KR100903405B1 - 전압인가 전류측정 장치 및 그것에 사용되는 스위치부착 전류 버퍼 - Google Patents
전압인가 전류측정 장치 및 그것에 사용되는 스위치부착 전류 버퍼 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100903405B1 KR100903405B1 KR1020057010519A KR20057010519A KR100903405B1 KR 100903405 B1 KR100903405 B1 KR 100903405B1 KR 1020057010519 A KR1020057010519 A KR 1020057010519A KR 20057010519 A KR20057010519 A KR 20057010519A KR 100903405 B1 KR100903405 B1 KR 100903405B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- voltage
- current
- output
- switch
- base
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/30—Marginal testing, e.g. by varying supply voltage
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/08—Circuits for altering the measuring range
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
Claims (9)
- 소정의 전압을 인가하여 부하장치에 흐르는 전류를 측정하는 전압인가 전류측정 장치로서,부하장치에 인가해야 할 직류전압을 출력단자로 출력하는 직류전원 공급부와,스위치부착 전류 버퍼와 이에 직렬로 접속되는 전류측정용 저항을 갖는 직렬접속을 복수개 포함하고,상기 복수개의 직렬접속의 각각에 있어서, 스위치부착 전류 버퍼는, 출력단자를 가지며 전기적으로 접속 또는 절단가능한 출력단; 및 입력단자가 상기 직류전원 공급부의 출력단자에 접속되어 전류 버퍼로서 동작하고, 부여된 제어신호가 해당 직렬접속을 선택하는지 여부에 응답하여 상기 출력단을 접속 또는 절단상태로 제어하는 전단부;를 구비하고,전류측정용 저항은, 입력단자가 스위치부착 전류 버퍼의 출력단의 출력단자에 접속되고, 출력단자가 부하장치에 접속되고, 이에 의해 상기 복수의 직렬접속은 직류전원 공급부와 부하장치 사이에 서로 병렬로 연결되고,상기 복수개의 직렬접속의 전류측정용 저항은 서로 다른 저항값을 가지며, 전류측정 레인지를 전환하기 위해 제어신호에 의해 상기 복수개의 직렬접속의 어느 하나를 선택함으로써, 선택된 직렬접속의 스위치부착 전류 버퍼의 전단부가, 출력단을 접속상태로 제어하여, 입력단자에 인가된 전압에 상당하는 전류 버퍼된 출력전압을 출력단자로부터 출력하고, 이 출력전압을 상기 선택된 직렬접속의 전류측정용 저항을 통해 부하장치로 인가하는, 전류 레인지 전환부와,상기 부하장치에의 상기 출력전압의 인가에 따라 상기 선택된 직렬접속의 스위치부착 전류 버퍼로부터 상기 부하장치에 흐르는 전류에 의한 상기 선택된 직렬접속의 양단 전위차를 상기 부하장치에 흐르는 전류에 대응하는 값으로서 측정하는 전위차 측정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전압인가 전류측정 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 직류전원 공급부는,주어진 디지털 전압값을 아날로그 기준전압으로 변환하는 디지털 아날로그 변환기, 및 상기 아날로그 기준전압을 수신하고 상기 아날로그 기준전압에 대하여 상기 부하장치에 인가된 단자 전압을 귀환 제어하여 상기 인가된 단자 전압이 소정 직류 전압이 되도록 하는 연산증폭기를 포함하는 것을 특징으로 하는 전압인가 전류측정 장치.
- 제 2 항에 있어서, 상기 스위치부착 전류 버퍼의 입력측은 서로 접속되어서 상기 연산증폭기의 출력측에 접속되어 있고, 상기 전류측정용 저항의 출력측은 서로 접속되어서 상기 부하장치에 접속되어 있고,상기 선택된 직렬접속의 스위치부착 전류 버퍼의 입력측 전압과 상기 선택된 전류측정용 저항의 출력측 전압이 상기 전위차 측정부의 두 개의 입력단자에 공급되어, 상기 전위차 측정부가 상기 두 개의 입력단자에 공급된 전압 사이의 전위차를 상기 선택된 직렬접속의 전류측정용 저항의 양단에 걸리는 전위차로서 측정하는 것을 특징으로 하는 전압인가 전류측정 장치.
