KR100726771B1 - Fabrication method of strip for chip scale package - Google Patents
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Abstract
칩 스케일 패키지용 스트립의 제조방법을 개시한다. 본 발명은 금속판상에 하나의 칩 스케일 패키지에 해당되는 개별 유니트가 공히 몰딩가능하도록 행렬로 배치된 집합 유니트가 소정간격 이격되게 형성된 스트립에 있어서, 금속판이 다운셋 공정을 수행하는 금형내로 인입되고, 금속판에 배치된 집합 유니트의 일부 열을 제1 순위로 타발하고, 금속판에 배치된 집합 유니트의 나머지 열을 제2 순위로 타발하는 것을 포함한다. A method of manufacturing a strip for a chip scale package is disclosed. According to the present invention, in a strip in which assembly units arranged in a matrix are arranged on a metal plate so that individual units corresponding to one chip scale package can be molded together, the metal plate is introduced into a mold for performing a downset process. Punching some rows of the assembly unit arranged on the metal plate in the first rank, and punching the remaining rows of the assembly unit arranged in the metal plate in the second rank.
Description
도 1은 종래의 칩 스케일 패키지용 스트립의 평면도,1 is a plan view of a strip for a conventional chip scale package,
도 2는 통상적인 칩 스케일 패키지를 도시한 단면도,2 is a cross-sectional view showing a conventional chip scale package;
도 3a 내지 도 3c는 본 발명의 제1 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립을 단계적으로 타발한 이후의 상태를 도시한 것으로서,3A to 3C are diagrams illustrating a state after a stepwise punching of the strip for chip scale packages according to the first embodiment of the present invention.
도 3a는 제1 순위의 타발이 수행된 이후의 스트립을 도시한 평면도,3a is a plan view showing the strip after the punching of the first rank is performed;
도 3b는 제2 순위의 타발이 수행된 이후의 스트립을 도시한 평면도,3b is a plan view showing the strip after the second ranking punching is performed,
도 3c는 최종 타발이 수행된 이후의 스트립을 도시한 평면도,3c shows a plan view of the strip after the final punching has been performed,
도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 제2 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립을 단계적으로 타발한 이후의 상태를 도시한 것으로서,4A to 4C are diagrams illustrating a state after stepwise punching of the strip for chip scale packages according to the second embodiment of the present invention.
도 4a는 제1 순위의 타발이 수행된 이후의 스트립을 도시한 평면도,4a is a plan view showing the strip after the punching of the first rank is performed;
도 4b는 제2 순위의 타발이 수행된 이후의 스트립을 도시한 평면도,4b is a plan view showing the strip after the second ranking punching is performed,
도 4c는 최종 타발이 수행된 이후의 스트립을 도시한 평면도,4c is a plan view showing the strip after the final punching has been performed;
도 5는 본 발명의 제3 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립을 단계적으로 타발한 이후의 상태를 도시한 평면도,FIG. 5 is a plan view showing a state after the step for punching the strip for chip scale packages according to the third embodiment of the present invention; FIG.
도 6은 본 발명의 제4 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립을 단계적으 로 타발한 이후의 상태를 도시한 평면도.FIG. 6 is a plan view showing a state after the step for punching the strip for a chip scale package according to the fourth embodiment of the present invention. FIG.
< 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Major Parts of Drawings>
10,30...스트립 11,31...금속판10,30
12,32...개별 유니트 20...칩 스케일 패키지12,32 ...
21...다이패드 23...반도체 칩21.Diode 23.Semiconductor chip
24...와이어 25...리이드부24
33...집합유니트 310...제1 집합 유니트33.
320...제2 집합 유니트 330..제3 집합 유니트320 ...
