KR100647707B1 - Electronic device, thin film transistor, and flat panel display device - Google Patents
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Abstract
Description
도 1a 내지 도 1c는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 전자장치의 제조방법을 순차적으로 도시한 단면도들,1A to 1C are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing an electronic device according to an embodiment of the present invention;
도 2는 본 발명의 바람직한 다른 일 실시예에 따른 박막 트랜지스터의 단면도,2 is a cross-sectional view of a thin film transistor according to another exemplary embodiment of the present invention;
도 3은 본 발명의 바람직한 또 다른 일 실시예에 따른 박막 트랜지스터의 단면도,3 is a cross-sectional view of a thin film transistor according to another preferred embodiment of the present invention;
도 4는 본 발명의 바람직한 또 다른 일 실시예에 따른 평판 표시장치의 단면도.4 is a cross-sectional view of a flat panel display device according to another exemplary embodiment of the present invention.
<도면의 주요부분에 대한 간단한 설명><Brief description of the main parts of the drawing>
11,21: 기판 12,22: 절연층11,21
13,23: 자기조립 단분자층 14,24a,b,c: 개구13,23: self-assembled
15: 도전체 25: 게이트 전극15: conductor 25: gate electrode
26: 게이트 절연막 27a: 소스 전극26: gate
27b: 드레인 전극 28: 반도체층27b: drain electrode 28: semiconductor layer
본 발명은 전자 장치, 박막 트랜지스터, 및 평판표시장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 간단하게 도전체를 패터닝할 수 있는 전자 장치, 박막 트랜지스터, 및 평판표시장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic device, a thin film transistor, and a flat panel display device, and more particularly, to an electronic device, a thin film transistor, and a flat panel display device capable of simply patterning a conductor.
최근의 평판 표시장치는 박형화와 아울러 플렉서블(flexible)한 특성이 요구되고 있다.Recently, flat panel displays are required to be thin and flexible.
이에 따라, 최근에는 기판으로서 플라스틱재나, 금속호일 또는 얇게 형성되어 충분히 휠 수 있는 글라스재 등을 많이 사용하고 있다.Accordingly, in recent years, a plastic material, a metal foil, or a glass material which can be thinly formed and sufficiently bend is used as a substrate.
이러한 플렉서블한 특성을 위해 평판 표시장치에서는 내장된 각종 전극 및 배선 등도 플렉서블한 특성을 지니도록 제조되어야 한다.In order to provide such a flexible characteristic, in the flat panel display, various built-in electrodes and wirings must also be manufactured to have flexible characteristics.
그 한 방법으로, 이러한 도전체들을 금속분말 등이 혼입된 고분자 페이스트를 이용해 형성하거나, 전도성 고분자를 사용하기도 한다.As one method, such conductors may be formed using a polymer paste in which metal powder or the like is mixed, or a conductive polymer may be used.
그런데, 상기와 같은 도전체들은 소정의 패턴을 갖도록 형성되어야 하는 데, 이를 위해서는 마스크 및 별도의 패터닝 공정이 추가로 필요하게 된다. 뿐만 아니라, 이를 박막 트랜지스터의 소스/드레인 전극에 적용할 경우, 반도체와 게이트 절연막 사이의 계면에 패터닝 공정 시 사용되는 많은 유/무기물들이 남게 되어 소자의 전기적인 특성과 구동전압 등에 긴밀한 영향을 미치게 된다.By the way, the conductors as described above should be formed to have a predetermined pattern, which requires a mask and a separate patterning process. In addition, when applied to the source / drain electrodes of the thin film transistor, many organic and inorganic materials used in the patterning process are left at the interface between the semiconductor and the gate insulating film, which affects the electrical characteristics and driving voltage of the device. .
이를 위해 잉크젯 프린팅 방법으로 직접 소정 패턴의 인쇄를 행하기도 하나, 이 경우에도, 잉크가 주변으로 번지게 될 염려가 있어, 미세 패터닝 공정에는 적용 하기 어려운 한계가 있었으며, 잉크가 옆의 패턴으로 넘치지 않도록 뱅크 구조를 별도로 설치해야 하는 문제가 있었다.To this end, printing of a predetermined pattern is performed directly by an inkjet printing method, but even in this case, there is a concern that ink may spread to the surroundings, and thus, there is a limit that is difficult to apply to a fine patterning process, so that the ink does not overflow into the next pattern. There was a problem of installing the bank structure separately.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 간단하게 도전체를 패터닝할 수 있는 전자 장치, 박막 트랜지스터, 및 평판표시장치를 제공하는 데, 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide an electronic device, a thin film transistor, and a flat panel display device which can simply pattern a conductor.
본 발명은 상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여, 베이스와, 상기 베이스 상에 구비되고, 소정 패턴의 개구를 갖는 자기조립 단분자층(self-assembly molecular layer)와, 상기 개구를 통해 노출된 상기 베이스 상에 구비된 도전체;을 포함하는 전자 장치를 제공한다.The present invention provides a base, a self-assembly molecular layer provided on the base and having a predetermined pattern of openings, and on the base exposed through the openings. It provides an electronic device comprising a conductor provided in.
본 발명은 또한 전술한 목적을 달성하기 위하여, 게이트 전극과, 상기 게이트 전극과 절연된 소스 전극 및 드레인 전극과, 상기 게이트 전극과 절연되고, 상기 소스 전극 및 드레인 전극과 전기적으로 연결된 활성층과, 소정 패턴의 개구를 갖는 자기조립 단분자층(self-assembly molecular layer)을 포함하고, 상기 게이트 전극, 소스 전극 및 드레인 전극 중 적어도 하나는, 상기 자기조립 단분자층의 개구를 통해 노출된 부분 상에 위치하는 박막 트랜지스터를 제공한다.The present invention also provides a gate electrode, a source electrode and a drain electrode insulated from the gate electrode, an active layer insulated from the gate electrode and electrically connected to the source electrode and the drain electrode, and A thin film transistor comprising a self-assembly molecular layer having an opening of a pattern, wherein at least one of the gate electrode, the source electrode, and the drain electrode is located on a portion exposed through the opening of the self-assembly monolayer. To provide.
본 발명은 또한, 발광소자와, 베이스 상에 구비되고 소정 패턴의 개구를 갖는 자기조립 단분자층과, 상기 개구를 통해 노출된 상기 베이스 상에 구비되고, 상기 발광소자에 전기적으로 연결된 도전체를 포함하는 평판 표시장치를 제공한다.The invention also includes a light emitting device, a self-assembled monolayer on the base and having a predetermined pattern of openings, and a conductor provided on the base exposed through the opening and electrically connected to the light emitting device. Provided is a flat panel display.
이하, 첨부된 도면을 참조로 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 보다 상세히 설명한다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail a preferred embodiment of the present invention.
먼저, 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 전자 장치의 제조방법을 설명한다.First, a method of manufacturing an electronic device according to an exemplary embodiment of the present invention will be described.
도 1a 내지 도 1g는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 전자 장치의 제조방법을 순차적으로 나타낸 단면도들이다.1A to 1G are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing an electronic device according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 1a에서 볼 수 있듯이, 베이스가 되는 기판(11) 상에 자기조립 단분자층(13, self-assembly molecular layer)을 형성한다. 이 자기조립 단분자층(13)은 소정 패턴의 개구(14)를 구비하고, 이 개구(14)를 통해 베이스인 기판(11)이 노출된다.As shown in FIG. 1A, a self-assembly
기판(11)은 아크릴, 폴리이미드, 폴리카보네이트, 폴리에스테르, 미라르(mylar) 기타 플라스틱 재료가 사용될 수 있는 데, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, SUS, 텅스텐 등과 같은 금속 호일도 사용 가능하고, 글라스재도 사용 가능하다. 상기 기판(11)으로는 플렉시블(flexible)한 기판이 바람직하다.The
이 기판(11)의 상면에는, 불순물 이온이 확산되는 것을 방지하고, 수분이나 외기의 침투를 방지하며, 표면을 평탄화하기 위한 베리어층 및/또는 버퍼층과 같은 절연층(12)이 형성될 수 있다. 도 1a에서는 기판(11) 상면에 절연층(12)이 도시된 것만을 나타내었으나, 본 발명이 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 이러한 절연층(12)이 도1a에서 볼 때, 기판(11)의 하면에 구비될 수도 있고, 아예 존재하지 않을 수도 있다.An
기판(11) 상에 형성되는, 더욱 엄밀하게는 절연층(12) 상에 형성되는 자기조립 단분자층(13)은 소수성, 바람직하게는 극소수성을 갖도록 형성한다. The self-assembled
이렇게 소수성을 갖는 자기조립 단분자층(13)은 특정 구조를 갖는 표면처리시약으로 형성할 수 있다. Thus, the self-assembled
소수성을 갖는 자기조립 단분자층(13)을 형성하는 표면처리시약으로는 OTS(Octadecyltrichlorosilane), PTCS (phenyltrichlorosilane), Fluoroalkyl trichloro silane 등이 이용될 수 있으며 보다 일반적으로는 X-CH 2 (CH2)ySiCl3, X-CH 2 (CH2)ySi(OR)uRv 의 구조를 가지는 유기분자로서, X는 amino기, thiol기, alkyl, fluorinated alkyl등의 그룹이고, y는 1 ~ 20이내이며, u+v=3 (u=1~3, v=1~3)개로 이루어진 물질의 경우 모두 표면처리제로 이용될 수 있다.As a surface treatment reagent for forming the hydrophobic self-assembled
절연막(12) 상에 자기조립 단분자층을 형성한 후에 마스크를 이용하여 개구(14)가 형성될 부분에 UV자외선을 조사한 후, 현상함으로써 자기조립 단분자층(13)에 개구(14)를 형성할 수 있다.After forming the self-assembled monomolecular layer on the
이 외에도, 스탬프(Stamp) 방식에 의해 위 개구(14)를 갖는 자기조립 단분자층(13)의 패턴을 그대로 찍어내어 사용할 수도 있다.In addition, the pattern of the self-assembled
패터닝된 자기조립 단분자층(13)의 형성방법으로는 이 외에도 공지의 방법이 모두 적용 가능하다.In addition to the method of forming the patterned self-assembled
이렇게 개구(14)를 갖는 자기조립 단분자층(13)을 형성한 후에는 도 1b에서 볼 수 있듯이, 잉크젯 노즐(N)로 잉크 페이스트 드롭(D)을 개구(14)로 노출된 절연막(12) 상에 떨어뜨려, 도 1c와 같은 도전체(15)를 형성한다.After forming the self-assembled
도전체(15)를 형성하는 잉크 페이스트는 Al, Mo, Au, Ag, Pt/Pd, Cu 등의 금속이 분말상으로 포함된 페이스트를 사용할 수 있으며, 이 외에도 전도성 고분자를 사용할 수도 있다. 이 때의 잉크 페이스트는 친수성인 것이 바람직하다.As the ink paste for forming the
이러한 잉크 페이스트를 잉크 젯 프린팅법으로 프린팅할 때에, 절연막(12) 상에는 소수성인 자기조립 단분자층(13)이 형성되어 있기 때문에, 페이스트 드롭(D)이 떨어졌을 때에, 이 페이스트 드롭(D)은 개구(14)를 넘쳐나지 않게 된다. 즉, 소수성을 띠는 상기 자기조립 단분자층(13)이 친수성인 잉크 페이스트에 대해 댐 역할을 하며, 이에 따라 잉크 페이스트 드롭(D)이 원하는 영역에 형성되게 된다.When printing such an ink paste by the ink jet printing method, since the hydrophobic self-assembled
이렇게 잉크젯 프린팅으로 잉크 페이스트 드롭(D)을 원하는 패턴으로 형성한 후에 소성하면, 도 1c와 같이, 도전체(15)를 형성할 수 있다.When the ink paste drop D is formed in a desired pattern by inkjet printing and then fired, the
본 발명의 경우, 이렇게 소수성의 자기조립 단분자층(13)을 이용하여 간단하게 도전체(15)를 패터닝할 수 있다. 이러한 도전체(15)는 각종 전자장치의 배선 또는 전극으로 사용될 수 있다.In the case of the present invention, the
도 2는 본 발명의 바람직한 다른 일 실시예에 따른 박막 트랜지스터를 도시한 것으로, 바텀 게이트(Bottom Gate)구조의 박막 트랜지스터를 나타낸 것이다.2 illustrates a thin film transistor according to another exemplary embodiment of the present invention, and illustrates a thin film transistor having a bottom gate structure.
전술한 실시예에서와 같이 절연막(22)이 형성되어 있는 기판(21)에 게이트 전극(25)을 형성한다. 기판(21) 및 절연막(22)에 대한 재질은 전술한 실시예와 같다.As in the above-described embodiment, the
게이트 전극(25)은 금속재로 단층 또는 복수층 적층하여 형성할 수 있는 데, 이 외에도, 금속 분말이 혼합된 고분자 페이스트 또는 전도성 고분자 등을 사용할 수 있다.The
이 게이트 전극(25)을 덮도록 게이트 절연막(26)을 형성한다. 게이트 절연막(26)은 단층 또는 복수층의 구조로 형성되어 있고, 유기물, 무기물, 또는 유/무기 복합물로 형성될 수 있다. 플렉시블한 전자 장치의 경우, 상기 게이트 절연막(26)도 유기물이 포함되도록 하는 것이 바람직한 데, 액상으로 형성할 수 있는 것이 바람직하다.The
상기 게이트 절연막(26)을 베이스로 하여, 게이트 절연막(26) 상에 전술한 자기조립 단분자층(23)을 형성한다. 이 때, 상기 자기조립 단분자층(23)은 소수성을 띠는 것이 바람직하고, 개구(24a)(24b)를 갖도록 패터닝된다. 상기 개구(24a)(24b)는 후술하는 바와 같이 소스 전극(27a) 및 드레인 전극(27b)에 대응되는 패턴으로 형성되며, 도면에 도시하지는 않았지만, 소스 전극(27a) 및 드레인 전극(27b)의 형성과 동시에 형성되는 다른 도전 부재의 패턴에 대응되도록 더 형성된다.The above-described self-assembled
이렇게 개구(24a)(24b)를 갖는 자기조립 단분자층(23)을 형성한 후에는 전술한 잉크 젯 프린팅 방법에 의해 소스전극(27a) 및 드레인 전극(27b)을 형성한다. 소스전극(27a) 및 드레인 전극(27b)은 전술한 도전체의 재질과 동일하다. 이 경우, 상기 소수성일 띠는 자기조립 단분자층(23)에 의해 친수성의 소스전극(27a) 및 드레인 전극(27b) 형성용 잉크 페이스트는 쉽게 패터닝되어질 수 있고, 옆으로 번져 나가는 등의 문제를 일으키지 않게 된다. 잉크 젯 프린팅 후에 소성하면, 도 2에서와 같이 소스전극(27a) 및 드레인 전극(27b)을 형성할 수 있게 된다.After the self-assembled
소스전극(27a) 및 드레인 전극(27b)을 형성한 후에는 이 소스전극(27a) 및 드레인 전극(27b)에 각각 접하도록 활성층(28)을 형성한다. 활성층(28)은 무기 또는 유기 반도체재로 형성할 수 있는 데, 유기 반도체재로 형성할 경우, 상기 자기조립 단분자층(23)의 효과를 더욱 높일 수 있다.After the
즉, 활성층(28)으로서 유기 반도체재를 사용할 경우, 활성층(28)과 게이트 절연막(26)과의 사이에 자기조립 단분자층(23)이 개재되므로, 활성층(28)의 게이트 절연막(26)에의 접착력을 더욱 높일 수 있고, 활성층(28)의 채널이 형성되는 부분에서 소스/드레인 전극(27a)(27b)과 활성층(28)의 오믹 컨택을 이룰 수 있다.That is, in the case of using the organic semiconductor material as the
상기 활성층(28)을 형성할 수 있는 유기 반도체 물질로는, 펜타센(pentacene), 테트라센(tetracene), 안트라센(anthracene), 나프탈렌(naphthalene), 알파-6-티오펜, 알파-4-티오펜, 페릴렌(perylene) 및 그 유도체, 루브렌(rubrene) 및 그 유도체, 코로넨(coronene) 및 그 유도체, 페릴렌테트라카르복실릭디이미드(perylene tetracarboxylic diimide) 및 그 유도체, 페릴렌테트라카르복실릭디안하이드라이드(perylene tetracarboxylic dianhydride) 및 그 유도체, 나프탈렌의 올리고아센 및 이들의 유도체, 알파-5-티오펜의 올리고티오펜 및 이들의 유도체, 금속을 함유하거나 함유하지 않은 프탈로시아닌(phthalocyanine) 및 이들의 유도체, 나프탈렌테트라카르복실릭디이미드(naphthalene tetracarboxylic diimide) 및 그 유도체, 나프탈렌테트라카르복실릭디안하이드라이드(naphthalene tetracarboxylic dianhydride) 및 그 유도체, 파이로멜리틱 디안하이드라이드 및 그 유도체, 파이로멜리틱 디이미드 및 이들의 유도체, 티오펜을 포함하는 공액계 고분자 및 그 유도체, 및 플루오렌을 포함하는 고분자 및 그 유도체 등이 사용될 수 있다.Examples of the organic semiconductor material capable of forming the
본 발명의 경우, 이렇게 소수성의 자기조립 단분자층(23)을 이용하여 간단하게 소스전극(27a) 및 드레인 전극(27b)을 패터닝할 수 있고, 이와 동시에, 유기 반도체재의 활성층(28)의 게이트 절연막(26)에의 접착력을 향상시킬 수 있으며, 소스/드레인 전극(27a)(27b)과 활성층(28) 사이의 오믹 컨택을 도울 수 있다.In the present invention, the
이러한 본 발명은 도 3에서 볼 수 있듯이, 탑 게이트(Bottom Gate) 구조에서도 동일하게 적용될 수 있다.As shown in FIG. 3, the present invention may be equally applied to a top gate structure.
도 3의 경우, 기판(21)의 절연층(22) 상에 개구(24a)(24b)를 구비한 자기조립 단분자층(23)이 형성되고, 개구(24a)(24b)를 통해 노출된 절연층(22) 상에 소스/드레인 전극(27a)(27b)이 형성된다. 이 소스/드레인 전극(27a)(27b)에 각각 접하도록 활성층(28)이 형성된다. 그리고, 이를 덮도록 게이트 절연막(26)이 형성된 후, 그 위에 게이트 전극(25)이 형성된다. 각 부재의 재질 및 형성방법은 전술한 실시예와 동일하므로, 상세한 설명은 생략한다.3, a self-assembled
도 2 및 도 3에 따른 실시예에서는 소스/드레인 전극(27a)(27b)을 자기조립 단분자층(23)을 이용하여 패터닝하는 경우를 나타내었으나, 도 2 및 도 3에 따른 구조에서 게이트 전극(25) 및 이와 동시에 형성되는 다른 도전 패턴(미도시)들도 동일하게 자기조립 단분자층(23)을 이용하여 패터닝할 수 있다. 즉, 게이트 전극(25) 및 이와 동시에 형성되는 다른 도전 패턴(미도시)들의 형성 시에도 미리 개구를 형성한 자기조립 단분자층(23)을 형성한 후, 이 개구에 잉크젯 프린팅하여 형성 할 수 있는 것이다. 2 and 3 illustrate a case in which the source /
또한, 이와는 달리, 소스/드레인 전극(27a)(27b)에는 자기조립 단분자층(23)을 이용한 패터닝 방법을 적용하지 않고, 게이트 전극(25) 및 이와 동시에 형성되는 다른 도전 패턴(미도시)들에만 자기조립 단분자층(23)을 이용한 패터닝 방법을 적용할 수도 있다.Alternatively, the patterning method using the self-assembled
이렇게 본 발명에 따라 형성된 박막 트랜지스터는 각 부화소에 탑재될 수도 있고, 화상이 구현되지 않는 드라이버 회로(미도시) 또는 기타 전자 회로에도 탑재 가능하다.Thus, the thin film transistor formed according to the present invention may be mounted in each subpixel, or may be mounted in a driver circuit (not shown) or other electronic circuit in which an image is not implemented.
도 4는 그 중 한 예인 유기 발광 표시장치(Organic Light Emitting Display)에 적용된 예를 나타낸 것이다. 도 4는 유기 발광 표시장치의 하나의 부화소를 도시한 것으로, 이러한 각 부화소에는 자발광 소자로서 유기 발광 소자(Organic Light Emitting Diode: OLED)를 구비하고 있고, TFT가 적어도 하나 이상 구비되어 있다. 그리고, 도면으로 나타내지는 않았지만 적어도 하나의 커패시터가 더 구비되어 있다.4 illustrates an example applied to an organic light emitting display, which is one example. FIG. 4 illustrates one subpixel of an organic light emitting diode display, and each subpixel includes an organic light emitting diode (OLED) as a self-luminous element, and includes at least one TFT. . Although not shown in the drawings, at least one capacitor is further provided.
이러한 유기 발광 표시장치는 유기 발광 소자(OLED)의 발광 색상에 따라 다양한 화소패턴을 갖는 데, 바람직하게는 적, 녹, 청색의 화소를 구비한다.The organic light emitting diode display has various pixel patterns according to the color of light emitted by the OLED, and preferably includes red, green, and blue pixels.
이러한 적(R), 녹(G), 청(B)색의 각 부화소는 도 4에서 볼 수 있는 바와 같은 TFT 구조와 자발광 소자인 유기 발광 소자(OLED)를 갖는다. 이 TFT는 전술한 도 2의 실시예에 따른 TFT가 될 수 있다. 그러나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니고, 다양한 구조의 박막 트랜지스터를 구비할 수 있다. Each of the sub-pixels of red (R), green (G), and blue (B) colors has a TFT structure as shown in FIG. 4 and an organic light emitting element (OLED) which is a self-luminous element. This TFT may be a TFT according to the embodiment of FIG. 2 described above. However, the present invention is not limited thereto, and thin film transistors having various structures may be provided.
도 4에서 볼 수 있듯이, 기판(21)의 절연막(22)상에 전술한 도 2에서 볼 수 있는 TFT가 구비된다. 이 TFT에 대한 설명은 전술한 바와 같으므로 생략하도록 한다. As can be seen from FIG. 4, the TFT shown in FIG. 2 described above is provided on the insulating
한편, 도 4에는 소스/드레인 전극(27a)(27b)이 형성됨과 동시에 형성되는 다른 배선(29)도 도시되어 있다.4 shows another
이 배선(29)은 Vdd 또는 Vss와 같은 전원 배선이나, 스캔, 데이터 등의 각종 신호 배선이 될 수 있다.This
상기 배선(29)은 자기 조립 단분자층(23)에 소스/드레인 전극용 개구(24a)(24b) 외에 별도의 개구(24c)를 더 형성하여 이 개구(24c)에 프린팅하여 형성할 수 있다.The
이렇게 배선(29) 및 TFT가 형성된 후에는 이들을 덮도록 평탄화막(30)이 형성되는 데, 이 평탄화막(30)은 단층 또는 복수층의 구조로 형성되어 있고, 유기물, 무기물, 또는 유/무기 복합물로 형성될 수 있다.After the
상기 평탄화막(30)의 상부에는 유기 발광 소자(OLED)의 한 전극인 화소전극(31)이 형성되고, 그 상부로 화소정의막(32)이 형성되며, 이 화소정의막(32)에 소정의 개구부를 형성한 후, 유기 발광 소자(OLED)의 유기 발광막(33)을 형성한다. The
상기 유기 발광 소자(OLED)는 전류의 흐름에 따라 적, 녹, 청색의 빛을 발광하여 소정의 화상 정보를 표시하는 것으로, TFT의 소스/드레인 전극(27a)(27b) 중 어느 한 전극에 연결된 화소 전극(31)과, 전체 화소를 덮도록 구비된 대향 전극(34), 및 이들 화소 전극(31)과 대향 전극(34)의 사이에 배치되어 발광하는 유기 발광막(33)으로 구성된다. The organic light emitting diode (OLED) emits red, green, and blue light according to the flow of current to display predetermined image information, and is connected to any one of the source /
상기 화소 전극(31)과 대향 전극(34)은 상기 유기 발광막(33)에 의해 서로 절연되어 있으며, 유기 발광막(33)에 서로 다른 극성의 전압을 가해 유기 발광막(33)에서 발광이 이뤄지도록 한다.The
상기 유기 발광막(33)은 저분자 또는 고분자 유기막이 사용될 수 있는 데, 저분자 유기막을 사용할 경우 홀 주입층(HIL: Hole Injection Layer), 홀 수송층(HTL: Hole Transport Layer), 발광층(EML: Emission Layer), 전자 수송층(ETL: Electron Transport Layer), 전자 주입층(EIL: Electron Injection Layer) 등이 단일 혹은 복합의 구조로 적층되어 형성될 수 있으며, 사용 가능한 유기 재료도 구리 프탈로시아닌(CuPc: copper phthalocyanine), N,N-디(나프탈렌-1-일)-N,N'-디페닐-벤지딘 (N,N'-Di(naphthalene-1-yl)-N,N'-diphenyl-benzidine: NPB) , 트리스-8-하이드록시퀴놀린 알루미늄(tris-8-hydroxyquinoline aluminum)(Alq3) 등을 비롯해 다양하게 적용 가능하다. 이들 저분자 유기막은 진공증착의 방법으로 형성된다.The organic
고분자 유기막의 경우에는 대개 홀 수송층(HTL) 및 발광층(EML)으로 구비된 구조를 가질 수 있으며, 이 때, 상기 홀 수송층으로 PEDOT를 사용하고, 발광층으로 PPV(Poly-Phenylenevinylene)계 및 폴리플루오렌(Polyfluorene)계 등 고분자 유기물질을 사용하며, 이를 스크린 인쇄나 잉크젯 인쇄방법 등으로 형성할 수 있다.In the case of the polymer organic film, the structure may include a hole transporting layer (HTL) and a light emitting layer (EML). In this case, PEDOT is used as the hole transporting layer, and polyvinylvinylene (PPV) and polyfluorene are used as the light emitting layer. Polymer organic materials such as (Polyfluorene) are used and can be formed by screen printing or inkjet printing.
상기와 같은 유기막은 반드시 이에 한정되는 것은 아니고, 다양한 실시예들이 적용될 수 있음은 물론이다. 그리고, 도 4에서는 유기 발광막(33)이 특정 영역에만 한정되어 형성된 것으로 도시되었으나, 이는 발광층의 패터닝된 모습을 나타 내기 위한 것으로, 홀 주입층(HIL), 홀 수송층(HTL), 전자 수송층(ETL), 전자 주입층(EIL) 과 같이, 화소의 색상에 무관한 층들은 공통층으로서 전체 화소를 덮도록 형성될 수도 있다.The organic layer as described above is not necessarily limited thereto, and various embodiments may be applied. In FIG. 4, the organic
상기 화소 전극(31)은 애노우드 전극의 기능을 하고, 상기 대향 전극(34)은 캐소오드 전극의 기능을 하는 데, 물론, 이들 화소 전극(31)과 대향 전극(34)의 극성은 반대로 되어도 무방하다. The
본 발명에 있어서, 상기 화소 전극(31)도 전술한 자기조립 단분자층에 의한 패터닝 방법으로 패터닝할 수 있다.In the present invention, the
본 발명은 반드시 상기와 같은 구조로 한정되는 것은 아니며, 다양한 유기 발광 표시장치의 구조가 그대로 적용될 수 있음은 물론이다.The present invention is not necessarily limited to the above structure, and the structure of various organic light emitting display devices may be applied as it is.
액정표시장치의 경우, 화소전극을 덮는 하부배향막(미도시)을 형성함으로써, 액정표시장치의 하부기판의 제조를 완성한다.In the case of the liquid crystal display device, a lower alignment film (not shown) covering the pixel electrode is formed to complete the manufacture of the lower substrate of the liquid crystal display device.
상기한 바와 같은 본 발명에 따르면, 이렇게 소수성의 자기조립 단분자층을 이용하여 간단하게 도전체를 패터닝할 수 있으며, 이에 따라 미세 패턴도 형성할 수 있다.According to the present invention as described above, it is possible to simply pattern the conductor using the hydrophobic self-assembled monolayer, thereby forming a fine pattern.
또, 자기조립 단분자층 상에 유기 반도체재의 활성층을 형성할 경우, 유기 반도체재 하부 부재에 대한 접착력을 향상시킬 수 있으며, 소스/드레인 전극과의 오믹 컨택을 도울 수 있다.In addition, when the active layer of the organic semiconductor material is formed on the self-assembled monolayer, it is possible to improve the adhesion to the lower portion of the organic semiconductor material, and may help the ohmic contact with the source / drain electrodes.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although described above with reference to a preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art will be variously modified and changed within the scope of the invention without departing from the spirit and scope of the invention described in the claims below I can understand that you can.
Claims (20)
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KR20160112283A (en) * | 2015-03-18 | 2016-09-28 | 경희대학교 산학협력단 | Structure for bonding substrate and method for manufacturing the same |
KR20190087693A (en) * | 2018-01-15 | 2019-07-25 | 삼성디스플레이 주식회사 | Display device and method for manufacturing the display device |
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- 2005-10-14 KR KR1020050096936A patent/KR100647707B1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20160112283A (en) * | 2015-03-18 | 2016-09-28 | 경희대학교 산학협력단 | Structure for bonding substrate and method for manufacturing the same |
KR101674027B1 (en) | 2015-03-18 | 2016-11-08 | 경희대학교 산학협력단 | Structure for bonding substrate and method for manufacturing the same |
KR20190087693A (en) * | 2018-01-15 | 2019-07-25 | 삼성디스플레이 주식회사 | Display device and method for manufacturing the display device |
KR102486552B1 (en) | 2018-01-15 | 2023-01-10 | 삼성디스플레이 주식회사 | Display device and method for manufacturing the display device |
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