KR100822194B1 - Method of aging Electro-Luminescence display panel wherein voltage of pulse waveform is applied - Google Patents
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Abstract
본 발명은, 전계발광 표시 패널의 어느 한 데이터 전극 라인과 어느 한 주사 전극 라인 사이에서 발생되는 저항성 단락 부위를 전류의 흐름으로써 절단하거나 검출하기 위하여, 모든 데이터 전극 라인들과 주사 전극 라인들 사이에 소정의 시간 동안에 소정의 전압을 인가하는 전계발광 표시 패널의 에이징 방법이다. 여기서, 모든 데이터 전극 라인들과 주사 전극 라인들 사이에 제1 전압과 상기 제1 전압보다 낮은 제2 전압이 주기적으로 교번하는 펄스 파형의 전압이 인가된다.The present invention provides a method for cutting or detecting a resistance short-circuited portion generated between one data electrode line and one scan electrode line of an electroluminescent display panel by a current flow, between all data electrode lines and scan electrode lines. An aging method of an electroluminescent display panel that applies a predetermined voltage for a predetermined time. Here, a voltage of a pulse waveform in which a first voltage and a second voltage lower than the first voltage are alternately applied is applied between all data electrode lines and the scan electrode lines.
Description
도 1은 종래의 전계발광 표시 패널의 에이징 방법에 따른 에이징 장치를 보여주는 블록도이다.1 is a block diagram illustrating an aging apparatus according to an aging method of a conventional electroluminescent display panel.
도 2는 본 발명의 전계발광 표시 패널의 에이징 방법에 따른 에이징 장치를 보여주는 블록도이다.2 is a block diagram illustrating an aging apparatus according to an aging method of an electroluminescent display panel of the present invention.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따라 도 2의 장치의 펄스 발생기들로부터 전계발광 표시 패널들의 모든 주사 전극 라인들에 인가되는 전위의 파형도이다.3 is a waveform diagram of a potential applied to all scan electrode lines of the electroluminescent display panels from the pulse generators of the apparatus of FIG. 2 according to the first embodiment of the present invention.
도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따라 도 2의 장치의 펄스 발생기들로부터 전계발광 표시 패널들의 모든 주사 전극 라인들에 인가되는 전위의 파형도이다.4 is a waveform diagram of a potential applied to all scan electrode lines of electroluminescent display panels from the pulse generators of the device of FIG. 2 according to a second embodiment of the present invention.
도 5는 본 발명의 제3 실시예에 따라 도 2의 장치의 펄스 발생기들로부터 전계발광 표시 패널들의 모든 주사 전극 라인들에 인가되는 전위의 파형도이다.FIG. 5 is a waveform diagram of a potential applied to all scan electrode lines of electroluminescent display panels from the pulse generators of the device of FIG. 2 in accordance with a third embodiment of the present invention.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
1...개인용 컴퓨터, 2a,2b...병렬 인터페이스 보드,1 ... personal computer, 2a, 2b ... parallel interface board,
IFC...인터페이스 케이블, 3a,3b...전원 공급기, IFC ... interface cable, 3a, 3b ... power supply,
JIG1,...,JIG4...연결 지그, ELD1,...,ELD4...전계발광 표시 패널, JIG1, ..., JIG4 ... connection jig, ELD1, ..., ELD4 ... electroluminescent display panel,
S1,...,Sn...주사 전극 라인들, D1,...,Dm...데이터 전극 라인들,S 1 , ..., S n ... scan electrode lines, D 1 , ..., D m ... data electrode lines,
5a,5b...펄스 발생기.5a, 5b ... pulse generator.
본 발명은, 전계발광 표시 패널의 에이징(aging) 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 전계발광 표시 패널의 어느 한 데이터 전극 라인과 어느 한 주사 전극 라인 사이에서 발생되는 저항성 단락 부위를 전류의 흐름으로써 절단하거나 검출하기 위하여, 모든 데이터 전극 라인들과 주사 전극 라인들 사이에 소정의 시간 동안에 소정의 전압을 인가하는 에이징 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
도 1을 참조하면, 종래의 전계발광 표시 패널의 에이징 방법에 따른 에이징 장치는 개인용 컴퓨터(1), 병렬 인터페이스 보드들(2a,2b), 인터페이스 케이블(IFC), 전원 공급기들(3a,3b) 및 연결 지그들(JIG1,...,JIG4)을 포함한다. Referring to FIG. 1, an aging apparatus according to an aging method of a conventional electroluminescent display panel includes a
사용자의 조작에 의하여 개인용 컴퓨터(1)로부터 발생되는 제어 신호는 병렬 인터페이스 보드들(2a,2b)과 인터페이스 케이블(IFC)을 통하여 각각의 전원 공급기(3a,3b)의 동작을 제어한다. 이에 따라 전원 공급기들(3a,3b)은 에이징을 위한 직류 전압을 출력한다. 전원 공급기들(3a,3b)의 출력 단자들(+,-)로부터의 직류 전압은 연결 지그들(JIG1,...,JIG4)을 통하여 전계발광 표시 패널들 (ELD1,...,ELD4)의 모든 주사 전극 라인들(S1,...,Sn)과 모든 데이터 전극 라인들(D1,...,Dm) 사이에 설정 시간 동안 인가된다. 예를 들어, 모든 데이터 전극 라인들 (D1,...,Dm)에 정극성 전위가 인가되고, 모든 주사 전극 라인들(S1,...,S
n)에 접지 전위가 인가된다. 이러한 에이징 동작 상태는 전원 공급기들(3a,3b)로부터 인터페이스 보드들(2a,2b)과 인터페이스 케이블(IFC)을 통하여 개인용 컴퓨터(1)에 보고된다. 따라서, 사용자는 개인용 컴퓨터(1)를 통하여 에이징 동작 상태를 모니터링 및 제어할 수 있다. The control signal generated from the
요약하면, 전계발광 표시 패널들(ELD1,...,ELD4)의 모든 주사 전극 라인들(S1,...,Sn)과 모든 데이터 전극 라인들(D1,...,Dm) 사이에 소정의 직류 전압이 소정의 설정 시간 동안 인가된다. 이에 따라, 전계발광 표시 패널의 어느 한 데이터 전극 라인과 어느 한 주사 전극 라인 사이에서 저항성 단락이 발생되는 경우, 저항성 단락 부위를 전류의 흐름으로써 절단하거나 검출할 수 있다. 하지만, 이와 같은 종래의 에이징 방법에 의하면, 일정한 직류 전압이 인가됨으로 인하여 다음과 같은 문제점들이 있다.In summary, all scan electrode lines S 1 , ..., S n and all data electrode lines D 1 , ..., D m of the electroluminescent display panels ELD1,..., ELD4. A predetermined DC voltage is applied for a predetermined set time between the < RTI ID = 0.0 > Accordingly, when a resistive short circuit occurs between one data electrode line and one scan electrode line of the electroluminescent display panel, the resistive short circuit portion may be cut or detected by the flow of current. However, according to the conventional aging method, there are the following problems due to the constant DC voltage is applied.
첫째, 저항성 단락 부위에 변하지 않는 양의 에너지가 인가되므로, 저항성 단락 부위가 받는 충격량이 상대적으로 적다. 따라서, 저항성 단락 부위의 절단 또는 검출 성능이 상대적으로 낮다.First, since an unchanged amount of energy is applied to the resistive short circuit site, the amount of impact received by the resistive short circuit site is relatively small. Therefore, the cutting or detecting performance of the resistance short-circuit site is relatively low.
둘째, 일정한 전압이 모든 전계발광 셀들에 지속적으로 인가됨에 의하여, 정상적인 전계발광 셀들이 손상되거나 그 수명이 단축된다.Second, by applying a constant voltage to all of the electroluminescent cells, normal electroluminescent cells are damaged or their life is shortened.
그리고 셋째, 일정한 전압이 모든 전계발광 셀들에 지속적으로 인가됨에 의 하여, 에이징을 위한 소비 전력이 상대적으로 높다. And third, since a constant voltage is continuously applied to all the electroluminescent cells, power consumption for aging is relatively high.
본 발명의 목적은, 전계발광 표시 패널의 에이징 방법에 있어서, 저항성 단락 부위의 절단 또는 검출 성능을 높이고, 정상적인 전계발광 셀들에 미치는 영향을 최소화하며, 에이징을 위한 소비 전력을 최소화할 수 있는 에이징 방법을 제공하는 것이다.An object of the present invention, in the aging method of the electroluminescent display panel, to improve the cutting or detection performance of the resistive short-circuit area, to minimize the impact on the normal electroluminescent cells, and to minimize the power consumption for aging To provide.
상기 목적을 이루기 위한 본 발명은, 전계발광 표시 패널의 어느 한 데이터 전극 라인과 어느 한 주사 전극 라인 사이에서 발생되는 저항성 단락 부위를 전류의 흐름으로써 절단하거나 검출하기 위하여, 모든 데이터 전극 라인들과 주사 전극 라인들 사이에 소정의 시간 동안에 소정의 전압을 인가하는 전계발광 표시 패널의 에이징 방법이다. 여기서, 상기 모든 데이터 전극 라인들과 주사 전극 라인들 사이에 제1 전압과 상기 제1 전압보다 낮은 제2 전압이 주기적으로 교번하는 펄스 파형의 전압이 인가된다.In order to achieve the above object, the present invention provides a method for cutting or detecting a resistance short-circuited portion generated between one data electrode line and one scan electrode line of an electroluminescent display panel by a current flow. An aging method of an electroluminescent display panel which applies a predetermined voltage between electrode lines for a predetermined time. Here, a voltage of a pulse waveform in which a first voltage and a second voltage lower than the first voltage are alternately applied is applied between all the data electrode lines and the scan electrode lines.
이에 따라, 다음과 같은 효과들을 얻을 수 있다.Accordingly, the following effects can be obtained.
첫째, 저항성 단락 부위에 주기적으로 변하는 양의 에너지가 인가되므로, 저항성 단락 부위가 받는 충격량이 상대적으로 크다. 따라서, 저항성 단락 부위의 절단 또는 검출 성능이 상대적으로 높다.First, since a variable amount of energy is periodically applied to the resistive short circuit site, the amount of impact received by the resistive short circuit site is relatively large. Therefore, the cutting or detecting performance of the resistance short-circuit site is relatively high.
둘째, 높은 전압과 낮은 전압이 주기적으로 교번하면서 전계발광 셀들에 인가되므로, 정상적인 전계발광 셀들이 손상되지 않고 수명도 단축되지 않는다.Second, since the high voltage and the low voltage are applied to the electroluminescent cells with periodic alternation, normal electroluminescent cells are not damaged and their life is not shortened.
그리고 셋째, 높은 전압과 낮은 전압이 주기적으로 교번하면서 전계발광 셀 들에 인가되므로, 에이징을 위한 소비 전력이 상대적으로 낮다. And thirdly, since the high voltage and the low voltage are applied to the electroluminescent cells alternately periodically, the power consumption for aging is relatively low.
이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예가 상세히 설명된다. Hereinafter, preferred embodiments according to the present invention will be described in detail.
도 2를 참조하면, 본 발명의 전계발광 표시 패널의 에이징 방법에 따른 에이징 장치는 개인용 컴퓨터(1), 병렬 인터페이스 보드들(2a,2b), 인터페이스 케이블(IFC), 펄스 발생기들(5a,5b) 및 연결 지그들(JIG1,...,JIG4)을 포함한다. Referring to FIG. 2, the aging apparatus according to the aging method of the electroluminescent display panel of the present invention may include a
사용자의 조작에 의하여 개인용 컴퓨터(1)로부터 발생되는 제어 신호는 병렬 인터페이스 보드들(2a,2b)과 인터페이스 케이블(IFC)을 통하여 각각의 펄스 발생기(5a,5b)의 동작을 제어한다. 이에 따라 펄스 발생기들(5a,5b)은 높은 전압과 낮은 전압이 주기적으로 교번하는 펄스 파형의 전압을 출력한다. 펄스 발생기들(5a,5b)의 출력 단자들(OUT,GND)로부터의 펄스 파형의 전압은 연결 지그들(JIG1,...,JIG4)을 통하여 전계발광 표시 패널들 (ELD1,...,ELD4)의 모든 주사 전극 라인들(S1,...,Sn)과 모든 데이터 전극 라인들(D1,...,Dm
) 사이에 설정 시간 동안 인가된다. 보다 상세하게는, 모든 데이터 전극 라인들(D1,...,Dm)에 0 볼트(V)의 접지 전위가 인가되고, 모든 주사 전극 라인들(S1,...,Sn)에 낮은 전위와 높은 전위가 주기적으로 교번하는 펄스 파형의 전위가 인가된다. 이러한 에이징 동작 상태는 펄스 발생기들(5a,5b)로부터 인터페이스 보드들(2a,2b)과 인터페이스 케이블(IFC)을 통하여 개인용 컴퓨터(1)에 보고된다. 따라서, 사용자는 개인용 컴퓨터(1)를 통하여 에이징 동작 상태를 모니터링 및 제어할 수 있다. The control signal generated from the
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따라 도 2의 장치의 펄스 발생기들(5a,5b)로 부터 전계발광 표시 패널들(도 2의 ELD1,...,ELD4)의 모든 주사 전극 라인들(도 2의 S1,...,Sn)에 인가되는 전위의 파형을 보여준다. 도 3을 참조하면, 모든 주사 전극 라인들(S1,...,Sn)에 15 볼트(V)의 정극성 전위와 -15 볼트(V)의 부극성 전위가 주기적으로 교번하는 펄스 파형의 전위가 인가된다. 여기서, 모든 데이터 전극 라인들(도 2의 D1,...,Dm)에 0 볼트(V)의 접지 전위가 인가된다(도 2 참조). 따라서, 모든 데이터 전극 라인들(D1,...,Dm)과 모든 주사 전극 라인들(S1,...,S
n) 사이에 15 볼트(V)의 정극성 전압과 -15 볼트(V)의 부극성 전압이 주기적으로 교번하는 펄스 파형의 전압이 인가된다. 3 shows all the scan electrode lines of the electroluminescent display panels (ELD1, ..., ELD4 of FIG. 2) from the
도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따라 도 2의 장치의 펄스 발생기들(5a,5b)로부터 전계발광 표시 패널들(도 2의 ELD1,...,ELD4)의 모든 주사 전극 라인들(도 2의 S1,...,Sn)에 인가되는 전위의 파형을 보여준다. 도 4를 참조하면, 모든 주사 전극 라인들(S1,...,Sn)에 15 볼트(V)의 정극성 전위와 0 볼트(V)의 접지 전위가 주기적으로 교번하는 펄스 파형의 전위가 인가된다. 여기서, 모든 데이터 전극 라인들(도 2의 D1,...,Dm)에 0 볼트(V)의 접지 전위가 인가된다(도 2 참조). 따라서, 모든 데이터 전극 라인들(D1,...,Dm)과 모든 주사 전극 라인들(S1,...,Sn
) 사이에 15 볼트(V)의 정극성 전압과 0 볼트(V)의 접지 전압이 주기적으로 교번하는 펄스 파형의 전압이 인가된다.4 shows all the scan electrode lines of the electroluminescent display panels ELD1, ELD4 of FIG. 2 from the
도 5는 본 발명의 제3 실시예에 따라 도 2의 장치의 펄스 발생기들(5a,5b)로 부터 전계발광 표시 패널들(도 2의 ELD1,...,ELD4)의 모든 주사 전극 라인들(도 2의 S1,...,Sn)에 인가되는 전위의 파형을 보여준다. 도 4를 참조하면, 모든 주사 전극 라인들(S1,...,Sn)에 -15 볼트(V)의 부극성 전위와 0 볼트(V)의 접지 전위가 주기적으로 교번하는 펄스 파형의 전위가 인가된다. 여기서, 모든 데이터 전극 라인들(도 2의 D1,...,Dm)에 0 볼트(V)의 접지 전위가 인가된다(도 2 참조). 따라서, 모든 데이터 전극 라인들(D1,...,Dm)과 모든 주사 전극 라인들(S1,...,Sn
) 사이에 -15 볼트(V)의 부극성 전압과 0 볼트(V)의 접지 전압이 주기적으로 교번하는 펄스 파형의 전압이 인가된다.5 shows all the scan electrode lines of the electroluminescent display panels (ELD1, ..., ELD4 of FIG. 2) from the
이상 설명된 바와 같이, 본 발명에 따른 전계발광 표시 패널의 에이징 방법에 의하면, 모든 데이터 전극 라인들과 주사 전극 라인들 사이에 높은 전압과 낮은 전압이 주기적으로 교번하는 펄스 파형의 전압이 인가됨에 따라, 다음과 같은 효과들을 얻을 수 있다.As described above, according to the aging method of the electroluminescent display panel according to the present invention, as a voltage of a pulse waveform in which a high voltage and a low voltage are alternated periodically is applied between all data electrode lines and the scan electrode lines. The following effects can be obtained.
첫째, 저항성 단락 부위에 주기적으로 변하는 양의 에너지가 인가되므로, 저항성 단락 부위가 받는 충격량이 상대적으로 크다. 따라서, 저항성 단락 부위의 절단 또는 검출 성능이 상대적으로 높다.First, since a variable amount of energy is periodically applied to the resistive short circuit site, the amount of impact received by the resistive short circuit site is relatively large. Therefore, the cutting or detecting performance of the resistance short-circuit site is relatively high.
둘째, 높은 전압과 낮은 전압이 주기적으로 교번하면서 전계발광 셀들에 인가되므로, 정상적인 전계발광 셀들이 손상되지 않고 수명도 단축되지 않는다.Second, since the high voltage and the low voltage are applied to the electroluminescent cells with periodic alternation, normal electroluminescent cells are not damaged and their life is not shortened.
그리고 셋째, 높은 전압과 낮은 전압이 주기적으로 교번하면서 전계발광 셀 들에 인가되므로, 에이징을 위한 소비 전력이 상대적으로 낮다. And thirdly, since the high voltage and the low voltage are applied to the electroluminescent cells alternately periodically, the power consumption for aging is relatively low.
본 발명은, 상기 실시예에 한정되지 않고, 청구범위에서 정의된 발명의 사상 및 범위 내에서 당업자에 의하여 변형 및 개량될 수 있다.The present invention is not limited to the above embodiments, but may be modified and improved by those skilled in the art within the spirit and scope of the invention as defined in the claims.
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