KR100306718B1 - 교각을이용한공기막형박막공진기및그제조방법 - Google Patents
교각을이용한공기막형박막공진기및그제조방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100306718B1 KR100306718B1 KR1019980015842A KR19980015842A KR100306718B1 KR 100306718 B1 KR100306718 B1 KR 100306718B1 KR 1019980015842 A KR1019980015842 A KR 1019980015842A KR 19980015842 A KR19980015842 A KR 19980015842A KR 100306718 B1 KR100306718 B1 KR 100306718B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- thin film
- support
- film
- sacrificial layer
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 66
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 71
- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 51
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 30
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims abstract description 23
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims abstract description 12
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 19
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 19
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 17
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims description 13
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 9
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 claims description 9
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 claims description 6
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 6
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims description 5
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 5
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 claims description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000000347 anisotropic wet etching Methods 0.000 claims description 3
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 claims description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 44
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 7
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 230000009969 flowable effect Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N hexamethyldisilazane Chemical compound C[Si](C)(C)N[Si](C)(C)C FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 1
- 239000002351 wastewater Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01P—WAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
- H01P1/00—Auxiliary devices
- H01P1/20—Frequency-selective devices, e.g. filters
- H01P1/201—Filters for transverse electromagnetic waves
- H01P1/203—Strip line filters
- H01P1/20327—Electromagnetic interstage coupling
- H01P1/20354—Non-comb or non-interdigital filters
- H01P1/20381—Special shape resonators
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01P—WAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
- H01P11/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing waveguides or resonators, lines, or other devices of the waveguide type
- H01P11/008—Manufacturing resonators
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01P—WAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
- H01P1/00—Auxiliary devices
- H01P1/20—Frequency-selective devices, e.g. filters
- H01P1/207—Hollow waveguide filters
- H01P1/208—Cascaded cavities; Cascaded resonators inside a hollow waveguide structure
- H01P1/2088—Integrated in a substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01P—WAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
- H01P7/00—Resonators of the waveguide type
- H01P7/10—Dielectric resonators
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
Abstract
Description
Claims (12)
- 상부전극(39), 압전박막(36), 하부전극(34) 및 보호막(31)으로 구성되어 진동되는 공기막(30)과, 상기 공기막(30)을 지지하는 지지대(22)와, 상기 지지대를 지지하는 기판(10)으로 구성되는 공기막형 박막 공진기에 있어서 :상기 공기막(30)과 기판(10) 사이에 다리 교각구조의 지지대(22)를 복수개 형성하고, 상기 복수의 지지대(22) 사이는 공극부(26)로 이루어진 것을 특징으로 하는 교각을 이용한 공기막형 박막 공진기.
- 기판(10)의 표면상에 지지층(21)을 증착하는 공정:상기 지지층을 식각하여 교각구조를 갖는 복수개의 지지대(22)를 형성하는 공정;상기 지지대(22)사이에 희생층(25)을 충진하여 적층하는 공정;상기 지지대(22)와 희생층(25)의 상단에 보호막(31), 하부전극(34), 압전박막(36), 상부전극(39)으로 이루어지는 공기막을 순차적으로 형성하는 공정; 및상기 복수의 지지대(22)의 사이에 있는 희생층(25)을 제거하여 공극부(26)로 만듦과 아울러 상기 지지대를 교각 형태의 지지대로 완성하는 공정; 으로 이루어진 교각을 이용한 공기막형 박막 공진기의 제조방법.
- 제 2 항에 있어서,상기 교각구조의 지지대(22)를 형성하는 공정은, 기판(10)에 지지층(21)을 증착한 후 지지층을 이용하여 포토/식각 공정을 통해 다리 교각구조를 형성시킨 다음 포토레지스트층(15)을 제거하여 이루어짐을 특징으로 하는 교각을 이용한 공기막형 박막 공진기의 제조방법.
- 제 3 항에 있어서,상기 지지층(21)을 10내지 31μm의 두께로 증착함을 특징으로 하는 교각을 이용한 공기막형 박막 공진기의 제조방법.
- 제 3 항에 있어서,상기 지지층(21)의 재료는 이산화규소(SiO2)임을 특징으로 하는 교각을 이용한 공기막형 박막 진동기의 제조방법.
- 제 2 항에 있어서,다리 교각구조의 지지대(22) 사이에 희생층(25)을 충진하는 공정은, 다리 교각구조를 갖는 지지대(22) 및 기판(10)의 표면 상단에 희생층(25)을 증착한 다음 포토/식각 공정을 통하여 다리 교각구조 지지대(22)의 측면의 빈 공간을 희생층(25)으로 충진하고 다리 교각구조 윗부분의 희생층(25)을 제거하여 이루어짐을 특징으로 하는 교각을 이용한 공기막형 박막 공진기의 제조방법.
- 제 2 항에 있어서,상기 희생층(25)은 10 내지 31μm 두께의 포토레지스트인 것을 특징으로 하는 교각을 이용한 공기막형 박막 공진기의 제조방법.
- 제 2 항에 있어서,상기 공기막(30)을 형성하여 공기 중에 노출시키는 공정은,상기 지지대(22)와 희생층(25)의 상단에 이산화규소(SiO2) 박막을 증착하여 보호막(31)을 형성하는 보호막형성공정;상기 보호막(31)의 상단에 하부전극(34)을 형성하기 위한 금속박막(33)을 증착하는 하부전극용금속박막공정;상기 하부전극용 금속박막(33)을 이용하여 포토/식각 공정으로 하부전극(34)과 접지전극(35)을 일괄 형성하는 하부전극형성공정;상기 완성된 하부전극패턴의 상단에 압전박막(36)을 증착하는 압전박막증착공정;상기 증착된 압전박막(36)의 상단에 상부전극용 금속박막(38)을 증착하는 상부전극용 금속박막증착공정;상기 상부전극용 금속박막(38)을 이용하여 포토 공정으로 상부전극 패턴을 형성하는 상부전극패턴형성공정;상기 상부전극(39)의 패턴 형성 후 식각 공정으로 상부전극의 상단에 있는 포토레지스트층(15)을 제거하는 상부전극형성공정; 및상기 상부전극(39)을 이용하여 압전박막(36)을 식각하여 하부전극 노출공정;으로 이루어진 것을 특징으로 하는 교각을 이용한 공기막형 박막 공진기의 제조방법.
- 제 8 항에 있어서,상기 하부전극용 금속박막(33)이나 상부전극용 금속박막(38)은 스퍼터링 방법으로 증착하는 알루미늄 재료인 것을 특징으로 하는 교각을 이용한 공기막형 박막 공진기의 제조방법.
- 제 8 항에 있어서,상기 압전박막(36)의 재료는, 산화아연(Zn0) 박막인 것을 특징으로 하는 교각을 이용한 공기막형 박막 공진기의 제조방법.
- 제 2 항에 있어서,상기 교각구조의 지지대를 형성 공정으로,선택적 식각용액을 이용한 이방성 습식식각 방법이나 RIE 방식을 이용한 등방성 건식식각 방법을 이용하여 실리콘웨이퍼 상에 교각을 형성하는 것을 특징으로 하는 교각을 이용한 공기막형 박막 공진기의 제조방법.
- 제 2 항에 있어서,상기 지지대(22) 사이의 희생층(25)을 제거하는 공정은, 포토/식각 공정으로 공기막(30) 옆의 이산화규소(SiO2) 박막을 부분적으로 식각시킨 후 식각된 부분으로 식각용액을 투입하여 희생층(25) 측면으로부터 다리 교각구조 지지대(22) 사이의 희생층(25)을 제거하여 이루어짐을 특징으로 하는 교각을 이용한 공기막형 박막 공진기의 제조방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019980015842A KR100306718B1 (ko) | 1998-05-02 | 1998-05-02 | 교각을이용한공기막형박막공진기및그제조방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019980015842A KR100306718B1 (ko) | 1998-05-02 | 1998-05-02 | 교각을이용한공기막형박막공진기및그제조방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19990084246A KR19990084246A (ko) | 1999-12-06 |
KR100306718B1 true KR100306718B1 (ko) | 2001-12-17 |
Family
ID=37530342
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019980015842A Expired - Fee Related KR100306718B1 (ko) | 1998-05-02 | 1998-05-02 | 교각을이용한공기막형박막공진기및그제조방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100306718B1 (ko) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20220073343A1 (en) * | 2018-12-20 | 2022-03-10 | Soitec | Method for transferring a surface layer to cavities |
US11424729B2 (en) | 2018-09-18 | 2022-08-23 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Bulk-acoustic wave resonator and method for manufacturing the same |
KR20230001854U (ko) | 2022-03-15 | 2023-09-22 | 오창석 | 판형 파티션의 다리 연결구조 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100538654B1 (ko) * | 2001-10-18 | 2005-12-26 | 쌍신전자통신주식회사 | 압전박막 공진기 및 그 제조방법 |
KR20030032401A (ko) * | 2001-10-18 | 2003-04-26 | 한국쌍신전기주식회사 | 압전박막형 공진기 및 그 제조방법 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60189307A (ja) * | 1984-03-09 | 1985-09-26 | Toshiba Corp | 圧電薄膜共振器およびその製造方法 |
KR970013665A (ko) * | 1995-08-17 | 1997-03-29 | 빈센트 비. 인그라시아 | 강화된 압전 커플링을 가진 박막 압전 공진기의 어레이와 그 제조방법 |
-
1998
- 1998-05-02 KR KR1019980015842A patent/KR100306718B1/ko not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60189307A (ja) * | 1984-03-09 | 1985-09-26 | Toshiba Corp | 圧電薄膜共振器およびその製造方法 |
KR970013665A (ko) * | 1995-08-17 | 1997-03-29 | 빈센트 비. 인그라시아 | 강화된 압전 커플링을 가진 박막 압전 공진기의 어레이와 그 제조방법 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11424729B2 (en) | 2018-09-18 | 2022-08-23 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Bulk-acoustic wave resonator and method for manufacturing the same |
US20220073343A1 (en) * | 2018-12-20 | 2022-03-10 | Soitec | Method for transferring a surface layer to cavities |
KR20230001854U (ko) | 2022-03-15 | 2023-09-22 | 오창석 | 판형 파티션의 다리 연결구조 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR19990084246A (ko) | 1999-12-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6355498B1 (en) | Thin film resonators fabricated on membranes created by front side releasing | |
US7275292B2 (en) | Method for fabricating an acoustical resonator on a substrate | |
US6808954B2 (en) | Vacuum-cavity MEMS resonator | |
CN109831172B (zh) | 一种体声波谐振器的制备方法 | |
US6917139B2 (en) | Film bulk acoustic resonator | |
US7005314B2 (en) | Sacrificial layer technique to make gaps in MEMS applications | |
US7622846B2 (en) | Bulk acoustic wave resonator, filter and duplexer and methods of making same | |
US6762471B2 (en) | Thin film resonator and method for manufacturing the same | |
US7161283B1 (en) | Method for placing metal contacts underneath FBAR resonators | |
CN110719082A (zh) | 声波谐振器封装件 | |
JP4395892B2 (ja) | 圧電薄膜デバイス及びその製造方法 | |
CN107026627A (zh) | 垂直阵列纳米柱薄膜体声波谐振器及其制备方法和滤波器 | |
US7179392B2 (en) | Method for forming a tunable piezoelectric microresonator | |
CN117277985A (zh) | 体声波谐振器和制造体声波谐振器的方法 | |
JP4404450B2 (ja) | 弾性表面波装置及びその製造方法 | |
CN116846358A (zh) | 一种滤波装置及其制作方法 | |
KR100306718B1 (ko) | 교각을이용한공기막형박막공진기및그제조방법 | |
US20250112607A1 (en) | Bulk acoustic wave resonator and method for manufacturing the same | |
CN113098417B (zh) | 滤波器的制备方法、滤波器 | |
JPS6281807A (ja) | 圧電薄膜共振子 | |
KR100518103B1 (ko) | 압전박막 공진기 및 그 제조방법 | |
CN111769814A (zh) | 封装结构及其制造方法 | |
CN113572447B (zh) | 用于体声波谐振器封装的方法 | |
CN119448975B (zh) | 一种减缓应力的滤波装置及其制作方法 | |
JP2003133427A (ja) | 正確な小型の半導体レゾネータを製造する方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 19980502 |
|
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 19980502 Comment text: Request for Examination of Application |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20001031 Patent event code: PE09021S01D |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20010427 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20010728 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20010813 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20010814 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20040615 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20050810 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20060728 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20070814 Year of fee payment: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20070814 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |