KR100487429B1 - Method For Repairing A Defect Of Liquid Crystal Display Device And Liquid Crystal Display Device - Google Patents

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Abstract

본 발명은 액정표시소자의 결함수리방법에 관한 것으로, 패널 완성후 자동 프로브 검사시 발견된 회로가 작동하지 못하는 휘점의 좌표를 떠서 자동 정렬후 상기 휘점 좌표의 상부 C/F기판을 검은 안료 또는 테이프로 가려 암점화하여 수리하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 결함수리방법이다.The present invention relates to a method for repairing a defect of a liquid crystal display device, wherein a black pigment or a tape is formed on the upper C / F substrate of the bright coordinates after the automatic alignment by floating the coordinates of the bright spots in which the circuit found during the automatic probe inspection after the panel is completed. The defect repair method of the liquid crystal display device characterized in that the darkening and repairing.

Description

액정표시소자의 결함수리방법 및 액정표시소자{Method For Repairing A Defect Of Liquid Crystal Display Device And Liquid Crystal Display Device}Method for Repairing A Defect Of Liquid Crystal Display Device And Liquid Crystal Display Device

본 발명은 액정표시소자의 결함수리방법 및 액정표시소자에 관한 것으로, 특히 점결함 수리방법에 관한 것이다.The present invention relates to a defect repair method and a liquid crystal display device of the liquid crystal display device, and more particularly to a method for repairing point defects.

액정표시소자는 저전압 구동, 풀 칼라 구현, 경박 단소 등의 특징으로 인하여 노트북, 개인 휴대 단말기, TV, 항공용 모니터 등으로 그 용도가 다양하다. 최근 액정표시소자의 산업계에서는 대형 패널을 제조하려는 연구가 활발하다. Liquid crystal display devices have various uses such as notebooks, personal digital assistants, TVs, and aviation monitors due to low voltage driving, full color implementation, and light and small size. In recent years, research into manufacturing large panels has been actively conducted in the industry of liquid crystal display devices.

여기서, 액정표시소자는 수 만개의 박막트랜지스터에 구동 전압을 주어 동일 갯수의 화소 전극을 활성 시키고 화소 전극과 공통 전극 사이의 액정의 배열에 따른 광 투과율을 이용하여 화상을 구현하는 표시장치이다. 그러나, 액정표시소자를 제조할 때, 수만 개의 화소 전극 중 작동이 되지 않는 화소 전극이 있다. 이 결함에는 선 전체가 작동되지 않는 선결함과 한 좌표만이 작동되지 않는 점결함이 있다. Here, the liquid crystal display device is a display device that applies an operating voltage to tens of thousands of thin film transistors to activate the same number of pixel electrodes, and implements an image by using light transmittance according to the arrangement of liquid crystals between the pixel electrode and the common electrode. However, when manufacturing a liquid crystal display device, there are pixel electrodes which do not operate among tens of thousands of pixel electrodes. This defect includes predecessors that do not operate the entire line and point defects where only one coordinate does not work.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 작동되지 않는 화소 전극의 원인과 종래 기술에 의한 점결함 수리방법에 관하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail with respect to the cause of the non-operating pixel electrode and the method for repairing the point defect according to the prior art.

도 1은 일반적인 액정표시소자의 TFT 어레이내의 결함 유형을 나타내는 평면도이고, 도 2는 종래의 점결함 수리방법 공정도이다.1 is a plan view showing a defect type in a TFT array of a general liquid crystal display device, and FIG. 2 is a process chart of a conventional point defect repair method.

도 1과 같이, TFT 어레이의 점결함을 나타내었다. 여기서, G1, G2, G3 는 게이트배선들이고 D1, D2, D3 는 데이터배선들이다.As shown in FIG. 1, the point defects of the TFT array are shown. Here, G 1, G 2, and G 3 are gate wirings and D 1, D 2 and D 3 are data wirings.

