KR100837791B1 - 대전류용 프로브와 수용체의 결합구조 - Google Patents

Abstract

본 발명은 대전류와 프로브와 수용체의 결합구조에 관한 것으로서, 프로브의 결합이 용이하고 프로브를 안정적으로 고정시킴과 동시에 접촉면적을 증가시켜 전류흐름이 안정적으로 이루어지도록, 대전류용 프로브와 상기 프로브가 수용되는 수용체에 있어서 상기 프로브의 하부에 나사부가 형성되고 상기 수용체의 내부에 상기 나사부에 대응되는 너트부가 형성되어 상기 프로브와 수용체가 나사결합되는 것을 특징으로 하여, 나사결합을 이용하여 안정적이고 체결이 용이하고, 접촉면적을 증가시켜 열발생을 최소화하고 전류흐름이 안정적으로 이루어지며, 프로브의 수명을 향상시킬 수 있다.

프로브, 대전류, 반도체, 검사

Description

대전류용 프로브와 수용체의 결합구조{A contracting structure probe and receptacle for electric current of a large quantity}

도 1은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 프로브를 도시하는 정면도.

도 2는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 수용체를 도시하는 단면도.

도 3은 본 발명의 바람직한 일실시예에 프로브와 수용체가 결합된 것을 도시하는 단면도.

〈도면의 주요부분에 대한 부호의 설명〉

10:고정부재 100:프로브

102:나사부 110:플런져

120:탄성부 130:외통

132:파지부 140:접촉핀

200:수용체 202:너트부

210:수용부 220:접속구

222:나사

본 발명은 대전류용 프로브와 수용체의 결합구조에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 대전류용 프로브와 상기 프로브가 수용되는 수용체에 있어서, 상기 프로브의 하부에 나사부가 형성되고, 상기 수용체의 내부에 상기 나사부에 대응되는 너트부가 형성되어, 상기 프로브와 수용체가 나사결합되는 것을 특징으로 하는 대전류용 프로브와 수용체의 결합구조에 관한 것이다.

대전류용 프로브는 5A 이상에 해당되는 대용량의 전류를 통전시키기 위하여 사용되는 것으로, 미량의 전류로써 통전이 이루어지는 반도체 칩 검사용 프로브와 비교하여 전류의 안정적인 흐름경로 형성에 보다 비중을 둔 구조로 제작된다.

일반적으로 반도체 칩 검사용 프로브는 검사시험 시 코일스프링 및 코일스프링과 외통의 접촉부에 해당되는 극소면적의 경로를 통해 전류가 집중되어 흐르는 경우가 빈번하게 발생되는데, 5A 이하의 전류가 흐르게 될 경우 상기와 같이 극소경로를 통해 전류가 흐른다고 해도 프로브의 수명에 영향을 거의 끼치지 않으므로 탄성력을 보다 부여하는 등 접촉안정성을 위한 구조변형이 자유롭게 이루어지는 편이다.

이에 비해 대전류용 프로브는 5~500A 정도에 해당되는 대용량의 전류가 흐르게 되므로 전체적인 사이즈가 상기 반도체 칩 검사용 프로브보다 크며 코일스프링 및 극소접촉부를 통해 한곳으로 집중되어 흐르게 될 경우 상기 코일스프링 및 극소접촉부가 쉽게 열화됨에 따라 소재가 녹거나 열특성 변화가 발생되어 기계적인 작동이 제대로 이루어지지 않게 된다.

이러한 대전류용 프로브라도 반도체 칩 검사용과 마찬가지로 플런저를 탄성 유동시키기 위해 코일스프링을 수용결합시키는 구조가 불가피하게 하다.

특히, 대한민국 특허청에 출원된 20-2004-0022923호 등은 대전류용 프로브의 구조를 개선한 것이나 수용체에 결합되는 방법은 프로브 하부에 절곡수용홈을 형성시키고 수용체의 하부를 가압하여 절곡부를 형성시켜 결합하는 방법 등을 사용하여 결합방법이 복잡하고, 접촉면적의 불확실성으로 인하여 전류경로가 불안정하게 제공하고, 열화에 따른 부품의 파손이 빈번하게 발생되는 사용상의 문제점이 존재한다.

본 발명은 상기의 문제점들을 해결하기 위해서 안출된 것으로서, 본 발명은 간이한 구조를 채택하여 프로브와 이를 수용하는 수용체의 결합이 용이한 체결구조를 제공하는 데 그 목적이 있다.

또한, 본 발명의 또 다른 목적은 프로브를 수용체에 안정적으로 고정시키고 접촉면적을 증가시켜 열발생을 최소화하고 전류흐름이 안정적으로 이루어지고 프로브의 수명을 향상시킬 수 있는 프로브와 수용체의 결합구조를 제공하는 데 있다.

상기의 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 대전류용 프로브와 상기 프로브가 수용되는 수용체에 있어서, 상기 프로브의 하부에 나사부가 형성되고, 상기 수용체의 내부에 상기 나사부에 대응되는 너트부가 형성되어, 상기 프로브와 수용체가 나사결합되는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 프로브는 플런져와, 상기 플런져에 탄성력을 제공하는 탄성부와, 상기 탄성부를 수용하며 양측이 개구된 외통과, 상기 외통의 하부에 결합되는 접촉핀으로 구성되고, 상기 접촉핀의 외주면에는 상기 수용체에 결합되는 나사부가 형성되는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 외통은 외주면을 다각형으로 성형시킨 파지부가 형성되어 나사체결이 용이하도록 구성되는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 수용체는 상부에 상기 프로브의 일부를 수용하기 위한 양측이 개구된 중공의 수용부와; 하부에 상기 프로브와 나사결합되는 너트부가 형성된 접속구;로 구성되는 것을 특징으로 한다.

부가적으로, 상기 접속구는 상기 수용체를 소켓의 고정부재에 결합시키기 위한 나사가 하부에 형성되는 것을 특징으로 한다.

이하, 첨부된 도면을 참조로 하여 본 발명 대전류용 프로브와 수용체의 결합구조에 대해 보다 상세히 설명하기로 한다.

도 1 및 도 2은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 프로브를 도시하는 정면도 및 수용체를 도시하는 단면도이다.

도 3는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 수용체가 소켓의 고정부재에 결합된 것을 도시하는 단면도이다.

도시된 바와 같이 본 발명은 프로브(100)와 상기 프로브(100)가 수용되는 수용체(200)로 구성된다.

먼저 프로브에 대해 살펴보면, 상기 프로브(100)는 검사대상물에 접촉되는 플런져(110)와 상기 플런져(110)에 탄성력을 제공하는 탄성부(120)와 상기 탄성 부(120)를 수용하며 양측이 개구된 외통(130)과 상기 외통(130)의 하부에 결합되는 접촉핀(140)으로 구성되는 것이 바람직하다.

상기의 플런져(100)의 상부에는 접촉돌기가 형성되어 검사대상물에 접촉되며, 검사대상물에 접촉시 발생되는 압력은 하부의 탄성부(120)에 의해 탄성적으로 지지되며, 상기 탄성부(120)은 도시된 바와 같이 압축 코일 스프링을 이용하는 것이 바람직하다.

또한, 상기 외통(130)은 양단이 개구된 중공축 형상으로 제작되며, 각 단부에 상기 플런져(110)의 하단 일부 및 접촉핀(140)의 상단 일부가 수용되고, 내부에는 상기 탄성부(120)의 각 단부가 상기 플런져(110)와 접촉핀(140)의 단부에 연결되도록 하는 것이 바람직하다.

다만, 상기 외통(130)은 외주면을 삼각형 또는 사각형 이상의 다각형으로 성형시킨 파지부(132)가 형성되어 나사체결 시 용이하게 회전시킬 수 있게 구성되는 것이 바람직하다.

또한, 상기 외통(130)은 종래의 대전류용 프로브와 마찬가지로 외주면을 가압하여 상기 플런져(100)의 하부와 접촉핀(140)의 상부에 형성되는 걸럼턱과 결합시켜 상기 플런져(100)는 상방향으로 상기 접촉핀은 하방향으로 구속시킬 수 있도록 구성되는 것이 바람직하다.

상기 접촉핀(140)은 하부 외주면에 나사부(102)가 형성되어 상기 수용체(200)와 나사 결합되고, 상기 외통(130) 하부에 고정되어 전기적으로 연결된다.

다만, 상기 접촉핀(140)의 나사부(102)는 외통(130)의 파지부의 회전에 의해 감기거나 풀려지므로 접촉핀(140)은 상기 외통(130)에 단단하게 고정되는 것이 바람직하다.

다음으로 상기 수용체(200)에 대해 살펴보기로 한다.

상기 수용체(200)는 상기 프로브(100)의 하부를 일부 수용하여 소켓의 고정 부재에 고정시키는 역할을 하며, 상부에 상기 프로브의 일부를 수용하기 위한 일측이 개구된 중공의 수용부(210)와 하부에 상기 프로브와 나사결합되는 너트부(202)가 형성된 접속구(220)로 구성된다.

상기 수용부(210)는 일단이 개구된 중공의 원기동 형상을 가지며, 상기 프로브(100)의 하단부가 일부 수용되며, 상기 접속구(220)는 상기 프로브(100)와 나사결합되는 너트부(202)가 상단부에 형성된다.

또한, 상기 접속구(220)는 수용체를 소켓의 고정부재(10)에 결합시키기 위한 나사(222)가 하부에 형성되어 소켓에 형성되는 너트와 나사 결합되도록 하는 것이 바람직하다.

이하 본 발명의 구체적인 사용태양을 살펴보기로 한다.

먼저, 수용체의 하부에 형성되는 나사를 이용하여 소켓의 고정부재에 고정시키고, 대전류용 프로브를 상기 수용체에 형성되는 너트부와 나사결합시키게 된다. 이때 프로브 상부에 형성되는 파지부를 이용하여 쉽게 프로브를 회전시킬 수 있어 수용체와 결합을 용이하게 체결할 수 있다.

부가적으로, 프로브의 체결 작업이 용이하도록 상기 파지부에 적합한 렌찌를 이용하여 상기 프로브를 회전시키는 방법을 사용하는 것이 바람직하며, 따라서 종 래방식에 비해 작업효율성을 향상시킬 수 있다.

상기와 같은 간단한 작업을 통해 프로브와 수용체를 용이하게 결합할 수 있으며, 종래의 체결방법보다 견고하고, 나사부와 너트부의 결합으로 접촉면적이 증가되는 나사 체결을 이용하므로 검사 시 프로브와 수용체간의 안정적인 전류의 흐름을 제공할 수 있어 열발생을 최소화할 수 있다.

이상과 같이 본 발명은 상기 프로브와 수용체가 나사결합되는 것을 특징으로 하는 대전류용 프로브와 수용체의 체결구조를 제공하는 것을 기본적인 기술적인 사상으로 하고 있음을 알 수 있으며, 이와 같은 본 발명의 기본적인 사상의 범주내에서, 당업계의 통상의 지식을 가진자에게 있어서는 다른 많은 변형이 가능함은 물론이다.

이상에서 상술한 바와 같이 본 발명은 프로브를 수용체와 나사결합시켜 체결이 용이하면서도 안정적인 체결 구조를 제공할 수 있는 장점이 있다.

또한, 본 발명은 나사결합을 이용한 안정적인 체결 구조를 제공하여 접촉면적을 증가시켜 접촉저항을 줄여 열발생을 최소화하고 전류흐름이 안정적으로 이루어지고 프로브 자체 수명을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.

Claims (5)

1. 삭제
2. 삭제
3. 대전류용 프로브와 상기 프로브가 수용되는 수용체에 있어서,

   상기 프로브는,

   플런져와, 상기 플런져에 탄성력을 제공하는 탄성부와, 상기 탄성부를 수용하며 양측이 개구된 외통과, 상기 외통의 하부에 결합되는 접촉핀으로 구성되고, 상기 접촉핀의 외주면에는 상기 수용체에 결합되는 나사부가 형성되고,

   상기 수용체는,

   내부에 상기 나사부에 대응되는 너트부가 형성되어, 상기 프로브와 수용체가 나사결합되되,

   상기 외통은,

   외주면을 다각형으로 성형시킨 파지부가 형성되어 나사체결이 용이하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 대전류용 프로브와 수용체의 결합구조.
4. 제 3 항에 있어서,

   상기 수용체는,

   상부에 상기 프로브의 일부를 수용하기 위한 양측이 개구된 중공의 수용부와;

   하부에 상기 프로브와 나사결합되는 너트부가 형성된 접속구;로 구성되는 것을 특징으로 하는 대전류용 프로브와 수용체의 결합구조.
5. 제 4 항에 있어서,

   상기 접속구는,

   상기 수용체를 소켓의 고정부재에 결합시키기 위한 나사가 하부에 형성되는 것을 특징으로 하는 대전류용 프로브와 수용체의 결합구조.

Images