- 제 2 항에 있어서, 상기 스위치부착 전류 버퍼의 입력측은 서로 접속되어서 상기 연산증폭기의 출력측에 접속되어 있고, 상기 전류측정용 저항의 출력측은 서로 접속되어서 상기 부하장치에 접속되어 있고,상기 전류 레인지 전환부는, 상기 제어신호에 따라 스위치부착 전류 버퍼의 출력 전압중 하나의 출력 전압을 선택하여 상기 전위차 측정부의 두 개의 입력단자 중 하나로 출력하는 셀렉터 스위치를 더 포함하고,상기 선택된 전류측정용 저항의 출력측 전압은 상기 전위차 측정부의 두 개의 입력단자 중 다른 하나로 공급되어, 상기 전위차 측정부가 상기 두 개의 입력단자에 공급된 전압 사이의 전위차를 상기 선택된 직렬접속의 전류측정용 저항의 양단에 걸리는 전위차로서 측정하는 것을 특징으로 하는 전압인가 전류측정 장치.
- 제 2 항에 있어서, 상기 스위치부착 전류 버퍼의 입력측은 서로 접속되어서 상기 연산증폭기의 출력측에 접속되어 있고, 상기 전류측정용 저항의 출력측은 서로 접속되어서 상기 부하장치에 접속되어 있고,상기 전류 레인지 전환부는, 상기 제어신호에 따라 접속 또는 절단 가능한 상태로 되는 출력단을 갖는 복수의 부가적인 스위치부착 버퍼를 더 포함하고,상기 복수의 부가적인 스위치부착 버퍼의 각각은 상기 복수의 스위치부착 전류 버퍼의 각각의 대응하는 출력측에 접속되고,상기 부가적인 스위치부착 버퍼중 상기 선택된 직렬접속의 스위치부착 전류 버퍼에 접속되어 있는 부가적인 스위치부착 버퍼가 상기 제어신호에 의해 선택되어, 상기 선택된 직렬접속의 스위치부착 전류 버퍼의 출력전압에 대응하는 전압이 하나의 검출된 전압으로서 상기 전위차 측정부의 두 개의 입력단자 중 하나에 공급되고,상기 선택된 전류측정용 저항의 출력측 전압은 상기 전위차 측정부의 두 개의 입력단자 중 다른 하나로 공급되어, 상기 전위차 측정부가 상기 두 개의 입력단자에 공급된 전압 사이의 전위차를 상기 선택된 직렬접속의 전류측정용 저항의 양단에 걸리는 전위차로서 측정하는 것을 특징으로 하는 전압인가 전류측정 장치.
- 제 2 항에 있어서, 상기 전류측정용 저항의 출력측은 서로 접속되어서 상기 부하장치에 접속되어 있고,상기 직렬접속의 각각은, 대응하는 스위치부착 전류 버퍼의 출력측에 접속된 반전 입력단자, 상기 직류전원 공급부에 접속된 비반전 입력단자 및 상기 대응하는 스위치부착 전류 버퍼의 입력측에 접속된 출력단자를 갖는 귀환 연산증폭기를 더 포함하고,상기 귀환 연산증폭기의 각각의 비반전 입력단자에 제공되는 입력전압은 상기 전위차 측정부의 두 개의 입력단자 중 하나에 제공되고,상기 선택된 직렬접속의 상기 전류측정용 저항의 출력측 전압은 상기 전위차 측정부의 두 개의 입력단자 중 다른 하나에 제공되어, 상기 전위차 측정부가 상기 두 개의 입력단자에 공급된 전압 사이의 전위차를 상기 선택된 직렬접속의 전류측정용 저항의 양단에 걸리는 전위차로서 측정하는 것을 특징으로 하는 전압인가 전류측정 장치.
- 제 2 항에 있어서, 상기 직류전원 공급부는, 상기 디지털 아날로그 변환기의 출력측과 상기 연산증폭기의 반전 입력단자 사이에 삽입된 제1 저항 및 상기 부하장치로부터 상기 연산증폭기의 상기 반전 입력단자로의 귀환 경로에 삽입된 제2 저항을 포함하고, 상기 연산증폭기의 비반전 입력단자는 접지되어 있는 것을 특징으로 하는 전압인가 전류측정 장치.