340...제4 집합 유니트340 ... fourth assembly unit
본 발명은 칩 스케일 패키지용 스트립에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 소우잉 타입의 반도체 패키지 유니트를 공히 다운셋 가능하도록 방법이 개선된 칩 스케일 패키지용 스트립의 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
통상적으로, 리드프레임을 활용한 칩 스케일 패키지(chip scale package,CSP)로는 MLF(micro lead frame), BLP(bottom leaded plastic package), BCC(bumped chip carrier)등이 있다. 이러한 제품은 리드단자를 통하여 외부회로기판과의 전기적 신호를 전달하고 있다.Typically, a chip scale package (CSP) using a lead frame includes a micro lead frame (MLF), a bottom leaded plastic package (BLP), a bumped chip carrier (BCC), and the like. These products deliver electrical signals to external circuit boards through lead terminals.
도 1에 도시된 바와 같이, 스트립(10)에는 금속판(11)상에 하나의 칩 스케일 패키지에 해당하는 개별 유니트(12)가 다수개의 행열로 배치된 상태에서, 각각의 개별 유니트(12)별로 각각 몰딩하여 트리밍(trimming)하게 된다. As shown in FIG. 1, in the
몰딩하기 전에, 상기 개별 유니트(12)는 금형내에서 적어도 하나 이상의 열(A1,A2)순으로 다운셋(down set) 공정을 동시에 수행하게 된다.Prior to molding, the
그러나, 이러한 형태의 스트립(10)의 제조방법은 개별 유니트(12)별로 각 공정을 수행하게 되므로 생산효율이 저하되는 문제점이 있다.However, the manufacturing method of the
최근 들어서는, 하나의 스트립상에 많은 수의 반도체 패키지를 배치하기 위하여 개별 유니트가 행렬로 배열된 집합 유니트를 하나의 윈도우(window)로 하여 전체적인 몰딩을 하는 소우잉 타입(sawing type)의 몰딩 형태를 가지는 칩 스케일 패키지용 스트립이 개발되었다.Recently, in order to arrange a large number of semiconductor packages on one strip, a sawing type molding type is used in which an entire unit is molded by using a single window in which an assembly unit is arranged in a matrix. Eggplant strips for chip-scale packages have been developed.
한편, 상술한 개별 유니트(12)에 해당되는 칩 스케일 패키지는 다이패드가 하부로 노출되어 있어서 이를 외부회로기판에 실장하면 열적팽창으로 인하여 다이패드와 외부회로기판과의 박리현상이 발생하는 문제점이 있다. 이를 방지하기 위하여 다이패드를 상부로 노출시키는 구조가 개발되었다. On the other hand, in the chip scale package corresponding to the
도 2는 이러한 구조의 칩 스케일 패키지(20)를 도시한 것이다.2 shows a
도면을 참조하면, 상기 패키지(20)는 상부로 노출되는 다이패드(21)와, 그 하부에 접착제(22)를 매개로 하여 부착되는 반도체 칩(23)과, 상기 반도체 칩(23)과 와이어(24)에 의하여 와이어본딩되는 리이드부(25)를 포함한다. 상기 리이드부(25)는 하프에칭되어 하부에 노출되어 있다. Referring to the drawings, the
그런데, 상기 칩 스케일 패키지(20)를 개별 유니트로 하여 금속판상에 행렬 로 배열시켜 집합 유니트를 이루게 하여 하나의 윈도우로 형성한 이후에, 각 개별 유니트로 분리하기 위하여 소우잉하는 방식에는 다음과 같은 문제점이 있을 수 있다.However, after the
상기 다이패드(21)를 다운셋하는 공정에서, 각 개별 유니트의 크기가 큰 경우에는 하나의 윈도우를 공히 다운셋하는 것이 가능하나, 각 개별 유니트의 크기가 적은 경우에는 금형 제작상의 문제로 인하여 하나의 윈도우에 해당되는 부분을 하나의 금형으로 공히 타발하여 다운셋하는 공정이 힘들다고 할 수 있다. 또한, 인접하는 개별 유니트간의 리이드부간의 간격이 좁아지게되어서 고정도의 특성을 유지하기가 어렵다. 이에 따라, 스트립으로 공급되는 각 개별 유니트가 배치된 금속판을 효율적으로 타발하는 것이 필요하다고 할 수 있다.In the process of downsetting the
본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 금속판상의 집합 유니트를 순차적으로 타발하여 각 개별 유니트의 다운셋이 효율적으로 가능하도록 한 칩 스케일 패키지용 스트립의 제조방법을 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a method of manufacturing a strip for chip scale packages in which a set unit on a metal plate is sequentially punched out so that downset of each individual unit can be efficiently performed.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 일 측면에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립의 제조방법은,In order to achieve the above object, a method of manufacturing a strip for a chip scale package according to an aspect of the present invention,
금속판상에 하나의 칩 스케일 패키지에 해당되는 개별 유니트가 공히 몰딩가능하도록 행렬로 배치된 집합 유니트가 소정간격 이격되게 형성된 스트립의 제조방법에 관한 것으로서, The present invention relates to a method for manufacturing a strip in which assembly units arranged in a matrix are arranged on a metal plate so that individual units corresponding to one chip scale package can be molded together.
