KR100870196B1 - 데이터 워드를 판독하는 장치 및 방법과 데이터 블록을 저장하는 장치 및 방법, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 - Google Patents
데이터 워드를 판독하는 장치 및 방법과 데이터 블록을 저장하는 장치 및 방법, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100870196B1 KR100870196B1 KR1020070007117A KR20070007117A KR100870196B1 KR 100870196 B1 KR100870196 B1 KR 100870196B1 KR 1020070007117 A KR1020070007117 A KR 1020070007117A KR 20070007117 A KR20070007117 A KR 20070007117A KR 100870196 B1 KR100870196 B1 KR 100870196B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- error
- data word
- value
- data
- predetermined
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M13/00—Coding, decoding or code conversion, for error detection or error correction; Coding theory basic assumptions; Coding bounds; Error probability evaluation methods; Channel models; Simulation or testing of codes
- H03M13/29—Coding, decoding or code conversion, for error detection or error correction; Coding theory basic assumptions; Coding bounds; Error probability evaluation methods; Channel models; Simulation or testing of codes combining two or more codes or code structures, e.g. product codes, generalised product codes, concatenated codes, inner and outer codes
- H03M13/2906—Coding, decoding or code conversion, for error detection or error correction; Coding theory basic assumptions; Coding bounds; Error probability evaluation methods; Channel models; Simulation or testing of codes combining two or more codes or code structures, e.g. product codes, generalised product codes, concatenated codes, inner and outer codes using block codes
- H03M13/2927—Decoding strategies
- H03M13/293—Decoding strategies with erasure setting
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1008—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
- G06F11/1068—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices in sector programmable memories, e.g. flash disk
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M13/00—Coding, decoding or code conversion, for error detection or error correction; Coding theory basic assumptions; Coding bounds; Error probability evaluation methods; Channel models; Simulation or testing of codes
- H03M13/29—Coding, decoding or code conversion, for error detection or error correction; Coding theory basic assumptions; Coding bounds; Error probability evaluation methods; Channel models; Simulation or testing of codes combining two or more codes or code structures, e.g. product codes, generalised product codes, concatenated codes, inner and outer codes
- H03M13/2906—Coding, decoding or code conversion, for error detection or error correction; Coding theory basic assumptions; Coding bounds; Error probability evaluation methods; Channel models; Simulation or testing of codes combining two or more codes or code structures, e.g. product codes, generalised product codes, concatenated codes, inner and outer codes using block codes
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M13/00—Coding, decoding or code conversion, for error detection or error correction; Coding theory basic assumptions; Coding bounds; Error probability evaluation methods; Channel models; Simulation or testing of codes
- H03M13/29—Coding, decoding or code conversion, for error detection or error correction; Coding theory basic assumptions; Coding bounds; Error probability evaluation methods; Channel models; Simulation or testing of codes combining two or more codes or code structures, e.g. product codes, generalised product codes, concatenated codes, inner and outer codes