- 제 1 항 내지 제 7 항중 어느 한 항에 있어서,각 상기 스위치부착 전류 버퍼의 상기 출력단은, 서로의 에미터가 상기 출력단의 출력측을 형성하도록 서로 접속되어 있는 컴플리멘터리 제1 NPN 트랜지스터 및 컴플리멘터리 제2 PNP 트랜지스터를 포함하고, 상기 컴플리멘터리 제1 NPN 트랜지스터는 정전원에 접속된 콜렉터를 가지며, 상기 컴플리멘터리 제2 PNP 트랜지스터는 부전원에 접속된 콜렉터를 가지며,각 상기 스위치부착 전류 버퍼의 상기 전단부는,상기 컴플리멘터리 제1 NPN 트랜지스터의 베이스에 접속되고 또한 제1 정전류원을 통해 상기 정전원에 접속된 에미터 및 상기 부전원에 접속된 콜렉터를 갖는 제1 PNP 트랜지스터,상기 컴플리멘터리 제2 PNP 트랜지스터의 베이스에 접속되고 또한 제2 정전류원을 통해 상기 부전원에 접속된 에미터 및 상기 정전원에 접속된 콜렉터를 갖는 제1 NPN 트랜지스터,상기 컴플리멘터리 제2 PNP 트랜지스터의 베이스에 접속된 콜렉터 및 상기 정전원에 접속된 에미터를 갖는 제2 PNP 트랜지스터,상기 컴플리멘터리 제1 NPN 트랜지스터의 베이스에 접속된 콜렉터 및 상기 부전원에 접속된 에미터를 갖는 제2 NPN 트랜지스터, 및제어수단을 포함하고,상기 직류전원 공급부의 출력전압은 상기 제1 PNP 트랜지스터 및 상기 제1 NPN 트랜지스터의 베이스에 상기 전단부의 입력전압으로서 공급되고,상기 제어수단은, 상기 제1 정전류원에 대해 제1 오픈 신호, 상기 제2 정전류원에 대해 제2 오픈 신호, 상기 제2 PNP 트랜지스터의 베이스에 대해 제3 오픈 신호, 및 상기 제2 NPN 트랜지스터의 베이스에 대해 제4 오픈 신호를 공급하고,상기 스위치부착 전류 버퍼가 상기 제어신호에 의해 선택되지 않을 때, 상기 제1 오픈 신호는 상기 제1 정전류원을 오프상태로 하도록 제어되고, 상기 제2 오픈 신호는 상기 제2 정전류원을 오프상태로 하도록 제어되고, 상기 제3 오픈 신호는 상기 제2 PNP 트랜지스터를 온 상태로 하도록 제어되고, 그리고 상기 제4 오픈 신호는 상기 제2 NPN 트랜지스터를 온 상태로 하도록 제어되어, 이에 의해 상기 출력단의 상기 컴플리멘터리 제1 NPN 트랜지스터 및 상기 컴플리멘터리 제2 PNP 트랜지스터를 오프상태로 유지하고,상기 스위치부착 전류 버퍼가 선택되면, 상기 제1 오픈 신호는 상기 제1 정전류원을 온 상태로 하도록 제어되고, 상기 제2 오픈 신호는 상기 제2 정전류원을 온 상태로 하도록 제어되고, 상기 제3 오픈 신호는 상기 제2 PNP 트랜지스터를 오프상태로 하도록 제어되고, 그리고 상기 제4 오픈 신호는 상기 제2 NPN 트랜지스터를 오프상태로 하도록 제어되어, 상기 입력전압 보다 베이스·에미터 전압만큼 높은 상기 제1 PNP 트랜지스터의 제1 에미터 단자 전압이 상기 컴플리멘터리 제1 NPN 트랜지스터의 베이스에 제1 베이스 전압으로서 공급되고, 상기 입력전압 보다 베이스·에미터 전압만큼 낮은 상기 제1 NPN 트랜지스터의 제2 에미터 단자 전압은 상기 컴플리멘터리 제2 PNP 트랜지스터의 베이스에 제2 베이스 전압으로서 공급되고, 이에 의해 상기 출력단의 상기 컴플리멘터리 제1 NPN 트랜지스터 및 상기 컴플리멘터리 제2 PNP 트랜지스터를 온 상태로 유지하는 것을 특징으로 하는 전압인가 전류측정 장치.
- 전단부와 출력단을 갖는 스위치부착 전류 버퍼로서,상기 출력단은 서로의 에미터가 접속되고, 그 접속점의 전압을 상기 스위치부착 전류 버퍼의 출력전압으로 하고, 콜렉터가 각각 정전원 및 부전원에 접속된 컴플리멘터리 제 1 및 제 2 트랜지스터를 갖고,상기 전단부는,에미터가 각각 제 1 및 제 2 정전류원에 접속되고, 콜렉터가 각각 부전원 및 정전원에 접속되고, 상기 직류전원 공급부로부터의 전압이 입력전압으로서 각각의 베이스에 제공되고, 베이스·에미터 사이의 전압을 상기 입력전압에 가산한 전압인 제 1 베이스 전압과, 베이스·에미터간의 전압을 상기 입력전압으로부터 감산한 전압인 제 2 베이스 전압을 각각의 에미터로부터 상기 컴플리멘터리 제 1 및 제 2 트랜지스터의 베이스에 제공하는 제 1 PNP 트랜지스터 및 제 1 NPN 트랜지스터와,상기 컴플리멘터리 제 2 트랜지스터의 베이스와 상기 정전원에 각각 접속된 콜렉터와 에미터를 갖는 제 2 PNP 트랜지스터와, 상기 컴플리멘터리 제 1 트랜지스터의 베이스와 상기 부전원에 각각 접속된 콜렉터와 에미터를 갖는 제 2 NPN 트랜지스터와,상기 제어신호에 따라 상기 스위치부착 전류 버퍼가 비선택일 때는, 상기 제 1 및 제 2 정전류원을 오프로 하는 제 1 및 제 2 오픈 신호를 상기 제 1 및 제 2 정전류원에 제공하고, 상기 제 2 PNP 트랜지스터 및 상기 제 2 NPN 트랜지스터의 베이스에 그들 트랜지스터를 온 상태로 하는 제 3 및 제 4 오픈 신호를 제공하고, 그것에 의해 상기 출력단의 상기 컴플리멘터리 제 1 및 제 2 트랜지스터를 오프 상태로 유지하고, 상기 스위치부착 전류 버퍼가 선택시는, 상기 제 1 및 제 2 정전류원을 온으로 하는 제 1 및 제 2 오픈 신호를 상기 제 1 및 제 2 정전류원에 제공하고, 상기 제 2 PNP 트랜지스터 및 상기 제 2 NPN 트랜지스터의 베이스에 그들 트랜지스터를 오프 상태로 하는 제 3 및 제 4 오픈 신호를 제공하고, 그것에 의해 상기 출력단의 상기 컴플리멘터리 제 1 및 제 2 트랜지스터를 온 상태로 하는 제어수단 을 포함하는 것을 특징으로 하는 스위치부착 전류 버퍼.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2002-00359183 | 2002-12-11 | ||
JP2002359183 | 2002-12-11 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20050075452A KR20050075452A (ko) | 2005-07-20 |
KR100903405B1 true KR100903405B1 (ko) | 2009-06-18 |
Family
ID=32500926
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020057010519A KR100903405B1 (ko) | 2002-12-11 | 2003-12-11 | 전압인가 전류측정 장치 및 그것에 사용되는 스위치부착 전류 버퍼 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7352193B2 (ko) |
JP (1) | JP4478033B2 (ko) |
KR (1) | KR100903405B1 (ko) |
CN (1) | CN100489550C (ko) |
DE (1) | DE10393854T5 (ko) |
WO (1) | WO2004053507A1 (ko) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7262624B2 (en) * | 2004-12-21 | 2007-08-28 | Formfactor, Inc. | Bi-directional buffer for interfacing test system channel |
KR100804567B1 (ko) * | 2005-08-24 | 2008-02-20 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | 반도체 장치 |
JP5061593B2 (ja) * | 2005-11-21 | 2012-10-31 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 制御装置、半導体集積回路装置及び供給制御システム |
JP4913392B2 (ja) * | 2005-12-02 | 2012-04-11 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | アッテネータ |
CN101432630B (zh) * | 2006-04-28 | 2010-12-08 | 爱德万测试株式会社 | 功率外加电路,及测试设备 |
US7557592B2 (en) * | 2006-06-06 | 2009-07-07 | Formfactor, Inc. | Method of expanding tester drive and measurement capability |
JP4983688B2 (ja) * | 2008-03-27 | 2012-07-25 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体装置 |
JP5559724B2 (ja) * | 2011-02-24 | 2014-07-23 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置用の電源装置およびそれを用いた試験装置 |
JP5910172B2 (ja) * | 2012-03-01 | 2016-04-27 | 株式会社Gsユアサ | スイッチ故障診断装置、電池パックおよびスイッチ故障診断プログラム、スイッチ故障診断方法 |
CN109085496B (zh) * | 2012-08-10 | 2020-11-03 | 株式会社杰士汤浅国际 | 开关故障诊断装置及蓄电装置 |
JP5983171B2 (ja) * | 2012-08-10 | 2016-08-31 | 株式会社Gsユアサ | スイッチ故障診断装置、蓄電装置 |
