KR100809595B1 - Thin film heater and method for fabricating the same - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 42
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 39
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 58
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 35
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims abstract description 21
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims abstract description 17
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims abstract description 9
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 18
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims description 11
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 11
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 7
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 claims description 6
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 abstract 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 3
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02225—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer
- H01L21/0226—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process
- H01L21/02263—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process deposition from the gas or vapour phase
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/28—Manufacture of electrodes on semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/268
- H01L21/283—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current
- H01L21/288—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a liquid, e.g. electrolytic deposition
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/324—Thermal treatment for modifying the properties of semiconductor bodies, e.g. annealing, sintering
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67248—Temperature monitoring
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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Abstract
Description
도 1은 본 발명에 따른 박막 히터를 개략적으로 나타내는 도면이다.1 is a view schematically showing a thin film heater according to the present invention.
도 2는 본 발명에 따른 박막 히터를 제조하는 방법을 나타내는 흐름도이다.2 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a thin film heater according to the present invention.
도 3은 본 발명에 따른 박막 히터를 나타내는 평면도이다.3 is a plan view showing a thin film heater according to the present invention.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Main Parts of Drawings>
10 : 베이스 기판 20 : 증착촉진층10: base substrate 20: deposition promotion layer
30 : 버퍼층 40 : 씨드층30: buffer layer 40: seed layer
50 : 발열층 60 : 센서층50: heating layer 60: sensor layer
70 : 절연층70: insulation layer
본 발명은 박막 히터 및 박막 히터를 제조하는 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 균일한 두께의 발열층을 가지는 박막 히터 및 박막 히터를 제조하는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a thin film heater and a method for manufacturing a thin film heater, and more particularly, to a thin film heater and a method for manufacturing a thin film heater having a heating layer of uniform thickness.
일반적으로 반도체 소자를 제조하기 위해서는 세정, 증착, 포토 리소그래피, 에칭, 그리고 이온주입 등과 같은 다양한 공정이 수행된다. 패턴을 형성하기 위해 수행되는 포토 리소그래피 공정은 반도체 소자의 고집적화를 이루는데 중요한 역할을 수행한다.In general, various processes such as cleaning, deposition, photolithography, etching, and ion implantation are performed to manufacture a semiconductor device. Photolithography processes performed to form patterns play an important role in achieving high integration of semiconductor devices.
포토 리소그래피 공정을 수행하는 시스템은 도포 유닛, 노광 유닛, 현상 유닛, 그리고 베이크 유닛들을 포함하며, 웨이퍼는 베이크 유닛, 도포 유닛, 베이크 유닛, 노광 유닛, 베이크 유닛, 현상 유닛, 그리고 베이크 유닛을 순차적으로 이동되면서 공정이 수행된다.A system for performing a photolithography process includes an application unit, an exposure unit, a development unit, and a baking unit, and the wafer sequentially processes the baking unit, the application unit, the baking unit, the exposure unit, the baking unit, the developing unit, and the baking unit. The process is performed while moving.
베이크 유닛은 웨이퍼를 가열하는 가열 부재와 웨이퍼를 냉각하는 냉각 부재를 가진다. 가열 부재는 웨이퍼가 놓여지는 가열 플레이트를 가지며, 가열 플레이트를 이용하여 웨이퍼를 기설정된 온도로 가열한다.The baking unit has a heating member for heating the wafer and a cooling member for cooling the wafer. The heating member has a heating plate on which the wafer is placed, and uses the heating plate to heat the wafer to a predetermined temperature.
그러나, 종래의 가열 플레이트는 다음과 같은 문제점이 있다.However, the conventional heating plate has the following problems.
종래의 가열 플레이트는 기판의 일측면에 소정 형상의 발열체를 프린트하여 발열패턴을 형성하며, 이를 이용하여 웨이퍼를 가열하였다. 그러나, 프린트에 의하여 발열패턴을 형성하면, 발열패턴은 위치에 따라 서로 다른 두께 및 모양을 가지게 되며, 이로 인하여 발열패턴들의 발열량은 위치에 따라 서로 달랐다. 따라서, 종래의 가열 플레이트는 전면에서 균일한 온도를 방출하기 어려웠다.The conventional heating plate forms a heating pattern by printing a heating element having a predetermined shape on one side of the substrate, and the wafer is heated using the heating plate. However, when the heat generation pattern is formed by printing, the heat generation patterns have different thicknesses and shapes according to positions, and thus the heat generation patterns of the heat generation patterns differ from each other according to the positions. Therefore, the conventional heating plate has been difficult to discharge uniform temperature from the front side.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 균일한 두께의 발열패턴이 형성된 박막 히터 및 박막 히터를 제조하는 방법을 제공하는 데 있다.The present invention is to solve the above-described problems, an object of the present invention to provide a thin film heater and a method for manufacturing a thin film heater is formed a heating pattern of uniform thickness.
