KR100729753B1 - Optical apparatus and image-taking system - Google Patents

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KR100729753B1
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마코토 타카미야
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Abstract

본 발명은, TTL위상차 검출방식이면서 동분할방식에 의해서 고속이면서 고밀도의 초점검출을 행할 수 있는 광학기기를 개시한다. 광학기기는, 제1광학소자를 가진다. 상기 제1광학소자는, 제1광학계의 사출동을 통과해서 광전변환소자를 향하는 광에 포함되는 제1편광성분을, 상기 광전변환소자 상의 다른 수광영역을 향하도록 분할한다. 또한, 다른 광학기기는, 제1광학계의 사출동을 통과해서 광전변환소자를 향하는 광에 포함되는 제1광성분을 상기 광전변환소자 상의 다른 수광영역을 향하도록 분할하는 제1광학소자와, 상기 제1광학소자로부터의 상기 광에 포함되는 제2광성분을 상기 제1광성분에 대하여 분리하는 제2광학소자를 가진다.The present invention discloses an optical device capable of performing high-speed and high-density focus detection by the TTL phase difference detection method and the same division method. The optical apparatus has a first optical element. The first optical element divides the first polarized light component included in the light passing through the exit pupil of the first optical system toward the photoelectric conversion element so as to face another light receiving region on the photoelectric conversion element. In addition, the other optical device is a first optical element for dividing the first optical component included in the light that passes through the exit pupil of the first optical system toward the photoelectric conversion element toward the other light receiving region on the photoelectric conversion element, and It has a 2nd optical element which isolate | separates the 2nd optical component contained in the said light from a 1st optical element with respect to the said 1st optical component.

TTL, 위상차, 광학계, 광학기기 TTL, phase difference, optical system, optical instrument

Description

광학기기 및 촬영 시스템{OPTICAL APPARATUS AND IMAGE-TAKING SYSTEM}OPTICAL APPARATUS AND IMAGE-TAKING SYSTEM}

도 1은 본 발명의 실시예1인 카메라 시스템의 구성을 나타낸 개략도,1 is a schematic diagram showing the configuration of a camera system according to Embodiment 1 of the present invention;

도 2는 실시예1에 있어서의 광로를 나타낸 개략도,2 is a schematic view showing an optical path in Example 1;

도 3(a) 내지 (d)는 실시예1에 있어서의 광학편향소자의 구성 및 제조 방법을 나타내는 설명도,3 (a) to 3 (d) are explanatory views showing the structure and manufacturing method of the optical deflecting element in Example 1;

도 4(a) 및 (b)는 실시예1에 있어서의 초점검출 및 화인더 관찰시의 광로를 나타낸 개략도,4 (a) and 4 (b) are schematic diagrams showing optical paths at the time of focus detection and finder observation in Example 1,

도 5는 실시예1에 있어서의 초점검출의 원리를 나타내는 설명도,5 is an explanatory diagram showing a principle of focus detection in Example 1;

도 6은 본 발명의 실시예2의 카메라 시스템의 구성을 나타낸 개략도,6 is a schematic diagram showing a configuration of a camera system of Embodiment 2 of the present invention;

도 7은 종래의 카메라 시스템의 구성을 나타낸 개략도이다.7 is a schematic view showing the configuration of a conventional camera system.

본 발명은, 광전변환소자를 이용하여 자동초점조절(AF)을 행하는 광학기기에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical apparatus for performing automatic focusing (AF) using a photoelectric conversion element.

일안 레프(single-lens reflex) 타입의 디지털 스틸카메라에 있어서의 초점검출은, 움직임이 빠른 피사체에 대하여도 정확한 초점검출이 가능하게, 소위 동분할(瞳分割)방식이 채용되어 있다. In the single-lens reflex type digital still camera, the so-called equal division method is adopted to enable accurate focus detection even for a fast-moving subject.

도 7에는 종래의 일안 레프 타입의 디지털 스틸카메라 시스템의 개략적인 구성을 나타내고 있다. 촬영자가 접안렌즈(104)를 매개로 피사체를 관찰할 때는, 촬영렌즈(120)를 투과한 피사체로부터의 광(110)의 일부는, 카메라 본체(100)에 설치된 메인미러(101)에서 반사되어서 핀트판(102) 위에 피사체 상(像)을 형성한다. 핀트판(102)에 형성된 피사체 상은, 펜타다하프리즘(103) 및 접안렌즈(104)를 매개로 촬영자의 눈에 도달한다. Fig. 7 shows a schematic configuration of a conventional single-lens LEF type digital still camera system. When the photographer observes the subject through the eyepiece 104, a part of the light 110 from the subject passing through the photographing lens 120 is reflected by the main mirror 101 installed in the camera body 100. The subject image is formed on the focus plate 102. The subject image formed on the focus plate 102 reaches the photographer's eye via the pentathaprism 103 and the eyepiece 104.

피사체로부터의 광(110)의 일부는 메인미러(101)를 투과해서 서브미러(105)에서 반사하고, 초점검출 유닛(106)에 도달한다. 초점검출 유닛(106)은 필드렌즈, 반사미러, 조리개 마스크, 2차결상 렌즈, 수광센서 등으로 구성되어, 촬영렌즈(120)의 다른 동영역(瞳領域)을 통과하는 광속을 수광센서가 수광하고, 상기 수광센서를 구성하는 한 쌍(또는 복수 쌍)의 라인 센서 각각으로부터 상신호가 출력된다. 그리고, 이 상신호의 위상차에 의거하여 촬영렌즈(120)의 초점상태(디포커스(defocus)방향 및 디포커스량)를 검출할 수 있다. 또한, 검출한 초점상태로부터 촬영렌즈(120)의 포커스 렌즈(123)의 구동 방향 및 구동량이 산출되어, 포커스 렌즈(123)를 구동함으로써 초점 맞춤 상태를 얻을 수 있다. A part of the light 110 from the subject passes through the main mirror 101, reflects off the submirror 105, and reaches the focus detection unit 106. The focus detection unit 106 is composed of a field lens, a reflecting mirror, an aperture mask, a secondary imaging lens, a light receiving sensor, and the like, and the light receiving sensor receives a light beam passing through another moving area of the photographing lens 120. Then, a phase signal is output from each of the pair (or plural pairs) of line sensors constituting the light receiving sensor. Then, the focus state (defocus direction and defocus amount) of the photographing lens 120 can be detected based on the phase difference of the image signal. In addition, the driving direction and driving amount of the focus lens 123 of the photographing lens 120 are calculated from the detected focus state, and the focusing state can be obtained by driving the focus lens 123.

또, 촬영 시에는, 메인미러(101) 및 서브미러(105)가 광로 밖으로 대피하고, 촬영렌즈(120)를 투과한 피사체로부터의 광은 이미지센서(108)에 도달한다. At the time of imaging, the main mirror 101 and the submirror 105 evacuate out of the optical path, and the light from the subject passing through the imaging lens 120 reaches the image sensor 108.

그런데, 상기와 같은 TTL(Through the Taking Lens)위상차 검출방식이면서 동분할방식의 초점검출 방법에서는, 초점검출 전용의 센서나 2차결상광학계를 필요로 하기 때문에, 카메라의 소형화나 저비용화가 어렵다. By the way, the TTL (Through the Taking Lens) phase difference detection method and the same-dividing focus detection method require a sensor for focus detection or a secondary imaging optical system, making it difficult to miniaturize the camera and reduce the cost.

그래서 최근에는, 피사체 촬영을 위해 설치된 이미지센서를 이용하여 TTL위상차 검출방식 및 동분할방식의 초점검출을 행하는 디지털 스틸카메라가 제안되고 있다. 예를 들면, 일본국 공개특허공보 특개평9-43507호 공보에는, 촬영렌즈의 동(瞳) 근방에, 상기 동의 일부로부터의 광을 통과시키는 마스크를 삽입하고, 상기 마스크의 개구위치를 바꾸는 것으로 형성한 2개의 상에 대응한 이미지센서로부터의 신호를 이용하여 초점검출을 행한다. In recent years, a digital still camera has been proposed that performs focus detection using the TTL phase difference detection method and the same division method using an image sensor provided for photographing a subject. For example, Japanese Patent Laid-Open No. 9-43507 discloses inserting a mask through which light from a part of the motion passes in the vicinity of a pupil of a photographing lens, and changing the opening position of the mask. Focus detection is performed using a signal from an image sensor corresponding to the two formed images.

또한, 이미지센서의 일부를 AF용 센서 영역으로 하고, 상기 영역에 촬영 광학계 내에 설치된 스플릿이미지프리즘에 의해 분할된 2개의 광속을 안내하도록 한 초점검출 시스템도 제안되고 있다(일본국 공개특허공보 특개2004-46132호 공보).In addition, a focus detection system has also been proposed, in which part of the image sensor is a sensor area for AF and guides two beams divided by a split image prism provided in the photographing optical system to the area (Japanese Patent Laid-Open No. 2004). -46132 publication).

또한, 홀로그래픽 광학소자를 1차결상면 보다 물체측에 배치함으로써, TTL위상차방식의 AF를 실현하는 구성도 제안되어 있다(일본국 공개특허공보 특개평4-147207호 공보).Moreover, the structure which implements TTL phase difference system AF by arrange | positioning a holographic optical element on the object side rather than a primary imaging surface is also proposed (Japanese Unexamined-Japanese-Patent No. 4-147207).

그러나, 일본국 공개특허공보 특개평9-43507호 공보에서 제안된 초점검출 방법에서는, 마스크의 개구위치를 변화시켜서 촬영렌즈의 다른 동영역을 통과한 광의 상을 이미지센서의 출력(상신호)을 2회 판독하고, 그것들의 상신호를 비교해서 초점검출을 행한다. 이 때문에, 마스크의 개구위치의 교체나 이미지센서로부터의 2개의 상신호의 판독에 어느 정도 시간이 걸리고, 움직임이 빠른 피사체에 대한 초 점검출에는 다소 맞지 않다. However, in the focus detection method proposed in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 9-43507, the image of the image sensor output (image signal) is changed by changing the opening position of the mask so that the image of the light passing through the other dynamic region of the photographing lens is changed. It reads twice, compares these phase signals, and performs focus detection. For this reason, it takes some time to change the opening position of the mask and to read the two phase signals from the image sensor, which is somewhat unsatisfactory for the ultra-checkout of a fast-moving subject.

또한, 일본국 공개특허공보 특개2004-46132호 공보에서 제안된 스플릿이미지프리즘을 사용하는 방법에서는, TTL위상차 검출방식과는 달리 스플릿이미지프리즘 보다도 큰 상이 필요하다. 또한, 스플릿이미지프리즘의 경계선상의 상의 형상이 직선이 아니면, 초점 맞춤 상태에 있어도 초점이 맞춰지지 않은 것으로 판단해버리는 등 초점검출을 행하는데 제약이 있어, TTL위상차 검출방식과 동등한 초점검출 성능을 얻을 수 없다. In addition, in the method of using the split image prism proposed in Japanese Patent Laid-Open No. 2004-46132, unlike the TTL phase difference detection method, a larger image than the split image prism is required. In addition, if the shape on the boundary line of the split image prism is not a straight line, there is a limitation in performing the focus detection, such as determining that the image is not focused even in the focusing state, thereby obtaining a focus detection performance equivalent to that of the TTL phase difference detection method. Can't.

또한, 일본국 공개특허공보 특개평4-147207호 공보에서 제안된 홀로그래픽 광학소자를 사용하는 방법은, 원리적으로는 TTL위상차 검출방식과 같지만, 초점상태를 판단하는데 중요하게 되는 동분할 방향의 2개 상(AF상)을 형성할 때에, 색분산이 큰 홀로그래픽 광학소자를 사용하기 때문에, 수차가 적은 상을 얻을 수 없어, 초점검출을 행하는데 현실적이지 않다. In addition, the method of using the holographic optical element proposed in Japanese Patent Laid-Open No. 4-147207 is the same as the TTL phase difference detection method in principle, but in the same division direction, which is important for determining the focus state. When forming two images (AF images), since a holographic optical element having a large color dispersion is used, an image with little aberration cannot be obtained, which is not practical for performing focus detection.

본 발명은, TTL위상차 검출방식이면서 동분할방식에 의해서 고속이면서 고밀도의 초점검출을 행할 수 있도록 한 광학기기를 제공하는 것을 하나의 목적으로 한다. An object of the present invention is to provide an optical apparatus capable of performing high-speed and high-density focus detection by the TTL phase difference detection method and the same division method.

본 발명의 일측면으로서의 광학기기는, 제1광학소자를 가진다. 상기 제1광학소자는, 제1광학계의 사출동(射出瞳)을 통과해서 광전변환소자를 향하는 광에 포함되는 제1편광성분을, 상기 광전변환소자 상의 다른 수광영역을 향하도록 분할한다. An optical apparatus as one aspect of the present invention has a first optical element. The first optical element divides the first polarization component included in the light passing through the exit pupil of the first optical system toward the photoelectric conversion element to face another light receiving region on the photoelectric conversion element.

또한, 본 발명의 다른 측면으로서의 광학기기는, 제1광학계의 사출동을 통과해서 광전변환소자를 향하는 광에 포함되는 제1광성분을 상기 광전변환소자 상의 다른 수광영역을 향하도록 분할하는 제1광학소자와, 상기 제1광학소자로부터의 상기 광에 포함되는 제2광성분을 상기 제1광성분에 대하여 분리하는 제2광학소자를 가진다. In addition, an optical device according to another aspect of the present invention includes a first optical component that splits a first optical component included in light that passes through the exit pupil of the first optical system toward the photoelectric conversion element to face another light receiving region on the photoelectric conversion element. An optical element and a second optical element for separating a second optical component contained in the light from the first optical element with respect to the first optical component.

(실시예)(Example)

이하, 도면을 참조하면서 본 발명의 바람직한 실시예에 관하여 설명한다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, preferred embodiment of this invention is described, referring drawings.

(실시예1) Example 1

도 1에는 본 발명의 실시예인 일안 레프 타입의 디지털 스틸카메라 시스템의 개략적인 구성을 나타내고 있다. 또, 도 6에 나타낸 종래의 카메라 시스템과 공통되는 구성요소에는 도 7에서와 같은 부호를 부착하고 있다. 1 shows a schematic configuration of a single-lens lef type digital still camera system according to an embodiment of the present invention. In addition, the same code | symbol as FIG. 7 is attached | subjected to the component common to the conventional camera system shown in FIG.

참조부호 300은 카메라 본체(광학기기)이며, 상기 카메라 본체(300)의 마운트(111)에는 렌즈 마운트(121)를 매개로 촬영렌즈(120:교환 렌즈)가 장착되고 있다. Reference numeral 300 denotes a camera body (optical device), and a mount lens 120 of the camera body 300 is mounted with a photographing lens 120 (interchangeable lens) via a lens mount 121.

촬영렌즈(120)에는, 포커스 렌즈(123)를 포함하는 복수의 렌즈 및 조리개(124)에 의하여 구성되는 제1광학계로서의 촬영 광학계(125)와, 도면에 나타내지 않은 MPU 등의 렌즈 제어회로 등이 설치된다. 상기 렌즈 제어회로는, 렌즈측 접점(122)과 카메라측 접점(112)을 거쳐서, 카메라 본체(300)에 설치된 MPU 등의 카메라 제어회로(309)와 통신이 가능하다. 또, 카메라 제어회로(309)는, 후술하는 촬상소자(108)로부터의 신호에 의거하여 피사체 화상을 생성하는 화상처리기능을 가짐과 동시에, 촬상소자(108)로부터의 신호에 의거하여 촬영 광학계(125)의 초점상태를 검출하고, 포커스 렌즈(123)의 구동량을 연산하는 초점검출 기능도 가진다. The photographing lens 120 includes a photographing optical system 125 as a first optical system constituted by a plurality of lenses including a focus lens 123 and an aperture 124, and a lens control circuit such as an MPU not shown in the drawing. Is installed. The lens control circuit can communicate with a camera control circuit 309 such as an MPU installed in the camera body 300 via the lens side contact 122 and the camera side contact 112. The camera control circuit 309 has an image processing function for generating a subject image on the basis of a signal from the image pickup device 108 described later, and at the same time based on a signal from the image pickup device 108, It also has a focus detection function that detects the focus state of 125 and calculates the driving amount of the focus lens 123.

카메라 본체(300)에 있어서, 참조부호 200은 제1광학소자인 광학편향소자이며, 그 구체적인 구성에 관해서는 후술한다. 또한, 참조부호 108은 CCD센서, CMOS센서 등으로 이루어지는 광전변환소자로서의 촬상소자(이미지센서)이며, 광학편향소자(200)와 촬상소자(108)의 사이에는, 제2광학소자인 편광빔 스플리터(301)가 배치되어 있다. 또, 촬상소자(108)의 직전에는, 적외컷 및 로우패스필터(107)가 배치되어 있다. In the camera main body 300, reference numeral 200 denotes an optical deflection element that is a first optical element, and its specific configuration will be described later. Reference numeral 108 denotes an imaging element (image sensor) as a photoelectric conversion element composed of a CCD sensor, a CMOS sensor, or the like, and a polarizing beam splitter serving as a second optical element between the optical deflection element 200 and the imaging element 108. 301 is disposed. In addition, an infrared cut and a low pass filter 107 are disposed just before the imaging element 108.

참조부호 102는 핀트판, 103은 핀트판(102) 위에 형성된 피사체 상을 접안렌즈(104)에 인도하는 펜타다하프리즘이며, 이것들 핀트판(102), 펜타다하프리즘(103) 및 접안렌즈(104)에 의해 제2광학계로서의 화인더 광학계가 구성되어 있다. Reference numeral 102 denotes a pint plate, 103 denotes a pentathaprism guiding the image of an object formed on the pint plate 102 to the eyepiece 104. These pint plates 102, pentadhaprism 103 and the eyepiece 104 ) Constitutes a finder optical system as a second optical system.

도 2에는 상기 카메라 시스템에 있어서의 촬영 광학계(125)의 초점상태의 검출(초점검출) 시에 있어서의 광로를 나타내고 있다. 2 shows an optical path at the time of detection (focus detection) of the focus state of the photographing optical system 125 in the camera system.

촬영 광학계(125)를 투과한 피사체로부터의 광(110)은, 우선 광학편향소자(200)에 입사한다. 상기 광(110)은 무편광의 광이다. 광학편향소자(200)에서는, 상기 광(110) 중 도면 중의 z-x평면에 대하여 평행한 편광면을 가지는 제1편광성분 의 일부(211:이하, +편향광이라고 한다)를 도면 중의 +y방향으로 편향해서 투과시킨다. 편광빔 스플리터(301)는, 상기 제1편광성분을 투과하고, 도면 중의 z-x평면에 대하여 직교하는(즉, y-z평면에 평행한) 편광면을 가지는 제2편광성분을 반사하는 특성을 가진다. Light 110 from the subject passing through the imaging optical system 125 first enters the optical deflecting element 200. The light 110 is unpolarized light. In the optical deflection element 200, a part of the first polarization component 211 (hereinafter referred to as + deflection light) in the light 110 having a polarization plane parallel to the zx plane in the drawing is in the + y direction in the drawing. Deflect and transmit. The polarization beam splitter 301 has a property of transmitting the first polarization component and reflecting the second polarization component having a polarization plane orthogonal to the z-x plane in the drawing (that is, parallel to the y-z plane).

이 때문에, 상기 제1편광성분의 +편향광(211)은, 편광빔 스플리터(301)를 투과해서 촬상소자(108)의 도면 중 상측의 수광영역에 광을 모은다. 또한, 제1편광성분의 일부(212:이하, -편향광이라고 한다)는, 도면 중 y방향으로 편향되어, 편광빔 스플리터(301)를 투과해서 촬상소자(108)의 도면 중 하측의 수광영역에 광이 모여진다. For this reason, the + -polarized light 211 of the first polarized light component passes through the polarization beam splitter 301 and collects light in the upper light receiving area of the image of the image pickup device 108. In addition, a part of the first polarization component 212 (hereinafter referred to as -deflection light) is deflected in the y direction in the figure, is transmitted through the polarization beam splitter 301, and is shown in the lower light receiving region of the image pickup device 108. Light gathers in

촬상소자(108)에 도달한 제1편광성분의 +편향광(211)과 -편향광(212)은, 촬영 광학계(125)의 사출동에 있어서의 다른 영역을 통과한 광이다. 이 때문에, 이것들의 +편향광(211)과 -편향광(212)에 의해 촬상소자(108) 위에 쌍의 상을 형성하고, 상기 쌍의 상에 대응한 촬상소자(108)로부터의 출력신호(상신호)에 의거하여 동분할방식의 초점검출이 가능해 진다. The + deflected light 211 and the-deflected light 212 of the first polarized light component that has reached the imaging device 108 are light that has passed through other regions in the exit pupil of the imaging optical system 125. For this reason, a pair of images are formed on the imaging device 108 by these + -deflected light 211 and --deflected light 212, and the output signal from the imaging device 108 corresponding to the pair of images ( Based on the image signal), the focus detection using the same division method can be performed.

한편, 상기 광(110)에 포함되어 있는 제2편광성분(210)은, 광학편향소자(200)를 그대로 직진해서 투과하고, 제2광학소자로서의 편광빔 스플리터(301)에서 반사해서 핀트판(102) 위에 광을 모으고, 피사체 상을 형성한다. 이에 따라 제1편광성분(+편향광(211)과 -편향광(212))을 이용하여 초점검출을 행할 때에도, 촬영자는 화인더 광학계를 매개로 피사체 상을 관찰할 수 있다. On the other hand, the second polarization component 210 included in the light 110 passes through the optical deflection element 200 as it is, and is reflected by the polarization beam splitter 301 as the second optical element to reflect the pint plate ( 102) Light is collected on the subject to form an object image. Accordingly, even when focus detection is performed using the first polarized light component (+ deflected light 211 and-deflected light 212), the photographer can observe the subject image through the finder optical system.

여기에서, 도 3(a) 내지 (d)를 이용하여 광학편향소자(200)의 구성 및 제조 방법에 관하여 설명한다. 광학편향소자(200)는, 도 3(d)에 나타낸 바와 같이 광입사측으로부터 순차적으로, 블레이즈드(blazed) 회절격자가 형성된 수지기판(201)과, 회절격자의 격자 구조(골짜기부)에 배치된 액정(202)과, 도 3(c)에 나타낸 바와 같이 일부에 개구(204a, 204b)가 형성된 편광막(204) 및 상기 편광막(204)을 붙일 수 있는 글래스 기판(203)으로 구성되어 있다. Here, the configuration and manufacturing method of the optical deflection element 200 will be described with reference to FIGS. 3A to 3D. As shown in Fig. 3 (d), the optical deflecting element 200 is formed on the resin substrate 201 having the blazed diffraction grating sequentially formed from the light incidence side and the grating structure (the valley part) of the diffraction grating. It consists of the liquid crystal 202 arrange | positioned, the polarizing film 204 in which the opening 204a, 204b was formed in a part as shown in FIG. 3 (c), and the glass substrate 203 which can attach the said polarizing film 204. It is.

수지기판(201)은, 도 3(a)에 나타낸 바와 같이 격자홈 방향은 동일하고, 블레이즈방향이 서로 다른 제1회절격자(201a) 및 제2회절격자(201b)가 형성되어 있다. 이들 블레이즈드 회절격자(201a, 201b)는, 수지기판(201)과 일체로 형(型)을 사용한 성형 방법에 의해 제조된다. As shown in Fig. 3 (a), the resin substrate 201 is provided with first grating gratings 201a and second grating gratings 201b having the same lattice groove direction and different blazing directions. These blazed diffraction gratings 201a and 201b are manufactured by a molding method using a mold integrally with the resin substrate 201.

이러한 수지기판(201)에 있어서의 양쪽 회절격자(201a, 201b)의 격자홈부에는, 도 3(b)에 나타낸 바와 같이 일축성 투광재료인 액정(202)이 충전된다. 여기에서, 상기 액정(202)의 상굴절률(常屈折率) no는, 수지기판(201)의 굴절률 ng과 거의 일치하도록 선택된다. The grating grooves of both diffraction gratings 201a and 201b in the resin substrate 201 are filled with a liquid crystal 202 which is a uniaxial translucent material as shown in Fig. 3B. Here, the phase refractive index no of the liquid crystal 202 is selected to substantially match the refractive index ng of the resin substrate 201.

우선, 회절격자(201a, 201b)의 표면에, 폴리이미드 등의 배향막을 도포해서 배향처리를 행한다. 다음에, UV경화형의 액정(202)을 격자홈부에 충전해서 가열함으로써 용매를 날린 후, 자외선을 조사해서 액정(202)을 경화시킨다. 이때, 액정고분자의 분자축은, 회절격자(201a, 201b)의 격자홈 방향(x방향)에 대략 평행이 되도록 배향한다. 도 3(b)에서는, 액정고분자의 분자축을 막대 형상으로 나타내고 있다. 액정고분자의 분자축 방향과 편광에 대한 광학축 방향은 대략 일치하고 있다. First, an alignment film such as polyimide is applied to the surfaces of the diffraction gratings 201a and 201b to perform alignment treatment. Next, the solvent is blown by filling the lattice groove with the UV curable liquid crystal 202 and heating, and then irradiated with ultraviolet rays to cure the liquid crystal 202. At this time, the molecular axis of the liquid crystal polymer is aligned so as to be substantially parallel to the lattice groove direction (x direction) of the diffraction gratings 201a and 201b. In FIG.3 (b), the molecular axis of a liquid crystal polymer is shown in rod shape. The molecular axis direction of the liquid crystal polymer and the optical axis direction with respect to polarization are substantially coincident.

격자홈부에 액정(202)이 충전되어, 경화된 수지기판(201)의 액정(202)측에는, 편광막(204)을 붙일 수 있는 글래스 기판(203)이 붙여져서 합쳐질 수 있다. 편광막(204)에 형성된 개구(204a, 204b)는 각각 회절격자(201a, 201b)에 대응하는 영역에 배치된다. 개구(204a, 204b)는, 광축(z축)을 포함하는 y-z평면에 대하여 대칭인 위치에 배치되어 있다. 또한, 편광막(204)은, 그 편광축(광학축)방향이 격자홈에 충전된 액정(202)의 광학축 방향과 대략 직교하도록 배치되어 있다. The liquid crystal 202 is filled in the lattice groove, and the glass substrate 203 to which the polarizing film 204 can be attached may be bonded to the liquid crystal 202 side of the cured resin substrate 201. The openings 204a and 204b formed in the polarizing film 204 are disposed in regions corresponding to the diffraction gratings 201a and 201b, respectively. The openings 204a and 204b are disposed at positions symmetrical with respect to the y-z plane including the optical axis (z axis). The polarizing film 204 is disposed such that its polarization axis (optical axis) direction is substantially orthogonal to the optical axis direction of the liquid crystal 202 filled in the grating groove.

다음에, 화인더 광학계에 의해 피사체 상을 관찰하면서 동분할방식의 초점검출을 행하는 방법에 대해서 도 4(a) 및 도 4(b)를 사용하여 설명한다. Next, a method of performing focus detection in the same division method while observing a subject image with a finder optical system will be described using Figs. 4A and 4B.

도 4(a) 및 (b)에는 화인더 관찰에 사용할 수 있는 제2편광성분(210)과 초점검출에 사용할 수 있는 제1편광성분(+편향광(211)과 -편향광(212))을 분리하는 모양을 나타내고 있다. 4 (a) and 4 (b) show a second polarization component 210 that can be used for finder observation and a first polarization component that can be used for focus detection (+ polarized light 211 and -polarized light 212). It shows how to separate.

도 4(a)에는 광학편향소자(200)에 설치된 편광막(204)의 개구(204a)의 중심을 지나는 z-x평면에 직교하는 면의 광로를 나타내고 있다. 편광막(204)의 개구(204a)에는, 촬영 광학계(125)의 사출동의 일부 영역(제1영역)을 통과하고, 또한 회절격자(201a)를 투과한 광(제1 및 제2편광성분)이 입사한다. 편광막(204)의 편광축방향은 도면 중 z-x평면에 평행한 편광면을 가지는 제1편광성분을 흡수하도록 설정되고 있다. 4A shows an optical path of a plane orthogonal to the z-x plane passing through the center of the opening 204a of the polarizing film 204 provided in the optical deflection element 200. Light (first and second polarization components) passing through a partial region (first region) of the exit pupil of the photographing optical system 125 and passing through the diffraction grating 201a through the opening 204a of the polarizing film 204. This is incident. The polarization axis direction of the polarizing film 204 is set to absorb the first polarization component having a polarization plane parallel to the z-x plane in the figure.

회절격자(201a)의 격자홈부에 배치된 액정(202)의 분자축은, 격자홈 방향(x방향)과 대략 평행하게 되도록 배향하고 있다. 수지기판(201)의 굴절률 ng에 대하여, 액정(202)의 이상굴절률 ne은,The molecular axis of the liquid crystal 202 disposed in the grating groove of the diffraction grating 201a is oriented so as to be substantially parallel to the grating groove direction (x direction). With respect to the refractive index ng of the resin substrate 201, the ideal refractive index ne of the liquid crystal 202 is

ne>ng ...(1)ne> ng ... (1)

의 관계에 있기 때문에, 액정(202)의 분자축과 대략 평행한 편광면(z-x평면에 평행한 편광면)을 가지는 제1편광성분은, 도면 중 +y방향으로 편향된다. 액정(202)을 투과한 제1편광성분의 일부는 편광막(204)에서 흡수되지만, 편광막(204)의 개구(204a) 및 글래스 기판(203)을 투과한 제1편광성분의 +편향광(211)은 편광빔 스플리터(301)를 투과해서 촬상소자(108)의 도면 중 상측의 수광영역에 도달한다.Since the relationship between the first polarization component having a polarization plane (polarization plane parallel to the z-x plane) substantially parallel to the molecular axis of the liquid crystal 202 is deflected in the + y direction in the figure. A part of the first polarization component transmitted through the liquid crystal 202 is absorbed by the polarization film 204, but the + polarized light of the first polarization component transmitted through the opening 204a of the polarization film 204 and the glass substrate 203 Reference numeral 211 penetrates through the polarization beam splitter 301 and reaches the upper light receiving region of the image of the imaging device 108.

예를 들면, 수지기판(201)의 굴절률 ng이 1.5, 액정(202)의 이상굴절률 ne이 1.7, +편향광(211)의 필요한 편향각 φ가 8°일 경우, 회절격자(201a, 201b)의 격자 피치 p를 4㎛로 설정하고, 수지기판(201)의 경사각 θ를 35°로 설정함으로써, 원하는 편향각 φ를 얻을 수 있다. For example, when the refractive index ng of the resin substrate 201 is 1.5, the abnormal refractive index ne of the liquid crystal 202 is 1.7, and the required deflection angle φ of the + deflected light 211 is 8 °, the diffraction gratings 201a and 201b are used. The desired deflection angle φ can be obtained by setting the lattice pitch p of 4 mu m and the inclination angle θ of the resin substrate 201 to 35 degrees.

또한, 도 4(b)에는, 광학편향소자(200)에 설치된 편광막(204)의 개구(204b)의 중심을 지나는 z-x평면에 직교하는 면의 광로를 나타내고 있다. 편광막(204)의 개구(204b)에는, 촬영 광학계(125)의 사출동의 다른 일부 영역(제2영역)을 통과한 광(제1 및 제2편광성분)이 입사한다. 4B, the optical path of the surface orthogonal to the z-x plane passing through the center of the opening 204b of the polarizing film 204 provided in the optical deflection element 200 is shown. Light (first and second polarization components) passing through another partial region (second region) of the exit pupil of the imaging optical system 125 is incident on the opening 204b of the polarizing film 204.

회절격자(201b)의 격자홈부에 배치된 액정(202)의 분자축은, 격자홈 방향(x방향)과 대략 평행하게 되도록 배향하고 있고, 수지기판(201)의 굴절률 ng과 액정(202)의 이상굴절률 ne과는 상기 (1)식의 관계에 있기 때문에, 액정(202)의 분자축과 대략 평행한 편광면(z-x평면에 평행한 편광면)을 가지는 제1편광성분은, 도면 중 -y방향으로 편향된다. 액정(202)을 투과한 제1편광성분의 일부는 편광막(204)에서 흡수되지만, 편광막(204)의 개구(204b) 및 글래스 기판(203)을 투과한 제1편 광성분의 -편향광(212)은 편광빔 스플리터(301)를 투과해서 촬상소자(108)의 도면 중 하측의 수광영역에 도달한다. The molecular axis of the liquid crystal 202 disposed in the lattice groove portion of the diffraction grating 201b is oriented so as to be substantially parallel to the lattice groove direction (x direction), and the refractive index ng of the resin substrate 201 and the abnormality of the liquid crystal 202. Since the refractive index ne has a relation of the above formula (1), the first polarization component having a polarization plane (polarization plane parallel to the zx plane) substantially parallel to the molecular axis of the liquid crystal 202 is in the -y direction in the figure. Is biased. A part of the first polarization component transmitted through the liquid crystal 202 is absorbed by the polarization film 204, but the -deflection of the first polarization light component transmitted through the opening 204b of the polarization film 204 and the glass substrate 203. The light 212 passes through the polarization beam splitter 301 and reaches the lower light receiving region in the drawing of the image pickup device 108.

한편, 수지기판(201)의 굴절률 ng에 대하여, 액정(202)의 상굴절률 no는,On the other hand, with respect to the refractive index ng of the resin substrate 201, the phase refractive index no of the liquid crystal 202 is

no≒ng ... (2)no ≒ ng ... (2)

의 관계에 있기 때문에, 액정(202)의 분자축과 직교하는 편광면(y-z평면에 평행한 편광면)을 가지는 제2편광성분(210)은, 회절격자(201a, 210b)의 편향작용을 받지 않고 직진한다. 그리고, 이 제2편광성분(210)은, 편광빔 스플리터(301)에 의해 반사되어, 핀트판(102) 위에 광을 모아서 피사체 상을 형성한다. 핀트판(102) 위에 형성된 피사체 상은, 펜타다하프리즘(103) 및 접안렌즈(104)를 매개로 촬영자에 의해 관찰된다.Since the second polarization component 210 having the polarization plane (polarization plane parallel to the yz plane) orthogonal to the molecular axis of the liquid crystal 202 is subjected to the deflection action of the diffraction gratings 201a and 210b. Go straight. The second polarization component 210 is reflected by the polarization beam splitter 301 to collect light on the focus plate 102 to form an object image. The subject image formed on the focus plate 102 is observed by the photographer through the pentathaprism 103 and the eyepiece 104.

다음에, 상기 +편향광(211)과 -편향광(212)을 사용한 초점검출의 원리에 대해서 도 5(a) 및 (b)를 사용하여 설명한다. 도 5(a)에는, 촬영 광학계(125)가 있는 피사체에 대하여 초점 맞춤 상태일 때의 광로를 나타내고 있다. 촬영 광학계(125)를 투과해서 광학편향소자(200)에 입사한 광 중, 도면 중 z-x평면에 평행한 편광면을 가지는 제1편광성분이며 편광막(204)의 개구(204a, 204b)를 통과한 +편향광(211)과 -편향광(212)은, 도 5에서는 생략되어 있는 편광빔 스플리터(301)를 투과한 후, 촬상소자(108) 상에 결상한다. 이때, +편향광(211)과 -편향광(212)에 의해 형성된 2상에 대응한 촬상소자(108)에 있어서 x방향으로 연장되는 소정의 2라인으로부터의 상신호는 도 5(d)에 나타낸 바와 같이 된다. Next, the principle of focus detection using the + deflected light 211 and the-deflected light 212 will be described with reference to FIGS. 5A and 5B. 5A shows an optical path in a focusing state with respect to a subject having the photographing optical system 125. Of the light transmitted through the imaging optical system 125 and incident on the optical deflecting element 200, it is a first polarization component having a polarization plane parallel to the zx plane in the figure and passes through the openings 204a and 204b of the polarization film 204. The + deflected light 211 and-deflected light 212 pass through the polarization beam splitter 301, which is omitted in FIG. 5, and then form an image on the image pickup device 108. At this time, in the image pickup device 108 corresponding to the two phases formed by the + -deflected light 211 and-deflected light 212, the phase signal from two predetermined lines extending in the x direction is shown in FIG. As shown.

+편향광(211)과 -편향광(212)은 촬영 광학계(125)의 사출동에 있어서의 다른 영역을 통과하고 있지만, 피사체에 대하여 촬영 광학계(125)가 초점 맞춤 상태에 있기 때문에, 개구(204a)를 통과한 +편향광(211)에 의해 형성된 상(상신호) A와, 개구(204b)를 통과한 -편향광(212)에 의해 형성된 상(상신호) B는, 촬상소자(108)의 x방향으로 있어서 일치하고 있다. The + deflected light 211 and the-deflected light 212 pass through different areas in the exit pupil of the photographing optical system 125, but because the photographing optical system 125 is in focus with respect to the subject, the aperture ( The image (phase signal) A formed by the + deflected light 211 passing through 204a and the image (phase signal) B formed by the -deflected light 212 passing through the opening 204b are the imaging elements 108. ) Is aligned in the x direction.

또한, 도 5(b)에는, 촬영 광학계(125)가 피사체에 대하여, 소위 전핀 상태일 때의 광로를 나타내고 있다. +편향광(211)과 -편향광(212)은 촬상소자(108)의 전방에서 한번 결상한 후 발산해서 촬상소자(108)에 도달한다. 이때, +편향광(211)과 -편향광(212)에 의하여 형성된 2상에 대응한 상기 2라인으로부터의 상신호는 도 5(e)에 나타낸 바와 같이 된다. 5B shows an optical path when the photographing optical system 125 is in a so-called all-pin state with respect to the subject. The positive deflection light 211 and the negative deflection light 212 form an image once in front of the image pickup device 108 and then diverge to reach the image pickup device 108. At this time, the phase signals from the two lines corresponding to the two phases formed by the + deflected light 211 and the-deflected light 212 are as shown in Fig. 5E.

촬영 광학계(125)가 전(前) 핀 상태에 있기 때문에, 개구(204a)를 통과한 +편향광(211)에 의해 형성된 상(상신호) A와, 개구(204b)를 통과한 -편향광(212)에 의해 형성된 상(상신호) B는, 촬상소자(108)의 -x방향으로 어긋나고 있다. 이 때문에, 이 어긋남 방향과 상 A와 상 B의 위치 관계(위상차)에 의거하여 도 1에 나타낸 카메라 제어회로(309)에 의해 촬영 광학계(125)의 디포커스방향(전핀 방향) 및 디포커스량이 검출된다. Since the photographing optical system 125 is in the front pin state, the image (phase signal) A formed by the + deflection light 211 passing through the opening 204a and the -deflection light passing through the opening 204b. The image (image signal) B formed by 212 is shifted in the -x direction of the imaging element 108. For this reason, the defocus direction (front pin direction) and the defocus amount of the photographing optical system 125 are determined by the camera control circuit 309 shown in FIG. 1 based on this shift direction and the positional relationship (phase difference) between the images A and B. Is detected.

또한, 도 5(c)에는 촬영 광학계(125)가 피사체에 대하여, 소위 후핀 상태일 때의 광로를 나타내고 있다. +편향광(211)과 -편향광(212)은 그 광속이 넓혀진 상태에서 촬상소자(108)에 도달한다. 이때, +편향광(211)과 -편향광(212)에 의해 형성된 2상에 대응한 상기 2라인으로부터의 상신호는 도 5(f)에 나타낸 바와 같이 된다. 5C shows an optical path when the photographing optical system 125 is in a so-called rear pin state with respect to the subject. The positive deflection light 211 and the negative deflection light 212 reach the imaging device 108 in a state where the luminous flux is widened. At this time, the phase signals from the two lines corresponding to the two phases formed by the + deflected light 211 and the-deflected light 212 are as shown in Fig. 5 (f).

촬영 광학계(125)가 후(後) 핀 상태에 있기 때문에, 개구(204a)를 통과한 +편향광(211)에 의해 형성된 상(상신호) A와, 개구(204b)를 통과한 -편향광(212)에 의해 형성된 상(상신호) B는, 촬상소자(108)의 +x방향으로 어긋나고 있다. 이 때문에, 이 어긋남 방향과 상 A 와 상 B의 위치 관계(위상차)에 의거하여 도 1에 나타낸 카메라 제어회로(309)에 의해 촬영 광학계(125)의 디포커스방향(후핀 방향) 및 디포커스량이 검출된다. Since the photographing optical system 125 is in a post pin state, the image (image signal) A formed by the + deflection light 211 passing through the opening 204a and the -deflection light passing through the opening 204b. The image (image signal) B formed by 212 is shifted in the + x direction of the imaging element 108. For this reason, the defocus direction (post pin direction) and the defocus amount of the photographing optical system 125 are determined by the camera control circuit 309 shown in FIG. 1 based on the shift direction and the positional relationship (phase difference) between the images A and B. Is detected.

카메라 제어회로(309)는 검출한 디포커스방향 및 디포커스량에 의거하여 도 1에 나타낸 포커스 렌즈(123)의 초점 맞춤 상태를 얻기 위한 구동 방향 및 구동량을 연산하고, 도면에 나타내지 않은 렌즈 제어회로를 매개로 상기 포커스 렌즈(123)의 구동을 제어한다. The camera control circuit 309 calculates the driving direction and the driving amount for obtaining the focusing state of the focus lens 123 shown in FIG. 1 based on the detected defocus direction and the defocus amount, and controls the lens not shown in the figure. The driving of the focus lens 123 is controlled through a circuit.

또, 본 실시예의 광학편향소자(200)는 편광특성을 가지므로, 피사체에 편광특성이 있을 경우는 그 영향을 받게 된다. 거기에서, 피사체의 편광특성을 제거하기 위해서, 광학편향소자(200)의 광입사측에 1/2파장판을 설치하고, 광학편향소자(200)에 입사하는 광의 편광면(편광방향)을 필요에 따라서 회전시키도록 하는 것이 바람직하다. In addition, since the optical deflecting element 200 of the present embodiment has a polarization characteristic, when the object has a polarization characteristic, it is affected. Therein, in order to remove the polarization characteristic of the subject, a 1/2 wavelength plate is provided on the light incidence side of the optical deflection element 200, and a polarization plane (polarization direction) of light incident on the optical deflection element 200 is required. It is desirable to rotate according to.

이상과 같이 해서, 화인더 관찰과 함께 초점검출 및 AF제어를 행한 후, 촬상소자(108)에 의해 피사체 상을 촬영하는 때에는, 광학편향소자(200)와 편광빔 스플리터(301)를 촬영 광학계(125)로부터 촬상소자(108) 사이의 광로 밖으로 대피시킨다. As described above, after performing the focus detection and AF control together with the observation of the lens, when the image pickup device 108 captures the subject image, the optical deflecting device 200 and the polarizing beam splitter 301 are photographed by the optical system 125. Evacuate out of the optical path between the imaging elements 108.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 실시예에 의하면, 화인더 광학계에 의해 피 사체를 확인하면서 촬상소자를 이용하여 초점검출을 행할 수 있는 동시에, 초점검출 전용의 센서나 광학계가 불필요하게 되어, 카메라의 소형화, 저비용화를 꾀할 수 있다. As described above, according to the present embodiment, focus detection can be performed by using an image pickup device while checking a subject by a finder optical system, and a sensor or optical system dedicated to focus detection is not necessary, thereby miniaturizing the camera, The cost can be reduced.

게다가, 광학편향소자에서 편향된 2개의 광속에 의해 촬상소자 위에 2상을 형성하므로, 촬상소자로부터의 한번의 상신호의 판독에 의해 초점검출이 가능해서, 움직임이 빠른 피사체에 대하여도 정밀도 좋게 초점검출을 행할 수 있다. In addition, since two images are formed on the image pickup device by two luminous fluxes deflected by the optical deflecting element, focus detection is possible by reading a single image signal from the image pickup device, so that the focus detection can be accurately performed even on a fast-moving subject. Can be done.

또한, 광학편향소자는, 촬영 광학계의 다른 동영역을 통과하는 광을 다른 방향으로 편향하므로, 편향된 각각의 광에 의해 형성된 상에 의거하여 TTL위상차 검출방식이면서 동분할방식의 초점검출을 행할 수 있다. Further, since the optical deflecting element deflects light passing through the other moving region of the photographing optical system in different directions, it is possible to perform focus detection using the TTL phase difference detection method and the same division method based on the images formed by the deflected light. .

또한, 광학편향소자를, 제1편광성분을 초점검출 상을 형성하기 위해서 편향분할하는 한편, 그 이외의 제2편광성분을 그대로 투과시키도록 구성함으로써, 제2편광성분에 의해 화인더 상을 형성할 수 있고, 왜곡이 없는 화인더 상을 얻을 수 있다. In addition, the optical deflection element is deflected to form the focus detection image for the first polarization component, and the second polarization component is transmitted as it is, thereby forming a binder image by the second polarization component. It is possible to obtain a finer image without distortion.

또한, 광학편향소자를 그대로 투과하고, 편광빔 스플리터에서 반사한 제2편광성분으로 화인더 상을 형성함으로써, 화인더 상의 광량 저하를 억제할 수 있다. In addition, by forming the binder image with the second polarization component which is transmitted through the optical deflecting element as it is and reflected by the polarization beam splitter, the decrease in the amount of light on the binder can be suppressed.

또한, 편광빔 스플리터 및 광학편향소자를, 촬영 광학계와 촬상소자간의 광로 밖으로 대피 가능하게 함으로써, 편광빔 스플리터나 광학편향소자에 의한 왜곡이나 광량 저하가 없는 피사체 화상을 촬영할 수 있다. In addition, by allowing the polarizing beam splitter and the optical deflecting element to be evacuated out of the optical path between the photographing optical system and the image capturing element, it is possible to capture a subject image without distortion or light amount deterioration by the polarizing beam splitter or the optical deflecting element.

또한, 광학편향소자는, 블레이즈방향이 다른 제1 및 제2블레이즈드 회절격자와 일축성 투광재료와 편광막으로 구성되어 있기 때문에, 동분할방식의 초점검출을 행하기 위한 저렴한 광학소자를 제공할 수 있다. In addition, since the optical deflection element is composed of the first and second blazed diffraction gratings having different blaze directions, the uniaxial transmissive material, and the polarizing film, it is possible to provide an inexpensive optical element for performing the focus detection of the same division method. Can be.

(실시예2) Example 2

상기 실시예1에서는, 카메라 본체 내에 광학편향소자(200)와 편광빔 스플리터(301)의 양쪽을 설치했을 경우에 관하여 설명했지만, 도 6에 나타낸 바와 같이 광학편향소자(200)를 촬영렌즈(420:교환 렌즈) 내의 동위치(瞳位置:조리개(124)의 위치) 또는 그 근방에 배치해도 된다. In Example 1, the case where both the optical deflecting element 200 and the polarizing beam splitter 301 are provided in the camera main body has been described. However, as shown in FIG. It may be arranged at the same position in the (interchangeable lens) (the position of the stop 124) or its vicinity.

또한, 상기 실시예1 및 2에 있어서는, 렌즈 교환식의 일안 레프 카메라 시스템에 관하여 설명했지만, 본 발명은 그 이외의 카메라 시스템(예를 들면, 렌즈 일체형의 카메라 시스템)에도 적용하는 것은 가능하다. In addition, in the said Example 1 and 2, although the lens interchangeable single-lens LEF camera system was demonstrated, this invention can be applied also to other camera systems (for example, a lens integrated camera system).

또한, 상기 각 실시예에서는 광학편향소자(200)에 의해, 제1편광성분 중 일부를 +y방향으로, 다른 일부를 -y방향으로 각각 편향할 경우에 관하여 설명했지만, 한쪽만을 편향시키고 다른쪽을 편향시키지 않고 촬상소자(108)에 도달하도록 해도 된다. 이 경우, 쌍의 상은, 예를 들면 촬상소자의 상부와 중앙에 형성된다. In the above embodiments, the optical deflecting element 200 has described a case in which some of the first polarization components are deflected in the + y direction and the other in the -y direction, respectively. The imaging element 108 may be reached without deflecting this. In this case, the pair of images is formed, for example, on the top and the center of the imaging device.

또한, 상기 각 실시예에서는, +편향광(211)과 -편향광(212)을, 이것들이 통과한 촬영 광학계의 동영역의 분할 방향과 같은 방향으로 편향시킬 경우에 관하여 설명했지만, 각 편향광의 편향방향은 이것에 한정되지는 않는다. In addition, in each of the above embodiments, the case where the + deflected light 211 and the-deflected light 212 are deflected in the same direction as the dividing direction of the same area of the photographing optical system passed by them has been described. The deflection direction is not limited to this.

또한, 상기 각 실시예에서는 2개의 편향광(211, 212)에 의해 촬상소자(108) 위에 2개의 상을 형성할 경우에 관하여 설명했지만, 4개 등 보다 많은 상을 형성하도록 편향광의 수나 그 편향방향을 늘려도 된다. In the above embodiments, the case where two images are formed on the image pickup device 108 by the two deflected lights 211 and 212 has been described. However, the number of deflected lights and the deflection of the deflected light so as to form more than four images are explained. You can also increase the direction.

또한, 상기 실시예에서는, 블레이즈드 회절격자를 가지는 광학편향소자(200) 를 사용했을 경우에 관하여 설명했지만, 이러한 블레이즈드 회절격자 이외에 광속을 편향시키는 작용을 가지면서 수차의 발생이 적은 소자를 이용하여 광학편향소자를 작성하는 것도 가능하다. 또, 상기 실시예에 나타낸 광학편향소자는, 회절격자의 격자홈부에 액정을 배치했을 경우에 관하여 설명했지만, 회절격자와 액정과의 배치 관계는 이에 한정하지 않고, 글래스 기판간에 액정을 봉입한 부재를 회절격자(수지기판)에 인접하도록 배치해도 된다. In the above embodiment, the case where the optical deflecting element 200 having the blazed diffraction grating is used has been described. However, in addition to the blazed diffraction grating, an element having a function of deflecting the light beam and generating less aberration is used. It is also possible to create an optical deflection element. The optical deflecting element shown in the above embodiment has been described in the case where the liquid crystal is arranged in the grating groove of the diffraction grating, but the arrangement relationship between the diffraction grating and the liquid crystal is not limited to this, and the member which encloses the liquid crystal between the glass substrates. May be disposed adjacent to the diffraction grating (resin substrate).

또한, 상기 실시예에서는 편광특성을 이용해서 입사광의 일부를 분할하고, 촬상소자(108) 위에 2상을 형성하는 광학편향소자(200)를 사용했을 경우에 관하여 설명했지만, 본 발명의 제1광학소자로서는, 편광특성 이외의 광학적특성(예를 들면, 파장특성)을 이용해서 입사광의 일부를 분할하는 광학편향소자를 이용하여도 된다. In addition, in the above embodiment, a case has been described in which the optical deflecting element 200 which divides a part of incident light by using polarization characteristics and forms two phases on the imaging element 108 is used. As the element, an optical deflecting element for dividing a part of incident light by using optical characteristics (for example, wavelength characteristics) other than polarization characteristics may be used.

이상에서 설명한 바와 같이, 상기 각 실시예에 의하면, 제1광학소자에 입사한 제1편광성분을 분할해서 광전변환소자 상에 한 쌍의 상을 동시에 형성하므로, 마스크의 개구위치를 바꿀 경우 등에 비교해서 고속으로 상신호를 얻을 수 있다. 게다가, 스플릿이미지프리즘이나 홀로그래픽 광학소자를 사용할 경우에 비교하여, 초점검출에 알맞은 수차가 적은 한 쌍의 상을 형성할 수 있다. 따라서, TTL위상차 검출방식이면서 동분할방식에 의해서 고속이면서 고밀도의 초점검출을 행할 수 있다. As described above, according to each of the above embodiments, since a pair of images are simultaneously formed on the photoelectric conversion element by dividing the first polarization component incident on the first optical element, it is compared with the case of changing the opening position of the mask. The phase signal can be obtained at high speed. In addition, compared with the case of using a split image prism or a holographic optical element, it is possible to form a pair of images with less aberration suitable for focus detection. Therefore, the high-speed and high-density focus detection can be performed by the same division method while being the TTL phase difference detection method.

또한, 제1광학소자로부터의 광에 포함되는 제2광성분(예를 들면, 제2편광성분)을 광전변환소자를 향하는 제1광성분(예를 들면, 제1편광성분)으로부터 분리함으로써, 광전변환소자 상에 상기 쌍의 상만을 형성할 수 있는 동시에, 제2광성분을 화인더 관찰 등 다른 용도에 이용할 수 있다. In addition, by separating the second light component (for example, the second polarization component) included in the light from the first optical element from the first light component (for example, the first polarization component) toward the photoelectric conversion element, Only the pair of phases can be formed on the photoelectric conversion element, and the second light component can be used for other applications such as finder observation.

Claims (13)

제1광학계(125)의 사출동(射出瞳)을 통과해서 광전변환소자(108)를 향하는 광에 포함되는 제1편광성분을, 상기 광전변환소자 상의 서로 다른 영역에 상(像)을 형성하도록 분할하는 제1광학소자(200)와,The first polarization component included in the light passing through the exit pupil of the first optical system 125 toward the photoelectric conversion element 108 is formed to form an image in different regions on the photoelectric conversion element. A first optical element 200 to be divided, 상기 다른 영역에 형성된 상의 위상의 차를 검출하는 검출 수단을 가지는 것을 특징으로 하는 광학기기.And detection means for detecting a difference in phase of an image formed in said other area. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제1광학소자는, 각각 블레이즈형상을 가지면서 블레이즈방향이 서로 다른 복수의 회절격자(201a, 201b)와, The first optical element may include a plurality of diffraction gratings 201a and 201b each having a blaze shape and different in the blaze direction, 특정한 광학축 방향을 가지는 일축성 투광재료부를 가지는 것을 특징으로 하는 광학기기.Optical device having a uniaxial translucent material portion having a specific optical axis direction. 제2항에 있어서, The method of claim 2, 상기 제1광학소자는, 상기 일축성 투광재료부의 광학축 방향으로 직교하는 편광축방향을 가지면서 복수의 개구영역을 가지는 편광막(204)을 더 가지는 것을 특징으로 하는 광학기기.And said first optical element further comprises a polarizing film (204) having a plurality of opening regions while having a polarization axis direction orthogonal to an optical axis direction of said uniaxial translucent material portion. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제1광학소자는, 상기 사출동에 있어서의 제1영역을 통과한 상기 제1편광성분을 상기 광전변환소자 상의 제1수광영역을 향하게 하고, 상기 사출동에 있어서의 제2영역을 통과한 상기 제1편광성분을 상기 광전변환소자 상의 제2수광영역으로 향하게 하는 것을 특징으로 하는 광학기기.The first optical element directs the first polarization component passing through the first region in the exit pupil toward the first light receiving region on the photoelectric conversion element, and passes through the second region in the exit pupil. And directing the first polarization component toward a second light receiving region on the photoelectric conversion element. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 광전변환소자이며, 상기 제1광학계에 의해 형성된 피사체 상을 촬영하기 위한 촬상소자를 가지는 것을 특징으로 하는 광학기기.And the photoelectric conversion element, having an image pickup element for photographing an object image formed by the first optical system. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 다른 수광영역으로부터의 출력에 의거하여 상기 제1광학계의 초점상태를 검출하는 초점검출 디바이스를 가지는 것을 특징으로 하는 광학기기.And a focus detecting device for detecting a focus state of the first optical system based on an output from the other light receiving region. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제1광학소자로부터의 상기 광에 포함되는 제2편광성분을 상기 제1편광성분에 대하여 분리하는 제2광학소자(301)를 가지는 것을 특징으로 하는 광학기기.And a second optical element (301) for separating a second polarization component contained in said light from said first optical element with respect to said first polarization component. 제7항에 있어서, The method of claim 7, wherein 상기 제2광학소자는, 상기 제2편광성분을 제2광학계(103, 104)에 입사시키는 것을 특징으로 하는 광학기기.And said second optical element injects said second polarization component into a second optical system (103, 104). 제7항에 있어서, The method of claim 7, wherein 상기 제1 및 제2광학소자는, 상기 제1광학계로부터 상기 광전변환소자를 향하는 광로의 내외로 이동 가능한 것을 특징으로 하는 광학기기.And the first and second optical elements are movable in and out of an optical path from the first optical system toward the photoelectric conversion element. 제1광학계(125)를 가지는 렌즈 장치와, A lens device having a first optical system 125, 상기 렌즈 장치가 장착되는 청구항 제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 따른 촬영 장치로서의 광학기기를 가지는 것을 특징으로 하는 촬영 시스템.An optical system as an image pickup apparatus according to any one of claims 1 to 9, wherein the lens apparatus is mounted. 제1광학계(125)의 사출동을 통과해서 광전변환소자(108)를 향하는 광에 포함되는 제1광성분을 상기 광전변환소자 상의 서로 다른 영역에 상을 형성하도록 분할하는 제1광학소자(200)와, The first optical element 200 for dividing the first optical component included in the light passing through the exit pupil of the first optical system 125 toward the photoelectric conversion element 108 to form an image in different regions on the photoelectric conversion element. )Wow, 상기 다른 영역에 형성된 상의 위상의 차를 검출하는 검출 수단과,Detecting means for detecting a difference between phases of an image formed in the other region; 상기 제1광학소자로부터의 상기 광에 포함되는 제2광성분을 상기 제1광성분에 대하여 분리하는 제2광학소자(301)와,A second optical element 301 which separates a second optical component included in the light from the first optical component with respect to the first optical component; 상기 제2광학소자에 의해 분리된 상기 제2광성분에 의해 형성된 상을 관찰(觀察)하게 하는 제2광학계(103, 104)를 가지는 것을 특징으로 하는 광학기기.And a second optical system (103, 104) for observing an image formed by said second optical component separated by said second optical element. 삭제delete 제1광학계(125)를 가지는 렌즈 장치와, A lens device having a first optical system 125, 상기 렌즈 장치가 장착되는 청구항 제11항에 기재된 촬영 장치로서의 광학기기를 가지는 것을 특징으로 하는 촬영 시스템.An optical system as the imaging device according to claim 11, wherein the lens device is mounted.
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