KR100661013B1 - Tft-lcd fault detection and classification method which use the motphology - Google Patents

Tft-lcd fault detection and classification method which use the motphology Download PDF

Info

Publication number
KR100661013B1
KR100661013B1 KR1020050054525A KR20050054525A KR100661013B1 KR 100661013 B1 KR100661013 B1 KR 100661013B1 KR 1020050054525 A KR1020050054525 A KR 1020050054525A KR 20050054525 A KR20050054525 A KR 20050054525A KR 100661013 B1 KR100661013 B1 KR 100661013B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
tft
lcd panel
defect
image
mask
Prior art date
Application number
KR1020050054525A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
김용관
유상현
김지웅
Original Assignee
학교법인 호서학원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 학교법인 호서학원 filed Critical 학교법인 호서학원
Priority to KR1020050054525A priority Critical patent/KR100661013B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100661013B1 publication Critical patent/KR100661013B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1303—Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1313—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells specially adapted for a particular application

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

A method for detecting and sorting defects of a TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display) using a morphology technique is provided to analyze pattern data through a simple algorithm to detect defects of the TFT-LCD and acquire correct information about the defects. Various pattern signals are applied to a TFT-LCD panel. Images displayed on the TFT-LCD panel in response to the pattern signals are captured using a camera. Defects of the TFT-LCD panel are detected from the captured images using a mask and a morphology technique. The detected defects are analyzed by patterns to sort the defects.

Description

모폴로지 기법을 이용한 티에프티 엘시디 결함 검출 및 분류 방법{TFT-LCD fault detection and classification method which use the Motphology}TFT-LCD fault detection and classification method which use the Motphology

도 1은 본 발명에 따른 TFT-LCD 패널의 구성 및 제너레이터를 이용한 전기적 신호 입력을 나타내는 도면이다. 1 is a view showing the configuration of a TFT-LCD panel and an electrical signal input using a generator according to the present invention.

도 2는 본 발명에 따른 TFT-LCD 화이트(WHITE) 결함 검사 방법의 순서를 나타내는 도면이다. 2 is a diagram illustrating a procedure of a TFT-LCD white defect inspection method according to the present invention.

도 3은 본 발명에 따른 TFT-LCD 다크(DARK) 결함 검사 방법의 순서를 나타내는 방법이다. 3 is a method showing a procedure of a TFT-LCD DARK defect inspection method according to the present invention.

도 4는 모폴로지 기법을 이용한 섭픽셀(SUBPIXEL)의 화이트(WHITE) 결함을 검사하기 위한, 팽창 후 침식 연산과 침식 후 팽창 연산의 순차적 수행 과정을 나타내는 도면이다. FIG. 4 is a diagram illustrating a sequential process of performing post-expansion erosion and post-erosion expansion operations to inspect white defects of sub-pixels SUBPIXEL using a morphology technique.

도 5는 본 발명에 따른 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 섭픽셀(SUBPIXEL)의 화이트(WHITE) 결함 및 다크(DARK) 결함 검출을 위한 수행 과정을 나타내는 도면이다. FIG. 5 is a view illustrating a process for detecting white defects and dark defects of a TFT-LCD subpixel using a morphology technique according to the present invention.

도 6은 본 발명에 따른 알고리즘에 사용된 마스크 형태를 나타내는 도면이다. 6 is a diagram illustrating a mask form used in an algorithm according to the present invention.

도 7은 본 발명에 따른 특정 위치 결함 분류를 나타내는 도면이다. 7 is a diagram showing a specific position defect classification according to the present invention.

본 발명은 카메라의 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 결함 자동 검출 및 분류 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a method for automatically detecting and classifying TFT-LCD defects using a morphology technique of a camera.

더욱 상세하게는 TFT-LCD 패널의 결함 검사에서 카메라를 이용하여 이미지를 검출하고, 이를 분석/처리하여 결함 여부를 판단하는 카메라의 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 결함 검출 및 분류 방법에 관한 것이다. More specifically, the present invention relates to a TFT-LCD defect detection and classification method using a morphology technique of a camera that detects an image using a camera in defect inspection of a TFT-LCD panel and analyzes / processes the image to determine whether there is a defect.

일반적으로 모폴로지(Motphology) 기법이란 어떤 영상의 형태적인 면을 조작함을 말하며 오래된 사진의 스파크 잡음을 제거, 지문인식 장치에서 사용되는 지문영상의 잡음제거와 융선(지문 모양을 내는 선)의 향상을 위해 사용된다.In general, the morphology technique refers to manipulating the morphological aspects of an image, eliminating the spark noise of old photographs, eliminating noise and improving the ridges (fingerprint lines) of fingerprint images used in fingerprint recognition devices. Used for.

이러한 모폴로지 기법에는 이진 영상에서의 모폴로지 기법과 그레이 영상에서의 모폴로지 기법이 있다. 간단히 이진 영상에서의 모폴로지에 대해 설명하면, 침식 연산과 팽창 연산이 있는데 침식 연산은 배경에 대해 배경을 확장시키고 물체의 크기를 축소하는 역할을 하는 것으로 물체와 배경 사이의 스파크 잡음 제거와 같이 전체 영상에서 아주 작은 물체를 제거하거나 또는 전체 영상에서 배경확장에 따른 물체를 제거하는 역할을 한다. 팽창 연산은 물체의 최외각 픽셀을 확장시키는 역할을 한다. 그러므로 물체의 크기는 확장되고 배경은 축소된다. 주로 물체 안의 빈 공간을 메우는 역할을 하거나 서로 짧은 거리만큼 끊어진 영역을 연결시켜 준다.Such morphology techniques include morphology technique in binary image and morphology technique in gray image. Briefly, morphology in binary image is erosion and expansion operation. The erosion operation expands the background with respect to the background and reduces the size of the object. This function removes a very small object from or removes an object due to background expansion from the entire image. The expansion operation serves to expand the outermost pixel of the object. Therefore, the size of the object is expanded and the background is reduced. It is mainly used to fill the empty space in the object or to connect the separated areas by short distance.

한편, TFT-LCD(박막 트랜지스터 액정표시 장치)는 음극선관(CRT) 표시 장치와는 다른 기술을 바탕으로 만든 평면형 표시 장치로서, 음극선관에 비해 화면의 흐트러짐이 없고 콘트라스트, 계조표시, 응답 속도 등에서는 음극선관(CRT)에 버금간다. 유리 기판상에 수십만 개의 미세한 트랜지스터를 형성하기 위해서는 고도의 제조 기술이 필요하므로 불량율이 높아서 TFT 액정 표시 장치의 가격을 올리는 요인이 되었으나 제조기술의 발달과 제조 비용의 감소에 따라 표시 장치 전 분야에 걸쳐 TFT-LCD의 채용이 보편화되었다.On the other hand, TFT-LCD (thin-film transistor liquid crystal display) is a flat-panel display based on a technology different from that of a cathode ray tube (CRT) display, and has no disturbance on the screen compared to the cathode ray tube and has a contrast, gradation display, response speed, and the like. Is equivalent to a cathode ray tube (CRT). Since high manufacturing technology is required to form hundreds of thousands of fine transistors on a glass substrate, the defect rate is high, which is a factor in raising the price of the TFT liquid crystal display device. The adoption of TFT-LCDs has become commonplace.

종래 대부분의 TFT-LCD 결함 검사는 육안 검사에 의해 이루어지고 있다. 현재의 육안 검사는 수많은 패턴을 LCD패널 위에 순차적으로 디스플레이 시키고 이를 검사자가 직접 눈으로 검사하는 방법으로 이루어지고 있다.Most TFT-LCD defect inspections are conventionally performed by visual inspection. The current visual inspection is performed by displaying numerous patterns sequentially on the LCD panel and inspecting them by eye.

상기와 같이 종래 검사자가 직접 눈으로 검사하는 육안 검사 방법은 작업자의 숙련도, 주관적인 판단이나 감정 등에 따라 검사 기준이 달라 질 수 있기 때문에 일정한 품질 유지에 문제점이 있었다.As described above, the visual inspection method of directly inspecting by the inspector has a problem in maintaining a constant quality because inspection standards may vary according to the skill of the operator, subjective judgment or emotion.

또한, 부분적으로 고해상도 라인 카메라를 이용한 결함 검사 방법이 제시되고 있으나, 이러한 방법은 육안검사에서 발생할 수 있는 여러 문제를 해결할 수 있지만, 가격문제, 시스템 구성의 어려운, 고 경력 엔지니어의 필요성 등으로 대기업이 아닌 경우에는 시스템을 구성하는데 문제점이 있었다.In addition, a defect inspection method using a high resolution line camera is partially proposed, but this method can solve various problems that may occur during visual inspection. However, due to the price problem, difficult system configuration, and the need for an experienced engineer, If not, there was a problem configuring the system.

