JPH083511B2 - プローブ装置 - Google Patents
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- JPH083511B2 JPH083511B2 JP61079886A JP7988686A JPH083511B2 JP H083511 B2 JPH083511 B2 JP H083511B2 JP 61079886 A JP61079886 A JP 61079886A JP 7988686 A JP7988686 A JP 7988686A JP H083511 B2 JPH083511 B2 JP H083511B2
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- line
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31908—Tester set-up, e.g. configuring the tester to the device under test [DUT], down loading test patterns
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
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- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
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- G01R31/31908—Tester set-up, e.g. configuring the tester to the device under test [DUT], down loading test patterns
- G01R31/3191—Calibration
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2210/00—Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
- G01B2210/60—Unique sensor identification
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31912—Tester/user interface
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/32—Monitoring with visual or acoustical indication of the functioning of the machine
- G06F11/324—Display of status information
- G06F11/327—Alarm or error message display
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、被試験信号を計測機器に印加するプロー
ブ、特にプローブ自身の識別及び状態に関する情報を測
定機器に送出する自己診断プローブに関する。
ブ、特にプローブ自身の識別及び状態に関する情報を測
定機器に送出する自己診断プローブに関する。
近年、極めて広範な電子機器の出現により、種種多様
な試験／測定（Ｔ＆Ｍ）が要求され、その各々の場合に
適切なテストセツトアツプを行うことが必要とされるよ
うになつた。このセツトアツプには、適切なＴ＆Ｍ機器
と、被試験装置に接続する信号取込プローブが含まれ
る。多くの異なるＴ＆Ｍ状況に対応するためには、使用
するプローブもいくつかの異なる型や構成のものが利用
できるようにする必要がある。
な試験／測定（Ｔ＆Ｍ）が要求され、その各々の場合に
適切なテストセツトアツプを行うことが必要とされるよ
うになつた。このセツトアツプには、適切なＴ＆Ｍ機器
と、被試験装置に接続する信号取込プローブが含まれ
る。多くの異なるＴ＆Ｍ状況に対応するためには、使用
するプローブもいくつかの異なる型や構成のものが利用
できるようにする必要がある。
そのようなプローブには、能動型または受動型、電流
検知型または電圧検知型、インピーダンス整合型があ
る。デジタル装置に対しては、いく本かのデータチヤン
ネルを有し、スレシヨールド、帯域幅、入力抵抗、入力
容量等を調整できるプローブが用いられる。同様に、プ
ローブの出力回路、即ち終端回路にも種々の態様があ
る。デジタル分析器に使用される場合には、そのような
プローブは、測定機器に対してクロツク信号を入力する
クロツク入力や被転送データのクロツク（またはデー
タ）タオリフイケーシヨン入力を有する。また、減衰
量、チヤンネルアクセス等に関するいくつかの内部構成
を有し、これらをスイツチで選択できるようにした多目
的型のプローブもある。同様に、高周波信号に対するプ
ローブの応答を調整するための補償コンデンサやアナロ
グ信号を適切に補償するためのデジタル補償回路を有す
るプローブもある。更に、別個のヘツド、ケーブル、終
端ユニツトを有し、特定の測定条件に合わせてこれらを
適切に組合わせて使用するプローブもある。
検知型または電圧検知型、インピーダンス整合型があ
る。デジタル装置に対しては、いく本かのデータチヤン
ネルを有し、スレシヨールド、帯域幅、入力抵抗、入力
容量等を調整できるプローブが用いられる。同様に、プ
ローブの出力回路、即ち終端回路にも種々の態様があ
る。デジタル分析器に使用される場合には、そのような
プローブは、測定機器に対してクロツク信号を入力する
クロツク入力や被転送データのクロツク（またはデー
タ）タオリフイケーシヨン入力を有する。また、減衰
