KR100789277B1 - Etching method of transparent conductive film - Google Patents

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Abstract

An etching method of a transparent conductive film is provided to secure a predetermined machining line width and etch a transparent conductive film coated on the flat panel display substrate while preventing damage to a part except the transparent conductive film on the flat panel display substrate. In an etching method of a transparent conductive film(26), in which the transparent conductive film is etched in a desired pattern(29) by the laser beam while moving a laser beam(50) laterally and longitudinally on the transparent conductive film coated on a substrate, the etching method comprises: a generation step of generating a single laser beam; a splitting step of splitting the single laser beam into a plurality of laser beams(51,52); and an irradiation step of concentratively irradiating the laser beams onto a part to be etched.

Description

투명도전막 식각방법{Etching method of transparent conductive film}Etching method of transparent conductive film

도 1은 일반적인 LCD 기판의 단면도.1 is a cross-sectional view of a typical LCD substrate.

도 2는 종래의 투명도전막 식각방법의 일례를 설명하기 위한 도면.2 is a view for explaining an example of a conventional transparent conductive film etching method.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 투명도전막 식각방법을 구현하기 위한 투명도전막 식각장치의 일례를 도시한 사시도.Figure 3 is a perspective view showing an example of a transparent conductive film etching apparatus for implementing the transparent conductive film etching method according to an embodiment of the present invention.

도 4는 레이저빔을 디포커싱시켜 투명도전막에 조사하는 것을 설명하기 위한 도면.4 is a diagram for explaining irradiation of a transparent conductive film by defocusing a laser beam.

도 5는 도 3에 도시된 원통형 렌즈를 통과하기 전후의 레이저빔의 형상을 설명하기 위한 도면.5 is a view for explaining the shape of the laser beam before and after passing through the cylindrical lens shown in FIG.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

10 : 레이저 발진기 20 : LCD 기판10 laser oscillator 20 LCD substrate

21 : 상부 유리판 22 : 하부 유리판21: upper glass plate 22: lower glass plate

23 : 블랙 매트릭스 24 : 칼라 필터23: black matrix 24: color filter

25 : 공통 전극 26 : 투명 도전막25 common electrode 26 transparent conductive film

27 : 박막 트랜지스터 28 : 화소 전극27 thin film transistor 28 pixel electrode

31 : 상부 프리즘 렌즈 32 : 하부 프리즘 렌즈31: upper prism lens 32: lower prism lens

41 : 상부 원통형 렌즈 42 : 하부 원통형 렌즈41: upper cylindrical lens 42: lower cylindrical lens

50 : 단일의 레이저빔 51 : 제1레이저빔50: single laser beam 51: first laser beam

51a : 프리즘 렌즈 통과 후의 제1레이저빔의 단면51a: cross section of first laser beam after passing through prism lens

51b : 상부 원통형 렌즈 통과 후의 제1레이저빔의 단면51b: cross section of first laser beam after passage through upper cylindrical lens

51c : 하부 원통형 렌즈 통과 후의 제1레이저빔의 단면51c: cross section of first laser beam after passage through lower cylindrical lens

52 : 제2레이저빔52: second laser beam

본 발명은 투명도전막 식각방법에 관한 것으로, 특히 단일의 레이저빔을 복수의 레이저빔으로 분할하여 투명도전막의 식각될 부위에 집중하여 조사함으로써, 소정의 가공 선폭(투명도전막 상에 패턴을 형성하기 위한 선폭)을 확보하면서 식각하고자 하는 투명도전막 이외의 부분의 손상을 방지할 수 있는 투명도전막 식각방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of etching a transparent conductive film, and in particular, by dividing a single laser beam into a plurality of laser beams and concentrating on the portions to be etched in the transparent conductive film, thereby forming a predetermined processing line width (a pattern on a transparent conductive film). The present invention relates to a transparent conductive film etching method capable of preventing damage to portions other than the transparent conductive film to be etched while securing the line width.

최근 화상정보를 화면에 나타내는 평면 디스플레이 기판으로, LCD(Liquid Crystal Display) 기판과 PDP(Plasma Dislay Panel) 기판이 주로 사용되고 있다. 상기 LCD 기판은, PDP 기판에 비해, 전력 소비가 작고, 수명이 길며, 발열량 또한 작다. 또한, 상기 LCD 기판의 화소는 PDP 기판의 화소에 비해 작으므로, 작은 크기의 화면, 예컨대 50인치 이하의 화면 크기에서는 LCD 기판의 해상도가 PDP 기판의 해상도에 비해 우수하다. 이러한 장점들로 인해, LCD 기판은, 많은 산업 제품에서 평면 디스플레이 장치로서 활용되고 있다.Recently, LCD (Liquid Crystal Display) substrates and PDP (Plasma Dislay Panel) substrates are mainly used as flat display substrates displaying image information on a screen. The LCD substrate has a smaller power consumption, a longer life, and a lower heat generation than a PDP substrate. In addition, since the pixels of the LCD substrate are smaller than those of the PDP substrate, the resolution of the LCD substrate is superior to that of the PDP substrate in a small screen, for example, a screen size of 50 inches or less. Due to these advantages, LCD substrates are utilized as flat panel display devices in many industrial products.

도 1은 일반적인 LCD 기판의 단면도이다. 도 1을 참조하면, LCD 기판(20)은, 색상구현소자들이 배열된 칼라 필터 패널(20a)과 상기 색상구현소자들을 전기적으로 구동하기 위한 박막 트랜지스터 패널(20b)로 이루어져 있고, 상기 칼라 필터 패널(20a)과 박막 트랜지스터 패널(20b)은 대향하며 합착되어 있다.1 is a cross-sectional view of a general LCD substrate. Referring to FIG. 1, the LCD substrate 20 includes a color filter panel 20a in which color implementation elements are arranged, and a thin film transistor panel 20b for electrically driving the color implementation elements. 20a and the thin film transistor panel 20b face each other and are bonded to each other.

상기 칼라 필터 패널(20a)은, 상부 유리판(21)의 하측에 행렬 배열 방식으로 빨강(R), 초록(G), 파랑(B)의 칼라 필터(24)가 순차적으로 배열되어 있다. 이들 칼라 필터(24) 사이에는, 상기 각 색상 사이에서 혼합 색이 나타나는 것을 방지하기 위한 격자 모양의 블랙 매트릭스(23)가 형성되어 있다. 그리고, 칼라 필터(24) 및 블랙 매트릭스(23)의 전체면 위에 공통 전극(25)이 형성되어 있다. 상기 칼라 필터 패널(20a) 상측에는 ITO(Indium Tin Oxide) 소재로 이루어진 투명도전막(26)이 도포되어 있다.As for the said color filter panel 20a, the color filter 24 of red (R), green (G), and blue (B) is sequentially arranged in the matrix arrangement method below the upper glass plate 21. As shown in FIG. Between these color filters 24, a grid-like black matrix 23 is formed to prevent the mixed color from appearing among the above-mentioned colors. The common electrode 25 is formed on the entire surface of the color filter 24 and the black matrix 23. A transparent conductive film 26 made of indium tin oxide (ITO) material is coated on the color filter panel 20a.

상기 박막 트랜지스터 패널(20b)은, 하부 유리판(22)의 상측에 행렬 배열 방식으로 화소 전극(28)이 형성되어 있다. 상기 화소 전극(28)에는 그 화소 전극(28)에 전기장 신호를 인가하는 박막 트랜지스터(27)가 연결되어 있다.In the thin film transistor panel 20b, the pixel electrode 28 is formed on the upper side of the lower glass plate 22 in a matrix arrangement. The pixel electrode 28 is connected to a thin film transistor 27 that applies an electric field signal to the pixel electrode 28.

상기 칼라 필터 패널(20a)의 상면에 도포된 투명도전막(26)은 소정의 패턴으로 식각되어 있다. 도 2는 종래의 투명도전막 식각방법의 일례를 설명하기 위한 도면이다. 도 2를 참조하면, 레이저 발진기(10)로부터 발생된 레이저빔(1)은 반사 미러(11)를 거쳐서 집속 렌즈(12)에 입사된다. 상기 집속 렌즈(12)에 의해 집속(focusing)된 레이저빔은, 식각하고자 하는 부위의 투명도전막(26) 상에 조사된다. 소정의 가공 선폭을 구현하기 위하여, 레이저빔(1)을 조금씩 횡방향으로 이동 하면서 여러 번 레이저빔을 겹쳐 가공하는 방법도 있지만, 레이저빔(1)을 디포커싱시키고 디포커싱으로 인한 레이저 출력의 감소를 보상하기 위해 레이저의 출력을 높여 한 번의 가공으로 원하는 가공 선폭을 구현하는 방법을 이용한다. 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 집속 렌즈(12)를 상측으로 이동하면(이동하기 전의 집속 렌즈는 "12'"으로 표시되고, 이동한 후의 집속 렌즈는 "12"로 표시됨), 상기 투명도전막(26)에 형성되었던 초점(도 2에서 "3'"으로 표시됨)은 투명도전막(26)의 상측 공간에서 형성되고(도 2에서 "3"으로 표시됨), 상기 레이저빔(1)은 디포커싱되어 스팟의 크기가 확대된 상태로 상기 투명도전막(26) 상에 조사된다.The transparent conductive film 26 coated on the upper surface of the color filter panel 20a is etched in a predetermined pattern. 2 is a view for explaining an example of a conventional transparent conductive film etching method. Referring to FIG. 2, the laser beam 1 generated from the laser oscillator 10 is incident on the focusing lens 12 via the reflection mirror 11. The laser beam focused by the focusing lens 12 is irradiated onto the transparent conductive film 26 of the portion to be etched. In order to realize a predetermined processing line width, there is also a method of overlapping the laser beam several times while moving the laser beam 1 little by little in the lateral direction, but defocusing the laser beam 1 and reducing the laser output due to defocusing. In order to compensate for this, the laser output is increased to realize the desired processing line width in one machining. As shown in FIG. 2, when the focusing lens 12 is moved upward (the focusing lens before the movement is indicated by "12 '" and the focusing lens after the movement is indicated by "12"), the transparent conductive film The focal point (indicated by "3 '" in FIG. 2) formed in 26 is formed in the upper space of the transparent conductive film 26 (indicated by "3" in FIG. 2), and the laser beam 1 is defocused And the spot is enlarged and irradiated onto the transparent conductive film 26.

종래와 같이 단일의 레이저빔을 이용하여 LCD 기판 상에 도포된 투명도전막을 식각하게 되면, 투명도전막 이외의 부분을 손상시키지 않으면서, 상기 투명도전막만을 소정의 원하는 가공 선폭으로 식각하는 것이 곤란하게 된다. 예컨대, 한 번의 레이저빔의 진행으로 80 ㎛ 이상의 선폭을 식각하고자 하는 경우, 레이저빔의 스팟의 크기를 확대시키고자 레이저빔을 지나치게 디포커싱시키면, 레이저빔 스팟의 단위 면적당 에너지가 감소하기 때문에 레이저빔의 출력을 높여야만 한다. 한편, 레이저빔의 단면적의 에너지 분포 형태는 가우스 분포 형태를 보이는 관계로, 레이저빔의 단면적의 중앙부의 에너지가 가장자리부의 에너지보다 높다. 따라서, 상기 투명도전막은 소정의 가공 선폭을 가지도록 식각되지만, 레이저빔의 단면적의 중앙부의 높은 에너지로 인해, 도 2의 상부 유리판 하측에 형성되어 있는 칼라 필터 및 블랙 매트릭스까지 손상을 입히게 되는 문제점이 있다. 그렇다고 해서, 상기 칼라 필터 및 블랙 매트릭스를 손상시키지 않을 정도로 레이저빔의 출력을 낮추 게 되면, 상기 투명도전막을 소정의 가공 선폭을 갖도록 식각할 수 없게 되는 문제점이 있다.When the transparent conductive film coated on the LCD substrate is etched using a single laser beam as in the related art, it is difficult to etch only the transparent conductive film at a predetermined desired processing line width without damaging parts other than the transparent conductive film. . For example, when etching a line width of 80 μm or more by the progress of a single laser beam, if the laser beam is excessively defocused to enlarge the size of the spot of the laser beam, the energy per unit area of the laser beam spot decreases. Should increase the output of. On the other hand, since the energy distribution form of the cross-sectional area of the laser beam shows a Gaussian distribution form, the energy of the center portion of the cross-sectional area of the laser beam is higher than that of the edge portion. Therefore, the transparent conductive film is etched to have a predetermined processing line width, but the high energy at the center of the cross-sectional area of the laser beam damages the color filter and the black matrix formed under the upper glass plate of FIG. 2. have. However, when the output of the laser beam is lowered to such an extent that the color filter and the black matrix are not damaged, the transparent conductive film cannot be etched to have a predetermined processing line width.

