KR100260848B1 - A jig for measuring tuner - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 튜너 측정용 지그에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 조립이 완료된 튜너를 각각의 대역별 및 I2C 전송, 3 와이어 전송별로 측정한 다음 칩부품 탑재면이 위쪽방향으로 향하도록 180°뒤집은 후 측정할 경우 상기 튜너의 일측에 노출된 다수 개의 단자핀의 역순 위치에 대응하여 측정핀에 역순 신호전압이 교류될 수 있도록 전원전압을 절환시키는 전원전압 절환스위치를 구비시킨 튜너 측정용 지그에 관한 것이다.The present invention relates to a jig for tuner measurement, and more particularly, the tuner, which has been assembled, is measured for each band, I 2 C transmission, and 3 wire transmission, and then turned 180 ° so that the chip component mounting surface faces upward. When measuring after the tuner measuring jig provided with a power supply voltage switching switch for switching the power supply voltage to reverse the reverse signal voltage to the measuring pin corresponding to the reverse position of the plurality of terminal pins exposed on one side of the tuner will be.
일반적으로 튜너는, 데이터(DATA) 회선 및 클럭(CLOCK) 회선, 인에이블(ENABLE) 회선과 같은 3 개의 회선으로 마이콤과의 신호교류를 하는 3 와이어(three wire) 전송방식이 적용된 PLL IC를 구비한 튜너와, 데이터 회선 및 클럭 회선과 같은 2 개의 회선으로 마이콤과의 신호교류를 하는 I2C (I square C)전송방식이 적용된 PLL IC를 구비한 튜너로 분리된다.In general, the tuner includes a PLL IC with a three-wire transmission system that exchanges signals with a microcomputer in three lines, such as a data line, a clock line, and an enable line. It is separated into a tuner with a PLL IC with an I 2 C (I square C) transmission method that exchanges signals with a microcomputer in two lines, a data line and a clock line.
즉, 통상의 튜너(100)는 도 1에 도시된 바와 같이 PLL IC(10)내의 A단자의 단락유무에 따라 3 와이어 전송방식 및 I2C 전송방식이 적용된 튜너로 나뉘어지는 데, 예를 들면, 상기 A단자 회선의 단락시에는 E단자의 클럭 회선(11) 및 F단자의 데이터 회선(12)을 이용한 I2C 전송방식이 적용되고, 반면, 상기 A단자 회선의 개방시에는 E단자의 클럭 회선(11) 및 F단자의 데이터 회선(12), 그리고, G단자의 인에이블 회선(13)을 이용한 3 와이어 전송방식이 적용된다.That is, the conventional tuner 100 is divided into a tuner to which a 3-wire transmission system and an I 2 C transmission system are applied, depending on whether a short circuit occurs in the A terminal of the PLL IC 10, as shown in FIG. In case of shorting of the A terminal line, the I 2 C transmission method using the clock line 11 of the E terminal and the data line 12 of the F terminal is applied. The three-wire transmission method using the clock line 11, the data line 12 of the F terminal, and the enable line 13 of the G terminal is applied.
이때, 3 와이어 전송방식은, 마이콤(미 도시됨)과의 1 대 1의 통신에서 주로 사용되는 데, 도 2에 도시된 바와 같이 인에이블 신호의 주파수 구간 중에 데이터 신호를 인식한 후 임의의 주파수를 발생시켜 마이콤에 궤환시키는 방식으로, 통상적으로 1 개의 마이콤에서 여러 개를 제어할 경우에는 불가능하다는 단점이 있다. 즉, 하나의 마이콤에서 여러 개를 제어할 경우에는 복수 개가 동작하므로 원하지 않는 동작이 발생하기도 하는 문제점이 있는 것이다.In this case, the three-wire transmission method is mainly used in one-to-one communication with a microcomputer (not shown), and as shown in FIG. 2, after recognizing a data signal in a frequency section of the enable signal, an arbitrary frequency By generating a feedback to the microcomputer, there is a disadvantage that is usually impossible in the case of controlling several in one microcomputer. In other words, when a plurality of microcomputers control a plurality, the plurality of devices operate, which may cause undesirable behavior.