量、チヤンネルアクセス等に関するいくつかの内部構成
を有し、これらをスイツチで選択できるようにした多目
的型のプローブもある。同様に、高周波信号に対するプ
ローブの応答を調整するための補償コンデンサやアナロ
グ信号を適切に補償するためのデジタル補償回路を有す
るプローブもある。更に、別個のヘツド、ケーブル、終
端ユニツトを有し、特定の測定条件に合わせてこれらを
適切に組合わせて使用するプローブもある。
以上のいずれの場合も、あるいはいわゆる当業者に周
知の他の場合も、“間違つた”プローブ、即ち、正しく
較正あるいは補償されてなかつたり適正な構成でないプ
ローブを使用すると、Ｔ＆Ｍ処理にかなりの誤差が生じ
る。同一型のプローブ同士、あるいは試験機器同士の間
にも微妙な違いが存在し得るので、個々の機器に対して
適正なプローブ及び構成の選択が必要になる。
知の他の場合も、“間違つた”プローブ、即ち、正しく
較正あるいは補償されてなかつたり適正な構成でないプ
ローブを使用すると、Ｔ＆Ｍ処理にかなりの誤差が生じ
る。同一型のプローブ同士、あるいは試験機器同士の間
にも微妙な違いが存在し得るので、個々の機器に対して
適正なプローブ及び構成の選択が必要になる。
このように、測定のセツトアツプを行うことは、複雑
かつ時間を要する作業であることは明らかであろう。こ
の複雑さは、その選択過程のみに起因するのではなく、
その選択を正しく行うための情報を記録保持しておく必
要性にも起因する。
かつ時間を要する作業であることは明らかであろう。こ
の複雑さは、その選択過程のみに起因するのではなく、
その選択を正しく行うための情報を記録保持しておく必
要性にも起因する。
したがつて、Ｔ＆Ｍセツトアツプを行うために必要な
情報に即座にアクセスできれば、または少なくともセツ
トアツプが正しく行われたことを確認できれば有益であ
る。このようなセツトアツプの手助けとして典型的に
は、プローブ自身及びその種々の部品にはそれらの型を
示すラベルが貼付される。同様に、通常、操作者により
減衰器のスイツチ設定が正しいかどうかが確認される。
しかしながら、操作者がプローブを観察してそれが正し
く補償されているかどうか、あるいは内部構成が正しい
かどうかを判定することはできない。また、要求された
型の或る特定のプローブが例えば或る特定のオシロスコ
ープに対して最適であるかどうかを判定するには、何ら
かの外部表示が必要である。よつて、その種の情報が他
の方法、好適にはプローブ自身によつて出力されれば有
益である。
情報に即座にアクセスできれば、または少なくともセツ
トアツプが正しく行われたことを確認できれば有益であ
る。このようなセツトアツプの手助けとして典型的に
は、プローブ自身及びその種々の部品にはそれらの型を
示すラベルが貼付される。同様に、通常、操作者により
減衰器のスイツチ設定が正しいかどうかが確認される。
しかしながら、操作者がプローブを観察してそれが正し
く補償されているかどうか、あるいは内部構成が正しい
かどうかを判定することはできない。また、要求された
型の或る特定のプローブが例えば或る特定のオシロスコ
ープに対して最適であるかどうかを判定するには、何ら
かの外部表示が必要である。よつて、その種の情報が他
の方法、好適にはプローブ自身によつて出力されれば有
益である。
Ｔ＆Ｍ機器にマイクロプロセツサ制御を取り入れるこ
とは、エレクトロニクス分野では常識になりつつある。
そのようなＴ＆Ｍ機器の多くはデジタルデータ及び命令
を送受する機能を有する。また、そのうちのかなりのも
のは処理データを可視表示し、エラーメツセージを出力
する能力を有する。このような機能を有する機器同士間
のインタフエースは、しばしばIEEE−488GPIBのような
標準設計システムを介して行われる。また、ANSI X3.42
のようなコードフオーマツト、及びASCII,EBCDICのよう
なコードを用いる必要がある。例えば、デクトロニツク
ス社の機器では、始めに最上位ビツトを有するASCIIコ
ードが統一して用いられている。
とは、エレクトロニクス分野では常識になりつつある。
そのようなＴ＆Ｍ機器の多くはデジタルデータ及び命令
を送受する機能を有する。また、そのうちのかなりのも
のは処理データを可視表示し、エラーメツセージを出力
する能力を有する。このような機能を有する機器同士間
のインタフエースは、しばしばIEEE−488GPIBのような
標準設計システムを介して行われる。また、ANSI X3.42
のようなコードフオーマツト、及びASCII,EBCDICのよう
なコードを用いる必要がある。例えば、デクトロニツク
ス社の機器では、始めに最上位ビツトを有するASCIIコ
ードが統一して用いられている。
しかしながら、従来、被試験装置からの電気信号デー
タ以外の何らかの情報を伝送する電気または電子プロー
ブは殆んど存在しなかつた。特に、全体の外観やラベル
に印刷された情報以外のプローブ認識情報またはプロー
ブ状態情報が伝送されることは殆んどなかつた。限定さ
れた付加的情報が伝送される例としては、テクトロニツ
クス社製のP6053B,P6055,P6062B,P6063型シリーズの受
動プローブに見ることができる。これらのプローブは、
その減衰量設定の直接デジタルリードアウト情報を接続
されたオシロスコープに送出する。Ｔ＆Ｍ信号以外の情
報をプローブからスクリーンへ伝達する他の例として
は、トレースアイデンテイフイケーシヨン（トレース識
別）機能を有するシステムに見られる。即ち、デユアル
トレースモード動作中に操作者がプローブチツプのスイ
ツチを操作すると、そのプローブに対応したトレースが
スクリーン上で移動することにより識別表示される。
タ以外の何らかの情報を伝送する電気または電子プロー
ブは殆んど存在しなかつた。特に、全体の外観やラベル
に印刷された情報以外のプローブ認識情報またはプロー
ブ状態情報が伝送されることは殆んどなかつた。限定さ
れた付加的情報が伝送される例としては、テクトロニツ
