KR100778762B1 - 유로 내 입자의 이동특성 분석기 및 그 분석방법 - Google Patents

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Abstract

이 발명은 유로 내 입자의 이동특성 분석기에 관한 것으로서, 입자를 함유한 유체가 유동하는 유로에 대해 서로 간에 간격을 두고 배열되는 전극 쌍을 각각 포함하는 제1, 제2 전극군과, 입자가 통과함에 따라 제1, 제2 전극군에서 변화되는 전기적인 펄스변화를 측정하여 입자의 이동특성을 분석하는 연산 제어부로 구성된다. 이 발명은 복잡한 구성을 가진 광학측정기 및 분석장비가 필요 없으며 입자의 크기, 측정 주파수에 따른 입자의 임피던스 변화(spectral impedance) 및 입자를 함유한 유체의 전도도 등의 사전정보가 없어도 전기적인 펄스변화의 분석만으로도 유로 내 입자의 이동특성을 용이하게 분석할 수 있는 장점이 있다.

Description

유로 내 입자의 이동특성 분석기 및 그 분석방법{Automatic Particle Motion Detector in Fluidic Channel and Detecting Method thereof}
도 1 및 도 2는 이 발명에 따른 유로 내 입자의 이동특성을 분석하는 원리를 설명하기 위한 개략도이고,
도 3은 이 발명의 한 실시예에 따른 유로 내 입자의 이동특성 분석기에 사용되는 전극을 나타낸 개략도이고,
도 4a 내지 도 4c는 도 3에 도시된 전극군들을 통과하는 입자의 이동특성에 따라 달라지는 전기적인 펄스변화를 각각 도시한 그래프들이고,
도 5a 내지 도 5d는 도 3에 도시된 전극의 다양한 형상을 각각 나타낸 개략도들이고,
도 6a 내지 도 6c는 도 3에 도시된 한 쌍의 전극의 기울기, 유로의 폭 또는 전극 사이의 거리를 각각 다르게 설정한 경우를 나타낸 개략도들이고,
도 7a 내지 도 7e는 도 3에 도시된 전극이 유로에 배열된 상태를 각각 나타낸 개략도들이고,
도 8a 및 도 8b는 도 3에 도시된 다수의 전극군들 중에서 일부 유효한 전극들을 선택하여 사용할 수 있음을 나타낸 개략도들이고,
도 9a 및 도 9b는 도 3에 도시된 다수의 전극군들을 직렬 또는 병렬로 배치 한 상태를 각각 나타낸 개략도들이다.
< 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 >
10 : 유로 11, 12, 13 : 입자
20 : 전극 21, 22 : 전극군
이 발명은 유로 내 입자의 이동특성 분석기에 관한 것으로서, 복잡한 구성을 가진 광학측정기 및 분석장비 없이도 전기적인 신호의 분석만으로 유로 내 입자의 이동특성을 간편하게 분석할 수 있는 입자의 이동특성 분석기 및 그 분석방법에 관한 것이다.
유로 내 입자의 이동특성을 분석하는 것은 물리적 입자의 물성평가 뿐만 아니라 일반적인 생물학 실험에서 많이 수행되는 실험중의 하나이다. 유로 내 입자의 이동특성을 분석하는 것은 물리적 입자의 물성평가나 세포의 질병진단에 중요한 수단으로 사용된다. 그 예로서, 유로 내에서 자성입자 또는 자성입자가 내, 외부에 부착된 세포를 자기장 구배에서의 힘으로 분류한 후에 유로 말단에서 입자의 유동 상태를 관찰함으로써 자성입자의 자기적 성질을 평가하거나 세포의 생물학적 특성을 평가하는 연구를 들 수 있다.[자성입자의 자기적 성질 평가: Nicole Pamme and Andreas Manz, "On-chip free-flow magnetophoresis: continuous flow separation of magnetic particles and agglomerates," Anal. Chem. Vol.76, No.24 (2004) pp.7250-7256. 세포의 생물학적 특성 평가 : N. Pamme, C. Wilhelm, "Continuous sorting of magnetic cells via on-chip-free-flow magnetophoresis," Proceeding of 9th international conference on miniaturized systems for chemistry and life sciences (μTAS), Boston, USA, 2005, pp.1389-1391.]
또한, 유로 내 입자의 이동특성을 분석하는 것은 유로 내에서 입자를 포함하는 유체의 유량 및 속도분포와 같은 유동특성을 아울러 측정할 수 있어, 유량 측정, 유로 내부 상태 진단 및 유동 가시화 기술에 있어 큰 중요성을 갖는다.[유동 가시화 : D. Sinton, "Microscale flow visualization," Microfluid Nanofluid,Vol.1, No.1 (2004) pp.2-21.] 특히 진단분야에 있어서는 현장진단을 실현하기 위해 단일 소자 상에 집적될 수 있을 정도로 값싸고 간단하게 유로 내 입자의 이동특성을 분석할 수 있는 시스템이 절실히 필요한 실정이다.
현재 많이 사용되고 있는 유로 내 입자의 이동특성 분석 방법으로는 영상 이미지 분석법(Fluorescent image tracking velocimetry, Particle image velocimetry), 레이저 산란 및 분산 측정법(Laser scattering, dispersion analysis) 및 전기적 임피던스 분석법(Particle impedance analysis)이 있다.
영상 이미지 분석법은 일반입자 혹은 형광물질이 부착된 형광입자의 유로 내에서의 유동 영상을 획득한 후 그 영상 이미지를 분석하여 유로 내 입자의 이동특성을 분석하는 방법으로서 미국특허 제5,333,044호에 공지되어 있다. 이 방법은 유로 내에서 복잡한 흐름을 갖는 입자의 운동을 분석할 수 있는 장점이 있지만, 현 미경, 영상기기 및 영상데이터 처리용 컴퓨터가 필요하기 때문에 가격이 높고 구조가 복잡하여 소형화되기 어려운 단점이 있다. 또한, 형광입자를 이용하는 방법은 입자에 형광물질을 부착하는 부가적인 과정이 추가로 필요한 단점도 있다.