본 발명은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 육안 검사 방법을 이용하여 검사하기 때문에 발생하는 시간 지연이나 불확실성을 해결하고, 저해상도 영역 카메라의 모폴로지 기법을 이용한 간단한 알고리즘을 통해 각각의 패턴 자료를 분석하여 TFT-LCD의 해당 결함을 검출하는 검출 방법을 제공하고,The present invention has been made to solve the problems described above, and solves the time delay or uncertainty caused by the inspection using the visual inspection method, and each pattern through a simple algorithm using the morphology technique of the low resolution region camera Provides a detection method for analyzing the data to detect the corresponding defect of the TFT-LCD,

다른 목적으로는, TFT-LCD 패널 상에 존재하는 결함들에 대한 정확한 정보를 취득할 수 있는 TFT-LCD의 특정 위치 결함을 검출하여 분류하는 방법을 제공하고,Another object is to provide a method for detecting and classifying specific positional defects of a TFT-LCD capable of obtaining accurate information on defects present on a TFT-LCD panel,

다른 목적으로는, 카메라를 이용한 자동검사가 가능하게 하면서 일정한 검사 품질 유지 및 기존의 검사 방법보다 더욱 향상된 검사 성능을 얻을 수 있도록 하는 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 결함 검출 및 분류방법을 제공하는데 그 목적이 있다.Another object of the present invention is to provide a TFT-LCD defect detection and classification method using a morphology technique that enables automatic inspection using a camera and maintains a constant inspection quality and obtains improved inspection performance than conventional inspection methods. There is this.

상술한 바와 같은 목적은, TFT-LCD 패널의 결함 검사에서 카메라를 이용하여 영상을 추출하고 이를 분석처리하는 TFT-LCD 패널의 결함 검출 방법에 있어서, 상기 TFT-LCD 패널에 BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE 등의 여러가지 패턴 신호를 가하는 단계와, 상기 BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE 등의 패턴 신호에 따라 나타나는 TFT-LCD 패널의 여러 가지 영상을 상기 카메라를 통해 취득하는 단계 및 상기 카메라를 통해 입력받은 영상을 마스크와 모폴로지 기법을 이용하여 LCD 패널의 결함을 검출하는 단계를 포함하여 이루어지는 TFT-LCD 패널의 결함 검출 방법을 제공하고, As described above, in the defect detection method of the TFT-LCD panel which extracts an image and analyzes the image using a camera in defect inspection of the TFT-LCD panel, the TFT-LCD panel includes BLACK, RED, GREEN, Applying various pattern signals such as BLUE, GRAY, WHITE, and acquiring various images of the TFT-LCD panel appearing according to the pattern signals of BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE, etc. through the camera And detecting a defect of the LCD panel by using a mask and a morphology technique on the image input through the camera, and providing a defect detecting method of the TFT-LCD panel.

상기 TFT-LCD 패널에 BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE 등의 여러가지 패턴 신호를 가하는 단계와, 상기 BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE 등의 패턴 신호에 따라 나타나는 TFT-LCD 패널의 여러 가지 영상을 상기 카메라를 통해 취득하는 단계와, 상기 카메라를 통해 입력받은 영상을 마스크와 모폴로지 기법을 이용하여 LCD 패널의 결함을 검출하는 단계 및 상기 검출된 결함을 여러가지 패턴별로 분석하여 해당 결함의 종류를 분류하는 단계를 포함하여 이루어지는 TFT-LCD 패널의 결함 분류 방법을 제공함으로써 달성된다. Applying various pattern signals such as BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE to the TFT-LCD panel, and TFT-LCD panel which appears according to the pattern signals of BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE, etc. Acquiring various images of the camera through the camera; detecting images of the LCD panel using masks and morphology techniques; and analyzing the detected defects according to various patterns. It is achieved by providing a defect classification method for a TFT-LCD panel comprising a step of classifying a type of.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 카메라의 모폴리지 기법을 이용한 TFT-LCD 결함 검출 및 분류 방법을 더욱 상세하게 설명한다.Hereinafter, a TFT-LCD defect detection and classification method using a morphology technique of a camera according to an embodiment of the present invention with reference to the drawings in more detail.

도 1은 본 발명에 따른 TFT-LCD 패널의 구성 및 제너레이터를 이용한 전기적 신호 입력을 나타내는 도면이다. 도 1을 참조하여 더욱 상세하게 설명하면, 1 is a view showing the configuration of a TFT-LCD panel and an electrical signal input using a generator according to the present invention. In more detail with reference to Figure 1,

도 1에 도시된 바와 같이, 패턴 제너레이터(도시안됨)로부터 TFT-LCD 패널의 각각의 RGB 섭픽셀들에 전기적인 신호를 가하면, 각각의 섭픽셀들에 해당하는 RGB의 빛을 발생하게 되는데, 이 셀들의 밝기를 카메라(도시안됨)로 측정하고, 영상 처리부(도시안됨)에서 영상 패턴 데이터를 분석하여 TFT-LCD패널의 결함을 검출하고, 검출된 결함은 분석되어 분류된다. As shown in FIG. 1, when an electrical signal is applied to each of the RGB subpixels of the TFT-LCD panel from the pattern generator (not shown), light of RGB corresponding to each subpixel is generated. The brightness of the cells is measured with a camera (not shown), and the image processing unit (not shown) analyzes the image pattern data to detect defects in the TFT-LCD panel, and the detected defects are analyzed and classified.

상기 검출 및 분류를 위해서 TFT-LCD 패널에 RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE, BLACK 등의 여러 가지 경우의 패턴 신호를 가한 후, 그 결과를 분석하여 TFT-LCD 패널의 특정위치에 대한 결함을 분류하게 된다. In order to detect and classify, a pattern signal of various cases such as RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE, BLACK, etc. is applied to the TFT-LCD panel, and the results are analyzed to detect defects at specific positions of the TFT-LCD panel. Will be classified.

따라서, 본 발명에서는 TFT-LCD 패널의 결함을 검사하기 위하여, 모폴로지 기법의 침식 연산과 팽창 연산을 혼합하여 사용한다. 이러한, 침식 연산과 팽창 연산을 수행하기 위해서는 적절한 마스크의 범위를 결정하는 것이 필수적이다. 마스크란, 영상 안에서 일정부분에 위치시키기 위한 일종의 행렬 모양의 구조체이다. Therefore, in the present invention, in order to inspect the defect of the TFT-LCD panel, a mixture of erosion and expansion operations of the morphology technique is used. In order to perform such erosion and expansion operations, it is essential to determine the appropriate mask range. A mask is a kind of matrix-like structure for positioning a part of an image.

일반적으로, 정방 마스크를 많이 사용하지만, 이는 개발자의 의도에 따라 변경될 수 있는 것이 바람직하고, 본 발명에서 사용한 마스크는 도 6에서 도시된 바와 같은 마스크로서 TFT-LCD 셀의 구조적 특성상 세로축이 상대적으로 긴 마스크를 사용하게 되었다. In general, the square mask is used a lot, but it can be changed according to the intention of the developer, and the mask used in the present invention is a mask as shown in FIG. 6, and the vertical axis is relatively relatively due to the structural characteristics of the TFT-LCD cell. I used a long mask.

도 2는 본 발명에 따른 TFT-LCD 화이트(WHITE) 결함 검사 방법의 순서를 나타내는 도면이다. 도 4는 모폴로지 기법을 이용한 섭픽셀(SUBPIXEL)의 화이트(WHITE) 결함을 검사하기 위한, 팽창 후 침식 연산과 침식 후 팽창 연산의 순차적 수행 과정을 나타내는 도면이다. 도 2와 도 4를 참조하여 더욱 상세하게 설명하면, 2 is a diagram illustrating a procedure of a TFT-LCD white defect inspection method according to the present invention. FIG. 4 is a diagram illustrating a sequential process of performing post-expansion erosion and post-erosion expansion operations to inspect white defects of sub-pixels SUBPIXEL using a morphology technique. In more detail with reference to Figures 2 and 4,

먼저, 패턴 제너레이터(도시안됨)로부터 TFT-LCD 패널의 각각의 RGB 섭픽셀들에 RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE, BLACK 등의 전기적인 신호를 가하면, 각각의 섭픽셀들에 해당하는 RGB의 빛을 발생하여 여러 가지 패턴의 TFT-LCD 패널 영상을 생성하게 된다(S102). 상기 TFT-LCD 패널 영상은 카메라를 이용하여 입력받게 된다(S104). First, when an electrical signal such as RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE, BLACK, etc. is applied to each RGB subpixels of a TFT-LCD panel from a pattern generator (not shown), the RGB corresponding to each subpixel is applied. The light is generated to generate TFT-LCD panel images of various patterns (S102). The TFT-LCD panel image is input using a camera (S104).

