KR100304194B1 - Digital-analog converter for high-integrated circuit - Google Patents

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KR100304194B1 KR1019970048110A KR19970048110A KR100304194B1 KR 100304194 B1 KR100304194 B1 KR 100304194B1 KR 1019970048110 A KR1019970048110 A KR 1019970048110A KR 19970048110 A KR19970048110 A KR 19970048110A KR 100304194 B1 KR100304194 B1 KR 100304194B1
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/66Digital/analogue converters
    • H03M1/68Digital/analogue converters with conversions of different sensitivity, i.e. one conversion relating to the more significant digital bits and another conversion to the less significant bits

Abstract

PURPOSE: A digital-analog converter for high-integrated circuit is provided to minimize an area of a digital-analog converter by reducing the number of resistance and the number of switch. CONSTITUTION: A digital-analog converter(201) includes a primary conversion stage(305) and a secondary conversion stage(405). The digital-analog converter(201) converts analog values corresponding to digital values of N-bits on the basis of reference voltages(VREFT,VREFB). The digital-analog converter(201) coverts the N-bits to analog values by dividing the N bits into two parts, namely bits of X number and bits of Y number. Upper bits of X number are provided to the primary conversion stage(305). Lower bits of Y number are provided to the secondary conversion stage(405). The primary conversion stage(305) converts the upper bits to a primary voltage range. An upper and a lower voltage(V1,V2) are provided to the secondary conversion stage(405). The secondary conversion stage(405) generates analog values corresponding to the primary voltage range and the lower bits. The primary conversion stage(305) is formed with a voltage generation circuit(300) and the first decoder(100). The secondary conversion stage(405) is formed with a voltage distribution circuit(400), a selection circuit(500), and the second decoder(200).

Description

고집적화를 위한 디지털-아날로그 변환 회로(digital-analog converting circuit for reducing number of devices)Digital-analog converting circuit for reducing number of devices

본 발명은 디지털-아날로그 변환 회로(digital-analog converter)에 관한 것으로서, 더 구체적으로는 고집적을 위한 디지털-아날로그 변환 회로에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to digital-analog converters, and more particularly to digital-to-analog converters for high integration.

디지털-아날로그 변환 회로는 시스템이 고성능화 되면서, 변환기의 특성을 나타내는 해상도가 높은 수준을 요구하고 있는 추세이다.Digital-to-analog conversion circuits are demanding higher levels of resolution that characterize the converter as the system becomes more efficient.

도 1은 종래 기술에 따른 디지털-아날로그 변환 회로의 구성을 보여주는 회로도이다.1 is a circuit diagram showing the configuration of a digital-analog conversion circuit according to the prior art.

도 1을 참고하면, 디지털-아날로그 변환기는 디코더(10), 전압 분배 회로(20), 그리고 선택 회로(30)를 구비한다. 상기 디코더(10)는 외부로부터 N비트의 디지털 신호를 인가받아 이를 디코딩함으로써 2N개의 선택 신호 및 비선택신호들을 출력하며, 상기 선택 신호는 전압 분배 회로의 분배전압들 중 하나를 선택하기 위한 신호이다. 전압 분배 회로(20)는 상위 기준 전압(VREFT)과 하위 기준 전압(VREFB)이 인가되는 제 1 및 제 2 입력 단자들 사이에 직렬로 접속되는 복수개의 저항들(R1~Rn)을 포함하여 상기 기준 전압들을 저항비에 따라 분배한다. 그리고 선택 회로(30)는 상기 선택 신호와 비선택신호들에 응답하여 여러 분배 전압들 중 하나를 선택하는데, 이는 상기 각 저항의 접속점에 연결되는 스위치들{sw0~sw(n-1)}로 인해 결정된다. 그리고 선택 회로의 출력단에 접속되는 op amp는 선택된 상기 분배전압의 레벨을 증폭하여 N비트의 디지털 입력 신호에 대응하는 아날로그 신호를 출력한다. 상기와 같은 구성을 갖는 디지털-아날로그 회로는 해상도(resolution)의 측면에서 저항이나 스위치같은 수동 소자의 정밀도에 의해 민감하게 반응하며, 또 상기 해상도는 변환기의 특성을 나타내는 지표로서 이를 높일수록 제품의 질은 향상된다.Referring to FIG. 1, the digital-to-analog converter includes a decoder 10, a voltage distribution circuit 20, and a selection circuit 30. The decoder 10 receives an N-bit digital signal from the outside and decodes it to output 2 N selection signals and non-selection signals, and the selection signal is a signal for selecting one of the distribution voltages of the voltage distribution circuit. to be. The voltage divider circuit 20 includes a plurality of resistors R1 to Rn connected in series between the first and second input terminals to which the upper reference voltage VREFT and the lower reference voltage VREFB are applied. The reference voltages are divided according to the resistance ratio. The selection circuit 30 selects one of several distribution voltages in response to the selection signal and the non-selection signals, which are connected to the switches {sw0 to sw (n-1)} connected to the connection points of the respective resistors. Is determined due to. The op amp connected to the output terminal of the selection circuit amplifies the level of the selected divided voltage and outputs an analog signal corresponding to the N-bit digital input signal. The digital-analog circuit having the above configuration reacts sensitively by the precision of passive elements such as resistors and switches in terms of resolution, and the resolution is an indicator of the characteristics of the transducer. Is improved.

