KR100264381B1 - The test method of high capacity ipc processor board - Google Patents
The test method of high capacity ipc processor board Download PDFInfo
- Publication number
- KR100264381B1 KR100264381B1 KR1019970079030A KR19970079030A KR100264381B1 KR 100264381 B1 KR100264381 B1 KR 100264381B1 KR 1019970079030 A KR1019970079030 A KR 1019970079030A KR 19970079030 A KR19970079030 A KR 19970079030A KR 100264381 B1 KR100264381 B1 KR 100264381B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- ipc
- board
- processor board
- test
- packet
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
- G11C29/56008—Error analysis, representation of errors
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
- G11C2029/5604—Display of error information
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 개인휴대통신(Personal Communications Services: PCS) 시스템에서 사용되는 프로세서간 통신(Inter-Processor Communication: IPC)을 위한 프로세서 보드의 테스트 방법에 관한 것으로서, 특히 고용량 IPC 프로세서 보드의 하드웨어 전 기능을 시험할 수 있는 테스트 프로그램에 관한 것이다.The present invention relates to a test method of a processor board for inter-processor communication (IPC) used in Personal Communications Services (PCS) systems, and in particular, to test the full hardware functions of a high-capacity IPC processor board. It is about a test program that can be done.
통상적으로 PCS 시스템에는 IPC경로를 담당하는 노드(NODE)를 관리하고 기지국으로의 중계선 보드를 관리하는 프로세서 보드를 가지게 된다. PCS 시스템을 위한 고용량 IPC 프로세서 보드의 생산이 완료되면, 생산된 프로세서 보드가 정상적으로 동작하는지를 판단하기 위하여, 테스트를 수행한다.In general, a PCS system has a processor board that manages a node (NODE) in charge of the IPC path and manages a relay line board to a base station. When production of the high capacity IPC processor board for the PCS system is completed, a test is performed to determine whether the produced processor board is operating normally.
이를 위한 종래의 기술에 대하여 살펴보면 다음과 같다. 제1도는 종래의 기술에 따른 IPC 프로세서 보드의 테스트 방법을 나타낸 흐름도로서, 도시된 바와 같이, 고용량 IPC 프로세서 보드의 테스트 방법은 크게 IPC 경로 테스트와, 탈/실장감지 테스트 및 DPRAM(Dual Port Random Access Memory) 통신 테스트로 나뉘어진다.Looking at the prior art for this purpose is as follows. 1 is a flowchart illustrating a test method of an IPC processor board according to the related art. As illustrated, a test method of a high-capacity IPC processor board is mainly divided into an IPC path test, a detach / mount detection test, and a dual port random access (DPRAM). Memory) It is divided into communication test.
IPC 경로 테스트를 위해서, 먼저 IPC 경로담당 노드보드를 IPC 프로세서 보드에 연결하고, IPC 프로세서 보드에서 IPC 경로담당 노드보드를 통해 패킷을 출력한다. 상기와 같이 출력된 패킷이 루프백되어 돌아오는 절차를 여러번 반복하여, 패킷이 노드를 거쳐 정상적으로 루프백 되는지를 관찰함으로써, IPC 프로세서 보드가 노드를 통한 IPC 기능을 정상적으로 수행하는지를 확인할 수 있다. IPC 기능이 정상적이면 양품이라고 판단하고, 정상적이지 않으면 불량품이라고 판단한다.For the IPC path test, first connect the IPC path node board to the IPC processor board, and then output the packet through the IPC path node node board. By repeating the procedure of looping back and outputting the packet output as described above, it is possible to confirm whether the IPC processor board normally performs the IPC function through the node by observing whether the packet is normally looped back through the node. If the IPC function is normal, it is considered good, and if it is not normal, it is considered bad.
탈/실장감지 테스트를 위해서, IPC 프로세서 보드에 고유한 어드레스를 부여한 다음, 해당 어드레스의 실장상태 정보를 확인한다. 상기 확인된 실장상태 정보와, 상기 실장상태 정보의 각 비트에 해당하는 보드의 실제 실장상태를 비교하여, 탈/실장감지 기능이 정상적으로 수행되는지를 판단한다. 탈/실장 감지 기능이 정상적이면 양품이라고 판단하고, 정상적이지 않으면 불량품이라고 판단한다.For the unmount / detection test, assign a unique address to the IPC processor board, and then check the mounting status information for that address. By comparing the checked mounting state information with the actual mounting state of the board corresponding to each bit of the mounting state information, it is determined whether the detach / mount detection function is normally performed. If the removal / mounting detection function is normal, it is considered good, and if it is not normal, it is considered bad.
DPRAM 통신 테스트를 위해서, IPC 프로세서 보드가 설치된 백 보드에 중계선 보드를 실장하고, IPC 프로세서 보드에서 상기 중계선 보드의 DPRAM을 계속적으로 읽게 한다. 상기 DPRAM을 읽은 결과, 보드 타입과 송신 데이터, 수신 데이터 및 그외 DPRAM 값이 정상인지를 확인한다. 상기 DPRAM을 읽은 결과가 정상적이면 양품이라고 판단하고, 정상적이지 않으면 불량품이라고 판단한다.For the DPRAM communication test, a relay board is mounted on a back board on which an IPC processor board is installed, and the IPC processor board continuously reads the DPRAM of the relay board. As a result of reading the DPRAM, it is checked whether the board type, transmission data, reception data and other DPRAM values are normal. If the result of reading the DPRAM is normal, it is determined to be good, and if not, it is determined to be defective.
상기와 같은 제1도의 테스트 방법에 있어서, 상기 IPC 경로 테스트는 IPC 경로를 가지는 노드를 보유한 보드를 통해서만 테스트가 가능하며, 상기 보드가 정상상태가 아니면 상기 테스트의 정확성을 기하기가 어렵다.In the test method of FIG. 1, the IPC path test can be performed only through a board having a node having an IPC path, and it is difficult to ensure the accuracy of the test if the board is not in a normal state.
상기 탈/실장감지 테스트는, 메모리(Memory)를 바이트(Byte) 단위로 읽어서 상기 각 보드의 비트 위치를 파악하고, 각 비트가 1(탈장)인지 0(실장)인지를 조사하여야 한다는 번거로움이 있었다.The detach / mount detection test has to read the memory in byte units to determine the bit position of each board, and to check whether each bit is 1 (hernia) or 0 (mounting). there was.
상기 DPRAM통신 테스트는, 어드레스를 주어 상기 DPRAM으로부터 읽어낸 바이트 단위의 데이터에 대하여, 보드 타입과 송신 데이터 및 수신 데이터를 조사하고, 상기 조사된 각각의 값이 옥텟(Octet)으로 정확한 값, 예를 들어 52 또는 53을 가리키는지를 확인하여야 하며, 게다가 상기 송신 데이터를 반전한 값이 상기 수신데이터 값과 일치하는지를 조사하여야 한다는 부담이 있었다.The DPRAM communication test examines a board type, transmission data, and reception data with respect to byte data read from the DPRAM by giving an address, and wherein each of the examined values is an octet. For example, it is necessary to check whether 52 or 53 is indicated, and furthermore, there is a burden of checking whether the value of inverting the transmission data matches the value of the received data.
따라서, 상기와 같은 방법은 IPC 프로세서 보드를 대량적으로 생산하기 위한 양산성을 감소시킬 뿐 아니라, 다른 보드(IPC 경로담당 노드보드 및 중계선 보드 등)를 이용하여 상기 IPC 프로세서 보드를 테스트하여야 하기 때문에, 테스트의 신뢰성이 떨어지며, 상기 보드의 하드웨어적인 전 기능의 테스트를 할 수 없었다는 문제점이 있었다.Therefore, the above method not only reduces the mass productivity for mass production of the IPC processor board, but also requires testing the IPC processor board using another board (such as an IPC path node board and a trunk line board). There is a problem that the reliability of the test is inferior, and the full function test of the board cannot be performed.
본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 창안된 것으로서, 고용량 IPC 프로세서 보드의 하드웨어적인 모든 기능을 테스트할 수 있도록 하며, 테스트 결과를 화면상에 자동 출력하여 시험자가 테스트 결과를 용이하게 이해할 수 있도록 하는, 고용량 IPC 프로세서 보드의 테스트 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention was devised to solve the problems of the prior art as described above, and it is possible to test all the hardware functions of the high-capacity IPC processor board, and the test results are automatically output on the screen so that the tester can easily test the results. The aim is to provide a test method for high-capacity IPC processor boards that is understood.
제1도는 종래의 기술에 따른 IPC 프로세서 보드의 테스트 방법을 나타낸 흐름도.1 is a flowchart illustrating a test method of an IPC processor board according to the related art.
제2도는 본 발명에 따른 고용량 IPC 프로세서 보드의 테스트 방법을 나타낸 흐름도.2 is a flowchart illustrating a test method of a high capacity IPC processor board according to the present invention.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 고용량 IPC 프로세서 보드의 SRAM 테스트 방법의 바람직한 일 실시예는, 개인휴대통신(PCS) 시스템에서 IPC 경로를 담당하는 노드(NODE)를 관리하고 기지국으로의 중계선 보드를 관리하는 IPC 프로세서 보드의 테스트를 위한 방법에 있어서, 시험자가 상기 IPC 프로세서 보드의 SRAM(Static RAM) 테스트를 지시하는 단계와; 상기 IPC 프로세서 보드의 SRAM에 임의의 비트 값을 기록하는 단계; 1초간 대기한 후, 상기 SRAM의 값을 다시 읽는 단계; 상기 SRAM으로부터 읽은 값이 상기 기록된 값과 일치하는지를 확인하는 단계; 상기 확인결과, 읽은 값이 상기 기록된 값과 동일하면 상기 IPC 프로세서 보드의 SRAM이 정상이라고 판단하고, 동일하지 않으면 불량이라고 판단하는 단계; 및 상기의 테스트 결과를 화면상에 프린트하는 단계를 포함하여 이루어진다.In order to achieve the above object, a preferred embodiment of the SRAM test method of the high-capacity IPC processor board according to the present invention manages a node (NODE) in charge of an IPC path in a personal mobile communication (PCS) system and returns to a base station. CLAIMS 1. A method for testing an IPC processor board for managing a trunk line board, the method comprising: a tester instructing a static RAM (SRAM) test of the IPC processor board; Writing an arbitrary bit value into SRAM of the IPC processor board; After waiting for one second, reading the value of the SRAM again; Checking whether a value read from the SRAM matches the written value; Determining that the SRAM of the IPC processor board is normal if the read value is the same as the recorded value, and determining that the SRAM of the IPC processor board is normal; And printing the test result on the screen.
본 발명에 따른 고용량 IPC 프로세서 보드의 유지보수 버스 테스트 방법의 바람직한 일 실시예는, 개인휴대통신(PCS) 시스템에서 IPC 경로를 담당하는 노드(NODE)를 관리하고 기지국으로의 중계선 보드를 관리하는 IPC 프로세서 보드의 테스트를 위한 방법에 있어서, 시험자가 상기 IPC 프로세서 보드의 유지보수 버스 테스트를 지시하는 단계와; 상기 IPC 프로세서 보드의 유지보수 버스를 테스트하기 위한 다수개의 패킷을 생성하는 단계; 상기 생성된 패킷을 CPU의 SCC2 포트를 통해 연속으로 유지보수 버스로 전송하는 단계; 상기 유지보수 버스로 전송된 패킷을 백보드를 통해 루프백시키는 단계; 상기 돌아온 패킷을 상기 생성된 패킷과 비교하는 단계; 상기 비교결과 상기 돌아온 패킷이 상기 생성된 패킷과 동일하면 상기 IPC 프로세서 보드의 유지보수 버스가 정상이라고 판단하고, 동일하지 않으면 불량이라고 판단하는 단계; 및 상기의 테스트 결과를 화면상에 프린트하는 단계를 포함하여 이루어진다.A preferred embodiment of the maintenance bus test method of the high-capacity IPC processor board according to the present invention is an IPC that manages a node (NODE) in charge of an IPC path in a personal mobile communication (PCS) system and manages a relay line board to a base station. CLAIMS 1. A method for testing a processor board, comprising: a tester instructing a maintenance bus test of the IPC processor board; Generating a plurality of packets for testing a maintenance bus of the IPC processor board; Transmitting the generated packet to a maintenance bus continuously through an SCC2 port of a CPU; Looping back packets sent to the maintenance bus through a backboard; Comparing the returned packet with the generated packet; Determining that the maintenance bus of the IPC processor board is normal if the returned packet is the same as the generated packet; And printing the test result on the screen.
본 발명에 따른 고용량 IPC 프로세서 보드의 IPC 경로 테스트 방법의 바람직한 일 실시예는, 개인휴대통신(PCS) 시스템에서 IPC 경로를 담당하는 노드(NODE)를 관리하고 기지국으로의 중계선 보드를 관리하는 IPC 프로세서 보드의 테스트를 위한 방법에 있어서, 시험자가 상기 IPC 프로세서 보드의 IPC 경로 테스트를 지시하는 단계와; 상기 IPC 프로세서 보드의 IPC 경로를 테스트하기 위한 다수개의 패킷을 생성하는 단계; 상기 생성된 패킷을 CPU의 SCC1 포트를 통해 연속으로 IPC 경로로 전송하는 단계; 상기 IPC 경로로 전송된 패킷을 백보드를 통해 루프백시키는 단계; 상기 되돌아온 패킷을 상기 생성된 패킷과 비교하는 단계; 및 상기 비교결과 상기 돌아온 패킷이 상기 생성된 패킷과 동일하면 상기 IPC 프로세서 보드의 IPC 경로가 정상임을 화면 프린트하고, 동일하지 않으면 불량임을 화면 프린트하는 단계를 포함하여 이루어진다.An exemplary embodiment of the IPC path test method of the high-capacity IPC processor board according to the present invention is an IPC processor managing a node (NODE) in charge of an IPC path in a personal mobile communication (PCS) system and managing a relay line board to a base station. CLAIMS 1. A method for testing a board, comprising: a tester indicating an IPC path test of the IPC processor board; Generating a plurality of packets for testing an IPC path of the IPC processor board; Transmitting the generated packet to the IPC path continuously through the SCC1 port of the CPU; Looping back a packet transmitted on the IPC path through a backboard; Comparing the returned packet with the generated packet; And if the returned packet is the same as the generated packet, screen printing that the IPC path of the IPC processor board is normal.
본 발명에 의한 고용량 IPC 프로세서 보드의 탈/실장 감지 테스트 방법의 바람직한 일 실시예는, 개인휴대통신(PCS) 시스템에서 IPC 경로를 담당하는 노드(NODE)를 관리하고 기지국으로의 중계선 보드를 관리하는 IPC 프로세서 보드의 테스트를 위한 방법에 있어서, 시험자가 상기 IPC 프로세서 보드의 탈/실장 감지 테스트를 지시하는 단계와; 다수개의 IPC 프로세서 보드에 대한 탈/실장 상태 정보 데이터를 읽어오는 단계; 상기 읽어온 탈/실장 상태 정보를 화면상에 프린트하는 단계; 상기 다수개의 IPC 프로세서 보드의 실제 탈/실장 상태를, 상기 읽어온 탈/실장 상태 정보 데이터와 비교하는 단계; 및 상기 비교결과, 상기 실제 탈/실장 상태와 상기 탈/실장 상태 정보가 일치하면 탈/실장 감지가 정상임을 화면 프린트하고, 일치하지 않으면 불량임을 화면 프린트하는 단계를 포함하여 이루어진다.According to an embodiment of the present invention, there is provided a method for detecting / mounting a high-capacity IPC processor board to manage a node (NODE) in charge of an IPC path in a personal mobile communication (PCS) system and managing a relay line board to a base station. CLAIMS 1. A method for testing an IPC processor board, the method comprising: a tester indicating a detach / mount detection test of the IPC processor board; Reading unmount / mount state information data for a plurality of IPC processor boards; Printing the read / unmount state information on a screen; Comparing the actual detach / mount state of the plurality of IPC processor boards with the read detach / mount state information data; And if the actual detach / mount state and the detach / mount state information coincide with each other, screen printing may indicate that the detach / mount detection is normal.
본 발명에 따른 고용량 IPC 프로세서 보드에 있어서 중계선 보드의 DPRAM 엑세스 테스트 방법의 바람직한 일 실시예는, 개인휴대통신(PCS) 시스템에서 IPC 경로를 담당하는 노드(NODE)를 관리하고 기지국으로의 중계선 보드를 관리하는 IPC 프로세서 보드의 테스트를 위한 방법에 있어서, 시험자가 상기 중계선 보드의 DPRAM 엑세스 테스트를 지시하는 단계와; 상기 중계선 보드가 실장된 위치를 파악하는 단계; 상기 파악된 중계선 보드 위치를 이용하여 상기 DPRAM에 저장된 IPC 프로세서 보드 타입과, 송신 데이터 및 수신 데이터를 읽어오는 단계; 상기 읽어온 데이터가 정상적인지를 조사하는 단계; 상기 읽어온 데이터가 정상적이지 않으면, 상기 중계선 보드의 DPRAM 엑세스가 불량인 것으로 판정하는 단계; 상기 읽어온 데이터가 정상적이면, 상기 DPRAM에 임의의 비트값을 기록하는 단계; 1초간 대기한 후, 상기 DPRAM의 데이터 값을 다시 읽는 단계; 상기 SRAM으로부터 읽은 값이 상기 기록된 값과 일치하는 지를 확인하는 단계; 상기 확인결과, 읽은 값이 상기 기록된 값과 동일하면 상기 중계선 보드의 DPRAM이 정상이라고 판단하고, 동일하지 않으면 불량이라고 판단하는 단계; 및 상기의 테스트 결과를 화면상에 프린트하는 단계를 포함하여 이루어진다.In a high-capacity IPC processor board according to the present invention, a preferred embodiment of the DPRAM access test method for a trunk line board is to manage a node (NODE) in charge of an IPC path in a personal mobile communication (PCS) system and to connect a trunk line board to a base station. A method for testing an IPC processor board, the method comprising: a tester indicating a DPRAM access test of the trunk line board; Determining a location where the relay line board is mounted; Reading the IPC processor board type, transmission data, and reception data stored in the DPRAM using the identified trunk line board position; Checking whether the read data is normal; Determining that the DPRAM access of the relay line board is bad if the read data is not normal; If the read data is normal, writing an arbitrary bit value to the DPRAM; After waiting for one second, reading the data value of the DPRAM again; Confirming that the value read from the SRAM matches the written value; Determining that the DPRAM of the relay line board is normal if the read value is the same as the recorded value, and determining that the DPRAM of the relay line board is bad; And printing the test result on the screen.
본 발명은 고용량 IPC 프로세서 보드의 테스트 방법을 SRAM 테스트와, IPC 페스트, 유지보수 버스 테스트, 보드 탈/실장 테스트 및 중계선 보드와의 DPRAM 통신 테스트로 나누고, 시험자가 원하는 항목을 선택하면 자동으로 해당하는 테스트를 진행하고 테스트 결과를 화면 출력한다.The present invention divides the test method of the high-capacity IPC processor board into SRAM test, IPC fest, maintenance bus test, board detach / mount test, and DPRAM communication test with the trunk line board. Proceed the test and display the test result.
이하 본 발명의 상세한 동작 원리에 대하여 도면을 참조하여 설명한다. 제2도는 본 발명에 따른 고용량 IPC 프로세서 보드의 테스트 방법을 나타낸 흐름도로서, 도시된 바와 같이 상기 고용량 IPC 프로세서 보드를 테스트하기 위해 테스트 종류를 5가지로 나누어 시험자가 선택하도록 하였다. 시험자가 테스트 종류를 선택하면, IPC 프로세서 보드의 CPU는 정해진 흐름에 따라 테스트를 수행한다.Hereinafter, a detailed operation principle of the present invention will be described with reference to the drawings. 2 is a flowchart illustrating a test method of a high capacity IPC processor board according to the present invention. As shown in the drawing, the tester divides the test types into five types to test the high capacity IPC processor board. When the tester selects a test type, the CPU of the IPC processor board performs the test according to a predetermined flow.
첫 번째 테스트는 SRAM(Static RAM) 테스트 방법이고, 두 번째 테스트는 유지보수 버스 테스트 방법이고, 세 번째는 IPC 경로 테스트 방법이고, 네 번째는 탈/실장 감지 테스트 방법이고, 다섯 번째는 중계선 보드의 DPRAM 엑세스 테스트 방법이다.The first test is the static RAM (SRAM) test method, the second test is the maintenance bus test method, the third is the IPC path test method, the fourth is the unmount / mount detection test method, and the fifth is the relay board's test method. DPRAM access test method.
상기 첫 번째 테스트를 선택하면 상기 IPC 프로세서 보드의 SRAM 테스트를 수행하게 되는데, SRAM 테스트를 위하여 상기 SRMA에 임의의 값, 즉 1 또는 0을 기록하고, 1초간 대기한 후에, SRAM으로부터 상기 기록된 데이터를 다시 읽는다. 이때 상기 읽어낸 값이 상기 기록된 값과 같으면 테스트 OK를 화면 프린트하고, 같지 않은 경우에는 불량으로 판정하여 테스트 NOK를 화면 프린트한다.Selecting the first test performs an SRAM test of the IPC processor board, which writes a random value, i.e., 1 or 0, to the SRMA for an SRAM test, waits for one second, and then writes the recorded data from the SRAM. Reread At this time, if the read value is the same as the recorded value, the screen is printed OK. If not, it is determined as bad and the screen is printed.
상기 두 번째 테스트를 선택하면 유지보수 버스 테스트를 위하여, 32바이트 단위로 20개의 패킷을 생성하여 유지보수 버스를 통해 연속적으로 전송한 후, IPC 프로세서 보드의 백보드를 이용하여 상기 전송된 패킷을 루프백시킨다. 이때 상기 패킷은 MC68360 CPU의 SCC2 포트를 통해 유지보수 버스로 전송된다.If the second test is selected, 20 packets are generated in 32-byte units and continuously transmitted through the maintenance bus for the maintenance bus test, and the packet is looped back using the back board of the IPC processor board. . The packet is then sent to the maintenance bus through the SCC2 port of the MC68360 CPU.
상기 전송된 패킷이 루프백되면, SCC2 포트를 통해 되돌아온 패킷을 확인한다. 상기 유지보수 버스를 통해 되돌아오는 패킷의 데이터가 변형되지 않고 이전패킷과 동일하면 테스트 OK를 화면 프린트하고, 동일하지 않은 경우에는 불량으로 판정하여 테스트 NOK를 화면 프린트한다.When the transmitted packet is looped back, the packet returned through the SCC2 port is checked. If the data of the packet returned through the maintenance bus is not deformed and is the same as the previous packet, the test OK is printed on the screen, and if it is not the same, the test OK is determined and the test NOK is printed on the screen.
상기 세 번째 테스트를 선택하면 IPC 경로 테스트를 위하여, 32바이트 단위로 20개의 패킷을 생성하여 IPC 경로를 통해 연속적으로 전송한 후, IPC 프로세서 보드의 백보드를 이용하여 상기 전송된 패킷을 루프백시킨다. 이때 상기 패킷은 MC68360 CPU의 SCC1 포트를 통해 IPC 경로로 전송된다.If the third test is selected, 20 packets are generated in 32-byte units and continuously transmitted through the IPC path for the IPC path test, and the packet is looped back using the backboard of the IPC processor board. At this time, the packet is transmitted to the IPC path through the SCC1 port of the MC68360 CPU.
상기 전송된 패킷이 루프백되면, SCC1 포트를 통해 되돌아온 패킷을 확인한다. 상기 IPC 경로를 통해 되돌아오는 패킷의 데이터가 변형되지 않고 이전 패킷과 동일하면 테스트 OK를 화면 프린트하고, 동일하지 않은 경우에는 불량으로 판정하여 테스트 NOK를 화면 프린트한다.When the transmitted packet is looped back, the packet returned through the SCC1 port is checked. If the data of the packet returned through the IPC path is not changed and is the same as the previous packet, the test OK is screen printed. If the data is not the same, the test OK is determined and the test NOK is screen printed.
상기 네 번째 테스트를 선택하면 보드의 탈/실장 감지 테스트를 위하여, 상기 탈/실장 상태 정보를 가져오기 위하여 할당된 어드레스를 이용하여, 폴링(polling) 방식으로 각 IPC 프로세서 보드의 탈/실장 상태 정보를 가져온 다음, 상기 가져온 탈/실장 상태 정보를 분석하여 상기 각 보드가 실장된 위치 정보를 마크하고, 상기 위치정보를 화면 프린트한다.If the fourth test is selected, the IP address of each IPC processor board is polled in a polling manner using an address allocated to obtain the detach / mount status information for the detach / mount detection test of the board. Next, after analyzing the imported / unmounted state information, the board marks the location information on which each board is mounted, and prints the location information on the screen.
예를 들어, 비트‘1’이 보드 실장을 의미하고 비트‘0’이 보드 탈장을 의미하며, 4개의 IPC 프로세서 보드의 탈/실장 상태정보를 나타내는 데이터가‘1011’이라면, 두 번째 IPC 프로세서 보드를 제외한 나머지 모든 IPC 프로세서 보드가 모두 실장되어 있는 것이라고 판단하여,“IPC프로세서 보드#1=실장, IPC 프로세서 보드#2=탈장, IPC 프로세서 보드#3=실장, IPC 프로세서 보드#4=실장”을 화면 프린트한다.For example, if bit '1' means board mounting, bit '0' means board herding, and the data representing unmounting / mounting status information of four IPC processor boards is '1011', the second IPC processor board Determining that all IPC processor boards are mounted except for “IPC Processor Board # 1 = Mounting, IPC Processor Board # 2 = Mounting, IPC Processor Board # 3 = Mounting, IPC Processor Board # 4 = Mounting”. Print the screen.
다음, 상기 가져온 IPC 프로세서 보드의 탈/실장 상태 정보가 실제의 탈/실장 상태와 일치하는지를 확인한다. 즉, 상기의 예에서, 4개의 IPC 프로세서 보드들 가운데 두 번째 IPC 프로세서 보드를 제외한 나머지 모든 IPC 프로세서 보드가 모두 실장되어 있는지를 확인한다. 만일 상기 탈/실장 상태정보가 실제의 탈/실장 상태와 일치하면 테스트 OK를 화면 프린트하고, 동일하지 않은 경우에는 불량으로 판정하여 테스트 NOK를 화면 프린트한다.Next, it is checked whether the detach / mount state information of the imported IPC processor board matches the actual detach / mount state. That is, in the above example, it is checked whether all the IPC processor boards except the second IPC processor board among the four IPC processor boards are mounted. If the removal / mounting state information matches the actual removal / mounting state, the screen prints a test OK, and if it is not the same, it is determined to be defective and screen prints a test NOK.
상기 다섯 번째 테스트를 선택하면 중계선 보드의 DPRAM엑세스 테스트를 위하여, 중계선 보드가 실장된 위치 정보를 폴링 방식으로 파악하여, 상기 파악된 위치 정보를 가지고 상기 각 보드의 DPRAM의 어드레스를 주어 상기 DPRAM 데이터, 즉 보드 타입과 송신 데이터 및 수신 데이터를 읽어 온 다음, 상기 읽어온 DPRAM 데이터가 정상적인지를 확인한다. 이때, 상기 보드 타입이 미리 정해진 값, 즉 01010010 또는 01010011이고, 상기 송신 데이터를 반전한 값이 상기 수신 데이터의 값과 일치하는지를 확인한다.When the fifth test is selected, for the DPRAM access test of the trunk line board, the relay terminal board grasps the location information on which the trunk line board is mounted in a polling manner, gives the DPRAM address of the respective boards with the determined position information, and provides the DPRAM data, That is, after reading the board type, the transmission data and the reception data, it is checked whether the read DPRAM data is normal. At this time, the board type is a predetermined value, that is, 01010010 or 01010011, and it is checked whether the value inverting the transmission data matches the value of the received data.
상기 읽어온 DPRAM 데이터가 정상적이지 않으면 불량으로 판정하여 테스트 NOK를 화면 프린트하고, 정상적이면 상기 DPRAM에 임의의 값, 즉 0 또는 1을 기록한다. DPRAM에 임의의 값을 기록하고 1초간 대기한 후에, DPRAM으로부터 다시 읽은 값이 상기 기록된 값과 일치하면 테스트 OK를 화면 프린트하고, 그렇지 않은 경우에는 불량으로 판정하여 테스트 NOK를 화면 프린트한다.If the read DPRAM data is not normal, it is determined to be defective and screen prints a test NOK, and if it is normal, an arbitrary value, i.e., 0 or 1, is written to the DPRAM. After writing an arbitrary value to the DPRAM and waiting for one second, if the value read back from the DPRAM coincides with the recorded value, the test OK is screen printed, otherwise it is judged as bad and the screen NOK is printed.
상기에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 시험자가 테스트하고자 하는 항목을 선택하면 자동적으로 해당항목의 테스트를 수행하고 그 결과를 화면 프린트한다. 따라서 시험자는 마지막에 프린트되는 화면을 보고 정상인지 아닌지의 여부를 확실하게 판정할 수 있다. 또한 본 발명은 다른 보드를 통하지 않고 테스트함에 의해 에러의 범위를 더욱 줄였으며, 보드의 수리도 간편하고 빠르다.As described above, when the tester selects an item to be tested, the present invention automatically performs a test of the corresponding item and screen prints the result. Thus, the examiner can reliably determine whether or not it is normal by looking at the last printed screen. In addition, the present invention further reduces the range of error by testing without passing through other boards, and repairing the board is simple and fast.
따라서 본 발명은, 고용량 IPC 프로세서 보드를 테스트함에 있어서 시험자가 간편하게 테스트 결과를 알 수 있도록 함으로써 상기 보드의 신뢰성과 양산성을 높이고 에러 범위도 줄어들어 수리가 간편하다는 효과가 있다.Therefore, in the present invention, the tester can easily know the test result in testing the high-capacity IPC processor board, thereby increasing the reliability and mass productivity of the board and reducing the error range, thereby simplifying repair.
Claims (14)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970079030A KR100264381B1 (en) | 1997-12-30 | 1997-12-30 | The test method of high capacity ipc processor board |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970079030A KR100264381B1 (en) | 1997-12-30 | 1997-12-30 | The test method of high capacity ipc processor board |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19990058856A KR19990058856A (en) | 1999-07-26 |
KR100264381B1 true KR100264381B1 (en) | 2000-08-16 |
Family
ID=19530007
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019970079030A KR100264381B1 (en) | 1997-12-30 | 1997-12-30 | The test method of high capacity ipc processor board |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100264381B1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100807936B1 (en) * | 2005-12-23 | 2008-02-28 | 엘지노텔 주식회사 | Method for booting dual processor board accompanying to memory test |
-
1997
- 1997-12-30 KR KR1019970079030A patent/KR100264381B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR19990058856A (en) | 1999-07-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
GB2236398A (en) | Self documenting patch panel | |
CN104572385B (en) | Memory fault detection system and method | |
TW366430B (en) | IC testing device and method | |
KR100264381B1 (en) | The test method of high capacity ipc processor board | |
US20040105116A1 (en) | Method and apparatus for informing print error of a wireless printer | |
US7107172B2 (en) | Test apparatus and setting method therefor | |
US6708295B2 (en) | Circuit and method, for storing data prior to and after determining failure | |
US7484147B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
US7162670B2 (en) | IBIST interconnect and bridge fault detection scheme | |
JPH11211793A (en) | Ic tester | |
US6122755A (en) | Method and apparatus for functional test of communication port | |
JPH07273746A (en) | Terminal equipment test device | |
KR100336156B1 (en) | Method and apparatus for testing counter and serial access memory | |
CN118694681B (en) | Network card testing method, device, equipment and storage medium | |
KR0182686B1 (en) | Method for testing speech path performance measurement apparatus in switching system | |
KR19980051705A (en) | Packet Board Test Method of Electronic Switch | |
US6581168B1 (en) | Method and apparatus for automatic receive verification | |
CN116450421A (en) | Detection method of adapter plate | |
KR19980022848A (en) | Hardware Functional Test Device for North American / European Trunk Line Matching Boards | |
US7290173B2 (en) | Communication apparatus | |
JP2001103123A (en) | Method and device for inspecting terminal interface | |
JP4069526B2 (en) | Inspection method and inspection apparatus for wireless communication device | |
KR960005100B1 (en) | On-line inking method | |
CN118694681A (en) | Network card testing method, device, equipment and storage medium | |
JP3558377B6 (en) | Bit error rate tester |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20070409 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |