KR100445525B1 - 테스트 핸들러 및 그 제어방법 - Google Patents

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Abstract

프로그램 변경에 따른 시간을 단축하고 컴퓨터의 부팅여부를 확인하고 그에 따른 조치를 취할 수 있도록 하여 테스트 수율을 향상시킬 수 있도록 한 테스트 핸들러 및 그 제어방법에 관한 것으로, 테스트 프로그램을 저장 및 관리하기 위한 테스트 프로그램 관리서버와, 외부 부팅명령에 따라 부팅하여 그 부팅결과를 출력하고 부팅과 동시에 테스트 프로그램 관리서버로부터 테스트 프로그램을 복사하여 정해진 순서대로 기삽입된 모듈에 대한 테스트를 수행하는 테스트용 컴퓨터와, 모듈을 테스트용 컴퓨터에 삽입하여 부팅명령을 입력하고 테스트용 컴퓨터의 테스트 결과에 따른 모듈 핸들링 동작을 수행하며 테스트용 컴퓨터에서 출력되는 부팅결과에 따라 부팅 이상이 발생하면 컴퓨터를 재부팅시키는 핸들러를 포함하므로 작업효율 및 수율을 향상시킬 수 있다.

Description

테스트 핸들러 및 그 제어방법{test handler and control method the same}
본 발명은 테스트 핸들러에 관한 것으로서, 특히 테스트 핸들러 및 그 제어방법에 관한 것이다.
일반적으로 테스트 핸들러는 반도체 소자를 이용한 각종 메모리 또는 비메모리 분야의 제품들을 대량으로 핸들링 및 테스트하기 위한 장비로서, 로직 IC 또는 여러가지의 반도체 소자가 하나의 칩에 실장된 모듈램 등 테스트 대상물에 따라 구성상의 차이를 나타낼 수 있다.
이하, 테스트 핸들러중 하나의 예로서, 모듈렘을 일종의 마더보드에 실장하여 테스트 하는 타입에 대하여 설명하기로 한다.
즉, 도 1에 도시된 바와 같이, 전체적인 외형을 이루는 하우징(1)의 전방부에 모듈램(module RAM)이 다수 수납된 상태의 트레이(tray)가 2열로 수직 적층된 로딩부(2), 상기 로딩부(2)의 트레이에 수납되어 있는 모듈램을 받아 쇼트 검사 등의 테스트를 일차적으로 수행하기 위한 1차 테스트부(3), 상기 1차 테스트부(3)에서 테스트된 모듈램의 상태에 따라 량품과 불량품으로 분리시켜 일시 저장하기 위한 버퍼부(4), 상기 하우징(1)의 후방부에 마더보드(5)가 다수 수납된 상태로 승강 가능하도록 함과 함께 수평방향으로 인입 및 인출도 가능하도록 되어 버퍼부(4)에 일시 저장된 모듈램중 양호한 상태의 모듈램 만을 받아 마더보드(5)에 임시로 실장하면서 실장된 상태에서의 이상상태를 이차적으로 검사하는 복수열로된 2차 테스트부(6), 상기 2차 테스트부(6)에 의해 이차적으로 테스트된 모듈램중 량품의 모듈램을 다수 수납할 수 있도록 빈 트레이가 2열로 수직 적층된 제1 언로딩부(7), 상기 2차 테스트부(6)에 의해 이차적으로 테스트된 모듈램중 불량품의 모듈램을 다수 수납할 수 있도록 빈 트레이(8a)가 수직 적층된 제2 언로딩부(8)를 포함하여 구성된다.
상기한 구성에서 2차 테스트부(6)는 별도로 독립되어 하우징(1)의 후방부에 착탈가능한 상태로 결합되어 있는데, 이는 모듈램을 2차적으로 테스트할 때 그 테스트조건인 고온조건과 저온조건을 모두 만족시킬 수 있도록 하기 위함에 있다.
상기에서 로딩부(2)의 트레이에 수납된 모듈램을 1차 테스트부(3)로 이송시켜 주는 역할, 상기 1차 테스트부(3)에 의해 일차 테스트된 모듈램을 버퍼부(4)로 이송시켜 주는 역할, 상기 버퍼부(4)에 분리된 량품의 모듈램을 2차 테스트부(6)로 이송시켜 주는 역할, 상기 2차 테스트부(6)에 의해 테스트된 모듈램을 제1 언로딩부(7)의 트레이로 이송시켜 주거나 제2언로딩부(8)의 트레이로 이송시켜 주는 역할은 로봇 픽커(9)에 의해 이루어지도록 구성된다.
또한 본 발명에서 로딩부(2)의 트레이, 제1 언로딩부(7)의 트레이 및 제2 언로딩부(8)의 트레이, 2차 테스트부(6)의 마더보드(5)는 모터 및 체인 등으로 구성된 승강수단에 의해 승강되도록 되어 있다.
이하, 종래의 기술에 따른 테스트 핸들러의 제어방법을 도 2를 참조하여 개략적으로 설명하면 다음과 같다.
먼저 핸들러가 테스트 대상물인 모듈램을 테스트용 컴퓨터 즉, 마더보드에 삽입한다(S21).
이어서 핸들러는 상기 컴퓨터의 파워를 '온'시켜 부팅되도록 한다(S22).
따라서 컴퓨터는 부팅되고 자동실행파일(Autoexec.bat)에 정의된 순서로 테스트 프로그램을 실행하여 삽입된 모듈을 테스트한다.
이때 컴퓨터에는 테스트 프로그램이 미리 저장된 상태이다.
그리고 핸들러는 컴퓨터의 테스트 결과에 따라 즉, 정상/불량/리테스트 등에 따라 모듈을 핸들링한다(S23).
이어서 테스트가 완료되었는지 판단하여(S24) 완료되면, 컴퓨터의 파워를 '오프'시키고(S25) 종료한다.
종래기술에서 핸들러는 단순히 컴퓨터의 파워를 '온'시키고 나면 컴퓨터의 테스트 결과에 핸들링 동작만 수행할뿐 컴퓨터의 정상동작상태를 알 수 없다. 또한 테스트용 컴퓨터는 테스트 프로그램이 기설치된 상태로 프로그램 변경시 각각의 컴퓨터별로 테스트 프로그램을 변경해야한다.
종래의 기술에 따른 테스트 핸들러는 다음과 같은 문제가 있다.
첫째, 테스트용 컴퓨터는 하나의 테스트 핸들러에 수십개 이상 장착될 수 있고 각각의 컴퓨터는 테스트 프로그램이 미리 설치되어 있으므로 모듈 타입이 변경되거나 테스트 프로그램이 업그레이드될 경우 테스트 핸들러의 구조상 각각의 테스트용 컴퓨터에 대해 일일이 프로그램을 변경하는 작업은 많은 시간이 소비된다.
둘째, 핸들러는 단순히 컴퓨터를 켜고 끄는 동작만 수행하므로 실제 컴퓨터가 정상적으로 부팅되었는지 여부를 확인할 수 없다. 따라서 컴퓨터 부팅 에러가 발생하면 모듈은 모두 불량처리되고 결과적으로 테스트 수율을 저하시키게 된다.
따라서 본 발명은 상기한 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로서, 프로그램 변경에 따른 시간을 단축하고 컴퓨터의 부팅여부를 확인하고 그에 따른 조치를 취할 수 있도록 하여 테스트 수율을 향상시킬 수 있도록 한 테스트 핸들러 및 그 제어방법을 제공함에 목적이 있다.
도 1은 일반적인 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도
도 2는 종래의 기술에 따른 테스트 핸들러 제어방법을 나타낸 플로우챠트
도 3은 본 발명에 따른 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 블록도
도 4는 본 발명에 따른 테스트 핸들러의 제어방법을 나타낸 플로우챠트
도면의 주요부분에 대한 간단한 설명
31: 핸들러 32: 테스트용 컴퓨터
33: 테스트 프로그램 관리서버
본 발명은 테스트 프로그램을 저장 및 관리하기 위한 테스트 프로그램 관리서버와, 외부 부팅명령에 따라 부팅하여 그 부팅결과를 출력하고 부팅과 동시에 테스트 프로그램 관리서버로부터 테스트 프로그램을 복사하여 정해진 순서대로 기삽입된 모듈에 대한 테스트를 수행하는 테스트용 컴퓨터와, 모듈을 테스트용 컴퓨터에 삽입하여 부팅명령을 입력하고 테스트용 컴퓨터의 테스트 결과에 따른 모듈 핸들링 동작을 수행하며 테스트용 컴퓨터에서 출력되는 부팅결과에 따라 부팅 이상이 발생하면 컴퓨터를 재부팅시키는 핸들러를 포함함을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 테스트 핸들러 및 그 제어방법의 바람직한 일실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 3은 본 발명에 따른 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 블록도이고, 도 4는 본 발명에 따른 테스트 핸들러의 제어방법을 나타낸 플로우챠트이다.
본 발명에 따른 테스트 핸들러는 도 3에 도시된 바와 같이, 테스트 프로그램을 저장 및 관리하기 위한 테스트 프로그램 관리서버(33), 외부 부팅명령에 따라 부팅하여 그 부팅결과를 출력하고 부팅과 동시에 상기 테스트 프로그램 관리서버(33)로부터 테스트 프로그램을 복사하여 정해진 순서대로 기삽입된 모듈에 대한 테스트를 수행하는 테스트용 컴퓨터(32), 모듈을 상기 테스트용 컴퓨터(32)에 삽입하여 부팅명령을 입력하고 상기 테스트용 컴퓨터(32)의 테스트 결과에 따라 해당 모듈을 적재 및 이동시키는 등의 핸들링 동작을 수행하며 상기 테스트용 컴퓨터(32)에서 출력되는 부팅결과에 따라 부팅 이상이 발생하면 컴퓨터를 재부팅시키는 핸들러(31)를 포함한다.
이때 테스트 프로그램 관리서버(33)의 테스트용 프로그램은 관리자에 의해 항상 최신 버전으로 업그레이드 된다.
그리고 테스트용 컴퓨터(32)는 부팅시 그 부팅결과를 상기 핸들러(31)로 전송하고 상기 테스트 프로그램 관리서버(33)로부터 테스트 프로그램을 복사하도록 프로그램되어 있으며, 상기 부팅결과는 시리얼 통신을 이용하여 핸들러(31)로 전송한다.
이와 같이 구성된 테스트 핸들러의 제어방법을 도 4를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
먼저, 핸들러(31)가 모듈을 테스트용 컴퓨터(32)에 삽입한다(S41).
이어서 핸들러(31)가 테스트용 컴퓨터(32)의 파워를 '온'시켜 부팅되도록 한다(S42).
따라서 테스트용 컴퓨터(32)는 부팅과 동시에 정해진 순서에 따른 동작을 수행한다. 즉, 부팅결과를 핸들러(31)로 시리얼 통신을 통해 전송하고 테스트 프로그램 관리서버(33)에서 테스트 프로그램을 복사한 후 일련의 모듈 테스트를 수행한다.
한편, 핸들러(31)는 설정시간동안 시리얼 통신을 통한 테스트용 컴퓨터(32)로부터 부팅결과 수신대기를 통해 정상적인 부팅여부를 판단한다(S43).
이어서 상기 판단결과(S43), 설정시간 이내에 부팅결과가 수신되지 않을 경우 상기 테스트용 컴퓨터(32)가 정상적으로 부팅되지 않은 것으로 판단하고 테스트용 컴퓨터(32)의 파워를 '오프'시킨 다음(S44), 다시 '온' 시킨다(S42).
상기 판단결과(S43), 설정시간 이내에 부팅결과가 수신되면 정상적인 부팅으로 판단하고 상기 테스트용 컴퓨터(32)의 테스트결과에 따른 모듈 핸들링 동작 즉,모듈을 정상/불량/리테스트로 구분하여 이동 및 적재하는 동작을 수행한다(S45).
그리고 모듈 테스트가 완료되었는지 판단하여(S46), 테스트가 완료되었으면 상기 테스트용 컴퓨터(32)의 파워를 '오프'시킨후(S47), 종료한다.
본 발명에 따른 테스트 핸들러 및 그 제어방법은 다음과 같은 효과가 있다.
첫째, 테스트용 컴퓨터에 테스트 프로그램이 기설치되어 있지 않고 서버로부터 최신의 프로그램을 복사하여 사용하므로 프로그램 변경 또는 업그레이드에 따랄 각 테스트용 컴퓨터에 새로운 프로그램을 설치해야하는 시간이 단축되고 결국, 작업효율을 향상시킬 수 있다.
둘째, 컴퓨터의 부팅여부를 핸들러에서 확인하고 그에 따른 조치를 취할 수 있도록 하므로 테스트 수율을 향상시킬 수 있다.

Claims (4)

  1. 테스트 프로그램을 저장 및 관리하기 위한 테스트 프로그램 관리서버,
    외부 부팅명령에 따라 부팅하여 그 부팅결과를 출력하고 부팅과 동시에 상기 테스트 프로그램 관리서버로부터 테스트 프로그램을 복사하여 정해진 순서대로 기삽입된 모듈에 대한 테스트를 수행하는 테스트용 컴퓨터,
    모듈을 상기 테스트용 컴퓨터에 삽입하여 부팅명령을 입력하고 상기 테스트용 컴퓨터의 테스트 결과에 따른 모듈 핸들링 동작을 수행하며 상기 테스트용 컴퓨터에서 출력되는 부팅결과에 따라 부팅 이상이 발생하면 컴퓨터를 재부팅시키는 핸들러를 포함하는 테스트 핸들러.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 테스트용 컴퓨터는 부팅결과를 시리얼 통신을 통해 핸들러로 전송함을 특징으로 하는 테스트 핸들러.
  3. 테스트 프로그램을 유지관리하기 위한 서버, 핸들러, 테스트용 컴퓨터를 구비한 테스트 핸들러의 제어방법에 있어서,
    핸들러가 상기 테스트용 컴퓨터에 모듈을 삽입하고 테스트용 컴퓨터의 파워를 켜는 단계,
    설정시간이내에 상기 테스트용 컴퓨터로부터 부팅결과 신호의 수신여부에 따라 상기 테스트용 컴퓨터의 정상 부팅여부를 판단하는 단계,
    상기 판단결과 부팅 실패일 경우 상기 테스트용 컴퓨터를 재부팅시키는 단계를 포함하는 테스트 핸들러의 제어방법.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 테스트용 컴퓨터는 부팅이 이루어지면 상기 핸들러로 부팅결과를 전송하고 상기 서버로부터 테스트 프로그램을 복사하는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 제어방법.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100445525B1 (ko) * 2002-03-22 2004-08-21 미래산업 주식회사 테스트 핸들러 및 그 제어방법
KR101331223B1 (ko) 2006-09-06 2013-11-18 삼성전자주식회사 컴퓨터, 원격관리 시스템, 컴퓨터의 제어방법 및 원격관리방법, 컴퓨터 네트워크

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR970016624A (ko) * 1995-09-29 1997-04-28 김광호 옵션 카드의 테스트 시스템 및 그 방법
WO1999024945A1 (en) * 1997-11-12 1999-05-20 Koninklijke Philips Electronics N.V. Software update manager
KR20010000793A (ko) * 2000-10-19 2001-01-05 우상엽 반도체 소자 테스트 시스템
KR20010076709A (ko) * 2000-01-27 2001-08-16 윤종용 디지털 컨텐츠의 저장 및 재생 기능을 구비한 개인 휴대장치의 원격 제어에 의한 품질 테스트 시스템 및 방법
KR20030076098A (ko) * 2002-03-22 2003-09-26 미래산업 주식회사 테스트 핸들러 및 그 제어방법

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR970016624A (ko) * 1995-09-29 1997-04-28 김광호 옵션 카드의 테스트 시스템 및 그 방법
WO1999024945A1 (en) * 1997-11-12 1999-05-20 Koninklijke Philips Electronics N.V. Software update manager
KR20010076709A (ko) * 2000-01-27 2001-08-16 윤종용 디지털 컨텐츠의 저장 및 재생 기능을 구비한 개인 휴대장치의 원격 제어에 의한 품질 테스트 시스템 및 방법
KR20010000793A (ko) * 2000-10-19 2001-01-05 우상엽 반도체 소자 테스트 시스템
KR20030076098A (ko) * 2002-03-22 2003-09-26 미래산업 주식회사 테스트 핸들러 및 그 제어방법

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