KR100350960B1

KR100350960B1 - Checking Device of L.C.D panel

Info

Publication number: KR100350960B1
Application number: KR1020000078969A
Authority: KR
Inventors: 이광우
Original assignee: (주)위드텍
Priority date: 2000-12-20
Filing date: 2000-12-20
Publication date: 2002-08-29
Also published as: KR20010035088A

Abstract

본 발명은 액정 표시기의 검사 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 액정 표시기에 정전압 및 특정 문양의 파형을 인가하여 화면에 출력되는 상태를 목시하여 검사할 수 있도록 하므로 써 이후 공정에서 발생될 불량을 최소화하고, 투입 물량 대비 생산성을 향상시키도록 하는 액정 표시기의 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a device for inspecting a liquid crystal display, and more particularly, by applying a constant voltage and a waveform of a specific pattern to a liquid crystal display to visually inspect a state output on a screen, thereby minimizing defects occurring in a subsequent process. And it relates to an inspection device for a liquid crystal display to improve the productivity compared to the input amount.

이를 위한 본 발명은 검사 과정의 조작을 위한 입력부와, 각종 검사 명령을 수행하도록 하는 마이크로 프로세서(MPU)와, 각종 데이터를 저장하도록 하는 플레쉬 롬(FLASH ROM), 램(RAM), 플레쉬 디스크(FLASH DISK) 및 백업 램(BACK UP RAM)으로 구성된 중앙 처리부와, 검사에 필요한 파형을 발생하도록 하는 파형 발생기와 파형 발생기에서 생성된 파형을 측정, 보존하는 기록 장치로 구성된 파형 발생부와, 중앙 처리 장치의 명령 및 파형 발생기에서 발생된 파형 등 각종 신호를 액정 표시기에 입력되도록 하는 신호 입력부와, 각 검사 진행 상태 및 결과값을 시각적으로 표시할 수 있도록 하는 액정 표시기와, 청각적으로 표시하도록 하는 음성 합성 장치 및 스피커로 구성된 출력부로 이루어진 것을 특징으로 한다.The present invention for this purpose is an input unit for the operation of the inspection process, a microprocessor (MPU) to perform a variety of inspection instructions, flash ROM (RAM), RAM (RAM), flash disk (FLASH) to store various data A central processing unit consisting of a DISK) and a backup RAM, a waveform generator comprising a waveform generator for generating a waveform for inspection and a recording device for measuring and preserving the waveform generated by the waveform generator, and a central processing unit. A signal input unit for inputting various signals such as waveforms generated by the command and the waveform generator to the liquid crystal display, a liquid crystal display for visually displaying the progress status and the result of each test, and a speech synthesis for acoustic display. Characterized in that the output portion consisting of a device and a speaker.

Description

Checking Device of L.C.D panel

본 발명은 액정 표시기의 검사 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 액정 표시기에 정전압 및 특정 문양의 파형을 인가하여 화면에 출력되는 상태를 목시하여 검사할 수 있도록 하므로 써 이후 공정에서 발생될 불량을 최소화하여 부품 투입 대비 생산성을 향상시키도록 하는 액정 표시기의 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a device for inspecting a liquid crystal display, and more particularly, by applying a constant voltage and a waveform of a specific pattern to a liquid crystal display to visually inspect a state output on a screen, thereby minimizing defects occurring in a subsequent process. The present invention relates to an inspection apparatus for a liquid crystal display device to improve productivity compared to component injection.

일반적인 액정 표시기의 특성을 검사하는 장치는 액정 표시기를 구동하는 구동 드라이버가 장착된 상태에서 검사하도록 되어 있다.A device for inspecting the characteristics of a general liquid crystal display is designed to inspect a state in which a driving driver for driving the liquid crystal display is mounted.

이와 같은 액정 표시기의 검사 장치는 액정 표시기 화면 전체의 on/off 동작을 통해 불량 유, 무를 검사하도록 되어 있어 실제로 액정 표시기의 화면 출력 특성에서 중요한 검사 즉, 액정 표시기에 나타날 수 있는 상호 간섭, 특정 부위의 밝기 변화 등을 검사할 수 없어 화면 출력 성능이 낮은 액정 표시기가 완제품으로 제조되는 등 제품의 품질면에서 문제점이 발생되는 것이었다.The inspection device of the liquid crystal display is designed to inspect the presence or absence of defects through on / off operation of the entire liquid crystal display screen. Problems in terms of product quality were generated, such as the lack of screen brightness, and the lack of screen output.

또한, 구동 드라이버가 장착된 완제품 상태에서 검사가 이루어지기 때문에 불량이 발생했을 경우에는 수리가 번거로울 뿐 아니라 액정 표시기의 화면 표시부에 불량 원인이 있을 경우에는 정상 동작되는 구동 드라이브까지도 불량 처리할 수밖에 없어 제조 시간 낭비 및 투입 경비에 있어서 비경제적인 문제점이 있는 것이다.In addition, since the inspection is performed in the state of the finished product equipped with the driver, it is not only troublesome to repair in case of a defect, but also in case of a defect in the screen display part of the liquid crystal display, even a drive driver that is normally operated cannot be processed. There is an uneconomical problem in wasting time and input costs.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해소하기 위한 것으로, 액정 표시기에 정전압 및 특정 문양의 파형을 인가하여 화면에 출력되는 상태를 목시하여 검사할 수 있도록 하므로 써 이후 공정에서 발생될 불량을 최소화하고 투입 물량 대비 생산성을 향상시키도록 하는 액정 표시기의 검사 장치를 제공함을 특징으로 한다.The present invention is to solve the above problems, by applying a constant voltage and a waveform of a specific pattern to the liquid crystal display to visually inspect the state that is output on the screen, thereby minimizing the defects that will occur in the subsequent process and the input quantity It is characterized by providing an inspection apparatus for a liquid crystal display to improve the contrast productivity.

도 1은 본 발명의 구성을 보인 블럭도1 is a block diagram showing the configuration of the present invention

도 2a는 본 발명의 전기적 특성 검사 과정을 보인 순서도Figure 2a is a flow chart showing a process of testing the electrical characteristics of the present invention

도 2b는 본 발명의 육안 검사 과정을 보인 순서도Figure 2b is a flow chart showing a visual inspection process of the present invention

<도면의 주요부분에 대한 부호 설명><Description of Signs of Major Parts of Drawings>

10 : 입력부 11 : 키보드 12 : 통신 포트10 input unit 11 keyboard 12 communication port

13 : 주변 장치 선택기 20 : 제어부 21 : 마이크로 프로세서13 Peripheral Device Selector 20 Control Unit 21 Microprocessor

22 : 기억 장치 30 : 파형 발생부 31 : 파형 발생기22: memory device 30: waveform generator 31: waveform generator

32 : 기록 장치 40 : 신호 입력부 41 : D/A 변환기32: recording device 40: signal input part 41: D / A converter

42 : 정전압 모듈 43 : 바이어스 모듈 44 : 셀렉터42 constant voltage module 43 bias module 44 selector

45 : A/D 변환기 46 : 컴먼 드라이브 46',47' : 증폭기45: A / D converter 46: common drive 46 ', 47': amplifier

47 : 세그먼트 드라이브 48 : 구형파 드라이브 50 : 출력부47: segment drive 48: square wave drive 50: output

52 : 디스플레이 드라이브 51 : 액정 표시기52: display drive 51: liquid crystal display

53 : 음성 합성기 54 : 스피커53: speech synthesizer 54: speaker

첨부 도면 도 1은 본 발명의 구성을 보인 블럭도이고, 도 2a는 본 발명의 전기적 특성 검사 과정을 보인 순서도이며, 도 2b는 본 발명의 육안 검사 과정을 보인 순서도이다.Figure 1 is a block diagram showing the configuration of the present invention, Figure 2a is a flow chart showing the electrical property inspection process of the present invention, Figure 2b is a flow chart showing a visual inspection process of the present invention.

첨부 도면 도 1에서 보는 바와 같이, 본 발명은 검사 과정의 조작을 위한 입력부(10)와, 각종 검사 명령을 수행하도록 하는 마이크로 프로세서(21)와, 각종 데이터를 저장하도록 하는 기억 장치부(22)로 구성된 중앙 처리부(20)와, 검사에 필요한 파형을 발생하도록 하는 파형 발생부(30)와, 중앙 처리 장치(20)의 명령 및 파형 발생기(30)에서 발생된 파형 등 각종 신호가 액정 표시기(D)에 입력되도록 하는 신호 입력부(40)와, 각 검사 진행 상태 및 결과값을 시각 및 청각적으로 표시할 수 있도록 하는 출력부(50)로 이루어져 있다.As shown in FIG. 1, the present invention provides an input unit 10 for operating an inspection process, a microprocessor 21 for performing various inspection commands, and a storage unit 22 for storing various data. Various signals such as the central processing unit 20, the waveform generating unit 30 for generating the waveforms required for the inspection, the command generated by the central processing unit 20, and the waveforms generated by the waveform generator 30 are displayed in the liquid crystal display ( And a signal input unit 40 for inputting to D) and an output unit 50 for visually and audibly displaying the inspection progress state and the result value.

입력부(10)는 10진 코드 키 및 액정 표시기의 제어 키 등을 갖춘 키보드(11)와, 외부의 자동화 장치 및 기타 장치와 연결 가능하도록 되어진 통신 포트(12)와, 로직 회로로 구성되어 주변 장치의 선택이 가능하도록 되어진 주변 장치 선택기(13)로 구성되어 있다.The input unit 10 includes a keyboard 11 having a decimal code key and a control key of a liquid crystal display, a communication port 12 configured to be connected to an external automation device and other devices, and a logic circuit. It consists of a peripheral device selector 13, which is capable of selecting.

중앙 처리부(20)는 각종 검사 명령을 수행하도록 하는 마이크로 프로 세서(21) 및 기억 장치부(22)로 구성되며, 기억 장치부(22)는 플레쉬 롬(22A), 플레쉬 디스크(22B), 램(22C) 및 백업 램(22D)으로 구성되어 있다.The central processing unit 20 is composed of a microprocessor 21 and a storage unit 22 for performing various inspection commands. The storage unit 22 includes a flash ROM 22A, a flash disk 22B, and a RAM. 22C and backup RAM 22D.

파형 발생부(30)는 검사에 필요한 파형을 발생하도록 하는 파형 발생기(31)와 파형 발생기(31)에서 생성된 파형을 측정, 보존하는 기록 장치(32)로 구성되어 있다.The waveform generator 30 is composed of a waveform generator 31 for generating a waveform necessary for inspection and a recording device 32 for measuring and storing the waveform generated by the waveform generator 31.

신호 입력부(40)는 파형 발생기(31)에서 발생된 파형 신호를 아날로그 신호로 변환하는 D/A 변환기(41)와, 액정 표시기(D)의 전류 및 저항 특성 검사시 일정한 전압을 공급하도록 하는 정전압 모듈(42)과, 액정 표시기(D)에서 필요로 하는 전압으로 등분하여 공급하도록 하는 바이어스 모듈(43)과, 중앙 처리부(20)와 파형 발생기(31)에 의해 동작이 제어되는 액정 표시기(D)의 각 단자와 접속되도록 하는 셀렉터(44)와, 액정 표시기(D)에 입력된 전압에 따른 출력값을 파형 발생기(31)을 통해 중앙 처리부(20)로 전달하는 A/D 변환기(45)와, 바이어스 모듈(43)에서 등분된 전압을 증폭기(46')를 거쳐 셀렉터(44)를 통해 액정 표시기(D)의 컴먼 단자(C)에 전달하는 컴먼 드라이버(45)와, 바이어스 모듈(43)에서 등분된 전압을증폭기(47')를 거쳐 셀렉터(44)를 통해 액정 표시기(D)의 세그먼트 단자(S)에 전달하는 컴먼 드라이버(47)와, 액정 표시기(D)의 전류 체크를 위한 구형파를 발생하는 구형파 드라이버(48)로 구성되어 있다.The signal input unit 40 includes a D / A converter 41 for converting a waveform signal generated by the waveform generator 31 into an analog signal, and a constant voltage for supplying a constant voltage when checking current and resistance characteristics of the liquid crystal display D. The module 42, the bias module 43 for equally supplying the voltage required by the liquid crystal display D, and the liquid crystal display D whose operation is controlled by the central processing unit 20 and the waveform generator 31. Selector 44 to be connected to each terminal of < RTI ID = 0.0 >), < / RTI > an A / D converter 45 which transmits the output value according to the voltage input to the liquid crystal display D to the central processing unit 20 through the waveform generator 31; The common driver 45 which transfers the voltage divided by the bias module 43 through the amplifier 46 'to the common terminal C of the liquid crystal display D through the selector 44, and the bias module 43 The voltage divided by is divided by the amplifier (47 ') through the selector (44) of the liquid crystal display (D) Treatment consists of the terminal (S), the common driver 47 and a square wave driver (48) for generating a square-wave current for the check of the liquid crystal display (D) to forward to.

출력부(50)는 각 검사 진행 상태 및 결과값을 시각적으로 표시할 수 있도록 하는 디스플레이 드라이버(51) 및 액정 표시기(52)와, 청각적으로 표시하도록 하는 음성 합성 장치(53) 및 스피커(54)로 구성되어 있다.The output unit 50 includes a display driver 51 and a liquid crystal display 52 for visually displaying the progress and result of each test, and a speech synthesizer 53 and a speaker 54 for audible display. It consists of).

이와 같이 구성된 본 발명은 첨부 도면 도 2a 및 도 2b에서 보는 바와 같이, 검사 시작 버튼을 누르게 되면 출력부(50)의 액정 표시기(52)에 검사 항목 및 진행 과정 등의 초기 화면이 표시되도록 하고 외부 연결 장치와 연결 등에 따른 지연 시간을 감안하여 시간이 지연 되도록 하는 초기화 단계와, 정전압 모듈에서 공급되는 전압 및 구형파 드라이브(48)에서 발생되는 구형파가 액정 표시기(D)로 인가되고 이에 따른 출력 값을 통해 전류를 측정하여 결과 값을 액정 표시기(52)를 통해 표시함과 동시에 불량 발생 시 램프와 버저를 통해 불량 발생을 알리도록 하는 전류 측정 단계와, 액정 표시기(D)에 인가되는 전압에 따른 저항값을 체크하여 액정 표시기(D)가 오픈 또는 단락 상태인지를 확인하도록 하는 저항 측정 단계와, 파형 발생기(31)로부터 발생되는 전압 및 패턴 파형 신호가 바이어스 모듈(43)을 통해 컴먼 드라이브(46), 세그먼트 드라이브(47) 및 해당 증폭기(46')(47')를 거쳐 액정 표시기(D)의 각 단자(C)(S)에 인가되어 설정된 테스트 패턴 문양이 액정 화면에 출력되도록 하는 육안 검사 단계로 이루어진다.2A and 2B of the present invention configured as described above, when an inspection start button is pressed, an initial screen such as an inspection item and a process is displayed on the liquid crystal display 52 of the output unit 50, and the external Initialization step to delay the time in consideration of the delay time according to the connection device and the connection, and the voltage supplied from the constant voltage module and the square wave generated from the square wave drive 48 is applied to the liquid crystal display (D) and the output value accordingly A current measurement step of measuring current through the liquid crystal display 52 and displaying a result value at the same time, and informing a failure occurrence through a lamp and a buzzer when a failure occurs, and a resistance according to a voltage applied to the liquid crystal display D. The resistance measurement step of checking the value to confirm whether the liquid crystal display (D) is in an open or short state, and the voltage generated from the waveform generator (31). And a pattern waveform signal is passed through the bias module 43 through the common drive 46, the segment drive 47, and the corresponding amplifiers 46 'and 47' to each terminal C and S of the liquid crystal display D. A visual inspection step is performed so that a test pattern pattern applied to and set is output on the LCD screen.

이때, 테스트 패턴 문양은 문자, 기호, 도형 등 여러 가지 모양이 한번 또는순차적으로 출력될 수 있으며 그 횟수도 조절이 가능하다.In this case, the test pattern pattern may be output a number of shapes, such as letters, symbols, figures, once or sequentially, and the number of times may be adjusted.

이와 같이 되는 본 발명은 액정 표시기에 정전압 및 특정 문양의 파형을 인가하여 자체 저항과 전류 특성 및 화면에 출력되는 상태를 목시하여 검사하는 등 종합적인 검사가 가능하게 된다.In the present invention as described above, by applying a constant voltage and a waveform of a specific pattern to a liquid crystal display, a comprehensive inspection such as inspection by visually inspecting a self-resistance, a current characteristic, and a state output on a screen can be performed.

이와 같이 되는 본 발명은 액정 표시기에 정전압 및 특정 문양의 파형을 인가하여 자체 저항과 전류 특성 및 화면에 출력되는 상태를 목시하여 검사하는 등 종합적인 검사가 가능하도록 하므로 써 이후 공정에서 발생될 불량을 최소화하여 부품 투입 대비 생산성을 향상시키도록 하므로 써 불량률 감소및 생산비 절감 효과를 갖음과 동시에 품질 향상 효과를 갖는다.In the present invention as described above by applying a waveform of a constant voltage and a specific pattern to the liquid crystal display to check the resistance and current characteristics and the state that is output on the screen so as to enable a comprehensive inspection, such that the defect that will occur in the subsequent process By minimizing to improve productivity compared to the input of parts, it has the effect of reducing defect rate and reducing production cost and at the same time improving quality.

Claims

A keyboard 11 having decimal code keys and a control key of a liquid crystal display, a communication port 12 that can be connected to an external automation device and other devices, and a logic circuit to select peripheral devices. An input unit 10 comprising a peripheral device selector 13,

It consists of a microprocessor 21 and a storage unit 22 to perform various test instructions, the storage unit 22 is a flash ROM 22A, a flash disk 22B, a RAM 22C and a backup RAM. A central processing unit 20 composed of 22D,

A waveform generator 30 comprising a waveform generator 31 for generating a waveform required for inspection and a recording device 32 for measuring and storing the waveform generated by the waveform generator 31;

A D / A converter 41 for converting the waveform signal generated by the waveform generator 31 into an analog signal, a constant voltage module 42 for supplying a constant voltage when checking current and resistance characteristics of the liquid crystal display D, Connected to the bias module 43 for equally supplying the voltage required by the liquid crystal display D and the terminals of the liquid crystal display D whose operation is controlled by the central processing unit 20 and the waveform generator 31. A / D converter 45 and bias module 43 for transmitting the selector 44 and the output value corresponding to the voltage input to the liquid crystal display D to the central processing unit 20 through the waveform generator 31. The common driver 45 which transmits the equalized voltage at the common channel 45 of the liquid crystal display D through the selector 44 via the amplifier 46 ', and the voltage divided by the bias module 43 Via 47 'to the segment terminal S of the liquid crystal display D via the selector 44 A signal input unit 40 comprising a common driver 47 to be reached, a square wave driver 48 for generating a square wave for current check of the liquid crystal display D,

An output unit including a display driver 51 and a liquid crystal display 52 for visually displaying the progress and result of each test, and a speech synthesizer 53 and a speaker 54 for visually displaying 50) A device for inspecting a liquid crystal display, characterized in that consisting of.