도 6에서 도시된 바와 같은 세로축이 상대적으로 긴 마스크를 사용하여, 상기 취득한 TFT-LCD 패널 영상에 대하여, 카메라의 모폴로지 기법인 팽창 후 침식 연산을 먼저 수행하여(S106) 첫번째 영상을 생성한다(S108). 상기 첫번째 영상을 다시금 카메라의 모폴로지 기법인 침식 후 팽창 연산을 수행하여(S110) 두번째 영상을 생성하는데 이때 생성된 두번째 영상은 TFT-LCD 패널 상에 있는 점(PIXEL) 결함들이 제거된 영상을 취득할 수 있다(S112). 이렇게 생성된 첫번째 영상과 두번째 영상을 픽셀 단위로 빼주면(S114) TFT-LCD 패널 상에 존재하는 화이트 점 결함(WHITE PIXEL DEFECT)들 만이 영상에 남게 된다(S116). Using the mask having a relatively long vertical axis as shown in FIG. 6, the first image is generated by performing a post-expansion erosion operation, which is a morphology technique of the camera, on the obtained TFT-LCD panel image (S106). ). The first image is again subjected to an expansion operation after erosion, which is a morphology technique of the camera (S110), to generate a second image, wherein the generated second image is obtained by removing an image of spot (PIXEL) defects on a TFT-LCD panel. It may be (S112). If the first image and the second image generated in this way are subtracted in units of pixels (S114), only white spot defects existing on the TFT-LCD panel remain in the image (S116).

도 3은 본 발명에 따른 TFT-LCD 다크(DARK) 결함 검사 방법의 순서를 나타내는 방법이다. 도 3과 도 4를 참조하여 상세하게 설명하면, 3 is a method showing a procedure of a TFT-LCD DARK defect inspection method according to the present invention. Referring to Figure 3 and 4 in detail,

먼저, 패턴 제너레이터(도시안됨)로부터 TFT-LCD 패널의 각각의 RGB 섭픽셀들에 RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE, BLACK 등의 전기적인 신호를 가하면, 각각의 섭픽셀들에 해당하는 RGB의 빛을 발생하여 여러 가지 패턴의 TFT-LCD 패널 영상을 생성하게 된다(S202). 상기 TFT-LCD 패널 영상은 카메라를 이용하여 입력받게 된다(S204).First, when an electrical signal such as RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE, BLACK, etc. is applied to each RGB subpixels of a TFT-LCD panel from a pattern generator (not shown), the RGB corresponding to each subpixel is applied. The light is generated to generate TFT-LCD panel images of various patterns (S202). The TFT-LCD panel image is input using a camera (S204).

도 6에서 도시된 바와 같은 세로축이 상대적으로 긴 마스크를 사용하여, 상기 취득한 TFT-LCD 패널 영상에 대하여, 카메라의 모폴로지 기법인 팽창 후 침식 연산을 수행하여(S206) 첫번째 영상을 생성하고(S208), 상기 첫번째 영상과 최초 입력된 원영상을 픽셀단위로 빼주어(S210) 두번째 영상을 생성한다(S212). 상기 두번째 영상을 카메라의 모폴로지 기법인 침식 후 팽창 연산을 수행하면(S214) TFT-LCD 패널 상에 존재하는 다크 점 결함(DARK PIXEL DEFECT)들이 영상에 남게 된다 (S216). Using the mask having a relatively long vertical axis as shown in FIG. 6, the expanded TFT-LCD panel image is subjected to post-expansion erosion calculation, which is a morphology technique of the camera (S206), and generates a first image (S208). In operation S212, the first image and the first input original image are subtracted in pixel units to generate a second image. When the second image is subjected to the expansion operation after erosion, which is a morphology technique of the camera (S214), dark point defects (DARK PIXEL DEFECT) existing on the TFT-LCD panel remain in the image (S216).

도 5는 본 발명에 따른 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 섭픽셀(SUBPIXEL)의 화이트(WHITE) 결함 및 다크(DARK) 결함 검출을 위한 수행 과정을 나타내는 도면이다. FIG. 5 is a view illustrating a process for detecting white defects and dark defects of a TFT-LCD subpixel using a morphology technique according to the present invention.

도 6은 본 발명에 따른 알고리즘에 사용된 마스크 형태를 나타내는 도면이다. 일반적으로 정방형의 마스크를 사용하지만, 본 발명에서 TFT-LCD 셀의 특성에 맞게 세로축이 상대적으로 긴 마스크를 사용하였다. 물론 개발자에 따라 마스크의 형태를 변경하는 것이 바람직하다.6 is a diagram illustrating a mask form used in an algorithm according to the present invention. In general, a square mask is used, but a mask having a relatively long vertical axis is used in accordance with the characteristics of the TFT-LCD cell. Of course, it is desirable to change the shape of the mask according to the developer.