CN105403752A (zh) * | 2015-12-08 | 2016-03-16 | 重庆地质仪器厂 | 一种用于测量电极的方法及装置 |
GB2545453B (en) * | 2015-12-16 | 2021-02-24 | Quarch Tech Ltd | Power supply |
KR101971245B1 (ko) * | 2016-06-21 | 2019-04-22 | 비엔이스 주식회사 | Led 모듈 검사용 전류 제어 장치 |
FR3056299B1 (fr) * | 2016-09-16 | 2018-10-19 | STMicroelectronics (Alps) SAS | Procede de determination de la consommation en courant d'une charge active, par exemple une unite de traitement, et circuit electronique associe |
CN106855588B (zh) * | 2016-12-23 | 2023-10-03 | 建荣半导体(深圳)有限公司 | 一种电流检测芯片、电源设备及电子设备 |
CN106771540B (zh) * | 2016-12-23 | 2023-09-29 | 建荣半导体(深圳)有限公司 | 一种电流检测电路及其方法、芯片及电源设备 |
CN106772208B (zh) * | 2016-12-30 | 2023-11-28 | 杭州海兴电力科技股份有限公司 | 一种单三相表集成可靠性测试台 |
WO2018177535A1 (en) * | 2017-03-31 | 2018-10-04 | Advantest Corporation | Apparatus and method for providing a supply voltage to a device under test using a compensation signal injection |
JP7425020B2 (ja) * | 2021-06-11 | 2024-01-30 | 矢崎総業株式会社 | 電流検出装置及び電源装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6382377A (ja) | 1986-09-26 | 1988-04-13 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 電流測定回路 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3772595A (en) * | 1971-03-19 | 1973-11-13 | Teradyne Inc | Method and apparatus for testing a digital logic fet by monitoring currents the device develops in response to input signals |
GB1500695A (en) * | 1974-03-06 | 1978-02-08 | Solartron Electronic Group | Apparatus for producing an electrical output signal having a parameter which is linearly representative of the value of an unknown resistance |
JPH05119110A (ja) | 1991-10-25 | 1993-05-18 | Advantest Corp | 直流測定器 |
US5414352A (en) * | 1993-01-26 | 1995-05-09 | Raytheon Company | Parametric test circuit with plural range resistors |
JPH0854424A (ja) | 1994-08-10 | 1996-02-27 | Advantest Corp | 電圧印加電流測定装置 |
US5521493A (en) * | 1994-11-21 | 1996-05-28 | Megatest Corporation | Semiconductor test system including a novel driver/load circuit |
US6018238A (en) * | 1995-03-03 | 2000-01-25 | Bell Technologies Inc. | Hybrid non-contact clamp-on current meter |
JP3730323B2 (ja) | 1996-06-24 | 2006-01-05 | 株式会社アドバンテスト | 電流検出回路並びに該回路を用いる電圧印加電流測定回路及び定電流源回路 |
DE19782254T1 (de) * | 1997-12-02 | 2000-01-13 | Advantest Corp | Verfahren und Vorrichtung zur Strommessung auf der Basis von angelegter Spannung |
JP2001166005A (ja) | 1999-12-07 | 2001-06-22 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 半導体試験装置のデバイス用電源装置 |
JP3950646B2 (ja) * | 2001-05-21 | 2007-08-01 | 株式会社日立製作所 | 負荷電流出力回路一体形ドライバ回路及、それを備えたピンエレクトロニクスic及びicテスタ |
US6940271B2 (en) * | 2001-08-17 | 2005-09-06 | Nptest, Inc. | Pin electronics interface circuit |
-
2003
- 2003-12-11 US US10/537,563 patent/US7352193B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-12-11 WO PCT/JP2003/015839 patent/WO2004053507A1/ja active Application Filing
