KR100733527B1 - 에러 정정 장치 및 에러 정정 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은, 복수 채널의 데이터의 에러 정정 장치 및 에러 정정 방법에 관한 것으로, 잡음 등에 의한 데이터의 판정 에러를 구제한다.

복수 채널 중 적어도 1 채널을 에러 정정 채널로 하고, 남은 채널의 데이터의 배타적 논리합 또는 모듈로 가산(module sum)의 결과를 에러 정정 채널의 데이터로 한 복수 채널의 데이터를 판정부(29)에서 판정하고, 이 복수 채널의 판정 데이터의 배타적 논리합 또는 모듈로 가산을 구하는 배타적 논리합부와, 복수 채널의 품질을 검출하는 신호 품질 검출부(32)와, 배타적 논리합부의 출력이 "0" 등 사전에 결정한 특정한 값일 때에는, 에러 정정 채널의 판정 데이터를 제외한 다른 채널의 판정 데이터를 그대로 출력하고, "0" 등 사전에 결정한 특정한 값이 아닐 때에는, 신호 품질 검출부(32)에 의한 품질이 최악인 채널의 판정 데이터를, 이 품질이 최악인 채널을 제외한 다른 채널의 판정 데이터의 배타적 논리합 또는 모듈로 가산의 결과로 치환하여 데이터를 출력하는 판정 처리부를 포함하는 에러 정정부(31)를 구비한다.

판정 데이터, 판정 처리부, 에러 정정부, 품질 검출부, 에러 정정 채널

Description

에러 정정 장치 및 에러 정정 방법{ERROR CORRECTION DEVICE AND ERROR CORRECTION METHOD}

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 설명도.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 에러 정정 데이터 생성부의 설명도.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 에러 정정부의 설명도.

도 4는 정다면체의 설명도.

도 5는 정12면체와 채널과의 관계를 설명하는 설명도.

도 6은 본 발명의 실시예에 따른 정12면체의 면 번호와 채널과의 관계를 설명하는 설명도.

도 7은 본 발명의 실시예에 따른 각 면과 그 주변 면과의 조합을 설명하는 설명도.

도 8은 계수 할당에 대한 설명도.

도 9는 12 채널분에 대하여 동시 에러 발생을 설명하는 설명도.

도 10은 에러 발생 채널과 제1 단계에 대한 설명도.

도 11은 제2 단계 및 제3 단계에 대한 설명도.

도 12는 제4 단계 및 제5 단계에 대한 설명도.

도 13은 제6 단계 및 제7 단계에 대한 설명도.

도 14는 제8 단계 및 제9 단계에 대한 설명도.

도 15는 제10 단계 및 제11 단계에 대한 설명도.

도 16은 제12 단계에 대한 설명도.

도 17은 신호점의 설명도.

도 18은 본 발명의 실시예에 따른 서브세트에 에러 정정을 적용한 설명도.

도 19는 본 발명의 실시예에 따른 서브세트의 에러 정정에 대한 설명도.

도 20은 아이(eye) 패턴과 스펙트럼에 대한 설명도.

도 21은 아이 패턴과 스펙트럼에 대한 설명도.

도 22는 전력선 반송 통신 시스템에 대한 설명도.

도 23은 잡음 캔슬에 대한 설명도.

도 24는 앞서 제안한 데이터 전송 장치에 대한 설명도.

도 25는 제로점 삽입과 잡음 제거에 대한 설명도.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

10 : 에러 정정 데이터 생성부

11 : 부호 변환부

12 : 신호점 발생부

13 : 역 FFT부(IFFT)

14 : 제로점 삽입부

15 : 롤 오프 필터(ROF)

16 : 변조부(MOD)

17 : DA 변환기(D/A)

18 : 저역 통과 필터 (LPF)

19 : 송신 클럭 발생부(TX-CLK)

20 : 대역 통과 필터(BPF)

21 : AD 변환기(A/D)

22 : 복조부(DEM)

23 : 롤 오프 필터(ROF)

24 : 수신 클럭 분배부(RX-CLK)

25 : 타이밍 추출부(TIM)

26 : 전압 제어 발진기(VCXO)를 포함하는 위상 동기 루프 회로(PLL)

27 : 잡음 제거부

28 : FFT부

29 : 신호 판정부(DEC)

30 : 부호 변환부

31 : 에러 정정부

32 : 신호 품질 검출부(SQD)

본 발명은 복수 채널의 데이터에 대하여 에러 정정을 행하는 에러 정정 장치 및 에러 정정 방법에 관한 것이다.

본 발명에서의 복수 채널에 의한 데이터에 대해서는, 예를 들면 유선을 전송 매체로 하는 ADSL이나 SDSL 등의 분야, 무선을 전송 매체로 하는 OFDM 등의 분야, 광 섬유를 전송 매체로 하여 복수 파장의 광을 이용한 WDM의 분야, 혹은 기록 매체를 이용하여 데이터를 병렬로 기록, 재생하는 분야 등과 같이 다방면에 걸친 적용 분야가 존재한다.

데이터 전송 시스템으로는 이미 각종 구성이 알려져 있는데, 예를 들면 전력선을 데이터 전송로로서 사용하는 전송 시스템이 알려져 있다. 도 22는, 이 전력선을 이용한 전송 시스템 중 하나인 전력선 반송 통신 시스템을 도시하며, 참조 번호 101은 배전 변전소, 참조 번호 102는 액세스 노드, 참조 번호 103은 고압 배전선, 참조 번호 104는 주상 변압기, 참조 번호 105는 저압 배전선, 참조 번호 106은 인입선, 참조 번호 107은 옥내 배선을 나타낸다.

배전 변전소(101)로부터 고압 배전선(103)을 통해 각 주상 변압기(104)에, 예를 들면 6.6㎸의 고압 교류 전압을 급전하고, 주상 변압기(104)에 의해 각 가정 등의 수요가에 급전하는 100V 또는 200V로 강압하고, 저압 배전선(105)과 인입선(106)을 통해 수요가의 옥내 배선(107)에 급전하여, 이 옥내 배선(107)에 접속한 각종 전기 기기 또는 콘센트에 삽입된 각종 전기 기기를 동작시킨다.

또한 배전 변전소(101)에 배치한 액세스 노드(102)와, 주상 변압기(104)에 배치한 모뎀(도시하지 않음) 사이를 광 섬유 전송로(도시하지 않음)로 접속한다. 이 광 섬유 전송로는 고압 배전선(103)을 따라 부설하는 경우가 일반적이다. 또 한, 주상 변압기(104)에 배치한 모뎀은, 광 신호와 전기 신호의 상호 변환을 행하고, 저압 배전선(105)과 인입선(106)과 옥내 배선(107)을 유선의 데이터 전송로로서 이용하여, 옥내 배선(107)에 접속한 콘센트에 단말 장치를 접속하는 것만으로, 액세스 노드(102)와 그 단말 장치 사이에서 데이터를 전송하는 라스트 원 마일(Last One Mile)이라고 하는 전력선 반송 통신 시스템을 구성할 수 있다.

이러한 전력선 반송 통신 시스템에서, 주상 변압기(104)에 배치한 모뎀측에서 본 저압 배전선(105)은 유도성 임피던스를 나타내고, 인입선(106) 및 옥내 배선(107)은 용량성 임피던스를 나타내며, 또한 옥내 배선(107)에 접속한 각종 전기 기기는 잡음 방지용 컨덴서를 접속한 구성이 일반적이므로, 주상 변압기(104)에 배치한 모뎀으로부터 저압 배전선측을 본 임피던스는 비교적 큰 인덕턴스와 큰 용량을 갖게 된다.

그 결과, 주상 변압기(104)에 배치한 모뎀측에서 본 저압 배전선(105)은 저역 통과형 필터에 상당하며, 옥내 배선(107)에 접속한 모뎀에서의 수신 신호에서는 고역 성분이 크게 감쇠하므로, 수신 신호의 광역 성분은 잡음에 묻히는 상태가 된다. 또한 수신 신호의 저역 성분은, 고역 성분만큼 감쇠하지는 않지만, 각종 전기 기기의 스위칭 전원이나 인버터 회로로부터의 랜덤 잡음이 방출되어, 이 잡음에 따른 영향이 매우 커진다.

예를 들면, 도 23의 (a)에서, 종축을 전력 PWR, 횡축을 주파수로 하고, 점선 곡선으로 잡음 캔슬 특성, 실선 곡선으로 수신 신호 및 잡음 레벨을 도시한다. 이 점선 곡선으로 도시한 잡음 캔슬 특성에 의해, 저역 성분의 잡음 레벨을 수신 신호 레벨과 비교하여 낮출 수 있다. 그러나, 인버터를 사용하는 전기 기기에서는 콤(comb) 형상의 잡음이 넓은 대역에 분포하는 경우가 많다. 이 경우, 예를 들면 도 23의 (b)에 도시된 바와 같이 잡음 캔슬 대역밖에 큰 잡음 레벨이 남기 때문에, 수신 데이터에서 에러 발생이 많아진다.

또는 OFDM(Orthogonal Frequency Division Multiplexing ; 직교 주파수 분할 다중) 방식은 멀티 캐리어를 이용하여 데이터를 전송하는 방식 중 하나로서, 각 캐리어를 직교 관계가 되도록 선택한다. 이와 같이 멀티 캐리어를 이용하여 다중 전송을 행하므로, 예를 들면 잡음 레벨이 큰 대역을 피하여 캐리어 주파수를 할당할 수도 있게 된다. 또 DMT(Discrete Multitone) 방식도 복수의 캐리어를 이용하여 데이터를 전송하는 방식 중 하나로서, 예를 들면 ADSL(Asymmetric Digital Subscriber Line) 방식의 변조 방식으로서 적용되고 있다.