본 발명의 다른 목적은 히터의 전면에서 균일하게 열을 방출할 수 있는 박막 히터 및 박막 히터를 제조하는 방법을 제공하는 데 있다.Another object of the present invention is to provide a thin film heater and a method for manufacturing the thin film heater that can emit heat uniformly in front of the heater.
본 발명에 의하면, 박막 히터는 베이스 기판과, 상기 베이스 기판의 상부에 형성되며 외부로부터 인가된 전원에 의하여 열을 방출하는 발열층과, 상기 발열층과 상기 기판 사이에 개재되며 도금에 의하여 발열층이 일면에 형성되기 위한 전극 역할을 하는 씨드층을 포함한다.According to the present invention, the thin film heater is formed on the base substrate, the heat generating layer that emits heat by the power applied from the outside, and the heat generating layer interposed between the heat generating layer and the substrate and is plated It includes a seed layer that serves as an electrode to be formed on one surface.
상기 박막 히터는 상기 씨드층과 상기 베이스 기판의 사이에 개재되어 상기 씨드층을 상기 베이스 기판의 상부에 고정하는 버퍼층을 더 포함할 수 있다.The thin film heater may further include a buffer layer interposed between the seed layer and the base substrate to fix the seed layer to an upper portion of the base substrate.
상기 박막 히터는 상기 베이스 기판의 상부면에 형성되며, 상부에 막이 증착되는 것을 돕는 증착촉진층을 더 포함할 수 있다.The thin film heater may further include a deposition promotion layer formed on an upper surface of the base substrate and helping to deposit a film thereon.
상기 박막 히터는 상기 발열층의 상부에 형성되며, 상기 발열층의 온도를 측정하기 위한 센서층을 더 포함할 수 있다.The thin film heater may be formed on the heating layer, and may further include a sensor layer for measuring the temperature of the heating layer.
상기 박막 히터는 상기 발열층의 상부에 형성되며, 상기 발열층에 형성된 발열패턴 사이를 절연하기 위한 절연층을 더 포함할 수 있다.The thin film heater may further include an insulating layer formed on an upper portion of the heat generating layer to insulate between the heat generating patterns formed on the heat generating layer.
본 발명에 의하면, 박막 히터를 제조하는 방법은 베이스 기판의 상부에 발열층을 도금하는 단계를 포함한다.According to the present invention, a method of manufacturing a thin film heater includes plating a heating layer on an upper portion of a base substrate.
상기 방법은 상기 베이스 기판의 상부에 씨드층을 형성하는 단계를 더 포함하며, 상기 씨드층을 전극으로 하여 상기 씨드층의 상부에 상기 발열층을 도금할 수 있다.The method may further include forming a seed layer on the base substrate, and plating the heating layer on the seed layer using the seed layer as an electrode.
상기 방법은 상기 베이스 기판과 상기 씨드층의 사이에 버퍼층을 형성하는 단계를 더 포함하되, 상기 씨드층은 스퍼터링에 의하여 상기 버퍼층의 상부에 형성될 수 있다.The method further includes forming a buffer layer between the base substrate and the seed layer, wherein the seed layer may be formed on top of the buffer layer by sputtering.
상기 방법은 상기 베이스 기판의 상부에 증착촉진층을 형성하는 단계를 더 포함하되, 상기 버퍼층은 스퍼터링에 의하여 상기 증착촉진층의 상부에 형성될 수 있다.The method may further include forming a deposition promotion layer on the base substrate, wherein the buffer layer may be formed on the deposition promotion layer by sputtering.
상기 방법은 상기 발열층을 도금하는 단계 이후에, 상기 발열층의 상부에 포토레지스트 막을 형성하는 단계와, 원하는 발열패턴이 형성된 마스크를 이용하여 상기 포토레지스트 막을 노광하는 단계와, 상기 발열층을 에칭하는 단계와, 상기 포토레지스트 막을 제거하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method includes forming a photoresist film on top of the heat generating layer after the plating of the heat generating layer, exposing the photoresist film using a mask having a desired heat generating pattern, and etching the heat generating layer. And removing the photoresist film.
상기 방법은 상기 발열층의 상부에 상기 발열층의 온도를 측정하기 위한 센서층을 형성하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method may further comprise forming a sensor layer on top of the heat generating layer for measuring the temperature of the heat generating layer.
상기 방법은 상기 발열층에 형성된 발열패턴 사이를 절연하기 위한 절연층을 상기 발열층의 상부에 형성하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method may further include forming an insulating layer on the heating layer to insulate the heating patterns formed on the heating layer.
상기 절연층은 플라스마 강화 화학 기상 증착법(Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition:PECVD)에 의하여 형성될 수 있다.The insulating layer may be formed by plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD).
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도 1 내지 도 2를 참고하여 더욱 상세히 설명한다. 본 발명의 실시예는 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 설명하는 실시예에 한정되는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 실시예는 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 상세하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서 도면에 나타난 각 요소의 형상은 보다 분명한 설명을 강조하기 위하여 과장될 수 있다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to FIGS. 1 to 2. Embodiment of the present invention may be modified in various forms, the scope of the present invention should not be construed as limited to the embodiments described below. This embodiment is provided to explain in detail the present invention to those skilled in the art. Accordingly, the shape of each element shown in the drawings may be exaggerated to emphasize a more clear description.
이하에서는 기판의 일례로 웨이퍼(W)를 들어 설명하나, 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 또한, 어떤 막이 다른 막 또는 웨이퍼 상에 있다고 설명하는 경우 이는 다른 막 또는 기판 상에 직접 형성될 수 있거나 그들 사이에 제3의 막이 개재될 수도 있다는 것을 의미한다.Hereinafter, the wafer W will be described as an example of the substrate, but the present invention is not limited thereto. In addition, when describing that a film is on another film or wafer, this means that it may be formed directly on another film or substrate, or a third film may be interposed therebetween.
도 1은 본 발명에 따른 박막 히터(1)를 개략적으로 나타내는 도면이며, 도 2는 본 발명에 따른 박막 히터(1)를 제조하는 방법을 나타내는 흐름도이다.1 is a view schematically showing a
먼저, 베이스 기판(10)을 준비한다. 베이스 기판(10)으로는 탄화규소(SiC) 성분을 사용하며, 이외에도 세라믹 계열의 질화알루미늄(AlN) 및 알루미나(Al2O3)를 사용할 수 있다.First, the
다음, 베이스 기판(10)의 상부에 증착촉진층(20)을 증착한다(S10). 증착촉진층(20)은 후술하는 스퍼터링(sputtering) 공정을 위하여 증착된다. 앞서 설명한 세라믹 계열의 베이스 기판(10) 상에는 스퍼터링이 잘 이루어지지 않는다. 따라서, 스퍼터링에 의하여 버퍼층(30)을 증착하기 위하여 베이스 기판(10)의 상부에 증착촉진층(20)을 증착한다.Next, the
증착촉진층(20)으로는 실리콘 질화막(Si3N4)을 사용하며, 증착촉진층(20)은 실란(silane)(SiH4)과 암모니아(NH3), 수소(H2)를 약 700℃ 이상의 고온과 150mTorr의 진공압 상에서 증착되며, 약 5000 옹스트롬의 두께로 증착된다.As the
다음, 증착촉진층(20)의 상부에 버퍼층(30)을 스퍼터링에 의하여 증착한다(S20). 스퍼터링은 스퍼터링 가스를 진공분위기로 이루어진 챔버 내로 주입하여 증착하고자 하는 목표물질과 충돌시켜 플라스마를 생성시킨 후 이를 기판에 코팅시키는 방법이다.Next, the
버퍼층(30)은 후술하는 씨드층(40)을 베이스 기판(10)의 상부에 고정하는 역할과, 씨드층(40)과 증착촉진층(20) 사이의 스트레스를 완충하는 역할을 한다. 버퍼층(30)으로는 지르코니아(ZrO2)를 사용하며, 10-7Torr에서 약 5,000 옹스트롬의 두께로 증착한다.The
다음, 버퍼층(30)의 상부에 씨드층(40)을 스퍼터링에 의하여 증착한다(S30). 씨드층(40)은 도금을 위한 전극 역할을 하며, 도금에 의하여 씨드층(40)의 상부에는 후술하는 발열층(50)이 형성된다. 씨드층(40)으로는 티타늄(Ti)을 사용하며, 버퍼층(30)과 동일한 기압에서 약 3,000 옹스트롬의 두께로 증착한다.Next, the
다음, 씨드층(40)의 상부에 발열층(50)을 도금한다(S40). 도금은 일반적으로 금속 표면에 다른 금속 또는 합금의 얇은 층을 입히는 것을 말하며, 일반적으로 도금이라고 하면 전기도금을 말한다. 씨드층(40)을 전극으로 이용하여 씨드층(40)의 상부에 발열층(50)을 도금한다. 발열층(50)으로는 텅스텐(W)이나 몰리브덴(Mo), 크롬(Cr)이 사용되며, 발열층(50)은 약 7㎛의 두께를 가진다.Next, the
다음, 발열층(50)에 발열패턴을 형성한다(S50). 발열패턴을 형성하는 방법은 웨이퍼 상에 패턴을 형성하는 방법과 동일하다. 발열층(50)의 상부에 포토레지스트 용액을 공급하여 포토레지스트 막을 형성하고, 원하는 발열패턴이 형성된 마스크를 이용하여 포토레지스트 막을 노광한 후, 발열층을 에칭하고, 포토레지스트 막을 제거하면 발열층(50)에는 원하는 발열패턴이 형성된다. 발열패턴은 도 1에 도시한 바와 같다.Next, a heating pattern is formed in the heating layer 50 (S50). The method of forming the heating pattern is the same as the method of forming the pattern on the wafer. A photoresist film is formed by supplying a photoresist solution on top of the heat generating
다음, 발열패턴의 사이에 센서층(60)을 형성한다(S60). 센서층(60)은 발열층(50)의 온도를 측정하기 위하여 사용되며, 일반적으로 백금(Pt)을 사용하여 약 5㎛의 두께로 형성한다. 센서층(60)에는 원하는 위치의 온도를 국부적으로 측정할 수 있는 센서패턴이 형성될 수 있다. 발열패턴을 형성하는 방법과 마찬가지로 원하는 센서패턴이 형성된 마스크를 이용하여 센서층(60)에 센서패턴을 형성할 수 있으며, Next, the
다음, 발열층(50)의 상부에 절연층(70)을 형성한다(S70). 절연층(70)은 발열층(50)에 형성된 발열패턴 사이를 절연한다. Next, an insulating
절연층(70)은 플라스마 강화 화학 기상 증착(Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition:PECVD)법에 의해 형성된다. 플라스마 강화 화학 기상 증착은 비교적 저온(400℃)에서 증착이 가능한 장점이 있다. 절연층(70)으로는 실리콘산화막(SiO2) 또는 실리콘질화막(Si3N4)을 사용할 수 있으며, 약 3000 옹스트롬의 두께로 증착한다.The insulating
도 3은 본 발명에 따른 박막 히터(1)를 나타내는 평면도이다. 도 3에 도시한 바와 같이, 박막 히터(1)는 중앙에 위치하는 제1 구역(Ⅰ), 제1 구역(Ⅰ)을 감싸는 제2 구역(Ⅱ), 제2 구역(Ⅱ)을 감싸는 제3 구역(Ⅲ), 제3 구역(Ⅲ)의 아랫쪽에 위치하는 제4 구역(Ⅳ), 제3 구역(Ⅲ)의 왼쪽에 위치하는 제5 구역(Ⅴ), 제3 구역(Ⅲ)의 윗쪽에 위치하는 제6 구역(Ⅵ), 제3 구역(Ⅲ)의 오른쪽에 위치하는 제7 구역(Ⅶ)을 포함하며, 각각의 구역에는 발열패턴이 형성된 발열층(50)과 각각의 구역에해당하는 발열층(50)의 온도를 측정하는 센서패턴(60)이 형성된다.3 is a plan view showing the
상술한 바에 의하면, 발열층(50) 및 발열층(50)의 하부에 위치하는 씨드층(40), 그리고 버퍼층(30)을 균일하게 증착시킬 수 있으므로 균일한 두께의 박막 히터(1)를 제공할 수 있다. 또한, 박막 히터(1)의 전면에서 균일하게 열을 방출할 수 있다.According to the above, since the
본 발명에 의하면 균일한 두께의 발열패턴이 형성된 박막 히터를 제공할 수 있다. 또한, 박막 히터의 전면에서 균일하게 열을 방출할 수 있다.According to the present invention, it is possible to provide a thin film heater in which a heating pattern having a uniform thickness is formed. In addition, heat can be uniformly released from the front surface of the thin film heater.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060088486A KR100809595B1 (en) | 2006-09-13 | 2006-09-13 | Thin film heater and method for fabricating the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020060088486A KR100809595B1 (en) | 2006-09-13 | 2006-09-13 | Thin film heater and method for fabricating the same |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100809595B1 true KR100809595B1 (en) | 2008-03-04 |
Family
ID=39397496
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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KR1020060088486A KR100809595B1 (en) | 2006-09-13 | 2006-09-13 | Thin film heater and method for fabricating the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100809595B1 (en) |
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