도 7은 본 발명에 따른 특정 위치 결함 분류를 나타내는 도면이다. 7 is a diagram showing a specific position defect classification according to the present invention.

도 7에서는 BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE 등 각각의 패턴 영상들에 대하여 추출한 결함 정보를 바탕으로 결함의 종류를 분류하는 방법을 나타낸다. 첨부된 도면과 같이 여러 가지 패턴 영상들에 대하여 다양한 결함 형태가 추출가능하게 되며, 본 발명에서는 특정 위치에서 여러 가지 패턴 영상들의 결함 정보를 추출하여 결함 종류를 분류함으로써, 개별적인 영상 패턴에서의 결함 검출 결과가 만족스럽지 못하더라도, 그러한 결과들을 조합하여 효과적으로 결함 종류를 정확히 분류할 수 있다. FIG. 7 illustrates a method of classifying defect types based on defect information extracted for respective pattern images such as BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, and WHITE. As shown in the accompanying drawings, various defect forms can be extracted for various pattern images, and in the present invention, defect information of various pattern images is extracted from a specific position, and the defect types are classified to detect defects in individual image patterns. Even if the results are not satisfactory, they can be combined to effectively classify the defect types effectively.

이와 같이 결함을 검사하게 되면 일정한 검사 품질 유지 및 기존의 검사 방 법보다 더욱 향상된 검사성능을 기대할 수 있으며, TFT-LCD 패널 상에 존재하는 결함들에 대한 정확한 정보를 취득할 수 있다. In this way, inspection of defects can be expected to maintain a certain inspection quality and more improved inspection performance than existing inspection methods, and obtain accurate information on defects existing on the TFT-LCD panel.

이상에서는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 대하여 도시하고 또한 설명하였으나, 본 발명은 상기한 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형 실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 기재된 청구범위 내에 있게 된다.Although one embodiment of the present invention has been illustrated and described above, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and the present invention is not limited to the above-described embodiments of the present invention without departing from the spirit of the present invention. Anyone of ordinary skill in the art can make various modifications, as well as such modifications are within the scope of the claims.

본 발명에 따른 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 결함 검출 방법과 결함의 분류 방법에 의하면, TFT-LCD 패널에서 발생될 수 있는 점 결함(PIXEL DEFECT), 선 결함(LINE DEFECT) 등의 결함을 모두 검사할 수 있는 효과가 있고, According to the TFT-LCD defect detection method and the classification method of defects using the morphology technique according to the present invention, all defects such as PIXEL DEFECT and LINE DEFECT that can occur in the TFT-LCD panel are inspected. There is an effect to do it,

다른 효과로는 복잡하지 않은 알고리즘(모폴리지 기법)을 적용함으로써 계산 시간 단축, 불확실성 해결 등의 효과를 얻을 수 있고, Other effects include the use of non-complicated algorithms (morphology techniques) to reduce computation time and solve uncertainties.

또 다른 효과로는 고해상도 카메라를 이용하여 검사할 때 발생할 수 있는 시스템 구성의 어려움, 가격문제, 처리속도, 메모리 등의 문제를 해결하고, 일정한 검사 품질 유지 및 더욱 향상된 검사 성능을 얻을 수 있는 효과가 있다. Another effect is to solve the problems of system configuration, price, processing speed, memory, etc., which can occur when inspecting with a high resolution camera, and to maintain constant inspection quality and to obtain improved inspection performance. have.

Claims (6)