도 24는 앞서 제안한 데이터 전송 장치의 설명도로서, 상술한 전력선 반송 통신 시스템에서의 옥내 배선에 접속하여 데이터를 송수신하는 모뎀에 상당한다. 도 24에서, 참조 번호 111은 부호 변환부이며, SCR(스크램블), S/P(직병렬 변환), G/N(그레이 코드/내츄럴 코드 변환), 합분(finite sum) 연산 등의 기능을 포함하는 것이다.

또는 참조 번호 112는 신호점 발생부, 참조 번호 113은 가드 타임 GT 추가 기능을 포함하는 역 FFT부(IFFT), 참조 번호 114는 제로점 삽입부, 참조 번호 115는 롤 오프 필터(ROF), 참조 번호 116은 변조부(MOD), 참조 번호 117은 DA 변환기(D/A), 참조 번호 118은 저역 통과 필터(LPF), 참조 번호 119는 송신 클럭 발생부(TX-CLK), TX-line은 송신 회선, RX-line은 수신 회선, 참조 번호 120은 대역 통과 필터(BPF), 참조 번호 121은 AD 변환기(A/D), 참조 번호 122는 복조부(DEM), 참조 번호 123은 롤 오프 필터(ROF), 참조 번호 124는 수신 클럭 분배부(RX-CLK), 참조 번호 125는 타이밍 추출부(TIM), 참조 번호 126은 전압 제어 수정 발진기 VCXO를 포함하는 위상 동기 루프 회로(PLL), 참조 번호 127은 잡음 제거부, 참조 번호 128은 가드 타임(GT) 삭제 기능을 포함하는 FFT부, 참조 번호 129는 신호 판정부(DEC), 참조 번호 130은 부호 변환부이며 차분(differential) 연산, N/G(내츄럴 코드/그레이 코드 변환), 병렬-직렬 변환(P/S), DSCR(디스크램블러) 등의 기능을 포함하는 것이다. 또 SD는 송신 신호, RD는 수신 신호를 나타낸다.

송신 클럭 발생부(119)에 의해 발생한 클럭 신호는, 각 부에 공급됨과 아울러, 제로점 삽입부(114)에는 제로점 삽입의 타이밍 신호로서 가해진다. 송신 신호 SD에 대하여, 부호 변환부(111)에서, 스크램블 처리, 캐리어 수에 대응한 병렬 변환, 그레이 코드를 내츄럴 코드로 변환, 수신측에서 차분 연산할 수 있도록 합분 연산 등의 처리를 실시한 후, 신호점 발생부(112)에서 나이키스트 간격의 신호점으로 하고, 역 FFT부(113)에 의해 가드 타임 GT의 부가 및 역 FFT 처리를 실시하고, 제로점 삽입부(114)에서 제로점 삽입의 타이밍 신호에 따라 레벨 0을 나타내는 제로점의 삽입을 행하고, 롤 오프 필터(115)에 의해 파형 정형하고, 변조부(116)에서 디지털 변조하고, DA 변환기(117)에서 아날로그 신호로 변환하고, 저역 통과 필터(118)에 의해 예를 들면 10∼450㎑의 전송 대역으로 하여 송신 회선 TX-line으로 송출한다. 그러한 경우, 송신 회선 TX-line과 수신 회선 RX-line은 옥내 배선 과 결합 필터 등을 통해 접속하게 된다.

또한 수신 클럭 분배부(124)는 위상 동기 루프 회로(126)로부터의 클럭 신호에 기초한 클럭 신호를 각 부에 분배한다. 수신 회선 RX-line을 통해 수신한 신호는 대역 통과 필터(120)에 의해 예를 들면 10㎑∼450㎑의 대역을 통과하고, AD 변환기(121)에 의해 디지털 신호로 변환되고, 복조부(122)에 의해 복조되고, 롤 오프 필터(123)에 의해 파형 정형되며, 잡음 제거부(127)에서는, 수신 클럭 분배부(124)로부터의 클럭 신호에 기초하여, 제로점 위치에 중첩된 잡음 레벨을 구하고, 보간 처리에 의해 신호점의 잡음 레벨을 구하고, 신호점에 중첩되어 있는 잡음을 제거한다. 그리고, FFT부(128)는 가드 타임 GT의 삭제 및 주파수 영역으로의 변환을 행하고, 신호점 판정부(129)는 신호를 판정하고, 부호 변환부(130)는 직병렬 변환, 디스크램블, 차분 연산, 내츄럴 코드를 그레이 코드로 변환하는 등의 처리를 실시하여 수신 신호 RD로 한다.

도 25는 도 24의 제로점 삽입부(114)에 의해 삽입된 제로점과 잡음 제거에 대한 설명도로서, (a) 신호점 S에 대하여 전송 속도를 192kB로 하면, (b) 송신 신호로서, 도시한 바와 같이, 검은 동그라미 "●"로 나타낸 제로점을 삽입한다. 또, 데이터를 1개 복사함으로써, 등가적으로 신호점 S 사이에 제로점을 삽입할 수 있다. 이 제로점 삽입에 의해, 전송 속도는 2배인 384kB가 된다. 또 (c) 수신 신호는 전송 과정에서의 잡음 N이, 수신 신호 S와 제로점에 각각 중첩된다. 따라서, 제로점 상에 중첩된 잡음 N을 추출하면, 신호점 상에도 동일한 잡음 N이 중첩되어 있으므로, 이 잡음 N을 제거하게 된다. 따라서, (d) 잡음 제거 후에 나타나는 수 신 신호를 복원할 수 있다.

또, 제로점 삽입은 복수의 신호점에 대하여 하나의 제로점 혹은 신호점 사이에 복수의 제로점으로서 삽입할 수 있는 것으로, 예를 들면 신호점 사이에 2개의 제로점을 삽입하면, 원래의 데이터를 128㎑의 대역으로 할 경우, 384㎑의 대역이 된다.

데이터의 에러 정정 수단으로서는, 에러 정정 부호를 데이터에 부가하고, 이 에러 정정 부호에 기초하여 데이터의 에러 발생의 유무 및 에러 발생의 경우에는 정정하는 것이 일반적이다. 그러나, 에러 정정 부호는 복수 비트 구성이므로, 이것이 부가됨으로 인해 고속 전송을 행하기 위한 전송 효율이 저하하는 문제가 있다.

또한 상술한 바와 같이, 제로점 삽입에 의해 그 제로점 위치에 중첩된 잡음을 추출하고, 이 잡음을 기초로 신호점에 중첩된 잡음을 상쇄시키는 수단을 적용함으로써, 전력선 반송 통신 시스템에서도 잡음의 영향을 저감시켜 고속 전송이 가능해진다. 그러나, 잡음의 분포는 예를 들면 도 19의 (b)에 도시한 바와 같이, 복수 대역에 걸쳐 비교적 큰 레벨로 분산하고, 또한 시간적으로 그 레벨이나 대역이 변화하는 경우가 많다. 따라서, 잡음 성분을 확실하게 제거할 수 없어, 데이터의 판정 에러가 발생한다.

또한 다치 변조를 적용할 경우, 수신 신호의 변조 신호점이 잡음의 영향으로 인해 크게 변화함으로써, 데이터의 판정 에러가 발생하는 경우가 많아진다. 이러 한 점 때문에, 고속 전송을 위해 다치 변조를 행하기 위한 다치 수를 크게 하는 것이 곤란해진다는 문제가 있다.

본 발명은, 데이터를 복수 채널로 하여 고속 전송하고, 에러 정정용으로 적어도 1 채널분을 이용함으로써, 에러 정정을 유효하게 행하는 것을 목적으로 한다.

본 발명의 에러 정정 장치는, 도 3을 참조하여 설명하면, 복수 채널의 데이터의 에러 정정을 행하는 에러 정정 장치로서, 복수 채널 중 적어도 1 채널을 에러 정정 채널로 하고, 나머지 채널의 데이터의 배타적 논리합을 구하여 에러 정정 채널의 데이터로 하는 복수 채널의 데이터를 판정부(29)에서 판정하고, 이 복수 채널의 판정 데이터의 배타적 논리합을 구하는 배타적 논리합부(37)와, 복수 채널의 품질을 검출하는 신호 품질 검출부(38)와, 배타적 논리합부(37)의 출력이 "0" 등의 사전에 결정한 특정한 값일 때에는 에러 정정 채널의 판정 데이터를 제외한 다른 채널의 판정 데이터를 그대로 출력하고, 배타적 논리합부(37)의 출력이 "0" 등의 사전에 결정한 특정한 값이 아닐 때에는 신호 품질 검출부(38)에 의한 품질이 최악인 채널의 판정 데이터를, 이 품질이 최악인 채널을 제외한 다른 채널의 판정 데이터의 배타적 논리합의 결과로 치환하여 데이터를 출력하는 판정 처리부(39)를 포함한다. 또 배타적 논리합의 처리 및 구성은 모듈로 가산의 처리 및 구성도 포함한다.

또 정다면체의 각 면의 변과 채널을 대응시켜, 정다면체의 면 대응으로, 해당 면의 1변에 상당하는 채널을 에러 정정 채널로 하고, 나머지 변에 상당하는 채 널 데이터의 배타적 논리합의 결과를 에러 정정 채널의 데이터로 하는 복수 채널의 데이터를 예를 들어 판정부(29)에 의해 판정하고, 에러 정정 채널과 이 에러 정정 채널과 조합한 복수 채널과의 판정 데이터의 배타적 논리합을 구하는 배타적 논리합부(37)와, 면 대응의 변에 상당하는 복수 채널을 하나의 조(組)로 하여 각 채널의 품질을 검출하는 신호 품질 검출부(38)와, 면 대응의 상기 배타적 논리합부의 출력이 "0" 등의 사전에 결정한 특정한 값일 때에는, 이 면 대응의 에러 정정 채널의 판정 데이터를 제외한 다른 채널의 판정 데이터를 그대로 출력하고, 배타적 논리합부의 출력이 "0" 등의 사전에 결정한 특정한 값이 아닐 때에는 신호 품질 검출부(38)에 의한 품질이 최악인 채널의 판정 데이터를, 이 품질이 최악인 채널을 제외한 다른 채널의 판정 데이터의 배타적 논리합의 결과로 치환하여 데이터를 출력하는 판정 처리부(39)를 포함하는 구성으로 한다.

또 정다면체의 각 면의 변과 채널을 대응시켜, 정다면체의 면과, 이 면에 인접하는 복수의 면의 변을 하나의 조로 하는 변 대응의 채널의 조합에서, 면 대응의 판정 데이터의 배타적 논리합이 "0" 등의 사전에 결정한 특정한 값이 아닐 때, 신호 품질 검출부에 의해 검출한 품질 열화의 정다면체의 면 수에 상당하는 채널을 에러 발생 채널로 하고, 이 에러 발생 채널을 미지수로 하는 연립 방정식을 풀어 에러 발생 채널의 데이터의 정정 처리를 행하는 판정 처리부를 구비한다.

또 복수 채널의 각 채널 대응으로 복수 비트를 구성하고, 이 복수 비트 중 단일 또는 복수의 비트를 서브세트로 하고, 또한 복수 채널을 소정 수마다 조로 하여, 이 조 중 1 채널을 에러 정정 채널로 하고, 다른 채널의 서브세트에 대하여 배 타적 논리합의 결과를 에러 정정 채널의 서브세트로 하는 복수 채널의 데이터를 판정하고, 조마다의 서브세트에 대한 판정 데이터의 배타적 논리합을 구하는 배타적 논리합부와, 조마다의 서브세트에 대한 채널의 품질을 검출하는 신호 품질 검출부와, 배타적 논리합부의 출력이 "0" 등의 사전에 결정한 특정한 값일 때에는, 에러 정정 채널의 서브세트를 제외한 채널의 서브세트의 판정 데이터를 그대로 출력하고, "0" 등의 사전에 결정한 값이 아닐 때에는, 신호 품질 검출부에 의한 품질이 최악인 채널의 판정 데이터를, 이 품질이 최악인 채널을 제외한 다른 채널의 서브세트의 판정 데이터의 배타적 논리합의 결과로 치환하여 출력하는 에러 정정부와, 서브세트를 제외한 비트에 대하여 판정하고, 이를 에러 정정부에 의해 에러 정정한 서브세트와 함께 출력하는 판정부를 구비한다.

또 본 발명의 에러 정정 방법은, 복수 채널 중 적어도 1채널을 에러 정정 채널로 하고, 나머지 채널의 데이터의 배타적 논리합을 구하여 에러 정정 채널의 데이터로 하는 복수 채널의 데이터를 판정하는 과정과, 데이터 판정 과정을 기초로 채널 대응의 품질을 신호 품질 검출부 등에 의해 검출하는 과정과, 복수 채널의 판정 결과의 데이터의 배타적 논리합을 배타적 논리합부에 의해 구하는 과정과, 배타적 논리합의 결과가 "0" 등의 사전에 결정한 특정한 값일 때에는, 에러 정정 채널의 판정 데이터를 제외한 다른 채널의 판정 데이터를 그대로 출력하고, "O" 등의 사전에 결정한 특정한 값이 아닐 때에는, 복수 채널 대응의 품질 검출 결과가 최악인 채널의 데이터를, 이 채널을 제외한 다른 채널의 판정 데이터의 배타적 논리합의 결과로 치환하여 출력하는 과정을 포함한다.

또 정다면체의 각 면의 변과 채널을 대응시켜, 정다면체의 면 대응에 해당 면의 1변에 상당하는 채널을 에러 정정 채널로 하고, 남은 변에 상당하는 채널의 데이터의 배타적 논리합의 결과를 에러 정정 채널의 데이터로 하는 복수 채널의 데이터를 판정하는 과정과, 데이터 판정 과정을 기초로 채널 대응의 품질을 검출하는 과정과, 면 대응의 배타적 논리합의 결과가 "0" 등의 사전에 결정한 특정한 값일 때에는, 면 대응의 에러 정정 채널의 판정 데이터를 제외한 다른 채널의 판정 데이터를 그대로 출력하며, 배타적 논리합의 결과가 "0" 등의 사전에 결정한 특정한 값이 아닐 때에는, 채널 대응의 품질 검출 결과가 최악인 채널의 판정 데이터를, 이 채널의 판정 데이터를 제외한 다른 채널의 판정 데이터의 배타적 논리합의 결과로 치환하고, 에러 정정한 데이터를 출력하는 과정을 포함한다.

또 정다면체의 각 면의 변과 채널을 대응시켜, 정다면체의 면과 해당 면에 인접하는 복수의 면과의 변을 조로 하는 변 대응의 채널 조합에서, 면 대응의 판정 데이터의 배타적 논리합이 "0" 등의 사전에 결정한 특정한 값이 아닐 때에, 채널 대응의 품질 검출 결과를 기초로 품질 열화의 정다면체의 면 수에 상당하는 채널을 에러 발생 채널로 하고, 이 에러 발생 채널을 미지수로 한 연립 방정식을 풀어 에러 발생 채널의 데이터의 정정 처리를 행하는 과정을 포함한다. 또 정다면체의 면 대응의 판정 데이터의 배타적 논리합이 "0" 등의 사전에 결정한 특정한 값이 아닐 때에, 채널 대응의 품질 검출 결과를 기초로 품질 열화의 정다면체의 면 수에 상당하는 채널을 에러 발생 채널로 하고, 면과의 조합에 기초하여 에러 발생 채널에 대하여 계수를 1로 하고, 순차적으로 면과 채널의 조를 선택하여, 계수를 0으로 하는 처리를 행하며, 최종적으로 계수가 남는 면과 채널의 조에 에러가 발생한 것으로 하여 정정하는 과정을 포함한다.

또 복수 채널의 각 채널 대응으로 복수 비트를 구성하고, 이 복수 비트 중 단일 또는 복수의 비트를 서브세트로 하고, 또한 복수 채널 중 적어도 1 채널을 에러 정정 채널로 하고, 다른 채널의 서브세트에 대하여 배타적 논리합의 결과를 에러 정정 채널의 서브세트로 한 복수 채널의 데이터를 판정하여, 서브세트에 대한 판정 데이터의 배타적 논리합을 구하는 과정과, 서브세트에 대한 채널의 품질을 검출하는 과정과, 배타적 논리합의 결과가 "0" 등의 사전에 결정한 특정한 값일 때에는 에러 정정 채널의 서브세트를 제외한 채널의 서브세트의 판정 데이터를 그대로 출력하고, "0" 등의 사전에 결정한 특정한 값이 아닐 때에는 채널의 품질 검출 결과가 최악인 품질의 채널의 판정 데이터를, 이 품질이 최악인 채널을 제외한 다른 채널의 서브세트의 판정 데이터의 배타적 논리합의 결과로 치환하여 출력하는 과정과, 서브세트를 제외한 비트에 대하여 판정하고, 판정 결과와 서브세트를 출력하는 과정을 포함한다. 또 복수 채널을 복수의 조로 분할하고, 조마다 1채널을 에러 정정 채널로 하고, 조마다 에러 정정 채널을 제외한 채널의 서브세트의 배타적 논리합을 조마다의 에러 정정 채널의 서브세트로 하고, 이 서브세트에 대한 판정 데이터와 조마다의 채널의 품질 검출 결과에 기초하여, 품질이 최악인 채널의 서브세트의 에러 정정을 행하는 과정을 포함한다.

<발명의 실시예>

도 1은 본 발명의 실시예의 설명도로, 전력선 반송 통신 시스템의 데이터 전 송 장치에 적용한 경우를 나타내며, 참조 번호 10은 에러 정정 데이터 생성부, 참조 번호 11은 부호 변환부이며, SCR(스크램블러), S/P(직병렬 변환), G/N(그레이 코드/내츄럴 코드 변환), 합분 연산 등의 기능을 포함한다. 또 참조 번호 12는 신호점 발생부, 참조 번호 13은 가드 타임 GT 추가 기능을 포함하는 역 FFT부(IFFT), 참조 번호 14는 제로점 삽입부, 참조 번호 15는 롤 오프 필터(ROF), 참조 번호 16은 변조부(MOD), 참조 번호 17은 DA 변환기(D/A), 참조 번호 18은 저역 통과 필터(LPF), 참조 번호 19는 송신 클럭 발생부(TX-CLK), TX-line은 송신 회선, RX-line은 수신 회선을 나타낸다.

또 참조 번호 20은 대역 통과 필터(BPF), 참조 번호 21은 AD 변환기(A/D), 참조 번호 22는 복조부(DEM), 참조 번호 23은 롤 오프 필터(ROF), 참조 번호 24는 수신 클럭 분배부(RX-CLK), 참조 번호 25는 타이밍 추출부(TIM), 참조 번호 26은 전압 제어 수정 발진기 VCXO를 포함하는 위상 동기 루프 회로(PLL), 참조 번호 27은 잡음 제거부, 참조 번호 28은 가드 타임(GT) 삭제 기능을 포함하는 FFT부, 참조 번호 29는 신호 판정부(DEC), 참조 번호 30은 부호 변환부로서, 차분 연산, N/G(내츄럴 코드/그레이 코드 변환), P/S(병렬-직렬 변환), DSCR(디스크램블러) 등의 기능을 포함한다. 또 참조 번호 31은 에러 정정부, 참조 번호 32는 신호 품질 검출부, SD는 송신 신호, RD는 수신 신호를 나타낸다.

이 실시예는, 도 24에 나타내는 데이터 전송 장치에, 에러 정정 데이터 생성부(10)와, 에러 정정부(31)와, 신호 품질 검출부(32)를 부가한 구성에 상당하며, 에러 정정부(31)와 신호 품질 검출부(32)를 포함하는 기능에 의해 에러 정정 장치 의 기능을 구성하고 있다. 여기서, 데이터 전송 장치와 동일 기능 부분에 대한 중복되는 동작 설명은 생략한다. 또 에러 정정 데이터 생성부(10)는, 예를 들면 21 채널 중 1 채널을 에러 정정 채널로 하고, 나머지 20 채널의 송신 데이터의 배타적 논리합(XOR)의 결과, 또는 모듈로 가산의 결과를 에러 정정 채널의 송신 데이터로서, 혹은 그것을 반전한 송신 데이터로서 신호점 발생부(12)에 입력하여, 송신 데이터에 대응하는 다치 변조의 신호점을 할당한다.

