KR100748241B1 - High brightness led with protective function of electrostatic discharge damage and method of manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

A high brightness LED and its manufacturing method are provided to prevent the damage of an LED chip by bypassing a reverse current generated due to electrostatic discharge using a parallel connection structure between the LED chip and an electrostatic discharge protecting element. A lead frame(50) is composed of an anode lead(51) and a cathode lead(52). A package(10) is used for holding partially the lead frame and exposing the entire upper surface of the lead frame and a portion of the lower surface to the outside. A fixing member(10a) is used for fixing the anode and cathode leads with each other as one piece. An LED chip(30) is mounted on the exposed upper surface of the lead frame. An electrostatic discharge protection element(40) is mounted on the exposed lower surface of the lead frame. The electrostatic discharge protection element and the LED chip are connected with each other in parallel through a wire. A first molding member(20) is used for protecting the LED chip. A second molding member(70) is used for protecting the electrostatic discharge protection element.

Description

정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드 및 그 제조방법{High brightness LED with protective function of electrostatic discharge damage and method of manufacturing the same}High brightness LED with protective function of electrostatic discharge damage and method of manufacturing the same}

도 1은 종래 기술에 따른 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드를 도시한 단면도.1 is a cross-sectional view showing a high-brightness LED having a built-in protection against electrostatic discharge shock according to the prior art.

도 2는 종래 기술에 따른 또 다른 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드를 도시한 단면도.Figure 2 is a cross-sectional view showing a high brightness light emitting diode with a built-in protection against the electrostatic discharge shock according to the prior art.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드를 도시한 단면도.3 is a cross-sectional view showing a high-brightness LED having a built-in protection against electrostatic discharge shock according to an embodiment of the present invention.

도 4는 도 3에 도시된 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드의 역전류 방지회로를 개략적으로 도시한 도면.FIG. 4 is a schematic diagram illustrating a reverse current prevention circuit of a high brightness light emitting diode having a built-in protection against electrostatic discharge shock shown in FIG. 3.

도 5a 내지 도 5d는 본 발명의 일 실시예에 따른 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드의 제조방법을 설명하기 위해 순차적으로 나타낸 공정 단면도.5A through 5D are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing a high brightness LED having a built-in protection against electrostatic discharge shock according to an embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for main parts of the drawings>

10 : 패키지 10a : 고정부재10: package 10a: fixing member

20 : 제1 몰딩재 30 : LED 칩20: first molding material 30: LED chip

40 : 정전기 방전 충격 보호소자 50 : 리드프레임 40: electrostatic discharge impact protection element 50: lead frame

51 : 양극 리드 52 : 음극 리드 51: anode lead 52: cathode lead

60 : 와이어 70 : 제2 몰딩재60: wire 70: second molding material

본 발명은 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드 및 그 제조방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 정전기 방전 충격으로부터 발광 다이오드를 보호하고 발광 다이오드의 휘도를 개선하는 동시에 제조공정이 단순한 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드 및 그 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a high-brightness light emitting diode having a built-in protection against electrostatic discharge shock and a method of manufacturing the same, and more particularly, to protect the light emitting diode from electrostatic discharge shock, improve the brightness of the light emitting diode, and at the same time, the manufacturing process is simple. The present invention relates to a high brightness light emitting diode having a built-in protection against electric shock and a manufacturing method thereof.

일반적으로 발광 다이오드(Light Emitting Diode : LED)는 반도체의 p-n 접합구조를 이용하여 주입된 소수캐리어(전자 또는 정공)를 만들어내고, 이들의 재결합에 의하여 발광시키는 전자부품이다. 즉, 특정 원소의 반도체에 순방향 전압을 가하면 양극과 음극의 접합 부분을 통해 전자와 정공이 이동하면서 서로 재결합하는데 전자와 정공이 떨어져 있을 때 보다 작은 에너지가 되므로 이때 발생하는 에너지의 차이로 인해 빛을 방출한다.In general, a light emitting diode (LED) is an electronic component that generates a small number of carriers (electrons or holes) injected by using a p-n junction structure of a semiconductor and emits light by recombination thereof. In other words, when a forward voltage is applied to a semiconductor of a specific element, electrons and holes move through the junction of the anode and the cathode and recombine with each other. Release.

이러한 발광 다이오드는 저전압으로 고효율의 광을 조사할 수 있음으로 가전제품, 리모콘, 전광판, 표시기, 각종 자동화기기 등에 사용된다.Such a light emitting diode can be irradiated with high efficiency light at low voltage, and thus is used in home appliances, remote controls, electronic signs, indicators, and various automation devices.

특히, 정보 통신기기의 소형화, 슬림화 추세에 따라 기기의 각종 부품인 저항, 콘덴서, 노이즈 필터 등은 더욱 소형화되고 있으며, 발광 다이오드도 인쇄회로기판(Printed Circuit Board : PCB)에 직접 실장하기 위하여 표면실장소자(Surface Mount Device, 이하, SMD라 한다)형으로 만들어지고 있다.In particular, according to the trend toward miniaturization and slimming of information and communication devices, various components such as resistors, capacitors, and noise filters are becoming more compact, and surface-mounted diodes are directly mounted on a printed circuit board (PCB). It is made of a device (Surface Mount Device, hereinafter referred to as SMD).

이러한 SMD 방식의 발광 다이오드 패키지는 그 사용도에 따라 탑뷰(Top view) 방식과 사이드뷰(Side view) 방식으로 제조되고 있는데, 일반적으로 발광 다이오드는 정전기 또는 역전압에 취약한 것으로 알려져 있다.The SMD type LED package is manufactured in a top view and a side view according to its use. Generally, the LED is known to be vulnerable to static electricity or reverse voltage.

따라서, 이러한 발광 다이오드의 취약성을 보완하기 위하여 종래에는 역방향으로 전류가 흐를 수 있는 정전압 다이오드를 제공하고 있으며, 그러한 정전압 다이오드를 바람직하게 제너 다이오드(Zener Diode)를 LED 칩과 병렬로 연결함으로써 정전기에 효율적으로 대응하도록 하고 있다.Therefore, in order to compensate for the weakness of the light emitting diode, conventionally, a constant voltage diode capable of flowing current in a reverse direction is provided, and such a constant voltage diode is preferably connected to a Zener diode in parallel with an LED chip to efficiently prevent static electricity. To respond.

그러면, 이하 도 1 및 도 2를 참조하여 종래 기술에 따른 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드에 대해 상세히 설명한다.1 and 2, a high brightness LED having a built-in protection against electrostatic discharge shock according to the prior art will be described in detail.

도 1은 종래 기술에 따른 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드를 도시한 정면도이다. 1 is a front view showing a high-brightness LED having a built-in protection against electrostatic discharge shock according to the prior art.

도 1을 참고하면, 종래 기술에 따른 정전압 다이오드는 한 쌍의 리드, 즉 양극 리드(51)와 음극 리드(52)로 형성된 리드프레임(50)의 동일면 상에 LED 칩(30) 및 제너 다이오드(40)를 나란히 실장하고, 이 LED 칩(30)과 정전기 방전 충격 보호소자(40)를 금(Au) 성분의 와이어(60)로 서로 연결함으로써, 병렬구조를 가지고 있다. 이때, 정전기 방전 충격 보호소자(40)는 제너 다이오드로 이루어진다.Referring to FIG. 1, the constant voltage diode according to the related art includes an LED chip 30 and a zener diode (on the same surface of a lead frame 50 formed of a pair of leads, that is, the anode lead 51 and the cathode lead 52). 40 are mounted side by side, and the LED chip 30 and the electrostatic discharge impact protection device 40 are connected to each other with a wire 60 made of gold (Au) to have a parallel structure. At this time, the electrostatic discharge impact protection device 40 is made of a zener diode.

상기와 같은 정전기 방전 충격 보호소자(40)인 제너 다이오드는 일명 정전압 다이오드라고도 하며, 반도체 PN 접합 다이오드의 하나로서, PN 접합의 항복(Breakdown) 영역에서 동작특성이 나타나도록 제작된 다이오드로 주로 정전압용으로 사용된다. 그리고, 제너 회복현상을 이용해서 일정 전압을 얻는 소자이며 규소의 p-n 접합에서 전류 10mA로 동작하고 품종에 따라 3 ~ 12V의 정전압을 얻을 수 있는 다이오드이다.The zener diode as the electrostatic discharge shock protection device 40 is also called a constant voltage diode, and is one of the semiconductor PN junction diodes, and is a diode manufactured to exhibit operating characteristics in the breakdown region of the PN junction. Used as It is a device that obtains a constant voltage by using Zener recovery phenomenon, and it is a diode that operates with a current of 10 mA at the p-n junction of silicon and obtains a constant voltage of 3 to 12 V depending on the variety.

따라서, 종래 기술에 따른 발광 다이오드는 LED 칩에 이러한 제너 다이오드를 와이어 등에 의하여 병렬로 연결함으로써, 정전기로 인하여 역방향의 전류가 인가되어도 상기 제너 다이오드에 의하여 손상을 방지할 수 있다.Therefore, the light emitting diode according to the related art can be connected to the LED chip in parallel by a wire or the like, it is possible to prevent damage by the zener diode even if the reverse current is applied due to static electricity.

미설명한 도면부호 10은 투명 또는 불투명 합성수지재로 형성된 패키지를 지칭하고, 20은 LED 칩을 보호하기 위한 몰딩재를 지칭한다.Unexplained reference numeral 10 denotes a package formed of a transparent or opaque synthetic resin material, and 20 denotes a molding material for protecting the LED chip.

그러나, 종래 기술에 따른 발광 다이오드는 상기 제너 다이오드를 LED 칩과 리드프레임 상에 병렬로 함께 실장되기 때문에 와이어를 본딩하기 위한 충분한 영역을 확보하기 위해 리드프레임이 커져야 하며, 이에 따라, 발광 다이오드의 패키지가 커지게 되어 발광 다이오드 패키지의 소형화에 어려움이 있다.However, since the Zener diode is mounted together in parallel on the LED chip and the lead frame, the light emitting diode according to the related art needs to have a large lead frame to secure a sufficient area for bonding wires, and thus, a package of the light emitting diode. Since the size of the light emitting diode package is increased, it is difficult to miniaturize the LED package.

또한, 상기 LED 칩에서 발광하는 광을 이와 병렬로 함께 실장된 제너 다이오드가 흡수하거나 산란시켜 발광 다이오드의 휘도를 저하시키는 문제가 있다.In addition, there is a problem in that the light emitted from the LED chip is absorbed or scattered by the zener diodes mounted together in parallel to reduce the luminance of the light emitting diodes.

이러한 문제를 해결하기 위해, 도 2에 도시된 바와 같이, LED 칩이 실장된 리드프레임의 후면에 정전기 방전 충격 보호소자(40)를 실장하는 기술이 제안되었다. 도 2는 종래 기술에 따른 또 다른 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장 된 고휘도 발광 다이오드를 도시한 단면도이다.In order to solve this problem, as shown in Figure 2, a technique for mounting the electrostatic discharge shock protection device 40 on the back of the lead frame is mounted LED chip has been proposed. Figure 2 is a cross-sectional view showing a high brightness light emitting diode with a built-in protection function against the electrostatic discharge shock according to the prior art.

도 2에 나타낸 종래의 발광 다이오드는, 리드프레임(50) 상에 LED 칩(30)과 정전기 방전 충격 보호소자(40)를 병렬로 연결되게 형성하되, LED 칩(30)이 형성된 리드프레임(50)의 후면에 정전기 방전 충격 보호소자(40)를 실장하여 정전기 방전 충격으로부터 발광 다이오드를 보호하는 동시에 발광 다이오드의 휘도를 향상시킬 수 있었다.In the conventional light emitting diode shown in FIG. 2, the LED frame 30 and the electrostatic discharge impact protection device 40 are formed in parallel on the lead frame 50, but the lead frame 50 having the LED chip 30 is formed. The electrostatic discharge shock protection device 40 is mounted on the rear surface of the back panel) to protect the light emitting diode from the electrostatic discharge shock and to improve the brightness of the light emitting diode.

그런데, 상기와 같은 종래의 발광 다이오드는, 리드프레임의 어느 일측 상에 정전기 방전 충격 보호소자(40)를 먼저 실장하고, 그 다음, 합성수지재를 사용하여 이를 매립하는 동시에 정전기 방전 충격 보호소자(40)가 형성된 리드프레임의 후면 일부가 노출된 패키지를 형성한 후, 노출된 리드프레임 상에 LED 칩을 실장하여 형성되기 때문에 제조공정이 복잡한 문제가 있었다.However, in the conventional light emitting diode as described above, the electrostatic discharge shock protection device 40 is first mounted on one side of the lead frame, and then, the electrostatic discharge shock protection device 40 is embedded at the same time by using a synthetic resin material. After forming a package in which a part of the rear surface of the lead frame on which is formed) is formed by mounting an LED chip on the exposed lead frame, there is a complicated manufacturing process.

따라서, 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드의 전반적인 제조공정이 길어지며, 그로 인해 제조 수율 또한 낮아지는 문제가 있다.Therefore, the overall manufacturing process of the high-brightness LED having a built-in protection against electrostatic discharge shock is long, and thus there is a problem that the manufacturing yield is also lowered.

따라서, 본 발명의 목적은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 리드프레임 상에 LED 칩과 정전기 방전 충격 보호소자를 와이어 등에 의하여 병렬로 연결되게 형성하되, LED 칩이 형성된 리드프레임의 후면에 정전기 방전 충격 보호소자를 실장하여 정전기 방전 충격으로부터 발광 다이오드를 보호하고, 발광 다이오드의 휘도를 향상시키는 동시에 제조 공정이 단순화된 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드를 제공하는데 있다.Accordingly, an object of the present invention, in order to solve the above problems, the LED chip and the electrostatic discharge shock protection device formed on the lead frame to be connected in parallel by a wire, etc., the electrostatic discharge on the back of the lead frame formed LED chip An impact protection device is mounted to protect a light emitting diode from an electrostatic discharge shock, and to provide a high brightness light emitting diode with a built-in protection function for an electrostatic discharge shock while improving the brightness of the light emitting diode and simplifying the manufacturing process.

또한, 본 발명의 다른 목적은 상기한 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드의 제조방법을 제공하는데 있다.In addition, another object of the present invention is to provide a method of manufacturing a high brightness light emitting diode with a built-in protection against the electrostatic discharge shock.

상기한 목적을 달성하기 위해, 본 발명은 양극 리드와 음극 리드로 형성된 리드프레임과, 상기 리드프레임의 일부를 내측에 수용하되, 수용된 리드프레임의 상면 전체 및 하면 일부가 노출되도록 형성된 패키지와, 상기 노출된 리드프레임의 상면에 실장된 LED 칩과, 상기 노출된 리드프레임의 하면에 실장되어 있으며 와이어를 통해 상기 LED 칩과 병렬 연결되어 있는 정전기 방전 충격 보호소자와, 상기 패키지 내부에 충진되어 LED 칩을 보호하는 제1 몰딩재 및 상기 패키지 내부에 충진되어 정전기 방전 충격 보호소자를 보호하는 제2 몰딩재를 포함하는 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드를 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a lead frame formed of a cathode lead and a cathode lead, a package formed so as to receive a portion of the lead frame, the entire upper and lower surfaces of the accommodated lead frame exposed; An LED chip mounted on an upper surface of an exposed lead frame, an electrostatic discharge shock protection device mounted on a lower surface of the exposed lead frame and connected in parallel with the LED chip through a wire, and filled into the LED chip It provides a high brightness light-emitting diode with a built-in protection function against the electrostatic discharge shock comprising a first molding material to protect the second molding material and the inside of the package to protect the electrostatic discharge shock protection device.

또한, 본 발명의 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드에서, 상기 정전기 방전 충격 보호소자는 정전압 다이오드 또는 반도체 저항소자(varistor)로 형성되는 것이 바람직하며, 더욱 바람직하게 상기 정전압 다이오드는 제너 다이오드, 에벌렌시 다이오드, 스위칭 다이오드 및 쇼트키 다이오드로 이루어진 그룹에서 선택된 어느 하나의 다이오드로 형성된다.In addition, in the high-brightness LED having a built-in protection against electrostatic discharge shock, the electrostatic discharge shock protection device is preferably formed of a constant voltage diode or a semiconductor resistor, and more preferably, the constant voltage diode is a zener It is formed of any one diode selected from the group consisting of a diode, an avalanche diode, a switching diode and a Schottky diode.

또한, 본 발명의 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드에서, 상기 패키지는, 리드프레임의 일부를 수용하되, 양극 리드와 음극 리드가 서로 인접하는 각 리드의 단부에 걸쳐지도록 형성되어 양극 리드와 음극 리드를 일체로 고정하는 고정부재를 가지는 것이 바람직하다.In addition, in the high-brightness LED having a built-in protection against the electrostatic discharge shock of the present invention, the package is formed so as to accommodate a portion of the lead frame, the positive lead and the negative lead across the ends of each lead adjacent to each other It is preferable to have a fixing member which integrally fixes the positive electrode lead and the negative electrode lead.

또한, 본 발명의 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드에서, 상기 제2 몰딩재는, 열전도성이 우수한 백색계 수지로 이루어지는 것이 바람직하다.In addition, in the high-brightness light emitting diode having a built-in protection against electrostatic discharge shock, the second molding material is preferably made of a white resin having excellent thermal conductivity.

상기한 목적을 달성하기 위해 또 다른 본 발명은, 양극 리드와 음극 리드로 이루어진 리드프레임의 일부를 내측에 수용하되, 수용된 리드프레임의 상면 전체 및 하면 일부가 노출되도록 사출성형하여 패키지를 형성하는 단계와, 상기 노출된 리드프레임의 하면 중 어느 일면에 정전기 방전 충격 보호소자를 실장하는 단계와, 상기 정전기 방전 충격 보호소자와 상기 보호소자가 실장되지 않은 상기 리드프레임의 하면을 와이어를 통해 전기적으로 연결하는 단계와, 상기 정전기 방전 충격 보호소자가 실장된 패키지 내부에 제2 몰딩재를 충진하는 단계와, 상기 노출된 리드프레임의 상면 중 어느 일면에 LED 칩을 실장하는 단계와, 상기 LED 칩과 상기 정전기 방전 충격 보호소자를 와이어를 통해 전기적으로 병렬 연결하는 단계 및 상기 LED 칩이 실장된 패키지 내부에 제1 몰딩재를 충진하는 단계를 포함하는 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드의 제조방법을 제공한다.In order to achieve the above object, another embodiment of the present invention, while receiving a portion of the lead frame consisting of the anode lead and the cathode lead to the inside, the step of forming a package by injection molding so that the entire upper and lower surfaces of the received lead frame is exposed And mounting an electrostatic discharge shock protection device on one surface of the exposed bottom surface of the exposed lead frame, and electrically connecting the bottom surface of the lead frame on which the electrostatic discharge shock protection device and the protection device are not mounted through a wire. And filling a second molding material in a package in which the electrostatic discharge impact protection device is mounted, mounting a LED chip on one surface of the exposed lead frame, and the LED chip and the electrostatic discharge. Electrically parallel connection of a shock protection device through a wire and a package in which the LED chip is mounted. It provides a method of manufacturing a high brightness light emitting diode with a built-in protection against electrostatic discharge shock comprising the step of filling the first molding material in the paper.

이하 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하 는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다.DETAILED DESCRIPTION Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the present invention.

도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 병기하였다.In the drawings, the thickness of layers, films, panels, regions, etc., are exaggerated for clarity. Like reference numerals designate like parts throughout the specification.

이제 본 발명의 일 실시예에 따른 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드 및 그 제조방법에 대하여 도면을 참고로 하여 상세하게 설명한다.Now, a high brightness light emitting diode with a built-in protection function against electrostatic discharge shock and a method of manufacturing the same according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

먼저, 도 3 및 도 4를 참고하여 본 발명의 일 실시예에 따른 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드의 구조에 대하여 상세히 설명한다.First, referring to FIGS. 3 and 4, a structure of a high-brightness LED having a built-in protection function against electrostatic discharge shock will be described in detail.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드를 도시한 단면도이고, 도 4는 도 3에 도시된 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드의 역전류 방지회로를 개략적으로 도시한 도면이다.3 is a cross-sectional view illustrating a high brightness light emitting diode with a built-in protection against electrostatic discharge shock according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a high brightness light emitting device with built-in protection against electrostatic discharge shock shown in FIG. 3. A diagram schematically illustrating a reverse current prevention circuit of a diode.

도 3 및 도 4에 도시한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드는, 합성수지재로 형성된 패키지(10)로부터 돌출된 리드프레임(50) 즉, 양극 리드(51) 및 음극 리드(52)를 통하여 인쇄 회로 기판(도시하지 않음) 등에 실장 되는 구조를 갖는다.3 and 4, the high-brightness LED having a built-in protection against electrostatic discharge shock according to an embodiment of the present invention, the lead frame 50 protruding from the package 10 formed of a synthetic resin material That is, it has a structure mounted on a printed circuit board (not shown) etc. via the positive electrode lead 51 and the negative electrode lead 52. FIG.

특히, 본 발명에 따른 상기 패키지(10)는, 상기 양극 리드(51)와 음극 리드(52)의 일부 즉, 리드프레임(50)의 일부를 내측에 수용하되, 수용된 리드프레임(50)의 상면 전체 및 하면 일부가 노출되도록 형성되어 있다. 보다 상세하게, 상기 노출된 리드프레임(50)의 상면은, LED 칩이 실장될 영역이며, 노출된 리드프레임(50)의 하면은 정전기 방전 충격 보호소자가 실장될 영역이다.In particular, the package 10 according to the present invention accommodates a part of the positive lead 51 and the negative lead 52, that is, a part of the lead frame 50 inside, but has an upper surface of the received lead frame 50. All and part of the lower surface is formed to be exposed. In more detail, the exposed upper surface of the lead frame 50 is an area where the LED chip is to be mounted, and the lower surface of the exposed lead frame 50 is an area where the electrostatic discharge shock protection device is to be mounted.

또한, 상기 패키지(10)는, 상기 리드프레임(50) 즉, 양극 리드(51)와 음극 리드(52)의 하면에 이들이 서로 인접하는 각 리드(51, 52)의 단부에 걸쳐지도록 형성된 고정부재(10a)를 가진다. 이는 상기 양극 리드(51)와 음극 리드(52)를 일체로 고정하여 양극 리드(51) 및 음극 리드(52)를 각각 수용하는 패키지(10)를 단일로 구성하는 역할을 한다.In addition, the package 10 is a fixing member formed on the lower surface of the lead frame 50, that is, the anode lead 51 and the cathode lead 52 so that they span the ends of each lead 51, 52 adjacent to each other. Has (10a). This serves to integrally fix the positive electrode lead 51 and the negative electrode lead 52 to form a single package 10 for receiving the positive electrode lead 51 and the negative electrode lead 52, respectively.

상기와 같은 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드는 상기 패키지(10)의 내부에 구비되어 전원 인가시 광을 조사하는 통상의 LED 칩(30)과, 상기 LED 칩(30)과 병렬로 연결됨으로써 정전기로 인한 손실을 방지하기 위한 정전기 방전 충격 보호소자(40)로 이루어진다.The high-brightness LED having a built-in protection against electrostatic discharge shock is provided in the package 10 and includes a conventional LED chip 30 for irradiating light when power is applied, the LED chip 30 and It is made of an electrostatic discharge impact protection device 40 to prevent loss due to static electricity by being connected in parallel.

본 발명의 일 실시예에 따른 상기 LED 칩(30)은, 상기 리드프레임(50)의 상면 중 양극 리드(51) 상면에 도전성 에폭시에 의하여 다이본딩(Die Bonding) 방법으로 실장되어 있으며, 상기 정전기 방전 충격 보호소자(40)는 상기 리드프레임(50)의 하면 중 양극 리드(51)의 하면에 LED 칩(30)과 동일한 방법으로 실장된다.The LED chip 30 according to an embodiment of the present invention is mounted on the upper surface of the anode lead 51 among the upper surfaces of the lead frame 50 by a die bonding method by a conductive epoxy, and the electrostatic The discharge shock protection device 40 is mounted on the lower surface of the anode lead 51 of the lower surface of the lead frame 50 in the same manner as the LED chip 30.

또한, 상기 LED 칩(30)은 와이어(60)를 통해 상기 양극 리드(51) 및 음극 리드(52)와 전기적으로 연결되어 있으며, 상기 정전기 방전 충격 보호소자(40)는 와 이어(60)를 통해 음극 리드(52)에 와이어 본딩(Wire Bonding)된다.In addition, the LED chip 30 is electrically connected to the positive lead 51 and the negative lead 52 through a wire 60, the electrostatic discharge shock protection device 40 is connected to the wire 60 Wire bonding is performed on the negative electrode lead 52.