TFT-LCD 패널의 결함 검사에서 카메라를 이용하여 영상을 추출하고 이를 분석처리하는 TFT-LCD 패널의 결함 검출 방법에 있어서, In the defect detection method of the TFT-LCD panel which extracts an image using a camera in the defect inspection of the TFT-LCD panel and analyzes it, (a) 상기 TFT-LCD 패널에 BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE 등의 여러가지 패턴 신호를 가하는 단계;(a) applying various pattern signals such as BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE to the TFT-LCD panel; (b) 상기 BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE 등의 패턴 신호에 따라 나타나는 TFT-LCD 패널의 여러 가지 영상을 상기 카메라를 통해 취득하는 단계; 및(b) acquiring various images of the TFT-LCD panel which appear according to the pattern signals of BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE, etc. through the camera; And (c) 상기 카메라를 통해 입력받은 영상을 마스크와 모폴로지 기법을 이용하여 LCD 패널의 결함을 검출하는 단계; 를 포함하여 이루어지는 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 패널의 결함 검출 방법.(c) detecting a defect of the LCD panel using a mask and a morphology technique of the image input through the camera; Defect detection method of a TFT-LCD panel using a morphology technique comprising a. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 (c)단계에서 여러가지 패턴의 영상을 마스크를 사용하여 팽창 후 침식 연산을 먼저 수행한 결과 영상과 상기 결과 영상을 다시금 침식 후 팽창 연산을 수행한 영상을 픽셀단위로 빼주어 화이트 점 결함(WHITE PIXEL DEFECT)을 검출하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 패널의 결함 검출 방법. In the step (c), a white point defect (WHITE) is obtained by subtracting the image obtained by performing the erosion operation after the expansion using the mask of the various patterns using the mask and the image of the expansion operation performed after the erosion after the erosion again. Defect detection method of a TFT-LCD panel using a morphology technique further comprising the step of detecting (PIXEL DEFECT). 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 (c)단계에서 여러가지 패턴의 영상을 마스크를 사용하여 팽창 후 침식 연산을 먼저 수행한 영상과 원영상을 픽셀단위로 빼준 영상을 침식 후 팽창 연산을 수행하여 다크 점 결함(DARK PIXEL DEFECT)을 검출하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 패널의 결함 검출 방법. In the step (c), a dark point defect (DARK PIXEL DEFECT) is obtained by performing an expansion operation after erosion of an image obtained by subtracting the original image and the original image by the pixel unit after the expansion of the image of various patterns using a mask. Defect detection method of a TFT-LCD panel using a morphology technique further comprising the step of detecting. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 마스크는 TFT-LCD 셀의 구조적 특성에 맞게 세로축이 상대적으로 긴 마스크를 사용하고, 상기 모폴로지 기법은 침식 연산과 팽창 연산을 혼합하여 사용하는 것을 특징으로 하는 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 패널의 결함 검출 방법.The mask uses a mask having a relatively long vertical axis according to the structural characteristics of the TFT-LCD cell, and the morphology technique uses a combination of erosion and expansion operations. Detection method. TFT-LCD 패널의 결함 검사에서 카메라를 이용하여 영상을 추출하고 이를 분석처리하는 TFT-LCD 패널의 결함 분류 방법에 있어서, In the defect classification method of the TFT-LCD panel which extracts an image using a camera in the defect inspection of the TFT-LCD panel and analyzes it, (a) 상기 TFT-LCD 패널에 BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE 등의 여러가지 패턴 신호를 가하는 단계;(a) applying various pattern signals such as BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE to the TFT-LCD panel; (b) 상기 BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE 등의 패턴 신호에 따라 나타나는 TFT-LCD 패널의 여러 가지 영상을 상기 카메라를 통해 취득하는 단계;(b) acquiring various images of the TFT-LCD panel which appear according to the pattern signals of BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE, etc. through the camera; (c) 상기 카메라를 통해 입력받은 영상을 마스크와 모폴로지 기법을 이용하여 LCD 패널의 결함을 검출하는 단계; 및(c) detecting a defect of the LCD panel using a mask and a morphology technique of the image input through the camera; And (d) 상기 검출된 결함을 여러가지 패턴별로 분석하여 해당 결함의 종류를 분류하는 단계; 를 포함하여 이루어지는 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 패널의 결 함 분류 방법. (d) classifying the types of the defects by analyzing the detected defects by various patterns; Defect classification method of the TFT-LCD panel using a morphology technique comprising a. 제 5 항에 있어서, The method of claim 5, 상기 (d)단계에서 상기 BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE 등의 여러가지 패턴 영상에 따라 검출된 결함 결과를, RGB 각 섭픽셀에 나타나는 특정 위치 결함으로 분류하는 것을 특징으로하는 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 패널의 결함 분류 방법. In step (d), a morphology technique is characterized by classifying defect results detected according to various pattern images such as BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, and WHITE into specific position defects appearing in each subpixel. Defect classification method of TFT-LCD panel using.
KR1020050054525A 2005-06-23 2005-06-23 Tft-lcd fault detection and classification method which use the motphology KR100661013B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050054525A KR100661013B1 (en) 2005-06-23 2005-06-23 Tft-lcd fault detection and classification method which use the motphology

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050054525A KR100661013B1 (en) 2005-06-23 2005-06-23 Tft-lcd fault detection and classification method which use the motphology

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR100661013B1 true KR100661013B1 (en) 2006-12-26

Family

ID=37815444

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020050054525A KR100661013B1 (en) 2005-06-23 2005-06-23 Tft-lcd fault detection and classification method which use the motphology

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100661013B1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101350452B1 (en) 2011-12-23 2014-01-16 주식회사 포스코 Method for detecting welding point of coil
KR20140067785A (en) * 2012-11-27 2014-06-05 엘지디스플레이 주식회사 Apparatus for automatic inspection of the color difference mura for the display panel and method for the same

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04310924A (en) * 1991-04-10 1992-11-02 Nec Corp Inspection device for fine pattern substrate
JPH06160291A (en) * 1992-11-16 1994-06-07 Sharp Corp Inspection system for display panel
KR19990049936A (en) * 1997-12-16 1999-07-05 구자홍 Defect Detection Device and Method of Liquid Crystal Display
KR20000011818A (en) * 1998-07-21 2000-02-25 이데이 노부유끼 Inspecting method and inspecting apparatus for liquid crystal display panel
JP2001013476A (en) 1999-06-30 2001-01-19 Ricoh Co Ltd Display unevenness inspection device and display unevenness inspection method
KR20040061590A (en) * 2002-12-31 2004-07-07 엘지.필립스 엘시디 주식회사 method for testing pattern of liquid crystal display device

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04310924A (en) * 1991-04-10 1992-11-02 Nec Corp Inspection device for fine pattern substrate
JPH06160291A (en) * 1992-11-16 1994-06-07 Sharp Corp Inspection system for display panel
KR19990049936A (en) * 1997-12-16 1999-07-05 구자홍 Defect Detection Device and Method of Liquid Crystal Display
KR20000011818A (en) * 1998-07-21 2000-02-25 이데이 노부유끼 Inspecting method and inspecting apparatus for liquid crystal display panel
JP2001013476A (en) 1999-06-30 2001-01-19 Ricoh Co Ltd Display unevenness inspection device and display unevenness inspection method
KR20040061590A (en) * 2002-12-31 2004-07-07 엘지.필립스 엘시디 주식회사 method for testing pattern of liquid crystal display device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101350452B1 (en) 2011-12-23 2014-01-16 주식회사 포스코 Method for detecting welding point of coil
KR20140067785A (en) * 2012-11-27 2014-06-05 엘지디스플레이 주식회사 Apparatus for automatic inspection of the color difference mura for the display panel and method for the same
KR101980755B1 (en) * 2012-11-27 2019-05-21 엘지디스플레이 주식회사 Apparatus for automatic inspection of the color difference mura for the display panel and method for the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101958634B1 (en) Apparatus and Method for Mura Defect Detection of Display Device
KR20030089785A (en) Image quality analysis method and system for display device
JP2008020235A (en) Defect inspection device and defect inspection method
JP2005172559A (en) Method and device for detecting line defect on panel
JPH04158238A (en) Inspecting method of liquid crystal panel
KR101980755B1 (en) Apparatus for automatic inspection of the color difference mura for the display panel and method for the same
KR20140121068A (en) Method and apparatus of inspecting mura of flat display
CN112465780B (en) Method and device for monitoring abnormal film thickness of insulating layer
KR100661013B1 (en) Tft-lcd fault detection and classification method which use the motphology
JP3854585B2 (en) Display defect detection method and display defect inspection apparatus for liquid crystal panel
KR20140082333A (en) Method and apparatus of inspecting mura of flat display
JP4664417B2 (en) Display panel lighting inspection device and display panel lighting inspection method.
CN108414535B (en) Method for judging white point Mura defect and Cell foreign body halo open defect of LCD
JPH11257937A (en) Defect inspecting method
JP2002098651A (en) Inspection method and device of lighting state of panel to be inspected, and manufacturing method of display panel using the same
KR102188568B1 (en) Display panel inspection method based on artificial intelligence
JP2004219176A (en) Method and apparatus for detecting pixel irregulality failing
KR20120074702A (en) Diagonal scan method for fast edge detection
US7330580B2 (en) System and method for inspecting an LCD panel
KR100249597B1 (en) Apparatus for inspecting optical uniformity and method therefor
KR100549166B1 (en) method for detecting shaped mura in a light-related plate element for a flat panel
JP2004053477A (en) Color irregularity inspecting method and apparatus
KR100566772B1 (en) method for detecting line defects in a light-related plate element for a flat panel
KR20050068086A (en) Apparatus and method for diagnosing lcd module
Tang et al. 16.5: Key Technologies and Algorithm of Measurement for Mini‐LED‐backlit LCDs

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20121205

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20131127

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141209

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee