KR100266776B1 - Jig for tuner measurement - Google Patents

Jig for tuner measurement Download PDF

Info

Publication number
KR100266776B1
KR100266776B1 KR1019970070263A KR19970070263A KR100266776B1 KR 100266776 B1 KR100266776 B1 KR 100266776B1 KR 1019970070263 A KR1019970070263 A KR 1019970070263A KR 19970070263 A KR19970070263 A KR 19970070263A KR 100266776 B1 KR100266776 B1 KR 100266776B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
tuner
terminal
jig
measuring
measurement
Prior art date
Application number
KR1019970070263A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR19990051028A (en
Inventor
김현덕
Original Assignee
권호택
대우전자부품주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 권호택, 대우전자부품주식회사 filed Critical 권호택
Priority to KR1019970070263A priority Critical patent/KR100266776B1/en
Publication of KR19990051028A publication Critical patent/KR19990051028A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100266776B1 publication Critical patent/KR100266776B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/02—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage
    • G01R23/06—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage by converting frequency into an amplitude of current or voltage
    • G01R23/07—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage by converting frequency into an amplitude of current or voltage using response of circuits tuned on resonance, e.g. grid-drip meter
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/31712—Input or output aspects
    • G01R31/31713—Input or output interfaces for test, e.g. test pins, buffers
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00—Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F13/38—Information transfer, e.g. on bus
    • G06F13/42—Bus transfer protocol, e.g. handshake; Synchronisation
    • G06F13/4282—Bus transfer protocol, e.g. handshake; Synchronisation on a serial bus, e.g. I2C bus, SPI bus
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H2239/00—Miscellaneous
    • H01H2239/05—Mode selector switch, e.g. shift, or indicator

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

PURPOSE: A jig for tuner measurement is provided to make it possible to smooth measurement of the tuner by including a cylinder coupling member which a tapered hole is formed on. CONSTITUTION: The jig(200) has the terminal pin of tuner and the plurality of measurement pins(250) coupled to the extruding spring(290). The jig(200) also has the cylinder coupling member which the tapered hole is formed on. The cylinder coupling member(300) is inserted into the friction hole(281) and accommodates the extruding spring(290) and the measurement pins(250). The tapered hole is tapered toward inner direction to receive the terminal pin of the tuner, the clock terminal, the data terminal and the enable terminal.

Description

튜너 측정용 지그Jig for tuner measurement

본 발명은 튜너 측정용 지그에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 플레이트 위의 후측에 설치된 측정부재의 내부에 뚫려진 끼움구멍에 장착되는 압출 스프링에 결합된 다수 개의 측정핀을 각각 내장하며 상기 튜너의 단자핀 및 데이터 단자, 클럭 단자, 인에이블 단자를 부드럽게 받아들일 수 있도록 내측방향으로 좁혀지는 테이퍼 구멍이 구비된 원통형상의 결합부재를 포함하는 튜너 측정용 지그에 관한 것이다.The present invention relates to a tuner measuring jig, and more particularly, a plurality of measuring pins each coupled to an extrusion spring mounted to a fitting hole drilled in an inside of a measuring member installed on a rear side of a plate, and each terminal of the tuner. The present invention relates to a tuner measurement jig including a cylindrical coupling member having a tapered hole narrowed inwardly so as to smoothly receive a pin, a data terminal, a clock terminal, and an enable terminal.

일반적으로 튜너는, 데이터(DATA) 단자 및 클럭(CLOCK) 단자, 인에이블(ENABLE) 단자와 같은 3 개의 단자로 마이콤과의 신호교류를 하는 3 와이어(three wire) 전송방식이 적용된 PLL IC를 구비한 튜너와, 데이터 단자 및 클럭 단자와 같은 2 개의 단자로 마이콤과의 신호교류를 하는 I2C 전송방식이 적용된 PLL IC를 구비한 튜너로 분리된다.In general, the tuner includes a PLL IC having a three-wire transfer method for exchanging signals with a microcomputer through three terminals such as a data terminal, a clock terminal, and an enable terminal. It is separated into a tuner and a tuner with a PLL IC with an I 2 C transmission system that exchanges signals with a microcomputer into two terminals, a data terminal and a clock terminal.