레이저 산란 및 분산 측정법은 입자가 흐르는 유로에 레이저를 조사한 후 입자가 유로를 통과할 때 나타나는 레이저의 광학적 산란 및 분산 정도를 측정하여 유로 내 입자의 이동특성을 분석하는 방법으로서 미국특허 제6,867,410호에 공지되어 있다. 이 방법은 별도로 형광물질을 부착해야 하는 과정이 필요하지 않지만, 레이저 광원, 다수의 광센서 및 복잡한 광학기기들이 필요하기 때문에 가격이 높고 구조가 복잡하여 소형화되기 어려운 단점이 있다. 또한, 유로 내의 입자가 레이저를 효과적으로 산란 및 분산시킬 수 있는 광학적 특성을 가지고 있어야 하는 제약사항이 있다. 아울러, 상기 두 가지 방법은 광학적 원리를 이용하기 때문에, 광학적 손실을 최소화하기 위해 유로를 구성하는 물질이 투명해야 하는 제약사항도 있다.
전기적 임피던스 분석법은 전극의 측정구역 내에 입자가 통과할 때 발생되는 전기적인 임피던스의 변화를 측정함으로써 유로 내에서 입자를 계수하거나 입자의 크기, 흐름의 위치 및 흐름의 속도를 측정하는 방법으로 미국 공개번호 제2003-0102854호에 공지되어 있다. 이런 미국 공개번호 제2003-0102854호에서 제안하는 방법은 한 쌍의 전극 사이를 통과하는 입자가 전극과 떨어진 상대적인 위치에 따라 전기적 신호의 크기도 변화하는 사실을 근거로 하여 유로 내 입자의 흐름의 상대적인 위치를 판단하는 것이다. 이 방법은 전기적인 측정방법을 이용하기 때문에 광 학장비가 필요 없고, 구조가 간단하여 소형화될 수 있는 장점이 있다. 하지만, 측정되는 입자의 위치가 절대적인 위치가 아닌 상대적인 위치에 국한되며, 전기적 신호의 크기는 전극 사이의 입자의 위치뿐만 아니라, 입자의 크기, 측정 주파수에 따른 입자의 임피던스 변화(spectral impedance) 및 입자를 함유한 유체의 전도도 등에 의해서도 영향을 받기 때문에, 유로 내에서 입자의 흐름의 위치를 정확하게 측정하기 위해서는 입자의 크기, 스펙트럴 임피던스(spectral impedance) 및 입자를 함유한 유체의 전도도 등의 사전정보를 알고 있어야 한다. 또한, 이 방법은 입자를 함유한 유체의 전도도가 동적이거나, 동일한 입자이면서도 그 크기나 스펙트럴 임피던스의 편차가 크거나, 다양한 크기, 스펙트럴 임피던스를 갖는 서로 다른 입자가 혼합된 경우, 입자의 이동특성을 측정하기 어려운 단점이 있다.
이 발명은 앞서 설명한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 제공된 것으로서, 복잡한 구조의 광학기기 및 분석기기가 필요 없으며, 입자의 크기, 스펙트럴 임피던스 및 입자를 함유한 유체의 전도도 등의 사전정보가 없어도, 유로 폭 방향에서의 입자의 절대적인 위치, 유로 길이방향으로의 입자의 속도, 입자의 진행방향과 같은 입자의 이동특성을 용이하게 분석할 수 있는 분석기 및 그 분석방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
이 발명의 제1 특징은, 입자를 함유한 유체가 유동하는 유로에 대해 서로 간에 간격을 두고 배열되며 직접 전압을 인가하고 그 임피던스를 측정하는 구동 전극과 감지 전극의 역할을 동시에 하는 전극 쌍을 각각 포함하는 제1, 제2 전극군과, 입자가 통과함에 따라 제1, 제2 전극군에서 변화되는 전기적인 펄스변화를 측정하여 입자의 이동특성을 분석하는 연산 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이 발명의 제2 특징은, 입자를 함유한 유체가 유동하는 유로에 대해 서로 간에 간격을 두고 배열되며 전압을 인가하는 한 쌍의 구동 전극과, 한 쌍의 구동 전극의 사이에 서로 간에 간격을 두고 배열되며 임피던스를 측정하는 감지 전극 쌍을 각각 포함하는 제1, 제2 전극군, 및 입자가 통과함에 따라 제1, 제2 전극군에서 변화되는 전기적인 펄스변화를 측정하여 입자의 이동특성을 분석하는 연산 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이 발명의 제1 전극군은 전극 쌍을 구성하는 한 쌍의 전극이 유로의 폭 방향 일측에서 타측으로 진행할수록 상호 이격되는 거리가 넓어지게 배열되고, 제2 전극군은 전극 쌍을 구성하는 한 쌍의 전극이 유로의 폭 방향 일측에서 타측으로 진행할수록 상호 이격되는 거리가 좁아지게 배열될 수 있다.
이 발명의 제1, 제2 전극군의 한 쌍의 전극은 양쪽 모두 상호 일정 각도로 각각 기울어진 상태로 배열되거나, 어느 하나는 일정 각도로 기울어진 상태로 배열되고, 나머지 하나는 유로의 폭방향으로 수직하게 배열될 수 있다.
이 발명의 전극은 바(bar) 타입, 휘어진 타입 또는 단차진 타입의 전극으로 구성할 수 있다.
이 발명의 제1, 제2 전극군은 유로의 동일면에 배열되거나, 유로의 어느 일면과 대향면에 각각 배열될 수 있다. 또한, 이 발명의 제1, 제2 전극군은 입자의 유동방향에 대해 유로의 상하면 및 좌우면에 각각 배열될 수 있다.
이 발명의 제1, 제2 전극군은 다수 개가 직렬로 추가 배열되거나, 다수 개가 병렬로 추가 배열될 수 있다.
이 발명의 제1, 제2 전극군은 다수의 전극을 포함하며, 전극 쌍은 다수의 전극 중에서 선택 조합하여 구성할 수 있다. 이 발명의 제1, 제2 전극군은 전극 쌍을 구성하는 전극들로 구성될 수 있다. 또한, 이 발명의 제1, 제2 전극군의 전극 쌍은 1개의 공통 전극을 각각 이용하여 구성할 수도 있다.
이 발명의 제3 특징은, 입자를 함유한 유체가 유동하는 유로에 대해 서로 간에 간격을 두고 배열되며 구동 전극과 감지 전극의 역할을 동시에 하는 전극 쌍을 각각 포함하는 제1, 제2 전극군에 직접 전압을 인가하여 유로 내에 전기장을 각각 발생시키는 제1 단계와; 유로 내에 위치한 입자를 이동시킴으로써 입자가 제1, 제2 전극군에 의한 전기장을 통과하면서 전기적인 펄스를 변화시키는 제2 단계; 및 제1, 제2 전극군에서 측정되는 전기적인 펄스변화를 기초로 하여, 연산 제어부에서 유로의 폭 방향에서의 입자의 위치, 유로의 길이방향으로의 입자의 속도 및 입자의 진행방향 등과 같은 입자의 이동특성을 분석하는 제3 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이 발명의 제4 특징은, 입자를 함유한 유체가 유동하는 유로에 대해 서로 간에 간격을 두고 배열되는 한 쌍의 구동 전극에 전압을 인가하여 유로 내에 전기장 을 각각 발생시키는 제1 단계와; 유로 내에 위치한 입자를 이동시킴으로써 입자가 한 쌍의 구동 전극의 사이에 서로 간에 간격을 두고 배열되며 감지 전극 쌍을 각각 포함하는 제1, 제2 전극군에 형성된 전기장을 통과하면서 전기적인 펄스를 변화시키는 제2 단계; 및 제1, 제2 전극군에서 측정되는 전기적인 펄스변화를 기초로 하여, 연산 제어부에서 유로의 폭 방향에서의 입자의 위치, 유로의 길이방향으로의 입자의 속도 및 입자의 진행방향 등과 같은 입자의 이동특성을 분석하는 제3 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이 발명은 제3 단계에서 연산 제어부가 제1, 제2 전극군에서 각각 측정되는 전기적인 펄스의 지속시간 비율을 기초로 하여 유로의 폭 방향에서의 입자의 위치를 분석할 수 있다.
이 발명은 제3 단계에서 연산 제어부가 제1, 제2 전극군에서 각각 측정되는 전기적인 펄스의 발생 순서를 통해 유로 내에서 유로의 길이방향으로의 입자의 진행방향을 분석할 수 있다.
이 발명은 제3 단계에서 연산 제어부가 제1, 제2 전극군에서 각각 측정되는 전기적인 펄스의 지속시간 합과, 상기 제1 전극군의 유로 길이방향의 이격거리와 상기 제2 전극군의 유로 길이방향의 이격거리의 합을 이용하여 유로 내에서 유로의 길이방향으로의 입자의 속도를 분석할 수 있다.
이 발명은 광학기기가 필요 없이 전기적인 임피던스 분석방법을 이용하여 유로 내 입자의 이동특성을 분석하는 기술로서, 그 원리를 먼저 설명한다.
도 1 및 도 2는 이 발명에 따른 유로 내 입자의 이동특성을 분석하는 원리를 설명하기 위한 개략도이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 이 발명의 원리를 설명하기 위해서는 그 전제조건으로서, 첫째, 입자 P1이 유로에 평행한 방향으로 전극 E11 ~ E22를 통과하고, 둘째, 입자는 전극 E11, E12 사이와 전극 E21, E22 사이를 하나씩 통과하며, 셋째, 입자는 등속도(v)로 전극을 통과해야 한다.
이러한 전제조건에서, 입자가 제1 전극군의 전극 E11과 E12 사이를 통과하는 동안 제1 전기적인 펄스가 발생하고, 입자가 제2 전극군의 전극 E21과 E22 사이를 통과하는 동안 제2 전기적인 펄스가 발생한다. 결국, 도 2에 도시된 바와 같은 두 개의 신호를 얻게 된다.
그러면, 어떤 원리로 유로 내 입자의 이동특성 중에서 입자의 통과위치를 측정하는지 살펴보자. 제1 전기적인 펄스의 지속시간(T1)과 제2 전기적인 펄스의 지속시간(T2)의 비율(R)은 입자의 등속도 가정에 의해, 수학식 1과 같이 입자의 위치 P의 함수로 나타낼 수 있다. 즉, 지속시간의 비율(R)을 측정함으로써 입자의 통과위치(P)를 얻을 수 있다.
Figure 112006050803196-pat00001
여기서, l1(P), l2(P)는 입자의 진행 경로에 해당하는 제1, 제2 전극군의 이 격거리이며, 입자의 통과위치(P)에 의해 결정된다.
그리고, 어떤 원리로 유로 내 입자의 이동특성 중에서 입자의 통과속도를 측정하는지 살펴보자. 제1 전기적인 펄스의 지속시간(T1)과 제2 전기적인 펄스의 지속시간(T2)의 합(T)은 수학식 2와 같이 나타낼 수 있다.
Figure 112006050803196-pat00002
그런데, 입자의 통과위치(P)는 수학식 1을 통해 얻을 수 있고, l1(P), l2(P)는 설계상으로 알고 있는 값이므로, 지속시간의 합(T)을 측정함으로써 입자의 통과속도(v)를 얻을 수 있다.
예를 들어, 제1 전극군과 제2 전극군을 구성하는 전극의 기울어진 각도가 동일할 때에는, 지속시간의 비율(R)과 입자의 위치(P)는 후술하겠지만 수학식 3과 같이 서로 일차식의 관계를 갖게 된다.
그러나, 도 1과 같이 제1 전극군과 제2 전극군의 기울어진 각도가 다를 경우에는, 지속시간의 비율(R)과 입자의 위치(P)는 수학식 1과 같이 비선형의 관계를 갖게 된다.
그리고, 이 발명은 전극에 의한 입자를 측정함에 있어 기존에 공지된 두 가지 방법을 모두 이용할 수 있다. 즉, 미국특허 제6,169,394호에 공지된 바와 같이, 감지 전극에 직접 전압을 인가하여 감지 전극 사이의 임피던스를 측정하여 입 자의 크기, 임피던스 등을 측정할 수 있다. 또한, 미국 공개번호 제2003-0102854호에 공지된 바와 같이, 감지 전극과 구동 전극을 각각 구성한 상태에서, 구동 전극에 전압을 인가하고, 감지 전극을 통해서는 그 사이의 임피던스를 측정하여 입자의 크기, 임피던스 등을 측정할 수 있다.
이와 같이, 이 발명에 따른 유로 내 입자의 이동특성 분석기 및 그 분석방법은 전기적 방식을 도입하기 때문에 복잡한 구조의 광학기기 및 분석기기가 필요 없다. 또한, 이 발명에 따른 유로 내 입자의 이동특성 분석기 및 그 분석방법은 입자의 크기, 스펙트럴 임피던스 및 입자를 함유한 유체의 전도도 등에 의해 영향을 받지 않는 전기적 신호의 지속시간을 바탕으로 하기 때문에 관련 사전정보 없이도 입자의 이동특성을 분석할 수 있다. 뿐만 아니라, 전기적 신호의 지속시간 특성이 측정 전 범위에 걸쳐 각기 다르게 나타나기 때문에 유로 폭 방향에서의 입자의 절대적인 위치를 측정할 수 있다.
아래에서는 이 발명에 따른 유로 내 입자의 이동특성 분석기의 양호한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 3은 이 발명의 한 실시예에 따른 유로 내 입자의 이동특성 분석기에 사용되는 전극을 나타낸 개략도이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 이 실시예의 유로 내 입자의 이동특성 분석기는 광학기기가 필요 없이 전기적인 임피던스 분석방법을 이용하여 유로(10) 내 입자(11, 12, 13)의 이동특성을 분석하며, 특히 입자(11, 12, 13)의 크기, 입자(11, 12, 13)의 스펙트럴 임피던스, 유로 내 유체의 전도도 등과 같은 사전정보가 없이 도 용이하게 입자(11, 12, 13)의 이동특성을 분석할 수 있도록 다음과 같이 구성된다.
즉, 이 실시예에 따른 유로 내 입자의 이동특성 분석기는 유로(10) 내를 이동하는 입자(11, 12, 13)의 이동특성을 파악하도록, 유로(10) 내에 전기장을 발생시키는 전극(20)과, 입자(11, 12, 13)가 통과됨에 따라 전극(20)에서의 전기적인 펄스변화를 측정하여 입자(11, 12, 13)의 이동특성을 분석하는 연산 제어부로 구성된다.
이 실시예의 전극(20)은 유로(10)의 길이방향(X)을 따라 다수 개가 순차적으로 배열되며, 바람직하게는 바(bar) 타입의 전극(20)이 사용된다. 그리고, 다수 개의 전극(20)들 중에서 한 쌍의 전극들은 유로(10)의 폭 방향(Y) 일측에서 타측으로 진행할수록 상호 이격되는 거리가 넓어지게 상호 일정 각도로 각각 기울어진 형상이며, 여기에서 '제1 전극군(21)'으로 규정한다. 다수 개의 전극(20)들 중에서 다른 한 쌍의 전극들은 제1 전극군(21)을 통과한 입자(11, 12)가 다시 통과되게 위치하며, 유로(10)의 폭 방향(Y) 일측에서 타측으로 진행할수록 상호 이격되는 거리가 좁아지게 제1 전극군(21)과 동일한 일정 각도로 각각 기울어진 형상이며, 여기에서 '제2 전극군(22)'으로 규정한다. 이 때, 유로(10) 내에서 입자(11, 12)의 진행방향과 다른 방향으로 진행하는 다른 입자(13)를 기준으로 판단하더라도, 제1, 제2 전극군(21, 22)은 상기와 동일하게 각각 규정된다.
도 4a는 도 3에 도시된 제1 입자(11)가 유로(10) 내를 이동하면서 제1, 제2 전극군(21, 22)에서 측정되는 전기적인 펄스변화를 각각 도시한 그래프들이고, 도 4b는 도 3에 도시된 제2 입자(12)가 유로(10) 내를 이동하면서 제1, 제2 전극군(21, 22)에서 측정되는 전기적인 펄스변화를 각각 도시한 그래프들이고, 도 4c는 도 3에 도시된 제3 입자(13)가 유로(10) 내를 이동하면서 제1, 제2 전극군(21, 22)에서 측정되는 전기적인 펄스변화를 각각 도시한 그래프들이다.
이 실시예는 도 4a 내지 도 4c에 도시된 바와 같은 전기적인 펄스변화를 나타낸 그래프들의 결과를 이용하여, 입자(11, 12, 13)의 이동특성을 용이하게 분석할 수 있다.
첫째, 입자(11, 12, 13)가 제1, 제2 전극군(21, 22)을 통과하는 유로 폭 방향(Y)의 위치는 입자(11, 12, 13)가 제1, 제2 전극군(21, 22)을 통과하는 소요시간의 비율에 의해, 즉 전기적인 펄스의 지속시간(T1, T2)의 비율(R = T2/(T1+T2))을 기초로 하여 분석이 가능하다. 유로(10)의 폭 방향에서의 입자(11, 12, 13)의 위치를 계산하는 수식은 다음과 같다.
Figure 112006050803196-pat00003
수학식에서, R : 제1 전극군에서 발생하는 전기적인 펄스의 지속시간 대비 제2 전극군에서 발생하는 전기적인 펄스의 지속시간의 비율이고, T1 : 입자가 제1 전극군(21)을 통과하는 동안의 전기적인 펄스의 지속시간이고, T2 : 입자가 제2 전극군(22)을 통과하는 동안의 전기적인 펄스의 지속시간이고, l2, l4 : 제2 전극 군(22)에서의 최대 이격거리와 최소 이격거리이고, L : 제1, 제2 전극군(21, 22)에서의 총 이격거리이고, w : 유로(10)의 폭이고, P : 유로(10)의 중심선을 기준으로 설정한 경우에 유로(10)의 폭 방향에서의 입자의 위치이다.
수학식 3에서 l2, l4 , w, L은 유로(10)에 전극(20)을 설치하고 그로 인해 확인이 가능한 수치값이다. 따라서, 전기적인 펄스의 지속시간 비율(R)의 수치를 확인한다면 결과적으로 유로(10) 폭 방향에서의 입자의 위치(P)를 계산할 수 있다.
둘째, 입자(11, 12, 13)가 제1, 제2 전극군(21, 22)을 통과하는 유로 길이방향(X)의 속도는 입자(11, 12, 13)가 제1, 제2 전극군(21, 22)을 통과하는 지속시간의 합(T = T1 + T2)을 기초로 하여 분석이 가능하다. 즉, 속도의 계산식은 당업자에게 널리 알려진 바와 같이 거리/시간(m/s)임으로, 입자(11, 12, 13)의 속도는, 제1 전극군(21)의 유로 길이방향의 이격거리(l1(P))와 제2 전극군(22)의 유로 길이방향의 이격거리(l2(P))의 합과, 제1, 제2 전극군(21, 22) 사이를 각각 통과한 시간(T1, T2) 즉, 전기적인 펄스의 지속시간 합(T)을 이용하여 계산할 수 있다.
셋째, 입자(11, 12, 13)가 제1, 제2 전극군(21, 22)을 통과하는 유로 길이방향(X)의 진행방향은 측정되는 전기적인 펄스의 발생순서를 기초로 하여 분석이 가능하다.
도 4a 내지 도 4c에 도시된 도면(a)은 제1 전극군(21)에서 측정되는 전기적인 펄스변화를 도시한 것이고, 도 4a 내지 도 4c에 도시된 도면(b)은 제2 전극군(22)에서 측정되는 전기적인 펄스변화를 도시한 것이다. 여기서 입자(11, 12, 13)의 제1, 제2 전극군으로의 각기 다른 통과위치에 따라 도 4a 내지 도 4c에 도시 된 전기적인 펄스변화의 지속시간의 비율(R = T2/(T1+T2))이 그에 따라 변화함을 보이고 있다. 또한, 입자(11, 13과 12)의 제1, 제2 전극군으로의 각기 다른 통과속도에 따라 도 4a, 도 4c에 도시된 전기적인 펄스변화와 도 4b에 도시된 전기적인 펄스변화의 지속시간의 합(T=T1+T2)이 그에 따라 변화함을 보이고 있다. 마지막으로, 입자 (11, 12와 13)의 제1, 제2 전극군으로의 각기 다른 통과방향에 따라 도 4a, 도 4b에 도시된 전기적인 펄스변화와 도 4c에 도시된 전기적인 펄스변화의 발생순서가 그에 따라 변화함을 보이고 있다. 결과적으로, 상술한 이 발명의 원리를 통해 전기적인 펄스변화를 이용하여 입자의 위치, 속도 및 진행방향을 동시에 분석할 수 있다.
도 5a 내지 도 5d는 도 3에 도시된 전극의 다양한 형상을 각각 나타낸 개략도들이다. 도 5a 및 도 5b는 연속적인 전극을 도시한 것으로서, 바 타입의 전극과 휘어진 타입의 전극이 각각 사용된다. 도 5c 및 도 5d는 단차진 타입의 전극도 사용될 수 있음을 도시한 것이다.
도 6a 내지 도 6c는 도 3에 도시된 한 쌍의 전극의 기울기, 유로의 폭 또는 전극 사이의 거리를 각각 다르게 설정한 경우를 나타낸 개략도들로서, 유로(10)에 전극(20)을 설치하는 과정에서 한 쌍의 전극의 기울기, 유로의 폭 또는 전극 사이의 거리를 다양하게 변경하더라도 무방함을 도시한 것이다.
도 7a 내지 도 7e는 도 3에 도시된 전극이 유로에 배열된 상태를 각각 나타낸 개략도들이다. 즉, 도 7a에 도시된 바와 같이 전극은 제1 전극군(21)과 제2 전 극군(22)이 유로(10)의 동일한 면에 배열되며, 도 7b에 도시된 바와 같이 전극은 제1, 제2 전극군(21, 22)이 각각 유로(10)의 상하 면에 각각 배열될 수 있다. 또한, 도 7c에 도시된 바와 같이 전극은 제1 전극군(21)이 유로(10)의 어느 일면에 배열되고, 제2 전극군(22)이 유로(10)의 일면과 대향하는 타면에 위치할 수도 있다. 또한, 도 7d에 도시된 바와 같이 제1, 제2 전극군(21, 22)을 구성하는 전극이 하나는 유로(10)의 어느 일면에 배열되고, 다른 하나는 유로의 일면(10)과 대향하는 대향면에 위치할 수도 있다. 도 7a 내지 도 7d에서는 입자의 진행방향을 기준으로 유로의 상하 면에 전극을 배치했으나, 동일 방식으로 유로의 좌우 면에 전극을 배치할 수도 있다.
또한, 도 7e에 도시된 바와 같이 전극(20)은 제1, 제2 전극군(21, 22)이 유로(10)의 상하 면과 좌우 면에 각각 배열될 수도 있다. 이렇게 전극을 유로의 상하 좌우 면에 배열할 경우에는, 유로의 좌우에 대한 입자의 위치, 속도 및 진행방향과, 유로의 상하에 대한 입자의 위치, 속도 및 진행방향을 동시에 측정할 수 있으므로, 유로의 단면에 대한 입자의 이동특성을 효과적으로 관찰할 수 있다.
도 8a 및 도 8b는 도 3에 도시된 다수의 전극군들 중에서 일부 유효한 전극들을 선택하여 사용할 수 있음을 나타낸 개략도들이다. 즉, 이 실시예는 유로(10)의 길이방향을 따라 다수 개의 전극(20)들이 배열되고, 이런 다수 개의 전극(20)들 중에서 일부 유효한 한 쌍의 전극들을 선택하여 제1 전극군(21)으로 사용하고, 다른 유효한 한 쌍의 전극들을 선택하여 제2 전극군(22)으로 사용할 수도 있다. 이 때, 도 8b에 도시된 바와 같이, 1개의 전극을 제1 전극군(21)과 제2 전극군(22)의 공통 전극으로 이용할 수도 있다. 이와 같이 하나의 전극을 공통 전극으로 하여 세 개의 전극을 이용하는 방법은 도 8b와 같이 다수 개의 전극 중에서 전극 쌍을 이루는 유효 전극으로 선택할 수도 있고, 단지 세 개의 전극만으로 제1 전극군(21)과 제2 전극군(22)을 구성할 수도 있다.
도 9a 및 도 9b는 도 3에 도시된 다수의 전극군들을 직렬 또는 병렬로 배치한 상태를 각각 나타낸 개략도들로서, 이 발명은 다수의 전극군들을 직렬 또는 병렬로 추가 배열할 수도 있다.
아래에서는 이 발명의 유로 내 입자의 이동특성 분석방법의 양호한 실시예에 대해 설명한다.
먼저, 이 실시예는 유로(10)의 폭 방향 일측에서 타측으로 진행할수록 상호 이격되는 거리가 넓어지게 상호 일정 각도로 각각 기울어진 한 쌍의 전극들로 구성된 제1 전극군(21)과, 제1 전극군(21)을 통과한 입자가 다시 통과되게 유로(10)의 길이방향을 따라 배열되며 유로(10)의 폭 방향 일측에서 타측으로 진행할수록 상호 이격되는 거리가 좁아지게 제1 전극군(21)과 동일한 일정 각도로 각각 기울어진 한 쌍의 전극들로 구성된 제2 전극군(22)이 유로(10) 내에 전기장을 각각 발생시킨다.
그런 다음, 이 실시예에서는 유로(10) 내에 위치한 입자를 내외부의 구동력으로 이동시켜서, 입자가 제1, 제2 전극군(21, 22)에 의한 전기장을 통과하면서 전기적인 펄스를 변화시킨다.
마지막으로 제1, 제2 전극군(21, 22)들에서 측정되는 전기적인 펄스변화를 기초로 하여, 연산 제어부에서 유로(10)의 폭 방향에서의 입자의 위치, 유로(10)의 길이방향으로의 입자의 속도, 입자의 진행방향과 같은 입자의 이동특성을 분석한다.
다만, 이 실시예의 마지막 단계에서 연산 제어부는 제1, 제2 전극군(21, 22)에서 각각 측정되는 전기적인 펄스의 지속시간 비율(R)을 기초로 하여, 유로(10)의 폭 방향에서의 입자의 위치를 분석한다. 그리고, 이 실시예의 마지막 단계에서 연산 제어부는 제1, 제2 전극군(21, 22)에서 각각 측정되는 전기적인 펄스의 발생 순서를 통해 유로(10) 내에서의 유로(10)의 길이방향으로의 입자의 진행방향을 분석한다. 또한, 이 실시예의 마지막 단계에서 연산 제어부는 제1, 제2 전극군(21, 22)에서 각각 측정되는 전기적인 펄스의 지속시간 합(T)을 기초로 하여 유로(10) 내에서의 유로(10)의 길이방향으로의 입자의 속도를 분석한다.
앞서 설명한 실시예들에서는 제1 전극군과 제2 전극군의 기울어진 각도가 동일한 경우를 일례로 하여 설명하였다. 그러나, 이 발명은 그 원리를 설명하기 위한 도 1과 같이 제1 전극군과 제2 전극군의 기울어진 각도를 다르게 구성할 수도 있다. 또한, 이 발명은 제1, 제2 전극군을 구성하는 모든 전극을 기울어진 상태로 배열하지 않고, 제1, 제2 전극군을 구성하는 전극들 중 어느 하나를 유로의 폭방향으로 수직하게 배열할 수도 있다.
또한, 앞서 설명한 실시예들에서는 제1, 제2 전극군을 구성하는 모든 전극들이 미국특허 제6,169,394호와 같이 직접 전압을 인가하여 그 사이의 임피던스를 측정하는 구동 전극과 감지 전극의 역할을 동시에 하도록 구성하였다. 그러나, 이 발명은 미국 공개번호 제2003-0102854호와 같이 전압을 인가하는 한 쌍의 구동 전극을 별도로 설치하고, 한 쌍의 구동 전극의 사이에 배열되어 제1, 제2 전극군을 구성하는 전극들이 전극 사이의 임피던스를 측정하는 감지 전극의 역할만 하도록 구성할 수도 있다.
앞서 상세히 설명한 바와 같이, 이 발명의 입자의 이동특성 분석기 및 그 분석방법은 유로의 길이방향을 따라 임의의 각도로 각각 기울어진 다수 개의 전극들에서 측정되는 전기적인 펄스변화를 기초로 하여, 유로의 폭 방향에서의 입자의 위치, 유로의 길이방향으로의 입자의 속도, 입자의 진행방향과 같은 입자의 이동특성을 용이하게 분석할 수 있는 장점이 있다.
또한, 이 발명은 제작비가 높으며 복잡한 구조의 광학기기 및 분석기기가 필요 없으며, 입자의 크기, 측정 주파수에 따른 입자의 임피던스 변화(spectral impedance) 및 입자를 함유한 유체의 전도도 등의 사전정보가 없어도 용이하게 입자의 이동특성을 분석할 수 있는 장점이 있다.
이상에서 이 발명의 입자의 이동특성 분석기 및 그 분석방법에 대한 기술사상을 첨부도면과 함께 서술하였지만 이는 이 발명의 가장 양호한 실시예를 예시적으로 설명한 것이지 이 발명을 한정하는 것은 아니다. 또한, 이 기술분야의 통상의 지식을 가진 자이면 누구나 이 발명의 기술사상의 범주를 이탈하지 않는 청구범위 내에서 다양한 변형 및 모방이 가능함은 명백한 사실이다.

Claims (34)

  1. 입자를 함유한 유체가 유동하는 유로 내부에 서로 간에 간격을 두고 배열되며 직접 전압을 인가하고 그 임피던스를 측정하는 구동 전극과 감지 전극의 역할을 동시에 하는 전극 쌍을 각각 포함하는 제1, 제2 전극군과,
    상기 입자가 통과함에 따라 상기 제1, 제2 전극군에서 변화되는 전기적인 펄스변화를 측정하여 상기 입자의 이동특성을 분석하는 연산 제어부를 포함하며,
    상기 제1 전극군은 다수의 전극 중에서 상기 전극 쌍을 구성하는 한 쌍의 전극이 상기 유로의 폭 방향 일측에서 타측으로 진행할수록 상호 이격되는 거리가 넓어지게 배열되고,
    상기 제2 전극군은 상기 다수의 전극 중에서 상기 전극 쌍을 구성하는 한 쌍의 전극이 상기 유로의 폭 방향 일측에서 타측으로 진행할수록 상호 이격되는 거리가 좁아지게 배열되는 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석기.
  2. 입자를 함유한 유체가 유동하는 유로 내부에 서로 간에 간격을 두고 배열되며 전압을 인가하는 한 쌍의 구동 전극과,
    상기 한 쌍의 구동 전극의 사이에 서로 간에 간격을 두고 배열되며 임피던스를 측정하는 감지 전극 쌍을 각각 포함하는 제1, 제2 전극군, 및
    상기 입자가 통과함에 따라 상기 제1, 제2 전극군에서 변화되는 전기적인 펄스변화를 측정하여 상기 입자의 이동특성을 분석하는 연산 제어부를 포함하며,
    상기 제1 전극군은 다수의 전극 중에서 상기 전극 쌍을 구성하는 한 쌍의 전극이 상기 유로의 폭 방향 일측에서 타측으로 진행할수록 상호 이격되는 거리가 넓어지게 배열되고,
    상기 제2 전극군은 상기 다수의 전극 중에서 상기 전극 쌍을 구성하는 한 쌍의 전극이 상기 유로의 폭 방향 일측에서 타측으로 진행할수록 상호 이격되는 거리가 좁아지게 배열되는 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석기.
  3. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
    상기 제1, 제2 전극군의 한 쌍의 전극은 양쪽 모두 상호 일정 각도로 각각 기울어진 상태로 배열되는 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석기.
  4. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
    상기 제1, 제2 전극군의 한 쌍의 전극 중 어느 하나는 일정 각도로 기울어진 상태로 배열되고, 나머지 하나는 유로의 폭방향으로 수직하게 배열되는 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석기.
  5. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
    상기 전극은 바(bar) 타입, 휘어진 타입 또는 단차진 타입의 전극인 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석기.
  6. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
    상기 제1, 제2 전극군은 상기 유로의 동일면에 배열되는 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석기.
  7. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
    상기 제1, 제2 전극군은 상기 유로의 어느 일면과 대향면에 각각 배열되는 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석기.
  8. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
    상기 제1, 제2 전극군은 상기 입자의 유동방향에 대해 상기 유로의 상하면 및 좌우면에 각각 배열되는 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석기.
  9. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
    상기 제1, 제2 전극군은 다수 개가 직렬로 추가 배열되는 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석기.
  10. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
    상기 제1, 제2 전극군은 다수 개가 병렬로 추가 배열되는 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석기.
  11. 삭제
  12. 삭제
  13. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
    상기 제1, 제2 전극군의 전극 쌍은 1개의 공통 전극을 각각 이용하여 구성한 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석기.
  14. 삭제
  15. 삭제
  16. 삭제
  17. 삭제
  18. 삭제
  19. 삭제
  20. 삭제
  21. 삭제
  22. 삭제
  23. 삭제
  24. 삭제
  25. 삭제
  26. 삭제
  27. 청구항 1에 기재된 이동특성 분석기를 이용하여 유로 내 입자의 이동특성을 분석하는 방법으로서,
    상기 제1, 제2 전극군에 직접 전압을 인가하여 유로 내에 전기장을 각각 발생시키는 제1 단계와;
    상기 유로 내에 위치한 입자를 이동시킴으로써 상기 입자가 상기 제1, 제2 전극군에 의한 전기장을 통과하면서 전기적인 펄스를 변화시키는 제2 단계; 및
    상기 제1, 제2 전극군에서 측정되는 전기적인 펄스변화를 기초로 하여, 상기 연산 제어부에서 상기 유로의 폭 방향에서의 입자의 위치, 상기 유로의 길이방향으로의 입자의 속도 및 입자의 진행방향 등과 같은 입자의 이동특성을 분석하는 제3 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석방법.
  28. 청구항 27에 있어서,
    상기 제3 단계에서 상기 연산 제어부는 상기 제1, 제2 전극군에서 각각 측정되는 전기적인 펄스의 지속시간 비율을 기초로 하여 상기 유로의 폭 방향에서의 입자의 위치를 분석하는 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석방법.
  29. 청구항 27 또는 청구항 28에 있어서,
    상기 제3 단계에서 상기 연산 제어부는 상기 제1, 제2 전극군에서 각각 측정되는 전기적인 펄스의 발생 순서를 통해 상기 유로 내에서 상기 유로의 길이방향으로의 입자의 진행방향을 분석하는 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석방법.
  30. 청구항 27 또는 청구항 28에 있어서,
    상기 제3 단계에서 상기 연산 제어부는 상기 제1, 제2 전극군에서 각각 측정되는 전기적인 펄스의 지속시간 합과, 상기 제1 전극군의 유로 길이방향의 이격거리와 상기 제2 전극군의 유로 길이방향의 이격거리의 합을 이용하여 상기 유로 내에서 상기 유로의 길이방향으로의 입자의 속도를 분석하는 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석방법.
  31. 청구항 2에 기재된 이동특성 분석기를 이용하여 유로 내 입자의 이동특성을 분석하는 방법으로서,
    상기 한 쌍의 구동 전극에 전압을 인가하여 유로 내에 전기장을 각각 발생시키는 제1 단계와;
    상기 유로 내에 위치한 입자를 이동시킴으로써 상기 입자가 상기 감지 전극 쌍을 각각 포함하는 상기 제1, 제2 전극군에 형성된 전기장을 통과하면서 전기적인 펄스를 변화시키는 제2 단계; 및
    상기 제1, 제2 전극군에서 측정되는 전기적인 펄스변화를 기초로 하여, 상기 연산 제어부에서 상기 유로의 폭 방향에서의 입자의 위치, 상기 유로의 길이방향으로의 입자의 속도 및 입자의 진행방향 등과 같은 입자의 이동특성을 분석하는 제3 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석방법.
  32. 청구항 31에 있어서,
    상기 제3 단계에서 상기 연산 제어부는 상기 제1, 제2 전극군에서 각각 측정되는 전기적인 펄스의 지속시간 비율을 기초로 하여 상기 유로의 폭 방향에서의 입자의 위치를 분석하는 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석방법.
  33. 청구항 31 또는 청구항 32에 있어서,
    상기 제3 단계에서 상기 연산 제어부는 상기 제1, 제2 전극군에서 각각 측정되는 전기적인 펄스의 발생 순서를 통해 상기 유로 내에서 상기 유로의 길이방향으로의 입자의 진행방향을 분석하는 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석방법.
  34. 청구항 31 또는 청구항 32에 있어서,
    상기 제3 단계에서 상기 연산 제어부는 상기 제1, 제2 전극군에서 각각 측정되는 전기적인 펄스의 지속시간 합과, 상기 제1 전극군의 유로 길이방향의 이격거리와 상기 제2 전극군의 유로 길이방향의 이격거리의 합을 이용하여 상기 유로 내에서 상기 유로의 길이방향으로의 입자의 속도를 분석하는 것을 특징으로 하는 유로 내 입자의 이동특성 분석방법.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105992946A (zh) * 2014-01-30 2016-10-05 惠普发展公司，有限责任合伙企业 微流体感测装置

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11680957B2 (en) 2018-02-12 2023-06-20 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Microfluidic flow sensor
US11547998B2 (en) 2018-02-12 2023-01-10 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Devices to measure flow rates with movable elements
WO2021045687A1 (en) * 2019-09-03 2021-03-11 Singapore University Of Technology And Design Microfluidic device for single cell processing and method and system for single cell processing using the microfluidic device

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR970000633B1 (ko) * 1986-09-30 1997-01-16 컬로이들 다이나믹스 피티와이. 리미티드 입자 크기 및 전하량 측정 방법 및 장치
US5653859A (en) 1993-01-21 1997-08-05 Parton; Adrian Methods of analysis/separation
US6149789A (en) 1990-10-31 2000-11-21 Fraunhofer Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. Process for manipulating microscopic, dielectric particles and a device therefor
JP2005512042A (ja) 2001-12-03 2005-04-28 ボード・オブ・リージエンツ，ザ・ユニバーシテイ・オブ・テキサス・システム 粒子インピーダンスセンサ

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3927324A (en) * 1974-08-30 1975-12-16 Nasa Micrometeoroid velocity and trajectory analyzer
EP1089824B1 (de) * 1998-06-26 2003-11-05 Evotec OAI AG Elektrodenanordnung zur dielektrophoretischen partikelablenkung
ATE261114T1 (de) * 2002-02-01 2004-03-15 Leister Process Tech Mikrofluidisches bauelement und verfahren für die sortierung von partikeln in einem fluid

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR970000633B1 (ko) * 1986-09-30 1997-01-16 컬로이들 다이나믹스 피티와이. 리미티드 입자 크기 및 전하량 측정 방법 및 장치
US6149789A (en) 1990-10-31 2000-11-21 Fraunhofer Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. Process for manipulating microscopic, dielectric particles and a device therefor
US5653859A (en) 1993-01-21 1997-08-05 Parton; Adrian Methods of analysis/separation
JP2005512042A (ja) 2001-12-03 2005-04-28 ボード・オブ・リージエンツ，ザ・ユニバーシテイ・オブ・テキサス・システム 粒子インピーダンスセンサ

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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