반면, 상기 I2C 전송방식은 도 3에 도시된 바와 같이 인에이블 신호에 관계없이 클럭 신호에 맞추어 데이터 신호를 인식하는 방식으로, 여러 개의 디바이스(device)를 동일한 버스(bus)에서 어드레스(address) 지정방식에 의해 사용되어지므로써 상기 3 와이어 전송방식에 비하여 여러 가지 디바이스를 사용가능함을 알 수 있다. 즉, 데이터 전송시 어드레스 지정방식이므로 원하지 않는 동작을 막을 수 있고, SERIAL SBIT DATA 전송시 양 방향성으로 표준 MODE에서는 100KBIT/S, FAST MODE에서는 400KBIT/S의 전송이 가능하다.On the other hand, the I 2 C transmission method recognizes a data signal according to a clock signal irrespective of an enable signal as shown in FIG. 3, and addresses multiple devices on the same bus. By using the designation method, it can be seen that various devices can be used as compared to the three-wire transmission method. That is, it is possible to prevent unwanted operation because of address designation method for data transmission, and 100KBIT / S in standard mode and 400KBIT / S in FAST mode with bi-directionality in SERIAL SBIT DATA transmission.
한편, 상기 I2C 전송방식 및 3 와이어 전송방식이 적용된 PLL IC(10)를 구비한 튜너(100)는 도 4에 도시된 바와 같이, 다수 개의 회로부품을 탑재한 회로기판을 내장한 섀시(110)와, 상기 회로기판에 접속되어 상기 섀시(110)의 외부로 돌출된 다수 개의 단자핀(120)과, 외부의 고주파 신호를 공급하는 동축 케이블에 접속되는 접속잭(130)으로 이루어진다.Meanwhile, as shown in FIG. 4, the tuner 100 including the PLL IC 10 to which the I 2 C transmission scheme and the three wire transmission scheme are applied includes a chassis in which a circuit board including a plurality of circuit components is mounted. 110, a plurality of terminal pins 120 connected to the circuit board and protruding to the outside of the chassis 110, and a connection jack 130 connected to a coaxial cable for supplying an external high frequency signal.
이때, 상기 튜너(100)의 단자핀(120)은 UHF 대역의 신호전압을 공급하는 VU단자핀과, 튜닝전압을 공급하는 VT단자핀과, VHF High 대역의 신호전압을 공급하는 VH단자핀과, 자동이득 제어전압을 공급하는 AGC 단자핀과, VHF Low 대역의 전압을 공급하는 VL단자핀과, 국부발진부의 발진 주파수를 자동적으로 일정하게 유지하는 제어전압을 공급하는 AFT 단자핀과, 상기 튜너(100)에 주 전원을 공급하는 메인전원 공급 단자핀과, 상기 튜너(100)의 중간주파 신호를 출력하는 IF 단자핀으로 이루어진다.In this case, the terminal pin 120 of the tuner 100 includes a V U terminal pin for supplying a signal voltage of the UHF band, a V T terminal pin for supplying a tuning voltage, and a V H for supplying a signal voltage of the VHF High band. Terminal pin, AGC terminal pin for supplying automatic gain control voltage, V L terminal pin for supplying voltage of VHF Low band, AFT terminal pin for supplying control voltage to keep constant oscillation frequency automatically And a main power supply terminal pin for supplying main power to the tuner 100, and an IF terminal pin for outputting an intermediate frequency signal of the tuner 100.
상기 구성으로 이루어진 튜너(100)는 자동화 공정에 의하여 최종 부품조립이 완료된 후 각각의 대역별 및 I2C 전송, 3 와이어 전송별로 측정을 하여야만 하는 데, 이러한 측정을 위한 지그는 도 5에 도시된 바와 같다.Tuner 100 composed of the above configuration should be measured for each band and I 2 C transmission, 3 wire transmission after the final component assembly is completed by the automated process, jig for this measurement is shown in Figure 5 As shown.
도 5는 종래 기술에 따른 튜너 측정용 지그를 나타내는 사시도이다.5 is a perspective view showing a tuner measurement jig according to the prior art.
종래 기술에 따른 튜너 측정용 지그(200)는 도 5에 도시된 바와 같이, 대략 채널형상으로 성형된 플레이트(210)와, 상기 플레이트(210) 위의 일측에 부착되어 상기 튜너(100)의 섀시(110) 측면을 안내하는 가이드 부재(220)와, 상기 플레이트(210) 위의 타측에 설치되어 상기 튜너(100)의 접속잭(130)에 고주파 신호를 공급하는 고주파 공급단자(230)와, 상기 플레이트(210)의 하면으로부터 상측방향으로 상하 이동되어 상기 튜너(100)의 회로기판에 직접 접속되어 대역별 및 PLL IC(10)의 I2C, 3 와이어 전송상태를 체크하는 다수 개의 테스트 핀(240)과, 상기 플레이트(210) 위의 후측에 설치되어 상기 튜너(100)의 단자핀(120)에 접속되면서 신호교류를 이루어 외부의 측정기기에 측정정보를 공급하는 다수 개의 측정핀(250)과, 상기 플레이트(210) 위의 후측에 설치되어 상기 튜너(100)의 대역별 상태를 체크할 수 있도록 VHF 및 UHF 측정대역을 스위칭 선택하는 대역 선택스위치(260)와, 상기 플레이트(210) 위의 후측에 설치되어 상기 튜너(100)의 I2C 및 3 와이어 전송상태를 각각 체크할 수 있도록 스위칭 선택하는 데이터전송 선택스위치(270)로 이루어진다.Tuner measurement jig 200 according to the prior art, as shown in Figure 5, a plate 210 formed in a substantially channel shape, and attached to one side on the plate 210, the chassis of the tuner 100 (110) a guide member 220 for guiding the side surface, a high frequency supply terminal 230 installed at the other side on the plate 210 to supply a high frequency signal to the connection jack 130 of the tuner 100, A plurality of test pins moving up and down from the lower surface of the plate 210 and directly connected to the circuit board of the tuner 100 to check I 2 C and 3 wire transmission states of each band and the PLL IC 10. 240 and a plurality of measurement pins 250 installed at the rear side of the plate 210 and connected to the terminal pins 120 of the tuner 100 to perform signal exchange to supply measurement information to an external measurement device. And the rear side of the plate 210 is installed on the tuner 100. Band selection switch 260 for switching the VHF and UHF measurement bands to check the state of each band, and I 2 C and 3 wires of the tuner 100 are installed on the rear side of the plate 210. It is composed of a data transmission selection switch 270 for switching selection so as to check the transmission status.
상기 구성으로 이루어진 튜너 측정용 지그(200)의 사용 동작을 도 6을 참조하여 설명하면 다음과 같다.The operation of the tuner measurement jig 200 having the above configuration will be described with reference to FIG. 6 as follows.
도 6은 종래 기술에 따른 튜너 측정용 지그를 나타내는 사용 상태도이다.Fig. 6 is a use state diagram showing a tuner measurement jig according to the prior art.
먼저, 튜너(100)의 회로기판에 접속된 다수 개의 단자핀(120)이 플레이트(210)의 후측에 설치된 다수 개의 측정핀(250)을 향하도록 상기 튜너(100)를 상기 플레이트(210) 위에 올려 놓음과 동시에 가압하여 밀어 넣는다.First, the tuner 100 is placed on the plate 210 such that the plurality of terminal pins 120 connected to the circuit board of the tuner 100 face the plurality of measurement pins 250 installed at the rear side of the plate 210. Press it and push it in at the same time.
이때, 상기 플레이트(210) 위의 일측에 부착된 가이드 부재(220)는 상기 튜너(100) 섀시(110)의 측면을 미끄럼 안내하여 상기 측정핀(250)과 단자핀(120)이 정확한 위치에 상호 접속될 수 있도록 하는 기능을 수행한다.At this time, the guide member 220 attached to one side on the plate 210 slides the side surface of the tuner 100 and the chassis 110 so that the measuring pin 250 and the terminal pin 120 are in the correct position. Perform the function of making it interconnected.
그 후, 상기 고주파 공급단자(230)에 외부의 고주파 신호를 인가하여 상기 튜너(100)의 접속잭(130)을 통하여 회로기판에 고주파 신호를 공급할 수 있도록 한다.Thereafter, an external high frequency signal is applied to the high frequency supply terminal 230 to supply a high frequency signal to the circuit board through the connection jack 130 of the tuner 100.