즉, 통상의 튜너(100)는 도 1에 도시된 바와 같이 PLL IC(10)내의 A단자의 단락유무에 따라 3 와이어 전송방식 및 I2C 전송방식이 적용된 튜너로 나뉘어지는데, 예를 들면, 상기 A단자 단자의 단락시에는 E단자의 클럭 핀(11) 및 F단자의 데이터 핀(12)을 이용한 I2C 전송방식이 적용되고, 반면, 상기 A단자 단자의 개방시에는 E단자의 클럭 핀(11) 및 F단자의 데이터 핀(12), 그리고, G단자의 인에이블 핀(13)를 이용한 3 와이어 전송방식이 적용된다.That is, the conventional tuner 100 is divided into a tuner to which a three wire transmission method and an I 2 C transmission method are applied, depending on whether a short circuit occurs in the A terminal of the PLL IC 10, as shown in FIG. When the terminal A terminal is shorted, the I 2 C transmission method using the clock pin 11 of the E terminal and the data pin 12 of the F terminal is applied, while the clock of the E terminal is opened when the terminal A is opened. The three-wire transmission method using the pin 11, the data pin 12 of the F terminal, and the enable pin 13 of the G terminal is applied.

이때, 3 와이어 전송방식은, 마이콤(미 도시됨)과의 1 대 1의 통신에서 주로 사용되는데, 도 2에 도시된 바와 같이 인에이블 신호의 주파수 구간 중에 데이터 신호를 인식한 후 임의의 주파수를 발생시켜 마이콤에 궤환시키는 방식으로, 통상적으로 1 개의 마이콤에서 여러 개를 제어할 경우에는 불가능하다는 단점이 있다. 즉, 하나의 마이콤에서 여러 개를 제어할 경우에는 복수 개가 동작하므로 원하지 않는 동작이 발생하기도 하는 문제점이 있다.In this case, the three-wire transmission method is mainly used in one-to-one communication with a microcomputer (not shown). As shown in FIG. 2, the three-wire transmission method recognizes a data signal in a frequency section of the enable signal and then selects an arbitrary frequency. By generating and feeding back to the micom, there is a disadvantage in that it is usually impossible to control several in one micom. In other words, when a plurality of microcomputers control a plurality, a plurality of devices operate, which may cause an undesirable operation.

반면, 상기 I2C 전송방식은 도 3에 도시된 바와 같이 인에이블 신호에 괸계없이 클럭 신호에 맞추어 데이터 신호를 인식하는 방식으로, 여러 개의 디바이스(device)를 동일한 버스(bus)에서 어드레스(address) 지정방식에 의해 사용되어지므로써 상기 3 와이어 전송방식에 비하여 여러 가지 디바이스를 사용가능함을 알 수 있다. 즉, 데이터 전송시 어드레스 지정방식이므로 원하지 않는 동작을 막을 수 있고, SERIAL SBIT DATA 전송시 양 방향성으로 표준 MODE에서는 100KBIT/S, FAST MODE에서는 400KBIT/S의 전송이 가능하다.On the other hand, the I 2 C transmission method recognizes a data signal according to a clock signal regardless of an enable signal, as shown in FIG. 3, and addresses multiple devices on the same bus. By using the designation method, it can be seen that various devices can be used as compared to the three-wire transmission method. That is, it is possible to prevent unwanted operation because of address designation method for data transmission, and 100KBIT / S in standard mode and 400KBIT / S in FAST mode with bi-directionality in SERIAL SBIT DATA transmission.

한편, 상기 I2C 전송방식 및 3 와이어 전송방식이 적용된 PLL IC(10)를 구비한 튜너(100)는 도 4에 도시된 바와 같이, 다수 개의 회로부품을 탑재한 회로기판을 내장한 새시(110)와, 상기 회로기판에 접속되어 상기 새시(110)의 외부로 돌출된 다수 개의 단자핀(120)과, PLL IC(10)의 클럭 단자(121) 및 데이터 단자(122), 인에이블 단자(133)와, 외부의 고주파 신호를 공급하는 동축 케이블에 접속되는 접속잭(130)으로 이루어진다.Meanwhile, as shown in FIG. 4, the tuner 100 including the PLL IC 10 to which the I 2 C transmission scheme and the three wire transmission scheme are applied has a chassis in which a circuit board having a plurality of circuit components is mounted. 110, a plurality of terminal pins 120 connected to the circuit board and protruding to the outside of the chassis 110, a clock terminal 121, a data terminal 122, and an enable terminal of the PLL IC 10. 133 and a connection jack 130 connected to a coaxial cable for supplying an external high frequency signal.

