KR100270609B1 - 적외선검출기의 디지탈 보정 장치 및 방법 - Google Patents

적외선검출기의 디지탈 보정 장치 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR100270609B1
KR100270609B1 KR1019980036514A KR19980036514A KR100270609B1 KR 100270609 B1 KR100270609 B1 KR 100270609B1 KR 1019980036514 A KR1019980036514 A KR 1019980036514A KR 19980036514 A KR19980036514 A KR 19980036514A KR 100270609 B1 KR100270609 B1 KR 100270609B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
reference temperature
digital
signal
infrared detector
correction
Prior art date
Application number
KR1019980036514A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20000018762A (ko
Inventor
송인섭
유위경
윤은숙
Original Assignee
최동환
국방과학연구소
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 최동환, 국방과학연구소 filed Critical 최동환
Priority to KR1019980036514A priority Critical patent/KR100270609B1/ko
Publication of KR20000018762A publication Critical patent/KR20000018762A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100270609B1 publication Critical patent/KR100270609B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N5/00Details of television systems
    • H04N5/30Transforming light or analogous information into electric information
    • H04N5/33Transforming infrared radiation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

본 발명은 초점면배열 적외선검출기의 출력신호 불균일을 실시간으로 보정하는 디지탈 보정기술에 관한 것으로, 종래기술에 의한 대부분의 2세대 열상장비는 검출기 출력을 미리 측정하여 이득과 옵셋을 구하고 이 값을 롬에 기억시켜 보정하는 디지탈방식을 사용하고 있는데, 이 방식의 단점은 특정한 온도에서 구한 보정값을 온도가 다른 입력영상에 적용시 완전한 보정이 이루어지지 않아 잔류잡음을 야기한다는 것이다.
따라서, 본 발명은 이러한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 입력영상의 히스토그램을 이용하여 두 개의 기준온도(T1),(T2)를 제어하고 검출소자 개개의 이득 및 옵셋을 실시간으로 보정할 수 있는 디지탈 보정기를 창안함으로써, 초점면배열 적외선검출기의 소자간 출력신호 차이에 의한 고정패턴잡음을 완벽하게 제거할 수 있게 되고, 비선형 시변함수 특성으로 인해 나타나는 보정 후의 잔류잡음을 검출기의 열잡음 수준으로 최소화하는 효과가 제공된다.