그러나, 상술한 바와 같은 디지털-아날로그 변환기는 해상도를 높일수록, 그리고 입력 디지털 신호의 비트수를 증가시킬수록 저항이 기하급수적으로 증가하게 되는 문제점이 발생된다. 그리고 전압 분배 회로의 저항열은 입력 디지털신호의 비트수에 의해 저항수가 2N개로 결정되는데, 4비트의 경우에는 24개의 저항만을 가지고도 동작이 가능하지만 20비트의 입력 디지털 신호의 경우에는 220개나 되는 저항들이 필요하다. 또 저항의 수가 기하급수적으로 증가하면, 이들의 각 접속점에 대응되는 스위치의 수도 증가하게 되고, 이들 스위치들을 구동하기 위한 신호들을 발생하는 디코더의 면적도 증가할 수밖에 없다. 상기와 같이 저항, 스위치, 디코더들의 수와 면적이 증가함에 따라 스위칭에 의한 노이즈 성분이 증가하여 디지털-아날로그 변환 회로의 특성이 저하되는 문제점이 발생하게 된다.However, the digital-to-analog converter described above has a problem in that the resistance increases exponentially as the resolution is increased and the number of bits of the input digital signal is increased. In addition, the resistance column of the voltage divider circuit is determined by the number of bits of the input digital signal to be 2 N. In the case of 4 bits, only 2 or 4 resistors can operate, but in the case of a 20 bit input digital signal, As many as 20 resistors are needed. In addition, as the number of resistors increases exponentially, the number of switches corresponding to their respective connection points increases, and the area of the decoder generating signals for driving these switches also increases. As described above, as the number and area of the resistors, the switches, and the decoders increase, the noise component due to the switching increases, resulting in a deterioration of the characteristics of the digital-analog conversion circuit.

본 발명의 목적은 디지털-아날로그 변환 회로의 저항 및 스위치들의 수를 줄여 면적의 최소화를 이루는 것과 동시에 해상도를 높이기 위함이다.It is an object of the present invention to reduce the number of resistors and switches in a digital-to-analog conversion circuit to minimize the area and to increase the resolution.

도 1은 종래 기술에 따른 디지털-아날로그 변환 회로의 구성을 보여주는 회로도:1 is a circuit diagram showing the configuration of a digital-analog conversion circuit according to the prior art:

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 디지털-아날로그 변환 회로의 구성을 보여주는 회로도:2 is a circuit diagram showing a configuration of a digital-analog conversion circuit according to an embodiment of the present invention:

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 디지털-아날로그 변환 회로 구성을 상세하게 보여주는 회로도:3 is a circuit diagram showing in detail a digital-analog conversion circuit configuration according to an embodiment of the present invention:

도 4a는 제 1 디코더의 구동 신호에 응답하는 스위치들의 동작 타이밍도:4A is an operation timing diagram of switches in response to a drive signal of a first decoder:

도 4b는 제 2 디코더의 선택 신호에 응답하는 스위치들의 동작 타이밍도:4B is an operation timing diagram of switches in response to a selection signal of a second decoder:

도 5는 디지털 신호들에 대응하는 아날로그 신호의 출력을 보여주는 도면:5 shows an output of an analog signal corresponding to digital signals:

* 도면의 주요부분에 대한 부호 설명* Explanation of symbols on the main parts of the drawings

100 : 제 1 디코더 200 : 제 2 디코더100: first decoder 200: second decoder

300 : 전압발생부 400 : 전압분배부300: voltage generator 400: voltage divider

500 : 선택부500: selection

[구성][Configuration]

