KR100726771B1 - Fabrication method of strip for chip scale package - Google Patents

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Abstract

칩 스케일 패키지용 스트립의 제조방법을 개시한다. 본 발명은 금속판상에 하나의 칩 스케일 패키지에 해당되는 개별 유니트가 공히 몰딩가능하도록 행렬로 배치된 집합 유니트가 소정간격 이격되게 형성된 스트립에 있어서, 금속판이 다운셋 공정을 수행하는 금형내로 인입되고, 금속판에 배치된 집합 유니트의 일부 열을 제1 순위로 타발하고, 금속판에 배치된 집합 유니트의 나머지 열을 제2 순위로 타발하는 것을 포함한다. A method of manufacturing a strip for a chip scale package is disclosed. According to the present invention, in a strip in which assembly units arranged in a matrix are arranged on a metal plate so that individual units corresponding to one chip scale package can be molded together, the metal plate is introduced into a mold for performing a downset process. Punching some rows of the assembly unit arranged on the metal plate in the first rank, and punching the remaining rows of the assembly unit arranged in the metal plate in the second rank.

Description

칩 스케일 패키지용 스트립의 제조방법{Fabrication method of strip for chip scale package} Fabrication method of strip for chip scale package}

도 1은 종래의 칩 스케일 패키지용 스트립의 평면도,1 is a plan view of a strip for a conventional chip scale package,

도 2는 통상적인 칩 스케일 패키지를 도시한 단면도,2 is a cross-sectional view showing a conventional chip scale package;

도 3a 내지 도 3c는 본 발명의 제1 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립을 단계적으로 타발한 이후의 상태를 도시한 것으로서,3A to 3C are diagrams illustrating a state after a stepwise punching of the strip for chip scale packages according to the first embodiment of the present invention.

도 3a는 제1 순위의 타발이 수행된 이후의 스트립을 도시한 평면도,3a is a plan view showing the strip after the punching of the first rank is performed;

도 3b는 제2 순위의 타발이 수행된 이후의 스트립을 도시한 평면도,3b is a plan view showing the strip after the second ranking punching is performed,

도 3c는 최종 타발이 수행된 이후의 스트립을 도시한 평면도,3c shows a plan view of the strip after the final punching has been performed,

도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 제2 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립을 단계적으로 타발한 이후의 상태를 도시한 것으로서,4A to 4C are diagrams illustrating a state after stepwise punching of the strip for chip scale packages according to the second embodiment of the present invention.

도 4a는 제1 순위의 타발이 수행된 이후의 스트립을 도시한 평면도,4a is a plan view showing the strip after the punching of the first rank is performed;

도 4b는 제2 순위의 타발이 수행된 이후의 스트립을 도시한 평면도,4b is a plan view showing the strip after the second ranking punching is performed,

도 4c는 최종 타발이 수행된 이후의 스트립을 도시한 평면도,4c is a plan view showing the strip after the final punching has been performed;

도 5는 본 발명의 제3 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립을 단계적으로 타발한 이후의 상태를 도시한 평면도,FIG. 5 is a plan view showing a state after the step for punching the strip for chip scale packages according to the third embodiment of the present invention; FIG.

도 6은 본 발명의 제4 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립을 단계적으 로 타발한 이후의 상태를 도시한 평면도.FIG. 6 is a plan view showing a state after the step for punching the strip for a chip scale package according to the fourth embodiment of the present invention. FIG.

< 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Major Parts of Drawings>

10,30...스트립 11,31...금속판10,30 ... strip 11,31 ... metal plate

12,32...개별 유니트 20...칩 스케일 패키지12,32 ... individual units 20 ... chip scale packages

21...다이패드 23...반도체 칩21.Diode 23.Semiconductor chip

24...와이어 25...리이드부24 ... wire 25 ... lead part

33...집합유니트 310...제1 집합 유니트33.Unit assembly 310 ... First unit

320...제2 집합 유니트 330..제3 집합 유니트320 ... 2nd assembly unit 330 ... 3rd assembly unit

340...제4 집합 유니트340 ... fourth assembly unit

본 발명은 칩 스케일 패키지용 스트립에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 소우잉 타입의 반도체 패키지 유니트를 공히 다운셋 가능하도록 방법이 개선된 칩 스케일 패키지용 스트립의 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to strips for chip scale packages, and more particularly, to a method for manufacturing strips for chip scale packages, the method of which is improved to be able to downset a sawing type semiconductor package unit.

통상적으로, 리드프레임을 활용한 칩 스케일 패키지(chip scale package,CSP)로는 MLF(micro lead frame), BLP(bottom leaded plastic package), BCC(bumped chip carrier)등이 있다. 이러한 제품은 리드단자를 통하여 외부회로기판과의 전기적 신호를 전달하고 있다.Typically, a chip scale package (CSP) using a lead frame includes a micro lead frame (MLF), a bottom leaded plastic package (BLP), a bumped chip carrier (BCC), and the like. These products deliver electrical signals to external circuit boards through lead terminals.

도 1에 도시된 바와 같이, 스트립(10)에는 금속판(11)상에 하나의 칩 스케일 패키지에 해당하는 개별 유니트(12)가 다수개의 행열로 배치된 상태에서, 각각의 개별 유니트(12)별로 각각 몰딩하여 트리밍(trimming)하게 된다. As shown in FIG. 1, in the strip 10, the individual units 12 corresponding to one chip scale package are arranged in a plurality of rows on the metal plate 11, for each individual unit 12. Each is molded and trimmed.

몰딩하기 전에, 상기 개별 유니트(12)는 금형내에서 적어도 하나 이상의 열(A1,A2)순으로 다운셋(down set) 공정을 동시에 수행하게 된다.Prior to molding, the individual units 12 simultaneously perform a down set process in at least one row A1, A2 in the mold.

그러나, 이러한 형태의 스트립(10)의 제조방법은 개별 유니트(12)별로 각 공정을 수행하게 되므로 생산효율이 저하되는 문제점이 있다.However, the manufacturing method of the strip 10 of this type has a problem that the production efficiency is lowered because each process is performed for each individual unit 12.

최근 들어서는, 하나의 스트립상에 많은 수의 반도체 패키지를 배치하기 위하여 개별 유니트가 행렬로 배열된 집합 유니트를 하나의 윈도우(window)로 하여 전체적인 몰딩을 하는 소우잉 타입(sawing type)의 몰딩 형태를 가지는 칩 스케일 패키지용 스트립이 개발되었다.Recently, in order to arrange a large number of semiconductor packages on one strip, a sawing type molding type is used in which an entire unit is molded by using a single window in which an assembly unit is arranged in a matrix. Eggplant strips for chip-scale packages have been developed.

한편, 상술한 개별 유니트(12)에 해당되는 칩 스케일 패키지는 다이패드가 하부로 노출되어 있어서 이를 외부회로기판에 실장하면 열적팽창으로 인하여 다이패드와 외부회로기판과의 박리현상이 발생하는 문제점이 있다. 이를 방지하기 위하여 다이패드를 상부로 노출시키는 구조가 개발되었다. On the other hand, in the chip scale package corresponding to the individual unit 12 described above, the die pad is exposed to the bottom, and when the die pad is mounted on the external circuit board, the die pad and the external circuit board are separated from each other due to thermal expansion. have. To prevent this, a structure for exposing the die pad to the top has been developed.

도 2는 이러한 구조의 칩 스케일 패키지(20)를 도시한 것이다.2 shows a chip scale package 20 of this structure.

도면을 참조하면, 상기 패키지(20)는 상부로 노출되는 다이패드(21)와, 그 하부에 접착제(22)를 매개로 하여 부착되는 반도체 칩(23)과, 상기 반도체 칩(23)과 와이어(24)에 의하여 와이어본딩되는 리이드부(25)를 포함한다. 상기 리이드부(25)는 하프에칭되어 하부에 노출되어 있다. Referring to the drawings, the package 20 may include a die pad 21 exposed to the upper portion, a semiconductor chip 23 attached to the lower portion of the package 20 through an adhesive 22, and the semiconductor chip 23 and a wire. And a lead portion 25 wire-bonded by the 24. The lead portion 25 is half-etched and exposed to the lower portion.

그런데, 상기 칩 스케일 패키지(20)를 개별 유니트로 하여 금속판상에 행렬 로 배열시켜 집합 유니트를 이루게 하여 하나의 윈도우로 형성한 이후에, 각 개별 유니트로 분리하기 위하여 소우잉하는 방식에는 다음과 같은 문제점이 있을 수 있다.However, after the chip scale package 20 is arranged as a separate unit and arranged in a matrix on a metal plate to form an aggregate unit and formed as one window, the sawing method for separating into individual units is as follows. There may be a problem.

상기 다이패드(21)를 다운셋하는 공정에서, 각 개별 유니트의 크기가 큰 경우에는 하나의 윈도우를 공히 다운셋하는 것이 가능하나, 각 개별 유니트의 크기가 적은 경우에는 금형 제작상의 문제로 인하여 하나의 윈도우에 해당되는 부분을 하나의 금형으로 공히 타발하여 다운셋하는 공정이 힘들다고 할 수 있다. 또한, 인접하는 개별 유니트간의 리이드부간의 간격이 좁아지게되어서 고정도의 특성을 유지하기가 어렵다. 이에 따라, 스트립으로 공급되는 각 개별 유니트가 배치된 금속판을 효율적으로 타발하는 것이 필요하다고 할 수 있다.In the process of downsetting the die pad 21, when the size of each individual unit is large, it is possible to downset one window at all, but when the size of each individual unit is small, one of the die pads 21 may cause problems due to mold manufacturing problems. It is difficult to downset the part corresponding to the window of the mold with one mold. In addition, the gap between the lead portions between adjacent individual units becomes narrow, making it difficult to maintain high accuracy characteristics. Accordingly, it can be said that it is necessary to efficiently punch out the metal plate on which each individual unit supplied to the strip is disposed.

본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 금속판상의 집합 유니트를 순차적으로 타발하여 각 개별 유니트의 다운셋이 효율적으로 가능하도록 한 칩 스케일 패키지용 스트립의 제조방법을 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a method of manufacturing a strip for chip scale packages in which a set unit on a metal plate is sequentially punched out so that downset of each individual unit can be efficiently performed.

상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 일 측면에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립의 제조방법은,In order to achieve the above object, a method of manufacturing a strip for a chip scale package according to an aspect of the present invention,

금속판상에 하나의 칩 스케일 패키지에 해당되는 개별 유니트가 공히 몰딩가능하도록 행렬로 배치된 집합 유니트가 소정간격 이격되게 형성된 스트립의 제조방법에 관한 것으로서, The present invention relates to a method for manufacturing a strip in which assembly units arranged in a matrix are arranged on a metal plate so that individual units corresponding to one chip scale package can be molded together.                     

금속판이 다운셋 공정을 수행하는 금형내에 인입하는 단계;Introducing a metal plate into a mold for performing a downset process;

상기 금속판에 배치된 집합 유니트의 일부 열을 제1 순위로 타발하는 단계; 및 Punching some rows of the assembly units arranged on the metal plate in a first order; And

상기 금속판에 배치된 집합 유니트의 나머지 열을 제2 순위로 타발하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.And punching the remaining rows of the assembly unit disposed on the metal plate in a second order.

또한, 상기 집합 유니트의 나머지 열을 제2 순위로 타발하는 단계에서는,Further, in the step of punching the remaining rows of the aggregation unit in the second rank,

상기 집합 유니트의 다음 위치에 배치된 다른 집합 유니트중 상기 제1 순위에 해당되는 열과 동일한 위치에 있는 열을 공히 타발하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.The method may further include a step of simultaneously punching a row at the same position as the row corresponding to the first rank among other aggregation units disposed at the next position of the aggregation unit.

게다가, 상기 집합 유니트내의 각 개별 유니트가 6열로 배치된 경우에는,In addition, when each individual unit in the assembly unit is arranged in six rows,

제1,3,5열에 위치한 각 개별 유니트를 제1 순위로 타발하고, 제2,4,6열에 위치한 각 개별 유니트를 제2 순위로 타발하는 것을 특징으로 한다.Each individual unit located in the first, third, and fifth rows is punched in the first rank, and each individual unit located in the second, fourth, and sixth rows is punched in the second rank.

이하에서 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립의 제조방법을 상세하게 설명하고자 한다.Hereinafter, a method of manufacturing a chip scale package strip according to an exemplary embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3a 내지 도 3c는 본 발명의 제1 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립을 타발하는 방법을 순차적으로 도시한 것이다.3A to 3C sequentially illustrate a method of punching a strip for a chip scale package according to a first embodiment of the present invention.

도 3a 내지 도 3c를 참조하여 칩 스케일 패키지용 스트립의 제조방법을 설명하면 다음과 같다.Referring to FIGS. 3A to 3C, a method of manufacturing a strip for a chip scale package is as follows.

먼저, 칩 스케일 패키지가 다수개 배치된 스트립(30)이 공급된다. 상기 스트립(30)에는 금속판(31)상에 하나의 칩 스케일 패키지를 개별 유니트(32)로 하고, 상기 개별 유니트(32)가 복수개의 행열로 배치된 하나의 집합 유니트(33)가 그룹별로 소정간격 이격된 상태에서 형성되어 있다. 상기 집합유니트(33)는 하나의 윈도우에 해당되며 추후 반도체 조립공정중에 공히 몰딩이 된다. First, a strip 30 in which a plurality of chip scale packages are arranged is supplied. In the strip 30, one assembly unit 33 having one chip scale package on a metal plate 31 as an individual unit 32 and the individual unit 32 arranged in a plurality of rows is predetermined for each group. It is formed in the state spaced apart. The assembly unit 33 corresponds to one window and is subsequently molded during the semiconductor assembly process.

본 실시예에서는, 상기 집합 유니트(33)는 6행×6열로 된 개별 유니트(32)로 구성되어 있고, 상기 집합 유니트(33)는 제1 집합 유니트(310), 제2 집합 유니트(320), 제3 집합 유니트(330), 제4 집합 유니트(340)가 상기 금속판(31)상에 소정간격 이격되게 배치되어 있는 구조이다.In this embodiment, the assembly unit 33 is composed of individual units 32 of 6 rows x 6 columns, and the assembly unit 33 is the first assembly unit 310 and the second assembly unit 320. The third assembly unit 330 and the fourth assembly unit 340 are arranged on the metal plate 31 at predetermined intervals.

이러한 형태를 가지는 스트립(30)이 다운셋이 수행되는 금형내로 이송된 다음에는 제1 집합 유니트(310)에 배치된 개별 유니트(32)중에서 제1열 개별 유니트(B1), 제3열 개별 유니트(B3), 제5열 개별 유니트(B5)를 첫번째 그룹으로 하여 제1 순위로 공히 타발하게 된다. After the strip 30 having such a shape is transferred into the mold in which the downset is performed, the first row individual unit B1 and the third row individual unit among the individual units 32 arranged in the first assembly unit 310 are provided. (B3), the fifth row of individual units (B5) is the first group, and they are all punched out in the first rank.

상기 제1,3,5열 개별 유니트(B1)(B3)(B5)는 상기 제1 집합 유니트(310)내에서 인접하는 열에 해당되는 개별 유니트가 아니라, 한열씩 그 위치가 이격된 위치에 해당되는 개별 유니트이다. The first, third, and fifth row individual units B1, B3, and B5 are not individual units corresponding to adjacent rows in the first aggregation unit 310, but correspond to positions spaced apart by one row. It is an individual unit.

이렇게 한열씩 이격된 상태의 각 개별 유니트를 금형으로 타발하는 것은 개별 유니트의 크기가 작아서 하나의 집합 유니트를 공히 타발시 금형 제작상의 어려움이 있고, 제대로 타발이 이루어지지 않기 때문이다.(도 3a)The punching of each individual unit in the spaced apart state by the mold is because the size of the individual unit is small, there is a difficulty in manufacturing the mold when punching one assembly unit, and the punching is not properly made (Fig. 3a).

이어서, 상기 제1 집합 유니트(310)내에서 제2열 개별 유니트(B2), 제4열 개별 유니트(B4), 제6열 개별 유니트(B6)를 두번째 그룹으로 하여 제2 순위로 타발하게 된다. 이에 따라, 상기 제1 집합 유니트(310)내에 배치된 각 개별 유니트(32)는 다운셋이 완료된다. Subsequently, in the first assembly unit 310, the second row individual unit B2, the fourth row individual unit B4, and the sixth row individual unit B6 are grouped into the second group. . Accordingly, each individual unit 32 disposed in the first assembly unit 310 is completely downset.

이때, 상기 제1 집합 유니트(310)의 다음 위치에 배치된 제2 집합 유니트(320)의 제1열 개별 유니트(C1), 제3열 개별 유니트(C3), 제5열 개별 유니트(C5)가 공히 타발이 된다. In this case, the first row individual unit C1, the third row individual unit C3, and the fifth row individual unit C5 of the second assembly unit 320 disposed next to the first assembly unit 310. It is a punch.

이것은 제1 집합 유니트(310)의 두번째 그룹을 타발시 이와 동시에 상기 제2 집합 유니트(320)의 제1,3,5열 개별 유니트(C1)(C3)(C5)가 상기 제1 집합 유니트(310)의 첫번째 그룹을 타발한 금형에 위치하여 타발이 이루어지기 때문에 가능하다. 따라서, 상기 제2 집합 유니트(320)에서는 첫번째 그룹의 타발이 이루어지게 된다.(도 3b)When the second group of the first assembly unit 310 is punched out, at the same time, the first, third, and fifth row individual units C1, C3, C5 of the second assembly unit 320 are connected to the first assembly unit ( This is possible because the first group of 310 is placed in the punched mold and the punch is made. Therefore, the first group of punches is made in the second assembly unit 320 (FIG. 3B).

상기 칩 스케일 패키지의 스트립(30)은 상술한 두 단계의 프레스 공정으로 연속적으로 타발하게 되면, 도 3c에 나타낸 바와 같이, 제2 집합 유니트(320)의 제2,4,6열 개별 유니트(C2)(C4)(C6)를 타발함과 동시에 제3 집합유니트(330)의 제1,3,5열 개별 유니트(D1)(D3)(D5)를 타발할 수가 있다. 제3 순위의 타발이 완료되면, 제1,2 집합 유니트(310)(320)의 각 개별 유니트의 다운셋은 종료가 된다. When the strip 30 of the chip scale package is continuously punched through the two-step press process described above, as shown in FIG. 3C, the second, fourth, and sixth row individual units C2 of the second assembly unit 320 are shown. (C4) and (C6) can be punched and the first, third and fifth row individual units (D1), (D3) and (D5) of the third assembly unit 330 can be punched. When the punching of the third rank is completed, the downset of each individual unit of the first and second aggregation units 310 and 320 is finished.

다음으로, 제3 집합 유니트(330)의 제2,4,6열 개별 유니트(D2)(D4)(D6)를 타발함과 동시에 제4 집합 유니트(340)의 제1,3,5열 개별 유니트(F1)(F3)(F5)를 제4 순위로 타발하게 된다. 이에 따라, 제3 집합 유니트(330)의 각 개별 유니트의 다운셋은 완료가 된다.Next, the second, fourth and sixth row individual units D2, D4 and D6 of the third assembly unit 330 are simultaneously punched and the first, third and fifth rows of the fourth assembly unit 340 are separated. Units F1, F3, and F5 are punched in the fourth order. Accordingly, the downset of each individual unit of the third aggregation unit 330 is completed.

이어서, 상기 제4 집합 유니트(340)의 제2,4,6열 개별 유니트(F2)(F4)(F6)를 제5 순위로 타발하게 된다. 그 결과로, 상기 금속판(31)상의 각 개별 유니트(32)에 대한 모든 다운셋 공정이 종료가 된다.Subsequently, the second, fourth and sixth row individual units F2, F4 and F6 of the fourth assembly unit 340 are punched out in the fifth order. As a result, all the downset processes for each individual unit 32 on the metal plate 31 are finished.

이처럼, 상기와 같은 방식으로 프로그레시브 금형상에 상기 스트립(31)이 진행하게 될때, 두 단계, 즉, 제1,3,5열에 위치한 집합 유니트의 각 개별 유니트를 제1 순위로 타발하는 단계와, 제2,4,6열에 위치한 집합 유니트의 각 개별 유니트를 제2 순위로 타발하는 단계를 거치게 되어 다운셋 공정을 수행하게 된다. As such, when the strip 31 proceeds on the progressive mold in the same manner as described above, punching each individual unit of the assembly unit located in the first, third, and fifth rows to the first rank, Each individual unit of the aggregation units located in the second, fourth, and sixth columns is punched down to the second rank to perform the downset process.

이때, 하나의 집합 유니트의 제2,4,6열을 타발할 동안에, 그 다음에 배치된 다른 집합 유니트의 제1,3,5열의 타발이 동시에 연속적으로 진행하게 되어서 다운셋 공정이 최적의 시간동안 효율적으로 수행되는 것이 가능하다고 할 수 있다. At this time, while the second, fourth, and sixth rows of one assembly unit are punched, the first, the third, and the fifth rows of the next batch unit are continuously driven simultaneously, so that the downset process is optimally timed. It can be said that it can be performed efficiently.

한편, 적어도 세개 이상의 집합 유니트를 동시에 금형으로 타발시에는 금형제작상 막대한 제작비가 들어서 생산효율측면에서 불리하며, 또한, 미세한 개별 유니트의 구조상 그 신뢰성에 문제점을 가지고 있다.On the other hand, when at least three or more assembly units are simultaneously punched into a mold, it is disadvantageous in terms of production efficiency due to enormous manufacturing costs in mold production, and also has a problem in reliability of the fine individual units.

이러한 다운셋 공정을 거친 각 개별 유니트는 다른 공정으로 이송되어 다이패드상에 반도체 칩이 실장되고, 와이어본딩된다. 그리고, 집합 유니트상에 몰딩재를 충진시켜서 하나의 윈도우로 형성시킨다음에, 소우잉 장치를 이용하여 각 개별 유니트로 절단하면 소망하는 칩 스케일 패키지가 완성된다.Each individual unit that has undergone this downset process is transferred to another process so that the semiconductor chip is mounted on the die pad and wire bonded. Then, the molding material is filled onto the assembly unit to form a single window, and then cut into each individual unit using a sawing device to complete the desired chip scale package.

도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 제2 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립을 도시한 것이다.4A-4C show a chip scale package strip according to a second embodiment of the present invention.

여기서, 앞서 도시된 도면에서와 동일한 참조번호는 동일한 기능을 하는 동일한 부재를 가리킨다. 또한, 본 실시예의 특징부만 발췌하여 설명하기로 한다.Here, the same reference numerals as in the above-described drawings indicate the same members having the same function. In addition, only the features of the present embodiment will be described in detail.

우선적으로, 상기 금속판(31)상에 제1 집합 유니트(410)의 제1,2,5,6열 개별 유니트(G1)(G2)(G5)(G6)를 제1 순위로 타발하게 된다.(도 4a)First, the first, second, fifth, and sixth row individual units G1, G2, G5, and G6 of the first assembly unit 410 are punched out on the metal plate 31 in the first order. (FIG. 4A)

첫번째 타발이 완료되면, 상기 제1 집합 유니트(410)중에서 타발되지 않은 부분인 제3,4열 개별 유니트(G3)(G4)를 제2 순위로 타발하게 된다. 이때, 상기 제1 집합 유니트(410)의 다음 위치에 배치된 제2 집합 유니트(420)는 첫번째 타발이 가하여져 제1,2,5,6열 개별 유니트(H1)(H2)(H5)(H6)에 대한 타발이 이루어진다.(도 4b)When the first punching is completed, the third and fourth row individual units G3 and G4, which are not part of the first assembly unit 410, are punched in the second order. At this time, the second assembly unit 420 disposed at the next position of the first assembly unit 410 is subjected to the first punching, so that the first, second, fifth, and sixth row individual units H1, H2, H5 ( H6) is made (Fig. 4b).

상기와 같은 방식으로 타발을 하여 금속판(31)상에 집합 유니트는 일련의 다운셋 공정을 완료하게 된다. 즉, 제3 순위로, 상기 제2 집합 유니트(420)의 제3,4열 개별 유니트(H3)(H4)를 타발함과 동시에, 제3 집합 유니트(430)의 제1,2,5,6열 개별 유니트(I1)(I2)(I5)(I6)의 타발이 수행된다. In the same manner as described above, the assembly unit on the metal plate 31 completes a series of downset processes. That is, in the third order, the first and second row units of the second and second row units 420 and the third and fourth row individual units H3 and H4 are punched. The punching of the six-row individual units I1 (I2) (I5) (I6) is carried out.

제4 순위에서는 상기 제3 집합 유니트(430)의 제3,4열 개별 유니트(I3)(I4)와, 제4 집합 유니트(440)의 제1,2,5,6열 개별 유니트(J1)(J2)(J5)(J6)의 타발이 완료된다. In the fourth rank, the third and fourth row individual units I3 and I4 of the third aggregation unit 430 and the first, second, fifth and sixth row individual units J1 of the fourth aggregation unit 440. The punching of (J2) (J5) and J6 is completed.

마지막으로, 제5 순위에서는 상기 제4 집합 유니트(440)의 제3,4열 개별 유니트(J3)(J4)의 타발이 완료된다. Finally, in the fifth ranking, the punching of the third and fourth row individual units J3 and J4 of the fourth assembly unit 440 is completed.

이에 따라, 컨베이어상에 이송되는 스트립(30) 상의 각 개별 유니트들은 집합 유니트별로 두 단계의 금형타발로 다운셋 공정을 완성하게 된다.Accordingly, each individual unit on the strip 30 to be transferred on the conveyor completes the downset process by two steps of mold punching for each assembly unit.

도 5는 본 발명의 제3 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립을 도시한 것이다. Figure 5 shows a strip for a chip scale package according to a third embodiment of the present invention.

여기서, 앞서 도시된 도면에서와 동일한 참조번호는 동일한 기능을 하는 동 일한 부재를 가리킨다. 또한, 본 실시예의 특징부만 발췌하여 설명하기로 한다.Here, the same reference numerals as in the above-described drawings indicate the same members having the same function. In addition, only the features of the present embodiment will be described in detail.

도면을 참조하면, 상기 스트립(30)은 금속판(31)상에서 하나의 집합 유니트를 이루는 각 개별 유니트가 8행×8열로 배치되어 있다.Referring to the drawings, the strips 30 are arranged on the metal plate 31, each individual unit constituting one assembly unit in eight rows by eight columns.

제1 단계에서는 제1,3,5,7열이 타발되고, 제2 단계에서는 그 나머지 열인 제2,4,6,8열이 타발된다.In the first step, the first, third, fifth, and seventh rows are punched out, and in the second step, the remaining rows, the second, fourth, sixth, and eighth rows, are punched.

즉, 제1 순위에서는 제1 집합 유니트(510)의 제1,3,5,7열(K1)(K3)(K5)(K7) 개별 유니트가 타발되고, 제2 순위에서는 제1 집합 유니트(510)의 나머지 열인 제2,4,6,8열(K2)(K4)(K6)(K8)이 타발됨과 동시에, 제2 집합 유니트(520)의 제1,3,5,7열(L1)(L3)(L5)(L7)이 공히 타발된다. 제3 순위에서는 제2 집합 유니트(520)의 나머지 열인 제2,4,6,8열(L2)(L4)(L6)(L8)이 타발됨과 동시에, 제3 집합 유니트(530)의 제1,3,5,7열(M1)(M3)(M5)(M7)열이 공히 타발된다. That is, in the first rank, the individual units of the first, third, fifth, and seventh columns K1, K3, K5, and K7 of the first aggregation unit 510 are punched out, and in the second ranking, the first aggregation unit ( The second, fourth, sixth, and eighth columns K2, K4, K6, and K8, which are the remaining columns of the 510, are punched and the first, third, fifth, and seventh columns of the second assembly unit 520 (L1). ) L3, L5, and L7 are both punched out. In the third rank, the second, fourth, sixth, and eighth columns L2, L4, L6, and L8, which are the remaining columns of the second aggregation unit 520, are punched and at the same time, the first of the third aggregation unit 530. Rows 3, 5, 7 (M1) (M3) (M5) (M7) are all punched out.

그리고, 제4 순위에서는 제3 집합 유니트(530)의 나머지 열인 제2,4,6,8열(M2)(M4)(M6)(M8)이 타발됨과 동시에, 제4 집합 유니트(540)의 제1,3,5,7열(N1)(N3)(N5)(N7)열이 공히 타발된다. 마지막으로, 제5 순위에서는 제4 집합 유니트(540)의 나머지 열인 제2,4,6,8열(N2)(N4)(N6)(N8)열이 타발된다. In the fourth ranking, the second, fourth, sixth, and eighth columns M2, M4, M6, and M8, which are the remaining columns of the third aggregation unit 530, are punched out, and at the same time, The first, third, fifth, and seventh rows N1, N3, N5, and N7 are all punched out. Finally, in the fifth rank, the second, fourth, sixth, and eighth columns N2, N4, N6, and N8, which are the remaining columns of the fourth aggregation unit 540, are punched out.

상기와 같은 방식으로 타발하여 금속판(31)상의 각 개별 유니트는 일련의 다운셋 공정을 완료하게 된다.In this way, each individual unit on the metal plate 31 completes a series of downset processes.

도 6은 본 발명의 제4 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립을 도시한 것이다.Figure 6 shows a strip for a chip scale package according to a fourth embodiment of the present invention.

본 실시예에는 제3 실시예의 경우와는 달리 타발되는 열의 순서가 다르다. Unlike the case of the third embodiment, the present embodiment differs in the order of the punched rows.                     

즉, 제1 단계에서는 제1,2,5,6열이 타발되고, 제2 단계에서는 그 나머지 열인 제2,4,6,8열이 타발된다.That is, in the first step, the first, second, fifth, and sixth rows are punched out, and in the second step, the second, second, fourth, sixth, and eighth rows are punched.

보다 상세하게는, 제1 순위에서는 제1 집합 유니트(610)의 제1,2,5,6열(O1)(O2)(O5)(O6) 개별 유니트가 타발된다. 제2 순위에서는 제1 집합 유니트(610)의 나머지 열인 제3,4,7,8열(03)(04)(07)(08)과, 제2 집합 유니트(620)의 제1,2,5,6열(P1)(P2)(P5)(P6)이 공히 타발된다. 제3 순위에서는 제2 집합 유니트(620)의 제3,4,7,8열(P3)(P4)(P7)(P8)과, 제3 집합 유니트(630)의 제1,2,5,6열(Q1)(Q2)(Q5)(Q6)열이 공히 타발된다. 제4 순위에서는 제3 집합 유니트(630)의 나머지 열인 제3,4,7,8열(Q3)(Q4)(Q7)(Q8)과, 제4 집합 유니트(640)의 제1,2,5,6열(R1)(R2)(R5)(R6)열이 공히 타발된다. 마지막으로, 제4 집합 유니트(640)의 나머지 열인 제3,4,7,8열(R3)(R4)(R7)(R8)열이 공히 타발된다. 상기와 같은 방식으로 타발하여 금속판(31)상의 각 개별 유니트는 일련의 다운셋 공정을 완료하게 된다.More specifically, in the first rank, individual units of the first, second, fifth, and sixth columns O1, O2, O5, and O6 of the first assembly unit 610 are punched out. In the second ranking, the third, fourth, seventh, and eighth columns (03) (04) (07) (08), which are the remaining columns of the first aggregation unit (610), and the first, second, Rows 5 and 6 (P1) (P2) (P5) and (P6) are all punched out. In the third rank, the third, fourth, seventh, eighth columns P3, P4, P7, P8 of the second assembly unit 620, and the first, second, fifth, The six rows Q1, Q2, Q5 and Q6 are all punched out. In the fourth rank, the third, fourth, seventh, and eighth columns Q3, Q4, Q7, Q8, which are the remaining columns of the third aggregation unit 630, and the first, second, Rows 5, 6 (R1) (R2) (R5) (R6) are all punched out. Finally, the third, fourth, seventh, and eighth columns R3, R4, R7, and R8 that are the remaining columns of the fourth aggregation unit 640 are all punched out. In this way, each individual unit on the metal plate 31 completes a series of downset processes.

이상의 설명에서와 같이 본 발명의 칩 스케일 패키지용 스트립의 제조방법은 다음과 같은 효과를 얻을 수 있다. As described above, the manufacturing method of the strip for chip scale packages of the present invention can obtain the following effects.

스트립상에 각 개별 유니트가 다수개의 행열로 배치되어서 하나의 집합 유니트를 이루고, 이러한 집합 유니트가 복수개 배치되어 있는 칩 스케일 패키지에서 각 개별 유니트의 크기가 작더라도 일련의 타발순서에 따라 단계적으로 다운셋 공정이 수행하게 됨에 따라 각 집합 유니트에 배치된 개별 유니트의 타발에 대한 불 량율을 현저하게 줄일 수가 있으며, 금형제작 또한 용이하다고 할 수 있다.Each individual unit is arranged in a plurality of rows on a strip to form one aggregation unit, and in a chip scale package in which a plurality of such aggregation units are arranged, even if the size of each individual unit is small, it is gradually downset according to a series of punching orders. As the process is carried out, the defective rate for the punching of the individual units arranged in each assembly unit can be significantly reduced, and the mold manufacturing is also easy.

본 발명은 첨부된 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 보호범위는 첨부된 청구범위에 의해서만 정해져야 할 것이다. Although the present invention has been described with reference to one embodiment shown in the accompanying drawings, this is merely exemplary, and it will be understood by those skilled in the art that various modifications and equivalent other embodiments are possible. Could be. Accordingly, the true scope of protection of the invention should be defined only by the appended claims.

Claims (4)

금속판상에 하나의 칩 스케일 패키지에 해당되는 개별 유니트가 공히 몰딩가능하도록 행렬로 배치된 집합 유니트가 소정간격 이격되게 형성된 스트립의 제조방법에 관한 것으로서,The present invention relates to a method for manufacturing a strip in which assembly units arranged in a matrix are arranged on a metal plate so that individual units corresponding to one chip scale package can be molded together. 금속판이 다운셋 공정을 수행하는 금형내에 인입하는 단계;Introducing a metal plate into a mold for performing a downset process; 상기 금속판에 배치된 집합 유니트의 일부 열을 제1 순위로 타발하는 단계; 및 Punching some rows of the assembly units arranged on the metal plate in a first order; And 상기 금속판에 배치된 집합 유니트의 나머지 열을 제2 순위로 타발하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 칩 스케일 패키지용 스트립의 제조방법.And punching the remaining rows of the assembly unit arranged in the metal plate in a second order. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 집합 유니트의 나머지 열을 제2 순위로 타발하는 단계에서는,In the step of punching the remaining rows of the aggregation unit in the second rank, 상기 집합 유니트의 다음 위치에 배치된 다른 집합 유니트중 상기 제1 순위 에 해당되는 열과 동일한 위치에 있는 열을 공히 타발하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 칩 스케일 패키지용 스트립의 제조방법.The method of manufacturing a strip for chip scale packages further comprising the step of punching out a row at the same position as a row corresponding to the first rank among other assembly units arranged at a next position of the assembly unit. 삭제delete 삭제delete
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