먼저, 점결함의 원인으로는 소오스/드레인 활성층이 없거나, 화소전극의 부착이 안된 경우와 드레인과 화소전극간의 접촉이 불안정하거나 안된 경우 등이 있다. 점결함의 종류는 다음과 같다. 소오스의 불량에 의한 점결함(101)이 있고, 소오스와 드레인간의 단락에 의한 점결함(102)이 있다. 그리고, 게이트 불량에 의한 점결함(103)이 있고, 화소 전극과 화소 전극간의 단락에 의한 점결함(104)이 있다. 여기서 단락은 연결(short)됨을 뜻한다. First, there are no source / drain active layers, a case where the pixel electrode is not attached, and a contact between the drain and the pixel electrode are unstable or not. The types of point defects are as follows. There is a point defect 101 due to a source defect and a point defect 102 due to a short circuit between a source and a drain. There is a point defect 103 due to a gate defect, and a point defect 104 due to a short circuit between the pixel electrode and the pixel electrode. Short circuit here means short.

도 2와 같이, 종래 기술에 의한 점결함 수리방법은 먼저, 자동 프로브장치를 통해 불량 좌표를 검출한다(210). 상기 불량 좌표 검출(210) 방법은 한 라인씩 게이트배선과 데이터배선의 교차점에 니들을 고정하고 외부 신호를 통해 전압을 인가한 다음 신호를 구동하지 못하는 좌표를 검출하는 방법을 사용한다. 구동하지 못하는 점결함은 휘점과 암점이 있다. 이때, 액정표시소자는 NW(normally white)인 경우, 신호를 구동하지 못하는 좌표는 휘점(bright point)을 나타낸다. 여기서, 외부 신호를 주는 방법은 개인 컴퓨터나 패턴 제너레이터를 이용한다. 그리고, 휘점을 명확하게 구별하기 위하여 그레이(Gray)를 띄어 놓고 불량 좌표를 찾는다. As shown in FIG. 2, in the conventional method for repairing a point defect, a defect coordinate is first detected through an automatic probe device (210). The bad coordinate detection method 210 uses a method of fixing a needle at an intersection point of a gate wiring line and a data wiring line by line, applying a voltage through an external signal, and then detecting a coordinate that cannot drive a signal. Point defects that cannot be driven have bright spots and dark spots. In this case, when the liquid crystal display is normally white (NW), coordinates that cannot drive a signal indicate a bright point. Here, a method of giving an external signal uses a personal computer or a pattern generator. Then, in order to clearly distinguish the bright spots, a gray is placed and the defective coordinates are found.

불량 좌표를 찾은 다음 레이저 수리(220, Laser Repair)를 한다. 레이저로 휘점을 암점화하는 것이다. 즉, 게이트 전극과 스토리지 전극을 레이저로 용접(welding)하여 연결(short)시키는 것이다. 여기서, 레이저 용접이란 다음과 같다. 레이저는 고에너지의 인공 광선으로 금속에 조사하면 열에너지로 변해 금속을 녹이거나(용접), 강하면 금속을 연소(제거)시킬 수 있다. 용접은 레이저 파워가 약하고, 토출 슬릿 크기가 작을 경우이고, 연소(제거)는 레이저 파워가 강하고, 토출 슬릿 크기가 클 경우이다. 레이저를 잘 선택하여 게이트 전극과 스토리지 전극을 용접한다. 레이저 용접기를 사용하여 조사하면 게이트 전극과 스토리지 전극 상층의 유기막(passivation)은 낮은 온도에서 연소되어 버리므로 게이트 전극과 스토리지 전극을 용접할 수 있다. Find the defective coordinates and then do a laser repair (220). It is to darken the point of light with a laser. That is, the gate electrode and the storage electrode are welded with a laser to shorten them. Here, laser welding is as follows. When a laser is irradiated to a metal with a high energy artificial ray, the laser can be converted into thermal energy to melt (weld) the metal or to burn (remove) the metal if strong. Welding is when the laser power is weak, and the discharge slit size is small, and combustion (removal) is when the laser power is strong and the discharge slit size is large. Select the laser well to weld the gate and storage electrodes. When irradiated using a laser welding machine, the passivation of the gate electrode and the upper layer of the storage electrode is burned at a low temperature, so that the gate electrode and the storage electrode can be welded.

그런 다음, 자동 프로브 장치를 사용하여 상기 점결함의 수리 성공 여부를 확인한다(230). 방법은 도면부호 210의 설명과 동일하다.Then, it is checked whether the point defect is repaired successfully by using the automatic probe device (230). The method is the same as that described at 210.

