KR100717204B1 - 오실로스코프 대역폭을 자동조정하는 스마트 프로브 장치및 그 방법 - Google Patents
오실로스코프 대역폭을 자동조정하는 스마트 프로브 장치및 그 방법 Download PDFInfo
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Abstract
Description
Claims (22)
- 오실로스코프에 사용하는 스마트 프로브 장치에 있어서,특성 주파수 응답을 갖는 프로브 선단부 및 결합된 전자 장치를 장착하는 하우징,상기 하우징 내에 위치되며, 적어도 상기 특성 주파수 응답을 나타내는 미리 정해진 데이터를 프로세서로 판독가능한 형태로 기억하는 제1 메모리, 그리고상기 제1 메모리와 상기 오실로스코프 사이의 인터페이스를 포함하고,상기 제1 메모리는 상기 프로브가 상기 오실로스코프에 결합되는 것에 응답하여 상기 미리 정해진 데이터를 상기 인터페이스를 거쳐 오실로스코프에 전달하며,상기 미리 정해진 데이터는 복수의 데이터 포인트를 포함하고, 상기 복수의 데이터 포인트 각각은 정해진 주파수에서의 상기 프로브 선단부 및 상기 결합된 전자 장치의 주파수 응답을 주파수 스펙트럼을 따라 나타내는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.프로브 장치.
- 제1항에 있어서,상기 프로브 선단부 및 상기 결합된 전자 장치는, 복합 전달 특성 및 복합 출력 반사율을 더 가지며, 상기 미리 정해진 데이터는 상기 복합 전달 특성 및 복합 출력 반사율을 더 나타내는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
- 제1항에 있어서,프로세서 및 제2 메모리를 더 포함하고,상기 프로세서가, 상기 프로브가 상기 오실로스코프에 결합되는 것에 응답하여 상기 인터페이스를 거쳐 전달된 상기 미리 정해진 데이터를 수신하여 이 데이터를 상기 제2 메모리에 기억하는, 상기 오실로스코프 내에 배치된 제어기를 더 포함하는 프로브 장치.
- 제3항에 있어서,상기 제어기가, 상기 전달된 미리 정해진 데이터를 수신하여 기억한 후, 상기 오실로스코프의 주파수 응답을 조정하여 상기 프로브 선단부 및 상기 결합된 전자 장치의 특성 주파수 응답을 보상하는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
- 제3항에 있어서,상기 제어기가, 상기 전달된 미리 정해진 데이터를 수신하여 기억한 후, 상기 오실로스코프의 주파수 응답을 상기 오실로스코프의 사용자에게 전달하는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
- 제5항에 있어서,상기 제어기가 시각 디스플레이를 통해 상기 오실로스코프의 주파수 응답을 상기 오실로스코프의 사용자에게 전달하는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
- 제3항에 있어서,상기 프로브 선단부 및 상기 결합된 전자 장치는, 복합 전달 특성 및 복합 출력 반사율을 더 가지며, 상기 미리 정해진 데이터는 상기 복합 전달 특성 및 복합 출력 반사율을 더 나타내는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
- 제1항에 있어서,상기 제1 메모리가 판독 전용 메모리(read-only memory: ROM)인 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
- 삭제
- 제1항에 있어서,상기 제1 메모리는 상기 제1 메모리에 기억된 상기 복수의 데이터 포인트의 최소한의 수를 포함하는 헤더를 프로세서로 판독가능한 형태로 더 기억하고, 상기 제1 메모리는 상기 미리 정해진 데이터를 상기 인터페이스를 거쳐 전달하기 전에 상기 헤더를 상기 인터페이스를 거쳐 오실로스코프에 더 전달하는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
- 제10항에 있어서,상기 제1 메모리가 판독 전용 메모리(ROM)인 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
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- 제1항에 있어서,상기 인터페이스가, 동기식이며 또한 클록 신호선을 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
- 제14항에 있어서,상기 인터페이스가 복수의 연결 프로브에 대응하는 복수의 데이터 신호선을 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
- 제14항에 있어서,상기 인터페이스가 인터럽트 신호선을 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
- 제15항에 있어서,상기 인터페이스가 복수의 인터럽트 신호선을 포함하며, 상기 복수의 인터럽트 신호선 각각은 상기 복수의 데이터선 중 하나에 대응하는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
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Families Citing this family (30)
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---|---|---|---|---|
US7308519B2 (en) * | 2003-01-31 | 2007-12-11 | Tektronix, Inc. | Communications bus management circuit |
US7109728B2 (en) * | 2003-02-25 | 2006-09-19 | Agilent Technologies, Inc. | Probe based information storage for probes used for opens detection in in-circuit testing |
US20040239309A1 (en) * | 2003-05-27 | 2004-12-02 | Barr Andrew Harvey | Remotely controllable oscilloscope |
US20050185769A1 (en) * | 2004-02-25 | 2005-08-25 | Pickerd John J. | Calibration method and apparatus |
US6977493B2 (en) * | 2004-03-11 | 2005-12-20 | Santronics, Inc. | Electrical power probe for testing and supplying power to electrical wiring and devices |
US20060210022A1 (en) * | 2005-01-27 | 2006-09-21 | Kan Tan | Apparatus and method for processing acquired signals for arbitrary impedance loads |
US20070041511A1 (en) * | 2005-01-27 | 2007-02-22 | Kan Tan | Apparatus and method for processing a signal under test for measuring the impedance of a device under test |
US20070276614A1 (en) * | 2006-05-25 | 2007-11-29 | Kan Tan | De-embed method for multiple probes coupled to a device under test |
US20070276622A1 (en) * | 2006-05-25 | 2007-11-29 | Pickerd John J | Calibration method and apparatus using a trigger signal synchronous with a signal under test |
US7460983B2 (en) * | 2006-08-23 | 2008-12-02 | Tektronix, Inc. | Signal analysis system and calibration method |
US20070273389A1 (en) * | 2006-05-25 | 2007-11-29 | Kan Tan | Apparatus and method for processing a signal under test using a trigger signal synchronous with the signal under test for arbitrary impedance loads |
US7408406B2 (en) * | 2006-05-24 | 2008-08-05 | Tektronix, Inc. | Mode selection amplifier circuit usable in a signal acquisition probe |
US7660685B2 (en) * | 2006-08-02 | 2010-02-09 | Lecroy Corporation | Virtual probing |
US7405575B2 (en) * | 2006-08-23 | 2008-07-29 | Tektronix, Inc. | Signal analysis system and calibration method for measuring the impedance of a device under test |
US7408363B2 (en) * | 2006-08-23 | 2008-08-05 | Tektronix, Inc. | Signal analysis system and calibration method for processing acquires signal samples with an arbitrary load |
US7414411B2 (en) * | 2006-08-23 | 2008-08-19 | Tektronix, Inc. | Signal analysis system and calibration method for multiple signal probes |
CN101413967B (zh) * | 2007-10-15 | 2011-06-15 | 英业达股份有限公司 | 控制示波器自动化量测的方法 |
KR100949939B1 (ko) * | 2008-03-28 | 2010-03-30 | 주식회사 한영넉스 | 페이퍼 기록계 |
DE102008035374A1 (de) * | 2008-06-06 | 2009-12-10 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | System zum Messen von Hochfrequenzsignalen mit normierter Stromversorguns- und Datenschnittstelle |
US9075696B2 (en) * | 2009-03-09 | 2015-07-07 | Tektronix, Inc. | Apparatus and method for performing burst triggering in a test and measurement instrument |
US9140723B2 (en) * | 2010-10-01 | 2015-09-22 | Tektronix, Inc. | Signal acquisition probe storing compressed or compressed and filtered time domain impulse or step response data for use in a signal measurement system |
CN102565478A (zh) * | 2010-12-30 | 2012-07-11 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 示波器数据处理系统及方法 |
CN103364599B (zh) * | 2012-03-29 | 2017-12-22 | 北京普源精电科技有限公司 | 具有衰减功能的探头、信号采集系统和方法 |
US9194888B2 (en) | 2012-10-11 | 2015-11-24 | Tektronix, Inc. | Automatic probe ground connection checking techniques |
US20150084660A1 (en) * | 2013-09-25 | 2015-03-26 | Tektronix, Inc. | Time-domain reflectometer de-embed probe |
US9209593B2 (en) * | 2013-12-18 | 2015-12-08 | Tektronix, Inc. | Method of controlling electro-optical probe gain and sensitivity |
US9772391B2 (en) | 2014-01-24 | 2017-09-26 | Tektronix, Inc. | Method for probe equalization |
US10768211B2 (en) | 2017-08-25 | 2020-09-08 | Oracle International Corporation | System and method for current sense resistor compensation |
US10886588B2 (en) | 2018-09-26 | 2021-01-05 | Keysight Technologies, Inc. | High dynamic range probe using pole-zero cancellation |
CN113625032A (zh) * | 2021-07-01 | 2021-11-09 | 普源精电科技股份有限公司 | 一种探头测量系统和方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4608532A (en) * | 1982-12-03 | 1986-08-26 | Solomat S.A. | Multi-probe metering apparatus |
US4672306A (en) * | 1985-04-08 | 1987-06-09 | Tektronix, Inc. | Electronic probe having automatic readout of identification and status |
EP0984287A1 (en) * | 1998-08-31 | 2000-03-08 | Hewlett-Packard Company | Oscilloscope probe having stored probe identification |
KR20010072976A (ko) * | 1998-08-31 | 2001-07-31 | 밀러 제리 에이 | 광 원격 제어 인터페이스 시스템 및 방법 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4070615A (en) * | 1976-05-12 | 1978-01-24 | Tektronix, Inc. | Compensation indicator for attenuation probe |
DE3116690C2 (de) * | 1981-04-28 | 1983-09-15 | Rohde & Schwarz GmbH & Co KG, 8000 München | Einrichtung zum Messen von physikalischen Grössen |
US5691635A (en) * | 1996-01-29 | 1997-11-25 | Fluke Corporation | Probe identification system for a measurement instrument |
US5978742A (en) * | 1997-04-04 | 1999-11-02 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus for digital sampling of electrical waveforms |
US6321171B1 (en) * | 1998-04-03 | 2001-11-20 | Tektronix, Inc. | Electronic measurement instrument probe accessory offset, gain, and linearity correction method |
-
2000
- 2000-11-22 US US09/718,718 patent/US6725170B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-11-12 EP EP01309532A patent/EP1209472B1/en not_active Expired - Lifetime
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4608532A (en) * | 1982-12-03 | 1986-08-26 | Solomat S.A. | Multi-probe metering apparatus |
US4672306A (en) * | 1985-04-08 | 1987-06-09 | Tektronix, Inc. | Electronic probe having automatic readout of identification and status |
EP0984287A1 (en) * | 1998-08-31 | 2000-03-08 | Hewlett-Packard Company | Oscilloscope probe having stored probe identification |
KR20010072976A (ko) * | 1998-08-31 | 2001-07-31 | 밀러 제리 에이 | 광 원격 제어 인터페이스 시스템 및 방법 |
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