따라서, 상기 LED 칩(30)과 정전기 방전 충격 보호소자(40)는 도 4에 도시한 바와 같이 병렬 구조로 연결된다.Therefore, the LED chip 30 and the electrostatic discharge impact protection device 40 are connected in a parallel structure as shown in FIG.

이때, 상기 정전기 방전 충격 보호소자(40)는, 정전압 다이오드 또는 반도체 저항소자(varistor)로 형성된다. 또한, 상기 정전압 다이오드는 제너 다이오드, 에벌렌시 다이오드, 스위칭 다이오드 및 쇼트키 다이오드로 이루어진 그룹에서 선택된 어느 하나의 다이오드로 이루어지는 것이 바람직하며, 본 실시예에서는 정전압 다이오드로 제너 다이오드를 사용하고 있다.At this time, the electrostatic discharge impact protection device 40 is formed of a constant voltage diode or a semiconductor resistor (varistor). In addition, the constant voltage diode is preferably made of any one diode selected from the group consisting of a zener diode, an avalanche diode, a switching diode, and a Schottky diode. In this embodiment, the zener diode is used as the constant voltage diode.

한편, 본 실시예에서는 상기 LED 칩(30)과 정전기 방전 충격 보호소자(40)를 동일한 리드프레임 즉, 양극 리드(51)의 상/하면에 각각 실장되어 서로 병렬 연결되어 있는 것을 설명하였으나, 이는 이에 한정되지 않고, 상기 LED 칩(30)과 정전기 방전 충격 보호소자(40)를 음극 리드(52)의 상/하면 또는 서로 다른 리드의 상/하면에 각각 실장되어 병렬 연결될 수도 있다.Meanwhile, in the present exemplary embodiment, the LED chip 30 and the electrostatic discharge impact protection device 40 are mounted on the same lead frame, that is, on the upper and lower surfaces of the anode lead 51, respectively, and are connected in parallel with each other. The LED chip 30 and the electrostatic discharge impact protection device 40 may be mounted on the upper and lower surfaces of the negative electrode lead 52 or the upper and lower surfaces of the different leads, respectively, and may be connected in parallel.

여기서, 미설명한 도면 부호 20은, LED 칩(30)을 보호하기 위한 제1 몰딩재이고, 도면 부호 70은, 정전기 방전 충격 보호소자(40)를 보호하기 위한 제2 몰딩재이다. 이때, 상기 제1 몰딩재(20)는, 구현하려는 LED 칩(30)의 색상에 따라 투명 재료나 형광체가 포함되어 있는 투광성 수지로 이루어지고, 상기 제2 몰딩재(70)는, 열전도성이 높은 물질, 예를 들어 백색계 수지로 이루어지는 것이 바람직하다.Here, reference numeral 20 which is not described here is a first molding material for protecting the LED chip 30, and reference numeral 70 is a second molding material for protecting the electrostatic discharge impact protection device 40. In this case, the first molding material 20 is made of a transparent resin containing a transparent material or a phosphor according to the color of the LED chip 30 to be implemented, and the second molding material 70 is thermally conductive It is preferable to consist of a high substance, for example, a white resin.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드는 양극 리드(51)의 상면에 LED 칩(30)을 실장하고, 양 극 리드(51)의 하면에 정전기 방전 충격 보호소자(40)를 실장하여 서로 병렬 연결함으로써, 정전기로 인하여 역방향의 전류가 인가되어도 상기 정전기 방전 충격 보호소자(40)를 통해 전류가 바이패스(By-Pass)되어 정전기 방전 충격 발생으로 인한 손상을 방지한다.As described above, the high-brightness LED having a built-in protection against electrostatic discharge shock according to the present invention mounts the LED chip 30 on the upper surface of the anode lead 51 and the electrostatics on the lower surface of the anode lead 51. By mounting the discharge shock protection device 40 in parallel with each other, even if a reverse current is applied due to static electricity, the current is bypassed through the electrostatic discharge shock protection device 40 to generate an electrostatic discharge shock. To prevent damage.

특히, 본 발명에 따른 정전기 방전 충격 보호소자(40)는 발광하는 LED 칩(30)의 후면 즉, 리드프레임(50)을 기준으로 LED 칩(30)은 상면, 정전기 방전 충격 보호소자(40)는 하면에 실장되어 있기 때문에 이들 사이에 위치하는 리드프레임(50)d LED 칩(30)에서 발광하는 광이 정전기 방전 충격 보호소자(40)에서 흡수되거나 산란되는 것을 차단하는 장벽 역할을 하여 발광 다이오드의 휘도를 증가시킨다.In particular, the electrostatic discharge shock protection device 40 according to the present invention is the rear surface of the LED chip 30 that emits light, that is, the LED chip 30 on the basis of the lead frame 50, the electrostatic discharge shock protection device 40 Since the light emitting diode is mounted on the bottom surface, the light emitting diode acts as a barrier to block the light emitted from the lead frame 50d LED chip 30 positioned between them from being absorbed or scattered by the electrostatic discharge shock protection device 40. To increase the brightness.

또한, 상기 정전기 방전 충격 보호소자(40)를 보호하기 위한 제2 몰딩재(70)가 열전도성이 우수한 백색계 수지로 이루어져 있으므로, 상기 제2 몰딩재(70)를 통해 LED 칩(30)에서 발생하는 열을 더욱 효과적으로 방열시킴으로써, 종래 기술에 따른 발광 다이오드보다 우수한 방열 효과를 얻을 수 있다.In addition, since the second molding material 70 for protecting the electrostatic discharge impact protection device 40 is made of a white resin having excellent thermal conductivity, the LED chip 30 may be formed through the second molding material 70. By more effectively dissipating the generated heat, it is possible to obtain a heat dissipation effect superior to the light emitting diode according to the prior art.

그러면, 이하 본 실시예에 따른 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드의 제조방법에 대하여 도 5a 내지 5d 및 도 3을 참고로 하여 상세히 설명한다.Then, a method of manufacturing a high brightness LED having a built-in protection against electrostatic discharge shock according to the present embodiment will be described in detail with reference to FIGS. 5A to 5D and FIG. 3.

도 5a 내지 도 5d는 본 발명의 일 실시예에 따른 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드의 제조방법을 순차적으로 나타낸 공정단면도이다.5A through 5D are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing a high brightness LED having a built-in protection against electrostatic discharge shock according to an embodiment of the present invention.

우선, 도 5a에 도시한 바와 같이, 양극 리드(51)와 음극 리드(52)로 이루어진 리드프레임(50)의 일부를 내측에 수용하되, 수용된 리드프레임(50)의 상면 전체가 노출되어 LED 칩의 실장 공간(30a)을 정의하는 동시에 하면 일부가 노출되어 정전기 방전 충격 보호소자의 실장 공간(40a)이 정의되도록 사출 성형된 패키지(10)를 형성한다. First, as shown in FIG. 5A, a part of the lead frame 50 including the anode lead 51 and the cathode lead 52 is accommodated therein, but the entire upper surface of the accommodated lead frame 50 is exposed to the LED chip. While defining the mounting space 30a, a portion of the mounting space is exposed to form the injection molded package 10 such that the mounting space 40a of the electrostatic discharge impact protection device is defined.

상기 패키지(10)는, 상기 리드프레임(50) 즉, 양극 리드(51)와 음극 리드(52)의 하면에 이들이 서로 인접하는 각 리드(51, 52)의 단부에 걸쳐진 고정부재(10a)를 가지도록 형성되어 있다. 상기 고정부재(10a)는 상기 양극 리드(51)와 음극 리드(52)를 일체로 고정하여 양극 리드(51) 및 음극 리드(52)를 각각 수용하는 패키지(10)를 단일로 구성하는 역할을 한다.The package 10 includes a fixing member 10a on the lower end of the lead frame 50, that is, the anode lead 51 and the cathode lead 52, which spans the ends of the leads 51 and 52 adjacent to each other. It is formed to have. The fixing member 10a integrally fixes the positive lead 51 and the negative lead 52 to serve as a single package 10 for receiving the positive lead 51 and the negative lead 52, respectively. do.

그 다음, 도 5b에 도시한 바와 같이, 상기 정전기 방전 충격 보호소자의 실장 공간(40a)이 정의된 리드프레임(50)의 표면, 보다 상세하게 LED 칩의 실장 공간(30a)이 정의된 리드프레임(50)의 표면을 리드프레임(50)의 상면이라 할 경우, 리드프레임(50)의 하면에 도전성 에폭시에 의하여 다이본딩 방법으로 정전기 방전 충격 보호소자(40)를 실장한다. 본 실시예에서는 상기 리드프레임(50)의 하면 중 양극 리드(51)의 하면에 정전기 방전 충격 보호소자(40)를 실장하고 있으며, 이에 따라, 상기 정전기 방전 충격 보호소자(40)는 상기 음극 리드(52)와 와이어(60)를 통해 전기적으로 연결한다. Next, as shown in FIG. 5B, the surface of the lead frame 50 in which the mounting space 40a of the electrostatic discharge impact protection device is defined, and in more detail, the lead frame in which the mounting space 30a of the LED chip is defined. When the surface of the 50 is referred to as the upper surface of the lead frame 50, the electrostatic discharge impact protection device 40 is mounted on the lower surface of the lead frame 50 by a die bonding method by conductive epoxy. In this embodiment, the electrostatic discharge shock protection device 40 is mounted on the bottom surface of the anode lead 51 among the bottom surfaces of the lead frame 50. Accordingly, the electrostatic discharge shock protection device 40 is the cathode lead. Electrically connected via 52 and the wire (60).

그런 다음, 도 5c에 도시한 바와 같이, 상기 정전기 방전 충격 보호소자(40)가 실장된 패키지(10) 내에 이를 보호하기 위한 제2 몰딩재(70)를 충진한다. 이때, 제2 몰딩재(70)는, 열 방열 효과를 향상시키기 위해 열전도성이 우수한 백색계 수지를 사용하여 형성하는 것이 바람직하다.Then, as shown in FIG. 5C, the second molding member 70 is filled in the package 10 in which the electrostatic discharge impact protection device 40 is mounted. At this time, it is preferable to form the second molding material 70 using a white resin having excellent thermal conductivity in order to improve the heat radiation effect.

그 다음, 도 5d에 도시한 바와 같이, 상기 LED 칩의 실장 공간(30a)이 정의된 리드프레임(50)의 상면에 LED 칩(30)을 실장한다. 이때, 상기 LED 칩(30)은, 상기 정전기 방전 충격 보호소자(40)와 동일한 방법으로 실장된다. 본 실시에에서는 상기 리드프레임(50)의 상면 중 양극 리드(51)의 상면에 LED 칩(30)을 실장하고 있으며, 이는 상기 정전기 방전 충격 보호소자(40)와 병렬 연결되기 위해 상기 양극 리드(51) 및 음극 리드(52)와 와이어 본딩에 의해 전기적으로 연결한다.Next, as shown in FIG. 5D, the LED chip 30 is mounted on the upper surface of the lead frame 50 in which the mounting space 30a of the LED chip is defined. At this time, the LED chip 30 is mounted in the same manner as the electrostatic discharge impact protection device 40. In the present embodiment, the LED chip 30 is mounted on the upper surface of the anode lead 51 of the upper surface of the lead frame 50, which is connected to the electrostatic discharge impact protection device 40 in parallel with the anode lead ( 51) and the negative electrode lead 52 to be electrically connected by wire bonding.

그런 다음, 상기 LED 칩(30)이 실장된 패키지(10) 내에 이를 보호하기 위한 제1 몰딩재(20)를 충진한다(도 3 참조). 이때, 상기 제1 몰딩재(20)는, 구현하려는 LED 칩(30)의 색상에 따라 투명 재료나 형광체가 포함되어 있는 투광성 수지를 사용하여 형성하는 것이 바람직하다.Then, the first molding member 20 is filled in the package 10 in which the LED chip 30 is mounted (see FIG. 3). In this case, the first molding material 20 is preferably formed using a translucent resin containing a transparent material or a phosphor according to the color of the LED chip 30 to be implemented.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드의 제조 방법은 상기 패키지 형성시, LED 칩의 실장 공간 및 정전기 방전 충격 보호소자의 실장 공간을 동시에 정의되도록 형성한 다음, 각각의 실장 공간에 LED 칩 및 정전기 방전 충격 보호소자를 실장함으로써, 종래 기술에 따른 발광 다이오드의 제조방법보다 제조 공정이 용이하다.As described above, the manufacturing method of the high-brightness LED having a built-in protection against electrostatic discharge shock according to the present invention is formed so as to define the mounting space of the LED chip and the mounting space of the electrostatic discharge shock protection device at the time of forming the package. Then, by mounting the LED chip and the electrostatic discharge impact protection device in each mounting space, the manufacturing process is easier than the manufacturing method of the light emitting diode according to the prior art.

따라서, 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드의 전반적인 제조공정을 공정 시간을 감소시킬 수 있으며, 그로 인해 제조 수율 또한 향상시킬 수 있다.Therefore, the overall manufacturing process of the high-brightness LED having a built-in protection against electrostatic discharge shock can be reduced the process time, thereby improving the production yield.

이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만, 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 권리 범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.Although the preferred embodiments of the present invention have been described in detail above, those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. Accordingly, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and improvements of those skilled in the art using the basic concept of the present invention as defined in the following claims also fall within the scope of the present invention.

상기한 바와 같이, 본 발명은 LED 칩과 정전기 방전 충격 보호소자가 병렬로 연결되게 형성하되, 리드프레임을 기준으로 상/하로 실장되게 형성하여 정전기로 인하여 역방향의 전류가 인가되더라도 상기 정전기 방전 충격 보호소자를 통해 전류가 바이패스(By-Pass)되어 정전기 방전 충격 발생으로 인한 손상을 방지할 수 있다. As described above, the present invention is formed so that the LED chip and the electrostatic discharge shock protection device is connected in parallel, but mounted up / down based on the lead frame, even if the reverse current is applied due to static electricity, the electrostatic discharge shock protection device The current is bypassed to prevent damage due to electrostatic discharge shock.

또한, 본 발명은 리드프레임을 통해 LED 칩에서 발광하는 광이 정전기 방전 충격 보호소자에 의해 흡수 또는 산란되는 것을 차단하여 발광 다이오드의 휘도를 향상시킬 수 있다.In addition, the present invention can improve the brightness of the light emitting diode by blocking the light emitted from the LED chip through the lead frame is absorbed or scattered by the electrostatic discharge shock protection device.

또한, 본 발명은 정전기 방전 충격 보호소자를 보호하기 위한 몰딩재로 열전도성이 우수한 물질을 사용하고 있어, LED 칩으로부터 발생하는 열의 방열 효과를 향상시킬 수 있다.In addition, the present invention uses a material having excellent thermal conductivity as a molding material for protecting the electrostatic discharge impact protection device, it is possible to improve the heat dissipation effect of heat generated from the LED chip.

또한, 본 발명은 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드의 전반적인 제조공정을 공정 시간을 감소시킬 수 있으며, 그로 인해 제조 수율을 향상시킬 수 있다.In addition, the present invention can reduce the process time of the overall manufacturing process of a high-brightness LED having a built-in protection against electrostatic discharge shock, thereby improving the production yield.

Claims (14)

양극 리드와 음극 리드로 형성된 리드프레임;A lead frame formed of a positive lead and a negative lead; 상기 리드프레임의 일부를 내측에 수용하되, 수용된 리드프레임의 상면 전체 및 하면 일부가 노출되도록 형성된 패키지;A package accommodating a part of the lead frame therein, the package being formed such that the entire upper and lower surfaces of the accommodated lead frame are exposed; 상기 패키지에 수용된 상기 리드프레임의 양극 리드와 음극 리드가 서로 인접하는 각 리드의 단부에 걸쳐지도록 형성되어, 상기 양극 리드와 음극 리드를 일체로 고정하는 고정부재;A fixing member which is formed such that the positive lead and the negative lead of the lead frame accommodated in the package span the ends of each lead adjacent to each other, thereby integrally fixing the positive lead and the negative lead; 상기 노출된 리드프레임의 상면에 실장된 LED 칩; An LED chip mounted on the exposed lead frame; 상기 노출된 리드프레임의 하면에 실장되어 있으며 와이어를 통해 상기 LED 칩과 병렬 연결되어 있는 정전기 방전 충격 보호소자;An electrostatic discharge shock protection device mounted on a lower surface of the exposed lead frame and connected in parallel with the LED chip through a wire; 상기 패키지 내부에 충진되어 LED 칩을 보호하는 제1 몰딩재; 및A first molding material filled in the package to protect the LED chip; And 상기 패키지 내부에 충진되어 정전기 방전 충격 보호소자를 보호하는 제2 몰딩재;A second molding material filled in the package to protect the electrostatic discharge impact protection device; 를 포함하는 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드.A high brightness light emitting diode with a built-in protection against electrostatic discharge shock. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 LED 칩은, 상기 리드프레임의 양극 리드 상면에 실장되어 있으며, 상기 정전기 방전 충격 보호소자는 상기 리드프레임의 음극 리드 하면에 실장되어 있는 것을 특징으로 하는 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드.The LED chip is mounted on an upper surface of the anode lead of the lead frame, and the electrostatic discharge shock protection device is mounted on a lower surface of the cathode lead of the lead frame. diode. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 LED 칩은 상기 리드프레임의 음극 리드 상면에 실장되어 있으며, 상기 정전기 방전 충격 보호소자는 상기 리드프레임의 양극 리드 하면에 실장되어 있는 것을 특징으로 하는 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드.The LED chip is mounted on an upper surface of the cathode lead of the lead frame, and the electrostatic discharge shock protection device is mounted on a lower surface of the anode lead of the lead frame. . 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 LED 칩은 상기 리드프레임의 양극 리드 상면에 실장되어 있으며, 상기 정전기 방전 충격 보호소자는 상기 리드프레임의 양극 리드 하면에 실장되어 있는 것을 특징으로 하는 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드.The LED chip is mounted on an upper surface of the anode lead of the lead frame, and the electrostatic discharge shock protection device is mounted on the lower surface of the anode lead of the lead frame. . 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 LED 칩은 상기 리드프레임의 음극 리드 상면에 실장되어 있으며, 상기 정전기 방전 충격 보호소자는 상기 리드프레임의 음극 리드 하면에 실장되어 있는 것을 특징으로 하는 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드.The LED chip is mounted on an upper surface of the cathode lead of the lead frame, and the electrostatic discharge shock protection device is mounted on the lower surface of the cathode lead of the lead frame. . 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 5, 상기 정전기 방전 충격 보호소자는 정전압 다이오드 또는 반도체 저항소자로 형성됨을 특징으로 하는 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드.The electrostatic discharge shock protection device is a high brightness light emitting diode with a built-in protection against electrostatic discharge shock, characterized in that formed of a constant voltage diode or a semiconductor resistor. 제6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 정전압 다이오드는 제너 다이오드, 에벌렌시 다이오드, 스위칭 다이오드 및 쇼트키 다이오드로 이루어진 그룹에서 선택된 어느 하나의 다이오드로 형성됨을 특징으로 하는 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드.The constant voltage diode is a high brightness light-emitting diode with a built-in protection against electrostatic discharge shock, characterized in that formed of any one selected from the group consisting of a zener diode, an aberration diode, a switching diode and a Schottky diode. 삭제delete 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제2 몰딩재는, 백색계 수지로 이루어진 것을 특징으로 하는 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드.The second molding material is a high brightness light emitting diode with a built-in protection against electrostatic discharge shock, characterized in that made of a white resin. 양극 리드와 음극 리드로 이루어진 리드프레임의 일부를 내측에 수용하되, 수용된 리드프레임의 상면 전체 및 하면 일부가 노출되도록 사출성형하여 패키지를 형성하는 단계;Accommodating a portion of the lead frame including the anode lead and the cathode lead to the inside, and injection molding the entire upper surface and the lower surface of the accommodated lead frame to be exposed to form a package; 상기 노출된 리드프레임의 하면 중 어느 일면에 정전기 방전 충격 보호소자를 실장하는 단계;Mounting an electrostatic discharge impact protection device on one surface of the lower surface of the exposed lead frame; 상기 정전기 방전 충격 보호소자와 상기 보호소자가 실장되지 않은 상기 리드프레임의 하면을 와이어를 통해 전기적으로 연결하는 단계;Electrically connecting the electrostatic discharge impact protection device with a lower surface of the lead frame on which the protection device is not mounted; 상기 정전기 방전 충격 보호소자가 실장된 패키지 내부에 제2 몰딩재를 충진하는 단계; Filling a second molding material into a package in which the electrostatic discharge impact protection device is mounted; 상기 노출된 리드프레임의 상면 중 어느 일면에 LED 칩을 실장하는 단계;Mounting an LED chip on any one surface of an upper surface of the exposed lead frame; 상기 LED 칩과 상기 정전기 방전 충격 보호소자를 와이어를 통해 전기적으로 병렬 연결하는 단계; 및Electrically connecting the LED chip and the electrostatic discharge impact protection device through wires in parallel; And 상기 LED 칩이 실장된 패키지 내부에 제1 몰딩재를 충진하는 단계;를 포함하 는 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드의 제조방법.And filling a first molding material in a package in which the LED chip is mounted. A method of manufacturing a high brightness LED having a built-in protection against electrostatic discharge shock. 제10항에 있어서,The method of claim 10, 상기 정전기 방전 충격 보호소자는, 정전압 다이오드 또는 반도체 저항소자로 형성하는 것을 특징으로 하는 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드의 제조방법.The electrostatic discharge shock protection device, the method of manufacturing a high brightness light-emitting diode with a built-in protection against electrostatic discharge shock, characterized in that formed by a constant voltage diode or a semiconductor resistor. 제11항에 있어서,The method of claim 11, 상기 정전압 다이오드는, 제너 다이오드, 에벌렌시 다이오드, 스위칭 다이오드 및 쇼트키 다이오드로 이루어진 그룹에서 선택된 어느 하나의 다이오드로 형성하는 것을 특징으로 하는 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드의 제조방법.The constant voltage diode is a high brightness light emitting diode with a built-in protection against electrostatic discharge shock, characterized in that formed by any one diode selected from the group consisting of a zener diode, an avalanche diode, a switching diode and a Schottky diode. Way. 제10항에 있어서,The method of claim 10, 상기 패키지는, 수용된 리드프레임의 후면에 양극 리드와 음극 리드를 일체로 고정하는 고정부재를 가지게 형성하는 것을 특징으로 하는 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드의 제조방법.The package is a manufacturing method of a high brightness light emitting diode with a built-in protection against electrostatic discharge shock, characterized in that it has a fixing member for integrally fixing the positive lead and the negative lead on the rear of the received lead frame. 제10항에 있어서,The method of claim 10, 상기 제2 몰딩재는, 백색계 수지를 사용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 정전기 방전 충격에 대한 보호 기능이 내장된 고휘도 발광 다이오드의 제조방법.The second molding material is a manufacturing method of a high brightness light emitting diode with a built-in protection against electrostatic discharge shock, characterized in that formed using a white resin.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8704264B2 (en) 2008-12-15 2014-04-22 Everlight Electronics Co., Ltd. Light emitting diode package structure
WO2017069577A1 (en) * 2015-10-21 2017-04-27 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device
CN106876550A (en) * 2016-12-29 2017-06-20 广东长盈精密技术有限公司 LED encapsulation structure and preparation method thereof
US11469220B2 (en) * 2018-01-17 2022-10-11 Osram Oled Gmbh Component and method for producing a component

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1154803A (en) 1997-07-30 1999-02-26 Rohm Co Ltd Semiconductor light-emitting element
JPH11103096A (en) 1997-07-30 1999-04-13 Rohm Co Ltd Semiconductor light-emitting device
JP2000124506A (en) * 1998-10-15 2000-04-28 Rohm Co Ltd Semiconductor light-emitting element
KR20050098038A (en) * 2004-04-06 2005-10-11 엘지이노텍 주식회사 Light emitting diode package

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1154803A (en) 1997-07-30 1999-02-26 Rohm Co Ltd Semiconductor light-emitting element
JPH11103096A (en) 1997-07-30 1999-04-13 Rohm Co Ltd Semiconductor light-emitting device
JP2000124506A (en) * 1998-10-15 2000-04-28 Rohm Co Ltd Semiconductor light-emitting element
KR20050098038A (en) * 2004-04-06 2005-10-11 엘지이노텍 주식회사 Light emitting diode package

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8704264B2 (en) 2008-12-15 2014-04-22 Everlight Electronics Co., Ltd. Light emitting diode package structure
WO2017069577A1 (en) * 2015-10-21 2017-04-27 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device
US10586892B2 (en) 2015-10-21 2020-03-10 Lg Innotek Co., Ltd. Light emitting device with an electrostatic discharge (ESD) suppression pattern having first and second conductive particles dispersed in a resin
CN106876550A (en) * 2016-12-29 2017-06-20 广东长盈精密技术有限公司 LED encapsulation structure and preparation method thereof
US11469220B2 (en) * 2018-01-17 2022-10-11 Osram Oled Gmbh Component and method for producing a component

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