- H03M13/2906—Coding, decoding or code conversion, for error detection or error correction; Coding theory basic assumptions; Coding bounds; Error probability evaluation methods; Channel models; Simulation or testing of codes combining two or more codes or code structures, e.g. product codes, generalised product codes, concatenated codes, inner and outer codes using block codes
- H03M13/2909—Product codes
- H03M13/2915—Product codes with an error detection code in one dimension
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Probability & Statistics with Applications (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
Abstract
Description
Claims (28)
- 사전결정된 데이터 워드를 포함하는 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n), 상기 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)의 각 데이터 워드마다 각각 관련된 에러 식별값(130-1, . . . , 130-n) 및 데이터 블록(110)에 관련된 교정값(140)으로 나누어진 상기 데이터 블록(110)이 저장되어 있는 메모리(100)로부터 상기 사전결정된 데이터 워드를 판독하는 장치로서,상기 사전결정된 데이터 워드가 상기 관련된 에러 식별값과 사전결정된 관계를 갖는지를 검사하여 상기 사전결정된 관계가 존재하지 않으면 에러가 있다고 결론짓도록 구현된 에러 식별 수단(error identification means)(150)과,상기 사전결정된 데이터 워드가 상기 관련된 에러 식별값과 사전결정된 관계를 가지고 있지 않다면 상기 교정값(140)을 이용하여 상기 에러를 교정하도록 구현된 에러 교정 수단(error correction means)(160)을 포함하되,상기 에러 교정 수단(160)은 상기 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n) 중 어느 데이터 워드가 상기 사전결정된 데이터 워드인지와는 무관하게, 에러 교정을 위해 상기 교정값(140)을 사용하도록 구현되는장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 에러 교정 수단(160)은 상기 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n) 중 어느 데이터 워드가 상기 사전결정된 데이터 워드인지와 무관하게 상기 에러를 교정하기 위하여 상기 교정값(140)을 전체로서 이용하도록 구현되는장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 각 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)에 관련된 상기 에러 식별값(130-1, . . , 130-n)은 각기 정확히 1 비트의 길이를 갖는장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 각 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)에 관련된 상기 에러 식별값(130-1, . . , 130-n)은 패리티 비트(parity bit)이며, 상기 에러 식별 수단(150)은 상기 사전결정된 관계가 상기 각 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)의 패리티 및 상기 관련된 패리티 비트(130-1, . . . , 130-n)의 값이 서로 사전결정된 제2의 관계를 가지도록 구현되는장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 에러 식별 수단(160)은 상기 교정값(140)에 근거하여 상기 데이터 블록(110) 내 어느 1-비트 에러라도 교정하도록 구현되는장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 에러 식별 수단(160)은 상기 사전결정된 데이터 워드에서 또는 상기 사전결정된 데이터 워드 및 상기 관련된 에러 식별값에서 어느 1-비트 에러라도 교정하도록 구현되는장치.
- 제 6 항에 있어서,상기 에러 식별 수단은, 상기 사전결정된 데이터 워드가 상기 관련된 에러 식별값과 상기 사전결정된 관계를 갖지 않는 경우에, 상기 사전결정된 데이터 워드가 아닌 상기 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)로부터의 각각의 데이터 워드에 근거하여 서브 교정값을 계산하고, 상기 서브 교정값을 링크시켜 중간 교정값을 구하고, 상기 중간 교정값과 상기 교정값(140)에 근거하여 상기 사전결정된 데이터 워드에 대하여 재구성된 서브 교정값을 결정하고, 상기 재구성된 서브 교정값에 근거하여 상기 사전결정된 데이터 워드 및 상기 관련된 에러 식별값을 교정하도록 구현되는장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 에러 교정 수단(160)은, 상기 서브 교정값을 계산할 때, 상기 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n) 및 상기 관련된 에러 식별값(130-1, . . , 130-n)에 근거하여 처음 계산을 실행하여 상기 서브 교정값을 구하도록 구현되는장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 에러 교정 수단(160)은, 서브 교정값을 링크하여 상기 중간 교정값을 형성할 때 또는 상기 중간 교정값 및 상기 교정값(140)에 근거하여 상기 재구성된 서브 교정값을 결정할 때, 상기 서브 교정값을 XOR 연산을 통해 비트별로 링크하도록 구현되는장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 교정값(140)은 1-비트 에러를 교정하기에 충분한 최소 길이를 갖는장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 에러 식별 수단은,만약 상기 사전결정된 데이터 워드가 상기 관련된 에러 식별값과 사전결정된 관계를 가진다면, 식별되지 않은 에러를 찾기 위해, 상기 관련된 에러 식별값과 함께 또는 상기 관련된 에러 식별값 없이, 상기 교정값(140)을 이용하여 상기 데이터 블록(110) 또는 상기 사전결정된 데이터 워드를 검사하고, 만약 식별되지 않은 에러가 존재한다면 알람 신호를 출력하도록 더 구현되는장치.
- 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)로 된 데이터 블록(110)을 메모리(100)에 저장하는 장치로서,상기 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)의 매 데이터 워드마다 상기 각각의 데이터 워드와 사전결정된 관계를 갖는 에러 식별값(130-1, . . . , 130-n)을 발생하도록 구현된 에러 식별값 생성 수단과,상기 데이터 워드들 중 어느 것이 상기 사전결정된 데이터 워드에 대응한다는 것에 무관하게, 사전결정된 데이터 워드와 상기 관련된 에러 식별값과의 상기 사전결정된 관계가 존재하지 않는 것으로 결론짓는 에러를 교정가능하게 해주는 교정값(140)을 상기 데이터 블록(110)에서 생성하도록 구현된 에러 교정값 생성 수단을 포함하는장치.
- 제 12 항에 있어서,상기 에러 식별값 생성 수단은 각기 정확하게 1 비트의 길이를 갖는 에러 식별값(130-1, . . ., 130-n)를 생성하도록 구현되는장치.
- 제 12 항에 있어서,상기 에러 식별값 생성 수단은 패리티 비트를 에러 식별값(130-1, . . ., 130-n)으로서 생성하도록 구현되며, 상기 사전결정된 관계는 복수의 데이터 워드 및 상기 관련된 패리티 비트의 값이 사전결정된 제2의 관계를 갖는 것인장치.
- 제 12 항에 있어서,상기 에러 교정값 생성 수단은 상기 데이터 블록(110) 내 어느 1-비트 에러라도 교정되게 하는 교정값(140)을 생성하도록 구현되는장치.
- 제 12 항에 있어서,상기 에러 교정값 생성 수단은 상기 사전결정된 데이터 워드에서 또는 상기 사전결정된 데이터 워드 및 상기 관련된 에러 식별값에서 어느 1-비트 에러라도 교정되게 하는 교정값(140)을 생성하도록 구현되는장치.
- 제 12 항에 있어서,상기 에러 교정값 생성 수단은 1-비트 에러를 교정하기에 충분한 최소 길이를 갖는 교정값(140)을 생성하도록 구현되는장치.
- 제 12 항에 있어서,상기 에러 교정값 생성 수단은 상기 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)의 각각의 데이터 워드에 근거하여 서브 교정값을 계산하고, 상기 서브 교정값을 링크시켜 상기 교정값을 구하도록 구현되는장치.
- 제 18 항에 있어서,상기 에러 교정값 생성 수단은, 상기 서브 교정값을 계산할 때, 상기 데이터 워드 및 상기 관련된 에러 식별값에 근거하여 처음 계산을 실행하여 상기 서브 교정값을 구하도록 구현되는장치.
- 제 18 항에 있어서,상기 에러 교정값 생성 수단은, 상기 서브 교정값을 링크할 때, 상기 서브 교정값을 XOR 연산에 의해 서로 비트별로 링크시키도록 구현되는장치.
- 제 12 항에 있어서,상기 에러 교정값 생성 수단은 1-비트 에러를 교정하기에 충분한 최소 길이의 교정값(140)을 생성하도록 구현되는장치.
- 사전결정된 데이터 워드를 포함하는 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n), 상기 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)의 각 데이터 워드마다 각각 관련된 에러 식별값(130-1, . . . , 130-n) 및 데이터 블록(110)에 관련된 교정값(140)으로 나누어진 상기 데이터 블록(110)이 저장되어 있는 메모리(100)로부터 상기 사전결정된 데이터 워드를 판독하는 방법으로서,상기 사전결정된 데이터 워드가 그에 관련된 에러 식별값과 사전결정된 관계를 갖는지를 검사하여 상기 사전결정된 관계가 존재하지 않으면 에러가 있다고 결론짓는 단계(L230)와,상기 사전결정된 데이터 워드가 상기 관련된 에러 식별값과 사전결정된 관계를 갖고 있지 않다면 상기 교정값(140)을 이용하여 상기 에러를 교정하는 단계(L310)를 포함하며,상기 교정 단계(L310)에서, 상기 교정값(140)은 상기 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)중의 어느 데이터 워드가 상기 사전결정된 데이터 워드인 것과 무관하게 에러 교정을 위하여 사용되는방법.
- 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)로 된 데이터 블록(110)을 메모리(100)에 저장하는 방법으로서,상기 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)의 데이터 워드마다 상기 각각의 데이터 워드와 사전결정된 관계를 가지는 에러 식별값(130-1, . . . , 130-n)을 생성하는 단계(S220)와,상기 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)의 상기 데이터 워드들이 상기 사전결정된 데이터 워드에 대응한다는 것과 무관하게, 사전결정된 데이터 워드와 상기 관련된 에러 식별값과의 사이에서 상기 사전결정된 관계가 존재하지 않는 것으로 결론짓는 에러를 교정가능하게 해주는 교정값(140)을 생성하는 단계(S240; S240')를 포함하는방법.