한편, 상기 회로기판의 하면에 위치된 다수 개의 테스트 핀(240)은 미도시 된 조작수단에 의하여 상측방향으로 이동되어 상기 회로기판의 하면의 테스팅 점에 정확히 접촉되어지게 된다.On the other hand, the plurality of test pins 240 located on the lower surface of the circuit board is moved upward by the control means not shown to be in exact contact with the testing point of the lower surface of the circuit board.
그리고, 상기 튜너(100)의 VHF 대역 및 UHF 대역을 각각 선택하여 측정하고자 할 경우에는 대역 선택스위치(260)를 상기 각각의 대역에 해당되도록 조작하면 되고, 상기 튜너(100)가 I2C 전송방식의 PLL IC(10)를 구비하거나 3 와이어 전송방식의 PLL IC(10)를 구비한 경우라면 그에 대응하여 데이터전송 선택스위치(270)를 각각 조작하여 측정하면 된다.When the VHF band and the UHF band of the tuner 100 are to be selected and measured, the band selection switch 260 may be operated to correspond to the respective bands, and the tuner 100 transmits I 2 C. If the PLL IC 10 of the type is provided or the PLL IC 10 of the 3 wire transfer type is provided, the data transfer selection switch 270 may be operated in response to the measurement.
이때, 상기 튜너 측정용 지그(200)에 의하여 측정된 튜너(100)의 측정정보는 다수 개의 테스트 핀(240) 및 측정핀(250)을 통하여 외부의 측정기기의 모니터상에 데이터화되어 표출되어 사용자가 육안으로 그 불량유무 및 현 상태를 정확히 파악할 수 있게 된다.In this case, the measurement information of the tuner 100 measured by the tuner measuring jig 200 is data-expressed on a monitor of an external measuring device through a plurality of test pins 240 and measuring pins 250 to be displayed. With the naked eye, it is possible to accurately grasp the defect and the current state.
그런데, 종래에는 튜너(100)를 각각의 대역별 및 I2C 전송, 3 와이어 전송별로 통합하여 측정한 다음 180°뒤집어, 즉, 칩부품 탑재면이 위쪽방향으로 향하도록 위치시켜 측정하고자 할 경우에는 별도의 지그를 이용하여 측정해야만 되어 생산성 및 작업성이 현저히 떨어지는 커다란 단점이 있었다.However, in the related art, the tuner 100 is measured by integrating each band, I 2 C transmission, and 3 wire transmission, and then flipping it 180 °, that is, when the chip component mounting surface is positioned to face upward. There was a big disadvantage in that the productivity must be measured using a separate jig significantly reduced productivity and workability.
즉, 상기 튜너(100)를 180°뒤집어 측정할 경우 순차적으로 구성된 단자핀(120)의 VU단자핀 및 VT단자핀, VH단자핀, AGC 단자핀, VL단자핀, AFT 단자핀, 메인전원 공급 단자핀, IF 단자핀이 역순으로 위치되게 되어 상기 역순으로 위치된 다수 개의 단자핀(120)에 대응되는 측정핀(250)이 구비된 별도의 튜너 측정용 지그를 구비해야만 되는 문제점이 있었다.That is, when the tuner 100 is turned upside down by 180 °, the V U terminal pins, the V T terminal pins, the V H terminal pins, the AGC terminal pins, the V L terminal pins, and the AFT terminal pins of the terminal pins 120 sequentially configured. The main power supply terminal pins and the IF terminal pins are located in the reverse order, so that a separate tuner measuring jig having a measuring pin 250 corresponding to the plurality of terminal pins 120 positioned in the reverse order must be provided. There was this.
이에, 본 발명에 따른 튜너 측정용 지그는 상기와 같은 제반 문제점을 해소하기 위하여 안출된 것으로 그 목적으로 하는 바는 튜너를 각각의 대역별 및 I2C 전송, 3 와이어 전송별로 측정한 다음 칩부품 탑재면이 위쪽방향으로 향하도록 180°뒤집어 측정할 경우 다수 개의 단자핀의 역순 위치에 대응하여 다수 개의 측정핀에 역순 신호전압이 교류될 수 있도록 전원전압을 절환시키는 전원전압 절환스위치를 구비시킨 구조로 구성하여 튜너의 측정작업을 원활히 수행할 수 있는 튜너 측정용 지그를 제공함에 있다.Therefore, the tuner measuring jig according to the present invention was devised in order to solve the above problems, and its purpose is to measure the tuner for each band and for each I 2 C transmission, 3 wire transmission, and then chip components. In the case that the mounting surface is turned upside down by 180 °, the power supply voltage switching switch is configured to switch the power supply voltage so that the reverse signal voltage can be exchanged to the plurality of measurement pins corresponding to the reverse position of the plurality of terminal pins. It is to provide a tuner measurement jig that can be configured to perform the tuner measurement work smoothly.
도 1은 일반적인 튜너에 적용된 3 와이어 전송방식 및 I2C 전송방식에 따른 PLL IC를 나타내는 설명도1 is an explanatory diagram showing a PLL IC according to a 3-wire transmission method and an I 2 C transmission method applied to a general tuner.
도 2는 일반적인 튜너에 적용된 3 와이어 전송방식을 설명하기 위한 다이어그램2 is a diagram for explaining a three-wire transmission method applied to a general tuner.
도 3은 일반적인 튜너에 적용된 I2C 전송방식을 설명하기 위한 다이어그램3 is a diagram for explaining an I 2 C transmission scheme applied to a general tuner.
도 4는 일반적인 튜너를 나타내는 사시도4 is a perspective view showing a general tuner
도 5는 종래 기술에 따른 튜너 측정용 지그를 나타내는 사시도5 is a perspective view showing a tuner measurement jig according to the prior art;
도 6은 종래 기술에 따른 튜너 측정용 지그를 나타내는 사용 상태도6 is a use state diagram showing a tuner measurement jig according to the prior art.
도 7은 본 발명에 따른 튜너 측정용 지그를 나타내는 사시도7 is a perspective view showing a tuner measurement jig according to the present invention.
도 8은 본 발명에 따른 튜너 측정용 지그를 나타내는 사용 상태도8 is a use state diagram showing a tuner measurement jig according to the present invention.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *
10 : PLL IC 11 : 클럭 회선10: PLL IC 11: Clock Line
12 : 데이터 회선 13 : 인에이블 회선12: data line 13: enable line
100 : 튜너 110 : 섀시100: tuner 110: chassis
120 : 단자핀 130 : 접속잭120: terminal pin 130: connection jack
300 : 튜너 측정용 지그 310 : 플레이트300: jig for tuner measurement 310: plate
320 : 제 1 고주파 공급단자 330 : 테스트 핀320: first high frequency supply terminal 330: test pin
340 : 측정핀 350 : 대역 선택스위치340: measuring pin 350: band selection switch
360 : 데이터전송 선택스위치 370 : 전원전압 절환스위치360: data transmission selection switch 370: power voltage switching switch
380 : 제 2 고주파 공급단자380: second high frequency supply terminal
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 대략 채널형상으로 성형된 플레이트 위의 일측에 설치되어 튜너의 접속잭에 고주파 신호를 공급하는 제 1 고주파 공급단자와, 상기 플레이트 위의 후측에 설치되어 상기 튜너의 단자핀에 접속되면서 신호교류를 이루어 외부의 측정기기에 측정정보를 공급하는 다수 개의 측정핀을 포함하여 이루어진 튜너 측정용 지그에 있어서, 상기 튜너를 각각의 대역별 및 I2C 전송, 3 와이어 전송별로 측정한 다음 칩부품 탑재면이 위쪽방향으로 향하도록 180°뒤집어 측정할 경우 상기 다수 개의 단자핀의 역순 위치에 대응하여 상기 다수 개의 측정핀에 역순 신호전압이 교류될 수 있도록 전원전압을 절환시키는 전원전압 절환스위치를 구비하여 이루어지는 것을 그 기술적 구성상의 기본 특징으로 한다.The present invention for achieving the above object, the first high-frequency supply terminal is provided on one side on the plate formed in a substantially channel shape to supply a high frequency signal to the connection jack of the tuner, and is provided on the rear side on the plate and the tuner In the tuner measurement jig comprising a plurality of measuring pins connected to the terminal pin of the supply signal through the signal exchange to supply the measurement information to the external measuring device, the tuner for each band and I 2 C transmission, 3 wire When measuring by transmission and then flipping 180 ° with the chip component mounting surface facing upward, switch the power supply voltage so that the reverse signal voltage can be exchanged to the plurality of measuring pins corresponding to the reverse order of the plurality of terminal pins. What is provided with a power supply voltage switching switch to be a basic feature on the technical configuration.
이하, 본 발명에 따른 튜너 측정용 지그의 바람직한 실시예를 도 7를 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a preferred embodiment of the tuner measuring jig according to the present invention will be described with reference to FIG. 7.
도 7은 본 발명에 따른 튜너 측정용 지그를 나타내는 사시도이다.7 is a perspective view showing a tuner measurement jig according to the present invention.
본 발명에 따른 튜너 측정용 지그(300)는 도 7에 도시된 바와 같이, 대략 채널형상으로 성형된 플레이트(310)와, 상기 플레이트(310) 위의 일측에 설치되어 상기 튜너(100)의 접속잭(130)에 고주파 신호를 공급하는 제 1 고주파 공급단자(320)와, 상기 플레이트(310)의 하면으로부터 상측방향으로 상하 이동되어 상기 튜너(100)의 회로기판에 직접 접속되어 대역별 및 PLL IC(10)의 I2C, 3 와이어 전송상태를 체크하는 다수 개의 테스트 핀(330)과, 상기 플레이트(310) 위의 후측에 설치되어 상기 튜너(100)의 단자핀(120)에 접속되면서 신호교류를 이루어 외부의 측정기기에 측정정보를 공급하는 다수 개의 측정핀(340)과, 상기 플레이트(310) 위의 후측에 설치되어 상기 튜너(100)의 대역별 상태를 체크할 수 있도록 VHF 및 UHF 측정대역을 스위칭 선택하는 대역 선택스위치(350)와, 상기 플레이트(310) 위의 후측에 설치되어 상기 튜너(100)의 I2C 및 3 와이어 전송상태를 각각 체크할 수 있도록 스위칭 선택하는 데이터전송 선택스위치(360)와, 상기 튜너(100)를 각각의 대역별 및 I2C 전송, 3 와이어 전송별로 측정한 다음 칩부품 탑재면이 위쪽방향으로 향하도록 180°뒤집어 측정할 경우 상기 다수 개의 단자핀(120)의 역순 위치에 대응하여 상기 다수 개의 측정핀에 역순 신호전압이 교류될 수 있도록 전원전압을 절환시키는 전원전압 절환스위치(370)와, 상기 플레이트(310) 위의 타측에 설치되어 상기 튜너(100)의 접속잭(130)에 고주파 신호를 공급하는 제 2 고주파 공급단자(380)로 이루어진다.Tuner measuring jig 300 according to the present invention, as shown in Figure 7, the plate 310 is formed in a substantially channel shape, and is installed on one side on the plate 310 is connected to the tuner 100 The first high frequency supply terminal 320 for supplying a high frequency signal to the jack 130 and the upper and lower sides of the plate 310 are moved upwards and downwards and are directly connected to the circuit board of the tuner 100 for each band and PLL. A plurality of test pins 330 for checking the I 2 C, 3 wire transmission state of the IC 10 and the rear side of the plate 310 is connected to the terminal pin 120 of the tuner 100 A plurality of measurement pins 340 for signal exchange to supply measurement information to an external measurement device, and are installed on the rear side of the plate 310 so that the VHF and the band-specific state of the tuner 100 can be checked. Band selection switch 350 for switching the UHF measurement band and selects, The data transmission selection switch 360 and the tuner 100 are installed at the rear side of the base plate 310 so as to check switching of the I 2 C and 3 wire transmission states of the tuner 100, respectively. When measuring by band and I 2 C transmission, 3 wire transmission and then 180 ° upside down so that the mounting surface of the chip component facing upwards, the plurality of measurements corresponding to the reverse order of the plurality of terminal pins 120 A high voltage signal is provided at a power supply voltage switching switch 370 for switching a power supply voltage so that a reverse signal voltage can be exchanged to a pin, and the connection jack 130 of the tuner 100 on the other side of the plate 310. The second high frequency supply terminal 380 is supplied.
상기 구성으로 이루어진 튜너 측정용 지그(300)의 사용 동작을 도 8을 참조하여 설명하면 다음과 같다.The operation of the tuner measurement jig 300 having the above configuration will be described with reference to FIG. 8 as follows.
도 8은 본 발명에 따른 튜너 측정용 지그를 나타내는 사용 상태도이다.8 is a use state diagram showing a tuner measurement jig according to the present invention.
먼저, 본 발명에 의한 튜너 측정용 지그(300)를 이용하여 튜너(100)의 각각의 대역별 및 I2C 전송, 3 와이어 전송별로 통합하여 측정하는 동작은 종래와 동일하므로 설명상의 번잡함을 피하기 위하여 편의상 생략하기로 하고, 반면, 상기 튜너(100)를 180°뒤집어, 즉, 칩부품 탑재면이 위쪽방향으로 향하도록 위치시켜 측정할 때에는 측정핀(340)을 상기 튜너(100)의 다수 개의 단자핀(120)의 역순 위치에 일치하도록 전원전압 절환스위치(370)를 조작하여 둔다.First, by using the tuner measuring jig 300 according to the present invention, the operation of integrating and measuring each band of the tuner 100 by I 2 C transmission and 3 wire transmission is the same as in the prior art, so as to avoid the complicated description. For the sake of convenience, it is omitted. On the other hand, when the tuner 100 is turned upside down by 180 °, that is, when the chip component mounting surface is positioned to face upward, the measuring pins 340 are placed on the plurality of tuners 100. The power supply voltage switching switch 370 is operated to match the reverse order of the terminal pin 120.
즉, 상기 튜너(100)를 180°뒤집어 측정할 경우 상기 단자핀(120)은 IF 단자핀 및 메인전원 공급 단자핀, AFT 단자핀, VL단자핀, AGC 단자핀, VH단자핀, VT단자핀, VU단자핀의 순으로 위치되는 데, 이러한 순서에 대응하여 외부의 측정기기에 신호교류를 이룰 수 있도록 상기 전원전압 절환스위치(370)를 조작하여 상기 측정핀(340)에 인가되는 전원전압의 순서를 역순이 되도록 한다.That is, when the tuner 100 is turned upside down by 180 °, the terminal pin 120 includes an IF terminal pin, a main power supply terminal pin, an AFT terminal pin, a V L terminal pin, an AGC terminal pin, a V H terminal pin, and a V pin. T terminal pins, V U terminal pins are located in this order, in order to achieve a signal exchange to the external measuring device in response to this order by operating the power voltage switching switch 370 applied to the measuring pin 340 Reverse the order of the power supply voltages.
그 후, 제 2 고주파 공급단자(380)에 외부의 고주파 신호를 인가하여 상기 튜너(100)의 접속잭(130)을 통하여 회로기판에 고주파 신호가 공급되도록 하므로써 소정의 측정을 완료할 수 있게 되는 것이다.Thereafter, an external high frequency signal is applied to the second high frequency supply terminal 380 so that a high frequency signal is supplied to the circuit board through the connection jack 130 of the tuner 100, thereby completing a predetermined measurement. will be.
이상에서와 같이 본 발명에 따른 튜너 측정용 지그에 의하면, 튜너를 각각의 대역별 및 I2C 전송, 3 와이어 전송별로 측정한 다음 칩부품 탑재면이 위쪽방향으로 향하도록 180°뒤집어 측정할 경우 상기 튜너의 일측에 노출된 단자핀의 역순 위치에 대응하여 측정핀에 역순 신호전압이 교류될 수 있도록 전원전압을 절환시키는 전원전압 절환스위치를 구비시킨 구조로 구성하므로써, 하나의 지그를 통하여 튜너의 전반적인 측정을 동시에 이룰 수 있게 되어 생산성 및 작업성이 매우 좋아지는 탁월한 효과가 있다.According to the tuner measuring jig according to the present invention as described above, when the tuner is measured for each band, I 2 C transmission, 3 wire transmission, and then turned 180 ° so that the chip component mounting surface is directed upward. In response to the reverse position of the terminal pin exposed on one side of the tuner, the measuring pin has a power supply voltage switching switch for switching the power supply voltage so that the reverse signal voltage can be exchanged. Overall measurements can be made at the same time, resulting in a very good productivity and workability.
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