Description

적외선검출기의 디지탈 보정 장치 및 방법
본 발명은 초점면배열 적외선검출기의 출력신호 불균일을 실시간으로 보정하는 디지탈 보정기술에 관한 것으로, 특히 검출소자간 출력전압의 차이를 검출기의 열잡음 수준으로 정밀하게 보정하여 공간잡음(고정패턴잡음)을 제거하는데 적당하도록한 적외선검출기의 디지탈 보정 장치 및 방법에 관한 것이다.
통상 2세대 영상검출기로 불리는 초점면배열 적외선검출기는 검출소자수가 수천∼수만개에 달하고 등잡음온도차도 5∼30mK 정도로 매우 민감해 뛰어난 영상분해능과 높은 신호 대 잡음비를 갖는 반면, 소자간의 불균일한 출력특성은 재현영상에서 고정패턴잡음을 유발하여 화질뿐만 아니라 열상장비의 성능지수인 최소분해가능온도차를 악화시키는 원인이 되었다. 따라서, 초점면배열 적외선검출기를 이용하는 열상장비는 출력신호 균일화를 위한 보정회로를 필요로 하였다.
적외선검출기의 출력신호 불균일은 적외선 입력에너지 즉, 입력온도신호에 대한 검출소자 개개의 신호이득과 직류옵셋의 차이에 기인하며, 이러한 특성은 다음의 (식1)로 요약된다.
여기서, Vi는 i번째 검출소자의 출력전압, T는 입력온도신호, 첫째 항은 각 검출소자의 신호이득, 둘째 항은 암전류에 의한 직류옵셋 성분을 나타낸다. 결국, 초점면배열 적외선검출기의 불균일 보정이란 검출소자간의 이득과 옵셋 차이를 동일한 입력온도신호에 대해 동일한 크기로 정합시키는 것을 의미한다.
종래의 1세대 열상장비는 검출소자 수가 수십개에 불과하였기 때문에 아날로그 증폭기를 이용하여 이득과 옵셋을 보정하는 방식을 사용하였다. 그러나, 2세대 열상장비는 검출소자수가 수만개에 달하므로 아날로그 방식에 의한 보정회로 구현은 실질적으로 불가능하다.
따라서, 대부분의 2세대 열상장비는 초점면배열 적외선검출기의 출력을 미리 측정하여 이득과 옵셋을 구하고 이 값을 롬에 기억시켜 보정하는 디지탈방식을 사용하고 있다.
이와 같이 종래기술에 의한 2세대 열상장비는 초점면배열 적외선검출기의 출력을 미리 측정하여 이득과 옵셋을 구하고 이 값을 롬에 기억시켜 보정하는 디지탈방식을 사용하는데, 이와 같은 경우 특정한 온도에서 구한 보정값을 온도가 다른 입력영상에 적용시 완전한 보정이 이루어지지 않아 잔류잡음을 야기시키는 결함이 있었다.
따라서, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 입력영상의 히스토그램을 이용하여 기준온도원을 제어하고 이득 및 옵셋을 소정 주파수(예: 30Hz)의 프레임율로 적응적으로 보정하며, 이러한 보정과정을 실시간으로 수행하는 디지탈 보정 장치 및 방법을 제공함에 있다.
도 1은 본 발명에 의한 적외선검출기의 디지탈 보정 블록도.
도 2는 본 발명에 의한 기준온도 제어원리를 보인 히스토그램/누적 분포 그래프.
도 3은 본 발명에 의한 적외선검출기의 디지탈 보정방법의 신호흐름도.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*
1 : 초점면배열 적외선검출기 2 : A/D변환기
3 : 제1메모리 4 : 제2메모리
5 : 프로세서 6 : 제3메모리
7 : 제4메모리 8 : 디지탈 연산기
8A : 승산기 8B : 가산기
9 : 기준온도 제어기 10 : 기준온도원
도 1은 본 발명의 목적을 달성하기 위한 적외선검출기의 디지탈 보정장치의 일실시 예시 블록도로서 이에 도시한 바와 같이, 적외선영상신호(IR_V)와 기준온도(T1), (T2)를 검출하여 각각의 전기신호로 변환하는 초점면배열 적외선검출기(1)와; 상기 초점면배열 적외선검출기(1)에서 출력되는 아날로그 신호를 소정비트의 디지탈신호로 변환하는 비디오신호 처리용 아날로그(A)/디지탈(D)변환기(2)와; 상기 A/D변환기(2)에서 출력되는 디지탈 기준온도신호를 저장하는 메모리로서 검출소자 각각의 출력신호를 소정의 주파수 필드율로 갱신하는 제1메모리(3)와; 상기 A/D변환기(2)에서 출력되는 디지탈 영상신호를 저장하는 비디오 메모리로서 그 영상신호를 소정의 주파수 필드율로 갱신하는 제2메모리(4)와; 상기 각 메모리(3), (4)의 출력신호를 근거로 불균일 보정값과 기준온도(T1),(T2) 값을 계산하는 프로세서(5)와; 상기 프로세서(5)에 의해 산출된 이득 보정값을 저장하는 메모리로서 소정의 주파수 필드율로 갱신하는 제3메모리(6)와; 상기 프로세서(5)에 의해 산출된 옵셋 보정값을 저장하는 메모리로서 소정의 주파수 필드율로 갱신하는 제4메모리(7)와; 승산기(8A)와 가산기(8B)로 이루어진 실시간 디지탈 연산기로서 상기 각 메모리(4), (6),(7)의 출력값을 근거로 소정 주파수 필드율로 연산하여 불균일이 보정된 소정 비트의 영상출력신호(S)를 발생하는 디지탈 연산기(8)와; 상기 프로세서(5)로부터 기준온도(T1),(T2) 값을 공급받아 기준온도원(10)의 낮은 기준온도(T1)와 높은 기준온도(T2)를 정밀 제어하는 기준온도 제어기(9)와; 내부의 열전냉각소자를 이용하여 상기 초점면배열 적외선검출기(1)의 불균일 보정을 위한 기준온도(T1),(T2)를 제공하는 기준온도원(10)으로 구성한 것으로, 이와 같이 구성한 본 발명의 작용을 첨부한 도 2 및 도 3을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
초점면배열 적외선검출기(1)는 적외선영상신호(IR_V)와 기준온도(T1),(T2)를 검출하여 각각의 전기신호로 변환 출력하고, A/D변환기(2)는 그 초점면배열 적외선검출기(1)에서 출력되는 아날로그 영상신호와 기준온도신호를 소정 비트(예:12bit)의 디지탈신호로 각각 변환하여 출력한다.
상기 A/D변환기(2)에서 출력되는 디지탈 기준온도신호는 제1메모리(3)에 저장되고, 디지탈 영상신호는 제2메모리(4)에 저장된다. 상기 제1메모리(3)에 저장된 검출소자 각각의 출력신호와 상기 제2메모리(4)에 저장된 디지탈 영상신호는 소정의 주파수(예:60Hz) 필드율로 각각 갱신된다.
한편, 프로세서(5)는 상기 각 메모리(3),(4)의 출력신호를 근거로 불균일 보정값과 기준온도(T1),(T2) 값을 계산하고, 디지탈 보정기를 제어하는 프로세서로서 여기서 검출소자 개개의 불균일 보정계수는 다음의 (식2)에 의해 산출된다.
상기 (식2)에서 gi는 이득보정계수, oi는 옵셋 조정계수, R(T1)과 R(T2)는 기준온도(T1),(T2)에서 불균일 정합을 위한 기준값이다. 본 발명에서는 상기 제1메모리(3)에 저장된 검출소자 개개의 출력전압을 평균하여 기준값으로 이용한다.
또한, 기준온도(T1),(T2)는 상기 제2메모리(4)에 저장된 영상신호의 히스토그램을 이용하여 산출하게 되는데, 이를 위해 도 2에서와 같이 영상의 히스토그램으로부터 누적분포함수를 구하고, 누적값이 0.25에 해당하는 낮은 기준온도 T1과 0.75에 해당하는 높은 기준온도 T2를 매프레임마다 산출하게 된다.
상기 프로세서(5)에서 산출된 이득 보정값은 제3메모리(6)에 저장되고, 옵셋보정값은 제4메모리(7)에 저장된다. 상기 제3메모리(6)에 저장된 이득 보정값과 제4메모리(7)에 저장된 옵셋 보정값은 소정의 주파수(예:60Hz) 필드율로 각각 갱신된다.
한편, 디지탈 연산기(8)는 실시간 디지탈 연산기로서 상기 제2메모리(4)에 저장된 디지탈 영상신호와, 상기 제3메모리(6)에 저장된 이득보정값, 상기 제4메모리(7)에 저장된 옵셋보정값을 각기 공급받고, 내부의 승산기(8A)와 가산기(8B)를 이용하여 다음의 (식3)에 따라 소정 주파수(예:60Hz) 필드율로 연산하여 불균일이 보정된 12bit의 영상출력신호(S)를 발생한다.
Si(T)=giVi(T)+oi-----------------------(식3)
또한, 기준온도 제어기(9)는 상기 프로세서(5)로부터 기준온도값을 공급받아 기준온도원(10)의 낮은 기준온도(T1)와 높은 기준온도(T2)를 정밀 제어하고, 이에 따라 그 기준온도원(10)은 내부의 열전냉각소자(Thermoelectric Cooler)를 이용하여 상기 초점면배열 적외선검출기(1)의 불균일 보정을 위한 기준온도(T1),(T2)를 제공할 수 있게 된다.
도 2는 히스토그램을 이용하여 기준온도(T1),(T2)를 제어하는 방법을 나타낸 것으로 그 원리를 설명하면 다음과 같다.
비선형 시변함수 특성을 갖는 초점면배열 적외선검출기(1)의 불균일을 정밀하게 보정하기 위해서는 기준온도(T1),(T2) 값이 입력영상의 온도분포에 적응하여 실시간으로 제어되어야 한다. 열영상의 히스토그램은 온도분포를 정확하게 나타내는 특성이 있는데, 본 발명에서는 이 점을 착안하여 히스토그램의 누적분포로부터 기준온도(T1),(T2)를 산출하도록 하였다.
즉, 영상의 온도분포를 분석하여 0.25에 해당하는 낮은 기준온도(T1)와 0.75에 해당하는 높은 기준온도(T2)를 두 개의 기준값으로 설정함으로써 비선형 특성에 의한 보정오차가 최소화되고, 시변함수 특성에 의한 보정오차는 30Hz 프레임율로 두 개의 기준온도(T1),(T2)를 적응적으로 제어하게 되므로 그 보정오차가 최소화 된다.
이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본 발명은 초점면배열 적외선 검출기에서 입력영상의 히스토그램을 이용하여 기준온도원을 제어하고 이득 및 옵셋을 소정 주파수의 프레임율로 적응적으로 실시간 보정함으로써 적용되는 입력영상에 관계없이 완전한 보정이 이루어져 잔류잡음을 야기시키지 않는 효과가 있다.

Claims (7)

  1. 적외선영상신호(IR_V)와 기준온도(T1),(T2)를 검출하여 각각의 전기신호로 변환하는 초점면배열 적외선검출기(1)와; 상기 아날로그의 전기신호를 디지탈신호로 변환하는 A/D변환기(2)와; 상기 A/D변환기(2)에서 출력되는 디지탈 기준온도신호를 저장하는 제1메모리(3) 및 영상신호를 저장하는 제2메모리(4)와; 상기 각 메모리(3), (4)의 출력신호를 근거로 불균일 보정값과 기준온도(T1),(T2) 값을 계산하는 프로세서(5)와; 상기 프로세서(5)에 의해 산출된 이득 보정값을 저장하는 제3메모리(6) 및 옵셋 보정값을 저장하는 제4메모리(7)와; 상기 각 메모리(4),(6),(7)의 출력값을 공급받아 소정주파수 필드율로 연산하여 불균일이 보정된 소정 비트의 영상출력신호(S)를 발생하는 디지탈 연산기(8)와; 상기 프로세서(5)로부터 기준온도(T1), (T2) 값을 공급받아 기준온도원(10)의 낮은 기준온도(T1)와 높은 기준온도(T2)를 정밀 제어하는 기준온도 제어기(9)와; 내부의 열전냉각소자를 이용하여 상기 초점면배열 적외선검출기(1)의 불균일 보정을 위한 기준온도(T1),(T2)를 제공하는 기준온도원(10)으로 구성한 것을 특징으로 하는 적외선검출기의 디지탈 보정 장치.
  2. 제1항에 있어서, A/D변환기(2)는 아날로그의 적외선영상신호(IR_V)와 기준온도(T1,T2)를 각각 12bit의 디지탈신호로 변환하는 고속 A/D변환기임을 특징으로 하는 적외선검출기의 디지탈 보정 장치.
  3. 제1항에 있어서, 각 메모리(3),(4),(6),(7)는 저장된 각각의 신호를 60Hz의 필드율로 갱신하도록 구성된 것을 특징으로 하는 적외선검출기의 디지탈 보정 장치.
  4. 초점면배열 적외선검출기에 의해 검출된 아날로그의 적외선 영상신호와 기준온도신호를 각각 디지탈신호로 변환하여 메모리에 저장하는 제1단계와; 상기 메모리에서 출력되는 매 입력 프레임의 기준온도신호를 근거로 검출소자 개개의 불균일 보정계수를 구하고 이들을 평균하여 불균일 보정값을 구하는 제2단계와; 상기 디지탈 변환된 영상신호에 이득보정값을 곱한 후 그 결과치에 옵셋보정값을 더하여 불균일이 보정된 소정 비트의 영상출력신호(S)를 발생하는 제3단계와; 상기 메모리에서 출력되는 매 입력 프레임의 영상신호의 히스토그램을 이용하여 기준온도(T1),(T2)를 산출하고, 이를 이용하여 기준온도원을 제어하여 해당 기준온도가 발생되도록하는 제4단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 적외선검출기의 디지탈 보정 방법.
  5. 제4항에 있어서, 상기 제2단계에서 검출소자 개개의 불균일 보정계수(gi)는 아래의 식을 이용하여 구하는 것을 특징으로 하는 적외선검출기의 디지탈 보정 방법.
    여기서, gi: 이득 보정계수
    oi: 옵셋 조정계수
    Vi: i번째 검출소자의 출력전압
    R(T1),R(T2):기준온도(T1),(T2)에서 불균일 정합을 위한 기준값
  6. 제4항에 있어서, 불균일이 보정된 소정 비트의 영상출력신호(S)를 발생할 때 아래의 식에 따라 60Hz 필드율로 연산하는 것을 특징으로 하는 적외선검출기의 디지탈 보정 방법.
    Si(T)=giVi(T)+oi
    여기서, gi: 이득 보정계수
    oi: 옵셋 조정계수
    Vi: i번째 검출소자의 출력전압
    T : 입력온도신호
  7. 제4항에 있어서, 제4단계에서 기준온도(T1)은 영상의 히스토그램으로부터 누적분포함수를 구한 후 그 누적값의 0.25에 해당하는 값이고, 기준온도(T2)는 그 누적값의 0.75에 해당하는 값임을 특징으로 하는 적외선검출기의 디지탈 보정 방법.
KR1019980036514A 1998-09-04 1998-09-04 적외선검출기의 디지탈 보정 장치 및 방법 KR100270609B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980036514A KR100270609B1 (ko) 1998-09-04 1998-09-04 적외선검출기의 디지탈 보정 장치 및 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980036514A KR100270609B1 (ko) 1998-09-04 1998-09-04 적외선검출기의 디지탈 보정 장치 및 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20000018762A KR20000018762A (ko) 2000-04-06
KR100270609B1 true KR100270609B1 (ko) 2000-11-01

Family

ID=19549620

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019980036514A KR100270609B1 (ko) 1998-09-04 1998-09-04 적외선검출기의 디지탈 보정 장치 및 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100270609B1 (ko)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101022529B1 (ko) 2009-10-09 2011-03-16 삼성탈레스 주식회사 열상 검출기의 다이나믹 레인지 조절 장치 및 방법
KR101025912B1 (ko) 2005-08-03 2011-03-30 삼성탈레스 주식회사 비냉각 열상에서의 고속 불균일 보상 처리 장치
KR101041136B1 (ko) * 2011-01-27 2011-06-14 삼성탈레스 주식회사 열영상 처리 방법
KR101581178B1 (ko) 2015-10-23 2015-12-30 국방과학연구소 통계적 방법을 이용한 적외선신호의 정량적 분석방법 및 분석장치

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100390316B1 (ko) * 2001-09-21 2003-07-04 삼성탈레스 주식회사 열상 장치의 영상 불균일 보정 방법
KR100518380B1 (ko) * 2003-05-12 2005-10-04 삼성탈레스 주식회사 절전기능을 구비한 열상장치
JP2006098223A (ja) * 2004-09-29 2006-04-13 Sanyo Electric Co Ltd ノイズ除去回路及びそれを備えた温度測定処理装置
KR101007405B1 (ko) * 2010-05-26 2011-01-14 삼성탈레스 주식회사 열상 검출기의 화소 보정 장치 및 방법
KR101407701B1 (ko) * 2013-03-29 2014-06-13 (주)이오시스템 적외선 검출 장치의 2점 보정을 위한 보정 장치

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101025912B1 (ko) 2005-08-03 2011-03-30 삼성탈레스 주식회사 비냉각 열상에서의 고속 불균일 보상 처리 장치
KR101022529B1 (ko) 2009-10-09 2011-03-16 삼성탈레스 주식회사 열상 검출기의 다이나믹 레인지 조절 장치 및 방법
KR101041136B1 (ko) * 2011-01-27 2011-06-14 삼성탈레스 주식회사 열영상 처리 방법
KR101581178B1 (ko) 2015-10-23 2015-12-30 국방과학연구소 통계적 방법을 이용한 적외선신호의 정량적 분석방법 및 분석장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR20000018762A (ko) 2000-04-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6538250B2 (en) Microbolometer focal plane array with controlled bias
US7030378B2 (en) Real-time radiation sensor calibration
EP0450525B1 (en) Image restoration and faulty sensor detection and compensation system and process
JP2661865B2 (ja) 赤外線焦点平面アレイの広いダイナミック範囲の不均一性補償方法および装置
US6879923B2 (en) Digital offset corrector
US7105818B2 (en) Microbolometer focal plane array with temperature compensated bias
EP2271071B1 (en) Signal processing apparatus and signal processing method for solid-state image pickup element and image pickup apparatus
KR100270609B1 (ko) 적외선검출기의 디지탈 보정 장치 및 방법
CN104677501A (zh) 非制冷红外焦平面阵列非均匀性校正的方法和装置
WO2006100662A1 (en) Method and system for measuring and compensating for the case temperature variations in a bolometer based system
US20080253765A1 (en) Optical power measuring apparatus and optical signal receiving apparatus comprising same
US8624178B2 (en) Method of correcting sensitivity and matrix image sensor for implementing this method
JP6576919B2 (ja) 多チャンネルマッチング方法
US7948530B2 (en) Semiconductor sensor device having a correction circuit
US9182245B2 (en) Calibration and compensation method and apparatus for resistive sensor measurement bridge
Kennedy Modeling noise in thermal imaging systems
JPH1023335A (ja) 赤外線撮像装置
KR101918070B1 (ko) 냉각형 적외선영상시스템의 출력 신호 보정 방법
WO1997001926A2 (en) Digital offset corrector for microbolometer array
KR101392721B1 (ko) 볼로미터 배열의 실시간 보정 및 보상 장치, 방법 및 이를 이용한 볼로미터 시스템
KR102013206B1 (ko) 보정 데이터의 생성 방법 및 이를 이용한 적외선 영상 처리 방법
JP3243113B2 (ja) 赤外線センサにおけるオフセット値生成装置、オフセット及びゲインの補正方法並びに温度測定誤差補正装置
JP4067728B2 (ja) 赤外線検知素子の入出力特性の補正方法
EP0660585B1 (en) Adaptive method for high speed detection of position and intensity
JP2000039358A (ja) 赤外線画像撮像装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120801

Year of fee payment: 13

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130801

Year of fee payment: 14

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160801

Year of fee payment: 17

LAPS Lapse due to unpaid annual fee