- 사전결정된 데이터 워드를 포함하는 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n), 상기 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)의 각 데이터 워드마다 각각 관련되어 있되 상기 각 데이터 워드의 교정을 허용하지 않는 에러 식별값(130-1, . . . , 130-n) 및 데이터 블록(110)에 관련된 교정값(140)으로 나누어진 상기 데이터 블록(110)이 저장되어 있는 메모리(100)로부터 상기 사전결정된 데이터 워드를 판독하는 장치로서,상기 사전결정된 데이터 워드가 상기 관련된 에러 식별값과 사전결정된 관계를 갖는지를 검사하여 상기 사전결정된 관계가 존재하지 않으면 에러가 있다고 결론짓도록 구현된 에러 식별 수단(150)과,상기 사전결정된 데이터 워드가 상기 관련된 에러 식별값과 사전결정된 관계를 갖지 않으면 상기 교정값(140)을 이용하여 상기 에러를 교정하도록 구현된 에러 교정 수단(160)을 포함하며,상기 에러 교정 수단(160)은 상기 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)중의 어느 데이터 워드가 상기 사전결정된 데이터 워드인 것에 무관하게 에러 교정을 위하여 상기 교정값(140)을 이용하도록 구현되는장치.
- 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)로 된 데이터 블록(110)을 메모리(100)에 저장하는 장치로서,상기 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)의 데이터 워드마다 상기 각각의 데이터 워드와 사전결정된 관계를 갖되, 상기 각각의 데이터 워드를 교정되지 않게 하는 에러 식별값(130-1, . . . , 130-n)을 생성하도록 구현된 에러 식별값 생성 수단과,상기 데이터 워드들 중의 어느것이 상기 사전결정된 데이터 워드에 대응하는 것과 무관하게, 사전결정된 데이터 워드와 상기 관련된 에러 식별값과의 사이에서 상기 사전결정된 관계가 존재하지 않는 것으로 결론짓는 에러를 교정가능하게 해주는 교정값(140)을 상기 데이터 블록(110)에서 생성하도록 구현된 에러 교정값 생성 수단을 포함하는장치.
- 사전결정된 데이터 워드를 포함하는 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n), 상기 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)의 각 데이터 워드마다 각각 관련되어 있되 상기 각 데이터 워드의 교정을 허용하지 않는 에러 식별값(130-1, . . . , 130-n) 및 데이터 블록(110)에 관련된 교정값(140)으로 나누어진 상기 데이터 블록(110)이 저장되어 있는 메모리(100)로부터 상기 사전결정된 데이터 워드를 판독하는 방법으로서,상기 사전결정된 데이터 워드가 상기 관련된 에러 식별값과 사전결정된 관계를 갖는지를 검사하여 상기 사전결정된 관계가 존재하지 않으면 에러가 있다고 결론짓는 단계(L230)와,상기 사전결정된 데이터 워드가 상기 관련된 에러 식별값과 사전결정된 관계를 갖지 않으면 상기 교정값(140)을 이용하여 상기 에러를 교정하는 단계(L310)를 포함하며,상기 교정 단계(L310)에서, 상기 교정값(140)은 상기 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n) 중의 어느 데이터 워드가 상기 사전결정된 데이터 워드인 것과 무관하게 에러 교정을 위하여 사용되는방법.
- 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)로 된 데이터 블록(110)을 메모리(100)에 저장하는 방법으로서,상기 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)의 데이터 워드마다 상기 각각의 데이터 워드와 사전결정된 관계를 갖되, 상기 각각의 데이터 워드의 교정을 허용하지 않는 에러 식별값(130-1, . . . , 130-n)을 생성하는 단계(S220)와,사전결정된 데이터 워드와 상기 관련된 에러 식별값과의 사이에서 상기 사전결정된 관계가 존재하지 않는 것으로 결론짓는 에러를, 상기 복수의 데이터 워드(120-1, . . ., 120-n)의 상기 데이터 워드들 중 어느 것이 상기 사전결정된 데이터 워드에 대응하는 것과 무관하게 교정가능하게 해 주는 교정값(140)을 생성하는 단계(S240; S240')를 포함하는방법.
- 제 22 항, 제 23 항, 제 26 항 또는 제 27 항 중 어느 한 항에 따른 방법의 각각의 단계를 수행하는 컴퓨터 프로그램 코드를 포함하는컴퓨터 판독 가능한 기록 매체.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102006003146.6A DE102006003146B4 (de) | 2006-01-23 | 2006-01-23 | Vorrichtung und Verfahren zum Auslesen eines Datenwortes und Vorrichtung und Verfahren zum Speichern eines Datenblocks |
DE102006003146.6 | 2006-01-23 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070077466A KR20070077466A (ko) | 2007-07-26 |
KR100870196B1 true KR100870196B1 (ko) | 2008-11-24 |
Family
ID=38268071
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070007117A KR100870196B1 (ko) | 2006-01-23 | 2007-01-23 | 데이터 워드를 판독하는 장치 및 방법과 데이터 블록을 저장하는 장치 및 방법, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7937639B2 (ko) |
KR (1) | KR100870196B1 (ko) |
DE (1) | DE102006003146B4 (ko) |
FR (1) | FR2911414B1 (ko) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20090014828A (ko) * | 2007-08-07 | 2009-02-11 | 삼성전자주식회사 | 에러 정정 코드를 암호화하는 플래시 메모리 시스템 및플래시 메모리 시스템의 암호화 방법 |
US8832518B2 (en) * | 2008-02-21 | 2014-09-09 | Ramot At Tel Aviv University Ltd. | Method and device for multi phase error-correction |
US8458562B1 (en) | 2008-12-30 | 2013-06-04 | Micron Technology, Inc. | Secondary memory element for non-volatile memory |
US8504893B1 (en) * | 2010-09-30 | 2013-08-06 | Micron Technology, Inc. | Error detection or correction of a portion of a codeword in a memory device |
US8533557B2 (en) | 2011-01-28 | 2013-09-10 | Infineon Technologies Ag | Device and method for error correction and protection against data corruption |
DE102012020442B4 (de) * | 2012-10-18 | 2020-03-05 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zum Überprüfen von Daten mittels wenigstens zweier Prüfsummen |
US20140215174A1 (en) | 2013-01-25 | 2014-07-31 | Infineon Technologies Ag | Accessing Memory with Security Functionality |
US10930650B2 (en) * | 2018-06-28 | 2021-02-23 | Stmicroelectronics International N.V. | Latch-up immunization techniques for integrated circuits |
US11475170B2 (en) | 2019-05-28 | 2022-10-18 | Nuvoton Technology Corporation | System and method for correction of memory errors |
US11342044B2 (en) | 2019-05-28 | 2022-05-24 | Nuvoton Technology Corporation | System and method for prioritization of bit error correction attempts |
US11694761B2 (en) * | 2021-09-17 | 2023-07-04 | Nxp B.V. | Method to increase the usable word width of a memory providing an error correction scheme |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4236247A (en) * | 1979-01-15 | 1980-11-25 | Organisation Europeene De Recherches Spatiales | Apparatus for correcting multiple errors in data words read from a memory |
US4319357A (en) * | 1979-12-14 | 1982-03-09 | International Business Machines Corp. | Double error correction using single error correcting code |
US4561095A (en) * | 1982-07-19 | 1985-12-24 | Fairchild Camera & Instrument Corporation | High-speed error correcting random access memory system |
WO1991019253A1 (en) | 1990-06-08 | 1991-12-12 | Unisys Corporation | Multiple error correction in a computer memory |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2659460B1 (fr) * | 1990-03-08 | 1992-05-22 | Bull Sa | Sous-systeme peripherique de memoire de masse. |
KR970071492A (ko) * | 1996-04-15 | 1997-11-07 | 김광호 | 씨디-롬 드라이브 테스트 방법 |
JP3527873B2 (ja) * | 1999-09-03 | 2004-05-17 | 松下電器産業株式会社 | 誤り訂正装置 |
WO2001039190A1 (fr) * | 1999-11-25 | 2001-05-31 | Fujitsu Limited | Procede de lecture d'un support de donnees, dispositif de stockage de donnees, procede de reproduction de donnees, systeme de reproduction de donnees et support de donnees utilise a cet effet |
