KR100705248B1 - Semiconductor package and method for manufacturing the same - Google Patents
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Abstract
본 발명은 반도체 패키지 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 칩 적층형 반도체 패키지의 제조 추세에 따라, 회로필름 부재를 이용하여 반도체 칩을 상하로 적층되게 부착하되, 상부칩의 본딩패드는 회로필름의 전도성패턴과 플립칩 본딩 방식으로, 하부칩의 본딩패드에는 회로필름의 전도성패턴이 직접 탭 본딩되는 방식을 채택하고, 또한 별도의 몰딩공정없이 코팅재로 인캡슐레이션하는 공정을 진행하여 상하칩의 일면이 모두 외부로 노출되도록 한 구조의 반도체 패키지 및 그 제조방법을 제공하고자 한 것이다.The present invention relates to a semiconductor package and a method of manufacturing the same. According to a manufacturing trend of a chip stacked semiconductor package, a semiconductor chip is attached to be stacked up and down using a circuit film member, and the bonding pad of the upper chip is a conductive pattern of the circuit film. In the flip chip bonding method, the conductive pad of the circuit film is directly tab-bonded to the bonding pad of the lower chip, and the encapsulation with the coating material is performed without any molding process. It is an object of the present invention to provide a semiconductor package having a structure that is exposed to the outside and a method of manufacturing the same.
이에, 적층된 상하칩의 일면이 모두 외부로 노출되어, 칩에서 발생하는 열의 방출 효과를 극대화시킬 수 있는 효과를 제공할 수 있게 된다.
Thus, one surface of the stacked upper and lower chips are all exposed to the outside, thereby providing an effect of maximizing the heat emission effect generated from the chip.
반도체 패키지, 반도체 칩, 적층, 탭 본딩, 플립칩Semiconductor Packages, Semiconductor Chips, Lamination, Tab Bonding, Flip Chip
Description
도 1a,1b는 본 발명에 따른 반도체 패키지 및 그 제조방법의 제1실시예를 나타내는 단면도,1A and 1B are cross-sectional views showing a first embodiment of a semiconductor package and a method of manufacturing the same according to the present invention;
도 2a,2b는 본 발명에 따른 반도체 패키지 및 그 제조방법의 제2실시예를 나타내는 단면도,2A and 2B are cross-sectional views illustrating a second embodiment of a semiconductor package and a method of manufacturing the same according to the present invention;
도 3a,3b는 본 발명에 따른 반도체 패키지 및 그 제조방법의 제3실시예를 나타내는 단면도,3A and 3B are cross-sectional views showing a third embodiment of a semiconductor package and a method of manufacturing the same according to the present invention;
도 4a,4b는 본 발명에 따른 반도체 패키지 및 그 제조방법의 제4실시예를 나타내는 단면도,4A and 4B are cross-sectional views showing a fourth embodiment of a semiconductor package and a method of manufacturing the same according to the present invention;
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
10 : 회로필름 12 : 가요성 수지필름10: circuit film 12: flexible resin film
14 : 탭본딩용 전도성패턴 16 : 인출단자 부착용 전도성패턴14: Conductive pattern for tap bonding 16: Conductive pattern for attaching outgoing terminal
18 : 와이어 본딩용 전도성패턴 20 : 상부칩18: conductive pattern for wire bonding 20: upper chip
22 : 하부칩 24 : 접착수단22: lower chip 24: bonding means
26 : 플립칩 28 : 와이어 26: flip chip 28: wire
30 : 인출단자 32 : 코팅재30: drawing terminal 32: coating material
34 : 커버코트 36 : 캐비티34: cover coat 36: cavity
38 : 플립칩 본딩용 전도성패턴38: conductive pattern for flip chip bonding
100,200,300,400 : 반도체 패키지
100,200,300,400: Semiconductor Package
본 발명은 반도체 패키지 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 회로필름 부재를 이용하여 반도체 칩을 상하로 적층한 새로운 구조의 반도체 패키지 및 그 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor package and a method of manufacturing the same, and more particularly, to a semiconductor package having a new structure in which semiconductor chips are stacked up and down using a circuit film member and a method of manufacturing the same.
일반적으로 반도체 패키지는 전자기기의 급진전인 발전과 소형화 경향으로 인하여 고집적화, 소형화, 고기능화를 실현할 수 있는 제조 추세에 있는 바, 리드프레임, 인쇄회로기판, 회로필름등의 부재를 이용하여 다양한 구조로 제조되고 있다.In general, semiconductor packages have been manufactured to realize high integration, miniaturization, and high functionality due to the rapid development and miniaturization of electronic devices, and are manufactured in various structures using members such as lead frames, printed circuit boards, and circuit films. It is becoming.
한편, 각종 부재를 이용하여 칩을 상하로 적층한 구조의 반도체 패키지를 제조함에 있어서, 동일한 크기의 칩을 적층하는 경우에는 상부칩과 하부칩 사이에 비전도성의 인터포져와 같은 비전도성 소재를 끼워넣어 하부칩의 와이어 본딩 공간을 확보하여야 함에 따라, 반도체 패키지의 두께가 크게 증가하는 단점이 있었다.On the other hand, in manufacturing a semiconductor package having a structure in which chips are stacked up and down using various members, when stacking chips of the same size, a non-conductive material such as a non-conductive interposer is sandwiched between an upper chip and a lower chip. As the wire bonding space of the lower chip must be secured, the thickness of the semiconductor package is greatly increased.
이에, 최근에는 칩을 적층한 구조의 반도체 패키지로서, 그 두께를 최소화시 키고, 보다 경박단소화를 실현할 수 있으며, 집적도를 크게 높이는 등의 신뢰성과 성능을 향상시킬 수 있도록 한 칩 적층형 구조의 반도체 패키지의 개발이 계속 이루어지고 있다.
Therefore, in recent years, as a semiconductor package having a chip stacked structure, the semiconductor device having a chip stacked structure capable of minimizing its thickness, realizing lighter and shorter size, and improving reliability and performance such as greatly increasing the degree of integration Development of the package continues.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 칩 적층형 반도체 패키지의 제조 추세에 따라, 회로필름 부재를 이용하여 반도체 칩을 상하로 적층되게 부착하되, 상부칩의 본딩패드는 회로필름의 전도성패턴과 플립칩 본딩 방식으로, 하부칩의 본딩패드에는 회로필름의 전도성패턴이 직접 탭 본딩되는 방식을 채택하고, 또한 별도의 몰딩공정없이 코팅재로 인캡슐레이션하는 공정을 진행하여 상하칩의 일면이 모두 외부로 노출되도록 한 구조의 반도체 패키지 및 그 제조방법을 제공하는데 그 목적이 있다.Therefore, in accordance with the manufacturing trend of the chip stacked semiconductor package as described above, the semiconductor chip is attached to be stacked up and down using a circuit film member, the bonding pad of the upper chip is a conductive pattern and a flip chip bonding method of the circuit film In this case, the bonding pad of the lower chip adopts a method of directly tap-bonding the conductive pattern of the circuit film, and also encapsulates the coating material without a separate molding process so that one surface of the upper and lower chips are exposed to the outside. It is an object of the present invention to provide a semiconductor package having a structure and a method of manufacturing the same.
이에, 적층된 상하칩의 일면이 모두 외부로 노출되어, 칩에서 발생하는 열의 방출 효과를 극대화시킬 수 있는 효과를 제공할 수 있다.
Thus, one surface of the stacked upper and lower chips may be exposed to the outside, thereby providing an effect of maximizing the heat emission effect generated from the chip.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 반도체 패키지는:The semiconductor package of the present invention for achieving the above object is:
가요성 수지필름과, 이 수지필름상에 식각 처리된 전도성패턴과, 이 전도성패턴의 일부를 외부로 노출시키며 상기 가요성 수지필름상에 도포된 커버코트로 구성되고, 중앙면에 캐비티가 형성된 회로필름과; 상기 캐비티를 마감하며 회로필름의 저면에 접착수단으로 부착된 하부칩과; 상기 수지필름의 전도성패턴중 캐비티로 연장되어 상기 하부칩의 본딩패드에 부착된 탭 본딩용 전도성패턴과; 상기 탭 본딩용 전도성패턴의 사방 바깥쪽에 인접되어 수지필름상의 커버코트 사이로 노출된 플립칩 본딩용 전도성패턴에 본딩되는 플립칩과; 상기 플립칩에 전기적 신호 교환 가능하게 부착되는 상부칩과; 상기 하부칩의 저면 및 둘레면을 제외하고 상기 캐비티를 통해 노출된 본딩패드가 형성된 하부칩의 상면과, 상기 탭본딩용 전도성패턴과, 상기 플립칩과, 상부칩의 상면을 제외한 저면 및 둘레면을 외부로부터 보호하기 위하여 인캡슐레이션하고 있는 코팅재와; 상기 수지필름의 커버코트상으로 노출된 인출단자 부착용 전도성패턴에 부착된 다수의 인출단자로 구성된 것을 특징으로 한다.A circuit comprising a flexible resin film, a conductive pattern etched on the resin film, and a cover coat coated on the flexible resin film while exposing a portion of the conductive pattern to the outside, and having a cavity formed in the center surface thereof. A film; A lower chip closing the cavity and attached to the bottom of the circuit film by an adhesive means; A tab bonding conductive pattern extending into a cavity among the conductive patterns of the resin film and attached to a bonding pad of the lower chip; A flip chip bonded to the flip chip bonding conductive pattern adjacent to the outer sides of the tab bonding conductive pattern and exposed between the cover coats on the resin film; An upper chip attached to the flip chip to exchange electrical signals; Except for the bottom and the circumferential surface of the lower chip, an upper surface of the lower chip having the bonding pads exposed through the cavity, the tab bonding conductive pattern, the flip chip, and the bottom and the peripheral surface except the upper surface of the upper chip. A coating material encapsulated to protect the product from the outside; Characterized in that it consists of a plurality of lead terminals attached to the conductive pattern for attaching the lead terminal exposed on the cover coat of the resin film.
바람직한 구현예로서, 상기 하부칩의 본딩패드는 상면 중앙에서 일방향으로 2열 배열을 갖도록 형성되고, 상기 상부칩의 본딩패드는 각 양측면에서 일방향으로 2열 배열을 갖도록 형성된 것을 특징으로 한다.In a preferred embodiment, the bonding pads of the lower chip are formed to have a two-row arrangement in one direction at the center of the upper surface, and the bonding pads of the upper chip are formed to have a two-row arrangement in one direction on each side.
또 다른 구현예로서, 상기 회로필름의 탭 본딩용 전도성패턴 자리를 와이어 본딩용 전도성패턴으로 대체하여, 상기 하부칩의 본딩패드와 와이어로 연결시킬 수 있도록 한 것을 특징으로 한다.In another embodiment, the tab bonding conductive pattern seat of the circuit film is replaced with a conductive pattern for wire bonding, so as to be connected to the bonding pad of the lower chip by a wire.
특히, 상기 인출단자 부착용 전도성패턴을 수지필름의 저면으로 노출시켜서 이곳에 인출단자를 부착시킬 수 있는 것을 특징으로 한다.In particular, the conductive pattern for attaching the lead-out terminal may be exposed to the bottom of the resin film to attach the lead-out terminal thereto.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 반도체 패키지 제조방법은:The semiconductor package manufacturing method of the present invention for achieving the above object is:
가요성 수지필름과, 이 수지필름상에 식각 처리된 전도성패턴과, 이 전도성패턴의 일부를 노출시키며 상기 가요성 수지필름상에 도포된 커버코트로 구성되고, 중앙면에 캐비티가 형성된 회로필름를 제공하는 단계와; 상기 캐비티를 마감시키며 회로필름의 저면에 접착수단을 사용하여 하부칩을 부착하는 단계와; 상기 수지필름상에 식각처리되어 캐비티로 소정의 길이를 갖으며 연장된 탭 본딩용 전도성패턴을 상기 하부칩의 본딩패드에 절곡시켜 부착하는 탭 본딩 단계와; 상기 가요성 수지필름상의 커버코트로 노출된 전도성패턴에 플립칩을 부착하는 단계와; 상기 플립칩에 상부칩을 부착시키되, 상부칩의 본딩패드를 일치시켜 부착하는 단계와; 상기 하부칩의 저면 및 둘레면을 제외하고 상기 캐비티를 통해 노출된 본딩패드가 형성된 하부칩의 상면과, 상기 탭본딩용 전도성패턴과, 상기 플립칩과, 상기 상부칩의 상면을 제외한 저면 및 둘레면을 외부로부터 보호하기 위하여 코팅재로 인캡슐레이션하는 단계와; 상기 가요성 수지필름의 커버코트 사이로 노출되거나, 수지필름의 저면으로 노출된 인출단자 부착용 전도성패턴에 인출단자를 부착하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 한다.Provided is a circuit film composed of a flexible resin film, a conductive pattern etched on the resin film, and a cover coat coated on the flexible resin film while exposing a portion of the conductive pattern, the cavity having a cavity formed in the center surface thereof. Making a step; Closing the cavity and attaching the lower chip to the bottom of the circuit film using an adhesive means; A tab bonding step of etching the resin film by bending and attaching a conductive pattern for tab bonding having a predetermined length into a cavity to a bonding pad of the lower chip; Attaching a flip chip to the conductive pattern exposed by the cover coat on the flexible resin film; Attaching an upper chip to the flip chip, wherein the bonding pads of the upper chip are matched to each other; Except for the bottom and the circumferential surface of the lower chip, an upper surface of the lower chip having the bonding pads exposed through the cavity, the tab bonding conductive pattern, the flip chip, and the bottom and the circumference except the upper surface of the upper chip. Encapsulating with a coating to protect the cotton from the outside; It is characterized by consisting of the step of attaching the lead-out terminal to the conductive pattern for attaching the lead-out terminal exposed between the cover coat of the flexible resin film, or exposed to the bottom surface of the resin film.
바람직한 구현예로서, 상기 회로필름을 제공하는 단계에서 수지필름상의 탭 본딩용 전도성패턴 자리를 와이어 본딩용 전도성패턴으로 형성하는 단계가 진행되는 것을 특징으로 한다.As a preferred embodiment, in the step of providing the circuit film, the step of forming a conductive pattern for wire bonding on the tab bonding conductive pattern is carried out.
그에따라, 상기 탭 본딩 단계를 대신하여, 상기 와이어 본딩용 전도성패턴과 상기 하부칩의 본딩패드간을 와이어로 본딩하는 단계가 진행되는 것을 특징으로 한다.Therefore, in place of the tab bonding step, the step of bonding the wire between the conductive pattern for wire bonding and the bonding pad of the lower chip is performed.
여기서 본 발명의 각 실시예를 첨부한 도면에 의거하여 보다 상세하게 설명한다.Herein, each embodiment of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.
본 발명의 반도체 패키지는 회로필름(10) 부재를 이용하여 제조된 것으로서, 이 회로필름은 베이스층인 가요성 수지필름(12)과, 이 가요성 수지필름(12)상에 식각처리된 동재질의 전도성패턴과, 이 전도성패턴간을 전기적으로 절연시키기 위하여 가요성 수지필름(12)상에 도포된 커버코트(34)층으로 구성되어 있고, 통상적으로 상기 전도성패턴의 표면은 산화를 방지하고 와이어가 용이하게 붙도록 금으로 도금되어 있다.The semiconductor package of the present invention is manufactured by using the
특히, 상기와 같은 구조로 이루어진 본 발명의 반도체 패키지 제조용 회로필름(10) 부재는 다수의 반도체 패키지 영역이 스트립 단위로 형성된 것을 사용한다.In particular, the
상기 회로필름(10) 부재의 구조를 하나의 반도체 패키지 영역을 기준으로 보다 상세하게 설명하면, 상기 가요성 수지필름(12)의 중앙면에는 대략 사각 형상의 캐비티(36)가 형성되어 있고, 상기 가요성 수지필름(12)에 식각 처리되어 커버코트(34)층 사이로 노출된 전도성패턴중에서 탭 본딩용 전도성패턴(14)의 일끝단이 상기 캐비티(36)내에 소정의 길이로 연장되어 있다.When the structure of the
또한, 상기 탭 본딩용 전도성패턴(14)에서 바깥쪽으로 인접한 위치에는 후술하는 플립칩 본딩용 전도성패턴(38)이 커버코트(34)층 사이로 노출되어 있고, 더 바깥쪽 위치에는 인출단자 부착용 전도성패턴(16)이 커버코트(34)층 사이로 노출되어 있다.In addition, a flip chip bonding
한편, 상기 인출단자를 가요성 수지필름(12)의 저면에 부착하는 경우에는, 상기 인출단자 부착용 전도성패턴(16)의 저면을 가요성 수지필름(12)에 형성된 홀을 통하여 밑으로 노출시키게 된다.On the other hand, when attaching the lead-out terminal to the bottom of the
여기서 첨부한 도 1a,1b를 참조로 본 발명의 반도체 패키지 및 그 제조방법의 제1실시예를 순서대로 설명한다.1A and 1B, the first embodiment of the semiconductor package and the manufacturing method of the present invention will be described in order.
먼저, 상기 캐비티(36)를 마감시키면서 가요성 수지필름(12)의 저면에 하부칩(22)을 일레스토머와 같은 접착수단(24)으로 부착하는 단계(110)를 진행하게 된다.
First, the step of attaching the
이때, 상기 하부칩(22)의 상면 중앙에 본딩패드가 일방향으로 2열 배열을 이루며 형성되어 있는 바, 상기 캐비티(36)를 통하여 하부칩(22)의 본딩패드가 위쪽을 향하며 노출된 상태가 된다.In this case, the bonding pads are formed in the middle of the upper surface of the
다음으로, 상기 가요성 수지필름(12)의 캐비티(36)내로 일정 길이가 연장되어 있는 탭 본딩용 전도성패턴(14)의 일끝단을 펀칭수단(미도시됨)을 사용하여 밑으로 절곡시켜, 상기 하부칩의 본딩패드에 부착시키는 탭 본딩 단계(120)를 진행하게 된다.Next, one end of the tab bonding
상기 탭(TAB : Tape Automated Bonding)본딩은 통상 회로필름에 식각 처리된 전도성패턴을 반도체 칩의 본딩패드에 전기적 신호 교환 가능하게 직접 절곡시켜 부착시키는 본딩 방식이다.The tab (TAB: Tape Automated Bonding) bonding is a bonding method in which a conductive pattern etched in a circuit film is directly bent and attached to a bonding pad of a semiconductor chip so as to be electrically exchanged.
다음으로, 상기 가요성 수지필름(12)의 탭 본딩용 전도성패턴(14)의 바깥쪽 사방에 인접된 위치에서 플립칩 본딩용 전도성패턴(38)이 커버코트(34)층 사이로 2열 배열을 이루며 등간격으로 노출되어 있는 바, 이 플립칩 본딩용 전도성패턴(38)에 플립칩(26)을 부착하는 단계(130)를 진행하게 된다.Next, at a position adjacent to the outer sides of the tab bonding
이어서, 상기 플립칩(Flip chip)에 상부칩(20)을 부착시키는 단계(140)를 진행하게 되고, 이때 플립칩(38)과 상부칩(20)의 본딩패드는 서로 전기적 신호 교환 가능하게 열융착된 상태로 부착된다.Subsequently, the
다음으로, 상기 캐비티(36)로 노출된 하부칩(22)의 상면과, 탭 본딩용 전도성패턴(14)과, 플립칩(26)과, 플립칩 본딩용 전도성패턴(38)과, 상기 상부칩(20)의 측면등을 코팅재(32)로 인캡슐레이션(Encapsulation)하는 단계(150)를 진행하게 된 다.Next, the upper surface of the
마지막으로, 상기 가요성 수지필름(12)의 플립칩 본딩용 전도성패턴(38)의 바깥쪽 사방에 인접되어, 커버코트(34)층 사이로 등간격을 이루며 노출된 상기 인출단자 부착용 전도성패턴(16)에 인출단자(30)를 부착하는 단계(160)를 진행함으로써, 첨부한 도 1b에 도시한 바와 같은 구조의 반도체 패키지(100)로 제조된다.Finally, the
이때, 상기 인출단자(30)는 전도성의 솔더볼로서, 접착력을 보유하고 있는 플럭스(Flux)를 도포하여 부착하게 된다.In this case, the
여기서 첨부한 도 2a,2b를 참조로 본 발명의 반도체 패키지 및 그 제조방법의 제2실시예를 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a second embodiment of a semiconductor package and a method of manufacturing the same will be described with reference to FIGS. 2A and 2B.
제2실시예로서, 반도체 패키지 및 그 제조방법은 상술한 제1실시예와 동일한 구조와 제조 방법으로 달성되고, 단지 인출단자의 부착 위치에서 차이가 있다.As the second embodiment, the semiconductor package and its manufacturing method are achieved with the same structure and manufacturing method as those of the first embodiment described above, and differ only in the attachment position of the lead terminal.
즉, 회로필름(10)의 구조를 보면, 인출단자 부착용 전도성패턴(16)이 가요성 수지필름(12)상의 커버코트(34)층 사이로 노출되지 않고, 가요성 수지필름(12)에 형성된 홀을 통하여 상기 인출단자 부착용 전도성패턴의 저면이 밑으로 노출되어 있다.That is, in the structure of the
따라서, 첨부한 도 2a에 도시한 바와 같이 상기 캐비티(36)를 마감시키면서 가요성 수지필름(12)의 저면에 하부칩(22)을 접착수단(24)으로 부착하는 단계(110)와; 상기 가요성 수지필름(12)의 탭 본딩용 전도성패턴(14)을 상기 하부칩(22)의 본딩패드에 절곡시켜 탭 본딩하는 단계(120)와; 상기 가요성 수지필름(12)의 플립칩 본딩용 전도성패턴(38)에 플립칩(26)을 부착하는 단계(130)와; 이 플립칩(36)에 상부칩(20)을 부착하는 단계(140)와; 상기 하부칩(22)의 상면과, 플립칩(26)등을 포함하며 상부칩(20)의 측면까지 코팅재(32)로 인캡슐레이션하는 단계(150)가 상술한 일실시예와 동일하게 진행되고, 마지막으로 상기 가요성 수지필름(12)의 저면으로 노출된 인출단자 부착용 전도성패턴(16)에 인출단자(30)를 부착하는 단계(160')를 마지막으로 첨부한 도 2b에 도시한 바와 같은 구조의 반도체 패키지(200)로 제조된다.Accordingly, as shown in FIG. 2A, the
여기서 첨부한 도 3a,3b를 참조로 본 발명의 반도체 패키지 및 그 제조방법의 제3실시예를 설명하면 다음과 같다.A third embodiment of the semiconductor package of the present invention and a method of manufacturing the same will now be described with reference to FIGS. 3A and 3B.
제3실시예로서, 반도체 패키지 및 그 제조방법은 상술한 제1,2실시예와 동일한 구조와 제조 방법으로 달성되고, 하부칩(22)과 회로필름의 전도성패턴간의 본딩방식에서 차이가 있다.As a third embodiment, the semiconductor package and its manufacturing method are achieved with the same structure and manufacturing method as those of the first and second embodiments described above, and there is a difference in bonding method between the
즉, 상기 회로필름(10)의 구조에서 다소 차이가 있는 바, 상기 가요성 수지필름(12)의 캐비티(36)와 인접된 위치에 탭 본딩용 전도성패턴(14)이 아닌 와이어 본딩용 전도성패턴(18)을 커버코트(34)층 사이로 노출시킨 점에서 차이가 있다.That is, the structure of the
따라서, 상기 캐비티(36)를 마감시키면서 가요성 수지필름(12)의 저면에 하부칩(22)을 접착수단(24)으로 부착하는 단계(110)와; 상기 가요성 수지필름(12)의 와이어 본딩용 전도성패턴(18)과 상기 하부칩(22)의 본딩패드간을 와이어(28)로 본딩하는 단계(120')와; 상기 가요성 수지필름(12)의 플립칩 본딩용 전도성패턴(38)에 플립칩(26)을 부착하는 단계(130)와; 이 플립칩(26)에 상부칩(20)을 부착하는 단계(140)와; 상기 하부칩(22)의 상면과, 와이어(28)와, 플립칩(26)등을 포함하며 상부칩(20)의 측면까지 코팅재(32)로 인캡슐레이션(Encapsulation)하는 단계(150)를 진행하고, 마지막으로 상기 가요성 수지필름(12)의 커버코트(34)층 사이로 등간격을 이루며 노출된 상기 인출단자 부착용 전도성패턴(16)에 전도성의 솔더볼과 같은 인출단자(30)를 부착하는 단계(160)를 진행함으로써, 첨부한 도 3b에 도시한 바와 같은 구조의 반도체 패키지(300)로 제조된다.Therefore, the step (110) of attaching the lower chip (22) to the bottom surface of the flexible resin film (12) with an adhesive means (24) while closing the cavity (36); Bonding 120 'between the
여기서 첨부한 도 4a,4b를 참조로 본 발명의 반도체 패키지 및 그 제조방법의 제4실시예를 설명하면 다음과 같다.A fourth embodiment of the semiconductor package of the present invention and a method of manufacturing the same will now be described with reference to FIGS. 4A and 4B.
제3실시예로서, 반도체 패키지 및 그 제조방법은 상술한 제3실시예와 동일한 구조와 제조 방법으로 달성되고, 상기 회로필름(10)의 구조에서 다소 차이가 있어, 인출단자(30)의 부착 위치가 다른 점에서 차이가 있다.As a third embodiment, the semiconductor package and its manufacturing method are achieved with the same structure and manufacturing method as the above-described third embodiment, and there is a slight difference in the structure of the
즉, 회로필름(10)의 구조를 보면, 제2실시예와 같이 인출단자 부착용 전도성패턴(16)이 가요성 수지필름(12)상의 커버코트(34)층 사이로 노출되지 않고, 가요성 수지필름(12)에 형성된 홀을 통하여 저면으로 노출되어 있다.That is, in the structure of the
따라서, 상기 캐비티(36)를 마감시키면서 가요성 수지필름(12)의 저면에 하부칩을 접착수단으로 부착하는 단계(110)와; 상기 가요성 수지필름(12)의 와이어 본딩용 전도성패턴(18)과 상기 하부칩(22)의 본딩패드간을 와이어로 본딩하는 단계(120')와; 상기 가요성 수지필름(12)의 플립칩 본딩용 전도성패턴(38)에 플립칩(26)을 부착하는 단계(130)와; 이 플립칩(26)에 상부칩을 부착하는 단계(140)와; 상기 하부칩(22)의 상면과, 와이어(28)와, 플립칩(26)등을 포함하며 상부칩(20)의 측면까지 코팅재(32)로 인캡슐레이션(Encapsulation)하는 단계(150)가 상술한 제3 실시예와 동일하게 진행하고, 마지막으로 상기 가요성 수지필름(12)의 저면으로 노출된 인출단자 부착용 전도성패턴(16)에 전도성의 솔더볼과 같은 인출단자(30)를 부착하는 단계(160')를 진행함으로써, 첨부한 도 4b에 도시한 바와 같은 구조의 반도체 패키지(400)로 제조된다.Therefore, the step (110) of attaching the lower chip to the bottom surface of the
상술한 각 실시예의 반도체 패키지는 상부칩과 하부칩의 일면이 모두 외부로 노출되게 제조되어, 반도체 칩의 열방출 효과를 크게 얻어낼 수 있고, 상기 상부칩과 하부칩은 동일한 크기 또는 서로 다른 크기를 적층하여도 무방하다.
The semiconductor package of each embodiment described above is manufactured such that one surface of the upper chip and the lower chip are exposed to the outside, thereby obtaining a large heat dissipation effect of the semiconductor chip, and the upper chip and the lower chip are the same size or different sizes. May be laminated.
이상에서 본 바와 같이, 본 발명에 따른 반도체 패키지 및 그 제조방법에 의하면, 상부칩과 하부칩의 일면이 외부로 노출되어, 칩에서 발생되는 열의 방출 효과를 극대화시킬 수 있고, 전기적 저항이 적은 플립칩과 두께가 매우 얇은 회로필름 부재를 사용하여 반도체 칩을 적층하여 제조함으로써, 칩 적층형 패키지의 두께를 크게 줄일 수 있고 집적도를 크게 향상시킬 수 있는 장점이 있다.As described above, according to the semiconductor package and the method of manufacturing the same according to the present invention, one surface of the upper chip and the lower chip is exposed to the outside, thereby maximizing the heat dissipation effect generated from the chip, the flip is less electrical resistance By stacking a semiconductor chip using a chip and a circuit film member having a very thin thickness, there is an advantage in that the thickness of the chip stacked package can be greatly reduced and the degree of integration can be greatly improved.
또한, 적층되는 칩의 크기는 동일한 크기와 서로 다른 크기등을 모두 수용할 수 있다.In addition, the size of the stacked chip can accommodate both the same size and different sizes.
또한, 별도의 몰딩공정이 배제되어, 공수를 절감할 수 있는 잇점이 있다.In addition, the separate molding process is excluded, there is an advantage that can reduce the labor.
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020000073054A KR100705248B1 (en) | 2000-12-04 | 2000-12-04 | Semiconductor package and method for manufacturing the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020000073054A KR100705248B1 (en) | 2000-12-04 | 2000-12-04 | Semiconductor package and method for manufacturing the same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20020043394A KR20020043394A (en) | 2002-06-10 |
KR100705248B1 true KR100705248B1 (en) | 2007-04-06 |
Family
ID=27679427
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020000073054A KR100705248B1 (en) | 2000-12-04 | 2000-12-04 | Semiconductor package and method for manufacturing the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100705248B1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR200452155Y1 (en) * | 2008-08-29 | 2011-02-10 | 한양이엔지 주식회사 | Table For Chemicals Supplying Valve Establishment |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5608262A (en) * | 1995-02-24 | 1997-03-04 | Lucent Technologies Inc. | Packaging multi-chip modules without wire-bond interconnection |
KR20020027042A (en) * | 2000-10-04 | 2002-04-13 | 마이클 디. 오브라이언 | Semiconductor package and method for manufacturing the same |
-
2000
- 2000-12-04 KR KR1020000073054A patent/KR100705248B1/en active IP Right Grant
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KR20020027042A (en) * | 2000-10-04 | 2002-04-13 | 마이클 디. 오브라이언 | Semiconductor package and method for manufacturing the same |
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Publication number | Publication date |
---|---|
KR20020043394A (en) | 2002-06-10 |
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