KR100768713B1 - Test device of organic electro display panel - Google Patents

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Abstract

An inspection device of an organic electroluminescence display panel is provided to reduce a manufacturing cost by reusing a panel module without the damage of a driver although the inspection of the panel module is finished. An inspection device of an organic electroluminescence display panel includes an inspection substrate and a pressure unit(30). The inspection substrate includes a second contacting plane. The second contacting plane supplies power by being contacted to a first contacting plane of a driver. The driver is coupled to a pad which is formed on a side of the panel part. The pressure unit(30) presses the driver by moving up and down for closely contacting the first and second contacting planes, and includes a coupling part(31), a pressure part(32), a supplementary part(33), and a knob(34). The coupling part(31) is coupled to the inspection substrate. The pressing part(32) is coupled to an end of the coupling part(31) by a pin and compresses the first contacting plane of the driver. The supplementary part(33) is coupled to an other end of the coupling part(31) by the pin. The knob(34) is coupled to an end of respective pressure part(32) and supplementary part(33) by the pin.

Description

유기 ＥＬ 디스플레이 패널 검사 장치{TEST DEVICE OF ORGANIC ELECTRO DISPLAY PANEL}Organic EL display panel inspection device {TEST DEVICE OF ORGANIC ELECTRO DISPLAY PANEL}

도 1은 종래 유기이엘 디스플레이 패널 검사를 보여주는 도면이다.1 is a view showing a conventional organic EL display panel inspection.

도 2는 본 발명에 따른 시험용기판에 패널 모듈이 장착되어 검사하기 위한 상태를 나타내는 도면이다.2 is a view showing a state for inspecting the panel module is mounted on the test substrate according to the present invention.

도 3은 본 발명에 따른 가압부재를 나타내는 도면이다.3 is a view showing a pressing member according to the present invention.

도 4와 도 5는 도 3의 가압부재에 대한 작동 상태도이다.4 and 5 is an operating state diagram for the pressing member of FIG.

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *

20 : 시험용기판 30 : 가압부재20: test substrate 30: pressure member

31 : 결합부 32 : 가압부 31: coupling portion 32: pressing portion

33 : 보조부 34 : 손잡이부33: auxiliary part 34: handle

본 발명은 지렛대 원리에 의해 가압부재가 드라이버와 시험용기판을 밀착시켜 줌으로써, 납땜 작업이 없더라도 디스플레이 패널 모듈을 시험용기판에 전기적으로 접속시켜 테스트가 가능한 것을 특징으로 하는 유기이엘 디스플레이 패널 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an organic EL display panel inspection apparatus, characterized in that the pressing member is in close contact with the driver and the test substrate according to the principle of the lever, so that the test can be conducted by electrically connecting the display panel module to the test substrate even without soldering. .

일반적으로, 유기 EL 디스플레이는 평판 디스플레이 소자 중 하나로 웨이퍼 상의 양전극층(anode layer)과 음전극층(cathode layer) 사이에 유기 전계 발광층인 유기 박막층을 개재하여 구성하며, 매우 얇은 두께의 매트릭스 형태를 이룬다.In general, an organic EL display is one of flat panel display devices, and is formed between an anode layer and a cathode layer on a wafer through an organic thin film layer, which is an organic electroluminescent layer, and forms a matrix having a very thin thickness.

도 1은 종래 유기이엘 디스플레이 패널 검사를 보여주는 도면이다.1 is a view showing a conventional organic EL display panel inspection.

도시한 바와 같이, 일반적인 유기 EL 디스플레이 패널은 패널부(11), 커버부(12) 및 드라이버(15)로 이루어진다.As shown in the drawing, a general organic EL display panel is composed of a panel portion 11, a cover portion 12, and a driver 15.

상기 패널부(11)에는 다수의 화소로 이루어진 소자(14)가 구비되며, 상기 커버부(12)는 소자(14)를 커버하면서 패널부(11)와 접착된다.The panel unit 11 includes an element 14 including a plurality of pixels, and the cover unit 12 is bonded to the panel unit 11 while covering the element 14.

이때, 통상 패널부(11)의 크기가 커버부(12)의 크기보다 큰데, 커버부(12)를 통해 커버되지 않는 패널부(11)에는 드라이버(15)와 접촉하기 위한 패드(13)가 형성된다.At this time, the size of the panel portion 11 is larger than the size of the cover portion 12. In the panel portion 11 which is not covered by the cover portion 12, a pad 13 for contacting the driver 15 is provided. Is formed.

상기 패드(13)는 소자(14)와 전극으로 서로 연결되어 있고, 드라이버(15)와 결합함으로써, 드라이버(15)의 제어에 의해 소자(14)가 작동하여 영상이 표현된다.The pad 13 is connected to each other by an element 14 and an electrode, and coupled to the driver 15, the element 14 operates under the control of the driver 15 to display an image.

한편, 통상 유기 이엘 디스플레이 패널을 제조한 다음, 생산된 제품의 일부를 선택해서 패널이 정확하게 동작하는지 여부를 시험하게 된다.Meanwhile, an organic EL display panel is usually manufactured, and then a part of the produced product is selected to test whether the panel operates correctly.

즉, 유기이엘 디스플레이 패널을 시험용기판(18)과 결속하여 전원을 공급함 으로써, 패널의 상태를 점검할 수 있게 된다.That is, by binding the organic EL display panel with the test substrate 18 and supplying power, the state of the panel can be checked.

이를 위해, 시험용 기판(18)에는 결속핀(19)이 상측으로 돌출되고, 드라이버(15)에는 결속핀(19)과 결속되는 결속홀(16)이 구비되는바, 상기 결속홀(16) 부분이 각 결속핀(19)에 안착된 다음 납땜 작업을 통해 드라이버(15)와 시험용기판(18)의 결속상태를 유지하게 된다.To this end, the test board 18 is provided with a binding pin 19 protruding upward, and the driver 15 is provided with a binding hole 16 for binding with the binding pin 19, wherein the binding hole 16 part is provided. Each of the binding pins 19 is seated and then soldered to maintain the binding state between the driver 15 and the test substrate 18.

그러나, 드라이버와 시험용 기판이 납땜 작업에 의해 서로 결속되면, 검사가 완료된 다음 납땜을 제거하는 과정에서 얇은 막 형상의 드라이버에 손상이 발생한다.However, if the driver and the test substrate are bound to each other by the soldering operation, damage to the thin film-shaped driver occurs in the process of removing the solder after the inspection is completed.

즉, 드라이버에 손상이 발생하면 검사용으로 선택된 디스플레이 패널은 재사용이 불가능하여 제조단가를 상승시키는 문제점이 있다.In other words, if the driver is damaged, the display panel selected for inspection cannot be reused, thereby increasing the manufacturing cost.

이에 본 발명은 상기와 같은 문제점들을 해소하기 위해 안출된 것으로서, 본 발명은 유기이엘 디스플레이 패널이 납땜 작업을 필요로 하지 않는 별도의 장비에 의해 시험용 기판에 밀착되도록 함으로써, 검사가 완료된 패널의 재사용이 가능하도록 함을 목적으로 한다.Accordingly, the present invention has been made to solve the above problems, the present invention is to ensure that the organic EL display panel is in close contact with the test substrate by a separate equipment that does not require soldering operation, it is possible to reuse the inspected panel It is aimed at making it possible.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은 패널부의 일측에 구비된 패드와 결합되는 드라이버의 제1접촉면과 접촉되어 전원을 공급하는 제2접촉면을 구비한 시험용기판; 및 지렛대 방식에 의해 상기 드라이버를 가압하여 상기 제1접촉면과 제2접촉면이 밀착되도록 하는 가압부재를 포함하여 이루어지는 유기이엘 디스플레이 패널 검사 장치를 제공한다.The present invention for achieving the above object is a test substrate having a second contact surface for supplying power by contacting the first contact surface of the driver coupled to the pad provided on one side of the panel portion; And a pressing member pressurizing the driver by a lever method so that the first contact surface and the second contact surface come into close contact with each other.

본 발명에서 상기 가압부재는 상기 시험용기판에 결합되는 결합부; 상기 결합부의 일단에 핀결합되고 상기 드라이버의 제1접촉면을 가압하는 가압부; 상기 결합부의 타단에 핀결합되는 보조부; 및 상기 가압부의 일단에 핀결합되고 보조부의 일단에 핀결합되는 손잡이부로 구성됨을 특징으로 한다.The pressing member in the present invention is a coupling portion coupled to the test substrate; A pressing part pinned to one end of the coupling part to press the first contact surface of the driver; An auxiliary part pin-coupled to the other end of the coupling part; And a handle portion pinned to one end of the pressing portion and pin-coupled to one end of the auxiliary portion.

본 발명에서 상기 가압부의 저면에는 완충재가 더 구비됨을 특징으로 한다.In the present invention, the bottom of the pressing portion is characterized in that the buffer material is further provided.

이때, 상기 완충재는 실리콘을 사용하여 제조되고, 상기 완충재의 내부에는 통공이 형성되는 것을 특징으로 한다.At this time, the cushioning material is manufactured using silicon, characterized in that the through-holes are formed in the buffer.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 검사장치의 바람직한 실시예를 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described a preferred embodiment of the inspection apparatus according to the present invention.

이러한 과정에서 도면에 도시된 선들의 두께나 구성요소의 크기 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시되어 있을 수 있다.In this process, the thickness of the lines or the size of the components shown in the drawings may be exaggerated for clarity and convenience of description.

또한, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로써, 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다.In addition, terms to be described later are terms defined in consideration of functions in the present invention, which may vary according to a user's or operator's intention or custom.

그러므로, 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.Therefore, definitions of these terms should be made based on the contents throughout the specification.

한편, 본 실시예는 본 발명의 권리범위를 한정하는 것이 아니라 단지 예시로 제시된 것이며, 종래 구성과 동일한 부분은 동일한 부호 또는 명칭을 사용한다.On the other hand, this embodiment is not intended to limit the scope of the present invention but merely presented by way of example, the same parts as the conventional configuration uses the same reference numerals or names.

도 2는 본 발명에 따른 시험용기판에 패널 모듈이 장착되어 검사하기 위한 상태를 나타내는 도면이고, 도 3은 본 발명에 따른 가압부재를 나타내는 도면이며, 도 4와 도 5는 도 3의 가압부재에 대한 작동 상태도이다.Figure 2 is a view showing a state for testing the panel module is mounted on the test substrate according to the present invention, Figure 3 is a view showing a pressing member according to the present invention, Figure 4 and Figure 5 is a pressing member of Figure 3 This is a working state diagram.

도시한 바와 같이, 패널부(11)와 드라이버(15)가 일체로 된 패널모듈이 시험용기판(20)에 장착되어 패널부(11)의 동작상태를 점검하게 된다.As shown, a panel module in which the panel unit 11 and the driver 15 are integrated is mounted on the test substrate 20 to check the operation state of the panel unit 11.

이때, 상기 패널부(11)에는 다소의 화소가 구비되고, 패드에 드라이버가 부착되어 전기적으로 연결되는 것으로서, 도 1에 도시된 종래 설명된 내용과 동일하여 이에 대한 자세한 설명은 생략한다.In this case, the panel unit 11 is provided with some pixels, and a driver is attached to the pad and is electrically connected to each other, and thus the detailed description thereof will be omitted.

상기 드라이버(15)의 일끝단 부분에는 제1접촉면(21)이 구비되고, 제1접촉면에 대응하는 제2접촉면(22)이 시험용기판(20)에 구비된다.One end portion of the driver 15 is provided with a first contact surface 21, and a second contact surface 22 corresponding to the first contact surface is provided on the test substrate 20.

이때, 상기 제2접촉면(22)이 도 1의 결속핀(19)일 경우, 제1접촉면(21)은 결속핀(19)이 관통되기 위한 결속홀(16)이 된다.At this time, when the second contact surface 22 is the binding pin 19 of FIG. 1, the first contact surface 21 is a binding hole 16 through which the binding pin 19 passes.

상기 제1접촉면(21)과 제2접촉면(22)의 접촉에 의해 드라이버(15)에 전원이 공급되고, 드라이버(15)의 제어에 의해 패널부(11)는 영상을 구현한다.Power is supplied to the driver 15 by the contact between the first contact surface 21 and the second contact surface 22, and the panel unit 11 implements an image under the control of the driver 15.

이때, 가압부재(30)가 시험용기판(20)에 장착되는데, 가압부재(30)는 지렛대 방식에 의해 드라이버(15)를 가압한다.At this time, the pressing member 30 is mounted on the test substrate 20, the pressing member 30 presses the driver 15 by the lever method.

이로 인해, 제1접촉면(21)과 제2접촉면(22)은 납땜 작업 없이 밀착되어 안정적인 패널 모듈의 검사가 실시된다.For this reason, the 1st contact surface 21 and the 2nd contact surface 22 are closely contacted without soldering operation, and the inspection of a stable panel module is performed.

상기 가압부재(30)는 결합부(31), 가압부(32), 보조부(33) 및 손잡이부(34)를 구비한다.The pressing member 30 has a coupling portion 31, the pressing portion 32, the auxiliary portion 33 and the handle portion 34.

상기 결합부(31)는 대칭된 형상을 갖는 한 쌍으로 이루어지고, 소정간격 떨어진 상태에서 핀(41,42)결합을 한다.The coupling part 31 is formed in a pair having a symmetrical shape, and engages the pins 41 and 42 at a predetermined interval apart.

즉, 상기 결합부(31)의 상단은 소정간격 이격된 제1결합면(311) 및 제2결합면(312)를 구비하는데, 각 결합부(31)의 제1결합면(311)이 이격된 상태에서 제1핀(41)과 결합하고, 각 결합부(31)의 제2결합면(311)이 이격된 상태에서 제2핀(42)과 결합한다.That is, the upper end of the coupling portion 31 has a first coupling surface 311 and the second coupling surface 312 spaced by a predetermined interval, the first coupling surface 311 of each coupling portion 31 is spaced apart In combination with the first pin 41, and the second coupling surface 311 of each coupling portion 31 is coupled to the second pin 42 in a spaced apart state.

상기 결합부(31)의 하단에는 시험용기판(20)과 밀착되기 위한 결합판(314)이 구비되고, 결합판(314)에는 시험용기판(20)과 나사 체결을 위한 결합홀(313)을 갖는다.A lower end of the coupling part 31 is provided with a coupling plate 314 to be in close contact with the test substrate 20, and the coupling plate 314 has a coupling hole 313 for screwing with the test substrate 20. .

상기 가압부(32)는 결합부(31)의 제1결합면(311)에 장착된 제1핀(41)과 회전 가능하도록 결합되고, 저면이 드라이버(15)의 제1접촉면(21)을 가압한다.The pressing portion 32 is rotatably coupled to the first pin 41 mounted on the first coupling surface 311 of the coupling portion 31, and the bottom surface of the pressing portion 32 contacts the first contact surface 21 of the driver 15. Pressurize.

상기 보조부(33)는 결합부(31)의 제2결합면(312)에 장착된 제2핀(42)과 회전 가능하도록 결합된다.The auxiliary part 33 is rotatably coupled to the second pin 42 mounted on the second coupling surface 312 of the coupling part 31.

상기 손잡이부(34)는 사용자가 파지하여 상하 이동시킬 정도로 충분한 길이를 갖는데, 손잡이부(34)의 일끝단부는 가압부(32)의 일끝단 상측부분과 제3핀(43)에 의해 결합되어 결합부분의 회전이 가능해진다.The handle portion 34 has a length sufficient to allow the user to grip and move up and down. One end of the handle portion 34 is coupled by an upper end portion of the pressing portion 32 and a third pin 43. The coupling part can be rotated.

또한, 상기 손잡이부(34)와 보조부(33)의 끝단부분은 제4핀(44)에 의해 결합되어 결합부분의 회전이 가능해진다.In addition, the end portion of the handle portion 34 and the auxiliary portion 33 is coupled by the fourth pin 44 to enable the rotation of the coupling portion.

한편, 통상적인 드라이버(15)는 충격에 약한 얇은 막 형태를 갖기 때문에, 가압부(32)의 저면에는 완충재(321)가 추가로 구비된다.On the other hand, since the conventional driver 15 has a thin film form that is weak against impact, the shock absorbing material 321 is further provided on the bottom surface of the pressing portion 32.

이러한 완충재(321)는 접착제에 의해 드라이버(15)의 저면에 부착되거나, 드라이버(15)의 저면에 돌출된 부분 사이에 끼움 결합될 수 있다.The cushioning material 321 may be attached to the bottom of the driver 15 by an adhesive, or may be fitted between portions projecting from the bottom of the driver 15.