US7231585B2 (en) * | 2002-12-11 | 2007-06-12 | Nvidia Corporation | Error correction for flash memory |
-
2006
- 2006-01-23 DE DE102006003146.6A patent/DE102006003146B4/de active Active
-
2007
- 2007-01-22 FR FR0700400A patent/FR2911414B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 2007-01-23 US US11/625,974 patent/US7937639B2/en active Active
- 2007-01-23 KR KR1020070007117A patent/KR100870196B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4236247A (en) * | 1979-01-15 | 1980-11-25 | Organisation Europeene De Recherches Spatiales | Apparatus for correcting multiple errors in data words read from a memory |
US4319357A (en) * | 1979-12-14 | 1982-03-09 | International Business Machines Corp. | Double error correction using single error correcting code |
US4561095A (en) * | 1982-07-19 | 1985-12-24 | Fairchild Camera & Instrument Corporation | High-speed error correcting random access memory system |
WO1991019253A1 (en) | 1990-06-08 | 1991-12-12 | Unisys Corporation | Multiple error correction in a computer memory |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7937639B2 (en) | 2011-05-03 |
FR2911414B1 (fr) | 2013-03-29 |
US20070174753A1 (en) | 2007-07-26 |
FR2911414A1 (fr) | 2008-07-18 |
DE102006003146B4 (de) | 2016-05-12 |
KR20070077466A (ko) | 2007-07-26 |
DE102006003146A1 (de) | 2007-08-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100870196B1 (ko) | 데이터 워드를 판독하는 장치 및 방법과 데이터 블록을 저장하는 장치 및 방법, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 | |
US10019312B2 (en) | Error monitoring of a memory device containing embedded error correction | |
KR101750662B1 (ko) | 데이터 에러 교정용 회로, 장치, 및 방법 | |
US9940457B2 (en) | Detecting a cryogenic attack on a memory device with embedded error correction | |
US8627169B2 (en) | Method and apparatus for dynamically configurable multi level error correction | |
US7353438B2 (en) | Transparent error correcting memory | |
US7810016B2 (en) | Semiconductor storage device equipped with ECC function | |
US7398449B1 (en) | Encoding 64-bit data nibble error correct and cyclic-redundancy code (CRC) address error detect for use on a 76-bit memory module | |
KR100833600B1 (ko) | 에러 정정 회로, 그 방법 및 상기 회로를 구비하는 반도체메모리 장치 | |
JP3234130B2 (ja) | 誤り訂正符号復号化方法およびこの方法を用いる回路 | |
US10467091B2 (en) | Memory module, memory system including the same, and error correcting method thereof | |
US9208027B2 (en) | Address error detection | |
KR20180080683A (ko) | 메모리 내 에러 수정 방법 | |
KR101486424B1 (ko) | 에러 정정 회로, 에러 정정 회로를 구비하는 플래시 메모리시스템 및 에러 정정 회로의 동작 방법 | |
US9189327B2 (en) | Error-correcting code distribution for memory systems | |
CN112992249B (zh) | 用于验证暂存器内容完整性的系统及其方法 | |
US20050289409A1 (en) | Parallel data bus | |
US20220413959A1 (en) | Systems and methods for multi-use error correcting codes | |
JP2012003569A (ja) | メモリコントローラ及びメモリコントローラを備えるフラッシュメモリシステム、並びにフラッシュメモリの制御方法 | |
CN111752747A (zh) | 一种增强检错能力的内存安全校验方法 | |
WO2020242621A1 (en) | Error detection and correction with integrity checking | |
JP7160860B2 (ja) | メモリエラーを訂正するためのシステム及び方法 | |
JP4159896B2 (ja) | 連想メモリ | |
JP2010067219A (ja) | 半導体装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121109 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131108 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141112 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151106 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161111 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171110 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181113 Year of fee payment: 11 |