KR100428576B1 - Anode for strip plating - Google Patents

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Abstract

본 발명은 전기도금에 있어서 피도금재에 도금되는 도금두께를 균일화하는 장치에 관한 것으로, 특히 불용성 아노드의 에지부를 곡면처리 함으로써 피도금재 에지부의 과도금 현상을 방지하여 균일한 도금 두께를 얻는 스트립의 도금편차를 해소하는 불용성 아노드에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for equalizing the plating thickness to be plated on the plated material in electroplating. Particularly, the surface of the insoluble anode is curved to prevent overplating of the edge of the plated material to obtain a uniform plating thickness. It relates to an insoluble anode which eliminates the plating deviation of the strip.

본 발명은, 전기도금공정에서 피도금재에 도금되는 도금두께를 균일화하는 장치에 있어서, 아노드의 양측 에지부를 곡면처리하여 피도금재의 에지부에 집중되는 전류를 억제함으로써 피도금재의 에지부 과도금을 억제하도록 구성됨을 특징으로 하는 스트립의 도금편차를 해소하는 불용성 아노드를 제공한다.The present invention relates to an apparatus for equalizing the plating thickness to be plated on a plated material in an electroplating process, wherein the edges of the plated material are transiently curbed by curving both edge portions of the anode to suppress currents concentrated on the edge portions of the plated material. An insoluble anode which eliminates the plating deviation of the strip, characterized in that it is configured to suppress gold.

본 발명에 의하면, 피도금재의 에지부에 집중되는 전류의 분포를 균일하게 함으로써 피도금재의 에지부 과도금을 억제하고 피도금재에 있어서 균일한 도금두께를 얻는 유용한 효과가 얻어지고 도금제품의 품질을 크게 향상시킬 수 있는 것이다.According to the present invention, by uniformizing the distribution of the current concentrated in the edge portion of the plated material, a useful effect of suppressing the overplating of the edge portion of the plated material and obtaining a uniform plating thickness in the plated material is obtained and the quality of the plated product is obtained. This can greatly improve.

Description

스트립의 도금편차를 해소하는 불용성 아노드{ANODE FOR STRIP PLATING}Insoluble anode to eliminate plating deviation of strips {ANODE FOR STRIP PLATING}

본 발명은 전기도금에 있어서 피도금재에 도금되는 도금두께를 균일화하는 장치에 관한 것으로, 특히 불용성 아노드의 에지부를 곡면처리 함으로써 피도금재 에지부의 과도금 현상을 방지하여 균일한 도금 두께를 얻는 스트립의 도금편차를 해소하는 불용성 아노드에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for equalizing the plating thickness to be plated on the plated material in electroplating. Particularly, the surface of the insoluble anode is curved to prevent overplating of the edge of the plated material to obtain a uniform plating thickness. It relates to an insoluble anode which eliminates the plating deviation of the strip.

일반적으로 전기도금방법을 이용하여 피도금재에 도금을 하는 방법에 있어서는 도 8에 도시된 바와 같이, 아노드(105)에 마주하는 피도금재(100)의 에지부(110)에 전류가 집중되어 피도금재(100)의 에지부(110)가 중앙부에 비해 도금두께가 과도하게 되는 에지부 과도금(120) 현상이 발생하게 된다.In general, in the method of plating the plated material by using the electroplating method, as shown in FIG. 8, current is concentrated in the edge portion 110 of the plated material 100 facing the anode 105. As a result, the edge portion 110 of the plated material 100 is excessively plated with the thickness of the edge portion 110, which is excessive compared to the center portion.

이러한 에지부 과도금(120) 현상으로 인해 피도금재(100)의 폭방향으로의 도금편차가 발생하게 되어 박도금의 실현이 어려운 문제점이 발생한다. 또한, 도금편차에 의하여 피도금재(100)의 폭방향으로 저항이 달라지므로 저항성 용접시 문제가 발생하며 스트립형상의 피도금재(100)를 코일 형태로 권취할 때, 두께편차에의하여 피도금재(100)의 변형이 발생하며 외관 불량등의 문제점이 발생한다.Due to the phenomenon of the over-plating of the edge portion 120, the plating deviation in the width direction of the plated material 100 is generated, which causes a problem that it is difficult to realize thin plating. In addition, since the resistance varies in the width direction of the plated material 100 due to the plating deviation, a problem occurs during the resistance welding, and when the strip-shaped plated material 100 is wound in the form of a coil, the plated material is coated by the thickness deviation. Deformation of the ash 100 occurs and problems such as appearance defects occur.

따라서, 이러한 에지부 과도금(120)을 억제하여 균일한 도금두께를 얻기 위한 종래의 방법으로 부도체(미도시)를 아노드(105)와 피도금재(100) 사이에 삽입하여 피도금재(100)의 에지부(110)에 집중되는 전류를 차단하는 방법이 있다.Accordingly, the non-conductor (not shown) is inserted between the anode 105 and the plated material 100 by a conventional method for suppressing the edge portion overplating 120 to obtain a uniform plating thickness. There is a method of blocking the current concentrated in the edge portion 110 of the (100).

그러나, 상기와 같이 아노드(105)와 피도금재(100) 사이에 부도체를 위치시켜 피도금재(100)의 에지부(110)에 집중되는 전류를 차단하는 에지 마스크 방법은 일본 특개소 60-162795호에 개시되어 있으며, 이는 에지 마스크의 위치를 피도금재(100)의 에지에 대하여 일정한 거리가 되도록 유지하여 피도금재(100)에 있어서 균일한 도금 두께를 얻는 방법이다.However, as described above, the edge mask method of blocking the current concentrated in the edge portion 110 of the plated material 100 by placing a non-conductor between the anode 105 and the plated material 100 is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 60 -162795, which is a method of obtaining a uniform plating thickness in the plated material 100 by maintaining the position of the edge mask to be a constant distance with respect to the edge of the plated material 100.

따라서, 상기와 같은 에지 마스크 방법은 에지 마스크가 아노드(105)와 피도금재(100) 사이에 삽입되는 구조이므로 에지 마스크가 도금 용액중에서 흔들림이 발생하여 피도금재(100)와 충돌하고, 그에 따라서 도금 품질저하 및 에지 마스크의 손상등의 문제점이 발생한다.Therefore, the edge mask method as described above has a structure in which the edge mask is inserted between the anode 105 and the plated material 100, so that the edge mask is shaken in the plating solution and collides with the plated material 100. As a result, problems such as deterioration in plating quality and damage to the edge mask occur.

또한, 삽입되는 에지 마스크의 두께만큼 아노드(105)와 피도금재(100) 사이의 거리가 증가하므로 도금에 필요한 전력 손실이 증가하는 문제점을 가지고 있다.In addition, since the distance between the anode 105 and the plated material 100 increases by the thickness of the edge mask to be inserted, there is a problem that the power loss required for plating increases.

본 발명은 상기와 같은 종래 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 피도금재 에지부의 과도금 현상을 방지하여 균일한 도금두께를 얻음으로서 도금제품의 품질을 크게 향상시킬 수 있도록 개선된 스트립의 도금편차를 해소하는 불용성 아노드를 제공함에 그 목적이 있다.The present invention is to solve the above conventional problems, to prevent the over-plating phenomenon of the edge of the plated material to obtain a uniform plating thickness to solve the plating deviation of the improved strip to greatly improve the quality of the plated product The purpose is to provide an insoluble anode.

도 1은 본 발명에 따른 스트립의 도금편차를 해소하는 불용성 아노드를 도시한 전체 구성도;1 is an overall configuration diagram showing an insoluble anode to eliminate the plating deviation of the strip according to the present invention;

도 2는 도 1의 B-B선을 따른 단면도;2 is a cross-sectional view along the line B-B in FIG.

도 3은 도 1의 C-C선을 따른 단면도;3 is a cross-sectional view along line C-C in FIG. 1;

도 4는 도 2의 D-D선을 따른 단면도;4 is a cross-sectional view along the line D-D in FIG. 2;

도 5는 본 발명의 아노드가 장착되는 상부 가이드의 단면도;5 is a cross-sectional view of the upper guide to which the anode of the present invention is mounted;

도 6은 본 발명에 따른 스트립의 도금편차를 해소하는 불용성 아노드의 분해 사시도;6 is an exploded perspective view of an insoluble anode to eliminate the plating deviation of the strip according to the present invention;

도 7은 본 발명에 따른 아노드에 의한 도금조내부의 등전위면을 도시한 설명도;7 is an explanatory view showing an equipotential surface inside the plating bath by the anode according to the present invention;

도 8은 종래의 기술에 따른 아노드에 의한 도금조내부의 등전위면을 도시한 설명도;8 is an explanatory view showing an equipotential surface inside a plating bath by an anode according to the prior art;

도 9는 본 발명과 비교예에서 피도금재 에지로 부터의 거리에 따른 도금 부착량을 도시한 그래프도이다.9 is a graph showing the amount of plating adhesion according to the distance from the plated material edge in the present invention and the comparative example.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

10a,10b,10c... 아노드 15..... 곡면처리10a, 10b, 10c ... Anode 15 ..... Curved

20..... 이송장치 30..... 상부 가이드20 ..... Transport 30 ..... Upper guide

32..... 하부 가이드 33..... 긴 관통구멍32 ..... Lower guide 33 ..... Long through hole

34..... 단턱 36..... 절개부34 ..... step 36 ..... incision

100... 피도금재 105... 아노드100 ... plate material 105 ... anode

110... 에지부 120... 에지부 과도금110 ... edge 120 ... edge overplated

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 전기도금공정에서 아노드의 양측 에지부를 곡면처리하여 피도금재의 에지부에 집중되는 전류를 억제함으로써 피도금재의 에지부 과도금을 억제하도록 구성되고, 상기 피도금재에 도금되는 도금두께를 균일화하는 장치에 있어서,상기 아노드는 상부와 옆에 각각 아노드 이동장치가 부착되고 아노드 상,하부 가이드를 따라 이동될 수 있는 3분할 아노드이고, 상기 중앙 아노드는 위가 넓고 아래가 좁은 테이퍼 형상을 가지며, 상기 양측방 아노드들은 중앙 아노드의 양측면에 일측면이 각각 동일한 경사각으로서 접촉되며, 반대측면은 각각 직선면을 갖는 구조를 갖춤으로서 이들이 서로 결합되면, 전체적으로는 사각형의 구조를 이루도록 구성됨을 특징으로 하는 스트립의 도금편차를 해소하는 불용성 아노드를 마련함에 의한다.In order to achieve the above object, the present invention is configured to suppress the over plating of the edge portion of the plated material by curving both edges of the anode in the electroplating process to suppress the current concentrated on the edge portion of the plated material, In the apparatus for equalizing the plating thickness to be plated on the plated material, The anode is a three-segment anode that can be moved along the upper and lower guides and the anode moving device is attached to the top and side, respectively, The center anode has a tapered shape with a wide top and a narrow bottom. The two side anodes are in contact with both sides of the center anode with the same inclination angle, and the opposite sides have a structure having a straight surface, so that they When combined, insoluble to solve the plating deviation of the strip, characterized in that configured as a whole to form a rectangular structure It depends on the node maryeonham.

이하, 본 발명을 도면에 따라서 보다 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the drawings.

본 발명에 따른 스트립의 도금편차를 해소하는 불용성 아노드는 도 1, 도 4 및 도 6에 도시된 바와 같이, 3분할 구조로 되어 있고, 전기도금공정에서 측방 아노드(10b)(10c)의 양측 에지부(110)를 곡면처리하여 피도금재(100)의 에지부(110)에 집중되는 전류를 억제함으로써 피도금재(100)의 에지부(110) 과도금을 억제하도록 되어 있다.1, 4 and 6, the insoluble anode to eliminate the plating deviation of the strip according to the present invention, has a three-part structure, both sides of the side anode (10b) (10c) in the electroplating process The edge portion 110 is curved to suppress the current concentrated in the edge portion 110 of the plated material 100, thereby suppressing overplating of the edge portion 110 of the plated material 100.

즉, 종래 아노드(105)의 구조는 도 8에 도시된 바와 같이 사각형의 단면을 가지고 있다. 이와 같은 경우, 피도금재(100)의 에지부(110)에서 전류가 집중되는 현상을 보이게 된다. 그러나, 본 발명에서는 측방 아노드(10b)(10c)의 에지부(110)를 도 7과 같이 곡면처리(Rounding)(15) 함으로써 피도금재(100)의 에지부(110)에 집중되는 전류를 완화시키는 것이다.That is, the structure of the conventional anode 105 has a rectangular cross section as shown in FIG. In this case, the current is concentrated in the edge portion 110 of the plated material 100. However, in the present invention, the current is concentrated on the edge portion 110 of the plated material 100 by rounding the edge portion 110 of the side anodes 10b and 10c as shown in FIG. 7. To alleviate

이를 위하여 본 발명은 피도금재(100)를 중심으로 중앙 및, 양측에 아노드(10a)(10b)(10c)들이 설치되고, 상기 아노드(10a)(10b)(10c)들은 상부와 옆에 각각 아노드 이동장치(20)가 부착되고 아노드 상,하부 가이드(30)(32)를 따라이동될 수 있게 3분할 아노드로 되어 있다.To this end, in the present invention, anodes 10a, 10b, and 10c are installed at the center and both sides of the plated material 100, and the anodes 10a, 10b, and 10c are upper and side surfaces. The anode moving device 20 is attached to each of the three split anodes so that they can be moved along the upper and lower guides 30 and 32.

즉, 중앙 아노드(10a)는 위가 넓고 아래가 좁은 테이퍼 형상을 가지며, 양측방 아노드(10b)(10c)들은 중앙 아노드(10a)의 양측면에 일측면이 각각 동일한 경사각으로서 접촉되며, 반대측면은 각각 직선면을 갖는 구조를 갖춤으로서 이들이 서로 결합되면, 도 1에 도시된 바와 같이 전체적으로는 사각형의 구조를 이룬다.That is, the center anode 10a has a tapered shape with a wide top and a narrow bottom, and both side anodes 10b and 10c are in contact with both sides of the center anode 10a as the same inclination angle, respectively. The opposite side has a structure that each has a straight surface so that when they are combined with each other, as shown in FIG.

한편, 상기 중앙의 아노드(10a)와 측방 아노드(10b)(10c)들이 접촉되는 모서리들도 도 6에서 점선으로 도시된 바와 같이 양측면이 각각 측방 아노드(10b)(10c)의 반대측 에지부와 같이 곡면처리(15) 될 수 있다.On the other hand, the edges at which the center anode 10a and the side anodes 10b and 10c contact each other also have opposite sides of the side anodes 10b and 10c, respectively, as shown by a dotted line in FIG. 6. It may be curved 15 as shown.

이와 같은 곡면처리(15)를 함으로서 이곳에서도 전위분포를 약화시킬 수 있다. 그리고, 이러한 아노드(10a)(10b)(10c)(Anode)들은 상부 아노드 가이드(30)와 하부 아노드 가이드(32)에 삽입되어 수평 및 수직으로 이동할 수 있는 구조로 되어 있다.By applying such a curved surface treatment 15, the potential distribution can be weakened here as well. The anodes 10a, 10b, and 10c are inserted into the upper anode guide 30 and the lower anode guide 32 to move horizontally and vertically.

상기 아노드(10a)(10b)(10c)들이 장착되는 상부 가이드(30)는 도 5에 도시된 바와 같이, 상하로 아노드(10a)(10b)(10c)들이 끼워지도록 긴 관통구멍(33)이 형성되고, 상기 관통구멍(33)에 연이어서 아노드(10a)(10b)(10c)의 상부 턱(40)이 걸려서 하부로 낙하되지 않도록 하는 단턱(34)이 내부에 형성되고, 상기 긴 구멍(33)의 양측으로는 측방 아노드(10b)(10c)의 이송장치(20)들이 위치되는 절개부(36)를 각각 형성하는 것이다.As illustrated in FIG. 5, the upper guide 30 on which the anodes 10a, 10b, and 10c are mounted has a long through hole 33 to which the anodes 10a, 10b, and 10c are fitted. ) Is formed, and a step 34 is formed therein to prevent the upper jaw 40 of the anodes 10a, 10b, 10c from engaging and falling down through the through-hole 33 and falling down. On both sides of the long hole 33 is to form a cut-out portion 36 in which the transfer devices 20 of the side anodes 10b and 10c are located, respectively.

그리고, 상기 아노드 이송장치(20)들은 각각 예를들면, 스크류잭(미도시)이나 혹은 랙과 피니언 기구(미도시)등을 이용하는 공지의 구조를 가질 수 있으므로여기서는 이에 대한 상세한 설명은 생략한다.In addition, since the anode transport apparatus 20 may have a known structure using, for example, a screw jack (not shown) or a rack and a pinion mechanism (not shown), a detailed description thereof will be omitted herein. .

상기 양측 아노드(10b)(10c)들이 피도금재(100)의 폭에 맞추어 좌우 방향으로 이동하면 중앙의 아노드(10a)는 상부의 이동장치(20)에 의해 상하로 이동하게 되어 폭조정이 가능하도록 함으로서 피도금재(100)의 내부에 전류 불균일이 없게 되어 있다.When the both sides of the anode (10b) (10c) is moved in the left and right directions in accordance with the width of the plated material 100, the center anode (10a) is moved up and down by the upper moving device 20 to adjust the width By enabling this, there is no current unevenness inside the to-be-plated material 100.

이하, 본 발명을 실시예를 통하여 보다 구체적으로 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples.

(실시예)(Example)

본 발명에 의한 실시예로서 피도금재(100)의 폭이 1000mm 이고, 아노드(10a)(10b)(10c)와 피도금재(100) 사이의 거리 20mm 인 경우, 아노드(10a)(10b)(10c)의 폭을 1000mm 로 하고 아노드(10b)(10c)의 양측 에지부를 곡률 반경 25mm 를 가지도록 곡면 처리(15)한 경우를 도 7에 나타내었다. 본 발명에 대한 비교예로서는 피도금재(100) 폭이 1000mm 이고, 아노드(105)와 피도금재(100) 사이의 거리가 20mm 로서 실시예의 경우와 같은 도금조에서 아노드(105)의 폭이 1000mm 인 사각형 단면을 갖는 아노드(105)에 대한 경우를 도 8에 나타내었다.As an embodiment according to the present invention, when the width of the plated material 100 is 1000 mm and the distance between the anodes 10a, 10b, 10c and the plated material 100 is 20 mm, the anode 10a ( FIG. 7 illustrates a case where the widths of 10b) and 10c are set to 1000 mm and the curved surfaces 15 are treated so that the edge portions of the anodes 10b and 10c have a radius of curvature of 25 mm. As a comparative example of the present invention, the width of the plated material 100 is 1000 mm, and the distance between the anode 105 and the plated material 100 is 20 mm, and the width of the anode 105 in the same plating bath as in the embodiment. The case of the anode 105 having a square cross section of 1000 mm is shown in FIG.

본 실시예의 경우, 도 7에 나타낸 바와 같이, 등전위면이 비교예인 도 8의 등전위면에 비하여 아노드(10b)(10c) 쪽으로 치우침으로써 피도금재(100)에서의 균일한 전위분포를 보임을 알 수 있다. 본 실시예에 의한 도금두께를 도 9에 나타내었다.In the present embodiment, as shown in FIG. 7, the equipotential surface is biased toward the anodes 10b and 10c as compared to the equipotential surface of FIG. Able to know. The plating thickness according to this embodiment is shown in FIG.

비교예의 경우, 피도금재(100)가 에지부(110)에서의 과도금률이 27% 임에 비하여 본 발명에 따른 실시예의 경우 16% 로서 10% 이상의 효과를 보임을 알 수 있었다. 이와 같은 실험결과를 아래의 표 1에 나타내었다.In the comparative example, the plated material 100 showed an effect of 10% or more as 16% in the case of the embodiment according to the present invention, while the overplating rate in the edge portion 110 was 27%. The experimental results are shown in Table 1 below.

구분division 비교예Comparative example 실시예Example 피도금재 폭(강판 폭)Plate Material Width (Steel Plate Width) 1000mm1000 mm 1000mm1000 mm 아노드와 피도금재 사이의 거리Distance between anode and plated material 20mm20 mm 20mm20 mm 아노드(Anode) 폭Anode Width 1000mm1000 mm 1000mm1000 mm 곡면처리(Rounding) 량Rounding amount 반지름 = 0Radius = 0 반지름 = 25mmRadius = 25mm 과도금 률Over-plating rate 27%27% 16%16% 과도금 부분 길이(피도금재 에지로 부터의 거리)Overplated part length (distance from plated edge) 40mm40 mm 20mm20 mm

상술한 바와 같이 본 발명에 의하면, 피도금재(100)의 에지부(110)에 집중되는 전류의 분포를 균일하게 함으로써 피도금재(100)의 에지부(110) 과도금을 억제하고 피도금재(100)에 있어서 균일한 도금두께를 얻는 유용한 효과가 얻어지고 도금제품의 품질을 크게 향상시킬 수 있는 것이다.As described above, according to the present invention, by uniformly distributing the current concentrated in the edge portion 110 of the plated material 100, overplating of the edge portion 110 of the plated material 100 is suppressed and the plated material is plated. A useful effect of obtaining a uniform plating thickness in the ash 100 can be obtained and the quality of the plated product can be greatly improved.

Claims (4)

전기도금공정에서 아노드의 양측 에지부(110)를 곡면처리(15)하여 피도금재(100)의 에지부(110)에 집중되는 전류를 억제함으로써 피도금재(100)의 에지부(110) 과도금을 억제하도록 구성되고, 상기 피도금재(100)에 도금되는 도금두께를 균일화하는 장치에 있어서,In the electroplating process, the edges 110 of the anode 100 are cured by suppressing a current concentrated in the edge portion 110 of the to-be-plated material 100. In the apparatus configured to suppress the over plating, and to equalize the plating thickness to be plated on the plated material 100, 상기 아노드는 상부와 옆에 각각 아노드 이동장치(20)가 부착되고 아노드 상,하부 가이드(30)(32)를 따라 이동될 수 있는 3분할 아노드(10a)(10b)(10c)이고, 상기 중앙 아노드(10a)는 위가 넓고 아래가 좁은 테이퍼 형상을 가지며, 상기 양측방 아노드(10b)(10c)들은 중앙 아노드(10a)의 양측면에 일측면이 각각 동일한 경사각으로서 접촉되며, 반대측면은 각각 직선면을 갖는 구조를 갖춤으로서 이들이 서로 결합되면, 전체적으로는 사각형의 구조를 이루도록 구성됨을 특징으로 하는 스트립의 도금편차를 해소하는 불용성 아노드.The anode is a three-segment anode (10a) (10b) (10c) that is attached to the anode moving device 20 and can be moved along the upper and lower guides (30) and (32) respectively. The center anode 10a has a tapered shape with a wide top and a narrow bottom, and both side anodes 10b and 10c are in contact with both sides of the center anode 10a as the same inclination angle, respectively. Insoluble anodes to eliminate the plating deviation of the strip, characterized in that the opposite side has a structure having a straight surface, respectively, when they are combined with each other, to form a generally rectangular structure. 삭제delete 제 1항에 있어서, 상기 중앙의 아노드(10a)와 측방 아노드(10b)(10c)들이 접촉되는 모서리들은 양측면이 각각 측방 아노드(10b)(10c)의 반대측 에지부와 같이 곡면처리(15) 됨을 특징으로 하는 스트립의 도금편차를 해소하는 불용성 아노드.According to claim 1, wherein the edges in which the center anode (10a) and the side anode (10b) (10c) is in contact with both sides of the curved surface (like the opposite edge portion of the side anode (10b) (10c), respectively ( 15) An insoluble anode which eliminates the plating deviation of the strip, characterized in that. 제 1항에 있어서, 상기 상부 가이드(30)는 상하로 아노드(10a)(10b)(10c)들이 끼워지도록 긴 관통구멍(33)이 형성되고, 상기 관통구멍(33)에 연이어서 아노드(10a)(10b)(10c)의 상부 턱(40)이 걸려서 하부로 낙하되지 않도록 하는 단턱(34)이 내부에 형성되고, 상기 긴 구멍(33)의 양측으로는 측방 아노드(10b)(10c)의 이송장치(20)들이 위치되는 절개부(36)를 각각 형성함을 특징으로 하는 스트립의 도금편차를 해소하는 불용성 아노드.According to claim 1, wherein the upper guide 30 is formed with a long through hole 33 so that the anode (10a) (10b) (10c) is fitted up and down, successive to the through hole 33, the anode Steps 34 are formed therein to prevent the upper jaw 40 of the (10a), 10b, and 10c from being caught and dropped to the bottom, and the side anodes 10b (10b) on both sides of the elongated hole 33 ( An insoluble anode for eliminating the plating deviation of the strip, characterized in that each forming a cut 36 in which the transfer devices 20 of 10c are located.
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