KR100786365B1 - 변위센서를 이용한 웨이퍼 맵핑방법 - Google Patents
변위센서를 이용한 웨이퍼 맵핑방법 Download PDFInfo
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Abstract
Description
Claims (4)
- 웨이퍼가 일정간격으로 적층되는 카세트의 내부에 상기 웨이퍼의 중심점이 위치되는 티칭라인을 설정하는 단계;상기 티칭라인 선상에 중심이 위치된 정상적인 웨이퍼의 일단부 위치를 변위센서로 측정하여 상기 웨이퍼의 정상위치를 설정하는 맵핑 포지션 데이터 설정단계;상기 카세트에 다수의 웨이퍼를 적층시킨 후, 상기 웨이퍼의 맵핑 순서를 설정하는 맵핑 순서 설정단계;상기 순서에 맞도록 상기 변위센서를 이동시켜 적층된 각 웨이퍼의 일단부 위치를 측정하고, 기 설정된 상기 웨이퍼의 정상위치와 비교하여 각 웨이퍼의 수정변위를 설정하는 웨이퍼 변위 설정단계;상기 설정된 각 웨이퍼의 수정변위에 따라 상기 각 웨이퍼의 위치를 수정하는 웨이퍼 위치 수정단계를 포함하여 이루어지는 변위센서를 이용한 웨이퍼 맵핑방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 변위센서는,수직이동부에 의해 상기 카세트의 상하방향으로 수직이동되고, 수평이동부에 의해 상기 카세트의 수평방향으로 이동되며, 제어부에 의해 상기 수직이동부와 수 평이동부가 제어되는 것을 특징으로 하는 변위센서를 이용한 웨이퍼 맵핑방법.
- 제 2항에 있어서,상기 수직이동부는 상기 제어부에서 발생되는 펄스에 의해 동작되는 것을 특징으로 하는 변위센서를 이용한 웨이퍼 맵핑방법.
- 제 1항에 있어서,상기 변위센서는 광을 발산하는 발광부와 상기 발광부의 광을 수신하는 수광부로 이루어지는 것을 특징으로 하는 변위센서를 이용한 웨이퍼 맵핑방법.
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KR100786365B1 true KR100786365B1 (ko) | 2007-12-14 |
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US20190164799A1 (en) * | 2017-11-29 | 2019-05-30 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Systems and methods for wafer pod alignment |
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KR200467604Y1 (ko) * | 2011-03-30 | 2013-06-21 | 황택연 | 발열체를 이용한 즉석 조리 용기 |
KR200474743Y1 (ko) * | 2013-09-24 | 2014-10-10 | 국중빈 | 레버록킹체가 구비된 가스점화기 |
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2006
- 2006-12-20 KR KR1020060131178A patent/KR100786365B1/ko active IP Right Grant
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