 맞는 패턴이미지를 생성하여 표출시키면 이미지획득장치부를 통해 해당 이미지를 촬상하는 단계(S150)와;
이미지획득부에 의해 이미지를 획득(S160)한 후 키값추출부에서 키값을 추출하는 단계(S170)와;
상기 키값을 기준으로 이미지의 기울임을 보정하는 단계(S180)와;
상기 기울임 보정이 완료된 이미지로부터 고유키 값의 유효성을 확인한 후 유효한 고유키 값을 산출하는 단계(S190)와;
상기 고유키 값이 산출되면 고유키 값으로부터 불량까지의 거리 및 위치를 산출하여 불량의 좌표를 출력하는 단계(S200);를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
즉, 패턴제너레이터에 의해 구현된 패턴이미지를 이용하여 종래의 목시 검사 방법으로 불량을 확인(S100)하여 불량이 발견(S110)되면 해당 불량을 보조마크가 형성된 디스플레이부의 중앙에 위치시키게 된다.(S120)
중앙에 위치(S130)시킨 후 조작버튼부를 누르게 되면(S140), 패턴생성부에서 해당 엘시디 패널의 규격에 맞는 패턴이미지를 생성하여 표출시키면 이미지획득장치를 통해 해당 패턴이미지를 촬상(S150)하게 된다.
이때, 이미지획득부에 의해 이미지를 획득(S160)한 후 키값추출부에 의해 키값을 추출(S170)하고, 이미지분석부에 의해 이미지의 기울임을 보정(S180)하게 되며, 상기 기울임 보정이 완료된 이미지로부터 키값확인부를 통해 고유키 값의 유효 성을 확인한 후 유효한 고유키 값을 산출(S190)하게 되며, 상기 고유키 값이 산출되면 좌표연산부를 통해 고유키 값으로부터 불량까지의 거리 및 위치를 산출하여 좌표출력부를 통해 불량의 좌표를 출력(S200)하게 되는 것이다.
이상에서와 같은 내용의 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시된 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해해야만 한다.
본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구 범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
본 발명인 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치 및 방법은,
엘시디 패널에 발생하는 불량 위치의 좌표를 빠른 시간 내에 데이터화하여 입력함으로써 병목 현상을 최소화하고 생산성을 높일 수 있는 효과를 제공하게 되어 디스플레이 패널 검사 분야에 널리 유용하게 활용될 것이다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치의 전체 구성도이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치의 디스플레이부에 표출되는 보조마크를 나타낸 예시도이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치의 좌표산출수단 블록도이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치의 이미지분석부 블록도이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 방법을 나타낸 흐름도이다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치의 디스플레이부에 표출되는 고유키 및 불량을 나타낸 예시도이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
100 : 좌표산출수단
110 : 이미지획득부
120 : 이미지분석부
121 : 키값추출부
122 : 기울임보정부
123 : 키값확인부
124 : 좌표연산부
130 : 좌표출력부
140 : 중앙제어부
150 : 패턴생성부
200 : 이미지획득장치
300 : 조작버튼부
400 : 렌즈부
500 : 디스플레이부
Claims (8)
- 좌표획득장치에 있어서,고유 아이디를 가진 고유키를 일정 간격으로 배치한 패턴이미지를 생성하는 좌표산출수단에서 생성된 패턴이미지를 검사 대상기판에 구현시키는 패턴제너레이터와;상기 패턴제너레이터에 패턴이미지 출력 신호를 전송하는 조작버튼부와;렌즈부를 통해 획득한 검사 대상기판에 구현된 패턴이미지를 촬상하는 이미지획득장치와;상기 렌즈부와 이미지획득장치를 통해 보여지는 패턴을 실시간으로 보여주는 디스플레이부와;상기 이미지획득장치를 통해 촬상된 패턴이미지를 획득하여 고유키 값의 유효성을 확인하고 유효성이 확인된 고유키 값이 도출되면 고유키 값으로부터 불량의 위치좌표를 연산하는 좌표산출수단;을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치.
- 삭제
- 제 1항에 있어서,상기 패턴제너레이터는,이미지 촬상이 가능한 FOV 내에서 적어도 한 개 이상의 고유키 값이 촬상될 수 있도록 패턴이미지를 생성하는 것을 특징으로 하는 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치.
- 제 1항에 있어서,상기 고유키는,해당 위치의 좌표 정보를 포함하며 키를 구성하는 고유ID의 훼손여부를 확인할 수 있는 값을 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치.
- 제 1항에 있어서,상기 좌표산출수단은,검사대상 패널의 크기 및 특성에 맞는 패턴이미지를 생성하여 패턴제너레이 터로 전송하는 패턴생성부와,이미지획득장치를 통해 촬상된 패턴이미지를 획득하는 이미지획득부와,상기 이미지획득부를 통해 전송된 이미지에서 키값을 추출하고, 이미지의 기울기를 보정하며, 보정된 이미지의 고유키 값의 유효성을 확인한 후 유효성이 확인된 고유키 값을 도출하며 불량까지의 거리 및 위치를 산출하여 불량의 좌표값을 분석하는 이미지분석부와,상기 분석된 불량의 위치 좌표를 출력하는 좌표출력부와,상기 패턴생성부와 이미지획득부와 이미지분석부 및 좌표출력부와 연결되어 전반적인 제어를 수행하는 중앙제어부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치.
- 제 5항에 있어서,상기 이미지분석부는,이미지획득부를 통해 전송된 이미지로부터 키값을 추출하는 키값추출부와,상기 키값추출부에서 추출한 키값을 기준으로 이미지의 기울임을 보정하는 기울임보정부와,상기 기울임보정부에 의해 보정된 이미지의 고유키 값의 유효성을 확인하는 키값확인부와,상기 키값확인부에 의해 유효성이 확인된 고유키 값이 도출되면 불량의 위치 좌표를 연산하는 좌표연산부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치.
- 제 6항에 있어서,상기 키값확인부는,고유키 값이 표시되는 부분에 불량이 있는 경우에 유효하지 않은 값으로 처리하는 것을 특징으로 하는 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치.
- 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 방법에 있어서,패턴제너레이터에 의해 구현된 패턴이미지를 이용하여 불량을 확인하는 단계와;불량이 발견되면 해당 불량을 보조마크가 형성된 디스플레이부의 중앙에 위치시키는 단계와;중앙에 위치시킨 후 조작버튼부를 누르는 단계와;패턴생성부에서 해당 엘시디 패널의 규격에 맞는 패턴이미지를 생성하여 표출시키면 이미지획득장치를 통해 해당 이미지를 촬상하는 단계와;이미지획득부에 의해 이미지를 획득한 후 키값추출부에서 키값을 추출하는 단계와;상기 키값을 기준으로 이미지의 기울임을 보정하는 단계와;상기 기울임 보정이 완료된 이미지로부터 고유키 값의 유효성을 확인한 후 유효한 고유키 값을 산출하는 단계와;상기 고유키 값이 산출되면 고유키 값으로부터 불량까지의 거리 및 상대 위치를 산출하여 불량의 좌표를 출력하는 단계;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득 방법.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020080112946A KR100905520B1 (ko) | 2008-11-13 | 2008-11-13 | 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치 및 방법 |
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| KR1020080112946A KR100905520B1 (ko) | 2008-11-13 | 2008-11-13 | 엘시디 목시검사시스템에서 발견한 결함좌표 획득을 위한 좌표획득장치 및 방법 |
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| KR100905520B1 true KR100905520B1 (ko) | 2009-07-01 |
Family
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| CN106814479A (zh) * | 2017-01-11 | 2017-06-09 | 昆山国显光电有限公司 | 一种面板缺陷位置的偏移补偿方法、装置及系统 |
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