또 수신 신호에 대해서는, 신호 판정부(29)에서의 판정 결과와 수신 신호를 신호 품질 검출부(32)에 입력하고, 각 채널 대응의 신호 품질을 구한다. 또 에러 정정부(31)는 신호 판정부(29)에 의한 판정 결과에 대하여 각각 채널 사이의 배타적 논리합(XOR) 또는 모듈로 가산의 처리를 행한다. 신호 품질 검출부(32)는 예를 들면, 수신 신호와 판정 결과의 차를 나타내는 오차 신호를 스칼라값으로 변환하고, 이 스칼라값의 적분 결과와, 오차율에 관련된 기준값의 차를 구하고, 2치의 품질 평가 신호를 출력하는 구성으로 할 수 있다(상세한 내용에 대해서는, 예를 들면 특공소58-54686호 공보를 참조). 또, 본 발명의 실시예에서는 2치의 신호를 이용하지 않고, 적분 결과를 그대로 또는 기준값과의 차분을 그대로 신호 품질 출력으로서 이용한다.

에러 정정부(31)에서의 판정 결과의 데이터에 대하여 배타적 논리합 또는 모듈로 가산의 처리 결과, 송신측에서 에러 정정 채널 이외의 채널의 송신 데이터의 배타적 논리합 또는 모듈로 가산의 결과를 에러 정정 채널의 송신 데이터로 하면, 에러가 없는 경우에는 "0"이 된다. 또는 송신측에서 배타적 논리합 또는 모듈로 가산의 결과를 반전하여 에러 정정 채널의 송신 데이터로 하면, 에러가 없는 경우에는 "1"이 된다. 이것은 사전에 정할 수 있는 특정값이며, 판정 결과인 20 채널의 데이터를 그대로 부호 변환부(30)로 전송한다. 또 배타적 논리합의 결과, "0" 등의 특정한 값이 아닌 경우, 이는 어느 한 채널의 데이터에 에러가 발생한 것을 나타내므로, 신호 품질 검출부(32)에 의해 구해진 품질 열화가 최악인 채널을, 이 채널을 제외한 채널의 데이터에 대한 배타적 논리합 또는 모듈로 가산의 결과로 교체시킨다. 그에 따라 에러 발생 데이터는 정정된다.

도 2는 본 발명의 실시예의 에러 정정 데이터 생성부의 설명도로서, 참조 번호 35는 배타적 논리합부를 나타내고, 순차적으로 각 채널 데이터의 배타적 논리합을 취하는 구성으로서 나타내지만, 순차 병렬적으로 배타적 논리합을 취하는 논리 게이트 회로 또는 소프트웨어로 배타적 논리합을 취하는 구성으로 할 수 있다. 또 배타적 논리합은 각 채널의 데이터를 모듈로 가산하는 것과 등가가 된다. 따라서, 본 발명에서의 배타적 논리합부는 모듈로 가산부를 포함한다. 이 배타적 논리합부(35)는, 0CH(0 채널)∼19CH(19 채널)(이하, CH을 채널의 약칭으로서 필요에 따라 사용함)의 데이터의 배타적 논리합을 구하여, 에러 정정 CH(에러 정정 채널)의 송신 데이터로 한다. 따라서, 이 에러 정정 CH의 송신 데이터와 0CH∼19CH의 송신 데이터의 배타적 논리합은 "0"이 된다.

예를 들어, 0CH, 1CH을 데이터용으로 하고, 2CH을 에러 정정용으로 하여, 배타적 논리합 연산을 간단히 설명한다. 이 배타적 논리합 연산은 두개의 비트가 다를 때 "1", 동일할 때 "0"이 되는 연산이며, 모듈로 가산과 동일해진다. 그리고, 0 CH의 데이터를 "01", 1CH의 데이터를 "11"로 하면, 배타적 논리합의 결과는 "10"이 되고, 이것을 에러 정정 CH의 데이터로 한다. 그리고, 0CH와 1CH과 에러 정정 CH인 2CH의 데이터의 배타적 논리합의 결과는 "01"과 "11"과 "10"의 배타적 논리합(또는 모듈로 가산)의 결과, "00"이 된다. 이 배타적 논리합부(35)로부터의 에러 정정 CH의 데이터와 0CH∼19CH의 데이터는 신호점 발생부(12)에 입력되고, 이는 변조 신호점을 나타내는 데이터로서, 도 1에서의 역 FFT부(13)에 입력된다.

도 3은 본 발명의 실시예의 에러 정정부의 설명도로서, 신호 판정부(DEC : 29)로부터의 0CH(0 채널)∼19CH(19 채널)의 판정 데이터를 판정 처리부(39)와 배타적 논리합부(XOR : 37)에 입력하고, 에러 정정 CH(에러 정정 채널)의 판정 데이터를 배타적 논리합부(37)에 입력한다. 이 배타적 논리합부(37)도 상술한 배타적 논리합부(35)와 동일한 구성으로 할 수 있다. 또 0CH∼19CH 및 에러 정정 CH에 대한 수신 신호와 판정 데이터의 차의 벡터값, 신호 중 위상 오차 성분 및 진폭 오차 성분을 포함하는 오차 신호를 신호 품질 검출부(SQD : 38)에 입력한다. 배타적 논리합부(37)는 0CH∼19CH과 에러 정정 CH의 판정 데이터의 배타적 논리합을 구하여, 판정 처리부(39)에 입력한다. 또 도 1에서의 신호 품질 검출부(32)와 동일한 기능을 갖는 신호 품질 검출부(38)는 채널 대응의 신호 품질을 구하여, 판정 처리부(39)에 입력한다.

판정 처리부(39)는 송신측에서 0CH∼19CH의 데이터의 배타적 논리합의 결과를 에러 정정 CH의 송신 데이터로 한 경우, 배타적 논리합부(37)에서의 각 채널의 판정 데이터의 배타적 논리합의 결과가 "0"이 아닌 경우, 즉 XOR 결과≠0인 경우, 신호 품질 검출부(38)로부터의 채널 대응의 신호 품질 검출 결과를 기초로, 최악의 SQD CH의 DEC 결과, 즉 신호 품질이 최악인 채널의 판정 데이터를, 이 채널의 판정 데이터를 제외한 다른 채널의 판정 데이터의 배타적 논리합 결과로 치환하여 수신 데이터로 하고, 또 배타적 논리합의 결과가 "0"인 경우, 즉 XOR의 결과=0인 경우, 각 CH의 DEC 결과를 그대로 출력, 즉 0CH∼19CH의 판정 데이터를 그대로 수신 데이터로 한다.

예를 들면 판정 처리부(39)는 배타적 논리합 XOR의 결과≠0인 경우에, 신호 품질이 최악인 데이터 채널이 2CH이라고 하면, 이 2CH를 제외한, 0∼1CH, 3∼19CH의 데이터의 배타적 논리합을, 2CH의 데이터와 교체하여 수신 데이터로 한다. 따라서, 에러 정정 채널을 이용함으로써 복수 채널 중 1채널분의 데이터를 정정할 수 있다.

상술한 실시예는, 복수의 데이터 채널에 대하여 1개의 에러 정정 채널을 사용하여, 복수의 데이터 채널 중 임의의 1개의 데이터 채널에 의한 전송 데이터의 에러 정정을 행하는 경우를 나타내지만, 복수의 데이터 채널에 대하여 복수의 에러 정정 채널을 사용함과 함께, 데이터 채널과 에러 정정 채널의 조합 관계를 정다면체 구성에 대응시켜, 복수의 데이터 채널에서의 에러를 정정할 수 있다. 또 각 채널의 데이터는 단일 비트 구성만이 아니라, 복수 비트 구성으로 할 수 있는 것으로, 예를 들면 0CH∼19CH의 데이터가 2 비트 구성이고, 그 모듈로 가산 결과가 "01"이 된 경우, "01"(+)"11"="00"를 모듈로 가산(+) 결과로 하기 위하여, 에러 정정 채널의 송신 데이터를 "11"로 하는 것이다. 또, 에러 정정 CH의 송신 데이터는 배타적 논리합 또는 모듈로 가산의 결과에 대응하여 사전에 결정한 특정한 값으로 할 수도 있다.

이 정다면체는, 도 4에 도시한 바와 같이 정4면체, 정6면체, 정8면체, 정12면체, 및 정20면체가 있으며, 정12면체를 예로 들면, 정5각형의 면이 12개, 변이 30개가 된다. 그리고, 각 변을 채널에 대응시키면, 30개의 채널에 대하여, 12개의 면과의 관계를 나타낼 수 있다. 이 경우, 각 면 5채널에 대하여 1 채널을 에러 정정 채널로서 대응시킨다. 따라서, 정4면체인 경우, 6개의 채널에 대하여 4개의 에러 정정 채널, 정6면체인 경우, 12개의 채널에 대하여 6개의 에러 정정 채널, 정8면체인 경우, 12개의 채널에 대하여 8개의 에러 정정 채널, 정12면체인 경우, 30개의 채널에 대하여 12개의 에러 정정 채널, 정20면체인 경우, 30개의 채널에 대하여 20개의 에러 정정 채널로 하는 조합을 생각할 수 있다.

도 5는 정12면체와 채널의 관계를 설명하는 설명도로서, 0∼29는 변 번호를 나타내며, 면1에 대해서, 변 번호가 0∼4인 5개의 변이 있고, 각 변을 채널 0CH∼4CH이라고 하면, 5개 채널의 송신 데이터의 배타적 논리합을 구하고, 에러 정정 채널을 설치하여, 배타적 논리합 결과를 송신 데이터로 한다. 그에 따라, 면1에 대응하는 채널 중 1개의 채널의 데이터의 에러를 정정할 수 있다.

상기 면1 이외의 면에 대해서도 마찬가지로, 5 채널의 송신 데이터의 배타적 논리합을 구하여, 각각 하나의 채널을 에러 정정 채널로서 설치하고, 그 배타적 논리합 결과를 송신 데이터로 한다. 따라서, 1∼12인 면 번호와 0∼29인 CH 번호는 도 6에서의 동그라미 표시 "○"로 나타내는 조합으로 할 수 있다. 그리고, 면 대 응 채널에 대하여 1개의 에러 정정 채널을 설치한 경우에는, 전체적으로 12개의 에러 정정 채널을 형성하게 된다.

상술한 정12면체의 경우, 예를 들면 도 2 및 도 3에 나타내는 실시예의 구성을 5 채널 구성으로 하여 12개 설치하고, 각각의 채널 조합에 의한 30 채널 중 12개 채널의 데이터의 에러 정정이 가능해진다. 즉, 도 2 및 도 3에 나타내는 실시예에서는 이차원 면상의 정21각형의 1변을 에러 정정 채널로 하고, 다른 20개의 변을 20개의 데이터 채널(0CH∼19CH)로 한 경우에 상당하며, 따라서 정다면체의 면과 변의 관계로 채널 조합을 행하는 경우, 면 대응의 상술한 도 3에 나타내는 에러 정정부로 이루어지는 에러 정정 장치를 설치할 수 있다.

상술한 정12면체의 관계를 적용한 경우, 30개의 채널에 12개의 에러 정정 채널을 할당하고, 면 대응으로 신호 품질이 최악인 1개 채널의 판정 데이터에 대하여, 에러 정정을 할 수 있다. 따라서, 에러 정정 채널 수에 대응하는 12개 채널분의 에러 정정이 가능해진다.

이 실시예에서는, 상술한 바와 같이 면대응으로 1개의 채널에 대한 에러 정정이 가능해진다. 그러나, 면 대응으로 복수개 채널이 동시에 에러가 된 경우에는 정정할 수 없다. 따라서, 예를 들면 상술한 20개의 채널 중 임의의 12개의 채널의 에러 정정을 가능하게 하기 위하여, 20-12=8보다 많은 개수의 채널 조합을 12가지 형성하고, 12연립 방정식으로 하고, 이를 풀어서, 면 대응의 복수 채널에 대해서도 전체적으로 12개 채널까지 에러 정정이 가능해진다. 채널의 조합 방법은, 예를 들면 면과 변의 조합에 인접면의 변을 더 포함하는 조합으로 한다.

이를 위하여, 12개의 연립 방정식이 독립하여 성립하도록, 각 채널에 계수를 랜덤하게 부여하고, 모듈로 가산을 행하여 에러 정정 채널을 생성하고 송신한다. 이 경우, 도 7의 (a)에 도시한 바와 같이 면 번호와 CH 번호에 대하여 동그라미 표시 "○"로 나타내는 조합으로 할 수 있다. 이 경우, 도 7의 (b)에 도시한 바와 같이, 면 대응으로 에러 정정 채널 EC를 20CH∼31CH로 하여, 합계 32개인 채널 조합의 구성으로 할 수 있다. 그리고, 각 채널에 할당하는 계수를, 예를 들면 도 8에 나타내는 1∼3의 값으로 할 수 있다. 또, 면1∼면12에 대응하는 0CH∼19CH를 데이터 채널로 하고, 20CH∼31CH를 에러 정정 채널 EC로 하고, 면 대응 조합의 데이터 채널의 데이터의 모듈로 가산을 에러 정정 채널 EC의 송신 데이터로 한다. 각 계수의 종류는 1∼3 값에 한정되는 것은 아니며, 종류를 더 많게 할 수도 있으며, 사전에 랜덤하게 할당하게 된다.

예를 들면, 면1 대응의 0CH∼19CH의 데이터를 D0∼D19로 하면, 각각에 계수를 승산하여 모듈로 가산을 행하고, 이 면1 대응의 에러 정정 채널 EC1의 데이터를 구한다. 즉, 1*D0+1*D1+3*D2+2*D3+1*D4+ …+2*D17+2*D18+3*D19+EC1=0으로 하는 EC1을 에러 정정 채널의 데이터로 한다. 또, "0" 이외의 사전에 결정한 특정한 값이 되도록 모듈로 가산 결과를 이용하여 에러 정정 채널의 데이터로 할 수 있다. 예를 들면, 각 채널의 데이터가 2 비트 구성인 경우에, D0∼D19의 데이터 다음에 상술한 계수를 승산하여 모듈로 가산한 결과가 "10"로 되었다고 하면, EC1="11"로 한다. 즉, 모듈로 가산으로 "01"(+)"11"="00"이 되므로, "11"을 에러 정정 채널의 데이터로 한다.

수신측에서는 각 채널의 신호점의 판정 결과를, 도 8에 나타내는 면 대응의 조합으로 판정 데이터를 처리함으로써, 각 채널에 송신측에서 이용한 계수를 웨이티드한 모듈로 가산을 행하여, 12개의 연립 방정식을 형성한다. 또, 에러 발생을 검출한 경우, 신호 품질 검출부의 품질 검출 결과가 나쁜 순서로 12개의 채널을 선택하여, 이 12개 채널의 데이터를 미지수로 하고, 다른 채널의 데이터는 에러가 없으므로, 기지수(상수)로 간주한다. 따라서, 12개의 채널을 미지수로 하는 12개의 연립 방정식을 형성할 수 있다.

이 12개의 연립 방정식을 풀어, 12개의 채널 에러를 정정할 수 있으며, 예를 들면 가우스 조르단법을 이용하여 풀 수 있다. 예를 들면, 도 8에 도시한 바와 같이, 면 대응으로 조합한 채널에 대해 송신측과 동일한 계수를 할당한 상태에서, 도 9에 도시한 바와 같이 면1∼면12 대응에, 0CH∼2CH, 8CH∼10CH, 16CH∼18CH, 24CH∼26CH의 합계 12개의 채널이, 에러 발생 검출 시에, 품질이 나쁜 순서로 선택되는 것으로 하면, 상술한 바와 같이 에러가 없는 채널은 기지수(상수)로 간주하고, 미지수에 대하여, 예를 들면 면1 대응에는 상술한 계수를 승산하여, 1*D0+1*D1+3*D2+2*D8+3*D9+3*D10+2*D16+2*D17+2*D18+A=0인 방정식으로 한다. 여기서, A는 에러 발생 채널 이외의 채널과 에러 정정 채널과의 모듈로 가산값을 나타낸다. 도 10의 (a)는, 에러 발생 채널의 판정 결과 데이터에 승산하는 계수를 나타낸다.

따라서, 면1∼면12에 대응하는 각각의 계수를 판정 데이터에 승산한 상술한 방정식이 12개 형성된다. 이하, 도 10∼도 16을 참조하여 12개의 연립 방정식을 푸는 과정을 설명한다. 도 10의 (b)는 제1 단계를 나타내는 것으로, 이 제1 단계는 면1 이외의 0CH(채널)의 계수를 0으로 한다. 이 경우의 면1은 상술한 에러 발생 채널에 대하여 1, 1, 3, 2, 3, 3, 2, 2, 2의 계수를 갖고, 또 0CH의 면 대응의 계수는 1, 3, 2, 2, 2, 1, 1, 3인 경우를 나타낸다. 그리고, 면1 이외의 0CH의 계수를 0으로 하기 때문에, 면2∼면12 대응의 0CH의 계수를, 면1의 채널 대응에 계수배하여 감산한다.

예를 들면, 면2의 0CH의 계수는「3」이므로, 면2 대응의 각 채널의 계수를, 면1 대응의 각 채널의 계수 1, 3, 2, 2, 2, 1, 1, 3을 배수로 하여, 면2 대응의 계수에서 감산한다. 따라서, 면2 대응의 각 채널의 계수는 0, -1, -6, -5, -9, -9, -5, -5, -4, 0, 0, 0이 된다. 즉, 면2의 2CH의 계수는「3」이고, 또는 면1의 2CH의 계수는「3」이므로, 3-3×3=-6이 된다. 또는 24CH∼26CH에 대해서는, 면1 대응의 계수는 「0」이므로, 0-3×0=0이 된다. 마찬가지로, 면3에 대해서도, 면3의 0CH의 계수는「2」이므로, 도 10의 (a)에 나타내는 면3의 계수 2, 1, 2, 1, 3, 2, 0, 1, 1, 0, 0, 0은, 도 10의 (b)에 도시한 바와 같이 0, -1, -4, -3, -3, -4, -4, -3, -3, 0, 0, 0이 된다. 또 면4의 계수는 0, 0, -4, -2, -5, -4, -4, -4, -4, 0, 0, 0이 된다. 이하 마찬가지로, 면5∼면12의 각 채널의 계수에 대해서도 처리한다. 이러한 제1 단계의 처리 결과를 도 10의 (b)에 나타내는 것이다.

도 11은 제2 단계 및 제3 단계의 설명도이고, 제2 단계는 면11 이외의 1CH의 계수를 0으로 하는 처리를 행한다. 그에 따라, 면1 대응의 채널의 계수는 1, 0, 0, -1, 0, 3, 1, 1, -1, 0, 0, 0이 되고, 면2 대응의 채널의 계수는 0, 0, -3, -2, -6, -9, -4, -4, -1, 0, 0, 0이 된다. 이어서 제3 단계는 면10 이외의 2CH의 계수를 0으로 하는 처리를 행한다. 이에 따라, 면1 대응의 채널의 계수는 1, 0, 0, -1, 0, 3, 1, 1, -1, 0, 0, 0이 되고, 면2 대응의 채널의 계수는 0, 0, 0, 1, -6, -9, 2, 5, 2, 0, 0, 0이 된다.