점결함(휘점)이 성공적으로 수리됨을 확인하고 난 후 증류수로 세정하고 편광판을 부착한다(240). 상기 편광판 부착 후(240) Tab 부착하고 검사한다(250).After confirming that the point defects (bright spots) are successfully repaired, washing with distilled water and attaching a polarizing plate (240). After attaching the polarizer (240) Tab attached and inspected (250).

상기와 같은 액정표시소자의 결함수리방법은 다음과 같은 문제점이 있다. The defect repair method of the liquid crystal display device as described above has the following problems.

첫째, 레이저 수리시 선결함이 발생될 수 있는 점결함은 수리할 수 없다.First, point defects that can cause predecessors during laser repair cannot be repaired.

즉, 데이터배선과 스토리지 전극이 잘못 연결되어 있는 경우, 게이트 전극과 스토리지 전극을 레이저로 용접하면(게이트배선과 스토리지 전극이 연결되고) 스토리지 전극과 연결된 데이터배선에 게이트배선이 연결되는 선결함이 발생하므로 점결함을 수리할 수 없다.In other words, when the data line and the storage electrode are incorrectly connected, when the gate electrode and the storage electrode are laser-welded (the gate line and the storage electrode are connected), a gate defect is connected to the data line connected to the storage electrode. Therefore, it is impossible to repair the point defect.

둘째, 결함을 검출 못하고 다음 공정으로 진행할 경우, 점결함을 수리할 수가 없다.Second, if the defect is not detected and proceeds to the next step, the point defect cannot be repaired.

셋째, 휘점의 수리 공정이 복잡하다. Third, the repair process of the bright spot is complicated.

넷째, 결함을 재수리하려면 편광판을 제거해야 하므로 비용이 많이 발생한다.Fourth, in order to repair the defect, the polarizer must be removed, which causes a high cost.

본 발명은 상기와 같은 문제점들을 해결하기 위하여 안출한 것으로, 패널 완성 후 자동 프로브 검사시 발견된 휘점의 좌표를 떠서 편광판 부착전에 자동 정렬 후 상기 좌표에 검은 안료 또는 테이프로 휘점의 상부 C/F 기판을 가려 암점화하는 점결함수리방법으로 공정이 간단하고, 선결함의 부작용이 발생하지 않고, 프로브 검사시 놓친(miss) 경우에도 수리가 가능하고, 저렴한 비용의 액정표시소자의 결함수리방법 및 액정표시소자를 제공하는 데 그 목적이 있다.The present invention has been made to solve the above problems, and after the completion of the panel, the coordinates of the spots found during the automatic probe inspection floating the upper C / F substrate of the spots with a black pigment or tape on the coordinates after the automatic alignment before polarizing plate attachment The process of repairing the point defects by dark spots is simple, the process is simple, no side effects of the predefects occur, and repair is possible even if missed during the probe inspection. The object is to provide an element.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 액정표시소자의 결함수리방법은, 패널 완성후 자동 프로브 검사시 발견된 회로가 작동하지 못하는 휘점의 좌표를 떠서 자동 정렬후 상기 휘점 좌표의 상부 C/F기판을 검은 안료 또는 테이프로 가려 암점화하여 수리하는 것을 특징으로 한다.Defect repair method of the liquid crystal display device of the present invention for achieving the above object, the upper C / F of the coordinate coordinates after the automatic alignment by floating the coordinates of the bright spot that the circuit found during the automatic probe inspection after completion of the panel It is characterized by covering the substrate with black pigment or tape to darken and repair.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 의한 액정표시소자의 결함수리방법 및 액정표시소자를 상세히 설명하면 다음과 같다. Hereinafter, a defect repairing method and a liquid crystal display device of a liquid crystal display device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3은 본 발명을 실시하기 위한 자동 프로브 장치의 단면도이고, 도 4는 본 발명을 실시하기 위한 도 3을 포함한 자동 프로브 장치의 구성도이고, 도 5는 본 발명의 점결함 수리방법 공정도이고 그리고 도 6은 본 발명에 의해 수리된 액정표시소자의 단면도이다. 3 is a cross-sectional view of an automatic probe device for carrying out the present invention, FIG. 4 is a configuration diagram of the automatic probe device including FIG. 3 for carrying out the present invention, and FIG. 5 is a process diagram of a method for repairing point defects of the present invention. 6 is a cross-sectional view of the liquid crystal display device repaired by the present invention.

도 3과 같이, LCD 기판(300)을 스테이지(318) 및 흡착테이블(317)에 의해 규정된 검사 위치로 로봇팔 등과 같은 핸들링 수단을 이용하여 이동시키고, 진공 흡착으로 기판(300)을 고정시킨다. 그리고, 스테이지 사프트(319)로 상기 스테이지(318)를 이동시킨다. 상기 스테이지(318) 상부에 백라이트(301), 상기 백라이트(302) 상부에 전등빛을 확산시키는 확산판(302), 상기 확산판(302) 상부에 한 방향의 빛을 투과시키는 하판 편광판(303)이 설치되어 있다. 상기 흡착테이블(317)은 편광된 빛을 투과시킬 수 있는 재질로 형성되어 있다. As shown in FIG. 3, the LCD substrate 300 is moved to a test position defined by the stage 318 and the suction table 317 using handling means such as a robot arm, and the substrate 300 is fixed by vacuum suction. . Then, the stage 318 is moved to the stage shaft 319. A backlight 301 on the stage 318, a diffuser plate 302 for diffusing an electric light on the backlight 302, and a lower plate polarizer 303 for transmitting light in one direction on the diffuser plate 302. Is installed. The adsorption table 317 is formed of a material capable of transmitting polarized light.

상판 편광판(312)를 투과할 광원(314)는 조명 지그(311) 내에 배치되어 있고 상기 광원(314)의 조도는 조광 박스(316)를 통해 조절된다. 여기서, 프로브 장치는 차광 박스(315)에 의해 외부와 차단된다.A light source 314 that will pass through the upper polarizing plate 312 is disposed in the illumination jig 311, and the illuminance of the light source 314 is adjusted through the dimming box 316. Here, the probe device is cut off from the outside by the light blocking box 315.

상기 조명 지그(311)는 상기 광원(314)을 장착시키기 위한 장치이고 베이스플레이트(313) 내에 배치된다. 상기 조명 지그(311) 및 상기 광원(314)은 상기 조광 박스(316)로부터 조명 신호의 제어하에 직류광(320)을 일정하게 발광시키기 위해 직류 전류에 의해서 점등되는 조명 장치이다. The lighting jig 311 is a device for mounting the light source 314 and is disposed in the base plate 313. The lighting jig 311 and the light source 314 are lighting devices that are turned on by a direct current so as to constantly emit the DC light 320 under the control of an illumination signal from the dimming box 316.

점결함을 검사하기 위하여 상기 스테이지(318)와 상기 스테이지 사프트(319)를 조절하여 상기 기판(300)을 매뉴플레이터(313a)까지 상승시키고 베이스플레이터(313)와 상기 매뉴플레이터(313a)를 게이트배선과 데이터배선의 교차점에 직접 접촉시키고 전압을 인가하여 상기 기판(300)을 전기적으로 검사한다. 이때, 상기 흡착테이블(317)은 상기 매뉴플레이터(313a)가 상기 게이트 및 드레인 단자들과 정밀하게 접촉할 수 있도록 상기 기판(300)을 고정시키기 위하여 흡착한다. To check the point defect, the stage 318 and the stage shaft 319 are adjusted to raise the substrate 300 to the manipulator 313a, and the baseplate 313 and the manipulator 313a are moved. The substrate 300 is electrically inspected by directly contacting an intersection point of the gate line and the data line and applying a voltage. At this time, the adsorption table 317 adsorbs the substrate 300 to fix the substrate 300 so that the manipulator 313a can accurately contact the gate and drain terminals.

불량 좌표 검출 방법은 다음과 같다. 상기 베이스플레이터(313)와 상기 매뉴플레이터(313a)는 포고핀(pogo pin) 또는 니들(needle)등과 같이 선단이 침상인 프로브를 가지고 있고, 한 라인씩 게이트배선과 데이터배선의 교차점에 프로브를 고정하고 외부 신호를 통해 전압을 인가한 다음 신호를 구동하지 못하는 좌표를 육안으로 검출하는 방법을 사용한다. 구동하지 못하는 점결함은 휘점과 암점이 있다. 이때, 액정표시소자는 NW(normally white)인 경우, 신호를 구동하지 못하는 좌표는 휘점(bright point)을 나타낸다. 여기서, 외부 신호를 주는 방법은 개인 컴퓨터나 패턴 제너레이터를 이용한다. 그리고, 휘점을 명확하게 구별하기 위하여 그레이(Gray)를 띄어 놓고 불량 좌표를 찾는다.The bad coordinate detection method is as follows. The base plate 313 and the man plate 313a have probes having needle tips such as pogo pins or needles, and probes at intersections of gate and data lines line by line. Is fixed, voltage is applied through an external signal, and then a method of visually detecting a coordinate that cannot drive the signal is used. Point defects that cannot be driven have bright spots and dark spots. In this case, when the liquid crystal display is normally white (NW), coordinates that cannot drive a signal indicate a bright point. Here, a method of giving an external signal uses a personal computer or a pattern generator. Then, in order to clearly distinguish the bright spots, a gray is placed and the defective coordinates are found.

상기 기판(300)의 불량 좌표를 검출하고 표시 후 상기 매뉴플레이터(313a)로부터 상기 기판(300)을 하강시킨다.After detecting and displaying a defective coordinate of the substrate 300, the substrate 300 is lowered from the manipulator 313a.

도 4의 자동 프로브 장치의 구성도를 이용하여 각 부 명칭 및 간단한 설명을 하면 다음과 같다. 워크테이블(401)은 패널 반송, 얼라이먼트(정렬)후 니들(needle)과의 접촉 등을 수행한다. 상기 워크테이블(401) 내에는 백라이트, 확산판, 하판 편광판이 아래로부터 순차적으로 형성되어 있다. 얼라이먼트 카메라(402)는 패널의 얼라이먼트마크를 촬영한다. 베이스플레이트(403)는 프로브 유닛이 장착되는 기판이다. 상기 프로브 유닛에는 PCB, FPC, TAB IC, 니들 또는 필름형 등으로 구성되어 있다. Referring to the names and brief description of each part using the configuration diagram of the automatic probe device of Figure 4 as follows. The worktable 401 performs panel conveyance, contact with the needle after alignment, and the like. In the work table 401, a backlight, a diffusion plate, and a lower plate polarizer are sequentially formed from below. The alignment camera 402 photographs the alignment mark of the panel. The base plate 403 is a substrate on which the probe unit is mounted. The probe unit is composed of PCB, FPC, TAB IC, needle or film type.

패널 세트 위치(404)는 검사할 패널을 장착, 탈착하는 부분이다. 그리고, CRT 모니터(405)는 패널의 얼라이먼트마크가 표시되는 모니터이다. 현미경암(406)은 전극과 니들과의 접촉상태 및 불량관찰을 위해 사용한다. 오퍼레이션 패널(407)은 현재의 동작 상태를 나타낸다. 테스팅 패널(408)에는 백라이트 전원, 이오나이저 전원 스위치가 표시되어 있다. 본체전원스위치패널(409)는 장비 전원 ON, OFF를 수행한다. The panel set position 404 is a portion for mounting and detaching the panel to be inspected. The CRT monitor 405 is a monitor on which alignment marks of panels are displayed. The microscope arm 406 is used for poor contact and contact state between the electrode and the needle. The operation panel 407 shows the current operating state. The testing panel 408 shows a backlight power supply, ionizer power switch. The main body power switch panel 409 performs equipment power on and off.

가대(410)은 장비콘트롤 박스가 내재되어 있고 검사높이를 조절할 수 있다. 비상전원스위치(411)는 비상시 장비 작동을 정지시키는 스위치이다. 백라이트조정스위치(412)는 백라이트 휘도를 조절하는 스위치이다. 런 모델 표시기(413)는 현재 설정되어 있는 패널의 모델과 두께가 표시되어 있다. Mounting frame 410 is a built-in equipment control box and can adjust the inspection height. Emergency power switch 411 is a switch to stop the operation of the equipment in an emergency. The backlight adjustment switch 412 is a switch for adjusting the backlight brightness. The run model indicator 413 displays the model and thickness of the currently set panel.

그리고 도 5와 같이, 본 발명에 의한 점결함 수리방법은 먼저, 자동 프로브장치를 통해 불량 좌표를 검출한다(510). 상기 불량 좌표 검출(510) 방법은 한 라인씩 게이트배선과 데이터배선의 교차점에 니들을 고정하고 외부 신호를 통해 전압을 인가한 다음 신호를 구동하지 못하는 좌표를 검출하는 방법을 사용한다. 구동하지 못하는 점결함은 휘점과 암점이 있다. 이때, 액정표시소자는 NW(normally white)인 경우, 신호를 구동하지 못하는 좌표는 휘점(bright point)을 나타낸다. 여기서, 외부 신호를 주는 방법은 개인 컴퓨터나 패턴 제너레이터를 이용한다. 그리고, 휘점을 명확하게 구별하기 위하여 그레이(Gray)를 띄어 놓고 불량 좌표를 찾는다.And, as shown in Figure 5, in the point defect repair method according to the present invention, first, the defective coordinates are detected through the automatic probe device (510). The bad coordinate detection method 510 uses a method of fixing a needle at an intersection point of a gate wiring line and a data wiring line by line, applying a voltage through an external signal, and then detecting a coordinate that cannot drive a signal. Point defects that cannot be driven have bright spots and dark spots. In this case, when the liquid crystal display is normally white (NW), coordinates that cannot drive a signal indicate a bright point. Here, a method of giving an external signal uses a personal computer or a pattern generator. Then, in order to clearly distinguish the bright spots, a gray is placed and the defective coordinates are found.

상기 검출한 불량 좌표를 표시하고 증류수 세정을 한다. 세정 후 상기 불량 좌표(휘점) 상단의 C/F에 검은 안료 또는 테이프를 부착한다(520). 즉, 휘점을 암점화한다. 잘못 표시된 좌표라도 검은 안료나 테이프를 제거하여 정확한 좌표에 부착하면 되므로 수리방법이 간단하고 수리 미스(miss)시에도 재빨리 대응할 수 있다.The detected defective coordinates are displayed and washed with distilled water. After cleaning, the black pigment or tape is attached to the C / F on the top of the defective coordinates (bright spots) (520). In other words, the bright spot is darkened. Even if the incorrectly displayed coordinates are removed by attaching the black pigment or tape to the correct coordinates, the repair method is simple and can be quickly responded to a repair miss.

상기 점결함 수리 후 편광판(530)을 부착하고 이후 Tab 부착후 검사한다(540). After repairing the point defect, the polarizing plate 530 is attached and then inspected after attaching the tab 540.

도 6는, 광원(601)이 있고, 데이터 라인, 게이트 라인, 데이터 라인과 데이터 라인의 교차부에 형성된 박막 트랜지스터(602)와 박막 트랜지스터에 의해 구동되는 화소 전극(603)을 포함하는 제 1기판(600)이 있고, 블랙 매트릭스(651), 상기 블랙 매트릭스(651) 사이에 형성된 칼라 필터(652)와, 상기 블랙매트릭스(651)와 상기 칼라 필터(652) 전면에 증착된 공통 전극(653)을 포함하는 제 2기판(650)이 있고, 불량 박막트랜지스터(604)에 해당하는 상기 제 2기판(650) 배면에 불량 교정 수단(660)을 포함하는 액정표시소자의 단면도이다. 여기서, 상기 불량 교정 수단(660)은 검은 테이프 또는 검은 안료를 휘점 좌표의 상부 C/F기판에 붙이는 것을 포함하고, 편광판(670)은 상기 불량 교정 수단(660) 상부에 부착한다.  FIG. 6 shows a first substrate including a light source 601 and a thin film transistor 602 formed at an intersection of a data line, a gate line, a data line and a data line and a pixel electrode 603 driven by the thin film transistor. There is a (600), a color filter 652 formed between the black matrix 651, the black matrix 651, and the common electrode 653 deposited on the front of the black matrix 651 and the color filter 652. 2 is a cross-sectional view of a liquid crystal display device including a second substrate 650 including a defect correction means 660 on a rear surface of the second substrate 650 corresponding to the defective thin film transistor 604. Here, the defect correcting means 660 includes attaching a black tape or black pigment to the upper C / F substrate of the bright coordinates, and the polarizing plate 670 is attached to the upper portion of the defect correcting means 660.

상기와 같은 본 발명의 액정표시소자의 결함수리방법 및 액정표시소자는 다음과 같은 효과가 있다. The defect repair method and the liquid crystal display device of the liquid crystal display device of the present invention as described above has the following effects.

첫째, 불량 좌표 상단의 C/F에 검은 안료 또는 테이프를 부착하므로, 부작용인 선결함이 발생되지 않아 레이저 수리법이 불가능한 점결함도 수리할 수 있다.First, since the black pigment or tape is attached to the C / F on the top of the bad coordinates, it is possible to repair the point defects that cannot be repaired because laser defects are not generated because side effects are not generated.

둘째, 수리 미스(miss)시에도 곧 대응할 수 있다.Second, they can respond quickly to repair misses.

셋째, 점결함 수리공정이 간단하다.Third, the point defect repair process is simple.

넷째, 점결함 수리 비용이 저렴하다. Fourth, the cost of repairing point defects is low.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술 사상을 이탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

따라서, 본 발명의 기술적 범위는 실시예에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의하여 정해져야 한다. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the embodiments, but should be defined by the claims.

도 1은 일반적인 액정표시소자의 TFT 어레이내의 결함 유형을 나타내는 평면도.1 is a plan view showing a defect type in a TFT array of a general liquid crystal display device.

도 2는 종래의 점결함 수리방법 공정도.Figure 2 is a conventional process for repairing point defects.

도 3은 본 발명을 실시하기 위한 자동 프로브 장치의 단면도.3 is a cross-sectional view of an automatic probe device for practicing the present invention.

도 4는 본 발명을 실시하기 위한 도 3을 포함한 자동 프로브 장치의 구성도.4 is a block diagram of an automatic probe device including FIG. 3 for practicing the present invention.

도 5는 본 발명의 점결함 수리방법 공정도.5 is a process diagram of the point defect repair method of the present invention.

도 6은 본 발명에 의해 수리된 액정표시소자의 단면도. 6 is a cross-sectional view of a liquid crystal display device repaired by the present invention.

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

510 : 자동 프로브 검사, 불량 좌표 검출510: automatic probe inspection, bad coordinate detection

520 : 세정후 상기 좌표 상단의 C/F에 검은 안료 또는 테이프 부착520: Attach black pigment or tape to C / F on top of the coordinates after cleaning

530 : 편광판 부착530: polarizing plate attached

540 : Tab 부착 후 검사540: Inspection after attaching tab

Claims (4)

패널 완성후 자동 프로브 검사를 통해 화소의 불량 좌표를 검출하는 단계;Detecting defective coordinates of the pixel through an automatic probe inspection after panel completion; 상기 검출한 불량 좌표를 표시하고 세정하는 단계;Displaying and cleaning the detected defective coordinates; 상기 불량 좌표 상단의 C/F기판 상에 검은 안료 또는 검은 테이프를 부착하는 단계;Attaching a black pigment or black tape onto the C / F substrate on top of the bad coordinates; 상기 안료 또는 검은 테이프를 포함한 C/F기판의 전면에 편광판을 부착하는 단계를 포함하는 액정표시소자의 결함수리방법.Fixing a defect of the liquid crystal display device comprising the step of attaching a polarizing plate on the front surface of the C / F substrate including the pigment or black tape. 광원과,Light source, 데이터 라인, 게이트 라인, 데이터 라인과 데이터 라인의 교차부에 형성된 박막 트랜지스터와 박막 트랜지스터에 의해 구동되는 화소 전극을 포함하는 제 1기판과,A first substrate including a data line, a gate line, a thin film transistor formed at an intersection of the data line and the data line and a pixel electrode driven by the thin film transistor; 블랙 매트릭스, 블랙 매트릭스 사이에 형성된 칼라 필터, 상기 블랙매트릭스와 상기 칼라 필터 전면에 증착된 공통 전극을 포함하는 제 2기판과,A second substrate including a black matrix, a color filter formed between the black matrix, the black matrix and a common electrode deposited on the front surface of the color filter; 상기 박막트랜지스터 중 불량 박막트랜지스터 대응되게 상기 제 2기판의 배면에 형성된 불량 교정 수단과,Defect correction means formed on a rear surface of the second substrate so as to correspond to a defective thin film transistor among the thin film transistors; 상기 불량 교정 수단 상부에 형성된 편광판을 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 액정표시소자.Liquid crystal display device comprising a polarizing plate formed on the defect correction means. 제 2항에 있어서, 상기 불량 교정 수단은 검은 테이프 또는 검은 안료를 휘점 좌표의 상부 C/F기판에 붙이는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.        The liquid crystal display device according to claim 2, wherein the defect correction means attaches a black tape or a black pigment to the upper C / F substrate of the bright point coordinates. 삭제delete
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