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 평판 디스플레이 기판에서, 투명도전막 이외의 부분이 손상되지 않도록 하면서, 소정의 가공 선폭을 확보하며 상기 평판 디스플레이 기판 상에 도포된 투명도전막을 식각할 수 있도록 개선된 투명도전막 식각방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problem, and in the flat panel display substrate, the transparent conductive film applied on the flat panel display substrate can be etched while securing a predetermined processing line width while preventing portions other than the transparent conductive film from being damaged. An object of the present invention is to provide an improved method for etching a transparent conductive film.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 투명도전막 식각방법은, 기판 상에 도포된 투명도전막에 레이저빔을 종횡으로 이동시키며 조사함으로써, 상기 투명도전막을 원하는 패턴으로 식각하는 투명도전막 식각방법에 있어서, 단일의 레이저빔을 발생시키는 발생 단계; 상기 단일의 레이저빔을 복수의 레이저빔으로 분할하는 분할 단계; 및 상기 복수의 레이저빔을, 상기 투명도전막의 식각될 부위에 집중시켜 조사하는 조사 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the transparent conductive film etching method of the present invention, in the transparent conductive film etching method for etching the transparent conductive film in a desired pattern by moving the laser beam vertically and horizontally to the transparent conductive film coated on the substrate. A generating step of generating a single laser beam; A dividing step of dividing the single laser beam into a plurality of laser beams; And irradiating the plurality of laser beams by concentrating them on a portion to be etched of the transparent conductive film.

본 발명에 따른 투명도전막 식각방법에 있어서, 바람직하게는, 상기 분할 단계에서, 상기 단일의 레이저빔은, 두 개의 레이저빔으로 분할된다.In the transparent conductive film etching method according to the present invention, preferably, in the dividing step, the single laser beam is divided into two laser beams.

본 발명에 따른 투명도전막 식각방법에 있어서, 바람직하게는, 상기 단일의 레이저빔은, 동일축선 상에 상하방향으로 소정 거리 이격되게 배치된 두 개의 프리즘 렌즈에 의해, 두 개의 레이저빔으로 분할된다.In the transparent conductive film etching method according to the present invention, preferably, the single laser beam is divided into two laser beams by two prism lenses arranged to be spaced apart by a predetermined distance in the vertical direction on the same axis.

본 발명에 따른 투명도전막 식각방법에 있어서, 바람직하게는, 상기 복수의 레이저빔을 상기 투명도전막 상으로 조사하기 전, 상기 복수의 레이저빔 각각을 원형의 단면광에서 타원형의 단면광으로 변형시키는 단계;를 더 포함한다.In the method of etching the transparent conductive film according to the present invention, preferably, before irradiating the plurality of laser beams onto the transparent conductive film, deforming each of the plurality of laser beams from circular cross-section light to elliptical cross-section light. It further includes;

본 발명에 따른 투명도전막 식각방법에 있어서, 바람직하게는, 상기 각각의 레이저빔은, 동일축선 상에 상하방향으로 소정 거리 이격되게 배치된 두 개의 원통형 렌즈에 의해, 원형의 단면광에서 타원형의 단면광으로 변형된다.In the method of etching the transparent conductive film according to the present invention, preferably, each of the laser beams is an elliptical cross section in a circular cross-section light by two cylindrical lenses arranged to be spaced apart by a predetermined distance in the vertical direction on the same axis. Transform into light.

본 발명에 따른 투명도전막 식각방법에 있어서, 바람직하게는, 상기 조사 단계에서, 상기 투명도전막에 조사되는 레이저빔에 의해 상기 기판이 손상되는 것을 방지하기 위해, 상기 투명도전막에 조사되는 레이저빔을 디포커싱(defocusing)시켜 상기 투명도전막에 조사한다.In the method of etching the transparent conductive film according to the present invention, preferably, in the irradiating step, the laser beam irradiated to the transparent conductive film is depressed to prevent the substrate from being damaged by the laser beam irradiated to the transparent conductive film. It focuses and irradiates the said transparent conductive film.

본 발명에 따른 투명도전막 식각방법에 있어서, 바람직하게는, 상기 레이저빔은, 상기 투명도전막의 상측에서 초점이 형성되어 디포커싱된다.In the method of etching the transparent conductive film according to the present invention, preferably, the laser beam is defocused by forming a focus on the upper side of the transparent conductive film.

본 발명에 따른 투명도전막 식각방법에 있어서, 바람직하게는, 상기 레이저빔은, 200㎚ 내지 400㎚ 범위의 파장을 갖는다.In the transparent conductive film etching method according to the present invention, Preferably, the laser beam has a wavelength in the range of 200nm to 400nm.

본 발명에 따른 투명도전막 식각방법에 있어서, 바람직하게는, 상기 레이저빔은, 실질적으로 355㎚ 의 파장을 갖는다.In the transparent conductive film etching method according to the present invention, Preferably, the laser beam has a wavelength of 355nm substantially.

본 발명에 따른 투명도전막 식각방법에 있어서, 바람직하게는, 상기 기판은, 색상구현소자들이 배열된 칼라 필터 패널과 상기 색상구현소자들을 전기적으로 구동하기 위한 박막 트랜지스터 패널이 대향하며 합착된 LCD 기판이며, 상기 투명도전막은, 상기 칼라 필터 패널 상에 도포된 ITO(Indium Tin Oxide) 소재로 이루어진 박막이다.In the method of etching the transparent conductive film according to the present invention, preferably, the substrate is an LCD substrate in which a color filter panel on which color implementation elements are arranged and a thin film transistor panel for electrically driving the color implementation elements are opposed to each other. The transparent conductive film is a thin film made of indium tin oxide (ITO) material coated on the color filter panel.

이하, 본 발명에 따른 투명도전막 식각방법의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a preferred embodiment of a transparent conductive film etching method according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 투명도전막 식각방법을 구현하기 위한 투명도전막 식각장치의 일례를 도시한 사시도이고, 도 4는 레이저빔을 디포커싱시켜 투명도전막에 조사하는 것을 설명하기 위한 도면이고, 도 5는 도 3에 도시된 원통형 렌즈를 통과하기 전후의 레이저빔의 형상을 설명하기 위한 도면이다.3 is a perspective view showing an example of a transparent conductive film etching apparatus for implementing a transparent conductive film etching method according to an embodiment of the present invention, Figure 4 is a view for explaining the irradiation to the transparent conductive film by defocusing the laser beam 5 is a view for explaining the shape of the laser beam before and after passing through the cylindrical lens shown in FIG.

도 3 내지 도 5를 참조하면, 도 3에 도시된 투명도전막 식각장치는, 기판 상에 도포된 투명도전막(26)에 레이저빔(50)을 종횡으로 이동시키며 조사함으로써, 상기 투명도전막(26)을 원하는 패턴(29)으로 식각하는 장치로서, 레이저 발진기(10)와, 반사 미러(11)와, 레이저빔 분할 수단과, 레이저빔 변형 수단을 구비한다.Referring to FIGS. 3 to 5, the transparent conductive film etching apparatus illustrated in FIG. 3 moves the laser beam 50 vertically and horizontally to the transparent conductive film 26 coated on a substrate, thereby irradiating the transparent conductive film 26. Is an apparatus for etching a desired pattern 29, comprising a laser oscillator 10, a reflection mirror 11, a laser beam splitting means, and a laser beam modifying means.

상기 레이저 발진기(10)는, 상기 투명도전막(26)을 식각하는 에너지원인 레이저빔을 발생시키는 것으로서, 상기 레이저 발진기(10)로부터 출사되는 레이저빔(50)은, 식각하고자 하는 투명도전막(26)의 흡수율 특성상, 200㎚ 내지 400㎚ 범위의 파장을 갖는다. 일반적으로, 400㎚ 파장 초과의 가시광선, 적외선 파장 영역의 레이저빔을 사용하면 투명도전막(26), 예컨대 ITO 박막 상에서의 투과율이 80% 이상의 수준을 보이지만, 400㎚ 파장 이하의 자외선 파장 영역의 레이저빔은, ITO 박막 상에서의 투과율이 30% 이하의 낮은 수준을 보인다. 따라서, 상기 200㎚ 내지 400㎚ 범위의 파장을 갖는 레이저빔(50) 사용 시에, 레이저빔(50)에 의해 전달된 열이 ITO 박막에 보다 많이 흡수되므로, 상기 200㎚ 내지 400㎚ 범위의 파장을 갖는 레이저빔(50)을 이용하여 ITO 박막을 식각하는 것이 효과적이다. 본 실시예에서는, 바람직하게, Neodymium(Nd3+) 이온이 첨가된 매질의 레이저의 3차 조화파이며, 실질적으로 355㎚ 파장을 갖는 레이저빔(50)을 이용하여 상기 투명도전막(26)을 식각한다.The laser oscillator 10 generates a laser beam which is an energy source for etching the transparent conductive film 26, and the laser beam 50 emitted from the laser oscillator 10 is a transparent conductive film 26 to be etched. It has a wavelength in the range of 200 nm to 400 nm in view of its absorption rate. In general, the use of a laser beam in the visible and infrared wavelength ranges exceeding 400 nm wavelength results in a transmittance of 80% or more on the transparent conductive film 26, for example, an ITO thin film, but in the ultraviolet wavelength range of 400 nm or less. The beam shows a low level of transmittance of 30% or less on the ITO thin film. Therefore, when using the laser beam 50 having a wavelength in the range of 200 nm to 400 nm, since the heat transferred by the laser beam 50 is absorbed more by the ITO thin film, the wavelength in the range of 200 nm to 400 nm It is effective to etch the ITO thin film by using the laser beam 50 having. In this embodiment, preferably, the transparent conductive film 26 is etched using a laser beam 50 having a wavelength of 355 nm, which is a third harmonic wave of a laser of a medium to which Neodymium (Nd 3+) ions are added. .

상기 레이저빔 분할 수단은, 반사 미러(11)를 통해 진행 경로가 조정된 단일의 레이저빔(50)을 복수의 레이저빔(51)(52)으로 분할하는 것으로서, 동일축선 상에 상하방향으로 소정 거리 이격되게 배치된 두 개의 프리즘 렌즈(31)(32)로 이루어져 있다. 상부 프리즘 렌즈(31)와 하부 프리즘 렌즈(32)가 서로 모서리를 마주보도록 배치되어, 상기 상부 프리즘 렌즈(31)의 일면을 통해 입사된 단일의 레이저빔(50)은, 상부 프리즘 렌즈(31) 및 하부 프리즘 렌즈(32)에 의해 굴절되고 분할되어, 상기 하부 프리즘 렌즈(32)의 일면을 통해 두 개의 레이저빔(51)(52)으로 출사된다. 상기 상부 프리즘 렌즈(31)와 하부 프리즘 렌즈(32)에는, 각각의 위치 및 회전 각도를 조정할 수 있는 조정 수단이 설치되어 있어서, 상기 하부 프리즘 렌즈(32)의 일면을 통해 출사되는 두 개의 레이저빔(51)(52)의 크기 및 상대적인 위치를, 사용자가 원하는 형태로 조정하는 것이 가능하다.The laser beam dividing means divides a single laser beam 50 whose path of travel is adjusted through the reflection mirror 11 into a plurality of laser beams 51 and 52, and is predetermined on the same axis in the vertical direction. It consists of two prism lenses 31 and 32 arranged at a distance apart. The upper prism lens 31 and the lower prism lens 32 are disposed so as to face edges with each other, such that the single laser beam 50 incident through one surface of the upper prism lens 31 is the upper prism lens 31. And it is refracted and divided by the lower prism lens 32, and is emitted to the two laser beams 51, 52 through one surface of the lower prism lens 32. The upper prism lens 31 and the lower prism lens 32 are provided with adjustment means for adjusting respective positions and rotation angles, so that two laser beams are emitted through one surface of the lower prism lens 32. It is possible to adjust the size and relative position of the (51) (52) to the shape desired by the user.

상기 레이저빔 변형 수단은, 원형의 레이저빔 단면광을 타원형의 레이저빔 단면광으로 변형시키는 것으로서, 상기 프리즘 렌즈들(31)(32)의 하측에 배치되며, 동일축선 상에 상하방향으로 소정 거리 이격되게 배치된 두 개의 원통형 렌즈(41)(42)로 이루어져 있다. 상기 두 개의 원통형 렌즈 중 상측에 배치된 상부 원통형 렌즈(41)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 그 상면의 볼록한 부분이 x축을 따 라서는 볼록하게 형성되고, y축을 따라서는 굴곡이 없도록 배치되어 있다. 상기 상부 원통형 렌즈(41)의 하측에 배치된 하부 원통형 렌즈(42)는, 상기 상부 원통형 렌즈(41)와 90도 각도를 이루면서 배치되어 있다. 즉, 상기 하부 원통형 렌즈(42)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 그 상면의 볼록한 부분이 y축을 따라서는 볼록하게 형성되고, x축을 따라서는 굴곡이 없도록 배치되어 있다.The laser beam modifying means transforms a circular laser beam cross-section light into an elliptical laser beam cross-section light, which is disposed below the prism lenses 31 and 32 and is disposed at a predetermined distance in the vertical direction on the same axis. It consists of two cylindrical lenses 41 and 42 spaced apart. As illustrated in FIG. 2, the upper cylindrical lens 41 disposed on the upper side of the two cylindrical lenses is formed such that the convex portions of the upper surface thereof are convex along the x axis and are not curved along the y axis. It is. The lower cylindrical lens 42 disposed below the upper cylindrical lens 41 is disposed at an angle of 90 degrees with the upper cylindrical lens 41. That is, as shown in FIG. 2, the lower cylindrical lens 42 is arranged such that the convex portions of the upper surface thereof are convex along the y axis and are not bent along the x axis.

상기 상부 원통형 렌즈(41)의 볼록한 부분이 x축을 따라서 볼록하게 형성된 관계로, 상기 상부 원통형 렌즈(41)를 통과한 레이저빔(51)(52)은, x축 방향으로는 집광되어 축소되지만, y축 방향으로는 집광되지 않은 채 입사된 크기 그대로를 가진다. 마찬가지로, 상기 하부 원통형 렌즈(42)의 볼록한 부분이 y축을 따라서 볼록하게 형성된 관계로, 상기 하부 원통형 렌즈(42)를 통과한 레이저빔951)(52)은, y축 방향으로는 집광되어 축소되지만, x축 방향으로는 집광되지 않은 채 입사된 크기 그대로를 가지게 된다. 상기 상부 원통형 렌즈(41) 및 하부 원통형 렌즈(42)가 90도 각도를 이루면서 배치되어, 하나의 원통형 렌즈가 한 축 방향으로 레이저빔을 집광하는 역할을 수행함으로써, 상부 원통형 렌즈(41) 및 하부 원통형 렌즈(42)의 초점거리를 조정하여 상부 원통형 렌즈(41) 및 하부 원통형 렌즈(42)를 통과하는 레이저빔을, x축 또는 y축 방향 중 원하는 방향으로 선택적으로 집광하기도 하고 디포커싱할 수도 있다.Since the convex portions of the upper cylindrical lens 41 are convexly formed along the x-axis, the laser beams 51 and 52 passing through the upper cylindrical lens 41 are focused and reduced in the x-axis direction. In the y-axis direction, it has the size of incident light without being focused. Similarly, since the convex portions of the lower cylindrical lens 42 are convexly formed along the y axis, the laser beams 951 and 52 passing through the lower cylindrical lens 42 are focused and reduced in the y axis direction. In the x-axis direction, the incident size is maintained without being focused. The upper cylindrical lens 41 and the lower cylindrical lens 42 are disposed at an angle of 90 degrees, and one cylindrical lens serves to condense the laser beam in one axial direction, whereby the upper cylindrical lens 41 and the lower cylindrical lens 41 are disposed. By adjusting the focal length of the cylindrical lens 42, the laser beam passing through the upper cylindrical lens 41 and the lower cylindrical lens 42 can be selectively focused or defocused in the desired direction in the x- or y-axis direction. have.

이하, 상술한 바와 같이 구성된 도 3의 투명도전막 식각장치를 이용하여 LCD 기판 상에 도포된 투명도전막을 식각하는 방법에 대하여, 도 2 내지 도 5를 참조하면서 설명하기로 한다.Hereinafter, a method of etching the transparent conductive film coated on the LCD substrate by using the transparent conductive film etching apparatus of FIG. 3 configured as described above will be described with reference to FIGS. 2 to 5.

