KR100860307B1 - Correction Device of Bad Pixel and Method thereof - Google Patents

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KR100860307B1
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    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith

Abstract

본 발명은 영상 신호의 3 라인을 동시에 인가받아 이들을 서로 비교함으로써 불량화소를 검출하고 이를 보정하는 불량화소 보정장치 및 그 방법에 관한 것이다.

본 발명에 따른 불량화소 보정장치는, 외부로부터 인가되는 영상 신호의 제1 라인을 저장하는 제1 메모리; 상기 영상 신호의 제2 라인을 저장하는 제2 메모리; 상기 제1 및 제2 메모리에 저장되어 있는 영상 신호의 제1 및 제2 라인과 상기 영상 신호의 제3 라인을 동시에 인가받아 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값과 상기 제1 내지 제3 라인에서 상기 제2 라인의 중간 화소를 제외한 주변 화소의 화소값 중 최소 또는 최대 화소값에 사전에 설정된 마진값을 감산 또는 가산 연산한 제1 또는 제2 연산값을 비교하여 불량화소를 검출하는 불량화소 검출부; 및 상기 불량화소 검출부에 의해 불량화소가 검출되면 상기 제1 또는 제2 연산값을 상기 불량화소에 대입하여 보정하는 불량화소 보정부;를 포함한다.

Figure R1020060108357

불량화소(bad pixel), 보정, 라인, 마진값, 최대, 최소

The present invention relates to a defective pixel correction device and a method for detecting and correcting defective pixels by receiving three lines of an image signal simultaneously and comparing them with each other.

In accordance with another aspect of the present invention, there is provided an apparatus for correcting a defective pixel, comprising: a first memory configured to store a first line of an image signal applied from the outside; A second memory for storing a second line of the video signal; The first and second lines of the image signal and the third line of the image signal stored in the first and second memories are simultaneously applied to the pixel values of the intermediate pixels of the second line and the first to third lines. Defective pixels to detect defective pixels by comparing a first or second operation value obtained by subtracting or adding a preset margin value to a minimum or maximum pixel value of neighboring pixels except the middle pixel of the second line Detection unit; And a defective pixel correcting unit that corrects by substituting the first or second calculation value into the defective pixel when the defective pixel is detected by the defective pixel detecting unit.

Figure R1020060108357

Bad pixel, correction, line, margin, max, min

Description

불량화소 보정장치 및 그 방법{Correction Device of Bad Pixel and Method thereof}Bad pixel correction device and its method {Correction Device of Bad Pixel and Method

도 1은 종래 기술에 의한 불량화소 보정장치를 나타낸 블럭도.1 is a block diagram showing a defective pixel correction device according to the prior art.

도 2는 종래 기술에 의한 불량화소 보정방법을 순차적으로 나타낸 순서도.2 is a flowchart sequentially showing a method for correcting a defective pixel according to the related art.

도 3은 본 발명에 따른 불량화소 보정장치를 개략적으로 나타낸 블럭도.Figure 3 is a block diagram schematically showing a defective pixel correction device according to the present invention.

도 4는 본 발명에 따른 영상 신호의 3라인을 나타낸 블럭도.4 is a block diagram showing three lines of a video signal according to the present invention;

도 5는 본 발명에 따른 불량화소 보정방법을 순차적으로 나타낸 순서도.5 is a flowchart sequentially showing a method for correcting a defective pixel according to the present invention.

< 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Major Parts of Drawings>

310 : 제1 메모리 320 : 제2 메모리310: first memory 320: second memory

330 : 불량화소 검출부 340 : 불량화소 보정부330: Defective pixel detection unit 340: Defective pixel correction unit

a~i : 영상 신호의 화소a ~ i: Pixel of video signal

본 발명은 불량화소 보정장치 및 그 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 영상 신호의 3 라인을 동시에 인가받아 이들을 서로 비교하여 불량화소를 검출하고 최소 또는 최대 주변 화소값에 마진값을 가감산한 연산값을 대입함으로써, 불량화소를 보정하는 불량화소 보정장치 및 그 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for correcting a defective pixel and a method thereof, and more particularly, to calculate defective pixels by simultaneously receiving three lines of an image signal and comparing them with each other, and adding and subtracting margin values to minimum or maximum peripheral pixel values. The present invention relates to a defective pixel correction device and a method for correcting defective pixels.

일반적으로, 이미지센서(Image sensor)란 반도체가 빛에 반응하는 성질을 이용하여 이미지를 찍어내는 장치이다. 즉, 각각의 피사체에서 나오는 각기 다른 빛의 밝기 및 파장을 화소가 감지하여 전기적인 값으로 읽어내는 장치이며, 이 전기적인 값을 신호처리가 가능한 레벨로 만들어 주는 것이 바로 이미지센서의 역할이다.In general, an image sensor is an apparatus for taking an image by using a property in which a semiconductor reacts to light. That is, the device senses the brightness and wavelength of different light emitted from each subject and reads them as an electric value. It is the role of the image sensor to make this electric value a signal processable level.

이러한 이미지센서 제품들은 반도체 기술, DSP(Digital Signal Processor), 저장장치 기술의 발달에 따라 이들의 응용제품들이 다양하게 상용화되어 가고 있다. 특히, 디지털 카메라(Digital Camera)는 1000만 화소급이 개발되었고, 휴대폰용 카메라 기술도 디지털 카메라의 기술과 근접해 있으며, 지금까지 기술적 미비로 인해 저해상도급인 CIF(Common Intermediate Format)급 및 VGA(Video Graphics Array)급의 이미지센서들이 많이 사용되고 있으나, 최근 화소수의 증가 요구로 인해 고해상도의 이미지센서의 개발이 진행되고 있다.These image sensor products have been commercialized in various applications according to the development of semiconductor technology, digital signal processor (DSP), and storage device technology. In particular, the digital camera has been developed with 10 million pixels, and the camera technology for mobile phones is also close to the technology of digital cameras. Due to technical shortages, the low resolution CIF (Common Intermediate Format) and VGA (Video Graphics Array) ) Image sensors are used a lot, but the development of high resolution image sensors is progressing due to the recent increase in the number of pixels.

저해상도의 이미지센서에서는 회로의 선 폭이 상대적으로 미세하지 않았으며 먼지 또는 노이즈에 영향력을 받지 않는다. 이와는 달리, 고해상도의 이미지센서에서는 회로의 선 폭이 미세하여 먼지 또는 노이즈에 많은 영향력을 받게 됨에 따라, 특정 화소(Pixel)가 동작 불능상태에 빠질 확률이 높아지며, 고해상도일수록 화소 에 수가 많아져 모든 화소에 대하여 균일함을 갖도록 하는데 많은 어려움이 있다.In low resolution image sensors, the line width of the circuit is relatively small and is not affected by dust or noise. On the other hand, in a high resolution image sensor, the circuit width is minute and is influenced by dust or noise. Therefore, the probability that a specific pixel falls into an inoperable state increases. There are many difficulties in making uniformity with respect to.