그런데, 상기 구성으로 이루어진 튜너(100)는 자동화 공정에 의하여 최종 부품조립이 완료된 후 각각의 대역별 및 I2C 전송, 3 와이어 전송별로 동조특성 등을 측정을 하여야만 하는데, 종래에는 상기 각각의 대역별 및 I2C 전송, 3 와이어 전송별로 통합하여 측정할 수 있는 지그가 없어 각각 다른 지그를 통하여 측정하므로 인하여 생산성 및 작업성이 현저히 떨어지는 단점이 있었다.By the way, the tuner 100 composed of the above configuration should measure the tuning characteristics for each band, I 2 C transmission, and 3 wire transmission after final component assembly is completed by an automated process. Since there is no jig that can be measured integrated by star, I 2 C transmission, and three wire transmission, there is a disadvantage in that productivity and workability are remarkably degraded because they are measured through different jigs.

따라서, 근래에는 I2C 전송방식 또는 3 와이어 전송방식의 PLL IC를 구비한 튜너의 전송상태 및 대역별 상태를 각각 측정하기 위한 튜너 측정용 지그를 대역선택스위치 및 데이터전송 선택스위치의 선택적인 조작에 의하여 하나의 지그에서 통합하여 측정할 수 있는 지그가 개발되기도 하였다.Therefore, in recent years, the tuner measurement jig for measuring the transmission state and the band-specific state of a tuner having an I 2 C transmission method or a 3-wire PLL IC has a selective operation of a band selection switch and a data transmission selection switch. In addition, a jig that can be integrated and measured in one jig has been developed.

상기 튜너 측정용 지그를 도 5를 참조하여 설명하면 다음과 같다.The tuner measuring jig will now be described with reference to FIG. 5.

도 5는 일반적인 튜너 측정용 지그를 나타내는 일부 분해를 포함한 사시도이고, 도면 중 부호 121, 122, 123은 PLL IC(10)의 클럭 핀(11) 및 데이터 핀(12), 인에이블 핀(13)에 각각 연결되어 튜너(10)의 섀시(110) 외부로 노출되는 클럭 단자 및 데이터 단자, 인에이블 단자를 각각 나타낸다.FIG. 5 is a perspective view including a partial disassembly showing a jig for general tuner measurement, and reference numerals 121, 122, and 123 in the drawing denote clock pins 11, data pins 12, and enable pins 13 of the PLL IC 10. The clock terminal, the data terminal, and the enable terminal, respectively, connected to the chassis 110 of the tuner 10 and exposed to the outside.

근래에 개발된 튜너 측정용 지그(200)는 도 5에 도시된 바와 같이, 대략 채널형상으로 성형된 플레이트(210)와, 상기 플레이트(210) 위의 일측에 부착되어 상기 튜너(100)의 섀시(110) 측면을 안내하는 대략 장방체 형상의 가이드 부재(220)와, 상기 플레이트(210) 위의 타측에 설치되어 상기 튜너(100)의 접속잭(130)에 고주파 신호를 공급하는 고주파 공급단자(230)와, 상기 플레이트(210)의 하면으로부터 상측방향으로 상하 이동되어 상기 튜너(100)의 회로기판에 직접 접속되어 대역별 및 PLL IC(10)의 I2C, 3 와이어 전송상태를 체크하는 다수 개의 테스트 핀(240)과, 상기 플레이트(210) 위의 후측에 설치되어 상기 튜너(100)의 단자핀(120) 및 PLL IC(10)의 클럭 단자(121) 및 데이터 단자(122), 인에이블 단자(123)에 접속되면서 신호교류를 이루어 외부의 측정기기에 측정정보를 공급하는 다수 개의 측정핀(250)과, 상기 플레이트(210) 위의 후측에 설치되어 상기 튜너(100)의 대역별 상태를 체크할 수 있도록 VHF 및 UHF 측정대역을 스위칭 선택하는 대역 선택스위치(260)와, 상기 플레이트(210) 위의 후측에 설치되어 상기 튜너(100)의 I2C 및 3 와이어 전송상태를 각각 체크할 수 있도록 스위칭 선택하는 데이터전송 선택스위치(270)로 이루어진다.Tuner measurement jig 200 developed in recent years, as shown in Figure 5, the plate 210 formed in a substantially channel shape, and attached to one side on the plate 210, the chassis of the tuner 100 High frequency supply terminal (110) for guiding the side of the substantially rectangular shape of the guide member 220 and the other side on the plate 210 and supplying a high frequency signal to the connection jack 130 of the tuner 100 ( 230 and up and down from the lower surface of the plate 210 and directly connected to the circuit board of the tuner 100 to check I 2 C and 3 wire transmission states of each band and the PLL IC 10. A plurality of test pins 240 and a rear side of the plate 210, the terminal pins 120 of the tuner 100 and the clock terminal 121 and the data terminal 122 of the PLL IC 10; It is connected to the enable terminal 123 and performs signal exchange to supply measurement information to an external measuring device. A plurality of measurement pins 250 and a band selection switch 260 installed at a rear side of the plate 210 to switch between VHF and UHF measurement bands so as to check the band-specific state of the tuner 100. And a data transmission selection switch 270 installed at a rear side of the plate 210 so as to select switching so as to check I 2 C and 3 wire transmission states of the tuner 100, respectively.

여기서, 상기 다수 개의 측정핀(250)은 상기 플레이트(210) 위의 후측에 부착된 대략 장방형의 측정부재(280) 내부에 뚫려진 다수 개의 끼움구멍(281)에 장착된 압출 스프링(290)에 의하여 탄성 이동되는 구조로 고정된다.Here, the plurality of measuring pins 250 are attached to the extrusion spring 290 mounted in the plurality of fitting holes 281 drilled inside the substantially rectangular measuring member 280 attached to the rear side of the plate 210. It is fixed to the structure that is elastically moved.

상기 구성으로 이루어진 튜너 측정용 지그(200)의 사용 동작을 도 6을 참조하여 설명하면 다음과 같다.The operation of the tuner measurement jig 200 having the above configuration will be described with reference to FIG. 6 as follows.

도 6은 일반적인 튜너 측정용 지그를 나타내는 사용 상태도이다.6 is a use state diagram illustrating a general tuner measurement jig.

먼저, 튜너(100)의 회로기판에 접속된 다수 개의 단자핀(120)이 플레이트(210)의 후측에 설치된 다수 개의 측정핀 (250)을 향하도록 상기 튜너(100)를 상기 플레이트(210) 위에 올려 놓음과 동시에 가압하여 밀어 넣는다.First, the tuner 100 is placed on the plate 210 such that the plurality of terminal pins 120 connected to the circuit board of the tuner 100 face the plurality of measurement pins 250 installed at the rear side of the plate 210. Press it and push it in at the same time.

이때, 튜너(100)의 단자핀(120) 및 PLL IC(10의 클럭 단자(121) 및 데이터 단자(122), 인에이블 단자(123)는 플레이트(210) 위의 후측에 부착된 측정부재(280)의 끼움구멍(281)에 장착된 압출 스프링(290)에 의하여 탄성 이동되는 다수 개의 측정핀(250)에 접속되어 외부의 측정기기에 전기적으로 연결되어진다.In this case, the terminal pin 120 of the tuner 100, the clock terminal 121, the data terminal 122, and the enable terminal 123 of the PLL IC 10 may include a measuring member attached to the rear side of the plate 210. It is connected to a plurality of measuring pins 250 elastically moved by the extrusion spring 290 mounted in the fitting hole 281 of the 280 is electrically connected to an external measuring device.

한편, 상기 플레이트(210) 위의 일측에 부착된 장방체 형상의 가이드 부재(220)는 상기 튜너(100) 섀시(110)의 측면을 미끄럼 안내하여 상기 측정핀(250)과 단자핀(120)이 정확한 위치에 상호 접속될 수 있도록 하는 기능을 수행한다.Meanwhile, the rectangular guide member 220 attached to one side of the plate 210 slides the side surface of the tuner 100 and the chassis 110 so that the measuring pin 250 and the terminal pin 120 are moved. It performs the function of being able to interconnect to the correct location.

그 후, 상기 고주파 공급단자(230)에 외부의 고주파 신호를 인가하여 상기 튜너(100)의 접속잭(130)을 통하여 회로기판에 고주파 신호를 공급할 수 있도록 한다.Thereafter, an external high frequency signal is applied to the high frequency supply terminal 230 to supply a high frequency signal to the circuit board through the connection jack 130 of the tuner 100.

한편, 상기 회로기판의 하면에 위치된 다수 개의 테스트 핀(240)은 미도시된 조작수단에 의하여 상측방향으로 이동되어 상기 회로기판의 하면의 테스팅 점에 정확히 접촉되어지게 된다.On the other hand, the plurality of test pins 240 located on the lower surface of the circuit board is moved upward by the control means not shown to be in exact contact with the testing point of the lower surface of the circuit board.

그리고, 상기 튜너(100)의 VHF 대역 및 UHF 대역을 각각 선택하여 측정하고자 할 경우에는 대역 선택스위치(260)를 상기 각각의 대역에 해당되도록 조작하면 되고, 상기 튜너(100)가 I2C 전송방식의 PLL IC(10)를 구비하거나 3 와이어 전송방식의 PLL IC(10)를 구비한 경우라면 그에 대응하여 데이터전송 선택스위치(270)를 각각 조작하여 측정하면 된다.When the VHF band and the UHF band of the tuner 100 are to be selected and measured, the band selection switch 260 may be operated to correspond to the respective bands, and the tuner 100 transmits I 2 C. If the PLL IC 10 of the type is provided or the PLL IC 10 of the 3 wire transfer type is provided, the data transfer selection switch 270 may be operated in response to the measurement.

이때, 상기 튜너 측정용 지그(200)에 의하여 측정된 튜너(100)의 측정정보는 다수 개의 테스트 핀(240) 및 측정핀(250)을 통하여 외부의 측정기기의 모니터상에 데이터화되어 표출되어 사용자가 육안으로 그 불량유무 및 현 상태를 정확히 파악할 수 있게 되는 것이다.In this case, the measurement information of the tuner 100 measured by the tuner measuring jig 200 is data-expressed on a monitor of an external measuring device through a plurality of test pins 240 and measuring pins 250 to be displayed. With the naked eye, the defects and the current state can be accurately understood.

그런데, 상술한 바와 같은 튜너 측정용 지그(200)는, 튜너(100)의 회로기판에 접속된 다수 개의 단자핀(120) 및 PLL IC(10)의 클럭 단자(121), 데이터 단자(122), 인에이블 단자(123)가 플레이트(210)의 후측에 설치된 다수 개의 측정핀(250)에 접속될 수 있도록 튜너(100)의 섀시(110)를 가압할 때, 상기 다수 개의 단자핀(120)을 비롯한 클럭 단자(121) 및 데이터 단자(122)가 상기 측정핀(250)을 탄성 이동시키는 압출 스프링(290)의 압출력에 의하여 오히려 휘어지거나 끊어져 튜너(100)의 불량을 초래하는 커다란 단점이 있었다.However, the tuner measurement jig 200 described above includes a plurality of terminal pins 120 connected to the circuit board of the tuner 100, clock terminals 121, and data terminals 122 of the PLL IC 10. When the enable terminal 123 presses the chassis 110 of the tuner 100 so that the enable terminal 123 can be connected to the plurality of measurement pins 250 installed at the rear side of the plate 210, the plurality of terminal pins 120 A large disadvantage that the clock terminal 121 and the data terminal 122 are bent or broken by the extrusion force of the extrusion spring 290 that elastically moves the measuring pin 250, including the tuner 100, are caused. there was.

이에, 본 발명은 상기와 같은 제반 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로, 그 목적으로 하는 바는 플레이트 위의 후측에 설치된 측정부재의 내부에 뚫려진 끼움구멍에 장착되는 압출 스프링에 결합된 다수 개의 측정핀을 각각 내장하며 상기 튜너의 단자핀 및 데이터 단자, 클럭 단자, 인에이블 단자를 부드럽게 받아들일 수 있도록 내측방향으로 좁혀지는 테이퍼 구멍이 구비된 원통형상의 결합부재를 포함시켜 튜너의 원활한 측정을 기할 수 있는 튜너 측정용 지그를 제공함에 있다.Accordingly, the present invention was created to solve the above problems, the object of which is to measure a plurality of coupling coupled to the extrusion spring mounted in the fitting hole drilled in the inside of the measuring member installed on the rear side on the plate Built-in pins and cylindrical coupling members with tapered holes narrowed inward to receive the terminal pins, data terminals, clock terminals, and enable terminals of the tuner smoothly. To provide a tuner measurement jig.

제1도는 일반적인 튜너에 적용된 3 와이어 전송방식 및 I2C 전송방식에 따른 PLL IC를 나타내는 설명도.1 is an explanatory diagram showing a PLL IC according to a three-wire transmission method and an I 2 C transmission method applied to a general tuner.

제2도는 일반적인 튜너에 적용된 3 와이어 전송방식을 설명하기 위한 다이어그램.2 is a diagram for explaining a three-wire transmission method applied to a general tuner.

제3도는 일반적인 튜너에 적용된 I2C 전송방식을 설명하기 위한 다이어그램.3 is a diagram for explaining an I 2 C transmission scheme applied to a general tuner.

제4도는 일반적인 튜너를 나타내는 사시도.4 is a perspective view showing a general tuner.

제5도는 일반적인 튜너 측정용 지그를 나타내는 일부 분해를 포함한 사시도.5 is a perspective view including a partial disassembly showing a general tuner measurement jig.

제6도는 일반적인 튜너 측정용 지그를 나타내는 사용 상태도.6 is a use state diagram showing a general tuner measurement jig.

제7도는 본 발명에 따른 튜너 측정용 지그를 나태내는 일부 분해를 포함한 사시도.7 is a perspective view including a partial disassembly showing the jig for tuner measurement according to the present invention.

＜도면의 주요부분에 대한 부호의 설명＞<Description of the code | symbol about the principal part of drawing>

10 : PLL IC 100 : 튜너10: PLL IC 100: Tuner

110 : 섀시 120 : 단자핀110: chassis 120: terminal pin

130 : 접속잭 200 : 튜너 측정용 지그130: connection jack 200: jig for tuner measurement

210 : 플레이트 220 : 가이드 부재210: plate 220: guide member

121 : 클럭 단자 122 : 데이터 단자121: clock terminal 122: data terminal

123 : 인에이블 단자 230 : 고주파 공급단자123: enable terminal 230: high frequency supply terminal

240 : 테스트 핀 250 : 측정핀240: test pin 250: measuring pin

260 : 대역 선택스위치 270 : 데이터전송 선택스위치260: band selection switch 270: data transmission selection switch

280 : 측정부재 281 : 끼움구멍280: measuring member 281: fitting hole

290 : 압출 스프링 300 : 결합부재290: extrusion spring 300: coupling member

310 : 테이퍼 구멍310: tapered hole

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 플레이트 위의 후측에 설치되어 튜너의 단자핀 및 데이터 단자, 클럭 단자, 인에이블 단자에 접속되면서 신호교류를 이루어 외부의 측정기기에 측정정보를 공급할 수 있도록 측정부재의 내부에 뚫려진 끼움구멍에 장착되는 압출 스프링에 결합된 다수 개의 측정핀을 포함하여 이루어진 튜너 측정용 지그에 있어서, 상기 끼움구멍에 끼움 장착되어 상기 압출 스프링 및 측정핀을 내장하며 상기 튜너의 단자핀 및 데이터 단자, 클럭 단자, 인에이블 단자를 받아들일 수 있도록 내측방향으로 좁혀지는 테이퍼 구멍이 구비된 원통형상의 결합부재를 포함하여 이루어지는 것을 그 기술적 구성상의 기본 특징으로 한다.The present invention for achieving the above object is installed on the rear side of the plate is connected to the terminal pin and data terminal, clock terminal, enable terminal of the tuner while making a signal exchange to measure the measurement information can be supplied to the external measuring device A tuner measuring jig comprising a plurality of measuring pins coupled to an extrusion spring mounted in a fitting hole drilled in an interior of a member, the tuner measuring jig being fitted in the fitting hole to embed the extrusion spring and the measuring pin, The technical features include a cylindrical coupling member having a tapered hole that is narrowed inwardly to receive a terminal pin, a data terminal, a clock terminal, and an enable terminal.

이하, 본 발명에 따른 튜너 측정용 지그의 바람직한 실시예를 도 7을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a preferred embodiment of the tuner measuring jig according to the present invention will be described with reference to FIG. 7.

도 7은 본 발명에 따른 튜너 측정용 지그를 나타내는 일부 분해를 포함한 사시도이고, 종래 구성과 동일 작용을 하는 동일 구성에 대해서는 동일 명칭 및 동일 부호를 병기 사용하기로 한다.7 is a perspective view including a partial disassembly showing a tuner measurement jig according to the present invention, the same name and the same reference numerals will be used for the same configuration having the same operation as the conventional configuration.

본 발명에 따른 튜너 측정용 지그(200)는 도 7에 도시된 바와 같이, 대략 채널형상으로 성형된 플레이트(210)와, 상기 플레이트(210) 위의 일측에 부착되어 상기 튜너(100)의 섀시(110) 측면을 안내하는 대략 장방체 형상의 가이드 부재(220)와, 상기 플레이트(210) 위의 타측에 설치되어 상기 튜너(100)의 접속잭(130)에 고주파 신호를 공급하는 고주파 공급단자(230)와, 상기 플레이트(210)의 하면으로부터 상측방항으로 상하 이동되어 상기 튜너(100)의 회로기판에 직접 접속되어 대역별 및 PLL IC(10)의 I2C, 3 와이어 전송상태를 체크하는 다수 개의 테스트 핀(240)과, 상기 플레이트(210) 위의 후측에 설치되어 상기 튜너(100)의 단자핀(120)에 접속되면서 신호교류를 이루어 외부의 측정기기에 측정정보를 공급하는 다수 개의 측정핀(250)과, 상기 플레이트(210) 위의 후측에 설치되어 상기 튜너(100)의 대역별 상태를 체크할 수 있도록 VHF 및 UHF 측정대역을 스위칭 선택하는 대역 선택스위치(260)와, 상기 플레이트(210) 위의 후측에 설치되어 상기 튜너(100)의 I2C 및 3 와이어 전송상태를 각각 체크할 수 있도록 스위칭 선택하는 데이터전송 선택스위치(270)로 이루어진다.Tuner measurement jig 200 according to the present invention, as shown in Figure 7, the plate 210 is formed in a substantially channel shape, and attached to one side on the plate 210, the chassis of the tuner 100 High frequency supply terminal (110) for guiding the side of the substantially rectangular shape of the guide member 220 and the other side on the plate 210 and supplying a high frequency signal to the connection jack 130 of the tuner 100 ( 230 and up and down from the lower surface of the plate 210 and directly connected to the circuit board of the tuner 100 to check I 2 C and 3 wire transmission states of each band and the PLL IC 10. A plurality of test pins 240 and a plurality of test pins 240 installed on the rear side of the plate 210 and connected to the terminal pins 120 of the tuner 100 to perform signal exchange to supply measurement information to an external measuring device. Measuring pins 250 and installed on the rear side of the plate 210 And a band selection switch 260 for switching the VHF and UHF measurement bands so as to check the band-specific state of the tuner 100, and installed at the rear side of the plate 210. Data transmission selection switch 270 for switching selection to check the 2 C and 3 wire transmission status, respectively.

여기서, 상기 다수 개의 측정핀(250)은 상기 플레이트(210) 위의 후측에 부착된 대략 장방형의 측정부재(280) 내부에 뚫려진 다수 개의 끼움구멍(281)에 장착된 압출 스프링(290)에 의하여 탄성 이동되는 구조로 고정된다.Here, the plurality of measuring pins 250 are attached to the extrusion spring 290 mounted in the plurality of fitting holes 281 drilled inside the substantially rectangular measuring member 280 attached to the rear side of the plate 210. It is fixed to the structure that is elastically moved.

그리고, 상기 끼움구멍(281)에는 상기 압출 스프링(290) 및 측정핀(250)을 내장하며 상기 튜너(100)의 단자핀(120) 및 PLL IC(10)의 데이터 단자(122), 클럭단자(121), 인에이블 단자(123)를 받아들일 수 있도록 내측방향으로 좁혀지는 테이퍼 구멍(310)이 구비된 원통형상의 결합부재(300)가 끼움 장착되어 이루어진다.In addition, the fitting hole 281 includes the extrusion spring 290 and the measurement pin 250, and the terminal pin 120 of the tuner 100 and the data terminal 122 and the clock terminal of the PLL IC 10. Reference numeral 121 and a cylindrical coupling member 300 having a tapered hole 310 narrowed inward to receive the enable terminal 123 is fitted.

여기서, 상기 결합부재의 테이퍼 구멍(310)은 튜너(100)의 단자핀(120) 및 클럭 단자(121), 인에이블 단자(123), 데이터 단자(122)의 진입을 부드럽게 하는 작용을 함과 동시에 측정핀(250)과의 결합시 그 단자핀(120) 및 클럭단자(121), 인에이블 단자(123), 데이터 단자(122)를 지지하는 작용을 함께 병행하게 됨을 알 수 있다.Here, the tapered hole 310 of the coupling member serves to smoothly enter the terminal pin 120 and the clock terminal 121, the enable terminal 123, and the data terminal 122 of the tuner 100. At the same time, it can be seen that when the coupling with the measurement pin 250, the terminal pin 120, the clock terminal 121, the enable terminal 123, and the data terminal 122 to support the parallel operation together.

이상에서와 같이 본 발명에 따른 튜너 측정용 지그에 의하면, 플레이트 위의 후측에 설치된 측정부재의 내부에 뚫려진 끼움구멍에 장착되는 압출 스프링에 결합된 다수 개의 측정핀을 각각 내장하며 상기 튜너의 단자핀 및 데이터 단자, 클럭 단자, 인에이블 단자를 부드럽게 받아들일 수 있도록 내측방향으로 좁혀지는 테이퍼 구멍이 구비된 원통형상의 결합부재를 포함시켜, 측정핀에 단자핀 및 데이터 단자, 클럭 단자, 인에이블 단자가 휘어짐 없이 정확히 접속될 수 있도록 하므로써,튜너 측정시의 불량을 최소화할 수 있는 탁월한 효과가 있다.According to the tuner measuring jig according to the present invention as described above, the terminal of the tuner is built in each of the plurality of measuring pins coupled to the extrusion spring mounted in the fitting hole drilled in the interior of the measuring member installed on the rear side on the plate A cylindrical coupling member with a tapered hole that is narrowed inward to receive pins, data terminals, clock terminals, and enable terminals smoothly is included.The measuring pins include terminal pins, data terminals, clock terminals, and enable terminals. By allowing the to be connected correctly without bending, there is an excellent effect to minimize the defects in the tuner measurement.

Claims (1)

플레이트(210) 위의 후측에 설치되어 튜너(100)의 단자핀(120) 및 클럭 단자(121), 데이터 단자(122), 인에이블 단자(123)에 접속되면서 신호교류를 이루어 외부의 측정기기에 측정정보를 공급할 수 있도록 측정부재(280)의 내부에 뚫려진 끼움구멍(281)에 장착되는 압출 스프링(290)에 결합된 다수 개의 측정핀(250)을 포함하여 이루어진 튜너 측정용 지그(200)에 있어서, 상기 끼움구멍(281)에 끼움 장착되어 상기 압출 스프링(290) 및 측정핀(250)을 내장하며 상기 튜너(100)의 단자핀(120) 및 클럭 단자(121), 데이터 단자(122), 인에이블 단자(123)를 받아들일 수 있도록 내측방향으로 좁혀지는 테이퍼 구멍(310)이 구비된 원통형상의 결합부재(300)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 튜너 측정용 지그(200).It is installed on the rear side of the plate 210 and connected to the terminal pin 120 and the clock terminal 121, the data terminal 122, the enable terminal 123 of the tuner 100 to perform a signal exchange to the external measuring device Tuner measuring jig 200 including a plurality of measuring pins 250 coupled to the extrusion spring 290 mounted to the fitting hole 281 drilled inside the measuring member 280 to supply the measurement information to the 200 In the fitting hole 281 is fitted to the built-in extrusion spring 290 and the measuring pin 250, the terminal pin 120 and the clock terminal 121 of the tuner 100, the data terminal ( 122), a tuner measurement jig (200) comprising a cylindrical coupling member (300) having a tapered hole (310) narrowed inwardly to receive the enable terminal (123).
KR1019970070263A 1997-12-19 1997-12-19 Jig for tuner measurement KR100266776B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019970070263A KR100266776B1 (en) 1997-12-19 1997-12-19 Jig for tuner measurement

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019970070263A KR100266776B1 (en) 1997-12-19 1997-12-19 Jig for tuner measurement

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19990051028A KR19990051028A (en) 1999-07-05
KR100266776B1 true KR100266776B1 (en) 2000-09-15

Family

ID=19527760

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019970070263A KR100266776B1 (en) 1997-12-19 1997-12-19 Jig for tuner measurement

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100266776B1 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
KR19990051028A (en) 1999-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1134591B1 (en) A system for measuring a radio frequency signal in a wireless station and a wiring board switch
US6759842B2 (en) Interface adapter for automatic test systems
US20040023560A1 (en) Apparatus and method for a reversible emulator/target cable connector
US7830163B2 (en) Testing circuit board for testing devices under test
KR100266776B1 (en) Jig for tuner measurement
US5952839A (en) Method and apparatus for a pin-configurable integrated circuit tester board
KR100266775B1 (en) Zig for testing tuner
KR102451715B1 (en) PCB Function Inspection Apparatus For ATM
KR100266777B1 (en) Jig for tuner measurement
CN212341281U (en) Lead device for testing machine
KR200195157Y1 (en) Jig for tuner measurement
US6441632B1 (en) Spring probe contactor for testing PGA devices
KR100260848B1 (en) A jig for measuring tuner
KR19990037916U (en) Jig for tuner measurement
KR19990037917U (en) Jig for tuner measurement
KR100273001B1 (en) A jig for measuring tuner
KR100407148B1 (en) Method of assemble and test for automotive wiring harness
KR19990051016A (en) Jig for tuner measurement
CN212332252U (en) Automatic marking system
CN220231906U (en) Extension line circuit for testing mobile phone display screen
KR102503437B1 (en) Printed circuit board test connector
CN216525899U (en) Wire rod detection device
KR101411982B1 (en) Probe Card
US20050258846A1 (en) Test board for high-frequency system level test
KR102162813B1 (en) Flexible support type test device for flexible printed circuit board and test method using that

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20030630

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee