KR100863727B1 - An array substrate for In-Plane switching mode LCD and the method for fabricating the same - Google Patents
An array substrate for In-Plane switching mode LCD and the method for fabricating the same Download PDFInfo
- Publication number
- KR100863727B1 KR100863727B1 KR1020020015137A KR20020015137A KR100863727B1 KR 100863727 B1 KR100863727 B1 KR 100863727B1 KR 1020020015137 A KR1020020015137 A KR 1020020015137A KR 20020015137 A KR20020015137 A KR 20020015137A KR 100863727 B1 KR100863727 B1 KR 100863727B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- electrode
- metal layer
- gate
- pixel
- layer
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 59
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 32
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 108
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 108
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims abstract description 44
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 43
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 43
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims abstract description 25
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims abstract description 18
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 15
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 34
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims description 34
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 claims description 34
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims description 26
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 20
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 claims description 19
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 16
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 14
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims description 13
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 10
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 10
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 10
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 10
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 8
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 7
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 6
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims description 5
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 148
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 7
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 4
- UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N benzocyclobutene Chemical compound C1=CC=C2CCC2=C1 UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 206010047571 Visual impairment Diseases 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1343—Electrodes
- G02F1/134309—Electrodes characterised by their geometrical arrangement
- G02F1/134363—Electrodes characterised by their geometrical arrangement for applying an electric field parallel to the substrate, i.e. in-plane switching [IPS]
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136277—Active matrix addressed cells formed on a semiconductor substrate, e.g. of silicon
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136286—Wiring, e.g. gate line, drain line
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/1368—Active matrix addressed cells in which the switching element is a three-electrode device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/772—Field effect transistors
- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/786—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/13625—Patterning using multi-mask exposure
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136286—Wiring, e.g. gate line, drain line
- G02F1/136295—Materials; Compositions; Manufacture processes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2201/00—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
- G02F2201/12—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 electrode
- G02F2201/121—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 electrode common or background
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2201/00—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
- G02F2201/12—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 electrode
- G02F2201/123—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 electrode pixel
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Geometry (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
본 발명은 횡전계 방식 액정표시장치에 관한 것으로 특히, 저 저항배선을 사용한 대면적 고정세(高精細)횡전계 방식 액정표시장치용 어레이기판과 그 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transverse electric field type liquid crystal display device, and more particularly, to an array substrate for a large area high definition transverse electric field type liquid crystal display device using low resistance wiring and a method of manufacturing the same.
본 발명을 요약하면, 어레이배선을 저 저항 금속인 알루미늄(Al)과 배리어(barrier) 금속층을 포함한 3층구조로 구성한다.In summary, the array wiring is constructed in a three-layer structure including aluminum (Al), which is a low resistance metal, and a barrier metal layer.
이와 같이 하면, 고화질의 고정세(高精細)횡전계방식 액정표시장치를 제작할 수 있다.
In this way, a high definition high definition transverse electric field liquid crystal display device can be manufactured.
Description
도 1은 종래의 횡전계방식 액정표시장치용 어레이기판의 한 화소를 개략적으로 도시한 평면도이고,1 is a plan view schematically showing one pixel of a conventional array substrate for a transverse electric field type liquid crystal display device;
도 2a 내지 도 2d는 도 1의 Ⅱ-Ⅱ`와 Ⅲ-Ⅲ`와 Ⅳ-Ⅳ`와 Ⅴ-Ⅴ`를 따라 절단하여, 종래의 공정 순서에 따라 도시한 공정 단면도이고,2A to 2D are sectional views taken along the line II-II ′ and III-III ′ and IV-IV ′ and V-V ′ of FIG. 1 and shown according to a conventional process sequence.
도 3은 본 발명에 따른 횡전계방식 액정표시장치용 어레이기판의 한 화소를 개략적으로 도시한 평면도이고,3 is a plan view schematically showing one pixel of an array substrate for a transverse electric field type liquid crystal display device according to the present invention;
도 4a 내지 도 4d는 도 3의 Ⅵ-Ⅵ`,Ⅶ-Ⅶ`,Ⅷ-Ⅷ`,Ⅸ-Ⅸ`을 따라 절단하여, 본 발명의 공정 순서에 따라 도시한 공정 단면도이다.
4A to 4D are cross-sectional views taken along the line VI-VI ′, VIII-VIII, VIII-VIII, VIII-VIII, and according to the process sequence of the present invention.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
100 : 기판 113 : 게이트 패드100: substrate 113: gate pad
114 : 게이트 전극 116 : 공통 배선 114: gate electrode 116: common wiring
117b : 공통전극의 수직부 118 : 게이트 절연막117b vertical portion of
122 : 제 1 금속층의 제 1 패턴 124 : 제 1 금속층의 제 2 패턴 122: first pattern of first metal layer 124: second pattern of first metal layer
131 : 액티브층 132 : 오믹 콘택층131: active layer 132: ohmic contact layer
134 : 반도체층의 제 1 패턴 136 : 반도체층의 제 2 패턴 134: first pattern of semiconductor layer 136: second pattern of semiconductor layer
142b: 화소전극의 수직부 142c : 화소전극의 수평부 142b: vertical portion of
144 : 소스 전극 145 : 데이터 패드전극 144: source electrode 145: data pad electrode
146 : 드레인 전극
146: drain electrode
본 발명은 액정 표시장치에 관한 것으로 특히, 대면적 고정세(高精細) 횡전계 방식(In-Plane Switching mode)액정표시장치용 어레이기판과 그 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
일반적으로 액정표시장치의 구동원리는 액정의 광학적 이방성과 분극성질을 이용한다. In general, the driving principle of the liquid crystal display device uses the optical anisotropy and polarization of the liquid crystal.
상기 액정은 구조가 가늘고 길기 때문에 분자의 배열에 방향성을 가지고 있으며, 인위적으로 액정에 전기장을 인가하여 분자배열의 방향을 제어할 수 있다. Since the liquid crystal is thin and long in structure, the liquid crystal has directivity in the arrangement of molecules, and the direction of the molecular arrangement can be controlled by artificially applying an electric field to the liquid crystal.
따라서, 상기 액정의 분자배열 방향을 임의로 조절하면, 액정의 분자배열이 변하게 되고, 광학적 이방성에 의하여 빛의 편광상태를 변화시켜 화상정보를 표현할 수 있다.Accordingly, if the molecular arrangement direction of the liquid crystal is arbitrarily adjusted, the molecular arrangement of the liquid crystal is changed, and image information may be expressed by changing the polarization state of light by optical anisotropy.
현재에는 박막 트랜지스터와 상기 박막 트랜지스터에 연결된 화소전극이 행 렬 방식으로 배열된 능동행렬 액정표시장치(Active Matrix LCD : AM-LCD)가 해상도 및 동영상 구현능력이 우수하여 가장 주목받고 있다. Currently, active matrix LCDs (AM-LCDs) in which thin film transistors and pixel electrodes connected to the thin film transistors are arranged in a matrix manner have attracted the most attention due to their excellent resolution and ability to implement video.
상기 액정표시장치는 공통전극이 형성된 컬러필터 기판(상부기판)과 화소전극이 형성된 어레이기판(하부기판)과, 이 상부 및 하부기판 사이에 충진된 액정으로 이루어지는데, 이러한 액정표시장치에서는 공통전극과 화소전극이 상-하로 걸리는 전기장에 의해 액정을 구동하는 방식으로, 투과율과 개구율 등의 특성이 우수하다.The liquid crystal display device includes a color filter substrate (upper substrate) on which a common electrode is formed, an array substrate (lower substrate) on which a pixel electrode is formed, and a liquid crystal filled between the upper and lower substrates. And a method in which the liquid crystal is driven by an electric field applied up and down by the pixel electrode, and has excellent characteristics such as transmittance and aperture ratio.
그러나, 상-하로 걸리는 전기장에 의한 액정구동은 시야각 특성이 우수하지 못한 단점을 갖고 있다. 따라서, 상기의 단점을 극복하기 위해 새로운 기술이 제안되고 있다. 하기 기술될 액정표시장치는 횡전계에 의한 액정 구동방법으로 시야각 특성이 우수한 장점을 갖고 있다.However, the liquid crystal drive by the electric field applied up-down has a disadvantage that the viewing angle characteristics are not excellent. Therefore, new techniques have been proposed to overcome the above disadvantages. The liquid crystal display device to be described below has an advantage of excellent viewing angle characteristics by a liquid crystal driving method using a transverse electric field.
이하, 도면을 참조하여 종래의 횡전계 방식 액정표시장치용 어레이기판과 그 제조방법에 대해 설명한다.Hereinafter, a conventional array substrate for a transverse electric field type liquid crystal display device and a manufacturing method thereof will be described with reference to the drawings.
도 1은 종래의 횡전계 방식 액정표시장치용 어레이기판의 일부를 개략적으로 도시한 평면도이다.1 is a plan view schematically illustrating a part of a conventional array substrate for a transverse electric field type liquid crystal display device.
도시한 바와 같이, 종래의 횡전계 방식 액정표시장치용 어레이기판(10)은 소정간격 이격되어 평행하게 일 방향으로 구성된 다수의 게이트배선(12)과 공통배선(16)과, 상기 두 배선과 교차하며 특히 게이트배선(12)과는 화소영역(P)을 정의하는 데이터배선(24)이 구성된다.As shown in the drawing, the
상기 게이트 배선(12)의 일 끝단에는 게이트 패드전극(13)이 구성되고, 상기 데이터 배선(24)의 일 끝단에는 데이터 패드전극(25)이 구성된다. A
상기 게이트배선(12)과 데이터배선(24)의 교차지점에는, 상기 게이트 배선(12)에서 연장된 게이트 전극(14)과, 상기 게이트 전극(14)의 상부에 구성된 액티브층(20)과 소스 전극(26)및 드레인 전극(28)을 포함하는 박막트랜지스터(T)가 구성되며, 상기 소스 전극(26)은 상기 데이터배선(24)과 연결된다.At the intersection of the
상기 화소영역(P)에는 상기 드레인 전극(28)과 연결되는 화소전극(30)과, 상기 화소전극(30)과 평행하게 구성되고 상기 공통 배선(16)과 연결되는 공통전극(17)이 구성된다.The pixel region P includes a
상기 화소전극(30)은 상기 드레인 전극(28)에서 연장된 연장부(30a)와 상기 연장부(30a)에서 수직하게 연장되고 서로 소정간격 이격된 다수의 수직부(30b)와, 상기 공통 배선(16)의 상부에서 상기 수직부(30b)를 하나로 연결하는 수평부(30c)로 구성된다.The
상기 공통전극(17)은 상기 공통 배선(16)에서 화소영역(P)으로 수직하게 연장되고, 상기 화소전극의 수직부(30b)와 엇갈려 구성되는 다수의 수직부(17b)와, 상기 각 수직부(17b)를 하나로 연결하는 수평부(17a)로 구성된다. The common electrode 17 extends vertically from the
상기 화소영역(P)에 구성되는 공통전극(17)의 수직부(17b)는 상기 데이터배선(24)과 소정간격 이격 되도록 구성되었다.The
상기 게이트 패드전극(13)과 데이터 패드 전극(25)은 게이트 패드 콘택홀(33)과 데이터 패드 콘택홀(35)을 통해 각각 투명한 게이트 패드 단자전극(40)과 데이터 패드 단자전극(42)과 접촉하여 구성된다.
The
전술한 구성에서, 상기 소스 및 드레인 전극(26,28)과 데이터 배선(24)은 일반적으로 몰리브덴(Mo) 또는 크롬(Cr)을 사용하여 단일층으로 형성한다. In the above-described configuration, the source and
그러나, 상기와 같이 현재 사용되고 있는 소스-드레인 금속은 저항이 크기 때문에 대면적 고정세(高精細) 액정패널을 제작하는데 부적합하다.However, since the source-drain metal currently used as described above has a large resistance, it is unsuitable for manufacturing a large-area high definition liquid crystal panel.
이하, 도 2a 내지 도 2d를 참조하여, 종래에 따른 어레이기판의 제조공정을 설명한다.Hereinafter, a manufacturing process of an array substrate according to the related art will be described with reference to FIGS. 2A to 2D.
도 2a 내지 도 2d는 도 1의 Ⅱ-Ⅱ`와 Ⅲ-Ⅲ`와 Ⅳ-Ⅳ`와 Ⅴ-Ⅴ`를 따라 절단하여, 종래의 공정순서에 따라 도시한 공정 단면도이다.2A through 2D are cross-sectional views taken along the line II-II ′, III-III ′, IV-IV ′, and V-V ′ of FIG. 1, according to a conventional process sequence.
도 2a에 도시한 바와 같이, 기판(10)상에 알루미늄(Al), 알루미늄 합금을 포함하는 도전성 금속그룹 중 선택된 하나를 증착하여 제 1 마스크 공정으로, 게이트 전극(14)을 포함하는 게이트배선(12)과 상기 게이트 배선(12)의 끝단에는 게이트 패드 전극(13)과, 상기 게이트배선(12)과 소정간격 평행하게 이격된 공통 배선(16)을 형성한다.As shown in FIG. 2A, a gate wiring including the
동시에, 상기 공통 배선(16)에서 수직으로 돌출된 다수의 수직부(17b)와, 상기 다수의 수직부(17b)를 하나로 연결하는 수평부(도 1의 17a)로 구성된 공통 전극(17)을 형성한다.At the same time, a common electrode 17 including a plurality of
전술한 구성에서, 상기 게이트 전극(14)과 게이트 배선(12)과 게이트 패드 전극(13)은 일반적으로 이중 금속층으로 형성한다.In the above configuration, the
보통 상기 게이트 전극(14)과 게이트 배선(12)등을 이중 금속층으로 형성하는 경우는 알루미늄(Al)을 사용하는 경우이다. 즉, 제 1 층을 알루미늄 층으로 하 고 제 2 층을 몰리브덴(Mo)또는 크롬(Cr)을 사용하여 형성한다.Usually, when the
다음으로, 상기 게이트배선(12)과 공통 배선(16) 등이 포함된 기판(10)의 전면에 질화 실리콘(SiNx)으로 게이트 절연막(18)을 형성한다.Next, the
다음으로, 상기 게이트 절연막(18) 상부에 비정질 실리콘(a-Si:H)과 불순물이 포함된 비정질 실리콘(n+a-Si:H)을 증착하고 제 2 마스크 공정으로 동시에 패턴하여, 상기 게이트 전극(14) 상부의 액티브 영역(A)에 제 1 패턴(20)과, 상기 공통 배선(16)상부에 제 2 패턴(21)과, 데이터 패드 영역(D)에 제 3 패턴(22)을 형성한다.Next, an amorphous silicon (a-Si: H) and an amorphous silicon (n + a-Si: H) including impurities are deposited on the
상기 제 2 패턴(21)과 제 3 패턴(22)은 상부 금속층의 접촉특성을 개선하기 위한 목적으로 형성한다. The
상기 액티브 영역(A)에 패턴된 제 1 패턴(20)의 순수 비정질 실리콘층을 액티브층(20a)이라 하고, 불순물 비정질 실리콘층을 오믹 콘택층(20b)이라 한다.The pure amorphous silicon layer of the
도 2b에 도시한 바와 같이, 상기 제 1, 제 2, 제 3 패턴(20,21,22)의 반도체층이 형성된 기판(10)의 전면에 크롬(Cr) 또는 몰리브덴(Mo)중 선택된 하나를 증착하고 제 3 마스크 공정으로 패턴하여, 상기 게이트배선(12)과 공통 배선(16)과 교차하여 화소영역을 정의하는 데이터배선(24)과, 상기 데이터배선(24)에서 돌출 형성되고 상기 오믹 콘택층(20b)과 접촉하는 소스 전극(26)과 이와는 소정간격 이격된 드레인 전극(28)과, 상기 드레인 전극(28)에서 화소영역(도 1의 P)으로 일 방향으로 연장된 연장부(도 1의 30a)와, 상기 연장부에서 수직하게 연장된 다수의 수직 부(30b)와, 상기 다수의 수직부(30b)를 하나로 연결하는 수평부(30c)로 구성되는 화소전극(30)을 형성한다.As shown in FIG. 2B, one selected from chromium (Cr) or molybdenum (Mo) is formed on the entire surface of the
동시에, 상기 데이터 배선(24)의 일 끝단에는 데이터 패드 전극(25)을 형성한다. At the same time, the
도 2c에 도시한 바와 같이, 상기 소스 및 드레인전극(26,28)등이 형성된 기판(10)의 전면에 질화 실리콘(SiNx)을 증착하여 보호막(32)을 형성한다.As shown in FIG. 2C, a
상기 보호막(32)을 제 4 마스크공정으로 패턴하여, 상기 게이트 패드전극(13)의 일부를 노출하는 게이트 패드 콘택홀(33)과, 상기 데이터 패드 전극(25)의 일부를 노출하는 데이터 패드 콘택홀(35)을 형성한다.The
다음으로 도 2d에 도시한 바와 같이, 상기 보호막(32)의 상부에 인듐-틴-옥사이드(ITO)의 투명 도전성 금속 그룹 중 선택된 하나를 증착하고 제 5 마스크공정으로 패턴하여, 상기 게이트 패드 전극(13)과 접촉하는 게이트 패드 단자 전극(39)과, 상기 데이터 패드 전극(25)과 접촉하는 데이터 패드 단자전극(41)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 2D, one selected from the group of transparent conductive metals of indium tin oxide (ITO) is deposited on the
전술한 바와 같은 공정으로 종래에 따른 액정표시장치용 어레이기판을 제작할 수 있다.
According to the above-described process, a conventional array substrate for a liquid crystal display device can be manufactured.
그러나, 전술한 바와 같은 공정으로 제작된 어레이기판은 소스 및 드레인 전극과 데이터 배선을 알루미늄과 같은 저 저항 배선으로 형성하지 않았기 때문에 대 면적 고정세(高精細) 액정패널로 제작하기에는 부적합하다.However, the array substrate manufactured by the above-described process is not suitable for manufacturing a large area high definition liquid crystal panel because the source and drain electrodes and the data wiring are not formed of low resistance wiring such as aluminum.
따라서, 본 발명은 전술한 문제를 해결하기 위한 목적으로 안출된 것으로, 소스 및 드레인 전극과 데이터 배선을 저 저항배선인 알루미늄을 포함한 삼중 금속층으로 형성한다.
Accordingly, the present invention has been made for the purpose of solving the above-described problem, and the source and drain electrodes and the data wiring are formed of a triple metal layer including aluminum which is a low resistance wiring.
전술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 횡전계 방식 액정표시장치용 어레이기판은, 기판과; 기판 상의 게이트 패드전극을 포함하는 다수의 게이트 배선과; 상기 다수의 게이트 배선의 각각과 이격된 다수의 공통 배선과; 상기 다수의 게이트 배선과 교차하여 다수의 화소영역을 정의하고, 데이터 패드 전극을 포함하며, 배리어금속층과, 이의 상부에 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 이루어진 제 1 금속층과, 상기 제 1 금속층 상부에 위치하는 제 2 금속층으로 이루어진 다수의 데이터 배선과; 상기 다수의 공통배선과 연결되어 상기 다수의 화소영역으로 연장되는 다수의 공통전극과; 상기 다수의 게이트 배선과 상기 다수의 데이터 배선의 교차지점에 구성되고, 게이트 전극과 액티브층과 상기 배리어금속층과 상기 제 1 및 제 2 금속층의 소스전극과 드레인 전극을 포함하는 다수의 박막트랜지스터와; 상기 다수의 공통전극의 각각과 평행하게 엇갈려 구성되며, 알루미늄 또는 알루미늄 합금층을 포함하는 이중 금속층의 다수의 화소전극을 포함하며, 상기 제 1 및 제 2 금속층은 동일한 형상을 가지며, 상기 제 1 금속층은 상기 배리어금속층의 3면을 감싸는 형상인 것을 특징으로 하는 횡전계 방식 액정표시장치용 어레이기판을 제공한다.
상기 다수의 화소전극의 각각의 수평부의 하부에는 아일랜드 형상의 금속패턴이 더욱 구성되며, 상기 배리어금속층은 크롬(Cr), 몰리브덴(Mo), 텅스텐(W), 탄탈륨(Ta), 티타늄(Ti)중 선택된 하나로 구성하며, 상기 제 2 금속층은 몰리브덴층이다.
또한, 상기 삼중 금속층인 상기 소스전극과 상기 드레인 전극은 크롬(Cr), 몰리브덴(Mo), 텅스텐(W), 탄탈륨(Ta), 티타늄(Ti)중 선택된 하나로 구성한 제 1 금속층과, 알루미늄 또는 알루미늄 합금층인 제 2 금속층과 몰리브덴층인 제 3 금속층으로 구성되며, 상기 다수의 화소전극의 몰리브덴(Mo)층을 포함한다.
그리고, 상기 다수의 공통 배선의 각각의 일부를 제 1 전극으로 하고 상기 다수의 화소전극의 각각의 수평부를 제 2 전극으로 하는 제 1 보조 용량부와, 상기 다수의 화소전극의 각각과 접촉하는 투명 전극패턴을 제 2 전극으로 하고 상기 게이트 배선을 제 1 전극으로 하는 제 2 보조 용량부가 구성되며, 상기 게이트 패드 전극과 접촉하는 투명 게이트패드 전극단자와, 상기 데이터 패드전극과 접촉하는 투명 데이터패드 전극단자가 더욱 구성된다.
이때, 상기 소스전극은 "U"형상으로 구성하고, 상기 드레인 전극은 상기 소스전극의 안쪽으로 이격하여 구성된다.
본 발명에 따른 횡전계 방식 액정표시장치용 어레이기판 제조방법은, 기판 상에 게이트 배선과, 상기 게이트 배선과 연결되는 게이트 패드전극을 형성하는 단계와; 상기 게이트 배선과 이격되는 공통 배선을 형성하는 단계와; 상기 게이트 배선과 교차하여 화소영역을 정의하고, 데이터 패드 전극과 연결되고 배리어금속층과, 이의 상부에 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 이루어진 제 1 금속층과, 상기 제 1 금속층 상부에 위치하는 제 2 금속층으로 이루어진 데이터 배선을 형성하는 단계와; 상기 공통 배선에서 상기 화소 영역으로 연장된 공통전극을 형성하는 단계와; 상기 공통전극과 평행하게 이격되고, 알루미늄 또는 알루미늄 합금층을 포함하는 이중 금속층의 화소전극을 형성하는 단계를 포함하며, 상기 제 1 및 제 2 금속층은 동일한 형상을 가지며, 상기 제 1 금속층은 상기 배리어금속층의 3면을 감싸는 것을 특징으로 하는 횡전계 방식 액정표시장치용 어레이기판 제조방법을 제공한다.
이때, 상기 화소전극의 수평부의 하부에는 아일랜드 형상의 금속패턴이 형성되며, 상기 배리어금속층은 크롬(Cr), 몰리브덴(Mo), 텅스텐(W), 탄탈륨(Ta), 티타늄(Ti)중 선택된 하나로 구성하며, 상기 제 2 금속층은 몰리브덴층이다.
또한, 상기 다수의 화소전극은 몰리브덴(Mo)층을 포함하며, 상기 공통 배선의 일부를 제 1 전극으로 하고 상기 화소전극의 수평부를 제 2 전극으로 하는 제 1 보조 용량부와, 상기 화소전극과 접촉하는 투명 전극패턴을 제 2 전극으로 하고 상기 게이트 배선을 제 1 전극으로 하는 제 2 보조 용량부가 형성된다.
그리고, 상기 게이트 패드 전극과 접촉하는 투명 게이트패드 전극단자와, 상기 데이터 패드전극과 접촉하는 투명 데이터패드 전극단자가 더욱 형성된다.
또한, 본 발명은 기판 상에 다수의 화소영역과, 다수의 스위칭 영역을 정의하는 단계와; 상기 기판 상에 서로 평행하게 이격된 다수의 게이트 배선과 다수의 공통 배선과, 상기 다수의 게이트 배선의 각각과 연결되는 게이트 패드전극과, 상기 다수의 공통 배선에서 상기 다수의 화소영역으로 연장된 다수의 공통전극을 형성하는 단계와; 상기 다수의 게이트배선과 상기 다수의 공통 배선이 형성된 상기 기판의 상에 제 1 절연막을 형성하는 단계와; 상기 제 1 절연막의 상부에 순수 비정질 실리콘층과 불순물 비정질 실리콘층과 제 1 금속층을 형성하는 단계와; 상기 제 1 금속층을 식각하여 상기 다수의 스위칭 영역을 포함하여 상기 다수의 화소영역의 일측으로 연장된 제 1 패턴과, 상기 다수의 화소영역의 일부에 제 2 패턴을 형성하는 단계와; 상기 제 1 패턴과 상기 제 2 패턴 사이로 노출된 상기 비정질 실리콘층과 상기 불순물 비정질 실리콘층을 식각하여, 상기 다수의 스위칭 영역에 액티브층과 오믹콘택층을 형성하는 단계와; 상기 제 1 패턴과 상기 제 2 패턴이 형성된 상기 기판 상에 알루미늄(Al) 또는 알루미늄합금의 제 2 금속층을 형성하는 단계와; 상기 제 2 금속층 상부에 제 3 금속층을 형성하는 단계와; 상기 제 2 금속층과 상기 제 3 금속층을 식각하여, 상기 제 1 패턴의 상부의 일 끝단에 데이터 패드전극을 포함하는 다수의 데이터 배선과, 상기 다수의 스위칭 영역과 이격된 소스전극과 드레인 전극과, 상기 다수의 공통전극과 평행하게 이격된 다수의 화소전극을 형성하는 단계와; 상기 다수의 데이터 배선과 상기 소스전극 및 상기 드레인전극과 상기 다수의 화소전극이 형성된 상기 기판 상에 제 3 절연막을 형성하는 단계와; 상기 게이트 패드전극과 상기 데이터 패드 단자와 상기 화소전극의 수평부와 접촉하는 투명 전극패턴을 형성하는 단계를 포함하는 횡전계 방식 액정표시장치용 어레이기판 제조방법을 제공한다.
상기 제 1 금속층은 크롬(Cr), 몰리브덴(Mo), 텅스텐(W), 탄탈륨(Ta), 티타늄(Ti)중 선택된 하나로 형성하며, 상기 제 3 금속층은 몰리브덴(Mo)층이다.
또한, 상기 투명전극 패턴은 인듐-틴-옥사이드(ITO)와 인듐-징크-옥사이드(IZO)를 포함한 투명도전성 금속그룹 중 선택된 하나로 형성한다.An array substrate for a transverse electric field type liquid crystal display device according to the present invention for achieving the above object is a substrate; A plurality of gate wirings including gate pad electrodes on the substrate; A plurality of common lines spaced apart from each of the plurality of gate lines; A plurality of pixel regions defining a plurality of pixel regions intersecting the plurality of gate wirings, including a data pad electrode, a barrier metal layer, a first metal layer made of aluminum or an aluminum alloy thereon, and a first metal layer positioned above the first metal layer. A plurality of data lines formed of two metal layers; A plurality of common electrodes connected to the plurality of common wires and extending to the plurality of pixel areas; A plurality of thin film transistors formed at intersections of the plurality of gate lines and the plurality of data lines, the plurality of thin film transistors including a gate electrode, an active layer, source and drain electrodes of the barrier metal layer, and the first and second metal layers; Comprising parallel to each of the plurality of common electrodes, comprising a plurality of pixel electrodes of a double metal layer including an aluminum or aluminum alloy layer, wherein the first and second metal layer has the same shape, the first metal layer The array substrate for a transverse electric field type liquid crystal display device is characterized in that the shape surrounding the three sides of the barrier metal layer.
An island-shaped metal pattern is further formed below each horizontal portion of the plurality of pixel electrodes, and the barrier metal layer includes chromium (Cr), molybdenum (Mo), tungsten (W), tantalum (Ta), and titanium (Ti). The second metal layer is a molybdenum layer.
In addition, the source electrode and the drain electrode as the triple metal layer may include a first metal layer including one selected from chromium (Cr), molybdenum (Mo), tungsten (W), tantalum (Ta), and titanium (Ti), and aluminum or aluminum. A second metal layer, which is an alloy layer, and a third metal layer, which is a molybdenum layer, include a molybdenum (Mo) layer of the plurality of pixel electrodes.
And a first storage capacitor portion having a portion of each of the plurality of common wirings as a first electrode and a horizontal portion of each of the plurality of pixel electrodes as a second electrode, and a transparent contact with each of the plurality of pixel electrodes. A second storage capacitor portion having an electrode pattern as a second electrode and the gate wiring as a first electrode is configured, and a transparent gate pad electrode terminal in contact with the gate pad electrode and a transparent data pad electrode in contact with the data pad electrode. The terminal is further configured.
In this case, the source electrode is configured in a "U" shape, and the drain electrode is configured to be spaced inwardly of the source electrode.
According to an aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing an array substrate for a transverse electric field type liquid crystal display device, comprising: forming a gate wiring and a gate pad electrode connected to the gate wiring on a substrate; Forming a common wiring spaced apart from the gate wiring; A pixel region is defined to intersect the gate wiring, and is connected to a data pad electrode, and includes a barrier metal layer, a first metal layer made of aluminum or an aluminum alloy thereon, and a second metal layer positioned above the first metal layer. Forming a wiring; Forming a common electrode extending from the common wiring to the pixel region; Forming a pixel electrode of a double metal layer spaced parallel to the common electrode and including an aluminum or aluminum alloy layer, wherein the first and second metal layers have the same shape, and the first metal layer has the barrier. The present invention provides a method for manufacturing an array substrate for a transverse electric field type liquid crystal display device, which comprises three surfaces of a metal layer.
In this case, an island-shaped metal pattern is formed below the horizontal portion of the pixel electrode, and the barrier metal layer is selected from chromium (Cr), molybdenum (Mo), tungsten (W), tantalum (Ta), and titanium (Ti). And the second metal layer is a molybdenum layer.
The plurality of pixel electrodes may include a molybdenum (Mo) layer, a first auxiliary capacitor portion including a part of the common wiring as a first electrode and a horizontal portion of the pixel electrode as a second electrode, and the pixel electrode; A second auxiliary capacitor portion having a transparent electrode pattern in contact as a second electrode and the gate wiring as a first electrode is formed.
A transparent gate pad electrode terminal in contact with the gate pad electrode and a transparent data pad electrode terminal in contact with the data pad electrode are further formed.
The present invention also provides a method comprising: defining a plurality of pixel regions and a plurality of switching regions on a substrate; A plurality of gate lines and a plurality of common lines spaced apart from each other on the substrate in parallel with each other; a gate pad electrode connected to each of the plurality of gate lines; and a plurality of gate lines extending from the plurality of common lines to the plurality of pixel regions. Forming a common electrode of; Forming a first insulating film on the substrate on which the plurality of gate wirings and the plurality of common wirings are formed; Forming a pure amorphous silicon layer, an impurity amorphous silicon layer, and a first metal layer on the first insulating film; Etching the first metal layer to form a first pattern including the plurality of switching regions and extending to one side of the plurality of pixel regions, and a second pattern in a portion of the plurality of pixel regions; Etching the amorphous silicon layer and the impurity amorphous silicon layer exposed between the first pattern and the second pattern to form an active layer and an ohmic contact layer in the plurality of switching regions; Forming a second metal layer of aluminum (Al) or an aluminum alloy on the substrate on which the first pattern and the second pattern are formed; Forming a third metal layer on the second metal layer; A plurality of data wires including a data pad electrode at one end of the upper part of the first pattern by etching the second metal layer and the third metal layer, source and drain electrodes spaced apart from the plurality of switching regions; Forming a plurality of pixel electrodes spaced in parallel with the plurality of common electrodes; Forming a third insulating film on the substrate on which the plurality of data lines, the source electrode, the drain electrode, and the plurality of pixel electrodes are formed; A method of manufacturing an array substrate for a transverse electric field type liquid crystal display device includes forming a transparent electrode pattern in contact with the gate pad electrode, the data pad terminal, and a horizontal portion of the pixel electrode.
The first metal layer is formed of chromium (Cr), molybdenum (Mo), tungsten (W), tantalum (Ta), or titanium (Ti), and the third metal layer is a molybdenum (Mo) layer.
The transparent electrode pattern may be formed of one selected from a group of transparent conductive metals including indium tin oxide (ITO) and indium zinc oxide (IZO).
삭제delete
삭제delete
삭제delete
삭제delete
삭제delete
삭제delete
삭제delete
삭제delete
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 설명한다.
Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
-- 실시예 --Example
본 발명의 실시예의 특징은 소스 및 드레인 전극과 데이터 배선을 알루미늄을 포함한 다층구조로 형성하는 것을 특징으로 한다.An embodiment of the present invention is characterized in that the source and drain electrodes and the data wiring are formed in a multilayer structure including aluminum.
도 3은 본 발명에 따른 액정표시장치용 어레이기판의 한 화소를 개략적으로 도시한 평면도이다.3 is a plan view schematically showing one pixel of an array substrate for a liquid crystal display according to the present invention.
도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 횡전계 방식 액정표시장치용 어레이기판(100)은 서로 이격하여 평행하게 일 방향으로 형성한 게이트배선(112)과 공통 배선(116)과, 상기 두 배선과 교차하며 특히 게이트배선(112)과는 화소영역(P)을 정의하는 데이터배선(140)을 구성한다.As shown, the
상기 게이트 배선(112)의 일 끝단에는 게이트 패드전극(113)을 구성하고, 상기 데이터 배선(140)의 일 끝단에는 데이터 패드전극(145)을 구성한다.A
상기 게이트배선(112)과 데이터배선(140)의 교차지점에는, 상기 게이트 배선(112)에서 연장된 게이트 전극(114)과, 상기 게이트 전극(114)의 상부에 구성된 액티브층(131)과 소스 전극(144)및 드레인 전극(146)을 포함하는 박막트랜지스터(T)가 구성되며, 상기 소스 전극(144)은 상기 데이터배선(140)과 연결된다.At the intersection of the
상기 화소영역(P)에는 상기 드레인 전극(146)과 연결되는 화소전극(142)과, 상기 화소전극(142)과 평행하게 구성되고 상기 공통 배선(116)과 연결되는 공통전극(117)을 구성한다.The pixel region P includes a
상기 화소전극(142)은 상기 드레인 전극(146)에서 연장된 연장부(142a)와 상기 연장부(142a)에서 수직하게 연장되고 서로 소정간격 이격된 다수의 수직부(142b)와, 상기 공통 배선(116)의 상부에서 상기 수직부(142b)를 하나로 연결하는 수평부(142c)로 구성된다.The
상기 공통전극(117)은 상기 공통 배선(116)에서 화소영역(P)으로 수직하게 연장되고, 상기 화소전극의 수직부(142b)와 엇갈려 구성되는 다수의 수직부(117b)와, 상기 각 수직부(117b)를 하나로 연결하는 수평부(117a)로 구성된다. The common electrode 117 vertically extends from the
또한, 상기 화소영역(P)과 회로적으로 병렬로 연결된 보조 용량부(C1, C2)가 구성되며, 상기 보조 용량부 중 제 1 보조 용량부(C1)는 상기 화소영역(P)을 정의하는 공통 배선(116)의 일부를 제 1 스토리지 전극으로 하고, 상기 제 1 스토리지 전극의 상부에 게이트 절연막(미도시)을 사이에 두고 위치한 화소전극의 수평부(142c)를 제 2 스토리지 전극으로 하며, 제 2 보조 용량부(C2)는 상기 화소전극의 수평부(142c)와 접촉하는 투명 전극패턴(160)을 제 1 스토리지 전극으로 하 고, 상기 투명전극 패턴(160)이 연장된 하부의 게이트 배선(112)의 일부를 제 2 스토리지 전극으로 한다.In addition, the storage capacitors C1 and C2 connected in parallel with the pixel region P are configured, and the first storage capacitor C1 of the storage capacitors defines the pixel region P. A part of the
전술한 구성에서, 상기 게이트 패드 전극(113)은 투명한 게이트 패드 전극단자(156)와 접촉하여 구성하고, 상기 데이터 패드 전극(145)은 투명한 데이터 패드 전극단자(158)와 접촉하여 구성한다.In the above-described configuration, the
전술한 구성에서, 상기 소스 및 드레인 전극(144,146)과 데이터 배선(140) 및 데이터 패드전극(145)은 신호저항을 낮추기 위해 알루미늄(Al) 또는 알루미늄 합금(AlNd)으로 구성한다.In the above-described configuration, the source and drain
그러나, 상기 알루미늄층은 비정질 실리콘층과 직접 접촉하게 되면 상호 확산 현상에 의해 누설전류가 발생하며, 투명전극패턴(156,158,160)과 접촉시 콘택저항이 높은 문제가 있다.However, when the aluminum layer is in direct contact with the amorphous silicon layer, a leakage current is generated by the interdiffusion phenomenon, and the contact resistance is high when the aluminum layer is in contact with the
이를 해결하기 위해, 데이터 배선(140)은 제 1 금속층인 배리어층과 제 2 금속층인 알루미늄(Al) 또는 알루미늄 합금층과 제 3 금속층인 몰리브덴(Mo)층으로 구성하였다.In order to solve this problem, the
소스 및 드레인 전극(144,146)은 제 1 금속층인 배리어 금속층과 제 2 금속층인 알루미늄(Al)층과 제 3 금속층인 몰리브덴(Mo)층으로 구성하였다.The source and drain
따라서, 상기 알루미늄(Al)층이 반도체층과 투명전극 패턴(160)과 접촉하는 것을 피할 수 있다.Therefore, the aluminum (Al) layer can be avoided in contact with the semiconductor layer and the
이하, 도 4a 내지 4d를 참조하여, 본 발명에 따른 액정표시장치용 어레이기판의 제조공정을 설명한다.Hereinafter, a manufacturing process of an array substrate for a liquid crystal display device according to the present invention will be described with reference to FIGS. 4A to 4D.
도 4a 내지 도 4d는 도 3의 Ⅵ-Ⅵ`,Ⅶ-Ⅶ`,Ⅷ-Ⅷ`,Ⅸ-Ⅸ`를 따라 절단하여, 본 발명의 공정 순서에 따라 도시한 공정 단면도이다.4A to 4D are cross-sectional views taken along the line VI-VI ′, VIII-VIII, VIII-VIII, VIII-VIII, and according to the process sequence of the present invention.
도 4a에 도시한 바와 같이, 기판(100)상에 알루미늄을 포함한 이중 금속층을증착하고 제 1 마스크 공정으로 패턴하여, 게이트 전극(114)을 포함하는 게이트배선(112)과, 상기 게이트배선(112)과 소정간격 평행하게 이격된 공통 배선(116)과, 상기 공통 배선(116)에서 수직으로 돌출된 다수의 수직부(117b)와, 상기 다수의 수직부(117b)를 하나로 연결하는 수평부(도 3의 117a)로 구성된 공통전극(117)을 형성한다.As shown in FIG. 4A, a double metal layer including aluminum is deposited on the
다음으로, 상기 게이트배선(112)과 공통 배선(116)등이 포함된 기판(100)의 전면에 질화 실리콘(SiNx)과 산화 실리콘(SiO2)을 포함한 무기절연물질 그룹 중 선택된 하나로 게이트 절연막(118)을 형성한다.Next, the gate insulating layer is selected from a group of inorganic insulating materials including silicon nitride (SiN x ) and silicon oxide (SiO 2 ) on the entire surface of the
다음으로, 상기 게이트 절연막(118) 상부에 비정질 실리콘(a-Si:H)과 불순물이 포함된 비정질 실리콘(n+a-Si:H)을 증착하여, 제 1 실리콘층(119a)과 제 2 실리콘층(119b)을 형성한다.Next, amorphous silicon (a-Si: H) and amorphous silicon (n + a-Si: H) including impurities are deposited on the
연속하여, 상기 제 2 실리콘층(119b)의 상부에 크롬(Cr), 티타늄(Ti), 탄탈륨(Ta), 텅스텐(W), 몰리브덴(Mo)등을 포함하는 도전성 금속 그룹 중 선택된 하나를 증착하여 배리어층(barrier layer)인 제 1 금속층(120)을 형성한다.Successively, one selected from the group of conductive metals including chromium (Cr), titanium (Ti), tantalum (Ta), tungsten (W), molybdenum (Mo), etc. is deposited on the
다음으로, 도 4b에 도시한 바와 같이, 제 2 마스크 공정으로 상기 제 1 금속층(120)을 식각하여, TFT 영역(T)과 데이터배선 및 데이터패드 영역(D1,D2)에 제 1 패턴(122)과, 상기 스토리지 영역(C)에 아일랜드 형상의 제 2 패턴(124)을 형성한 다.Next, as shown in FIG. 4B, the
연속하여, 상기 제 1 패턴(122)과 제 2 패턴(124)을 식각 방지막으로 하여, 노출된 제 1 실리콘층(119a)과 제 2 실리콘층(119b)을 식각한다.Subsequently, the exposed
결과적으로, 도 4c에 도시한 바와 같이, 상기 TFT영역(T)에는 상기 제 1 패턴(122)의 하부에는 액티브층(131)과 오믹 콘택층(132)이 형성되고, 상기 데이터 배선 및 데이터 패드 영역(D1)에는 일 방향으로 연장된 제 1 반도체 패턴(134)과, 상기 제 2 패턴(124)의 하부에는 아일랜드 형상의 제 2 반도체 패턴(136)이 형성된다.As a result, as shown in FIG. 4C, an
상기 각 반도체 패턴(134,136)은 상부 금속층인 제 1, 2 패턴(122,124)의 증착특성을 개선하는 역할을 한다.Each of the
다음으로, 도 4d에 도시한 바와 같이, 상기 제 1 금속층(도 4a의 120)을 패턴한 제 1 패턴(122)과 제 2 패턴(124)이 형성된 기판(200)의 전면에 알루미늄(Al)과 몰리브덴(Mo)을 연속 증착하여, 제 2 금속층(137)과 제 3 금속층(138)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 4D, aluminum (Al) is formed on the entire surface of the substrate 200 on which the
다음으로, 도 4e에 도시한 바와 같이, 상기 제 2 금속층(137)과 제 3 금속층(138)을 제 3 마스크 공정으로 패턴하여, 상기 데이터 배선 및 데이터 패드 영역(D1,D2)에 이중 층의 데이터 배선(140)과 이에 연장된 데이터 패드전극(145)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 4E, the
동시에, 상기 데이터 배선(140)에서 상기 TFT영역(T)으로 소정면적 연장된 소스전극(144)과 이와는 소정간격 이격된 드레인 전극(146)을 형성하고, 상기 드레 인 전극(146)에서 상기 화소영역(P)으로 연장된 연장부(도 3의 142a)와 연장부(142a)에서 수직하게 연장된 다수의 수직부(142b)와, 상기 다수의 수직부(142b)를 하나로 연결하고 상기 공통 배선(116)의 상부에 형성된 수평부(142c)로 구성되는 화소전극을 형성한다.At the same time, a
연속하여, 상기 소스 전극(144)과 드레인 전극(146)을 식각 방지막으로 하여, 두 전극(144,146)의 이격된 사이로 노출된 제 1 금속층의 제 1 패턴(122)과 그 하부의 오믹 콘택층(132)을 식각하여 액티브층(131)을 노출하는 공정을 진행한다.Subsequently, using the
전술한 바와 같은 공정으로, 소스 및 드레인 전극(144,146)과 데이터 배선(140)은 배리어 층인 제 1 패턴(122)과 알루미늄층(Al)과 몰리브덴(Mo)층을 포함하는 삼증 금속층으로 구성되며, 상기 화소전극(142b,c)은 알루미늄(Al)층과 몰리브덴(Mo)층의 이중 금속층으로 구성되는 결과가 된다.In the above-described process, the source and drain
따라서, 전술한 공정을 통해 제작된 본 발명의 제 1 특징은 상기 소스 전극(144)과 드레인 전극(146)을 배리어층(barrier layer)인 제 1 패턴(122)을 통해 오믹 콘택층(1332)과 간접적으로 접촉하도록 하는 것이다.Accordingly, the first feature of the present invention manufactured through the above-described process is that the ohmic contact layer 1332 is formed between the
이와 같은 구성은 앞서 설명한 바와 같이, 상기 소스 및 드레인 전극(144,146)의 제 1 층인 알루미늄(Al)층과 오믹 콘택층(132)이 직접 접촉하는 것을 방지할 수 있기 때문에 알루미늄(Al)층과 오믹 콘택층(132) 사이에 발생하는 상호확산(inter-diffusion)현상에 의해 홀이 주입되어 누설전류(off current : Ioff)가 증가하는 것을 방지 할 수 있다.
As described above, since the aluminum (Al) layer, which is the first layer of the source and drain
따라서, 액정패널에서 발생하는 잔상 또는 플리커(flicker)를 방지할 수 있다.Therefore, afterimage or flicker occurring in the liquid crystal panel can be prevented.
또한, 본 발명의 제 2 특징은 상기 데이터 배선(140)과 데이터 패드전극(145)을 배리어 금속층/알루미늄층/몰리브덴의 3층 구조로 구성하는 것이다. The second feature of the present invention is to configure the
전술한 구성은 알루미늄층을 포함하고 있기 때문에 배선의 저항을 낮출 수 있으므로 대면적 고정세(高精細) 액정패널에 적합하다.Since the structure mentioned above contains an aluminum layer, wiring resistance can be reduced and it is suitable for a large area high definition liquid crystal panel.
이때, 알루미늄(Al)층의 상부에 몰리브덴(Mo)층을 형성한 이유는, 공정 중 상기 알루미늄 층이 공기중에 노출되는 것을 피하기 위해서이다.At this time, the reason why the molybdenum (Mo) layer is formed on the aluminum (Al) layer is to avoid exposure of the aluminum layer in the air during the process.
이에 대해서는 이후에 설명하기로 한다.This will be described later.
도 4e의 공정에 연속하여 도 4f에 도시한 바와 같이, 상기 데이터배선(144,146)등이 형성된 기판(100)의 전면에 벤조사이클로부텐(BCB)과 아크릴(acryl)계 수지(resin)를 포함한 투명 유기절연물질 그룹 중 선택된 하나를 도포하여 보호막(148)을 형성한다.As shown in FIG. 4F, the benzocyclobutene (BCB) and the acrylic resin (resin) including the benzocyclobutene (BCB) are formed on the entire surface of the
상기 보호막(148)을 질화 실리콘(SiNX)과 산화 실리콘(SiOX)을 포함하는 무기절연물질 그룹 중 선택된 하나를 증착하여 형성할 수도 있다.The
연속하여 상기 게이트 패드전극(113)상부의 게이트 절연막(118)과 보호막(148)을 식각하여, 상기 게이트 패드전극(113)의 일부를 노출하는 게이트패드 콘택홀(150)과, 상기 데이터 패드전극(145)의 일부와 상기 화소전극 수평부(142c)의 일부를 각각 노출하는 데이터 패드 콘택홀(152)과 스토리지 콘택홀(154)을 형성한다.The
연속하여, 상기 보호막(148)이 형성된 기판(100)의 전면에 인듐-틴-옥사이드(ITO)와 인듐-징크-옥사이드(IZO)를 포함한 투명 도전성 금속물질 그룹 중 선택된 하나를 증착하여, 상기 게이트패드 전극(113)과 접촉하는 게이트패드 전극단자(156)와, 상기 데이터패드 전극단자(145)과 접촉하는 데이터패드 전극단자(158)와, 상기 화소전극의 수평부(140c)와 접촉하는 동시에 근접한 게이트 배선(112)의 상부로 연장된 아일랜드 형상의 투명 전극패턴(160)을 형성한다.Successively, the gate is formed by depositing one selected from the group of transparent conductive metal materials including indium tin oxide (ITO) and indium zinc oxide (IZO) on the entire surface of the
전술한 구성 중, 상기 공통 배선(116)을 제 1 전극으로 하고 화소전극의 수평부를 제 2 전극(142c)으로 하는 제 1 보조 용량부(C1)와, 상기 게이트 배선(112)을 제 1 전극으로 하고 상기 투명전극 패턴(160)을 제 2 전극으로 하는 제 2 보조 용량부(C2)가 구성된다.In the above-described configuration, the first storage capacitor C1 having the
전술한 공정에서, 상기 게이트 패드 단자전극(156)와 데이터 패드 단자전극(158)은 알루미늄층과 접촉하지 않고 몰리브덴층과 접촉하는 구성이므로, 알루미늄과 투명전극이 접촉하여 발생하는 문제를 방지할 수 있다.In the above-described process, since the gate
상세히 설명하면, 알루미늄(Al)은 저항이 낮아 신호배선으로서 장점이 있으나, 대기중에 노출될 경우 표면에 산화막(Al2O3)이 형성된다. In detail, aluminum (Al) has a low resistance and has advantages as signal wiring, but when exposed to air, an oxide film (Al 2 O 3 ) is formed on the surface.
상기 산화막이 형성된 알루미늄층과 투명전극이 접촉하였을 경우, 콘택저항이 매우 높기 때문에 기판이 제대로 구동하지 않는 문제가 발생한다. When the aluminum layer on which the oxide film is formed is in contact with the transparent electrode, a problem arises in that the substrate is not properly driven because of high contact resistance.
따라서, 쉽게 산화 되지 않는 하부 금속층과 상기 투명전극을 직접 콘택하는 구조로 어레이기판을 제작하는 것이다.Therefore, the array substrate is manufactured in a structure in which the lower metal layer which is not easily oxidized and the transparent electrode directly contact each other.
전술한 바와 같은 공정을 통해 본 발명에 따른 횡전계방식 액정표시장치용 어레이기판을 제작할 수 있다.
Through the above-described process, it is possible to manufacture an array substrate for a transverse electric field type liquid crystal display device according to the present invention.
따라서, 본 발명에 따른 횡전계 방식 액정표시장치용 어레이기판은 소스전극 및 드레인전극과 데이터배선을 저 저항 금속(알루미늄층)으로 형성할 수 있기 때문에 대면적 고정세 액정패널을 제작할 수 있는 효과가 있다.
Accordingly, the array substrate for a transverse electric field type liquid crystal display device according to the present invention can form a large area high definition liquid crystal panel because the source electrode, the drain electrode, and the data wiring can be formed of a low resistance metal (aluminum layer). have.
Claims (20)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020020015137A KR100863727B1 (en) | 2002-03-20 | 2002-03-20 | An array substrate for In-Plane switching mode LCD and the method for fabricating the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020020015137A KR100863727B1 (en) | 2002-03-20 | 2002-03-20 | An array substrate for In-Plane switching mode LCD and the method for fabricating the same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20030075770A KR20030075770A (en) | 2003-09-26 |
KR100863727B1 true KR100863727B1 (en) | 2008-10-16 |
Family
ID=32225553
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020020015137A KR100863727B1 (en) | 2002-03-20 | 2002-03-20 | An array substrate for In-Plane switching mode LCD and the method for fabricating the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100863727B1 (en) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100560399B1 (en) * | 2003-11-04 | 2006-03-14 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | Thin film transistor substrate of horizontal electronic field applying type and fabricating method thereof |
KR101035927B1 (en) * | 2004-06-24 | 2011-05-23 | 엘지디스플레이 주식회사 | Method For Fabricating Liquid Crystal Display Device of In Plane Switching Mode |
KR101295062B1 (en) * | 2006-06-30 | 2013-08-08 | 엘지디스플레이 주식회사 | Method for fabricating in-plane switching mode liquid crystal display device |
KR101232062B1 (en) * | 2007-01-12 | 2013-02-12 | 삼성디스플레이 주식회사 | Display substrate and method of manufacturing the same |
WO2011105210A1 (en) * | 2010-02-26 | 2011-09-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Liquid crystal display device |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19990026588A (en) * | 1997-09-25 | 1999-04-15 | 윤종용 | Liquid crystal display using molybdenum or molybdenum alloy and its manufacturing method |
KR19990085237A (en) * | 1998-05-15 | 1999-12-06 | 윤종용 | Flat Drive Liquid Crystal Display |
KR20010046039A (en) * | 1999-11-10 | 2001-06-05 | 박종섭 | method of manufacturing thin film transistor liquid crystal display device |
KR20020002591A (en) * | 2000-06-30 | 2002-01-10 | 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 | Method of manufacture in tft-lcd |
KR20020002655A (en) * | 2000-06-30 | 2002-01-10 | 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 | Method of manufacturing tft-lcd |
-
2002
- 2002-03-20 KR KR1020020015137A patent/KR100863727B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19990026588A (en) * | 1997-09-25 | 1999-04-15 | 윤종용 | Liquid crystal display using molybdenum or molybdenum alloy and its manufacturing method |
KR19990085237A (en) * | 1998-05-15 | 1999-12-06 | 윤종용 | Flat Drive Liquid Crystal Display |
KR20010046039A (en) * | 1999-11-10 | 2001-06-05 | 박종섭 | method of manufacturing thin film transistor liquid crystal display device |
KR20020002591A (en) * | 2000-06-30 | 2002-01-10 | 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 | Method of manufacture in tft-lcd |
KR20020002655A (en) * | 2000-06-30 | 2002-01-10 | 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 | Method of manufacturing tft-lcd |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20030075770A (en) | 2003-09-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101269002B1 (en) | An array substrate for In-Plane switching mode LCD and method of fabricating of the same | |
US7880851B2 (en) | Array substrate for a liquid crystal display device with thin film transistor having two drain electrode patterns and manufacturing method of the same | |
US7480024B2 (en) | Method for fabricating an array substrate for IPS mode liquid crystal display device | |
KR20020034272A (en) | A method for fabricating array substrate for liquid crystal display device and the same | |
KR20030048489A (en) | In-Plane Switching Mode Liquid Crystal Display Device | |
KR100801153B1 (en) | An array substrate for In-Plane switching mode LCD and method for fabricating the same | |
KR20040050238A (en) | Array substrate for LCD and method for fabricating of the same | |
KR101234138B1 (en) | A substrate for LCD and method for fabricating of the same | |
KR20070069389A (en) | Method of fabricating of an array substrate for in-plane switching mode lcd) | |
KR100829786B1 (en) | An array substrate for In-Plane switching mode LCD and the method for fabricating the same | |
KR101197221B1 (en) | An array substrate for fringe field switching mode LCD and method of fabricating of the same | |
KR100863727B1 (en) | An array substrate for In-Plane switching mode LCD and the method for fabricating the same | |
KR20040086927A (en) | Thin film transistor array substrate of horizontal electronic field applying type and fabricating method thereof | |
KR101609826B1 (en) | Array substrate for fringe field switching mode liquid crystal display device | |
KR100844003B1 (en) | An array substrate for In-Plane switching mode LCD and method for fabricating the same | |
KR100650981B1 (en) | a method of fabricating the array substrate for TFT type liquid crystal display device | |
KR100918279B1 (en) | Array substrate for LCD and method for fabricating of the same | |
KR100475837B1 (en) | The substrate for LCD with a repair line and method for fabricating the same | |
KR100443538B1 (en) | A array substrate for Liquid crystal display and method for fabricating the same | |
KR20010038387A (en) | The array substrate of TFT type liquid crystal display device and the method of fabricating the same | |
KR101267532B1 (en) | The Liquid Crystal Display Device of a storage on common type and the method for fabricating thereof | |
KR100835973B1 (en) | An array substrate for In-Plane switching mode LCD and the method for fabricating the same | |
KR100773876B1 (en) | An array substrate for In-Plane switching mode LCD and the method for fabricating the same | |
KR101102425B1 (en) | An array substrate for fringe field switching mode LCD and method of fabricating of the same | |
KR20040026859A (en) | The substrate for LCD and method for fabricating the same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
AMND | Amendment | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
AMND | Amendment | ||
J201 | Request for trial against refusal decision | ||
E90F | Notification of reason for final refusal | ||
B701 | Decision to grant | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120928 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130930 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140918 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180917 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190917 Year of fee payment: 12 |