クス社製のP6053B,P6055,P6062B,P6063型シリーズの受
動プローブに見ることができる。これらのプローブは、
その減衰量設定の直接デジタルリードアウト情報を接続
されたオシロスコープに送出する。Ｔ＆Ｍ信号以外の情
報をプローブからスクリーンへ伝達する他の例として
は、トレースアイデンテイフイケーシヨン（トレース識
別）機能を有するシステムに見られる。即ち、デユアル
トレースモード動作中に操作者がプローブチツプのスイ
ツチを操作すると、そのプローブに対応したトレースが
スクリーン上で移動することにより識別表示される。
このような表示機能以外には、プローブの型名そして
多分その電圧定格のようなものが、プローブ自身とその
ラベルから判るすべてであろう。他の関心ある情報は、
例えばその仕様書やマニユアルから得なければならな
い。その場合でさえ、型仕様表からは、その型の或る特
定のプローブについての詳細な特性、及び異なるケーブ
ルや終端器の使用により生じるその特性の個々の変動に
ついての情報は殆んど得られず、或る時点にプローブが
どのような補償状態にあるか、または特定の場合にどの
ような補償設定をすべきかについては全く判らない。
多分その電圧定格のようなものが、プローブ自身とその
ラベルから判るすべてであろう。他の関心ある情報は、
例えばその仕様書やマニユアルから得なければならな
い。その場合でさえ、型仕様表からは、その型の或る特
定のプローブについての詳細な特性、及び異なるケーブ
ルや終端器の使用により生じるその特性の個々の変動に
ついての情報は殆んど得られず、或る時点にプローブが
どのような補償状態にあるか、または特定の場合にどの
ような補償設定をすべきかについては全く判らない。
したがつて、プローブの組合わせの面と、なし得るす
べてのプローブ調整の面とにおいて一旦プローブ構成が
最適になされた後は、そのプローブが取り外された後で
も再びその情報を得ることができれば便利である。若
し、これができなければ、例えば、再度そのプローブを
適当な信号源に接続して補償をやり直し、また多分ヘツ
ド、ケーブル、終端器の最適な組合わせが行われている
かを他の手段によつて再確認しなければならない。
べてのプローブ調整の面とにおいて一旦プローブ構成が
最適になされた後は、そのプローブが取り外された後で
も再びその情報を得ることができれば便利である。若
し、これができなければ、例えば、再度そのプローブを
適当な信号源に接続して補償をやり直し、また多分ヘツ
ド、ケーブル、終端器の最適な組合わせが行われている
かを他の手段によつて再確認しなければならない。
更に、特定目的のためのプローブ構成情報、どのよう
なＴ＆Ｍ機器に使用すべきかの情報及び適正な補償ある
いは減衰量設定、選択的ケーブル長等の情報をプローブ
自身に提供させることが望ましい。同様に、プローブが
或る特定の測定状況に合わせて接続されたとき、その構
成が適正か否かを判断できる情報が発生されるべきであ
る。
なＴ＆Ｍ機器に使用すべきかの情報及び適正な補償ある
いは減衰量設定、選択的ケーブル長等の情報をプローブ
自身に提供させることが望ましい。同様に、プローブが
或る特定の測定状況に合わせて接続されたとき、その構
成が適正か否かを判断できる情報が発生されるべきであ
る。
そこで、本発明はこのようなプローブを提供すること
を目的としている。
を目的としている。
本発明のプローブ装置によれば、プローブの型名、製
造番号、型仕様データのような状態（ステータス）情報
を記憶するメモリを有する。更に、表示あるいはエラー
メツセージ発生のため、そのような情報をＴ＆Ｍ機器に
伝送する手段がＴ＆Ｍデータ伝送チヤンネルと共に設け
られる。ステータスデータの転送は、Ｔ＆Ｍ機器内また
はプローブ自身内のクロツクによつて制御される。
造番号、型仕様データのような状態（ステータス）情報
を記憶するメモリを有する。更に、表示あるいはエラー
メツセージ発生のため、そのような情報をＴ＆Ｍ機器に
伝送する手段がＴ＆Ｍデータ伝送チヤンネルと共に設け
られる。ステータスデータの転送は、Ｔ＆Ｍ機器内また
はプローブ自身内のクロツクによつて制御される。
さらに、本発明によれば、プローブの実際の使用から
得られるデータがＴ＆Ｍ機器に入力され、ついで後に参
照できるようにプローブ内に記憶される。
得られるデータがＴ＆Ｍ機器に入力され、ついで後に参
照できるようにプローブ内に記憶される。
第１図は、本発明の比較的簡単な原理を示す。プロー
ブコネクタ（10）はメモリ（11）及び制御回路（12）を
内蔵している。被試験装置から信号情報を取り込む通常
の機能は信号線（13）及び接地線（14）によつて行われ
る。この機能は、メモリ（11）及び制御回路（12）が同
じ接地線（14）に接続されていること以外は、従来のも
のであり、本発明を構成するものではない。インテリジ
エントＴ＆Ｍ機器（図示せず）に取り付けられるコネク
タ（10）は、ケーブル（15）でプローブ本体（16）に結
合される。プローブ本体（16）の先端は被試験装置への
接触に用いられる。
ブコネクタ（10）はメモリ（11）及び制御回路（12）を
内蔵している。被試験装置から信号情報を取り込む通常
の機能は信号線（13）及び接地線（14）によつて行われ
る。この機能は、メモリ（11）及び制御回路（12）が同
じ接地線（14）に接続されていること以外は、従来のも
のであり、本発明を構成するものではない。インテリジ
エントＴ＆Ｍ機器（図示せず）に取り付けられるコネク
タ（10）は、ケーブル（15）でプローブ本体（16）に結
合される。プローブ本体（16）の先端は被試験装置への
接触に用いられる。
メモリ（11）は従来のデジタルメモリデバイスであ
り、リードオンリメモリ（ROM）、プログラマブルリー
ドオンリメモリ（PROM）、プログラマブルロジツクアレ
イ（PLA）等でよい。本発明のこの簡単な実施例では、
メモリ（11）には後述する目的に合わせてプローブの製
造時に所定のデジタルデータが書き込まれる。制御回路
（12）は、このように符号化されたメモリ（11）のデジ
タルデータをデータ線（18）を介してＴ＆Ｍ機器へ転送
する動作を制御する。
り、リードオンリメモリ（ROM）、プログラマブルリー
ドオンリメモリ（PROM）、プログラマブルロジツクアレ
イ（PLA）等でよい。本発明のこの簡単な実施例では、
メモリ（11）には後述する目的に合わせてプローブの製
造時に所定のデジタルデータが書き込まれる。制御回路
（12）は、このように符号化されたメモリ（11）のデジ
タルデータをデータ線（18）を介してＴ＆Ｍ機器へ転送
する動作を制御する。
メモリ（11）及び制御回路（12）は共に電力を必要と
するが、これは第１図の如く電力線（19）によつて供給
される。クロツク線（20）は、本発明の後述する種々の
動作のタイミングをとるためにＴ＆Ｍ機器からのクロツ
ク信号を伝送する。例えば、メモリ（11）は１×2kビツ
トのROMであり、制御回路（12）は単なるｋビツトカウ
ンタである。メモリ（11）のデータは、Ｔ＆Ｍ機器から
クロツク線（20）上にクロツク信号を受けると、順次Ｔ
＆Ｍ機器に転送される。
するが、これは第１図の如く電力線（19）によつて供給
される。クロツク線（20）は、本発明の後述する種々の
動作のタイミングをとるためにＴ＆Ｍ機器からのクロツ
ク信号を伝送する。例えば、メモリ（11）は１×2kビツ
トのROMであり、制御回路（12）は単なるｋビツトカウ
ンタである。メモリ（11）のデータは、Ｔ＆Ｍ機器から
クロツク線（20）上にクロツク信号を受けると、順次Ｔ
＆Ｍ機器に転送される。
上述のとおり、データ線（18）、電力線（19）及びク
ロツク線（20）の機能は信号線（13）〔及び接地線（1
4）〕の機能とは区別されるので、Ｔ＆Ｍ機器には別個
の機械的接続を行つてもよい。例えば、第２図のように
データ線（18）、電力線（19）、クロツク線（20）及び
後述する他の線は、従来のステレオプラブ（22）で終端
された別個の多線ケーブル（21）内にまとめてこのステ
レオプラグ（22）をＴ＆Ｍ機器に接続するようにしても
よい。このような接続手段は、特定のプローブが実際に
本発明を具現している明らかな証拠となる。データ線
（18）を介してデータをシルアル転送する際、スタート
／ストツプ・アドレシングは必要ない。データシーケン
スの始めと終りは適正な符号化を行うことによつてＴ＆
Ｍ機器が認識し得る。動作において、ASCIIのような都
合のよいコードを用いる必要がある。そこで、最上位ビ
ツトを０にした、20〜5F（16進）の範囲の８ビツトASCI
Iコードを用いる。データの開始は、８個の０に続いて
８個の１、更に８個の０という３ワードシーケンスで示
される。他方、データの終了は、８個の１に続いて８個
の０、更に８個の１という３ワードシーケンスで示され
る。このような開始／終了の符号化を用いると、1024ビ
ツトメモリでは122個、2048ビツトメモリでは250個のAS
CIIワードが使用できる。メモリの不使用ワードには
“スペース”（ASCIIコード20）を書込んでもよい。
ロツク線（20）の機能は信号線（13）〔及び接地線（1
4）〕の機能とは区別されるので、Ｔ＆Ｍ機器には別個
の機械的接続を行つてもよい。例えば、第２図のように
データ線（18）、電力線（19）、クロツク線（20）及び
後述する他の線は、従来のステレオプラブ（22）で終端
された別個の多線ケーブル（21）内にまとめてこのステ
レオプラグ（22）をＴ＆Ｍ機器に接続するようにしても
よい。このような接続手段は、特定のプローブが実際に
本発明を具現している明らかな証拠となる。データ線
（18）を介してデータをシルアル転送する際、スタート
／ストツプ・アドレシングは必要ない。データシーケン
スの始めと終りは適正な符号化を行うことによつてＴ＆
Ｍ機器が認識し得る。動作において、ASCIIのような都
合のよいコードを用いる必要がある。そこで、最上位ビ
ツトを０にした、20〜5F（16進）の範囲の８ビツトASCI
Iコードを用いる。データの開始は、８個の０に続いて
８個の１、更に８個の０という３ワードシーケンスで示
される。他方、データの終了は、８個の１に続いて８個
の０、更に８個の１という３ワードシーケンスで示され
る。このような開始／終了の符号化を用いると、1024ビ
ツトメモリでは122個、2048ビツトメモリでは250個のAS
CIIワードが使用できる。メモリの不使用ワードには
“スペース”（ASCIIコード20）を書込んでもよい。
メモリ（11）内に符号化されるデータは、プローブの
型名や個々の製造番号等である。通常、型仕様書に載つ
ているようなデータを含んでもよい。プローブ内に符号
化されるデータ量は、当然ながらメモリ（11）のサイズ
によつて制限される。
型名や個々の製造番号等である。通常、型仕様書に載つ
ているようなデータを含んでもよい。プローブ内に符号
化されるデータ量は、当然ながらメモリ（11）のサイズ
によつて制限される。
本発明自身は、“インテリジエント”という言葉を付
して呼ばれるＴ＆Ｍ機器が有しているような種々の機能
を達成しようとするものではない。これらの機能は、そ
のようなＴ＆Ｍ機器（例えばオシロスコープ）あるいは
一般にコンピユータやマイクロプロセツサで制御される
装置において周知であり、そこで、上述のとおり、この
ような技術をより有効に利用するために標準コードフオ
ーマツトが考え出された。本発明はインテリジエント機
能を必須とするものではないが、インテリジエント機能
の環境内で説明した方が、本発明の以下の実施例及びそ
の作用効果がよりよく理解されよう。
して呼ばれるＴ＆Ｍ機器が有しているような種々の機能
を達成しようとするものではない。これらの機能は、そ
のようなＴ＆Ｍ機器（例えばオシロスコープ）あるいは
一般にコンピユータやマイクロプロセツサで制御される
装置において周知であり、そこで、上述のとおり、この
ような技術をより有効に利用するために標準コードフオ
ーマツトが考え出された。本発明はインテリジエント機
能を必須とするものではないが、インテリジエント機能
の環境内で説明した方が、本発明の以下の実施例及びそ
の作用効果がよりよく理解されよう。
上述のように、Ｔ＆Ｍ機器が、デジタルデータを記憶
する機能を有することは周知である。このことは、勿論
その機器が本発明を有効に利用するための要件であり、
データ線（18）を介してデータをその機器に伝送しよう
とするものである。更に、第１図を参照して説明した本
発明の実施例を採用するには、上記機器は、クロツク線
（20）上に適切なクロツク信号を発生・送出し得ること
が必要とされる。しかし、本発明の他の実施例ではＴ＆
Ｍ機器からクロツク信号を送出する必要性をなくし、ケ
ーブル（21）内の信号線を１本〔クロツク線（20）〕を
除去することもできる。
する機能を有することは周知である。このことは、勿論
その機器が本発明を有効に利用するための要件であり、
データ線（18）を介してデータをその機器に伝送しよう
とするものである。更に、第１図を参照して説明した本
発明の実施例を採用するには、上記機器は、クロツク線
（20）上に適切なクロツク信号を発生・送出し得ること
が必要とされる。しかし、本発明の他の実施例ではＴ＆
Ｍ機器からクロツク信号を送出する必要性をなくし、ケ
ーブル（21）内の信号線を１本〔クロツク線（20）〕を
除去することもできる。
第３図は、本発明のそのような原理を示す。この実施
例では、プローブコネクタ（10）は更に発振器（23）を
内蔵する。発振器（23）は従来構成のものでよく、接地
線（14）及び電力線（19）に接続される。発振器（23）
はタイミングパルスを制御回路（12）に与えて、上述の
如くメモリ（11）からデータ線（18）にデジタルデータ
を送出させる。
例では、プローブコネクタ（10）は更に発振器（23）を
内蔵する。発振器（23）は従来構成のものでよく、接地
線（14）及び電力線（19）に接続される。発振器（23）
はタイミングパルスを制御回路（12）に与えて、上述の
如くメモリ（11）からデータ線（18）にデジタルデータ
を送出させる。
発振器（23）は、Ｔ＆Ｍ機器内のクロツク信号の周波
数に近い周波数で動作するよう構成されるが、同期はし
なくてもよい。このような同期化を行うためには、Ｔ＆
Ｍ機器は発振器（23）の周波数を決定し得ることが必要
となる。そこで、Ｔ＆Ｍ機器はデータ線上に現われるデ
ータをそのデータより速い速度〔例えば発振器（23）の
４倍の周波数〕でサンプリングできなければならない。
データワードに別の符号化を使用することにより、それ
らワードがＴ＆Ｍ機器に現われるとき計数することが可
能になる。
数に近い周波数で動作するよう構成されるが、同期はし
なくてもよい。このような同期化を行うためには、Ｔ＆
Ｍ機器は発振器（23）の周波数を決定し得ることが必要
となる。そこで、Ｔ＆Ｍ機器はデータ線上に現われるデ
ータをそのデータより速い速度〔例えば発振器（23）の
４倍の周波数〕でサンプリングできなければならない。
データワードに別の符号化を使用することにより、それ
らワードがＴ＆Ｍ機器に現われるとき計数することが可
能になる。
そのような符号化を表Ｉに示す。
Ｉ MSB LSB A0−AF 1010 xxxx B0−BF 1011 xxxx 40−4F 0100 xxxx 50−5F 0101 xxxx 夫々20−2F及び30−3FをA0−AF及びB0−BFで置き換える
ことにより、各ワードの最上位ビツト（MSB）が最初に
送出されるならば、いずれの場合も１ワードの出現は２
個の０に挟まれた１、または２個の１に挟まれた０によ
つて判る。このようなビツトパターンに応答するよう符
号化されたＴ＆Ｍ機器内のカウンタは、各ワードが表わ
れる度にそれを計数し、そのデータを発振器との同期化
のためにＴ＆Ｍ機器内のメモリに記憶する。
ことにより、各ワードの最上位ビツト（MSB）が最初に
送出されるならば、いずれの場合も１ワードの出現は２
個の０に挟まれた１、または２個の１に挟まれた０によ
つて判る。このようなビツトパターンに応答するよう符
号化されたＴ＆Ｍ機器内のカウンタは、各ワードが表わ
れる度にそれを計数し、そのデータを発振器との同期化
のためにＴ＆Ｍ機器内のメモリに記憶する。
以上の本発明の実施例では、永久的に符号化したデー
タを用いたが、製造後、即ちＴ＆Ｍ機器と共に用いると
きにプログラムできるようにしてもよい。これにより、
特定の測定条件に関するデータをメモリ（11）内に不揮
発的に記憶させることができる。
タを用いたが、製造後、即ちＴ＆Ｍ機器と共に用いると
きにプログラムできるようにしてもよい。これにより、
特定の測定条件に関するデータをメモリ（11）内に不揮
発的に記憶させることができる。
詳細には、第４図に示すように、本発明の実施例のコ
ネクタ（10）は上述のメモリ（11）の代りに電気的変更
可能なリードオンリメモリ（EAROM:Electrically Alter
able ROM）（11′）を内蔵する。更に、EAROM（11′）
からケーブル（21）を通してリード／ライト（R/W）線
（24）がＴ＆Ｍ機器に接続される。この実施例の他の部
分は第１図の実施例と同じである。
ネクタ（10）は上述のメモリ（11）の代りに電気的変更
可能なリードオンリメモリ（EAROM:Electrically Alter
able ROM）（11′）を内蔵する。更に、EAROM（11′）
からケーブル（21）を通してリード／ライト（R/W）線
（24）がＴ＆Ｍ機器に接続される。この実施例の他の部
分は第１図の実施例と同じである。
第４図の実施例に対してプローブとＴ＆Ｍ機器間の信
号／接地接続以外の接続について変更を行い、ケーブル
（21）内の線数を４から３にすることもできる。即ち、
第５図に示すように、リード／ライト−クロツク（RW
C）線（25）を設けて、リード／ライト信号及びクロツ
ク信号はコネクタ（10）の中で分離する。第５図の拡大
部分は、コンデンサ（26）と比較器（27）とを含み、こ
れらが両信号を従来手法で分離する。
号／接地接続以外の接続について変更を行い、ケーブル
（21）内の線数を４から３にすることもできる。即ち、
第５図に示すように、リード／ライト−クロツク（RW
C）線（25）を設けて、リード／ライト信号及びクロツ
ク信号はコネクタ（10）の中で分離する。第５図の拡大
部分は、コンデンサ（26）と比較器（27）とを含み、こ
れらが両信号を従来手法で分離する。
第４図または第５図の実施例を採用するには、Ｔ＆Ｍ
機器は、まず第４図の実施例ではR/W線（24）を介してR
/W信号を送出し、第５図の実施例ではRWC線（25）を介
してRWC信号を送出する第１の機能と、更に、EAROM（1
1′）に記憶されるべきデジタルデータをデータ線（1
8）を介して送出する第２の機能を有することが必要で
ある。このデータは、Ｔ＆Ｍセツトアツプを助けるため
に、プローブ製造時には得られなかつた。プローブの実
際の使用によつて得られる情報を含んでもよい。この情
報は例えば特定の補償データ（即ち、どの特定Ｔ＆Ｍ機
器に対して補償がなされたか、その補償はいつなされた
か、その結果、適正な補償のためにどのような特定のプ
ローブセツテイングがなされたか）等の項目である。ま
た、Ｔ＆Ｍ機器は、キー入力等による使用者からの入力
データを受け入れ、上述のようにEAROM（11′）への書
込のために記憶する機能が必要である。
機器は、まず第４図の実施例ではR/W線（24）を介してR
/W信号を送出し、第５図の実施例ではRWC線（25）を介
してRWC信号を送出する第１の機能と、更に、EAROM（1
1′）に記憶されるべきデジタルデータをデータ線（1
8）を介して送出する第２の機能を有することが必要で
ある。このデータは、Ｔ＆Ｍセツトアツプを助けるため
に、プローブ製造時には得られなかつた。プローブの実
際の使用によつて得られる情報を含んでもよい。この情
報は例えば特定の補償データ（即ち、どの特定Ｔ＆Ｍ機
器に対して補償がなされたか、その補償はいつなされた
か、その結果、適正な補償のためにどのような特定のプ
ローブセツテイングがなされたか）等の項目である。ま
た、Ｔ＆Ｍ機器は、キー入力等による使用者からの入力
データを受け入れ、上述のようにEAROM（11′）への書
込のために記憶する機能が必要である。
Ｔ＆Ｍ機器がEAROM（11′）の記憶情報を利用するに
は、Ｔ＆Ｍ機器はデータ線（18）を介してデータを読出
し、それを何らかの方法で使用者に知らせる機能を持た
なければならない。その方法は、簡単なスクリーンデイ
スプレイによるものでもよく、また、あるプローブが今
まで組合わされたことのない特定のＴ＆Ｍ機器に接続さ
れた等のエラーメツセージ発生によるものでもよい。こ
のような、あるいは上述のようなＴ＆Ｍ機器のみに関係
する手順は、本発明の一部を構成するものではない。
は、Ｔ＆Ｍ機器はデータ線（18）を介してデータを読出
し、それを何らかの方法で使用者に知らせる機能を持た
なければならない。その方法は、簡単なスクリーンデイ
スプレイによるものでもよく、また、あるプローブが今
まで組合わされたことのない特定のＴ＆Ｍ機器に接続さ
れた等のエラーメツセージ発生によるものでもよい。こ
のような、あるいは上述のようなＴ＆Ｍ機器のみに関係
する手順は、本発明の一部を構成するものではない。
本発明は、そのような手順を電子試験／測定手順の一
部及びその援助として上述の如く使用している。そのた
めに、以上の説明では、プローブ内のEAROM（11）のよ
うなメモリに書込／読出される種々の情報の特定例を挙
げ、また本発明の実施例についても特定のものを挙げた
が、本発明はこれらに限定されることなくその要旨を逸
脱しない範囲で種々の変形・変更を行い得るものであ
る。
部及びその援助として上述の如く使用している。そのた
めに、以上の説明では、プローブ内のEAROM（11）のよ
うなメモリに書込／読出される種々の情報の特定例を挙
げ、また本発明の実施例についても特定のものを挙げた
が、本発明はこれらに限定されることなくその要旨を逸
脱しない範囲で種々の変形・変更を行い得るものであ
る。
本発明のプローブ装置では、電子計測機器及びプロー
ブ装置間でデータ通信を行うためのデータ線を含む外部
ケーブルは、プローブ・コネクタから引き出されてプラ
グを介して電子計測機器に接続され、プローブ・コネク
タは取り込んだ信号のみを電気計測機器に伝送する。よ
って、プローブ・コネクタにBNC型等のコネクタを使用
すると、一般のインテリジェント機能を持たない電子計
測機器にも本発明のプローブ装置を使用できる。さら
に、記憶手段は、その記憶データを電気的に変更可能で
あるので、電子計測機器からデータ線を介して記憶手段
にデータを記憶できると共に、記憶手段に記憶されたデ
ータをデータ線を介して電子計測機器に伝送できる。よ
って、プローブの製造時に得られなかった特定の補償デ
ータ等の種々の情報を後から記憶手段に記憶させること
ができる。
ブ装置間でデータ通信を行うためのデータ線を含む外部
ケーブルは、プローブ・コネクタから引き出されてプラ
グを介して電子計測機器に接続され、プローブ・コネク
タは取り込んだ信号のみを電気計測機器に伝送する。よ
って、プローブ・コネクタにBNC型等のコネクタを使用
すると、一般のインテリジェント機能を持たない電子計
測機器にも本発明のプローブ装置を使用できる。さら
に、記憶手段は、その記憶データを電気的に変更可能で
あるので、電子計測機器からデータ線を介して記憶手段
にデータを記憶できると共に、記憶手段に記憶されたデ
ータをデータ線を介して電子計測機器に伝送できる。よ
って、プローブの製造時に得られなかった特定の補償デ
ータ等の種々の情報を後から記憶手段に記憶させること
ができる。
【図面の簡単な説明】 第１図は本発明の原理のブロツク図、第２図は本発明の
プローブ装置を電子計測機器に接続する手段の概略斜視
図、第３図は本発明の他の原理のブロツク図、第４図は
本発明の実施例のブロツク図、第５図は第４図の装置の
変形例を示す一部拡大ブロツク図である。 図中、（10）はプローブ・コネクタ、（11）は記憶手
段、（12）は制御手段、（13）は信号線、（16）はプロ
ーブ本体、（18）はデータ線、（21）は外部ケーブル、
（22）はプラグである。
プローブ装置を電子計測機器に接続する手段の概略斜視
図、第３図は本発明の他の原理のブロツク図、第４図は
本発明の実施例のブロツク図、第５図は第４図の装置の
変形例を示す一部拡大ブロツク図である。 図中、（10）はプローブ・コネクタ、（11）は記憶手
段、（12）は制御手段、（13）は信号線、（16）はプロ
ーブ本体、（18）はデータ線、（21）は外部ケーブル、
（22）はプラグである。
Claims (1)
- 【請求項１】被試験装置から電気信号を受けて、該電気
信号をインテリジェント機能を有する電子計測機器に伝
送するプローブ装置において、 被試験装置に接続されるプローブ本体と、 該プローブ本体で取り込んだ信号を伝送する信号線及び
接地線に接続され、上記電子計測機器に結合されるプロ
ーブ・コネクタと、 該プローブ・コネクタに内蔵され、少なくとも上記プロ
ーブ装置の特性に関係するデータを記憶し、且つ記憶内
容を電気的に変更可能な記憶手段と、 上記プローブ・コネクタから引き出され、上記記憶手段
及び上記電子機器の間でデータ通信を行うためのデータ
線を含み、上記電子計測機器に結合されるプラグで終端
された外部ケーブルと、 上記プローブ・コネクタに内蔵され、上記プローブ装置
の内部又は外部で発生したタイミング信号に従って、上
記電子計測機器から上記データ線を介して上記記憶手段
に上記データを記憶する動作及び上記記憶手段に記憶さ
れた上記データを上記データ線を介して上記電子計測機
器に伝送する動作を制御する制御手段とを具えることを
特徴とするプローブ装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US720762 | 1985-04-08 | ||
| US06/720,762 US4672306A (en) | 1985-04-08 | 1985-04-08 | Electronic probe having automatic readout of identification and status |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61235763A JPS61235763A (ja) | 1986-10-21 |
| JPH083511B2 true JPH083511B2 (ja) | 1996-01-17 |
Family
ID=24895188
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61079886A Expired - Lifetime JPH083511B2 (ja) | 1985-04-08 | 1986-04-07 | プローブ装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4672306A (ja) |
| EP (1) | EP0201181B1 (ja) |
| JP (1) | JPH083511B2 (ja) |
| CA (1) | CA1241060A (ja) |
| DE (1) | DE3675575D1 (ja) |
Families Citing this family (44)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4758779A (en) * | 1986-04-07 | 1988-07-19 | Tektronix, Inc. | Probe body for an electrical measurement system |
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| AU1809888A (en) * | 1987-05-22 | 1988-12-21 | Omega Engineering, Inc. | Test meters |
| US5050106A (en) * | 1987-10-07 | 1991-09-17 | Omron Tateisi Electronics Co. | Article recognizing system |
| US4840066A (en) * | 1988-06-27 | 1989-06-20 | Ndt Instruments, Inc. | Ultrasonic thickness gauge having automatic transducer recognition and parameter optimization and method thereof |
| US5162725A (en) * | 1989-08-21 | 1992-11-10 | Alnor Instrument Company | Modular metering instrument including multiple sensing probes |
| DE69133634D1 (de) | 1990-10-19 | 2010-08-26 | Univ St Louis | System zur Lokalisierung einer chirurgischen Sonde relativ zum Kopf |
| US6347240B1 (en) | 1990-10-19 | 2002-02-12 | St. Louis University | System and method for use in displaying images of a body part |
| US5603318A (en) * | 1992-04-21 | 1997-02-18 | University Of Utah Research Foundation | Apparatus and method for photogrammetric surgical localization |
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| US5546082A (en) * | 1994-04-22 | 1996-08-13 | Rosemount Analytical Inc. | Measurement probe with improved analog-to-digital conversion |
| ATE262844T1 (de) | 1994-10-07 | 2004-04-15 | Univ St Louis | Vorrichtung zur benutzung mit einem chirurgischen navigationssystem |
| US6978166B2 (en) * | 1994-10-07 | 2005-12-20 | Saint Louis University | System for use in displaying images of a body part |
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| US6021343A (en) | 1997-11-20 | 2000-02-01 | Surgical Navigation Technologies | Image guided awl/tap/screwdriver |
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| US6351112B1 (en) * | 1998-08-31 | 2002-02-26 | Agilent Technologies, Inc. | Calibrating combinations of probes and channels in an oscilloscope |
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| US6517359B1 (en) | 1999-05-21 | 2003-02-11 | Agilent Technologies, Inc. | System and method for mating electrical connections |
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| US9188606B2 (en) | 2013-04-29 | 2015-11-17 | Keysight Technologies, Inc. | Oscilloscope current probe with interchangeable range and sensitivity setting modules |
| US11287445B2 (en) | 2018-10-29 | 2022-03-29 | Keysight Technologies, Inc. | Oscilloscope probe identification |
| CN115469125A (zh) * | 2022-10-13 | 2022-12-13 | 普源精电科技股份有限公司 | 示波器探头、探头检测方法、装置、示波器、系统及介质 |
Family Cites Families (9)
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1985
- 1985-04-08 US US06/720,762 patent/US4672306A/en not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-03-18 CA CA000504373A patent/CA1241060A/en not_active Expired
- 1986-03-26 DE DE8686302244T patent/DE3675575D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-03-26 EP EP86302244A patent/EP0201181B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-04-07 JP JP61079886A patent/JPH083511B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
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|---|---|
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| JPS61235763A (ja) | 1986-10-21 |
| EP0201181B1 (en) | 1990-11-14 |
| US4672306A (en) | 1987-06-09 |
| CA1241060A (en) | 1988-08-23 |
| EP0201181A1 (en) | 1986-12-17 |
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