도 3에 도시된 바와 같이, 상기 레이저 발진기(10)로부터 200㎚ 내지 400㎚ 범위의 파장을 갖는 레이저빔(50), 바람직하게는 실질적으로 355㎚ 의 파장을 갖는 레이저빔(50)을 발생시킨다. 상기 레이저빔(50)이 상기 LCD 기판(20)의 상측에 배치된 두 개의 프리즘 렌즈(31)(32) 및 두 개의 원통형 렌즈(41)(42) 측으로 입사될 수 있도록 반사 미러(11) 등을 통해 레이저빔(50)의 진행 경로를 조정한다.As shown in FIG. 3, the laser oscillator 10 generates a laser beam 50 having a wavelength in the range of 200 nm to 400 nm, preferably a laser beam 50 having a wavelength of substantially 355 nm. . Reflective mirror 11 or the like so that the laser beam 50 can be incident to two prism lenses 31 and 32 and two cylindrical lenses 41 and 42 disposed on the LCD substrate 20. Through this, the path of the laser beam 50 is adjusted.

도 4(a)(b)에 도시된 바와 같이, 단일의 레이저빔(50)은, 상부 프리즘 렌즈(31) 및 하부 프리즘 렌즈(32)를 투과한 후, 두 개의 레이저빔(51)(52)으로 분할된다. 분할된 두 개의 레이저빔(51)(52) 각각은, 상부 원통형 렌즈(41) 및 하부 원통형 렌즈(42)에 의해 집속된다.As shown in Fig. 4 (a) (b), the single laser beam 50 passes through the upper prism lens 31 and the lower prism lens 32, and then two laser beams 51 and 52. Is divided into Each of the two divided laser beams 51 and 52 is focused by the upper cylindrical lens 41 and the lower cylindrical lens 42.

상기 투명도전막(26) 상에 원하는 형상의 패턴(29)을 형성하기 위해서, 상기 투명도전막(26) 상에는 디포커싱된 레이저빔(51)(52)이 조사된다. 도 4(a)는, 복수의 레이저빔의 초점이 투명도전막(26) 상에 형성되도록 원통형 렌즈들(41)(42)을 배치한 모습을 나타낸다. 도 4(b)에 도시된 바와 같이, 상기 도 4(a)에 도시된 위치에 있던 상부 원통형 렌즈(41)를 상측으로 이동시키고, 하부 원통형 렌즈(42)는 원래의 위치를 유지시키면, x축 방향으로는 디포커싱되고, y축 방향으로는 집속된 레이저빔을 구현할 수 있다. 반대로, 상기 상부 원통형 렌즈(41)는 원래의 위치를 유지시키고, 하부 원통형 렌즈(42)를 상측으로 이동시키면, y축 방향으로는 디포커싱되고, x축 방향으로는 집속된 레이저빔을 구현할 수 있다. 이와 같이 상부 원통형 렌즈(41) 및 하부 원통형 렌즈(42)의 위치를 조정함으로써, 어느 한 축 방향으로 디포커싱된 레이저빔을 구현할 수 있게 된다.In order to form a pattern 29 having a desired shape on the transparent conductive film 26, defocused laser beams 51 and 52 are irradiated onto the transparent conductive film 26. 4A shows the cylindrical lenses 41 and 42 arranged so that the focal points of the plurality of laser beams are formed on the transparent conductive film 26. As shown in Fig. 4 (b), if the upper cylindrical lens 41 at the position shown in Fig. 4 (a) is moved upward, and the lower cylindrical lens 42 is kept in its original position, x A laser beam defocused in the axial direction and focused in the y-axis direction can be implemented. On the contrary, if the upper cylindrical lens 41 maintains its original position and the lower cylindrical lens 42 is moved upward, it can defocus in the y-axis direction and focus the laser beam in the x-axis direction. have. By adjusting the positions of the upper cylindrical lens 41 and the lower cylindrical lens 42 in this way, it is possible to implement a laser beam defocused in any one axial direction.

초점에 집속된 레이저빔(51)(52)을 이용하여 투명도전막(26)을 식각하게 되면, 그 스팟의 크기가 작아서 소정의 가공 선폭을 확보하기 위해서는 횡방향으로 조금씩 레이저빔(51)(52)을 이동시키면서 여러 번 반복하여 가공하여야만 소정의 가공 선폭이 완성된다. 또한, 초점에 집속된 레이저빔(51)(52)은, 그 단위면적당 에너지가 상당하기 때문에, 투명도전막(26)을 식각하는 도중에, 도 2에 도시된 상부 유리판(21) 하측에 형성된 칼라 필터(23) 및 블랙 매트릭스(24)가 손상되게 된다. 상기와 같이 레이저빔의 스팟의 크기가 작아서 여러 번 반복된 가공으로 인한 생산수율의 저하를 방지하고, 칼라 필터(23) 등과 같은 투명도전막(26) 이외의 다른 부위의 손상을 방지하기 위해 레이저빔(51)(52)을 디포커싱시켜 이용한다.When the transparent conductive film 26 is etched using the laser beams 51 and 52 focused on the focal point, the spots are small in size, so that the laser beams 51 and 52 are gradually cut in the horizontal direction in order to secure a predetermined processing line width. Repeat the process several times while moving the) to complete the desired line width. In addition, since the energy per unit area of the laser beams 51 and 52 focused on the focal point is considerable, a color filter formed under the upper glass plate 21 shown in FIG. 2 during the etching of the transparent conductive film 26. 23 and the black matrix 24 are damaged. As described above, the spot size of the laser beam is small to prevent a decrease in production yield due to repeated processing several times, and to prevent damage to portions other than the transparent conductive film 26 such as the color filter 23. (51) and (52) are defocused and used.

상기 프리즘 렌즈들(31)(32)를 투과한 레이저빔(51)(52)은, 상기 원통형 렌즈들(41)(42)에 의해 원형의 단면광에서 타원형의 단면광으로 변형된다. 구체적으로는, 하부 프리즘 렌즈(32)를 투과한 레이저빔(51)(52)은, 도 5에서 51a, 52a로 도시한 바와 같이, 원형의 단면광 형태를 유지한다. 상기 원형의 단면광이 상부 원통형 렌즈(41)를 거치게 되면, 도 5에서 51b, 52b로 도시한 바와 같이, x축 방향으로는 집속되고, y축 방향으로는 입사되는 레이저빔의 크기를 유지하는 타원의 단면광 형태로 변형된다. 즉, x축 방향으로 단축이 형성되고, y축 방향으로 장축이 형성되는 타원의 단면광으로 변형된다. 상기 타원의 단면광이 하부 원통형 렌즈(42)를 거치게 되면, 도 5에서 51c, 52c로 도시한 바와 같이, y축 방향으로는 집속되고, x축 방향으로는 입사되는 레이저빔의 크기를 유지하는 타원의 단면광 형태로 변형된다. 즉, y축 방향으로 단축이 형성되고, x축 방향으로 장축이 형성되는 타원의 단면광으로 변형된다.The laser beams 51 and 52 that have passed through the prism lenses 31 and 32 are transformed from circular cross-section light into elliptical cross-section light by the cylindrical lenses 41 and 42. Specifically, the laser beams 51 and 52 that have passed through the lower prism lens 32 maintain a circular cross-sectional light shape, as shown by 51a and 52a in FIG. 5. When the circular cross section light passes through the upper cylindrical lens 41, as illustrated in FIGS. 5B and 51B, the circular cross-section light is focused in the x-axis direction and maintains the size of the laser beam incident in the y-axis direction. It is transformed into an elliptical cross section light shape. That is, a short axis is formed in the x-axis direction, and is deformed into an elliptical cross-section light in which a long axis is formed in the y-axis direction. When the cross-section light of the ellipse passes through the lower cylindrical lens 42, as shown in FIGS. 5 and 5 and 51c, the light is focused in the y-axis direction and maintains the size of the laser beam incident in the x-axis direction. It is transformed into an elliptical cross section light shape. That is, a short axis is formed in the y-axis direction, and is deformed into the cross-sectional light of an ellipse whose long axis is formed in the x-axis direction.

상기 원통형 렌즈들(41)(42)을 이용하여 원형의 단면광을 타원형의 단면광으로 변형시킬 수 있으며, 상기 상부 원통형 렌즈(41) 및 하부 원통형 렌즈(42)의 수직 위치를 변화시켜 투과되는 레이저빔이 디포커싱되는 정도를 조정함으로써, 타원형의 단면광의 장축 또는 단축을 원하는 크기가 되도록 확대하는 것이 가능하다.The cylindrical lenses 41 and 42 may be used to transform circular cross-section light into elliptical cross-section light, and may be transmitted by changing vertical positions of the upper cylindrical lens 41 and the lower cylindrical lens 42. By adjusting the degree to which the laser beam is defocused, it is possible to enlarge the long axis or short axis of the elliptical cross-section light to a desired size.

본 실시예에 있어서, 상기 원통형 렌즈들(41)(42)을 통해 투과된 레이저빔의 단면(51c)(52c)은, x축 방향으로 장축이 형성되고, y축 방향으로 단축이 형성된다. 한 번의 레이저빔의 진행으로도 80㎛ 이상의 선폭으로 투명도전막(26)을 식각할 수 있도록, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 분할된 두 개의 타원형 레이저빔(51c) (52c)의 장축이 서로 나란히 배치되도록 투명도전막(26)의 식각하고자 하는 부위에 집중시키고, 상기 타원형 레이저빔(51c)(52c)의 단축 방향으로 레이저빔을 진행시킨다.In the present embodiment, the long axis is formed in the x-axis direction, and the short axis is formed in the y-axis direction of the end surfaces 51c and 52c of the laser beam transmitted through the cylindrical lenses 41 and 42. As shown in FIG. 5, the long axes of the divided two elliptical laser beams 51c and 52c are mutually etched so that the transparent conductive film 26 can be etched with a line width of 80 μm or more even with a single laser beam. Concentrate on the portion to be etched of the transparent conductive film 26 so as to be arranged side by side, and advance the laser beam in the short axis direction of the elliptical laser beams 51c and 52c.

상술한 바와 같이 구성된 본 실시예에 따른 투명도전막 식각방법을 이용하면, 소정의 가공 선폭을 확보하기 위해 단일의 레이저빔을 복수의 레이저빔으로 분할하고, 식각되는 홈의 너비가 하나의 레이저빔의 직경보다 크게 되도록 상기 복수의 레이저빔을 집중시켜 투명도전막을 식각하게 된다. 따라서, 한 번의 레이저빔의 진행으로도 소정의 가공 선폭을 구현할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.Using the transparent conductive film etching method according to the present embodiment configured as described above, in order to secure a predetermined processing line width, a single laser beam is divided into a plurality of laser beams, and the width of the groove to be etched is one laser beam. The transparent conductive film is etched by concentrating the plurality of laser beams so as to be larger than the diameter. Therefore, it is possible to obtain an effect of realizing a predetermined processing line width even with a single laser beam.

또한, 단일의 레이저빔을 복수의 레이저빔으로 분할함으로써, 단일의 레이저빔이 가지고 있던 에너지의 양도 분할되는 레이저빔의 수만큼 분할되게 된다. 단일의 레이저빔을 사용하는 경우에는, 레이저 출력이 과도하여 상부 유리판 하측에 형성된 칼라 필터가 손상되고, 소정의 가공 선폭 역시 구현하는 것이 불가능하였다. 그러나, 레이저빔이 분할되면서 에너지 역시 함께 분할되어, 칼라 필터가 손상되지 않고도 소정의 가공 선폭을 구현하는 것이 가능하게 되는 효과를 얻을 수 있다.Further, by dividing a single laser beam into a plurality of laser beams, the amount of energy held by the single laser beam is also divided by the number of laser beams to be divided. In the case of using a single laser beam, the laser output is excessive and the color filter formed under the upper glass plate is damaged, and it is impossible to realize a predetermined processing line width. However, as the laser beam is divided, the energy is also divided together, so that it is possible to obtain an effect of realizing a predetermined processing line width without damaging the color filter.

이상 바람직한 실시예 및 변형례에 대해 설명하였으나, 본 발명에 따른 투명도전막 식각방법은 상술한 예들에 한정되는 것은 아니며, 그 예들의 변형이나 조합에 의해, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범주 내에서 다양한 형태의 투명도전막 식각방법이 구체화될 수 있다.Although preferred embodiments and modifications have been described above, the method of etching the transparent conductive film according to the present invention is not limited to the examples described above, and the modifications or combinations thereof may be used within the scope not departing from the technical spirit of the present invention. Various types of transparent conductive film etching methods can be embodied.

본 발명의 투명도전막 식각방법은, 단일의 레이저빔을 복수의 레이저빔으로 분할하여, 투명도전막 상에 상기 복수의 레이저빔을 집중적으로 조사함으로써, 한 번의 레이저빔의 진행으로도 소정의 가공 선폭을 구현할 수 있어, 기판의 생산수율을 향상시키는 효과가 있다.In the method of etching the transparent conductive film of the present invention, a single laser beam is divided into a plurality of laser beams, and the plurality of laser beams are intensively irradiated onto the transparent conductive film, thereby providing a predetermined processing line width even with the progress of a single laser beam. It can be implemented, there is an effect of improving the production yield of the substrate.

또한, 레이저빔의 분할로 인하여 레이저빔이 가지고 있던 에너지의 양도 분할되어, 투명도전막을 식각하는 과정에서 상기 투명도전막 외의, 기판 상에 형성되어 있는 다른 부분, 예컨대 칼라 필터 및 블랙 매트릭스 부분을 손상시키지 않는 효과가 있다.In addition, due to the division of the laser beam, the amount of energy possessed by the laser beam is also divided so that other parts formed on the substrate other than the transparent conductive film, such as the color filter and the black matrix part, are not damaged in the process of etching the transparent conductive film. It does not work.

Claims (10)

기판 상에 도포된 투명도전막에 레이저빔을 종횡으로 이동시키며 조사함으로써, 상기 투명도전막을 원하는 패턴으로 식각하는 투명도전막 식각방법에 있어서,In the transparent conductive film etching method of etching the transparent conductive film in a desired pattern by moving the laser beam vertically and horizontally to the transparent conductive film coated on the substrate, 단일의 레이저빔을 발생시키는 발생 단계;A generating step of generating a single laser beam; 상기 단일의 레이저빔을 복수의 레이저빔으로 분할하는 분할 단계;A dividing step of dividing the single laser beam into a plurality of laser beams; 상기 복수의 레이저빔을, 상기 투명도전막의 식각될 부위에 집중시켜 조사하는 조사 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 투명도전막 식각방법.And irradiating the plurality of laser beams by focusing the plurality of laser beams on a portion to be etched in the transparent conductive film. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 분할 단계에서, 상기 단일의 레이저빔은, 두 개의 레이저빔으로 분할되는 것을 특징으로 하는 투명도전막 식각방법.In the dividing step, the single laser beam is divided into two laser beams. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 단일의 레이저빔은, 동일축선 상에 상하방향으로 소정 거리 이격되게 배치된 두 개의 프리즘 렌즈에 의해, 두 개의 레이저빔으로 분할되는 것을 특징으로 하는 투명도전막 식각방법.And the single laser beam is divided into two laser beams by two prism lenses arranged to be spaced apart by a predetermined distance in the vertical direction on the same axis. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 복수의 레이저빔을 상기 투명도전막 상으로 조사하기 전, 상기 복수의 레이저빔 각각을 원형의 단면광에서 타원형의 단면광으로 변형시키는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 투명도전막 식각방법.And converting each of the plurality of laser beams from circular cross-section light into elliptical cross-section light before irradiating the plurality of laser beams onto the transparent conductive film. 제4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 각각의 레이저빔은, 동일축선 상에 상하방향으로 소정 거리 이격되게 배치된 두 개의 원통형 렌즈에 의해, 원형의 단면광에서 타원형의 단면광으로 변형되는 것을 특징으로 하는 투명도전막 식각방법.The laser beam is a transparent conductive film etching method, characterized in that by the two cylindrical lenses arranged on the same axis spaced apart by a predetermined distance from the circular cross-section light to the elliptical cross-section light. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 조사 단계에서, 상기 투명도전막에 조사되는 레이저빔에 의해 상기 기판이 손상되는 것을 방지하기 위해, 상기 투명도전막에 조사되는 레이저빔을 디포커싱(defocusing)시켜 상기 투명도전막에 조사하는 것을 특징으로 하는 투명도전막 식각방법.In the irradiating step, in order to prevent the substrate from being damaged by the laser beam irradiated to the transparent conductive film, defocusing the laser beam irradiated to the transparent conductive film, characterized in that for irradiating the transparent conductive film Transparent conductive film etching method. 제6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 레이저빔은, 상기 투명도전막의 상측에서 초점이 형성되어 디포커싱되는 것을 특징으로 하는 투명도전막 식각방법.The laser beam is transparent conductive film etching method, characterized in that the focus is formed on the upper side of the transparent conductive film is defocused. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 레이저빔은, 200㎚ 내지 400㎚ 범위의 파장을 갖는 것을 특징으로 하는 투명도전막 식각방법.The laser beam is transparent conductive film etching method, characterized in that having a wavelength in the range of 200nm to 400nm. 제8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 레이저빔은, 실질적으로 355㎚ 의 파장을 갖는 것을 특징으로 하는 투명도전막 식각방법.The laser beam has a wavelength of 355nm substantially, the transparent conductive film etching method. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 기판은, 색상구현소자들이 배열된 칼라 필터 패널과 상기 색상구현소자들을 전기적으로 구동하기 위한 박막 트랜지스터 패널이 대향하며 합착된 LCD 기판이며,The substrate is an LCD substrate in which a color filter panel in which color implementation elements are arranged and a thin film transistor panel for electrically driving the color implementation elements are opposed to each other. 상기 투명도전막은, 상기 칼라 필터 패널 상에 도포된 ITO(Indium Tin Oxide) 소재로 이루어진 박막인 것을 특징으로 하는 투명도전막 식각방법.The transparent conductive film is a transparent conductive film etching method, characterized in that the thin film made of indium tin oxide (ITO) material applied on the color filter panel.
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