이처럼 동작 불능상태의 화소는 화이트 결함(white defect) 또는 블랙 결함(black defect)으로 나누어지며 주변 화소와 확연히 구별되어짐에 따라 이를 불량화소(bad pixel)라 한다.The inoperable pixel is divided into a white defect or a black defect and is called a bad pixel as it is clearly distinguished from the surrounding pixels.

불량화소를 포함하는 이미지센서는 결함판정을 받게 되지만 이것을 개선하는 방법에 따라서 결함판정을 받지 않을 수 있다. 특히, 메가(Mega)급의 이미지센서에서는 불량화소가 발생할 가능성은 항상 존재하며 이와 같은 불량화소를 모두 결함으로 판정한다면 이미지센서의 수율이 낮아지기 때문에 이를 처리하기 위한 방법들이 연구되고 있다.The image sensor including the defective pixel is subject to defect determination, but may not be determined according to the method of improving the defect. In particular, there is always a possibility that a defective pixel may occur in a mega image sensor, and if all of the defective pixels are judged to be defective, methods for processing the same are being studied.

그럼, 이하 관련도면을 참조하여 종래 기술에 의한 불량화소 보정장치에 대하여 상세히 설명한다.Then, the defective pixel correction apparatus according to the prior art will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 종래 기술에 의한 불량화소 보정장치를 나타낸 블럭도이다.1 is a block diagram showing a defective pixel correction apparatus according to the prior art.

먼저, 도 1에 도시한 바와 같이, 종래의 불량화소 보정장치는, 불량화소 검출부(110)와 불량화소 보정부(120)로 이루어진다.First, as shown in FIG. 1, the conventional defective pixel correction device includes a defective pixel detection unit 110 and a defective pixel correction unit 120.

여기서, 상기 불량화소 검출부(110)는 외부로부터 인가되는 영상 신호 즉, 상기 불량화소 보정장치와 연결된 이미지센서에 의해 촬상된 영상 신호 중 3개의 화소(G1, G2, G3)로 이루어진 하나의 라인을 인가받아 상기 라인의 각 화소를 순차적으로 저장하며, 상기 저장된 제1 화소(G1)와 제2 화소(G2)를 비교하여 불량화소 여부를 판단한다.Here, the defective pixel detection unit 110 may display one line including three pixels G1, G2, and G3 among the image signals applied from the outside, that is, the image signals captured by the image sensor connected to the defective pixel correction apparatus. Each pixel of the line is sequentially applied and stored, and the stored first pixel G1 and the second pixel G2 are compared with each other to determine whether or not a defective pixel is present.

이때, 상기 비교방법은 상기 라인의 중간에 위치한 제2 화소(G2)의 화소값인 제2 화소값에 상기 제2 화소(G2)의 주변 화소인 제1 화소(G1)의 화소값인 제1 화소값을 감산 연산한 제1 연산값이 사전에 설정된 임계치보다 크거나 또는 작은지 판단하여 불량화소를 검출한다.In this case, the comparison method includes a first pixel value of a first pixel G1 that is a peripheral pixel of the second pixel G2 and a second pixel value that is a pixel value of the second pixel G2 positioned in the middle of the line. The defective pixel is detected by determining whether the first operation value obtained by subtracting the pixel value is larger or smaller than the preset threshold.

만약, 상기 제1 연산값이 상기 임계치보다 작을 경우 상기 제2 화소(G2)의 불량화소 여부를 재판단하기 위해 상기 제3 화소(G3)의 화소값과 비교하며, 상기 제1 연산값이 상기 임계치보다 클 경우 상기 제2 화소(G2)가 불량화소로 판단하여 이를 보정하기 위해 상기 불량화소 보정부(120)로 전달한다.If the first operation value is smaller than the threshold value, the first operation value is compared with the pixel value of the third pixel G3 to determine whether the second pixel G2 is defective. If larger than the threshold value, the second pixel G2 determines that the defective pixel is a defective pixel, and transmits it to the defective pixel correction unit 120 to correct it.

또한, 상기 제2 화소(G2)를 재판단하기 위한 제3 화소(G3)의 화소값과의 비교방법도, 상기 제1 화소(G1)와의 비교방법과 동일하게 상기 제2 화소값에 상기 제3 화소값을 감산연산한 제2 연산값이 상기 임계치보다 크거나 또는 작은지 판단한다.In addition, the comparison method with the pixel value of the third pixel G3 for judging the second pixel G2 is similar to the comparison method with the first pixel G1. It is determined whether the second operation value obtained by subtracting the three pixel values is larger or smaller than the threshold value.

상기 제2 연산값이 상기 임계치보다 작을 경우 상기 제2 화소(G2)가 불량화소가 아닌 정상적인 데이터로 판단하여 보정하지 않고 바로 출력하며, 상기 제2 연산값이 상기 임계치보다 클 경우 상기 제2 화소(G2)가 불량화소라고 판단하여 이를 보정하기 위해 상기 불량화소 보정부(120)로 전달한다.If the second operation value is smaller than the threshold value, the second pixel G2 is determined to be normal data instead of defective pixels, and is immediately output without correction. If the second operation value is larger than the threshold value, the second pixel is output. Determining that G2 is a defective pixel and transferring it to the defective pixel correction unit 120 to correct it.

상기 불량화소 보정부(120)는, 상기 불량화소 검출부(110)에 의해 검출된 불량화소를 보정하여 출력한다. 만약, 상기 제1 또는 제2 연산값이 상기 임계치보다 큰 값을 가지게 되어 상기 제2 화소(G2)가 불량화소로 검출되는 경우, 상기 제2 화소(G2)의 주변 화소인 제1 및 제3 화소(G1, G3)의 화소값의 평균을 계산한 다음, 상기 계산된 평균값을 상기 제2 화소(G2)의 화소값으로 대입한다.The defective pixel correction unit 120 corrects and outputs a defective pixel detected by the defective pixel detection unit 110. If the first or second operation value has a value larger than the threshold value and the second pixel G2 is detected as a defective pixel, the first and third pixels which are the peripheral pixels of the second pixel G2. After calculating an average of pixel values of the pixels G1 and G3, the calculated average value is substituted into the pixel value of the second pixel G2.

이에 따라, 상기 불량화소인 제2 화소값은 상기 제1 및 제3 화소값 평균값으로 대치되어 상기 제1 및 제3 화소값과 근접한 화소값으로 설정됨에 따라, 불량화소인 제2 화소(G2)를 데이터 G2'로 보정할 수 있다.Accordingly, the second pixel value G2, which is the bad pixel, is set to a pixel value close to the first and third pixel values that are replaced by the average value of the first and third pixel values. Can be corrected by the data G2 '.

이하, 도 2를 참조하여 종래의 불량화소 보정장치를 이용하여 불량화소를 보정하는 방법에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a method of correcting defective pixels using a conventional defective pixel correcting apparatus will be described in detail with reference to FIG. 2.

도 2는 종래 기술에 의한 불량화소 보정방법을 순차적으로 나타낸 순서도이다.2 is a flowchart sequentially illustrating a method for correcting a defective pixel according to the prior art.

우선, 도 2에 도시한 바와 같이, 외부로부터 인가되는 영상 신호 중 3개의 화소로 이루어진 하나의 라인을 인가받아 상기 인가된 라인의 제1 화소의 화소값인 제1 화소값과 제2 화소의 화소값 제2 화소값 및 제3 화소의 화소값을 각각 저장한다(S201, S202, S203).First, as shown in FIG. 2, the first pixel value and the pixel of the second pixel, which are pixel values of the first pixel of the applied line, are applied by receiving one line consisting of three pixels among the image signals applied from the outside. The value second pixel value and the pixel value of the third pixel are stored, respectively (S201, S202, S203).

그런 다음, 상기 제2 화소가 불량화소인지를 검출하기 위해 상기 제2 화소값에 제1 화소값을 감산 연산한 제1 연산값과 사전에 설정된 임계치를 비교한다(S204).Then, in order to detect whether the second pixel is a defective pixel, a first threshold value obtained by subtracting the first pixel value from the second pixel value is compared with a preset threshold value (S204).

이때, 상기 제1 연산값이 상기 임계치보다 클 경우 상기 제2 화소를 불량화소로 판단하여 상기 제2 화소의 주변 화소인 제1 및 제2 화소의 화소값의 평균값을 계산하여 상기 계산된 평균값을 제2 화소의 화소값으로 대입한다(S205).In this case, when the first operation value is larger than the threshold value, the second pixel is determined to be a bad pixel, and the average value of the pixel values of the first and second pixels, which are peripheral pixels of the second pixel, is calculated to calculate the average value. Substitute the pixel value of the second pixel (S205).

만약, 상기 제1 연산값이 상기 임계치보다 작을 경우 상기 제2 화소에 대해 불량화소 여부를 재판단하기 위하여 상기 제2 화소값에 제3 화소값을 감산 연산하여 제2 연산값을 계산하고, 상기 계산된 제2 연산값과 상기 임계치를 비교한다(S206).If the first operation value is less than the threshold value, a second operation value is calculated by subtracting a third pixel value from the second pixel value to determine whether the second pixel is defective. The calculated second operation value is compared with the threshold (S206).

상기 S206 단계에서 상기 제2 연산값이 상기 임계치보다 작을 경우 상기 제2 화소가 불량화소가 아닌 정상적인 화소로 판단하여 이를 보정하지 않고 그대로 출력한다(S207).If the second operation value is smaller than the threshold in step S206, the second pixel is determined to be a normal pixel instead of a defective pixel, and is output as it is without correction (S207).

만약, 상기 제2 연산값이 상기 임계치보다 클 경우, 상기 제2 화소를 불량화소로 판단하여 상기 제2 화소의 주변 화소인 제1 및 제2 화소의 화소값의 평균값을 계산하여 상기 계산된 평균값을 제2 화소의 화소값으로 대입함으로써 불량화소인 상기 제2 화소를 보정한다(S205).If the second operation value is larger than the threshold value, the second pixel is determined to be a bad pixel, and the average value of the pixel values of the first and second pixels, which are peripheral pixels of the second pixel, is calculated to calculate the average value. Is substituted into the pixel value of the second pixel to correct the second pixel, which is a defective pixel (S205).

그러나, 상기 불량화소 보정장치 및 방법은, 외부로부터 인가되는 영상 신호 중 3개의 화소로 이루어진 하나의 라인을 인가받아 상기 라인의 각 화소값을 비교하여 불량화소를 검출하기 때문에, 상기 라인 모두가 불량화소일 경우 이를 정상적인 데이터로 인식하여 보정없이 바로 출력함에 따라 불량화소가 그대로 영상에 포함되어 출력될 수 있는 문제점이 있었다.However, since the defective pixel correcting apparatus and method receive one line composed of three pixels from an externally applied image signal and compare the pixel values of the lines to detect the defective pixel, all of the lines are defective. If the pixel is recognized as normal data and immediately outputted without correction, there was a problem that the defective pixel may be included in the image as it is and output.

또한, 상기 영상 신호의 제2 화소가 이미지의 경계영역을 나타내는 화소일 경우, 이를 불량화소로 판단하여 주변화소의 평균값으로 보정함으로써 뚜렷하게 표현되어야 할 경계 영역이 흐릿하게 표현되어 신뢰성이 낮아지는 문제점이 있었다.In addition, when the second pixel of the image signal is a pixel representing the boundary region of the image, it is determined that the defective pixel is corrected to an average value of neighboring pixels, so that the boundary region to be clearly expressed is blurred and reliability is low. there was.

따라서, 본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위하여 이루어진 것으로, 본 발명의 목적은 영상 신호의 3 라인을 동시에 인가받아 이들을 서로 비교하여 불량화소를 검출하고 최소 또는 최대 주변 화소값에 마진값을 가감산한 연산값을 대입함으로써, 상기 불량화소를 보정하는 불량화소 보정장치 및 그 방법에 관한 것이다.Accordingly, an object of the present invention is to solve the above problems, and an object of the present invention is to simultaneously receive three lines of an image signal, compare them with each other, detect defective pixels, and add or subtract margin values to minimum or maximum peripheral pixel values. The present invention relates to a defective pixel correcting apparatus and a method for correcting the defective pixels by substituting arithmetic values.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 불량화소 보정장치는, 외부로부터 인가되는 영상 신호의 제1 라인을 저장하는 제1 메모리; 상기 영상 신호의 제2 라인을 저장하는 제2 메모리; 상기 제1 및 제2 메모리에 저장되어 있는 영상 신호의 제1 및 제2 라인과 상기 영상 신호의 제3 라인을 동시에 인가받아 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값과 상기 제1 내지 제3 라인에서 상기 제2 라인의 중간 화소를 제외한 주변 화소의 화소값 중 최소 또는 최대 화소값에 사전에 설정된 마진값을 감산 또는 가산 연산한 제1 또는 제2 연산값을 비교하여 불량화소를 검출하는 불량화소 검출부; 및 상기 불량화소 검출부에 의해 불량화소가 검출되면 상기 제1 또는 제2 연산값을 상기 불량화소에 대입하여 보정하는 불량화소 보정부;를 포함한다. In accordance with an aspect of the present invention, there is provided an apparatus for correcting a defective pixel, comprising: a first memory configured to store a first line of an image signal applied from the outside; A second memory for storing a second line of the video signal; The first and second lines of the image signal and the third line of the image signal stored in the first and second memories are simultaneously applied to the pixel values of the intermediate pixels of the second line and the first to third lines. Defective pixels to detect defective pixels by comparing a first or second operation value obtained by subtracting or adding a preset margin value to a minimum or maximum pixel value of neighboring pixels except the middle pixel of the second line Detection unit; And a defective pixel correcting unit that corrects by substituting the first or second calculation value into the defective pixel when the defective pixel is detected by the defective pixel detecting unit.

또한, 본 발명에 따른 불량화소 보정장치에 있어서, 상기 불량화소 검출부는, 상기 제1, 제2 및 제3 라인 중 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 상기 제1 연산값보다 작을 경우 상기 제2 라인의 중간 화소를 불량화소로 검출하는 것을 특징으로 한다.In the defective pixel correction device according to an embodiment of the present invention, the defective pixel detection unit may be configured such that the pixel value of an intermediate pixel of the second line among the first, second, and third lines is smaller than the first calculated value. The intermediate pixel of the second line is detected as a defective pixel.

그리고, 본 발명에 따른 불량화소 보정장치에 있어서, 상기 불량화소 검출부는, 상기 제1, 제2 및 제3 라인 중 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 상기 제2 연산값보다 클 경우 상기 제2 라인의 중간 화소를 불량화소로 검출하는 것을 특징으로 한다.In the defective pixel correction device according to the present invention, the defective pixel detection unit is further configured to generate the pixel when the pixel value of the intermediate pixel of the second line among the first, second, and third lines is larger than the second operation value. The intermediate pixel of the second line is detected as a defective pixel.

또한, 본 발명에 따른 불량화소 보정장치에 있어서, 상기 불량화소 처리부는, 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 상기 제1 연산값보다 작을 경우, 상기 제1 연산값을 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값에 대입하여 보정하는 것을 특징으로 한다.In the defective pixel correcting apparatus according to the present invention, the defective pixel processing unit is configured to convert the first calculated value to the second calculated value when the pixel value of the intermediate pixel of the second line is smaller than the first calculated value. The correction is performed by substituting the pixel value of the intermediate pixel.

한편, 본 발명에 따른 불량화소 보정장치에 있어서, 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 상기 제2 연산값보다 클 경우, 상기 제2 연산값을 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값에 대입하여 보정한다. 이때, 상기 영상 신호는 이미지센서에 의해 촬상된 영상 신호이며, 상기 제1, 제2 및 제3 라인은 각각 3개의 화소로 이루어진 것을 특징으로 한다.On the other hand, in the defective pixel correction apparatus according to the present invention, when the pixel value of the intermediate pixel of the second line is larger than the second operation value, the second operation value is set to the pixel value of the intermediate pixel of the second line. Correct by substituting. In this case, the image signal is an image signal captured by the image sensor, wherein the first, second and third lines are each composed of three pixels.

아울러, 상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 불량화소 보정방법은, a) 외부로부터 인가되는 영상 신호의 제1 라인을 저장하는 단계; b) 상기 영상 신호의 제2 라인을 저장하는 단계; c) 상기 저장된 제1 및 제2 라인과 상기 영상 신호의 제3 라인을 동시에 인가받는 단계; d) 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 이를 제외한 화소의 화소값 중 최소 화소값에 사전에 설정된 마진값을 감산 연산한 제1 연산값보다 작은 값인지를 판단하는 단계; e) 상기 d) 단계에서 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 상기 제1 연산값보다 클 경우, 상기 제2 라인의 중간 화 소의 화소값이 이를 제외한 화소의 화소값 중 최대 화소값에 상기 마진값을 가산 연산한 제2 연산값보다 큰 값인지를 판단하는 단계; 및 f) 상기 e) 단계에서 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 상기 제2 연산값보다 클 경우 상기 제2 연산값을 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값에 대입하여 불량화소를 보정하는 단계;를 포함한다.In addition, a method for correcting a defective pixel according to the present invention for achieving the above object comprises the steps of: a) storing a first line of an image signal applied from the outside; b) storing a second line of the video signal; c) simultaneously applying the stored first and second lines and a third line of the image signal; d) determining whether a pixel value of an intermediate pixel of the second line is smaller than a first operation value obtained by subtracting a preset margin value to a minimum pixel value among pixel values of the pixel other than this; e) when the pixel value of the intermediate pixel of the second line is greater than the first operation value in step d), the pixel value of the intermediate pixel of the second line is equal to the maximum pixel value of the pixel value except the pixel; Determining whether the margin value is greater than the second calculated value; And f) if the pixel value of the intermediate pixel of the second line is larger than the second operation value in step e), substitute the second operation value with the pixel value of the intermediate pixel of the second line to correct defective pixels. It comprises; a.

또한, 본 발명의 불량화소 보정방법에 있어서, 상기 d) 단계에서 상기 판단된 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 제1 연산값보다 작은 값일 경우 상기 제1 연산값을 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값에 대입하여 불량화소를 보정하는 것을 특징으로 한다.Further, in the defective pixel correction method of the present invention, when the pixel value of the intermediate pixel of the second line determined in step d) is smaller than the first operation value, the first operation value is intermediate to the second line. The defective pixel is corrected by substituting the pixel value of the pixel.

그리고, 본 발명의 불량화소 보정방법에 있어서, 상기 e) 단계에서 상기 판단된 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 제2 연산값보다 작은 값일 경우 상기 제2 라인의 중간 화소를 정상적인 화소로 판단하여 보정하지 않고 출력하는 것을 특징으로 한다.In the defective pixel correction method of the present invention, when the pixel value of the intermediate pixel of the second line determined in step e) is smaller than a second operation value, the intermediate pixel of the second line is determined as a normal pixel. It is characterized in that the output without correction.

또한, 본 발명의 불량화소 보정방법에 있어서, 상기 영상 신호는 이미지센서에 의해 촬상된 영상 신호이고, 상기 제1, 제2 및 제3 라인은 각각 3개의 화소로 이루어진 것을 특징으로 한다.In the defective pixel correction method of the present invention, the video signal is an image signal captured by an image sensor, and the first, second, and third lines each include three pixels.

상술한 목적, 특징 및 장점은 첨부된 도면과 관련된 다음의 상세한 설명을 통하여 보다 분명해 질 것이며, 그에 따라 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 것이다.The above objects, features, and advantages will become more apparent from the following detailed description taken in conjunction with the accompanying drawings, whereby those skilled in the art may easily implement the technical idea of the present invention. There will be.

또한, 본 발명을 설명함에 있어서 본 발명과 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략하기로 한다.In addition, in describing the present invention, when it is determined that the detailed description of the known technology related to the present invention may unnecessarily obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

이하, 관련도면을 참조하여 본 발명에 따른 불량화소 보정장치에 대하여 보다 상세히 설명한다.Hereinafter, the defective pixel correction apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3은 본 발명에 따른 불량화소 보정장치를 개략적으로 나타낸 블럭도이고, 도 4는 본 발명에 따른 영상 신호의 3라인을 나타낸 블럭도이다.3 is a block diagram schematically showing an apparatus for compensating for defective pixels according to the present invention, and FIG. 4 is a block diagram showing three lines of an image signal according to the present invention.

우선, 도 3에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 불량화소 보정장치는, 제1 메모리(310), 제2 메모리(320), 불량화소 검출부(330) 및 불량화소 보정부(340)로 이루어지며, 외부로부터 인가되는 영상 신호를 각각 3개의 화소로 이루어지는 제1, 제2 및 제3 라인으로 분리하여 인가받고 상기 3개의 라인 중 제2 라인의 중간 화소의 화소값을 이의 주변 화소의 화소값과 비교하여 불량화소인지를 판단하며 상기 제2 라인의 중간 화소가 불량화소일 경우 이를 보정하여 출력한다. 이때, 상기 외부로부터 인가되는 영상 신호는 상기 불량화소 보정장치와 연결된 이미지센서(미도시함)에 의해 촬상된 영상 신호이다.First, as illustrated in FIG. 3, the defective pixel correcting apparatus according to the present invention includes a first memory 310, a second memory 320, a defective pixel detection unit 330, and a defective pixel correction unit 340. The image signal applied from the outside is divided into first, second, and third lines each consisting of three pixels, and the pixel value of the intermediate pixel of the second line among the three lines is the pixel value of the peripheral pixel thereof. The controller determines whether the pixel is a bad pixel, and corrects the output if the middle pixel of the second line is a bad pixel. In this case, the image signal applied from the outside is an image signal captured by an image sensor (not shown) connected to the defective pixel correction apparatus.

상기 영상 신호의 제1 라인은 상기 제2 메모리(320)에 제1 라인을 이루고 있는 3개 화소의 화소값이 저장된다. 그런 다음, 상기 영상 신호의 제2 라인이 인가되면 상기 제2 메모리(320)에 저장되어 있는 화소값은 상기 제1 메모리(310)에 저장되고 상기 제2 라인의 각 화소값은 상기 제2 메모리(320)에 저장된다.In the first line of the image signal, pixel values of three pixels forming the first line are stored in the second memory 320. Then, when the second line of the image signal is applied, the pixel value stored in the second memory 320 is stored in the first memory 310 and each pixel value of the second line is stored in the second memory. Stored at 320.

상기 제1 라인과 제2 라인이 상기 제1 메모리(310) 및 제2 메모리(320)에 저장된 후, 상기 제3 라인이 인가됨과 동시에 상기 제1 및 제2 메모리(310, 320)에 저장되어 있는 제1 및 제2 라인이 상기 불량화소 검출부(330)에 인가된다.After the first line and the second line are stored in the first memory 310 and the second memory 320, the third line is applied and simultaneously stored in the first and second memories 310 and 320. First and second lines are applied to the defective pixel detection unit 330.

상기 불량화소 검출부(330)는 상기 인가된 제1 내지 제3 라인을 하나의 블럭으로 형성하여 이들에 포함될 수 있는 불량화소를 검출한다.The defective pixel detection unit 330 forms the applied first to third lines in one block to detect defective pixels that may be included in the defective pixels.

즉, 도 4에 도시한 바와 같이, 상기 제1 라인이 a, b, c이고 상기 제2 라인이 d, e, f이며 상기 제3 라인이 g, h, i일 경우, 이들을 3×3 블럭으로 배치한 다음 상기 제2 라인의 중간 화소인 e 화소가 불량화소인지를 검출한다.That is, as shown in Fig. 4, when the first line is a, b, c, the second line is d, e, f, and the third line is g, h, i, they are 3x3 blocks. After that, it is detected whether the e pixel, which is the middle pixel of the second line, is a defective pixel.

상기 e 화소가 불량화소인지 검출하는 과정은, 먼저, 상기 e 화소의 주변 화소인 a, b, c, d, f, g, h 및 i 화소의 각 화소값 중 최소 화소값을 검출한다. 그런 다음, 상기 최소 화소값에 사전에 설정된 마진값(Margin)을 감산 연산하여 제1 연산값을 계산한다. 이때, 상기 마진값은 불량화소를 판단하기 위한 임계값이므로 사용자에 의해 설정될 수 있다.In the process of detecting whether the e pixel is a bad pixel, first, a minimum pixel value of each pixel value of a, b, c, d, f, g, h, and i pixels, which are peripheral pixels of the e pixel, is detected. Then, the first operation value is calculated by subtracting a margin set in advance to the minimum pixel value. In this case, the margin value is a threshold value for determining a defective pixel and may be set by a user.

상기 제2 라인의 중간 화소인 e 화소의 화소값과 상기 연산된 제1 연산값을 비교하여 상기 제1 연산값보다 상기 e 화소의 화소값이 작을 경우 상기 e 화소를 불량화소로 판정한다.The pixel value of the e pixel is smaller than the first operation value by comparing the pixel value of the e pixel, which is the intermediate pixel of the second line, with the calculated first operation value, to determine the e pixel as a defective pixel.

만약, 상기 제1 연산값보다 상기 e 화소의 화소값이 클 경우 상기 e 화소를 재판단하는데, 상기 e 화소의 주변 화소인 a, b, c, d, f, g, h 및 i 화소의 각 화소값 중 최대 화소값을 검출한다. 그런 다음, 상기 최대 화소값에 상기 마진값을 가산 연산하여 제2 연산값을 계산한다.If the pixel value of the e pixel is larger than the first operation value, the e pixel is judged, and each of the pixels a, b, c, d, f, g, h and i which are the peripheral pixels of the e pixel. The maximum pixel value of the pixel values is detected. Then, a second operation value is calculated by adding the margin value to the maximum pixel value.

그런 다음, 상기 제2 라인의 중간 화소인 e 화소의 화소값과 상기 연산된 제2 연산값을 비교하여 상기 제2 연산값보다 상기 e 화소의 화소값이 작을 경우 상기 e 화소가 불량화소가 아닌 것으로 판단하여 이를 보정하지 않고 그대로 출력한다.Then, the pixel value of the e pixel, which is the intermediate pixel of the second line, is compared with the calculated second operation value, and when the pixel value of the e pixel is smaller than the second operation value, the e pixel is not a bad pixel. If it is determined that it is not corrected, it is output as it is.

만약, 상기 e 화소의 화소값이 상기 제2 연산값보다 클 경우 상기 e 화소를 불량화소라 판단하고, 이를 상기 불량화소 보정부(340)로 전달한다.If the pixel value of the e pixel is larger than the second operation value, the e pixel is determined to be a bad pixel, and the e pixel is transmitted to the bad pixel correcting unit 340.

한편, 상기 불량화소 검출부(330)에서 상기 e 화소를 불량화소인지 판단하는 과정의 또 다른 실시예로 상기 e 화소를 제외한 주변 화소 즉, a, b, c, d, f, g, h 및 i 화소 중 어느 하나의 화소에도 불량화소가 검출되지 않을 경우 상기 주변 화소 중 최대 화소값 및 최소 화소값을 갖는 화소를 제외하고 상술한 불량화소 판단 과정을 진행하여 불량화소를 검출할 수 있다.Meanwhile, as another embodiment of the process of determining whether the defective pixel detection unit 330 is the defective pixel, that is, peripheral pixels excluding the e pixel, that is, a, b, c, d, f, g, h and i When no defective pixel is detected in any of the pixels, the defective pixel may be detected by performing the above-described defective pixel determination process except for the pixel having the maximum pixel value and the minimum pixel value among the surrounding pixels.

이에 따라, 상기 불량화소 검출부(330)는, 각 3개의 화소로 이루어지는 제1, 제2 및 제3 라인을 인가받아 이 중 중간 화소인 제2 라인의 중간 화소값을 주변 화소의 화소값과 비교하여 불량화소 여부를 판단함으로써, 상기 b, e, h 또는 d, e, f가 이웃하는 화소 a, c, d, f, g, i 또는 a, b, c, g, h, i 와의 화소값이 큰 차이를 보이는 영상의 경계를 나타내는 경계 영역일 경우 이를 불량화소로 판단하지 않고 정상적인 데이터로 판단할 수 있으므로, 3개의 화소로 이루어진 한 개의 라인을 인가받아 불량화소를 판단하는 종래 보다 경계 영역 및 불량화소를 정확히 검출할 수 있는 이점이 있다.Accordingly, the defective pixel detection unit 330 receives the first, second and third lines each consisting of three pixels, and compares the intermediate pixel value of the second line, which is an intermediate pixel, with the pixel value of the peripheral pixel. By determining whether the defective pixel is a pixel value of the pixel a, c, d, f, g, i or a, b, c, g, h, i In the case of a boundary area indicating a boundary of an image having a large difference, it can be judged as normal data instead of a defective pixel. There is an advantage that it is possible to accurately detect defective pixels.

상기 불량화소 보정부(340)는, 상기 불량화소 검출부(330)로부터 인가되는 영상 신호의 제1 내지 제3 라인을 인가받아 상기 영상 신호의 제2 라인 중간 화소 인 e 화소가 불량화소가 아닐 경우 이를 보정하지 않고 바로 출력하며, 상기 e 화소가 불량화소일 경우 이를 보정하여 보정된 e'를 출력한다.The defective pixel correcting unit 340 receives the first to third lines of the image signal applied from the defective pixel detection unit 330, and when the e pixel that is the middle pixel of the second line of the image signal is not a defective pixel, This is immediately output without correction. If the e pixel is a defective pixel, the correction is performed to output the corrected e '.

이때, 상기 불량화소 보정부(340)에서 상기 불량화소로 판정된 e 화소를 보정하는 방법은, 상기 e 화소가 제1 연산값과 비교하여 이보다 작을 경우의 불량화소라면 상기 e 화소의 주변 화소인 a, b, c, d, f, g, h 및 i 화소 중 최소 화소값에 상기 제1 마진값을 감산 연산한 제1 연산값을 제1 보정값으로 하여 상기 불량화소인 e 화소에 대입함으로써 불량화소를 e'로 보정하여 출력한다.In this case, the method of correcting the e pixel determined as the defective pixel by the defective pixel correcting unit 340 is a peripheral pixel of the e pixel if the defective pixel is smaller than this compared with the first operation value. By substituting the first operation value obtained by subtracting the first margin value to the minimum pixel value among the a, b, c, d, f, g, h, and i pixels as the first correction value, the defective pixel e pixel is substituted. The defective pixel is corrected to e 'and output.

또한, 상기 e 화소가 제2 연산값과 비교하여 이보다 클 경우의 불량화소라면 상기 e 화소의 주변 화소인 a, b, c, d, f, g, h 및 i의 화소 중 최대 화소값에 상기 제2 연산값을 가산 연산한 제2 보정값을 상기 불량화소인 e 화소에 대입함으로써 불량화소를 e'로 보정하여 출력한다.If the pixel e is larger than the second operation value and is a defective pixel, the maximum pixel value among the pixels of a, b, c, d, f, g, h, and i, which are neighboring pixels of the e pixel, is determined. The defective pixel is corrected to e 'and outputted by substituting the second correction value obtained by adding the second calculated value to the pixel e, which is the defective pixel.

한편, 상기 제1 및 제2 보정값 대신 상기 e 화소의 주변 화소인 a, b, c, d, f, g, h 및 i 화소의 화소값 평균을 계산하여 이를 보정값으로 하여 상기 e 화소에 대입함으로써 상기 불량화소인 e 화소를 보정할 수도 있다.Meanwhile, instead of the first and second correction values, an average of pixel values of the a, b, c, d, f, g, h, and i pixels, which are peripheral pixels of the e pixel, is calculated and used as the correction value. By substituting, the pixel e as the defective pixel can be corrected.

이에 따라, 본 발명에 따른 불량화소 보정장치는, 영상 신호를 각각 3개의 화소로 이루어지는 제1, 제2 및 제3 라인으로 동시에 인가받아 이들의 중간 화소인 제2 라인의 중간 화소값을 주변 화소값 중 최소 화소값에 마진값을 감산 연산한 제1 연산값과 비교하고, 주변 화소값 중 최대 화소값에 마진값을 가산 연산한 제2 연산값과 비교하여 불량화소 여부를 판단함으로써, 한 개의 라인만을 가지고 불량화소를 판단하던 종래의 불량화소 보정장치보다 경계 영역 및 불량화소를 정확히 검 출할 수 있는 이점이 있다.Accordingly, the defective pixel correcting apparatus according to the present invention receives an image signal simultaneously to the first, second, and third lines each consisting of three pixels, and receives the intermediate pixel values of the second line, which is the intermediate pixel, of the peripheral pixels. By comparing the first operation value obtained by subtracting the margin value to the minimum pixel value among the values, and comparing the second operation value obtained by adding the margin value to the maximum pixel value among the peripheral pixel values, it is determined whether or not the defective pixel is There is an advantage that the boundary region and the defective pixel can be accurately detected than the conventional defective pixel correcting device which judges the defective pixel only by the line.

이하, 관련도면을 참조하여 본 발명에 따른 불량화소 보정방법에 대하여 보다 상세히 설명한다.Hereinafter, a defective pixel correction method according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 5는 본 발명에 따른 불량화소 보정방법을 순차적으로 나타낸 순서도이다.5 is a flowchart sequentially showing a method for correcting a defective pixel according to the present invention.

도 5에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 불량화소 보정방법은, 외부로부터 인가되는 영상 신호를 3개의 화소로 이루어진 제1 라인을 인가받고, 상기 인가된 제1 라인을 저장한다(S410). 이때, 상기 외부로부터 인가되는 영상 신호는 이미지센서에 의해 촬상된 영상 신호이다.As illustrated in FIG. 5, the defective pixel correcting method according to the present invention receives a first line consisting of three pixels as an image signal applied from the outside and stores the applied first line (S410). In this case, the image signal applied from the outside is an image signal captured by the image sensor.

상기 제1 라인을 저장한 후 상기 영상 신호의 제2 라인을 인가받아 저장한다(S420).After storing the first line, the second line of the image signal is received and stored (S420).

상기 저장된 제1 및 제2 라인과 상기 영상 신호의 제3 라인을 동시에 인가 받는다(S430).The stored first and second lines and the third line of the image signal are simultaneously applied (S430).

상기 인가된 영상 신호의 제1, 제2 및 제3 라인 중 제2 라인의 중간 화소의 화소값을 상기 제2 라인의 중간 화소 이외의 화소 중 최소 화소값을 갖는 화소의 화소값에 사전에 설정된 마진값을 감산 연산한 제1 연산값과 비교한다(S440).The pixel value of the intermediate pixel of the second line among the first, second and third lines of the applied image signal is preset to the pixel value of the pixel having the minimum pixel value among the pixels other than the intermediate pixel of the second line. The margin value is compared with the first calculated value subtracted (S440).

만약, 상기 S440 단계에서 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 상기 제1 연산값보다 작을 경우, 상기 제2 라인의 중간 화소를 불량화소로 판단한다.If the pixel value of the intermediate pixel of the second line is smaller than the first operation value in step S440, the intermediate pixel of the second line is determined as a defective pixel.

이때, 상기 제2 라인의 중간 화소가 불량화소로 판단되면, 상기 주변 화소 중 최소 화소값에 상기 마진값을 감산 연산한 제1 연산값을 제1 보정값으로 하여 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값으로 대입함으로써 불량화소인 제2 라인의 중간 화소를 보정한다(S445).At this time, when it is determined that the intermediate pixel of the second line is a defective pixel, the first operation value obtained by subtracting the margin value to the minimum pixel value of the neighboring pixels is used as a first correction value of the intermediate pixel of the second line. By substituting the pixel value, the intermediate pixel of the second line, which is a defective pixel, is corrected (S445).

만약, 상기 S440 단계세어 상기 제2 라인의 중간 화소값이 상기 제1 연산값보다 클 경우, 상기 제2 라인의 중간 화소의 불량화소 여부를 재판단하기 위해 상기 주변 화소값 중 최대 화소값에 상기 마진값을 가산 연산한 제2 연산값을 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값과 비교한다(S450).If the intermediate pixel value of the second line is greater than the first operation value in step S440, the maximum pixel value of the peripheral pixel value is determined based on the maximum pixel value of the peripheral pixel value to determine whether or not the pixel of the intermediate pixel of the second line is defective. The second operation value obtained by adding the margin value is compared with the pixel value of the intermediate pixel of the second line (S450).

상기 S450 단계에서의 비교 결과 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 상기 제2 연산값보다 작을 경우 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 불량화소가 아니라 정상적인 화소로 판단하여 보정하지 않고 그대로 출력한다.If the pixel value of the intermediate pixel of the second line is smaller than the second operation value as a result of the comparison in step S450, the pixel value of the intermediate pixel of the second line is determined to be a normal pixel instead of a defective pixel and is not corrected. Output

한편, 상기 S450 단계에서의 비교 결과 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 상기 제2 연산값보다 클 경우 상기 제2 라인의 중간 화소를 불량화소로 판단한다.On the other hand, when the pixel value of the intermediate pixel of the second line is larger than the second operation value as a result of the comparison in step S450, the intermediate pixel of the second line is determined to be a defective pixel.

상기 제2 라인의 중간 화소가 불량화소로 판단되면, 상기 주변 화소 중 최대 화소값을 갖는 화소의 화소값에 상기 마진값을 가산 연산한 상기 제2 연산값을 제2 보정값으로 하여 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값으로 대입함으로써 불량화소인 제2 라인의 중간 화소를 보정한다.If it is determined that the intermediate pixel of the second line is a bad pixel, the second operation value obtained by adding the margin value to the pixel value of the pixel having the largest pixel value among the peripheral pixels is used as the second correction value. By substituting the pixel value of the intermediate pixel of the line, the intermediate pixel of the second line, which is a defective pixel, is corrected.

이상에서 설명한 본 발명의 바람직한 실시예들은 예시의 목적을 위해 개시된 것이며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 있어 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러가지 치환, 변형 및 변경이 가능할 것이며, 이러한 치환, 변경 등은 이하의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.Preferred embodiments of the present invention described above are disclosed for the purpose of illustration, and various substitutions, modifications, and changes within the scope without departing from the spirit of the present invention for those skilled in the art to which the present invention pertains. It will be appreciated that such substitutions, changes, and the like should be considered to be within the scope of the following claims.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 불량화소 보정장치 및 그 방법은, 영상 신호를 각각 3개의 화소로 이루어지는 제1, 제2 및 제3 라인으로 동시에 인가받아 이들의 중간 화소인 제2 라인의 중간 화소값을 주변 화소값 중 최소 화소값에 마진값을 감산 연산한 제1 연산값과 비교하고, 주변 화소값 중 최대 화소값에 마진값을 가산 연산한 제2 연산값과 비교하여 불량화소 여부를 판단함으로써, 경계 영역 및 불량화소를 정확히 검출함에 따라 이미지가 개선되어 불량화소 보정장치의 신뢰성이 향상되는 효과가 있다.As described above, the defective pixel correction device and the method according to the present invention are applied to the first, second and third lines composed of three pixels at the same time, the middle of the second line which is an intermediate pixel thereof. The pixel value is compared with the first operation value obtained by subtracting the margin value to the minimum pixel value among the peripheral pixel values, and the second operation value obtained by adding the margin value to the maximum pixel value of the peripheral pixel values to determine whether or not the defective pixel is present. By determining, the image is improved by accurately detecting the boundary area and the defective pixel, thereby improving the reliability of the defective pixel correcting device.

Claims (12)

외부로부터 인가되는 영상 신호의 제1 라인을 저장하는 제1 메모리;A first memory for storing a first line of an image signal applied from the outside; 상기 영상 신호의 제2 라인을 저장하는 제2 메모리;A second memory for storing a second line of the video signal; 상기 제1 및 제2 메모리에 저장되어 있는 영상 신호의 제1 및 제2 라인과 상기 영상 신호의 제3 라인을 동시에 인가받아 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값과 상기 제1 내지 제3 라인에서 상기 제2 라인의 중간 화소를 제외한 주변 화소의 화소값 중 최소 또는 최대 화소값에 사전에 설정된 마진값을 감산 또는 가산 연산한 제1 또는 제2 연산값을 비교하여 불량화소를 검출하는 불량화소 검출부; 및The first and second lines of the image signal and the third line of the image signal stored in the first and second memories are simultaneously applied to the pixel values of the intermediate pixels of the second line and the first to third lines. Defective pixels to detect defective pixels by comparing a first or second operation value obtained by subtracting or adding a preset margin value to a minimum or maximum pixel value of neighboring pixels except the middle pixel of the second line Detection unit; And 상기 불량화소 검출부에 의해 불량화소가 검출되면 상기 제1 또는 제2 연산값을 상기 불량화소에 대입하여 보정하는 불량화소 보정부;A defective pixel correction unit for correcting by substituting the first or second calculation value into the defective pixel when the defective pixel detection unit detects the defective pixel; 를 포함하는 불량화소 보정장치.Defective pixel correction device comprising a. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 불량화소 검출부는,The defective pixel detection unit, 상기 제1, 제2 및 제3 라인 중 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 상기 제1 연산값보다 작을 경우 상기 제2 라인의 중간 화소를 불량화소로 검출하는 것을 특징으로 하는 불량화소 보정장치.If the pixel value of the intermediate pixel of the second line among the first, second and third lines is smaller than the first operation value, the defective pixel correction of the intermediate pixel of the second line is detected as a defective pixel. Device. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 불량화소 검출부는,The defective pixel detection unit, 상기 제1, 제2 및 제3 라인 중 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 상기 제2 연산값보다 클 경우 상기 제2 라인의 중간 화소를 불량화소로 검출하는 것을 특징으로 하는 불량화소 보정장치.If the pixel value of the intermediate pixel of the second line among the first, second and third lines is larger than the second operation value, the defective pixel correction of the intermediate pixel of the second line is detected as a defective pixel. Device. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 불량화소 처리부는,The defective pixel processing unit, 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 상기 제1 연산값보다 작을 경우, 상기 제1 연산값을 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값에 대입하여 보정하는 것을 특징으로 하는 불량화소 보정장치.And when the pixel value of the intermediate pixel of the second line is smaller than the first operation value, correcting the first computed value by substituting the pixel value of the intermediate pixel of the second line. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 상기 제2 연산값보다 클 경우, 상기 제2 연산값을 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값에 대입하여 보정하는 것을 특징으로 하는 불량화소 보정장치.And correcting the second operation value by substituting the pixel value of the intermediate pixel of the second line when the pixel value of the intermediate pixel of the second line is larger than the second operation value. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 영상 신호는 이미지센서에 의해 촬상된 영상 신호인 것을 특징으로 하는 불량화소 보정장치.And the video signal is an image signal picked up by an image sensor. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제1, 제2 및 제3 라인은 각각 3개의 화소로 이루어진 것을 특징으로 하는 불량화소 보정장치.And the first, second and third lines are each composed of three pixels. a) 외부로부터 인가되는 영상 신호의 제1 라인을 저장하는 단계;a) storing a first line of an image signal applied from the outside; b) 상기 영상 신호의 제2 라인을 저장하는 단계;b) storing a second line of the video signal; c) 상기 저장된 제1 및 제2 라인과 상기 영상 신호의 제3 라인을 동시에 인가받는 단계;c) simultaneously applying the stored first and second lines and a third line of the image signal; d) 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 이를 제외한 화소의 화소값 중 최소 화소값에 사전에 설정된 마진값을 감산 연산한 제1 연산값보다 작은 값인지를 판단하는 단계;d) determining whether a pixel value of an intermediate pixel of the second line is smaller than a first operation value obtained by subtracting a preset margin value to a minimum pixel value among pixel values of the pixel other than this; e) 상기 d) 단계에서 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 상기 제1 연산값보다 클 경우, 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 이를 제외한 화소의 화소 값 중 최대 화소값에 상기 마진값을 가산 연산한 제2 연산값보다 큰 값인지를 판단하는 단계; 및e) when the pixel value of the intermediate pixel of the second line is greater than the first operation value in step d), the pixel value of the intermediate pixel of the second line is equal to the maximum pixel value of the pixel value of the pixel except for the above; Determining whether the margin value is greater than the second calculated value; And f) 상기 e) 단계에서 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 상기 제2 연산값보다 클 경우 상기 제2 연산값을 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값에 대입하여 불량화소를 보정하는 단계;f) correcting the defective pixel by substituting the second operation value with the pixel value of the intermediate pixel of the second line when the pixel value of the intermediate pixel of the second line is larger than the second operation value in step e). step; 를 포함하는 불량화소 보정방법.Defective pixel correction method comprising a. 제8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 d) 단계에서 상기 판단된 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 제1 연산값보다 작은 값일 경우 상기 제1 연산값을 상기 제2 라인의 중간 화소의 화소값에 대입하여 불량화소를 보정하는 것을 특징으로 하는 불량화소 보정방법.If the pixel value of the intermediate pixel of the second line determined in step d) is smaller than the first operation value, the defective pixel is corrected by substituting the first operation value with the pixel value of the intermediate pixel of the second line. Defective pixel correction method, characterized in that. 제8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 e) 단계에서 상기 판단된 제2 라인의 중간 화소의 화소값이 제2 연산값보다 작은 값일 경우 상기 제2 라인의 중간 화소를 정상적인 화소로 판단하여 보정하지 않고 출력하는 것을 특징으로 하는 불량화소 보정방법.If the pixel value of the intermediate pixel of the second line determined in step e) is smaller than the second operation value, the defective pixel of the second line is determined as a normal pixel and output without being corrected. Correction method. 제8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 영상 신호는 이미지센서에 의해 촬상된 영상 신호인 것을 특징으로 하는 불량화소 보정방법.And the video signal is an image signal captured by an image sensor. 제8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 제1, 제2 및 제3 라인은 각각 3개의 화소로 이루어진 것을 특징으로 하는 불량화소 보정방법.And the first, second, and third lines each comprise three pixels.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20010058492A (en) * 1999-12-30 2001-07-06 박종섭 Apparatus for real-time detecting and correcting defect pixels in image sensor
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010058492A (en) * 1999-12-30 2001-07-06 박종섭 Apparatus for real-time detecting and correcting defect pixels in image sensor
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