- 2003-12-11 KR KR1020057010519A patent/KR100903405B1/ko active IP Right Grant
- 2003-12-11 DE DE10393854T patent/DE10393854T5/de not_active Withdrawn
- 2003-12-11 CN CNB2003801057562A patent/CN100489550C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2003-12-11 JP JP2004558470A patent/JP4478033B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-09-10 US US11/900,283 patent/US20080018324A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6382377A (ja) | 1986-09-26 | 1988-04-13 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 電流測定回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20060244433A1 (en) | 2006-11-02 |
CN100489550C (zh) | 2009-05-20 |
JPWO2004053507A1 (ja) | 2006-04-13 |
DE10393854T5 (de) | 2007-03-29 |
WO2004053507A1 (ja) | 2004-06-24 |
KR20050075452A (ko) | 2005-07-20 |
JP4478033B2 (ja) | 2010-06-09 |
US7352193B2 (en) | 2008-04-01 |
CN1726397A (zh) | 2006-01-25 |
US20080018324A1 (en) | 2008-01-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100903405B1 (ko) | 전압인가 전류측정 장치 및 그것에 사용되는 스위치부착 전류 버퍼 | |
US7528637B2 (en) | Driver circuit | |
US7362092B2 (en) | Isolation buffers with controlled equal time delays | |
US7528636B2 (en) | Low differential output voltage circuit | |
US6255839B1 (en) | Voltage applied type current measuring circuit in an IC testing apparatus | |
US6166569A (en) | Test interface circuits with waveform synthesizers having reduced spurious signals | |
JP3119335B2 (ja) | Ic試験装置 | |
JP4641775B2 (ja) | 磁気検出用半導体集積回路およびそれを搭載した電子部品 | |
CA1273061A (en) | Active load network | |
US6069484A (en) | Source measure unit current preamplifier | |
US4196358A (en) | Analog multiplexer | |
US4472678A (en) | Test apparatus for circuits having a multiplex input/output terminal including a load connected to the terminal together with circuitry for monitoring the current flow through the load when inputting a signal to the terminal | |
KR100375580B1 (ko) | 누설전류 정정회로 | |
JPH05119110A (ja) | 直流測定器 | |
WO2022103514A1 (en) | Bridge sensor dc error cancellation scheme | |
US6008696A (en) | Low noise amplifier with actively terminated input | |
US6127856A (en) | Sample-and-hold circuit operable at a low voltage | |
US4280088A (en) | Reference voltage source | |
JP3979720B2 (ja) | サンプルアンドホールド回路 | |
US6172551B1 (en) | Wide dynamic-range current switches and switching methods | |
EP1206033A2 (en) | Isolator circuit | |
EP3995801A1 (en) | Bridge sensor biasing and readout system | |
KR20210155602A (ko) | 저잡음 전하 증폭 장치 및 비교기 | |
JPH0399308A (ja) | 定電流回路 | |
KR100442857B1 (ko) | 구형파 직류변환회로 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130524 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140530 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150526 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160525 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170526 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180524 Year of fee payment: 10 |