상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 일 특징에 의하면, N-비트 디지털 값을 대응하는 아날로그 값으로 변환하는 디지털-아날로그 변환 회로는 상기 N 비트들 중 제 1 부분을 디코딩하여 복수 개의 제 1 디코더 신호들을 제공하는 제 1 디코더와; 상기 제 1 디코더 신호들에 응답하여 동작하며, 상위 기준 전압과 하위 기준 전압을 기초로 하여 상기 N 비트들 중 제 1 부분에 대응하는 예비 전압 범위를 발생하는 전압 발생 회로와; 상기 예비 전압 범위를 복수 개의 분배 전압들로 분배하되, 상기 복수 개의 분배 전압들이 상기 예비 전압 범위 내에 속하는 복수개의 서브-범위들을 정의하는 전압 분배 회로와; 상기 N 비트들 중 제 2 부분을 디코딩하여 복수 개의 제 2 디코더 신호들을 제공하는 제 2 디코더 및; 상기 복수 개의 제 2 디코더 신호들에 응답하여 동작하며, 상기 복수 개의 제 2 디코더 신호들을 기초로 하여 상기 복수 개의 서브-범위들 중 하나를 선택하여 상기 N-비트 디지털 값에 대응하는 아날로그 값을 생성하는 선택 회로를 포함한다.According to one aspect for achieving the above object, a digital-to-analog conversion circuit for converting an N-bit digital value into a corresponding analog value decodes a first portion of the N bits to obtain a plurality of first decoder signals. A first decoder for providing audio data; A voltage generator circuit operating in response to the first decoder signals and generating a preliminary voltage range corresponding to a first portion of the N bits based on an upper reference voltage and a lower reference voltage; A voltage divider circuit for dividing the reserve voltage range into a plurality of divided voltages, the plurality of divided voltages defining a plurality of sub-ranges that fall within the reserve voltage range; A second decoder for decoding a second portion of the N bits to provide a plurality of second decoder signals; Operate in response to the plurality of second decoder signals, and select one of the plurality of sub-ranges based on the plurality of second decoder signals to generate an analog value corresponding to the N-bit digital value. And a selection circuit.

이 실시예에 있어서, 상기 전압 발생 회로는 상기 복수 개의 제 1 디코더 신호들에 응답하여 동작하는 복수 개의 스위치들 및; 상기 복수 개의 스위치들에 전기적으로 연결되며, 상기 상위 기준 전압과 상기 하위 기준 전압을 기초로하여 상기 예비 전압 범위를 생성하는 복수 개의 저항들을 포함한다.In this embodiment, the voltage generation circuit comprises: a plurality of switches operating in response to the plurality of first decoder signals; And a plurality of resistors electrically connected to the plurality of switches to generate the preliminary voltage range based on the upper reference voltage and the lower reference voltage.

이 실시예에 있어서, 상기 복수 개의 스위치들은 제 1 그룹의 스위치들과 제 2 그룹의 스위치들을 포함하며, 상기 제 1 그룹의 스위치들은 상기 제 1 디코더 신호들을 기초로 하여 상기 복수 개의 저항들을 제 1 그룹의 저항들과 제 2 그룹의 저항들로 분할하며, 상기 제 1 그룹의 저항들은 제 1 전압을 생성하고 상기 2 그룹의 저항들은 제 2 전압을 생성한다.In this embodiment, the plurality of switches comprises a switch of a first group and a switch of a second group, the switches of the first group including the plurality of resistors based on the first decoder signals. The resistors of the first group generate a first voltage and the resistors of the second group produce a second voltage.

이 실시예에 있어서, 상기 제 2 그룹의 스위치들은 복수 개의 스위치 쌍들을 포함하며, 하나의 스위치 쌍은 상기 복수 개의 제 1 디코더 신호들을 기초로 하여 상기 스위치 쌍들로부터 선택되고, 상기 선택된 스위치 쌍은 상기 제 1 및 제 2 전압들을 선택하여 상기 예비 전압 범위를 생성한다.In this embodiment, the second group of switches comprises a plurality of switch pairs, one switch pair being selected from the switch pairs based on the plurality of first decoder signals, the selected switch pair being the The first and second voltages are selected to generate the preliminary voltage range.

이 실시예에 있어서, 상기 N 비트들 중 제 1 부분의 총 비트 수와 상기 N 비트들 중 제 2 부분의 총 비트 수는 동일하다.In this embodiment, the total number of bits of the first portion of the N bits and the total number of bits of the second portion of the N bits are the same.

이 실시예에 있어서, 상기 N 비트들 중 제 1 부분의 총 비트 수와 상기 N 비트들 중 제 2 부분의 총 비트 수는 일치하지 않는다.In this embodiment, the total number of bits of the first portion of the N bits and the total number of bits of the second portion of the N bits do not match.

이 실시예에 있어서, 상기 복수 개의 저항들은 동일한 값을 갖는 (2N-1)개의 저항들을 포함한다.In this embodiment, the plurality of resistors includes (2 N -1) resistors having the same value.

[실시예]EXAMPLE

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 디지털-아날로그 변환 회로의 블록도이다. 디지털-아날로그 변환 회로(201)는 제 1 변환 스테이지 (primary conversion stage) (305)와 제 2 변환 스테이지 (secondary conversion stage) (405)를 포함한다. 디지털-아날로그 변환 회로(201)는 기준 전압들(VREFT, VREFB)을 기초로 하여 N-비트 디지털 값을 대응하는 아날로그 값을 변환한다. 특히, N개의 비트들을 두 부분 즉, X개의 비트들과 Y개의 비트들로 분할함으로써 상기 N개의 비트들이 아날로그 값으로 변환된다. N개의 비트들 중 X개의 상위 비트들은 제 1 변환 스테이지(305)로 제공되고, N개의 비트들 중 Y개의 하위 비트들은 제 2 변환 스테이지(405)로 제공된다.2 is a block diagram of a digital-analog conversion circuit according to an embodiment of the present invention. The digital-to-analog conversion circuit 201 includes a first conversion stage 305 and a second conversion stage 405. The digital-to-analog conversion circuit 201 converts the corresponding analog value into an N-bit digital value based on the reference voltages VREFT and VREFB. In particular, the N bits are converted to an analog value by dividing the N bits into two parts, X bits and Y bits. X upper bits of the N bits are provided to the first transform stage 305, and Y lower bits of the N bits are provided to the second transform stage 405.

상기 제 1 변환 스테이지(305)는 N개의 비트들 중 상위 비트들을 예비 전압 범위 (primary voltage range)로 변환한다. 상기 예비 전압 범위는 상위 전압(V1)과 하위 전압(V2)으로 정의된다. 예비 전압 범위의 상위 및 하위 전압들(V1, V2)은 제 2 변환 스테이지(405)로 제공된다.The first conversion stage 305 converts the upper bits of the N bits into a primary voltage range. The preliminary voltage range is defined as an upper voltage V1 and a lower voltage V2. The upper and lower voltages V1 and V2 of the preliminary voltage range are provided to the second conversion stage 405.

상기 제 2 변환 스테이지(405)는 상기 제 1 변환 스테이지(305)에 의해서 제공된 예비 전압 범위와 Y개의 하위 비트들을 기초로 하여 대응하는 아날로그 값을 생성한다. 구체적으로는, 상기 제 2변환 스테이지(405)는 상기 예비 전압 범위의 하위 전압(V1)과 상위 전압(V2)을 이용하여 상기 N개의 비트들에 대응하는 더 명확한 아날로그 값을 결정한다. 다시 말해서, 제 1 변환 스테이지(305)는 대응하는 아날로그 값을 포함하는 개략적인 전압 범위를 결정하고, 제 2 변환 스테이지(405)는 상기 예비 전압 범위를 좀 더 정련하여 (refine) 대응하는 아날로그 값을 생성한다. 결과적으로, 디지털-아날로그 변환을 위해 보다 적은 저항들과 스위치들이 사용될 것이다.The second conversion stage 405 generates a corresponding analog value based on the preliminary voltage range provided by the first conversion stage 305 and the Y lower bits. Specifically, the second conversion stage 405 determines a clearer analog value corresponding to the N bits using the lower voltage V1 and the upper voltage V2 of the preliminary voltage range. In other words, the first conversion stage 305 determines a coarse voltage range that includes the corresponding analog value, and the second conversion stage 405 further refines the preliminary voltage range to refine the corresponding analog value. Create As a result, fewer resistors and switches will be used for the digital-to-analog conversion.

상기 제 1 변환 스테이지(305)는 상기 X개의 상위 비트들을 복수 개의 제 1 디코더 신호들로 디코딩하는 제 1 디코더(100)를 포함한다. 상기 제 1 디코더 신호들은 전압 발생 회로(300)에 의한 상기 예비 전압 범위의 생성을 제어한다. 예를 들면, 4-비트 디지털 데이터의 경우에 있어서, 제 1 디코더(100)는 4-비트 중 상위 2-비트를 기초로 하여 8개의 디코더 신호들을 생성한다. 전압 발생기(300)는 기준 전압들 (VREFT, VREFB)의 전압 범위를 4개의 서브-범위들 (four sub-ranges)로 분할하며, 각 서브-범위는 기준 전압들 (VREFT, VREFB)의 전체 범위의 1/4를 정의한다. 전압 발생 회로(300)는 상기 예비 전압 범위를 발생하고, 상기 상위 전압(V1)과 상기 하위 전압(V2)은 선택된 서브-범위를 정의한다.The first transform stage 305 includes a first decoder 100 that decodes the X upper bits into a plurality of first decoder signals. The first decoder signals control the generation of the preliminary voltage range by the voltage generation circuit 300. For example, in the case of 4-bit digital data, the first decoder 100 generates eight decoder signals based on the upper two bits of the four bits. The voltage generator 300 divides the voltage range of the reference voltages VREFT and VREFB into four sub-ranges, each sub-range being the full range of the reference voltages VREFT and VREFB. Define 1/4 of. The voltage generator circuit 300 generates the preliminary voltage range, and the upper voltage V1 and the lower voltage V2 define a selected sub-range.

상기 제 2 변환 스테이지(405)는 전압 분배 회로(400)를 포함하며, 상기 회로 (400)는 상기 제 1 변환 스테이지(305)로부터의 예비 전압 범위를 복수 개의 분배 전압들로 분배한다. 제 2 디코더(200)는 상기 N개의 비트들 중 하위 Y 비트들을 디코딩하여 복수 개의 제 2 디코더 신호들을 제공한다. 선택 회로(500)는 상기 복수 개의 제 2 디코더 신호들을 기초로 하여 복수개의 분배 전압들 중 하나의 분배 전압을 선택하여 상기 대응하는 아날로그 값을 생성한다. 구체적으로는, 상기 전압 분배 회로(400)는 상기 제 1 변환 스테이지(305)로부터의 예비 전압 범위를 세분하여 상기 선택 회로(500)로 상기 분배 전압을 제공한다. 상기 제 2 디코더(200)는 상기 하위 Y 비트들을 기초로 하여 상기 제 2 디코더 신호들을 생성한다. 상기 제 2 디코더 신호들은 상기 분배 전압들 중 하나를 선택하여 상기 대응하는 아날로그 값을 제공한다. 다시 말해서, 상기 제 2 디코더(200)에 의해서 생성된 제 2 디코더 신호들은 상기 제 1 변환 스테이지(305)에 의해서 제공되는 상기 예비 전압 범위를 세분하기 위해서 사용된다.The second conversion stage 405 includes a voltage division circuit 400, which divides the preliminary voltage range from the first conversion stage 305 into a plurality of division voltages. The second decoder 200 decodes the lower Y bits of the N bits to provide a plurality of second decoder signals. The selection circuit 500 selects one of the plurality of distribution voltages based on the plurality of second decoder signals to generate the corresponding analog value. Specifically, the voltage division circuit 400 subdivides the preliminary voltage range from the first conversion stage 305 to provide the division voltage to the selection circuit 500. The second decoder 200 generates the second decoder signals based on the lower Y bits. The second decoder signals select one of the distribution voltages to provide the corresponding analog value. In other words, second decoder signals generated by the second decoder 200 are used to subdivide the preliminary voltage range provided by the first conversion stage 305.

도 3은 본 발명에 따른 4-비트 디지털-아날로그 변환을 위한 디지털-아날로그 변환 회로의 바람직한 실시예이다. 전압 발생 회로(300)는 상기 기준 전압들 (VREFT, VREFB)을 기초로 하여 상기 예비 전압 범위를 생성하는 복수 개의 스위치들과 복수 개의 저항들을 포함한다. 구체적으로는, 상기 스위치들은 상기 제 1 디코더(100)에 의해서 생성된 디코더 신호들에 응답한다. 상기 제 1 디코더(100)에 의해서 생성된 디코더 신호들은 도 3의 전압 발생 회로(300) 내의 스위치들 각각의 상태를 제어한다. 특히, 스위치 쌍들(swt0/swb0~swt3/swb3)은 상기 제 1 디코더(100)로부터 제공되는 일련의 제 1 디코더 신호들에 의해서 제공된다. 마찬가지로, 스위치들(sw0~sw3)은 상기 제 1 디코더(100)로부터 제공되는 일련의 제 2 디코더 신호들에 의해서 제어된다.3 is a preferred embodiment of a digital-to-analog conversion circuit for 4-bit digital-to-analog conversion according to the present invention. The voltage generation circuit 300 includes a plurality of switches and a plurality of resistors that generate the preliminary voltage range based on the reference voltages VREFT and VREFB. Specifically, the switches are responsive to decoder signals generated by the first decoder 100. The decoder signals generated by the first decoder 100 control the states of each of the switches in the voltage generation circuit 300 of FIG. 3. In particular, the switch pairs wt0 / swb0-to wt3 / swb3 are provided by a series of first decoder signals provided from the first decoder 100. Similarly, the switches sw0 to sw3 are controlled by a series of second decoder signals provided from the first decoder 100.

상기 제 1 디코더(100)에 의해서 생성된 상기 제 1 및 제 2 디코더 신호들은 상기 예비 전압 범위를 선택하도록 연동한다. 예를 들면, 4-비트 디지털 값의 경우에 있어서, 상위 2 비트들은 제 1 디코더(100)에 제공되며, 그 결과 제 1 및 제 2 디코더 신호들이 제 1 디코더(100)에 의해서 생성된다. 상기 제 2 디코더 신호들은 저항들(RM1, RM2, RM3)을 2개의 개별 그룹들로 분할하기 위해 사용된다. 상기 1 디코더 신호들은 상기 스위치 쌍들(swt0/swb0~swt3/swb3)의 상태를 제어한다. 예를 들면, 상기 제 2 디코더 신호들 중 하나가 스위치 쌍(swt3/swb3)을 제어한다. 게다가, 스위치 쌍(swt3/swb3)의 상태는 스위치(sw3)의 상태와 연계하여 제어된다.The first and second decoder signals generated by the first decoder 100 interlock to select the preliminary voltage range. For example, in the case of a 4-bit digital value, the upper two bits are provided to the first decoder 100, with the result that the first and second decoder signals are generated by the first decoder 100. The second decoder signals are used to divide the resistors RM1, RM2, RM3 into two separate groups. The 1 decoder signals control the states of the switch pairs wt0 / swb0 to wt3 / swb3. For example, one of the second decoder signals controls the switch pair swt3 / swb3. In addition, the state of the switch pair swt3 / swb3 is controlled in association with the state of the switch sw3.

상기 전압 분배 회로(400)는 상기 예비 전압 범위를 분배하여 일련의 서브-범위 전압들을 정의하는 일련의 저항들(RL1~RL4)을 포함한다. 상기 서브-범위 전압들 각각은 상기 전압 분배 회로(300)에 의해서 생성된 상기 예비 전압 범위 내에 포함된다.The voltage divider circuit 400 includes a series of resistors RL1 to RL4 that divide the preliminary voltage range to define a series of sub-range voltages. Each of the sub-range voltages is included in the preliminary voltage range generated by the voltage divider circuit 300.

상기 선택 회로(500)는 스위치들(sw11~sw14)을 포함한다. 상기 제 2 디코더(200)는 상기 하위 Y 비트들을 기초로 하여 디코더 신호들을 발생하여 상기 스위치들(swt11~sw14) 각각의 상태를 제어한다. 따라서, 상기 제 2 디코더(200)는 적정한 서브-범위 전압에 대응하는 스위치를 닫는다. 상기 대응하는 서브-범위 전압은 상기 대응하는 아날로그 전압(Vout)을 생성하도록 노드 (N3)에 연결된다.The selection circuit 500 includes switches sw11 to sw14. The second decoder 200 generates decoder signals based on the lower Y bits to control the states of each of the switches swt11 to sw14. Thus, the second decoder 200 closes the switch corresponding to the appropriate sub-range voltage. The corresponding sub-range voltage is connected to node N3 to produce the corresponding analog voltage Vout.

도 4a 및 4b는 도 3의 디지털-아날로그 변환 회로의 동작을 설명하기 위한 타이밍도들이다. 구체적으로, 도 4a는 상기 N 비트들 중 상위 2 비트들을 기초로 하여 전압 발생 회로(300)에 포함된 스위치들 각각의 상태를 나타낸다. 도 4a에서 로직 하이(logic high)는 대응하는 스위치가 닫힌 상태(closed state)임을 나타낸다. 반대로, 로직 로우(logic low)는 대응하는 스위치가 오픈 상태(open state)임을 나타낸다. 도 4a는 제 2 스위치들 내의 스위치 쌍들과 제 1 스위치들의 연관 관계를 나타낸다. 예를 들면, D3=0이고 D2=0일 때, 스위치 쌍(swt0/swb0)은 닫히고, 스우치(sw0)는 열린다. 나머지 스위치들(sw1~sw3)은 닫힌다. 결국 저항들(RM1, RM2, RM3)의 결합 양단에 걸리는 전압 강하의 결과로서 상기 예비 전압 범위의 상위 전압(V1)이 제공된다. 마찬가지로, 전압(VREFB)은 스위치(swb0)를 통해 예비 전압 범위의 하위 전압(V2)을 제공한다. 결과적으로, 전압 발생 회로(300)의 스위치들은 예비 전압 범위를 발생하기 위해 사용된다.4A and 4B are timing diagrams for describing an operation of the digital-analog conversion circuit of FIG. 3. Specifically, FIG. 4A illustrates a state of each of the switches included in the voltage generation circuit 300 based on the upper two bits of the N bits. Logic high in FIG. 4A indicates that the corresponding switch is in a closed state. In contrast, a logic low indicates that the corresponding switch is in an open state. 4A illustrates the association of switch pairs with first switches in the second switches. For example, when D3 = 0 and D2 = 0, the switch pairs wt0 / swb0 are closed and the swoosh sw0 is open. The remaining switches sw1 to sw3 are closed. As a result, the upper voltage V1 of the preliminary voltage range is provided as a result of the voltage drop across the coupling of the resistors RM1, RM2, RM3. Similarly, voltage VREFB provides the lower voltage V2 of the preliminary voltage range via switch swb0. As a result, the switches of the voltage generating circuit 300 are used to generate a reserve voltage range.

도 4b는 N 비트들 중 하위 비트들을 기초로 하여 상기 선택 회로(500) 내의 모든 스위치들의 상태를 나타낸다. 예를 들면, D0=0이고 D1=0일 때, 스위치(sw11)는 닫히는 반면에 스위치들(sw12~sw14)은 열린다. 그 결과, 스위치(sw11)의 입력에 생기는 전압은 상기 대응하는 아날로그 전압(VAout)을 제공하도록 노드(N3)에 연결된다.4B shows the state of all switches in the selection circuit 500 based on the lower bits of the N bits. For example, when D0 = 0 and D1 = 0, the switch sw11 is closed while the switches sw12 to sw14 are open. As a result, the voltage generated at the input of the switch sw11 is connected to the node N3 to provide the corresponding analog voltage VAout.

도 5는 도 1 또는 도 3의 디지털-아날로그 변환 회로에 있어서 변환될 디지털 값들 대 아날로그 출력의 그래프이다. 앞서 설명된 바와 같이, 4-비트 디지털 값을 상위 2 비트들과 하위 2 비트들로 분할함으로써, 전압 발생 회로(300)는 3(2-1)개의 저항들을 사용한다. 마찬가지로, 전압 분배 회로(400)는 4(22)개의 저항들을 사용한다. 결과적으로, 본 발명은 종래 기술과 비교하여 볼 때 디지털-아날로그 변화를 제공하기 위해 사용되는 저항들의 수를 줄일 수 있다. 이 실시예에서, 본 바명의 디지털-아날로그 변환 회로가 짝수 비트의 디지털 값을 이용하여 설명되었지만, 홀수 비트의 디지털 값을 변환하는 경우에도 적용될 수 있음은 자명하다. 예를 들면, 5-비트 디지털 값을 상위 2 비트들과 하위 3 비트들로 분할하여 디지털-아날로그 변환 회로가 구성될 수 있다.5 is a graph of digital values to analog output to be converted in the digital-to-analog conversion circuit of FIG. 1 or FIG. As described above, by dividing the 4-bit digital value into the upper two bits and the lower two bits, the voltage generation circuit 300 uses 3 (2-1) resistors. Similarly, voltage divider circuit 400 uses 4 (2 2 ) resistors. As a result, the present invention can reduce the number of resistors used to provide a digital-analog change compared to the prior art. In this embodiment, although the digital-to-analog conversion circuit of the present invention has been described using an even bit digital value, it is obvious that the present invention can also be applied to converting an odd bit digital value. For example, a digital-to-analog conversion circuit can be constructed by dividing a 5-bit digital value into upper two bits and lower three bits.

본 발명에 따르면, 입력 디지털신호는 상하위비트로 나누어 인가함으로써 저항의 수와 함께 이에 접속되는 스위치의 수를 줄일 수 있다. 또, 상기 스위치들을 구동시키기 위한 디코더의 회로 구성이 간단해져 전체 면적 감소되는 효과가 있다.According to the present invention, the input digital signal is divided into upper and lower bits and applied to reduce the number of resistors and the number of switches connected thereto. In addition, the circuit configuration of the decoder for driving the switches is simplified, thereby reducing the total area.

Claims (7)