도 12는 제4 단계 및 제5 단계의 설명도로서, 제4 단계는 면2 이외의 8CH의 계수를 0으로 하는 처리를 행한다. 그에 따라, 면1 대응의 채널의 계수는 1, 0, 0, 0, -6, -6, 3, 6, 1, 0, 0, 0이 된다. 또 면2 대응의 채널의 계수는 0, 0, 0, 1, -6, -9, 2, 5, 2, 0, 0, 0이 된다. 이 면2 대응의 8CH의 계수는 4번째로 나타내는 1이 된다. 다른 면 대응의 채널에 대해서도 마찬가지로 처리한다.

또 제5 단계는 면12 외의 9CH의 계수를 0으로 하는 처리를 행한다. 이에 따라, 면1 대응의 채널의 계수는 1, 0, 0, 0, 0, -2, 5, 6, 7, 0, 0, 0이 되고, 면2 대응의 채널의 계수는 0, 0, 0, 1, 0, -5, 4, 5, 8, 0, 0, 0이 된다.

도 13은 제6 단계 및 제7 단계의 설명도이고, 제6 단계는 면3 외의 10CH의 계수를 0으로 하는 처리를 행하고, 다음 제7 단계는 면5 이외의 16CH의 계수를 0으로 하는 처리를 행한다. 이 제7 단계에 의해, 예를 들면 면1 대응의 채널의 계수는 8, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 24, -76, 15, 0, 0이 되고, 면2 대응의 채널의 계수는 0, 0, 0, 8, 0, 0, 0, 48, -300, 63, 0, 0이 된다.

도 14는 제8 단계 및 제9 단계의 설명도이고, 제8 단계는 면9 외의 17CH의 계수를 0으로 하는 처리를 행한다. 이 때의 면9의 17CH의 계수는 -2로 되어 있다. 다음 제9 단계는 면6 외의 18CH의 계수를 0으로 하는 처리를 행한다. 이 때의 면6 의 18CH의 계수는 -44로 되어 있다.

도 15는 제10 단계 및 제11 단계의 설명도로서, 제10 단계는 면4 외의 24CH의 계수를 0으로 하는 처리를 행한다. 이 때의 면4의 24CH의 계수는 54696이 된 경우를 나타낸다. 다음 제11 단계는 면8 외의 25CH의 계수를 0으로 하는 처리를 행한다. 이 때의 면8의 25CH의 계수는 50383872가 된 경우를 나타낸다. 또 예를 들면, 면1 대응의 0CH의 계수의 9.7004E+14는 9.7004×10¹⁴를 나타내는 것이지만, 실제는 97004028454502로 되어 있다.

도 16은 제12 단계의 설명도로서, 도 15의 제11 단계에서의 0 이외의 계수를 1로 한다. 예를 들면, 면1 대응의 0CH의 계수가 1이므로, 이 0CH의 데이터가 에러 발생 데이터로서 정정될 수 있다. 마찬가지로, 면2 대응의 8CH의 계수가 1, 면3 대응의 10CH의 계수가 1이 된다. 따라서, 도 10의 (a)에 나타내는 품질 열화의 12개의 채널에 대한 에러 정정이 가능해진다. 이 경우의 12개의 연립 방정식의 해가 예를 들면 1*D0+β=0이 되었다고 하면, 데이터를 2 비트 구성으로 하고, 모듈(4)을 곱한 β에 의해 0CH의 데이터 D0은 β=00일 때 D0=00, β=01일 때 D0=11, β=10일 때 D0=10, β=11일 때 D0=01로서 에러를 정정할 수 있다.

또는 상술한 제1 단계∼제12 단계에서, 계수의 승산과 가산 처리 결과의 값을 그대로 나타내고 있지만, 각 단계마다 모듈로 가산을 행함으로써, 계수의 값을 작은 값으로 한정하는 것이 가능하며, 예를 들면 계수의 최대치를 3으로 할 때에 모듈(3)에 의한 처리를 행하는 구성으로 할 수도 있다. 이러한 연립 방정식의 해 를 구하는 수단은 전용 하드웨어 또는 DSP(디지털 시그널 프로세서) 등의 연산 기능에 의해 용이하게 실현할 수 있다.

상술한 실시예는, 정다면체의 면과 변의 관계에 따른 채널 사이의 조합에 의해 복수의 데이터 채널의 동시 에러를 정정하는 것이고, 이 정다면체에 상당하는 4차원 공간에서의 도형의 정다포체(multi-vesicular body : 正多胞體)의 면과 변의 관계에 따른 채널 사이의 조합도 가능하다. 예를 들면, 정8포체는 정6면체를 구성 요소로 하는 것으로, 정점 수는 16, 변 수는 32, 면 수는 24가 된다. 또 정24포체는 정8면체를 구성 요소로 하고, 정점 수는 24, 변 수는 96, 면 수는 96이 된다. 따라서, 정다면체의 경우와 마찬가지로, 정다포체의 면 대응의 변의 관계에 따라 채널 사이의 조합을 행하여, 에러를 정정할 수 있다.

또 QAM(Quadrature Amplitude Modulation) 등의 다치 변조 방식을 적용한 시스템에 대해서는, 예를 들면 8 비트에 의해 256치 QAM을 구성할 수 있다. 그 경우, 각 비트를 상술한 채널에 대응시켜, 각 비트의 배타적 논리합을 에러 정정 채널의 비트로 할 수 있으며, 데이터로는 7 비트 구성으로 하고, 1 비트를 에러 정정 비트(에러 정정 채널에 상당)로 하게 된다. 또 다치 변조 방식으로는 신호점 사이의 거리가 크면, 판정 에러가 발생하지 않는다. 따라서 모든 비트를 대상으로 하지 않고, 그 중 일부 비트를 서브세트로서 에러 정정을 실시하고, 나머지 비트에 대해서는 서브세트의 신호점을 제외하고 판정하면 된다. 그 경우, 신호점 사이의 거리가 커지는 것에 상당하기 때문에, 판정 에러를 저감시킬 수 있다.

도 17은 신호점의 설명도로서, (a)는 5 비트의 신호점 배치의 일례를 나타내 어, 32값의 변조 신호점이 된다. 이 중 3 비트를 서브세트로 하면, 그 3 비트의 "000"∼"111"에 대응하여, 도 17의 (b)의 a∼h의 신호점 배치가 된다. 즉, 각 서브세트에서는 2 비트에 대하여 검은 동그라미 "●"로 나타내는 신호점 배치가 된다. 따라서, 5 비트 중 3 비트를 서브세트로 하여, 상술한 에러 정정을 실시하고, 나머지 2 비트에 대해서는 신호점 사이의 거리가 커짐에 따라, 판정 에러를 저감시킬 수 있다. 즉, 복수 비트 중 일부를 서브세트로 하고, 이 서브세트에 대하여 상술한 배타적 논리합을 구하여 에러 정정 비트를 형성하고, 이것을 기초로 에러 정정하는 수단을 적용하고, 나머지 비트에 대해서는 통상의 판정을 행한다. 이 경우에, 남은 비트의 신호점 사이의 거리가 커지므로, 판정 에러를 저감시킬 수 있다.

도 18은 본 발명의 실시예의 서브세트에 에러 정정을 적용한 설명도로서, 비트(bit) 번호와 채널(CH) 번호의 대응을 나타내는 것으로, 0CH∼31CH인 32채널분에 대하여, 각 채널은 비트 번호0∼7의 8 비트 구성으로 한 경우를 나타낸다. 따라서, 이 경우의 각 채널은 256값 QAM으로서 전송하게 된다. 또 4채널분을 하나의 조로 하고, 조마다 1 채널을 에러 정정 채널로 하고, 이 에러 정정 채널을 제외한 채널의 서브세트의 배타적 논리합의 결과를 에러 정정 채널의 서브세트로 한다.

예를 들면, 비트 0과 비트 1의 2 비트분을 서브세트로 하고, 0CH∼2CH의 비트 0의 배타적 논리합을 에러 정정 채널로서의 3CH의 비트 0에 에러 정정 비트로서 삽입하고, 0CH∼2CH의 비트 1의 배타적 논리합을 3CH의 비트 1에 에러 정정 비트로서 삽입한다. 또, D는 데이터 비트, EC는 에러 정정 데이터 비트를 나타낸다. 또 이 에러 정정 비트를 부가하기 위해 3CH, 7CH, 11CH, 15CH, 19CH, 23CH, 27CH, 31CH에서 데이터는 6 비트로 구성된다.

또 4CH∼6CH의 비트 0의 배타적 논리합을 7CH의 비트 0에 에러 정정 비트로서 삽입하고, 4CH∼6CH의 비트 1의 배타적 논리합을 7CH의 비트 1에 에러 정정 비트로서 삽입한다. 이하 마찬가지로 서브세트에 대하여 에러 정정 비트를 형성한다. 이 경우, 서브세트에 대해서만 보면, 도 2 및 도 3에 나타내는 실시예의 에러 정정 수단을 적용하여, 에러 정정이 가능해진다. 그리고, 2 비트의 서브세트의 나머지 6 비트에 대해서는 서브세트의 2 비트의 신호점을 제외한 신호점에 대하여 판정을 행하게 되며, 따라서 신호점의 거리가 커진 것에 상당하므로, 판정 에러를 저감시킬 수 있다.

도 19는 본 발명의 실시예의 서브세트의 에러 정정의 설명도로서, 참조 번호 50은 가드타임 G. T 삭제 기능을 포함하는 고속 푸리에 변환부(FFT)로, 예를 들면 도 1의 고속 푸리에 변환부(28)에 대응한다. 또 참조 번호 51은 에러 정정 판정 처리부, 참조 번호 52는 경(hard) 판정부, 참조 번호 53은 배타적 논리합부, 참조 번호 54는 신호 품질 검출부(SQD), 참조 번호 55는 에러 정정부, 참조 번호 56은 연(soft) 판정부를 나타낸다. 이 에러 정정 판정 처리부(51)는 도 1에서의 신호 판정부(29)와 에러 정정부(31)와 신호 품질 검출부(32)의 기능에 상당하며, 도 18에 도시한 바와 같이 각 채널을 8비트 구성으로 하고, 그 중 2 비트를 서브세트로 한 경우의 0CH∼3CH에 대하여 처리하는 구성을 나타내는 것이다.

따라서, 에러 정정 판정 처리부(51)에서는 고속 푸리에 변환부(50)로부터의 출력을 경 판정부(52)와 연 판정부(56)에 입력한다. 경 판정부(52)에 의한 경 판 정 결과의 비트 0과 비트 1의 2 비트분을 에러 정정부(55)와 배타적 논리합부(53)에 입력한다. 도 18에 도시한 바와 같이, 0CH∼2CH의 배타적 논리합의 결과를 3CH의 송신 데이터로 하고 있으므로, 배타적 논리합부(53)에 의한 경 판정 결과의 배타적 논리합이 "0"이면, 0CH∼2CH의 서브세트에는 에러가 없다고 판정할 수 있으며, 또 "0"이 아닌 경우에는 에러가 있다고 판정할 수 있다.

또 신호 품질 검출부(54)는 0CH∼3CH에 대하여, 경판정 결과에서의 오차 성분을 기초로 채널 품질을 검출한다. 에러 정정부(55)는 배타적 논리합부(53)의 출력이 "0"이 아닌 경우에 신호 품질 검출부(54)로부터의 신호 품질이 최악인 채널을 판정하고, 그 채널을 제외한 다른 채널의 배타적 논리합 결과를 그 채널의 비트로 하여, 에러 정정을 행한다.

또 연 판정부(56)는 고속 푸리에 변환부(50)로부터의 6 비트에 대하여 연판정을 행한다. 이 경우, 2 비트분의 신호점 배치를 제외한 신호점 배치에 대해서는 신호점 사이의 거리가 커지므로, 판정 에러를 저감시킬 수 있다. 그리고, 0CH∼2CH은 각각 8 비트, 에러 정정 비트를 포함한 3CH은 6 비트의 수신 데이터로서 출력된다. 또, 다른 채널에 대해서도 예를 들면, 4CH∼7CH, 8CH∼11CH, 12CH∼15CH, 16CH∼19CH, 20CH∼23CH, 24CH∼27CH, 28CH∼31CH 각각을 조합함으로써 상술한 에러 정정 처리를 행하여, 전체 비트에 대한 에러 정정 처리를 행하지 않아도, 판정 에러를 저감시킬 수 있다.

도 20은, 2(비트)×20(채널)×4.8(k보 레이트)=192(kbps)의 전송 속도로, 4값 QAM으로 전송하는 전력선 반송 통신 시스템에서의 아이(eye) 패턴(도 20의 (a), (c))과 스펙트럼(도 20의 (b), (d))의 측정 결과를 나타낸다. 잡음은 단일 톤이 도 20의 (b), (d)에 도시한 바와 같이 중첩된 경우이며, 그 경우의 단일톤 주파수의 주변 채널 a, b, c, d의 아이 패턴은 도 20의 (a), (c)에 나타낸다. 도 20의 (a), (c)에서, a, b, c, d는 각각 4개의 신호점을 갖는 채널로 나타난다.

도 20의 (a), (b)는 에러 정정이 없는 경우를 나타내며, (b)에 나타내는 단일톤의 잡음을 중첩한 경우에, (a)에 도시한 바와 같이 단일톤 주파수에 가까운 채널 b가 가장 영향을 많이 받은 상태가 되어, 신호점의 확대가 커진다. 그 결과 판정 에러가 생기게 된다. 이 경우의 에러가 없게 되는 한계는 S/N=+2㏈이다.

또 도 20의 (b)에 나타내는 단일톤의 잡음의 레벨보다 큰 단일톤의 잡음을 중첩한 경우를 도 20의 (d)에 나타내며, 그 때의 아이 패턴은 도 20의 (c)에 도시한 바와 같이 단일 톤 주파수에 가까운 채널 b가 가장 영향을 많이 받은 상태가 되어, 신호점의 확대는 더 커지며, 채널 d의 신호점의 확대도 커진다. 에러 정정 처리를 실시함으로써, 이러한 상태도 에러가 없도록 할 수 있다. 이 경우의 에러 정정 수단은 도 2 및 도 3에 대하여 설명한 본 발명의 실시예를 적용한 경우로서, 이 경우의 에러가 없게 되는 한계는 S/N=-22㏈가 된다. 이와 같이, 본 발명의 실시예의 에러 정정을 실시함으로써, 개선이 24㏈ 이루어진다.

도 21은 8(비트)×30(채널)×4.8(k보 레이트)=1,152(kbps)의 전송 속도로, 256값 QAM으로 전송하는 전력선 반송 통신 시스템에서의 아이 패턴(도 21의 (e), (g))과, 스펙트럼(도 21의 (f), (h))의 측정 결과를 나타낸다. 또 아이 패턴(도 21의 (e), (g))은 단일 톤 주파수의 주변 채널 a, b, c, d에 대하여, 아이 패턴( 도 20의 (a), (c))에 대응시키도록, 256값을 4값이 되도록 신호점을 중첩시켜 측정한 결과를 나타내고, 스펙트럼(도 21의 (f))으로 도시한 바와 같이 단일톤의 잡음 레벨이 낮은 경우라도 채널 b의 신호점이 넓어지게 되어, 에러 정정 처리를 실시하지 않으면, 에러가 없는 한계는 S/N=+26㏈정도가 된다.

또 스펙트럼(도 21의 (h))은, 스펙트럼(도 21의 (f))에 나타내는 단일톤의 잡음 레벨보다 큰 잡음 레벨로 한 경우를 나타내는데, 그 경우의 아이 패턴(도 21의 (e))에서는 채널 b의 신호점은 거의 완전하게 분산된 상태가 되며, 채널 d 신호의 확대도 커진다. 이것은, 상술한 도 2 및 도 3에 대하여 설명한 본 발명의 실시예의 에러 정정 처리를 적용함으로써 에러가 없는 한계의 상태를 나타내는 것으로, 이 에러가 없는 한계는 S/N=+10㏈ 정도가 된다. 따라서, 개선이 16㏈된다.

본 발명은, 상술한 각 실시예에만 한정되는 것이 아니고, 무선을 포함하는 각종 통신 방식에 적용하는 것이 가능하며, 또한 데이터 전송로와 등가인 잡음의 중첩에 의한 신호 파형의 변형 등을 수반하는 기억 매체로부터의 재생 데이터의 판정을 행하는 경우에도 적용 가능하다. 또한 에러 정정 채널의 데이터로서, 다른 채널의 데이터의 배타적 논리합 또는 모듈로 가산의 결과를 이용한 경우를 나타내지만, 패리티를 이용할 수도 있다.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명은 복수 채널 중 적어도 1 채널을 에러 정정 채널로 하고, 다른 채널의 배타적 논리합 또는 모듈로 가산의 결과를 에러 정정 채널의 데이터로 하여, 수신 판정한 복수 채널의 데이터 또는 재생 판정한 복수 채널 의 데이터에 대하여, 에러 정정 채널의 판정 데이터와, 그 에러 정정 채널과 조를 이루는 채널의 판정 데이터의 배타적 논리합 또는 모듈로 가산의 결과가 "0" 등의 사전에 결정한 특정한 값이 아닌 경우에 에러가 발생한다고 판정하고, 또한 채널마다의 품질을 검출하여 품질 열화의 채널 데이터가 에러 발생 확률이 높기 때문에, 이 채널의 데이터를 제외한 다른 채널 데이터의 배타적 논리합 또는 모듈로 가산의 결과를, 품질 열화의 채널 데이터로 치환함으로써, 에러 정정을 행하는 것으로, 넓은 대역으로 분산하는 레벨이 큰 잡음이 중첩되는 유선, 무선, 광 등의 전송 매체나 기록 매체를 통한 복수 채널의 데이터의 에러 정정을 확실하게 행할 수 있는 이점이 있다.

또 정다면체의 면과 변과의 관계에 따른 채널의 조합과, 배타적 논리합의 에러 정정 데이터를 이용함으로써, 복수 채널의 데이터 에러의 정정이 가능해지고, 또한 면에 인접하는 복수의 면과 변의 관계에 따른 채널의 조합에 대하여 에러의 유무를 판정하고, 에러가 있는 경우에 품질 열화의 채널의 조에 기초하여, 에러 정정 처리를 행함으로써, 동시에 복수의 채널에 에러가 발생한 경우도 에러 정정이 가능해지는 이점이 있다.

또 채널 대응에 복수 비트 구성의 경우에, 그 일부의 비트를 서브세트로 하고, 이 서브세트에 대하여 배타적 논리합에 의한 에러 정정을 실시하고, 나머지 비트에 의한 신호점의 판정 처리를 행함으로써, 신호점 사이의 거리를 크게 한 상태에서 판정이 가능해져, 판정 에러를 저감시킬 수 있는 이점이 있다.

Claims (10)

1. 복수 채널의 데이터의 에러 정정을 행하는 에러 정정 장치에 있어서,

   상기 복수 채널 중 적어도 1 채널을 에러 정정 채널로 하고, 나머지 채널의 데이터의 배타적 논리합을 구하여 상기 에러 정정 채널의 데이터로 하는 복수 채널의 데이터를 판정하여, 해당 복수 채널의 판정 데이터의 배타적 논리합을 구하는 배타적 논리합부와,

   상기 복수 채널의 품질을 검출하는 신호 품질 검출부와,

   상기 배타적 논리합부의 출력이 사전에 결정한 특정한 값일 때에는, 상기 에러 정정 채널의 판정 데이터를 제외한 다른 채널의 판정 데이터를 그대로 출력하고, 상기 배타적 논리합부의 출력이 상기 특정한 값이 아닐 때에는, 상기 신호 품질 검출부에 의한 품질이 최악인 채널의 판정 데이터를, 해당 품질이 최악인 채널을 제외한 다른 채널의 판정 데이터의 배타적 논리합의 결과로 치환하여 데이터를 출력하는 판정 처리부

   를 포함하는 것을 특징으로 하는 에러 정정 장치.
2. 복수 채널의 데이터의 에러 정정을 행하는 에러 정정 장치에 있어서,

   정다면체의 각 면의 변과 채널을 대응시켜, 상기 면 대응으로 해당 면의 1변에 상당하는 채널을 에러 정정 채널로 하고, 나머지 변에 상당하는 채널의 데이터의 배타적 논리합의 결과를 상기 에러 정정 채널의 데이터로 하고, 복수 채널의 데이터를 판정하고, 상기 에러 정정 채널과 해당 에러 정정 채널과 조합한 복수 채널과의 판정 데이터의 배타적 논리합을 구하는 배타적 논리합부와,

   상기 면 대응의 상기 변에 상당하는 복수 채널을 조로 하여 각 채널의 품질을 검출하는 신호 품질 검출부와,

   상기 면 대응의 상기 배타적 논리합부의 출력이 사전에 결정한 특정한 값일 때에는, 해당 면 대응의 상기 에러 정정 채널의 판정 데이터를 제외한 다른 채널의 판정 데이터를 그대로 출력하고, 상기 배타적 논리합부의 출력이 상기 특정한 값이 아닐 때에는, 상기 신호 품질 검출부에 의한 품질이 최악인 채널의 판정 데이터를, 해당 품질이 최악인 채널을 제외한 다른 채널의 판정 데이터의 배타적 논리합의 결과로 치환하여 데이터를 출력하는 판정 처리부

   를 포함하는 것을 특징으로 하는 에러 정정 장치.
3. 제2항에 있어서,

   상기 정다면체의 각 면의 변과 채널을 대응시켜, 상기 면과 해당 면에 인접하는 복수의 면의 변을 조로 하는 해당 변 대응의 채널의 조합에서, 상기 면 대응의 판정 데이터의 배타적 논리합이 사전에 결정한 상기 특정한 값이 아닐 때에, 상기 신호 품질 검출부에 의해 검출한 품질 열화의 상기 정다면체의 면 수에 상당하는 채널을 에러 발생 채널로 하고, 해당 에러 발생 채널을 미지수로 하는 연립 방정식을 풀어 에러 발생 채널의 데이터의 정정 처리를 행하는 판정 처리부

   를 포함하는 것을 특징으로 하는 에러 정정 장치.
4. 복수 채널의 데이터의 에러 정정을 행하는 에러 정정 장치에 있어서,

   상기 복수 채널의 각 채널 대응으로 복수 비트를 구성하고, 해당 복수 비트 중 단일 또는 복수의 비트를 서브세트로 하고, 또한, 상기 복수 채널을 소정 수마다 조로 하여, 해당 조 중 1 채널을 에러 정정 채널로 하고, 다른 채널의 상기 서브세트에 대하여 배타적 논리합의 결과를 상기 에러 정정 채널의 서브세트로 하는 복수 채널의 데이터를 판정하고, 상기 조마다의 서브세트에 대한 판정 데이터의 배타적 논리합을 구하는 배타적 논리합부와,

   상기 조마다의 서브세트에 대한 채널의 품질을 검출하는 신호 품질 검출부와,

   상기 배타적 논리합부의 출력이 사전에 결정한 특정한 값일 때에는, 상기 에러 정정 채널의 서브세트를 제외한 채널의 서브세트의 판정 데이터를 그대로 출력하고, 상기 특정한 값이 아닐 때에는 상기 신호 품질 검출부에 의한 품질이 최악인 채널의 판정 데이터를, 해당 품질이 최악인 채널을 제외한 다른 채널의 서브세트의 판정 데이터의 배타적 논리합의 결과로 치환하여 출력하는 에러 정정부와,

   상기 서브세트를 제외한 비트에 대하여 판정하고, 이를 상기 에러 정정부에 의해 에러 정정한 서브세트와 함께 출력하는 판정부

   를 포함하는 것을 특징으로 하는 에러 정정 장치.
5. 복수 채널의 데이터의 에러를 정정하는 에러 정정 방법에 있어서,

   상기 복수 채널 중 적어도 1 채널을 에러 정정 채널로 하고, 나머지 채널 데이터의 배타적 논리합을 구하여 상기 에러 정정 채널의 데이터로 하는 복수 채널의 데이터를 판정하는 과정과,

   해당 데이터 판정 과정에 기초하여 상기 채널 대응의 품질을 검출하는 과정과,

   상기 복수 채널의 판정 결과의 데이터의 배타적 논리합을 구하는 과정과,

   상기 배타적 논리합의 결과가 사전에 결정한 특정한 값일 때에는 상기 에러 정정 채널의 판정 데이터를 제외한 다른 채널의 판정 데이터를 그대로 출력하고, 상기 특정한 값이 아닐 때에는, 상기 복수 채널 대응의 품질 검출 결과가 최악인 채널의 데이터를, 해당 채널을 제외한 다른 채널의 판정 데이터의 배타적 논리합의 결과로 치환하여 출력하는 과정

   을 포함하는 것을 특징으로 하는 에러 정정 방법.
6. 복수 채널의 데이터의 에러를 정정하는 에러 정정 방법에 있어서,

   정다면체의 각 면의 변과 채널을 대응시켜, 상기 면 대응으로 해당 면의 1변에 상당하는 채널을 에러 정정 채널로 하고, 나머지 변에 상당하는 채널의 데이터의 배타적 논리합의 결과를 상기 에러 정정 채널의 데이터로 하는 복수 채널의 데이터를 판정하는 과정과,

   해당 데이터 판정 과정을 기초로 상기 채널 대응의 품질을 검출하는 과정과,

   상기 면 대응의 상기 배타적 논리합의 결과가 사전에 결정한 특정한 값일 때에는, 해당 면 대응의 상기 에러 정정 채널의 판정 데이터를 제외한 다른 채널의 판정 데이터를 그대로 출력하고, 상기 배타적 논리합의 결과가 상기 특정한 값이 아닐 때에는, 상기 채널 대응의 품질 검출 결과가 최악인 채널의 판정 데이터를, 해당 채널의 판정 데이터를 제외한 다른 채널의 판정 데이터의 배타적 논리합의 결과로 치환하여 데이터를 출력하는 과정

   을 포함하는 것을 특징으로 하는 에러 정정 방법.
7. 제6항에 있어서,

   상기 정다면체의 각 면의 변과 채널을 대응시켜, 상기 면과 해당 면에 인접하는 복수의 면과의 변을 조로 하는 해당 변 대응의 채널 조합에서, 상기 면 대응의 판정 데이터의 배타적 논리합이 사전에 결정한 상기 특정한 값이 아닐 때에, 상기 채널 대응의 품질 검출 결과를 기초로 품질 열화의 상기 정다면체의 면 수에 상당하는 채널을 에러 발생 채널로 하고, 해당 에러 발생 채널을 미지수로 하는 연립방정식을 풀어 에러 발생 채널의 데이터의 정정 처리를 행하는 과정

   을 포함하는 것을 특징으로 하는 에러 정정 방법.
8. 제7항에 있어서,

   상기 정다면체의 면 대응의 판정 데이터의 배타적 논리합이 사전에 결정한 상기 특정한 값이 아닐 때에, 상기 채널 대응의 품질 검출 결과를 기초로 품질 열화의 상기 정다면체의 면 수에 상당하는 채널을 에러 발생 채널로 하고, 상기 면과의 조합에 기초하여 상기 에러 발생 채널에 대하여 계수를 1로 하고, 순차적으로 면과 채널의 조를 선택하여 상기 계수를 0으로 하는 처리를 행하고, 최종적으로 계수가 남은 면과 채널의 조에 에러가 발생한 것으로 하여 정정하는 과정

   을 포함하는 것을 특징으로 하는 에러 정정 방법.
9. 복수 채널의 데이터의 에러를 정정하는 에러 정정 방법에 있어서,

   상기 복수 채널의 각 채널 대응으로 복수 비트를 구성하고, 해당 복수 비트 중 단일 또는 복수의 비트를 서브세트로 하고, 또한, 상기 복수 채널 중 적어도 1 채널을 에러 정정 채널로 하고, 다른 채널의 상기 서브세트에 대하여 배타적 논리합의 결과를 상기 에러 정정 채널의 서브세트로 하는 복수 채널의 데이터를 판정하여, 상기 서브세트에 대한 판정 데이터의 배타적 논리합을 구하는 과정과,

   상기 서브세트에 대한 채널의 품질을 검출하는 과정과,

   상기 배타적 논리합의 결과가 사전에 결정한 특정한 값일 때에는, 상기 에러 정정 채널의 서브세트를 제외한 채널의 서브세트의 판정 데이터를 그대로 출력하고, 상기 특정한 값이 아닐 때에는 상기 채널의 품질 검출 결과가 최악인 품질의 채널의 판정 데이터를, 해당 품질이 최악인 채널을 제외한 다른 채널의 서브세트의 판정 데이터의 배타적 논리합의 결과로 치환하여 출력하는 과정과,

   상기 서브세트를 제외한 비트에 대해 판정하고, 이 판정 결과와 상기 서브세트를 출력하는 과정

   을 포함하는 것을 특징으로 하는 에러 정정 방법.
10. 제9항에 있어서,

    상기 복수 채널을 복수의 조로 분할하고, 해당 조마다 1채널을 에러 정정 채널로 하고, 해당 조마다 에러 정정 채널을 제외한 채널의 서브세트의 배타적 논리합을 상기 조마다의 에러 정정 채널의 서브세트로 하고, 해당 서브세트에 대한 판정 데이터와 상기 조마다의 채널의 품질 검출 결과를 기초로, 품질이 최악인 채널의 서브세트의 에러 정정을 행하는 과정

    을 포함하는 것을 특징으로 하는 에러 정정 방법.

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