KR100252474B1 - 파워 검출 회로 - Google Patents

파워 검출 회로 Download PDF

Info

Publication number
KR100252474B1
KR100252474B1 KR1019960065919A KR19960065919A KR100252474B1 KR 100252474 B1 KR100252474 B1 KR 100252474B1 KR 1019960065919 A KR1019960065919 A KR 1019960065919A KR 19960065919 A KR19960065919 A KR 19960065919A KR 100252474 B1 KR100252474 B1 KR 100252474B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
power supply
voltage
node
level
power
Prior art date
Application number
KR1019960065919A
Other languages
English (en)
Other versions
KR19980047426A (ko
Inventor
권석천
Original Assignee
윤종용
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 윤종용, 삼성전자주식회사 filed Critical 윤종용
Priority to KR1019960065919A priority Critical patent/KR100252474B1/ko
Publication of KR19980047426A publication Critical patent/KR19980047426A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100252474B1 publication Critical patent/KR100252474B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

여기에는 파워업시 논리 회로의 초기 상태를 정의하기 위한 파워 검출 회로가 개시된다. 본 발명의 파워 검출 회로는 파워업시 내부 논리 회로들의 초기 상태를 설정하기 위한 파워 검출 회로가 제공된다. 상기 파워 검출 회로는 전원전압이 소정의 제11전압 레벨보다 낮을 때 로직 하이 레벨의 제1검출신호를 출력하고, 상기 전원전압이 상기 제1전압레벨에 도달할 때 로직 로우 레벨의 상기 제1검출신호를 출력하는 제1전압 검출부와; 상기 전원전압이 상기 제1전압레벨보다 높은 제2전압레벨보다 낮을 때 상기 로직 하이 레벨의 제2검출신호를 출력하고 상기 전원전압이 상기 제2전압레벨에 도달할 때 상기 로직 로우 레벨의 상기 제2검출신호를 출력하는 제2전압 검출부 및; 상기 제1 및 제2전압 검출부들로부터 각각 출력된 상기 제1 및 제2검출 신호들에 응답하여 상기 논리 회로의 초기 상태를 설정하기 위한 출력 신호를 출력하는 저장부를 포함한다.

Description

파워 검출 회로(a circuit of detecting power supply voltage)
본 발명은 파워 검출 회로에 관한 것으로서, 더 구체적으로는 전원전압이 일정 전압레벨로 파워업되는 것을 검출하여 파워업시 초기화 상태가 정의되어야하는 회로들의 초기 상태를 정의하기 위한 파워 검출 회로에 관한 것이다.
기억소자로써 널리 사용되는 반도체 메모리 장치는 데이터를 저장하는 다수의 메모리 셀들로 이루어진 셀 어레이와 이를 제어하기 위한 다수의 논리회로들로 구성되어 있다. 논리회로들 중에서 특히 플립플롭(flip-flop)과 같이 초기 상태가 정의되어야만 하는 회로들이 존재하며, 이와같은 논리회로들의 초기 상태를 정의하기 위한 회로로써 파워 검출 회로가 사용되고 있다. 상기 파워 검출 회로는 전원 전압의 레벨을 미리 예정된 일정한 전압레벨을 기준으로 이에 비해 높고 낮은 전압레벨을 감지하여 이에 따라 회로의 논리적 출력을 달리하는 회로이다.
도 1에는 종래 기술에 따른 파워 검출 회로를 보여주는 회로도가 도시되어 있다.
도 1를 참조하면, 종래기술에 따른 파워 검출 회로는 제1 내지 제6MOS 트랜지스터들(M1-M6)과 인버터(I1)로 구성되어 있다. 상기 제1MOS 트랜지스터(M1)는 전원전압(Vcc)이 인가도는 제1전원단자(1)와 노드 A사이에 채널이 연결되고, 상기 노드 A에 게이트 단자가 연결되어 있다. 상기 제1MOS 트랜지스터(M1)는 전원전압(Vcc)이 인가됨에 따라 상기 노드 A로 상기 전원 전압(Vcc)을 전달하는 로드로써 동작한다. 상기 제2MOS 트랜지스터(M2)는 상기 제1전원단자(1)와 노드 B사이에 채널이 연결되며, 접지전압(Vss)이 인가되는 제2전원단자(2)에 게이트 단자가 연결되어 있다. 그리고, 상기 제3MOS 트랜지스터(M3)는 상기 노드 A에 게이트 단자가 연결되며 상기 노드 B와 상기 제2전원단자(2) 사이에 채널이 연결되어 있다. 상기 제3MOS 트랜지스터(M3)는 상기 노드 A의 전압레벨이 미리 예정된 레벨로 증가함에 따라 턴-온되어, 상기 노드 B로부터 상기 제2전원단자(2)로 일정한 전류를 흘려주기 위한 것이다.
상기 제5 및 제6MOS 트랜지스터(M5, M6)은 상기 노드 B로부터 인가되는 신호에 따라 반전된 신호를 출력하는 반전수단으로써 동작한다. 상기 트랜지스터들(M5, M6)은 각 게이트 단자가 상기 노드 B에 연결되어 있고, 상기 제1전원단자(1)와 상기 제2전원단자(2) 사이에 각 채널이 직렬연결되어 있다. 상기 제5 및 제6MOS 트랜지스터(M5, M6)의 각 채널 사이에는 소정 신호를 전달하기 위한 노드 D가 전기적으로 연결되어 있다. 그리고, 상기 제4MOS 트랜지스터(M4)는 상기 노드 D에 게이트 단자가 연결되며, 상기 노드 B와 상기 제2전원단자(2) 사이에 채널이 연결되어 있다. 그리고, 상기 인버터(I1)는 상기 노드 D로 전달되는 소정신호를 입력받아 이에 반전된 출력신호(C)를 출력단자(5)로 전달한다.
도 2에는 종래 기술에 따른 출력파형을 보여주는 도면이 도시되어 있다. 도 1 내지 도 2를 참조하면서, 종래 기술에 따른 동작을 설명하면 다음과 같다.
전원전압(Vcc)이 초기 '0'볼트일 경우 도 1의 모든 트랜지스터들(M1-M6)은 오프 상태로 유지된다. 이후, 전원전압(Vcc)이 양의 값으로 점차 증가함에 따라, 도 2에 도시된 바와같이, 제1전압레벨(Va)에 도달하면 제2MOS 트랜지스터(M2)가 턴-온된다. 이에따라, 노드 B는 상기 제2MOS 트랜지스터(M2)를 통해 전원전압 레벨이 증가됨에 따라 이와 동일한 레벨로 챠지된다. 그리고, 상기 노드 B는, 상기 제2MOS 트랜지스터(M2)가 턴-온되었기 때문에, 전원전압(Vcc)이 계속 증가됨에 따라 전원전압(Vcc)이 미리 예정된 제2전압레벨(Vb)로 도달하기 이전까지 상기 전원전압(Vcc) 레벨을 따라 증가한다.
그리고, 노드 D는 제6MOS 트랜지스터(M6)를 통해 로우 레벨로 유지되며 이에 따라, 인버터(I1)를 통해 출력(C)는 전원전압(Vcc) 레벨을 따라 증가한다. 상기 전원전압(Vcc)이 상기 제2전압레벨(Vb)에 도달하게 되면, 노드 A에 게이트 단자가 연결된 제3MOS 트랜지스터(M3)가 턴-온된다. 이에따라, 상기 노드 B는 상기 전원전압(Vcc) 레벨을 따라가지 못하게 된다. 전원전압(Vcc)이 좀 더 증가하면 노드 B의 전압레벨은 더욱 낮아져 노드 D가 제5MOS 트랜지스터(M5)를 통해 전원전압(Vcc) 레벨로 챠지되며, 이로인해 상기 인버터(I1)의 출력(C)은 하이 레벨(high level)에서 로우 레벨(low level)로 천이된다.
통상적으로, 파워 검출 회로의 출력(C)으로 플립-플롭과 같이 초기 상태가 정의되야하는 회로들을 초기화하게 된다. 파워 검출 회로의 출력(C)이 하이 상태(high state)일 때 초기 상태가 정의되야만 하는 회로들이 초기화된다. 그리고, 상기 파워 검출 회로의 출력(C)이 로우 상태(low state)가 되면 초기 상태가 정의되야하는 회로들에 대한 초기화 동작이 종료된다.
그러나, 상술한 바와같은 종래 기술에 따른 파워 검출 회로의 출력(C)이 로우 레벨(low level)에서 하이 레벨(high level)로 천이하게 되는 미리 예정된 전압 레벨 근처에서 전원전압(Vcc)의 덤핑(dumping)이 발생하면 검출회로의 출력(C)이 전원전압(Vcc)의 덤핑에 따라 발진(oscillation)하게 된다. 이에따라, 파워 검출 회로의 출력에 의해 구동되는 초기 상태가 정의되어야만 하는 회로들이 불필요하게 동작하게 되는 문제점이 생겼다.
따라서 본 발명의 목적은 상술한 제반 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로서, 미리 예정된 전압레벨 근처에서 전원전압의 덤핑(dumping)이 발생할 경우 초기상태가 정의되야 하는 회로들에 대한 불필요한 동작을 방지할 수 있는 파워 검출회로를 제공하는데 있다.
도 1은 종래 기술에 따른 파워 검출 회로를 보여주는 회로도;
도 2는 종래 기술에 따른 출력파형을 보여주는 도면;
도 3은 본 발명에 따른 파워 검출 회로의 구성을 보여주는 블록도;
도 4는 본 발명에 따른 출력파형을 보여주는 도면.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
100 : 제1전압 검출부 110 : 제2전압 검출부
120 : 저장부
상술한 바와같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일특징에 의하면, 파워업시 내부 논리 회로들의 초기 상태를 설정하기 위한 파워 검출 회로가 제공된다. 상기 파워 검출 회로는 전원전압이 소정의 제1전압 레벨보다 낮을 때 로직 하이 레벨의 제1검출신호를 출력하고, 상기 전원전압이 상기 제1전압레벨 이상일 때 로직 로우 레벨의 상기 제1검출신호를 출력하는 제1전압 검출부와; 상기 전원전압이 상기 제1전압레벨보다 높은 제2전압레벨보다 낮을 때 상기 로직 하이 레벨의 제2검출신호를 출력하고 상기 전원전압이 상기 제2전압레벨 이상일 때 상기 로직 로우 레벨의 상기 제2검출신호를 출력하는 제2전압 검출부 및 ; 상기 제1 및 제2전압 검출부들로부터 각각 출력된 상기 제1 및 제2검출 신호들에 응답하여 상기 논리 회로의 초기 상태를 설정하기 위한 출력 신호를 출력하는 저장부를 포함한다.
이 실시예에 있어서, 상기 저장부는 상기 전원전압이 상기 제1전압레벨보다 낮을 때 상기 제1 및 제2검출신호들에 응답하여 상기 전원전압을 따르는 상기 출력 신호를 출력하고, 상기 전원전압이 상기 제2전압레벨보다 높을 때 상기 제1 및 제2검출신호들에 응답하여 상기 로직 로우 레벨의 상기 출력 신호를 출력한다.
이와 같은 회로에 의해서, 파워 검출 회로의 검출 전압 레벨 근처에서 전원전압의 덤핑이 발생하더라도 초기 상태가 정의되어야 하는 회로들(예를 들면, 논리 회로들)에 대한 불필요한 오동작을 방지할 수 있다.
이하 본 발명의 실시예에 따른 참조도면 도 3 내지 도 4에 의거하여 상세히 설명한다.
도 3 내지 도 4에 있어서, 도 1 내지 도 2에 도시된 구성요소와 동일한 기능을 갖는 구성요소에 대해서 동일한 참조번호를 병기한다.
도 3에는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 파워 검출 회로의 구성을 보여주는 블록도가 도시되어 있다.
도 3에 도시된 본 발명에 따른 파워 검출 회로는 제1전압 검출부(100), 제2전압 검출부(110), 그리고 저장부(120)로 구성되어 있다. 상기 제1전압 검출부(100)는 제1전압 레벨(또는 제1검출 레벨)을 가지며, 전원 전압(Vcc)이 상기 제1전압 레벨보다 낮은 지의 여부를 검출한다. 상기 전원 전압(Vcc)이 제1전압레벨보다 낮을 때, 상기 제1전압 검출부(100)는 전원 전압(Vcc)을 따라 변화하는 (또는 로직 하이 레벨의) 제1검출신호(PO1)를 출력한다. 상기 전원 전압(Vcc)이 제1전압 레벨에 도달할 때 (또는 높을 때) 로직 로우 레벨의 제1검출신호(PO1)를 출력한다.
상기 제1전압 검출부(100)는 PMOS 트랜지스터(M7), n채널 도전형의 디플리숀 MOS 트랜지스터(M8), 그리고 인버터(I2)로 이루어졌다. 여기서, 상기 PMOS 트랜지스터(M7)는 상기 제1전원단자(1)와 노드 1(N1) 사이에 채널이 연결되며, 상기 제2전원단자(2)에 게이트 단자가 연결되어 있다. 그리고, 상기 n채널 도전형의 디플리숀 MOS 트랜지스터(M8)는 노드 1(N1)과 상기 제2전원단자(2) 사이에 채널이 연결되며, 상기 제2전원단자(2)에 게이트 단자가 연결되어 있다. 상기 인버터(I2)는 상기 노드 1(N1)과 상기 제1검출 신호(PO1)가 출력되는 출력단자(3) 사이에 연결되어 있다.
상기 제2전압 검출부(110)는 제2전압 레벨(또는 제2검출 레벨)을 가지며, 전원 전압(Vcc)이 상기 제2전압 레벨보다 낮은 지의 여부를 검출한다. 상기 전원 전압(Vcc)이 제2전압레벨보다 낮을 때, 상기 제2전압 검출부(110)는 전원 전압(Vcc)을 따라 변화하는 (또는 로직 하이 레벨의) 제2검출신호(PO2)를 출력한다. 상기 전원 전압(Vcc)이 제2전압 레벨에 도달할 때(또는 높을 때) 로직 로우레벨의 제2검출신호(PO2)를 출력한다.
상기 제2전압 검출부(110)는 PMOS 트랜지스터(M9), n채널 도전형의 디플리숀 MOS 트랜지스터(M10), 그리고 인버터(I3)로 이루어졌다. 여기서, 상기 PMOS 트랜지스터(M9)는 상기 제1전원단자(1)와 상기 노드 2(N2) 사이에 채널이 연결되며, 상기 제2전원단자(2)에 게이트 단자가 연결되어 있다. 상기 n채널 도전형의 디플리숀 MOS 트랜지스터(M10)는 상기 노드 2(N2)와 상기 제2전원단자(2) 사이에 채널이 연결되며, 상기 제2전원단자(2)에 게이트 단자가 연결되어 있다. 상기 인버터(I3)는 상기 노드 2(N2)와 상기 제2검출 신호(PO2)가 전달되는 신호라인(4) 사이에 연결되어 있다. 그리고, 상기 제2전압레벨과 상기 제1전압레벨 간의 전압차는 파워-업 동작시 발생할 수 있는 파워 덤핑(노이즈) 레벨에 비해 크게 설정하여 준다.
상기 저장부(120)는 상기 제1 및 제2전압 검출부들(100, 110)로부터 각각 출력된 상기 제1 및 제2검출 신호들(PO1, PO2)에 응답하여 상기 논리 회로의 초기 상태를 설정하기 위한 출력 신호(PD0)를 출력한다. 상기 저장부(120)는 상기 전원전압(Vcc)이 상기 제1전압레벨보다 낮을 때 상기 제1 및 제2검출신호를 (PO1, PO2)에 응답하여 상기 전원전압(Vcc)을 따르는 상기 출력 신호(PD0)를 출력하고, 상기 전원전압(Vcc)이 상기 제2전압레벨보다 높을 때 상기 제1 및 제2검출신호들(PO1, PO2)에 응답하여 상기 로직 로우 레벨의 상기 출력 신호(PD0)를 출력한다.
상기 저장부(120)는 상기 제1검출신호(PO1)를 받아들이는 제1입력단자(3) 상기 제2검출신호(PO2)를 받아들이는 제2입력단자(4), 그리고 상기 출력신호(PD0)를 출력하는 출력단자(5)를 갖는 SR 플립플롭을 포함한다. 상기 SR 플립플롭은 인버터(I4)와 2개의 NOR 게이트들(G1, G2)로 구성된다. 상기 SR 플립플롭은 상기 전원전압(Vcc)이 상기 제1전압 레벨보다 낮을 때 생성되는 상기 제1 및 제2검출신호들(PO1,PO2)에 의해서 세트되고, 그 결과 상기 출력신호(PD0)는 상기 전원전압(Vcc)을 따라 변화한다. 그리고, 상기 SR 플립플롭은 상기 전원전압(Vcc)이 상기 제2전압 레벨에 도달할 때 생성되는 상기 제1 및 제2검출신호들(PO1, PO2)에 의해서 리세트되고, 그 결과 상기 출력신호(PD0)는 상기 로직 로우 레벨을 갖는다.
상기 저장부(120)에는, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 SR 플립플롭의 NOR 게이트(G2)의 출력에 연결된 출력 수단(123)을 더 포함하며, 상기 출력수단(123)은 직렬 연결된 2개의 인버터들(15, 16)로 구성된다.
도 4에는 본 발명에 따른 출력파형을 보여주는 도면이 도시되어 있다. 도 3 내지 도 4를 참조하면서, 본 발명에 따른 동작을 설명하면 다음과 같다.
전원전압(Vcc)이 0볼트인 초기 상태는 도 3에 도시된 모든 트랜지스터(M7-M10)은 턴-오프 상태로 유지된다. 상기 전원전압(Vcc)이 0볼트의 초기 상태에서, 도 4에 도시된 바와 같이, 점차 증가하면 제1 및 제2전압 검출부들(100, 110)의 PMOS 트랜지스터(M7, M9)이 턴-온되어 각각 노드 1(N1)과 노드 2(N2)를 챠지업하기 시작한다. 이때, 상기 제1 및 제2전압 검출부들(100, 110)의 n채널 도전형의 디플리숀 MOS 트랜지스터들(M8, M10)도 턴-온되어 상기 노드 1(N1)과 노드 2(N2)로부터 제2전원단자(2)로 일정한 전류를 흘려주게 된다. 이에따라, 상기 노드 1(N1)과 노드 2(N2)가 전원전압 레벨로 챠지업되지 못하여 상기 제1 및 제2전압 검출부들(100, 110)의 각 출력인 제1 및 제2검출신호(PO1, PO2)는 로직 하이 레벨로 출력된다. 이로인해, 저장부(120)의 SR 플립플롭 (122)의 출력 즉, NOR 게이트(G2)의 출력이 로직 하이 레벨로 세트된다. 즉, 출력신호(PD0)는 전원전압(Vcc) 레벨을 갖는다.
즉, 제1전압 검출부(100)의 출력단(3)에 일 단자가 연결된 제1NOR 게이트(G1)는 타 단자로 입력되는 신호레벨에 관계없이 논리 '로우'(또는 로직 로우 레벨)를 출력하게 된다. 그리고, 상기 제2전압 검출부(110)로부터 출력된 상기 제2검출 신호(PO2)를 입력받아 이의 위상을 반전시켜 출력하는 인버터(I4)에 일 단자가 연결된 제2NOR 게이트(G2)는 타 단자로 상기 제1NOR 게이트(G1)의 출력신호를 입력받아 논리 '로우'의 신호를 출력한다. 그리고, 상기 제2NOR 게이트(G2)의 출력신호를 일 단자로 그리고 타 단자로 논리 '하이' (또는 로직 하이 레벨)의 상기 제1검출 신호(PO1)를 입력받은 상기 제1NOR 게이트(G1)는 논리 '로우'의 신호를 출력한다. 이와같은 동작에 의해 상기 저장부(120)는 제2NOR 게이트(G2)의 출력단자를 통해 논리 '하이'를 출력하게 되며, 이에 따라 출력신호(PD0)는 전원전압(Vcc) 레벨이 된다. 이로써, 전원전압(Vcc) 레벨의 출력신호(PD0)에 의해 초기 상태의 정의가 필요한 모든 회로들이 초기화된다.
이어서, 전원전압(Vcc)이, 도 4에 도시된 바와같이, 상기 제1전압 검출부(100)에 의해 검출되는 미리 예정된 제1전압레벨(PDV1)로 파워업되면, 상기 제1전압 검출부(100)으로부터 출력되는 제1검출신호(PO1)는 논리 '로우'로 천이된다. 즉, 제1전압 검출부(100)의 PMOS 트랜지스터(M7)를 통해 노드 1(N1)에 챠지되는 레벨이 디플리숀 MOS 트랜지스터(M8)를 통해 빠져나가는 전류의 양에 비해 많기 때문에 상기 노드 1(N1)은 논리적으로 하이 상태가 된다. 그리고, 노드 1(N1)의 신호를 반전시켜 출력하는 인버터(I2)에 의해 상기 제1전압 검출부(100)의 출력은 논리 '하이'에서 논리 '로우'로 천이된다. 이에따라, 상기 저장부(120)의 초기화 동작이 완료된다. 이때, 전원전압(Vcc)의 덤핑(노이즈가)이 발생하더라도 상기 제1전압 검출부(100)의 출력만이 발진할 뿐 상기 저장부(120)의 출력신호(PD0)는 그대로 전원전압(Vcc) 레벨을 유지하게 된다.
상기 전원전압(Vcc)이 계속해서 증가하여 제2전압 검출부(110)에 의해 검출될 미리 예정된 제2전압레벨에 도달하게되면, 상기 제1전압 검출부(100)와 동일하게 동작하여, 상기 제2전압 검출부(110)의 출력(PO2)은 논리 '하이'에서 논리 '로우'로 천이된다. 이에따라, 상기 저장부(120)의 출력(PD0)이 전원전압(Vcc) 레벨에서 0볼트로 천이하여 초기 상태의 정의가 필요한 모든 회로들에 대한 초기화 동작이 완료된다. 여기서, 전원전압(Vcc)의 덤핑(노이즈가)이 발생하여 전원전압(Vcc)이 제1전압 검출부(100)의 제1전압레벨 이하로 감압되지만 않는다면, 단지 상기 제2전압 검출부(110)의 출력(PO2)만이 발진(oscillation)할 뿐 저장부(120)의 출력신호(PD0)는 그대로 0볼트로 유지된다. 이때, 상기 제1전압 검출부(100)의 제1전압레벨과 상기 제2전압 검출부(110)의 제2전압레벨 간의 전압차는 파워업 동작시 발생할 수 있는 파워 덤핑 레벨에 비해 크게 설정하여 준다.
이와같이, 파워 검출 회로는 파워업시 또는 디바이스 동작시 발생할 수 있는 순간적인 파워 덤핑에 의한 불필요한 동작을 제거할 수 있다.
상기한 바와같이, 서로 다른 전압 검출레벨을 갖는 검출부들과 이의 출력을 래치하기 위한 래치수단을 구비한 본 발명에 따른 파워 검출 회로는 파워업시 또는 디바이스 동작시 발생할 수 있는 순간적인 파워 덤핑에 의해 초기 상태가 정의되는 회로들의 불필요한 동작을 제거할 수 있다.

Claims (12)

  1. 파워업시 내부 논리 회로들의 초기 상태를 설정하기 위한 파워 검출 회로에 있엇; 전원전압(Vcc)이 소정의 제1전압 레벨보다 낮을 때 로직 하이 레벨의 제1검출신호(PO1)를 출력하고, 상기 전원전압(Vcc)이 상기 제1전압레벨 이상일 때 로직 로우 레벨의 상기 제1검출신호(Vcc)를 출력하는 제1전압 검출부(100)와; 상기 전원전압(Vcc)이 상기 제1전압레벨보다 높은 제2전압레벨보다 낮을 때 상기 로직 하이 레벨의 제2검출신호(PO2)를 출력하고 상기 전원전압(Vcc)이 상기 제2전압레벨 이상일 때 상기 로직 로우 레벨의 상기 제2검출신호(PO2)를 출력하는 제2전압 검출부(110) 및 ; 상기 제1 및 제2전압 검출부들(100, 110)로부터 각각 출력된 상기 제1 및 제2검출 신호들(PO1, PO2)에 응답하여 상기 논리 회로의 초기 상태를 설정하기 위한 출력 신호(PD0)를 출력하는 저장부(120)를 포함하며, 상기 저장부(120)는 상기 전원전압(Vcc)이 상기 제1전압레벨보다 낮을 때 상기 제1 및 제2검출신호들(PO1, PO2)에 응답하여 상기 전원전압(Vcc)을 따르는 상기 출력 신호(PD0)를 출력하고, 상기 전원전압(Vcc)이 상기 제2전압레벨보다 높을 때 상기 제1 및 제2검출신호들(PO1,PO2)에 응답하여 상기 로직 로우 레벨의 상기 출력 신호(PD0)를 출력하는 것을 특징으로 하는 파워 검출 회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1전압 검출부(100)는 상기 전원전압(Vcc)이 인가되는 제1전원단자(1)와 제1노드 1(N1) 사이에 연결되며, 상기 전원전압(Vcc)에 응답하여 상기 제1노드(N1)로 상기 전원전압(Vcc)을 전달하는 제1스위칭 수단(101)과; 상기 제1노드(N1)와 접지전압(Vss)이 인가되는 제2전원단자(2) 사이에 연결되며, 미리 예정된 소정비율로 상기 제1노드(N1)로부터 상기 제2전원단자(2)로 일정전류를 흘려주기 위한 제1로드 수단(102)과; 상기 제1노드(N1)에 연결되며, 상기 제1검출 신호(PO1)를 출력하는 제1반전수단(103)으로 구성된 파워 검출 회로.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제1스위칭 수단(101)은 상기 제1전원단자(1)와 상기 제1노드(N1)사이에 연결된 채널과 상기 제2전원단자(2)에 연결된 게이트 단자를 갖는 p채널 도전형의 MOS 트랜지스터(M7)로 구성된 파워 검출 회로.
  4. 제2항에 있어서, 상기 제1로드 수단(102)은 상기 제1노드(N1)와 상기 제2전원단자(2) 사이에 연결된 채널과 상기 제2전원단자(2)에 연결된 게이트 단자를 갖는 n채널 도전형의 디플리숀 MOS 트랜지스터(M8)로 구성된 파워 검출 회로.
  5. 제2항에 있어서, 상기 제1반전 수단(103)은 상기 제1노드(N1)와 상기 제1검출 신호(PO1)를 출력하기 위한 출력단자(3) 사이에 연결된 인버터(I2)로 구성된 파워 검출 회로.
  6. 제2항에 있어서, 상기 제2전압 검출부(110)는 상기 제1전원단자(1)와 제2노드(N2) 사이에 연결되며, 상기 전원전압(Vcc)에 응답하여 상기 제2노드(N2)로 상기 전원전압(Vcc)을 전달하기 위한 제2스위칭 수단(111)과; 상기 제2노드(N2)와 상기 제2전원단자(2) 사이에 연결되며, 미리 예정된 소정비율로 상기 제2노드(N2)로부터 상기 제2전원단자(2)로 일정저류를 흘려주기 위한 제2로드 수단(112)과; 상기 제2노드(N2)에 연결되며, 상기 제2검출신호(PO2)를 출력하는 제2반전수단(113)으로 구성된 파워 검출 회로.
  7. 제6항에 있어서, 상기 제2스위칭 수단(111)은 상기 제1전원단자(1)와 상기 제2노드(N2) 사이에 연결된 채널 및, 상기 제2전원단자(2)에 연결된 게이트 단자를 갖는 p채널 도전형의 MOS 트랜지스터(M9)로 구성된 파워 검출 회로.
  8. 제6항에 있어서, 상기 제2로드 수단(112)은 상기 제2노드(N2)와 상기 제2전원단자(2) 사이에 연결된 채널과 상기 제2전원단자(2)에 연결된 게이트 단자를 갖는 n채널 도전형의 디플리숀 MOS 트랜지스터(M10)로 구성된 파워 검출 회로.
  9. 제1항에 있어서, 상기 제2전압레벨과 상기 제1전압레벨 간의 전압차는 전원전압(Vcc)의 파워-업 동작시 발생할 수 있는 전원전압(파업) 덤핑 레벨에 보다 크게 설정하여 주는 파워 검출 회로.
  10. 제1항에 있어서, 상기 저장부(120)는 상기 제1검출신호(PO1)를 받아들이는 제1입력단자(3), 상기 제2검출신호(PO2)를 받아들이는 제2입력단자(4), 그리고 상기 출력신호(PD0)를 출력하는 출력단자(5)를 갖는 SR 플립플롭(122)으로 구성되며, 상기 SR 플립플롭(122)은 상기 전원전압(Vcc)이 상기 제1전압 레벨보다 낮을 때 생성되는 상기 제1 및 제2검출신호들(PO1, PO2)에 의해서 세트되고, 그 결과 상기 출력신호(PD0)는 상기 전원전압(Vcc)을 따라 변화하며; 그리고 상기 SR 플립플롭(122)은 상기 전원전압(Vcc)이 상기 제2전압 레벨에 도달할 때 생성되는 상기 제1 및 제2검출신호들(PO1, PO2)에 의해서 리세트되고, 그 결과 상기 출력신호(PD0)는 상기 로직 로우 레벨을 갖는 파워 검출 회로.
  11. 제10항에 있어서, 상기 SR 플립플롭(122)은 인버터(INV4) 및 2개의 NOR 게이트들(G1, G2)로 구성된 파워 검출 회로.
  12. 제11항에 있어서, 상기 저장부(120)는 상기 SR 플립플롭(122)의 NOR 게이트(G2)의 출력에 연결된 출력 수단(123)을 부가적으로 포함하며, 상기 출력수단(123)은 직렬 연결된 2개의 인버터들(15,16)로 구성되는 파워 검출 회로.
KR1019960065919A 1996-12-14 1996-12-14 파워 검출 회로 KR100252474B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960065919A KR100252474B1 (ko) 1996-12-14 1996-12-14 파워 검출 회로

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960065919A KR100252474B1 (ko) 1996-12-14 1996-12-14 파워 검출 회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19980047426A KR19980047426A (ko) 1998-09-15
KR100252474B1 true KR100252474B1 (ko) 2000-05-01

Family

ID=19487950

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960065919A KR100252474B1 (ko) 1996-12-14 1996-12-14 파워 검출 회로

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100252474B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11132010B1 (en) 2020-06-18 2021-09-28 Apple Inc. Power down detection for non-destructive isolation signal generation

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100605574B1 (ko) * 2003-12-30 2006-07-28 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자의 파워업 회로

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR900018787A (ko) * 1989-05-31 1990-12-22 정용문 전원 고장 검출회로

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR900018787A (ko) * 1989-05-31 1990-12-22 정용문 전원 고장 검출회로

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11132010B1 (en) 2020-06-18 2021-09-28 Apple Inc. Power down detection for non-destructive isolation signal generation
US11579642B2 (en) 2020-06-18 2023-02-14 Apple Inc. Power down detection for non-destructive isolation signal generation

Also Published As

Publication number Publication date
KR19980047426A (ko) 1998-09-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5184031A (en) Semiconductor integrated circuit
US5612642A (en) Power-on reset circuit with hysteresis
US6002292A (en) Method and apparatus to control noise in a dynamic circuit
EP0399240A2 (en) Semiconductor memory device
US20050140405A1 (en) Power-up circuit semiconductor memory device
US20060097804A1 (en) Internal voltage generator for semiconductor memory device
EP0461788A2 (en) Semiconductor integrated circuit device
US6943585B2 (en) Input buffer circuit
US5821787A (en) Power-on reset circuit with well-defined reassertion voltage
US6081460A (en) Integrated circuit devices having voltage level responsive mode-selection circuits therein and methods of operating same
US6744298B2 (en) Semiconductor device
IE54336B1 (en) Volgate level detecting circuitry
US6532178B2 (en) Reducing level shifter standby power consumption
US20050141287A1 (en) Power-up circuit in semiconductor memory device
JP3133673B2 (ja) 基板電圧発生回路
KR101969147B1 (ko) 집적 회로
KR100252474B1 (ko) 파워 검출 회로
US6307412B1 (en) Clock monitor circuit and synchronous semiconductor memory device utilizing the circuit
KR100475891B1 (ko) 파워온리셋회로
US6282456B1 (en) Digital audio processor
US5815464A (en) Address transition detection circuit
US6650152B2 (en) Intermediate voltage control circuit having reduced power consumption
KR100265594B1 (ko) 파워-업회로
US6335650B1 (en) Method and apparatus for adjusting time delays in circuits with multiple operating supply voltages
KR0154192B1 (ko) 반도체 소자의 저전압 감지회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20111229

Year of fee payment: 13

LAPS Lapse due to unpaid annual fee