N-비트 디지털 값을 대응하는 아날로그 값으로 변환하는 디지털-아날로그 변환 회로에 있어서, 상기 N 비트들 중 제 1 부분을 디코딩하여 복수 개의 제 1 디코더 신호들을 제공하는 제 1 디코더(100)와; 상기 제 1 디코더 신호들에 응답하여 동작하며, 상위 기준 전압(VREFT)과 하위 기준 전압(VREFB)을 기초로 하여 상기 N 비트들 중 제 1 부분에 대응하는 예비 전압 범위를 발생하는 전압 발생 회로(300)와; 상기 예비 전압 범위를 복수 개의 분배 전압들로 분배하되, 상기 복수 개의 분배 전압들이 상기 예비 전압 범위 내에 속하는 복수 개의 서브-범위들을 정의하는 전압 분배 회로(400)와; 상기 N 비트들 중 제 2 부분을 디코딩하여 복수 개의 제 2 디코더 신호들을 제공하는 제 2 디코더(200) 및; 상기 복수 개의 제 2 디코더 신호들에 응답하여 동작하며, 상기 복수 개의 제 2 디코더 신호들을 기초로 하여 상기 복수 개의 서브-범위들 중 하나를 선택하여 상기 N-비트 디지털 값에 대응하는 아날로그 값을 생성하는 선택 회로(500)를 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털-아날로그 변환 회로.A digital-to-analog conversion circuit for converting an N-bit digital value into a corresponding analog value, comprising: a first decoder (100) for decoding a first portion of the N bits to provide a plurality of first decoder signals; A voltage generation circuit operating in response to the first decoder signals and generating a preliminary voltage range corresponding to a first portion of the N bits based on an upper reference voltage VREFT and a lower reference voltage VREFB; 300); A voltage division circuit (400) for dividing the preliminary voltage range into a plurality of division voltages, the plurality of division voltages defining a plurality of sub-ranges falling within the preliminary voltage range; A second decoder (200) for decoding a second portion of the N bits to provide a plurality of second decoder signals; Operate in response to the plurality of second decoder signals, and select one of the plurality of sub-ranges based on the plurality of second decoder signals to generate an analog value corresponding to the N-bit digital value. And a selection circuit (500). 제 1 항에 있어서, 상기 전압 발생 회로(300)는 상기 복수 개의 제 1 디코더 신호들에 응답하여 동작하는 복수 개의 스위치들 및; 상기 복수 개의 스위치들에 전기적으로 연결되며, 상기 상위 기준 전압(VREFT)과 하위 기준 전압(VREFB)을 기초로 하여 상기 예비 전압 범위를 생성하는 복수 개의 저항들을 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털-아날로그 변환 회로.2. The apparatus of claim 1, wherein the voltage generation circuit (300) comprises: a plurality of switches operating in response to the plurality of first decoder signals; A plurality of resistors electrically connected to the plurality of switches, the plurality of resistors generating the preliminary voltage range based on the upper reference voltage VREFT and the lower reference voltage VREFB. Circuit. 제 2 항에 있어서, 상기 복수 개의 스위치들은 제 1 그룹의 스위치들과 제 2 그룹의 스위치들을 포함하며, 상기 제 1 그룹의 스위치들은 상기 제 1 디코더 신호들을 기초로 하여 상기 복수 개의 저항들을 제 1 그룹의 저항들과 제 2 그룹의 저항들로 분할하며, 상기 제 1 그룹의 저항들은 제 1 전압(V1)을 생성하고 상기 제 2 그룹의 저항들은 제 2 전압(V2)을 생성하는 것을 특징으로 하는 디지털-아날로그 변환 회로.3. The apparatus of claim 2, wherein the plurality of switches comprises switches of a first group and switches of a second group, wherein the switches of the first group comprise the plurality of resistors based on the first decoder signals. The resistors of the group and the resistors of the second group, wherein the resistors of the first group generate a first voltage V1 and the resistors of the second group generate a second voltage V2. Digital-to-analog conversion circuit. 제 3 항에 있어서, 상기 제 2 그룹의 스위치들은 복수 개의 스위치 쌍들을 포함하며, 하나의 스위치 쌍은 상기 복수 개의 제 1 디코더 신호들을 기초로 하여 상기 스위치 쌍들로 부터 선택되고, 상기 선택된 스위치 쌍은 상기 제 1 및 제 2 전압들(V1, V2)을 선택하여 상기 예비 전압 범위를 생성하는 것을 특징으로 하는 디지털-아날로그 변환 회로.4. The switch of claim 3, wherein the second group of switches comprises a plurality of switch pairs, one switch pair being selected from the switch pairs based on the plurality of first decoder signals, wherein the selected switch pair is And selecting the first and second voltages (V1, V2) to generate the preliminary voltage range. 제 1 항에 있어서, 상기 N 비트들 중 제 1 부분의 총 비트 수와 상기 N 비트들 중 제 2 부분의 총 비트 수는 동일한 것을 특징으로 하는 디지털-아날로그 변환 회로.2. The digital-analog conversion circuit of claim 1, wherein the total number of bits of the first portion of the N bits and the total number of bits of the second portion of the N bits are the same. 제 1 항에 있어서, 상기 N 비트들 중 제 1 부분의 총 비트 수와 상기 N 비트들 중 제 2 부분의 총 비트 수는 일치하지 않는 것을 특징으로 하는 디지털-아날로그 변환 회로.2. The digital-analog conversion circuit of claim 1, wherein the total number of bits of the first portion of the N bits and the total number of bits of the second portion of the N bits do not coincide. 제 2 항에 있어서, 상기 복수 개의 저항들은 동일한 값을 갖는 (2N-1)개의 저항들을 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털-아날로그 변환 회로.3. The digital-to-analog conversion circuit of claim 2, wherein the plurality of resistors comprise (2 N -1) resistors having the same value.
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