금속판이 다운셋 공정을 수행하는 금형내에 인입하는 단계;Introducing a metal plate into a mold for performing a downset process;
상기 금속판에 배치된 집합 유니트의 일부 열을 제1 순위로 타발하는 단계; 및 Punching some rows of the assembly units arranged on the metal plate in a first order; And
상기 금속판에 배치된 집합 유니트의 나머지 열을 제2 순위로 타발하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.And punching the remaining rows of the assembly unit disposed on the metal plate in a second order.
또한, 상기 집합 유니트의 나머지 열을 제2 순위로 타발하는 단계에서는,Further, in the step of punching the remaining rows of the aggregation unit in the second rank,
상기 집합 유니트의 다음 위치에 배치된 다른 집합 유니트중 상기 제1 순위에 해당되는 열과 동일한 위치에 있는 열을 공히 타발하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.The method may further include a step of simultaneously punching a row at the same position as the row corresponding to the first rank among other aggregation units disposed at the next position of the aggregation unit.
게다가, 상기 집합 유니트내의 각 개별 유니트가 6열로 배치된 경우에는,In addition, when each individual unit in the assembly unit is arranged in six rows,
제1,3,5열에 위치한 각 개별 유니트를 제1 순위로 타발하고, 제2,4,6열에 위치한 각 개별 유니트를 제2 순위로 타발하는 것을 특징으로 한다.Each individual unit located in the first, third, and fifth rows is punched in the first rank, and each individual unit located in the second, fourth, and sixth rows is punched in the second rank.
이하에서 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립의 제조방법을 상세하게 설명하고자 한다.Hereinafter, a method of manufacturing a chip scale package strip according to an exemplary embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 3a 내지 도 3c는 본 발명의 제1 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립을 타발하는 방법을 순차적으로 도시한 것이다.3A to 3C sequentially illustrate a method of punching a strip for a chip scale package according to a first embodiment of the present invention.
도 3a 내지 도 3c를 참조하여 칩 스케일 패키지용 스트립의 제조방법을 설명하면 다음과 같다.Referring to FIGS. 3A to 3C, a method of manufacturing a strip for a chip scale package is as follows.
먼저, 칩 스케일 패키지가 다수개 배치된 스트립(30)이 공급된다. 상기 스트립(30)에는 금속판(31)상에 하나의 칩 스케일 패키지를 개별 유니트(32)로 하고, 상기 개별 유니트(32)가 복수개의 행열로 배치된 하나의 집합 유니트(33)가 그룹별로 소정간격 이격된 상태에서 형성되어 있다. 상기 집합유니트(33)는 하나의 윈도우에 해당되며 추후 반도체 조립공정중에 공히 몰딩이 된다. First, a
본 실시예에서는, 상기 집합 유니트(33)는 6행×6열로 된 개별 유니트(32)로 구성되어 있고, 상기 집합 유니트(33)는 제1 집합 유니트(310), 제2 집합 유니트(320), 제3 집합 유니트(330), 제4 집합 유니트(340)가 상기 금속판(31)상에 소정간격 이격되게 배치되어 있는 구조이다.In this embodiment, the
이러한 형태를 가지는 스트립(30)이 다운셋이 수행되는 금형내로 이송된 다음에는 제1 집합 유니트(310)에 배치된 개별 유니트(32)중에서 제1열 개별 유니트(B1), 제3열 개별 유니트(B3), 제5열 개별 유니트(B5)를 첫번째 그룹으로 하여 제1 순위로 공히 타발하게 된다. After the
상기 제1,3,5열 개별 유니트(B1)(B3)(B5)는 상기 제1 집합 유니트(310)내에서 인접하는 열에 해당되는 개별 유니트가 아니라, 한열씩 그 위치가 이격된 위치에 해당되는 개별 유니트이다. The first, third, and fifth row individual units B1, B3, and B5 are not individual units corresponding to adjacent rows in the
이렇게 한열씩 이격된 상태의 각 개별 유니트를 금형으로 타발하는 것은 개별 유니트의 크기가 작아서 하나의 집합 유니트를 공히 타발시 금형 제작상의 어려움이 있고, 제대로 타발이 이루어지지 않기 때문이다.(도 3a)The punching of each individual unit in the spaced apart state by the mold is because the size of the individual unit is small, there is a difficulty in manufacturing the mold when punching one assembly unit, and the punching is not properly made (Fig. 3a).
이어서, 상기 제1 집합 유니트(310)내에서 제2열 개별 유니트(B2), 제4열 개별 유니트(B4), 제6열 개별 유니트(B6)를 두번째 그룹으로 하여 제2 순위로 타발하게 된다. 이에 따라, 상기 제1 집합 유니트(310)내에 배치된 각 개별 유니트(32)는 다운셋이 완료된다. Subsequently, in the
이때, 상기 제1 집합 유니트(310)의 다음 위치에 배치된 제2 집합 유니트(320)의 제1열 개별 유니트(C1), 제3열 개별 유니트(C3), 제5열 개별 유니트(C5)가 공히 타발이 된다. In this case, the first row individual unit C1, the third row individual unit C3, and the fifth row individual unit C5 of the
이것은 제1 집합 유니트(310)의 두번째 그룹을 타발시 이와 동시에 상기 제2 집합 유니트(320)의 제1,3,5열 개별 유니트(C1)(C3)(C5)가 상기 제1 집합 유니트(310)의 첫번째 그룹을 타발한 금형에 위치하여 타발이 이루어지기 때문에 가능하다. 따라서, 상기 제2 집합 유니트(320)에서는 첫번째 그룹의 타발이 이루어지게 된다.(도 3b)When the second group of the
상기 칩 스케일 패키지의 스트립(30)은 상술한 두 단계의 프레스 공정으로 연속적으로 타발하게 되면, 도 3c에 나타낸 바와 같이, 제2 집합 유니트(320)의 제2,4,6열 개별 유니트(C2)(C4)(C6)를 타발함과 동시에 제3 집합유니트(330)의 제1,3,5열 개별 유니트(D1)(D3)(D5)를 타발할 수가 있다. 제3 순위의 타발이 완료되면, 제1,2 집합 유니트(310)(320)의 각 개별 유니트의 다운셋은 종료가 된다. When the
다음으로, 제3 집합 유니트(330)의 제2,4,6열 개별 유니트(D2)(D4)(D6)를 타발함과 동시에 제4 집합 유니트(340)의 제1,3,5열 개별 유니트(F1)(F3)(F5)를 제4 순위로 타발하게 된다. 이에 따라, 제3 집합 유니트(330)의 각 개별 유니트의 다운셋은 완료가 된다.Next, the second, fourth and sixth row individual units D2, D4 and D6 of the
이어서, 상기 제4 집합 유니트(340)의 제2,4,6열 개별 유니트(F2)(F4)(F6)를 제5 순위로 타발하게 된다. 그 결과로, 상기 금속판(31)상의 각 개별 유니트(32)에 대한 모든 다운셋 공정이 종료가 된다.Subsequently, the second, fourth and sixth row individual units F2, F4 and F6 of the
이처럼, 상기와 같은 방식으로 프로그레시브 금형상에 상기 스트립(31)이 진행하게 될때, 두 단계, 즉, 제1,3,5열에 위치한 집합 유니트의 각 개별 유니트를 제1 순위로 타발하는 단계와, 제2,4,6열에 위치한 집합 유니트의 각 개별 유니트를 제2 순위로 타발하는 단계를 거치게 되어 다운셋 공정을 수행하게 된다. As such, when the
이때, 하나의 집합 유니트의 제2,4,6열을 타발할 동안에, 그 다음에 배치된 다른 집합 유니트의 제1,3,5열의 타발이 동시에 연속적으로 진행하게 되어서 다운셋 공정이 최적의 시간동안 효율적으로 수행되는 것이 가능하다고 할 수 있다. At this time, while the second, fourth, and sixth rows of one assembly unit are punched, the first, the third, and the fifth rows of the next batch unit are continuously driven simultaneously, so that the downset process is optimally timed. It can be said that it can be performed efficiently.
한편, 적어도 세개 이상의 집합 유니트를 동시에 금형으로 타발시에는 금형제작상 막대한 제작비가 들어서 생산효율측면에서 불리하며, 또한, 미세한 개별 유니트의 구조상 그 신뢰성에 문제점을 가지고 있다.On the other hand, when at least three or more assembly units are simultaneously punched into a mold, it is disadvantageous in terms of production efficiency due to enormous manufacturing costs in mold production, and also has a problem in reliability of the fine individual units.
이러한 다운셋 공정을 거친 각 개별 유니트는 다른 공정으로 이송되어 다이패드상에 반도체 칩이 실장되고, 와이어본딩된다. 그리고, 집합 유니트상에 몰딩재를 충진시켜서 하나의 윈도우로 형성시킨다음에, 소우잉 장치를 이용하여 각 개별 유니트로 절단하면 소망하는 칩 스케일 패키지가 완성된다.Each individual unit that has undergone this downset process is transferred to another process so that the semiconductor chip is mounted on the die pad and wire bonded. Then, the molding material is filled onto the assembly unit to form a single window, and then cut into each individual unit using a sawing device to complete the desired chip scale package.
도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 제2 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립을 도시한 것이다.4A-4C show a chip scale package strip according to a second embodiment of the present invention.
여기서, 앞서 도시된 도면에서와 동일한 참조번호는 동일한 기능을 하는 동일한 부재를 가리킨다. 또한, 본 실시예의 특징부만 발췌하여 설명하기로 한다.Here, the same reference numerals as in the above-described drawings indicate the same members having the same function. In addition, only the features of the present embodiment will be described in detail.
우선적으로, 상기 금속판(31)상에 제1 집합 유니트(410)의 제1,2,5,6열 개별 유니트(G1)(G2)(G5)(G6)를 제1 순위로 타발하게 된다.(도 4a)First, the first, second, fifth, and sixth row individual units G1, G2, G5, and G6 of the
첫번째 타발이 완료되면, 상기 제1 집합 유니트(410)중에서 타발되지 않은 부분인 제3,4열 개별 유니트(G3)(G4)를 제2 순위로 타발하게 된다. 이때, 상기 제1 집합 유니트(410)의 다음 위치에 배치된 제2 집합 유니트(420)는 첫번째 타발이 가하여져 제1,2,5,6열 개별 유니트(H1)(H2)(H5)(H6)에 대한 타발이 이루어진다.(도 4b)When the first punching is completed, the third and fourth row individual units G3 and G4, which are not part of the
상기와 같은 방식으로 타발을 하여 금속판(31)상에 집합 유니트는 일련의 다운셋 공정을 완료하게 된다. 즉, 제3 순위로, 상기 제2 집합 유니트(420)의 제3,4열 개별 유니트(H3)(H4)를 타발함과 동시에, 제3 집합 유니트(430)의 제1,2,5,6열 개별 유니트(I1)(I2)(I5)(I6)의 타발이 수행된다. In the same manner as described above, the assembly unit on the
제4 순위에서는 상기 제3 집합 유니트(430)의 제3,4열 개별 유니트(I3)(I4)와, 제4 집합 유니트(440)의 제1,2,5,6열 개별 유니트(J1)(J2)(J5)(J6)의 타발이 완료된다. In the fourth rank, the third and fourth row individual units I3 and I4 of the
마지막으로, 제5 순위에서는 상기 제4 집합 유니트(440)의 제3,4열 개별 유니트(J3)(J4)의 타발이 완료된다. Finally, in the fifth ranking, the punching of the third and fourth row individual units J3 and J4 of the
이에 따라, 컨베이어상에 이송되는 스트립(30) 상의 각 개별 유니트들은 집합 유니트별로 두 단계의 금형타발로 다운셋 공정을 완성하게 된다.Accordingly, each individual unit on the
도 5는 본 발명의 제3 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립을 도시한 것이다. Figure 5 shows a strip for a chip scale package according to a third embodiment of the present invention.
여기서, 앞서 도시된 도면에서와 동일한 참조번호는 동일한 기능을 하는 동 일한 부재를 가리킨다. 또한, 본 실시예의 특징부만 발췌하여 설명하기로 한다.Here, the same reference numerals as in the above-described drawings indicate the same members having the same function. In addition, only the features of the present embodiment will be described in detail.
도면을 참조하면, 상기 스트립(30)은 금속판(31)상에서 하나의 집합 유니트를 이루는 각 개별 유니트가 8행×8열로 배치되어 있다.Referring to the drawings, the
제1 단계에서는 제1,3,5,7열이 타발되고, 제2 단계에서는 그 나머지 열인 제2,4,6,8열이 타발된다.In the first step, the first, third, fifth, and seventh rows are punched out, and in the second step, the remaining rows, the second, fourth, sixth, and eighth rows, are punched.
즉, 제1 순위에서는 제1 집합 유니트(510)의 제1,3,5,7열(K1)(K3)(K5)(K7) 개별 유니트가 타발되고, 제2 순위에서는 제1 집합 유니트(510)의 나머지 열인 제2,4,6,8열(K2)(K4)(K6)(K8)이 타발됨과 동시에, 제2 집합 유니트(520)의 제1,3,5,7열(L1)(L3)(L5)(L7)이 공히 타발된다. 제3 순위에서는 제2 집합 유니트(520)의 나머지 열인 제2,4,6,8열(L2)(L4)(L6)(L8)이 타발됨과 동시에, 제3 집합 유니트(530)의 제1,3,5,7열(M1)(M3)(M5)(M7)열이 공히 타발된다. That is, in the first rank, the individual units of the first, third, fifth, and seventh columns K1, K3, K5, and K7 of the
그리고, 제4 순위에서는 제3 집합 유니트(530)의 나머지 열인 제2,4,6,8열(M2)(M4)(M6)(M8)이 타발됨과 동시에, 제4 집합 유니트(540)의 제1,3,5,7열(N1)(N3)(N5)(N7)열이 공히 타발된다. 마지막으로, 제5 순위에서는 제4 집합 유니트(540)의 나머지 열인 제2,4,6,8열(N2)(N4)(N6)(N8)열이 타발된다. In the fourth ranking, the second, fourth, sixth, and eighth columns M2, M4, M6, and M8, which are the remaining columns of the
상기와 같은 방식으로 타발하여 금속판(31)상의 각 개별 유니트는 일련의 다운셋 공정을 완료하게 된다.In this way, each individual unit on the
도 6은 본 발명의 제4 실시예에 따른 칩 스케일 패키지용 스트립을 도시한 것이다.Figure 6 shows a strip for a chip scale package according to a fourth embodiment of the present invention.
본 실시예에는 제3 실시예의 경우와는 달리 타발되는 열의 순서가 다르다. Unlike the case of the third embodiment, the present embodiment differs in the order of the punched rows.
즉, 제1 단계에서는 제1,2,5,6열이 타발되고, 제2 단계에서는 그 나머지 열인 제2,4,6,8열이 타발된다.That is, in the first step, the first, second, fifth, and sixth rows are punched out, and in the second step, the second, second, fourth, sixth, and eighth rows are punched.
보다 상세하게는, 제1 순위에서는 제1 집합 유니트(610)의 제1,2,5,6열(O1)(O2)(O5)(O6) 개별 유니트가 타발된다. 제2 순위에서는 제1 집합 유니트(610)의 나머지 열인 제3,4,7,8열(03)(04)(07)(08)과, 제2 집합 유니트(620)의 제1,2,5,6열(P1)(P2)(P5)(P6)이 공히 타발된다. 제3 순위에서는 제2 집합 유니트(620)의 제3,4,7,8열(P3)(P4)(P7)(P8)과, 제3 집합 유니트(630)의 제1,2,5,6열(Q1)(Q2)(Q5)(Q6)열이 공히 타발된다. 제4 순위에서는 제3 집합 유니트(630)의 나머지 열인 제3,4,7,8열(Q3)(Q4)(Q7)(Q8)과, 제4 집합 유니트(640)의 제1,2,5,6열(R1)(R2)(R5)(R6)열이 공히 타발된다. 마지막으로, 제4 집합 유니트(640)의 나머지 열인 제3,4,7,8열(R3)(R4)(R7)(R8)열이 공히 타발된다. 상기와 같은 방식으로 타발하여 금속판(31)상의 각 개별 유니트는 일련의 다운셋 공정을 완료하게 된다.More specifically, in the first rank, individual units of the first, second, fifth, and sixth columns O1, O2, O5, and O6 of the
이상의 설명에서와 같이 본 발명의 칩 스케일 패키지용 스트립의 제조방법은 다음과 같은 효과를 얻을 수 있다. As described above, the manufacturing method of the strip for chip scale packages of the present invention can obtain the following effects.
스트립상에 각 개별 유니트가 다수개의 행열로 배치되어서 하나의 집합 유니트를 이루고, 이러한 집합 유니트가 복수개 배치되어 있는 칩 스케일 패키지에서 각 개별 유니트의 크기가 작더라도 일련의 타발순서에 따라 단계적으로 다운셋 공정이 수행하게 됨에 따라 각 집합 유니트에 배치된 개별 유니트의 타발에 대한 불 량율을 현저하게 줄일 수가 있으며, 금형제작 또한 용이하다고 할 수 있다.Each individual unit is arranged in a plurality of rows on a strip to form one aggregation unit, and in a chip scale package in which a plurality of such aggregation units are arranged, even if the size of each individual unit is small, it is gradually downset according to a series of punching orders. As the process is carried out, the defective rate for the punching of the individual units arranged in each assembly unit can be significantly reduced, and the mold manufacturing is also easy.
본 발명은 첨부된 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 보호범위는 첨부된 청구범위에 의해서만 정해져야 할 것이다. Although the present invention has been described with reference to one embodiment shown in the accompanying drawings, this is merely exemplary, and it will be understood by those skilled in the art that various modifications and equivalent other embodiments are possible. Could be. Accordingly, the true scope of protection of the invention should be defined only by the appended claims.
Claims (4)
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JPH07161898A (en) * | 1993-12-13 | 1995-06-23 | Hitachi Cable Ltd | Manufacture of etching lead frame |
JPH09298264A (en) * | 1996-05-02 | 1997-11-18 | Toppan Printing Co Ltd | Lead frame structure |
KR20000029044A (en) * | 1998-10-14 | 2000-05-25 | 세키야 겐이치 | Method of cutting and separating a bent board into individual small divisions |
-
2001
- 2001-07-06 KR KR1020010040465A patent/KR100726771B1/en active IP Right Grant
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