상기 완충재(321)는 드라이버(15)와의 직접적인 접촉이 발생하더라도 드라이버(15) 자체에 충격을 최소화하기 위해 연질 물질로 제조하되, 실리콘을 주원료로 사용한다.The shock absorbing material 321 is made of a soft material to minimize the impact on the driver 15 itself even though direct contact with the driver 15 occurs, but uses silicon as a main material.

그리고, 상기 완충재(321)는 내부를 관통하는 통공(322)이 형성되어, 공기층에 의해 드라이버(15)에 가해지는 충격을 저감시킬 수 있다.In addition, the buffer member 321 may have a through hole 322 penetrating therein, thereby reducing the impact applied to the driver 15 by the air layer.

상기와 같은 구조로 이루어진 유기이엘 디스플레이 패널 검사 장치에 대한 작용을 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the organic EL display panel inspection device having the above structure is as follows.

가압부재(30)의 결합부(31)를 시험용기판(20)에 안착시키고, 나사 결합에 의해 가압부재(30)와 시험용기판(20)이 고정된 상태를 유지한다.The coupling part 31 of the pressing member 30 is seated on the test substrate 20, and the pressing member 30 and the test substrate 20 are fixed by screwing.

상기한 상태에서, 드라이버(15)의 제1접촉면(21)을 시험용기판(20)의 제2접촉면(22)에 위치시키고, 가압부재(30)를 통해 제1접촉면(21)과 제2접촉면(22)을 밀착시킨다.In the above state, the first contact surface 21 of the driver 15 is positioned on the second contact surface 22 of the test substrate 20, and the first contact surface 21 and the second contact surface through the pressing member 30. (22) is in close contact.

즉, 본 발명에 따른 가압부재(30)의 손잡이부(34)가 도 5와 같이 시험용기판(20)에 대해 경사지게 위치하면, 가압부(32)도 시험용기판(20)에서 이격되어 경사지게 위치한다.That is, when the handle portion 34 of the pressing member 30 according to the present invention is inclined with respect to the test substrate 20 as shown in Figure 5, the pressing portion 32 is also spaced apart from the test substrate 20 inclined. .

상기한 상태에서 사용자가 손잡이부(34)를 하방으로 누르면, 제3핀(43) 및 제4핀(44)과 회전 가능하게 결합된 손잡이부(34)는 시계방향으로 회전된다.In the above state, when the user pushes the handle part 34 downward, the handle part 34 rotatably coupled to the third pin 43 and the fourth pin 44 is rotated clockwise.

상기 손잡이부(34)의 회전에 의해, 이와 연계된 보조부(33)는 제2핀(42)을 회전축으로 하여 시계 반대방향으로 회전된다.By the rotation of the handle portion 34, the auxiliary portion 33 associated with it is rotated counterclockwise with the second pin 42 as the rotation axis.

또한, 상기 손잡이부(34)의 회전에 의해, 이와 연계된 가압부(32)는 제1핀(41)을 회전축으로 하여 시계 반대방향으로 회전된다.In addition, by the rotation of the handle 34, the pressing portion 32 associated with it is rotated counterclockwise with the first pin 41 as the rotation axis.

이때, 상기 가압부(32)가 회전되면서, 그 저면이 도 4와 같이 드라이버(15)의 제1접촉면(21)을 가압 하여, 제1접촉면(21)과 제2접촉면(22)이 밀착된다.At this time, while the pressing unit 32 is rotated, the bottom surface presses the first contact surface 21 of the driver 15 as shown in FIG. 4, so that the first contact surface 21 and the second contact surface 22 are in close contact with each other. .

상기한 상태에서 패널 모듈의 검사가 완료되면, 사용자가 손잡이부(34)를 들어올린다.When the inspection of the panel module is completed in the above state, the user lifts the handle 34.

그리하면, 손잡이부(34)가 시계 반대 방향으로 회전하면서, 이와 연계된 보조부(33)는 제2핀(42)을 회전축으로 하여 시계방향으로 회전된다.Then, while the handle portion 34 rotates counterclockwise, the auxiliary portion 33 associated therewith is rotated clockwise with the second pin 42 as the rotation axis.

또한, 상기 손잡이부(34)의 회전에 의해, 이와 연계된 가압부(32)는 제1핀(41)을 회전축으로 하여 시계방향으로 회전된다.In addition, by the rotation of the handle portion 34, the pressing portion 32 associated with it is rotated in the clockwise direction using the first pin 41 as the rotation axis.

이때, 상기 가압부(32)가 회전되면서, 그 저면이 드라이버(15)와 이격된다.At this time, while the pressing unit 32 is rotated, the bottom surface of the driver 15 is spaced apart.

한편, 상기 가압부(32)에 실리콘 재질의 완충재(321)가 장착됨으로써, 드라이버(15)의 손상을 억제하게 된다.On the other hand, by mounting the shock absorbing material 321 of the silicon material in the pressing portion 32, it is possible to suppress the damage to the driver 15.

이때, 완충재(321)의 통공(322)으로 공기층이 형성됨으로써, 가압부(32)의 과도한 가압력이 발생하더라도 공기층에 의한 충격 흡수로 드라이버(15)를 보호하게 된다.At this time, the air layer is formed through the through hole 322 of the buffer material 321, so that the driver 15 is protected by shock absorption by the air layer even if excessive pressing force of the pressing unit 32 occurs.

본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 하여 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다.Although the present invention has been described with reference to the embodiments shown in the drawings, this is merely exemplary, and those skilled in the art to which the art belongs can make various modifications and other equivalent embodiments therefrom. Will understand.

따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 아래의 특허청구범위에 의해서 정하여져야 할 것이다.Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the claims below.

상기한 바와 같이 본 발명에 따른 유기이엘 디스플레이 패널 검사 장치는 가압부재가 패널 모듈의 드라이버와 시험용기판을 밀착시켜 줌으로써, 종래 드라이버와 시험용기판이 납땜 작업에 의해 결합되는 공정을 삭제하는 효과가 있다.As described above, the organic EL display panel inspection apparatus according to the present invention has an effect of eliminating a process in which the pressing member is coupled by a soldering operation to the driver and the test substrate of the panel module.

이로 인해, 패널 모듈의 검사가 완료되더라도 드라이버에 손상이 가지 않아 검사 완료된 패널 모듈의 재사용이 가능하여, 제조비용을 절감하는 효과가 있다.Thus, even if the inspection of the panel module is completed, there is no damage to the driver, so that the inspected panel module can be reused, thereby reducing the manufacturing cost.

Claims (5)

삭제delete 패널부의 일측에 구비된 패드와 결합되는 드라이버의 제1접촉면과 접촉되어 전원을 공급하는 제2접촉면을 구비한 시험용기판; 및A test substrate having a second contact surface for supplying power by contacting a first contact surface of a driver coupled to a pad provided at one side of the panel unit; And 상기 드라이버를 가압하여 상기 제1접촉면과 상기 제2접촉면이 밀착되도록 하는 가압부재를 포함하고,And a pressing member pressurizing the driver to bring the first contact surface into close contact with the second contact surface. 상기 가압부재는 상기 시험용기판에 결합되는 결합부;The pressing member is a coupling portion coupled to the test substrate; 상기 결합부의 일단에 핀결합되고 상기 드라이버의 제1접촉면을 가압하는 가압부;A pressing part pinned to one end of the coupling part to press the first contact surface of the driver; 상기 결합부의 타단에 핀결합되는 보조부;An auxiliary part pin-coupled to the other end of the coupling part; 상기 가압부의 일단에 핀결합되고 보조부의 일단에 핀결합되는 손잡이부를 포함하여 이루어지는 유기이엘 디스플레이 패널 검사 장치.An organic EL display panel inspection device comprising a handle portion pinned to one end of the pressing portion and pinned to one end of the auxiliary portion. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 가압부의 저면에는 완충재가 더 구비되는 유기이엘 디스플레이 패널 검 사 장치.An organic EL display panel inspection device further provided with a cushioning material on the bottom of the pressing portion. 제 3항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 완충재는 실리콘을 사용하여 제조되는 유기이엘 디스플레이 패널 검사 장치.The buffer material is an organic EL display panel inspection device manufactured using silicon. 제 3항 또는 제 4항에 있어서,The method according to claim 3 or 4, 상기 완충재의 내부에는 통공이 형성되는 유기이엘 디스플레이 패널 검사 장치.The organic EL display panel inspection device is formed through the interior of the buffer material.
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