KR100244450B1 - Substrate manufacturing method of liquid crystal display device and substrate - Google Patents

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Abstract

본 발명은 제1기판 위에 스위칭소자를 구성하고, 상기 스위칭소자를 덮도록 무절연막(123)을 일정두께로 증착하고, 이 무기절연막(123) 위에 스위칭소자를 덮도록 BM(110)를 형성하고, 이 BM 등이 형성된 제1기판 위에 단차를 타고넘는 레벨링 특성이 양호한 유기절연막(156) 등을 도포하고, 이 스위칭소자의 드레인전극부 위에 덮여있는 무기절연막(123)과 유기절연막(156)의 일부를 에칭 등의 방법으로 제거하여 콘택홀(131)을 형성하고, 이 콘택홀(131)을 통하여 드레인전극(115b)과 연결되는 화소전극(140)을 형성하고, 이 화소전극(140)이 형성된 제1기판 위에 배향막(100)을 형성하는 공정을 포함하도록하여 BM 주위에서 빛이 누설되는 문제를 해결함으로써 액정표시장치의 개구율과 콘트라스트를 향상할 수 있도록 하고 또한, BM 재료 자체에서 나오는 색소 등의 오염물질이 액정을 오염시키지 않도록 하여 선명한 화질의 액정표시장치를 제공할 수 있도록 하였다.In the present invention, a switching element is formed on a first substrate, a non-insulating layer 123 is deposited to a predetermined thickness to cover the switching element, a BM 110 is formed to cover the switching element on the inorganic insulating layer 123 An inorganic insulating film 123 and an organic insulating film 156, which are covered on the drain electrode portion of the switching element, are formed on the first substrate on which the BM and the like are formed, A pixel electrode 140 connected to the drain electrode 115b is formed through the contact hole 131. The pixel electrode 140 is connected to the drain electrode 115b through the contact hole 131, And a step of forming an alignment layer (100) on the first substrate so as to solve the problem of light leakage around the BM, thereby improving the aperture ratio and contrast of the liquid crystal display device, Contamination of So as not to be contaminated with the liquid crystal was to provide a liquid crystal display of the picture clarity.

Description

액정표시장치의 기판의 제조방법 및 그 제조방법에 의하여 제조되는 기판의 구조A method of manufacturing a substrate of a liquid crystal display and a structure of a substrate manufactured by the method

본 발명의 목적은 종래의 액정표시장치보다 셀갭(Cell gap)이 더 균일한 액정표시장치 및 그 액정표시장치의 제조방법을 제공하는데 있다.An object of the present invention is to provide a liquid crystal display device having a cell gap more uniform than a conventional liquid crystal display device and a method of manufacturing the liquid crystal display device.

본 발명의 또 다른 목적은 BM 자체에서 나오는 불순물에 의해 액정이 오염되지 않도록하는 구조로 된 액정표시장치 및 그 액정표시장치의 제조방법을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a liquid crystal display device having a structure for preventing liquid crystal from being contaminated by impurities from BM itself and a method for manufacturing the liquid crystal display device.

본 발명의 또 다른 목적은 BM 주위에서 러빙불량에 의해 빛 누설이 발생하는 것을 방지하는 액정표시장치 및 그 액정표시장치의 제조방법을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a liquid crystal display device and a method of manufacturing the liquid crystal display device that prevent light leakage due to rubbing failure around the BM.

본 발명의 또 다른 목적은 개구율이 종래의 액정표시장치보다 큰 액정표시장치 및 그 액정표시장치의 제조방법을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a liquid crystal display device having an aperture ratio larger than that of a conventional liquid crystal display device and a method of manufacturing the liquid crystal display device.

본 발명은 액정을 구동하거나 제어하기 위해 스위칭소자가 내장된 액정표시장치에 관한 것이다. 특히 박막트랜지스터(TFT)를 스위칭소자로 사용하는 액정표시장치에 있어서 TFT 및 화소전극이 형성된 기판(제1기판)의 제조방법 및 그 제조방법에 의하여 제조되는 제1기판의 구조에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a liquid crystal display device incorporating a switching element for driving or controlling liquid crystal. (First substrate) on which a TFT and a pixel electrode are formed in a liquid crystal display device using a thin film transistor (TFT) as a switching element, and a structure of a first substrate manufactured by the manufacturing method.

하나의 예를들어 일반적인 액정표시장치의 구성을 도 1에 의하여 설명한다.One example of the structure of a general liquid crystal display will be described with reference to FIG.

상기 도 1의 액정표시장치는 매트릭스상으로 복수의 화소가 배치된 제1기판(3)을 갖고 있다. 제1기판(3)의 액정표시부의 각 화소전극(4)은 인접하는 게이트버스라인(17)과 인접하는 데이타버스라인(15)이 교차하여 만드는 부분에 배치된다. 상기 게이트버스라인(17)은 수평으로 형성되어 있고 상기 게이트버스라인(17)에서 분기한 게이트전극(17a)이 형성되어 있다. 상기 데이타버스라인(15)은 종으로 형성되어 있고 상기 데이터버스라인(15)에서 분기한 소스전극(15a)이 형성되어 있다. 상기 소스전극(15a)과 게이트전극(17a)이 교차하는 부분에 TFT(8)가 형성되어 있고 드레인 전극(15b)은 화소전극(4)과 전기적으로 접촉되도록 형성되어 있다. 제1기판(3)의 TFT(8)와 게이트버스라인(17)과 데이타버스라인(15) 위에는 BM이 형성되어 있고 BM 이 형성된 제1기판(3)의 전체면에 배향막이 형성되어 있다.The liquid crystal display of FIG. 1 has a first substrate 3 on which a plurality of pixels are arranged in a matrix. Each pixel electrode 4 of the liquid crystal display part of the first substrate 3 is disposed at a portion where the adjacent gate bus line 17 and the adjacent data bus line 15 are crossed. The gate bus line 17 is formed horizontally and a gate electrode 17a branched from the gate bus line 17 is formed. The data bus line 15 is formed as a seed and a source electrode 15a branched from the data bus line 15 is formed. A TFT 8 is formed at a portion where the source electrode 15a and the gate electrode 17a intersect and a drain electrode 15b is formed to be in electrical contact with the pixel electrode 4. [ A BM is formed on the TFT 8 of the first substrate 3, the gate bus line 17 and the data bus line 15, and an alignment film is formed on the entire surface of the first substrate 3 on which the BM is formed.

BM과 배향막은 도면이 복잡하여지는 것을 피하기 위하여 도 1의 제1기판(3)에는 나타내지않았다.The BM and the orientation film are not shown on the first substrate 3 in Fig. 1 in order to avoid complicating the drawing.

한편 칼라필터층(37) 등이 형성된 제2기판(2)이 제1기판(3)과 대향하여 형성되어 있다.On the other hand, the second substrate 2 on which the color filter layer 37 and the like are formed is formed opposite to the first substrate 3.

제1기판(3)과 제2기판(2) 사이에는 액정(40)이 체워져있다.A liquid crystal 40 is sandwiched between the first substrate 3 and the second substrate 2.

제1기판(3)과 제2기판(2)의 외측면에는 각각 펀광판(1,1a)이 형성되어 있다.On the outer surfaces of the first substrate 3 and the second substrate 2, a funnel plate 1, 1a is formed.

상기와 같은 여러 구성요소가 결합되어 액정표시장치가 완성된다.The above-described various components are combined to complete a liquid crystal display device.

상기와 같은 여러 구성요소 중 본 발명의 목적과 관련이 있는 종래의 제1기판(3 )의 구성을 도 1의 II-II단면을 나타내는 도 2a 및 도 2b를 참고하여 상세히 설명한다.The structure of a conventional first substrate 3, which is related to the object of the present invention, will be described in detail with reference to FIGS. 2A and 2B showing a cross-sectional view taken along line II-II of FIG.

종래의 제1기판(3)을 나타내는 도 2a의 구성은 이하와 같다.2A showing the conventional first substrate 3 is as follows.

투명기판(11) 위에 게이트버스라인에서 분기하는 게이트전극(17a)이 형성되어 있다. 상기 게이트전극(17)층 위에는 절연성을 향상시키고 힐락(hillock)을 방지하기 위하여 양극산화막(35)이 형성되어 있다. 상기 게이트전극(17a)이 형성된 투명기판( 11) 위에 SiNx, SiOx 등의 무기절연막으로 된 게이트절연막(23)이 형성되어 있다.On the transparent substrate 11, a gate electrode 17a which branches off from the gate bus line is formed. An anodic oxide film 35 is formed on the gate electrode 17 in order to improve insulation and prevent hillock. A gate insulating film 23 made of an inorganic insulating film such as SiNx or SiOx is formed on the transparent substrate 11 on which the gate electrode 17a is formed.

상기 게이트전극(17a) 부분의 게이트절연막(23) 위에 비정질실리콘(이하 a-Si라칭한다)등으로된 반도체층(22)이 형성되어 있다. 상기 반도체층(22) 위에 오믹접촉층(25)이 형성되어 있다. 상기 오믹접촉층(25)과 접촉되도록 데이타버스라인(15)에서 분기하는 소스전극(15a)과 드레인전극(15b)이 소정의 간격을 두고 형성되어 있다.A semiconductor layer 22 made of amorphous silicon (hereinafter referred to as a-Si) or the like is formed on the gate insulating film 23 of the gate electrode 17a. An ohmic contact layer 25 is formed on the semiconductor layer 22. A source electrode 15a and a drain electrode 15b which are branched from the data bus line 15 to be in contact with the ohmic contact layer 25 are formed with a predetermined gap therebetween.

상기 소스/드레인전극(15a, 15b)을 덮도록 SiNx 등의 무기절연막으로 된 보호막(26)이 형성되어 있다. 상기 드레인전극 부분의 콘택홀(31)을 통하여 드레인전극(15b)과 접촉되는 화소전극(4)이 보호막(26) 위에 형성되어 있다. 상기 화소전극(4)이 형성된 기판 위에 BM(110)이 소정의 패턴으로 형성되어 있다. 상기 BM(110)은 도 3의 패턴모양으로 TFT(8)와 게이트버스라인(17) 및 데이타버스라인(15) 등을 덮도록 형성된다. 상기 BM(110)이 형성된 기판 위에 폴리이미드막 등으로 된 배항막(100)이 형성되어 있다. 도 2a의 번호(40)은 액정이다.A protective film 26 made of an inorganic insulating film such as SiNx is formed to cover the source / drain electrodes 15a and 15b. A pixel electrode 4 is formed on the protective film 26 to contact the drain electrode 15b through the contact hole 31 of the drain electrode portion. The BM 110 is formed in a predetermined pattern on the substrate on which the pixel electrode 4 is formed. The BM 110 is formed so as to cover the TFT 8, the gate bus line 17, the data bus line 15, and the like in the pattern of FIG. On the substrate on which the BM 110 is formed, a migration membrane 100 made of a polyimide membrane or the like is formed. Numeral 40 in Fig. 2A is a liquid crystal.

또 다른 종래의 제1기판(3)을나타내는 도 2b의 구성은 도 2a와 거의 비슷한 구성을 하고 있지만 배향막(100)의 러빙불량을 해결하기 위하여 배향막(100)을 먼저 형성하고 배향막을 러빙한 후에 BM(110)을 형성한 점이 도 2a의 구성과 다른점이다.The structure of FIG. 2B showing another conventional first substrate 3 is similar to that of FIG. 2A. However, in order to solve the rubbing defect of the alignment film 100, the alignment film 100 is first formed and the alignment film is rubbed 2A in that the BM 110 is formed.

도 2b의 번호는 도 2a와 동일번호를 적용하였다.The numbers in FIG. 2B are the same as those in FIG. 2A.

그런데 상기와 같은 종래의 제조방법들로 제1기판(3)을 제작하여 구성한 액정표시장치는 다음과 같은 여러 가지 문제를 야기시킨다.However, the liquid crystal display device constructed by fabricating the first substrate 3 with the above-described conventional manufacturing methods causes various problems as follows.

첫째, 도 2a와 같은 제1기판(3)의 구조에서는 화소전극(4)과 BM(110)을 형성한 후 배향막(100)을 형성할 때 화소전극(4) 부분보다 BM(110) 부분이 더 높아 배향막(100)이 이 BM의 단차를 그대로 타고넘어가게 되는데, 이 배향막의 단차지는 부분(133)에서 러빙불량이 발생하고, 이 러빙불량이 발생한 영역을 따라 빛의 누설이 일어나 액정표시장치의 표시품질 및 콘트라스트의 저하를 일으킨다.2A, when the alignment layer 100 is formed after the pixel electrode 4 and the BM 110 are formed, the portion of the BM 110 may be positioned closer to the pixel electrode 4 than the pixel electrode 4, The rubbing failure occurs in the stepped portion 133 of the alignment film, light leakage occurs along the region where the rubbing failure occurs, and the liquid crystal display device Resulting in deterioration of display quality and contrast.

이해를 돕기 위하여 상기 도 2a의 구조를 참고하여 배향막을 형성하는 과정과 러빙에 대하여 기술한다.For the sake of understanding, the process of forming the alignment layer and the rubbing will be described with reference to the structure of FIG. 2A.

도 2a의 배향막의 형성은 도 4의 V-V선의 절단면을 나타낸 도 5에 표시된 배향막 인쇄롤러(150)에 폴리이미드(polyimide), 폴리아미드(polyamide), 또는 실리콘 산화물(SiO2) 등으로 된 배향막(100)을 소정의 두께로 인쇄한 후 BM(110)이 형성되어 있는 제1기판(3)에 전사시킨다. BM의 두께는 일반적으로 1~2.5㎛로 형성된다. 제1기판(3)에 전사된 배향막(100)을 경화시킨 후 액정이 일정한 방향으로 배향되게하기 위하여 러빙공정을 진행한다. 러빙공정은 도 6에서처럼 러빙드럼(131)에 러빙포(1 30)을 부착하고 B방향으로 일정한 압력으로 누르는 동시에 A방향으로 회전하는 러빙드럼(131)을 C방향으로 이동시키면 배항막(100)의 표면에 일정한 방향의 직선홈이 만들어진다.The alignment film of FIG. 2A is formed by forming an alignment film (not shown) of polyimide, polyamide, or silicon oxide (SiO 2 ) on the alignment film printing roller 150 shown in FIG. 5, 100 are printed to a predetermined thickness and then transferred to the first substrate 3 on which the BM 110 is formed. The thickness of the BM is generally 1 to 2.5 占 퐉. After the alignment film 100 transferred to the first substrate 3 is cured, a rubbing process is performed to align the liquid crystal in a predetermined direction. 6, the rubbing drum 130 is attached to the rubbing drum 131, the rubbing drum 130 is pressed at a constant pressure in the B direction, and the rubbing drum 131 rotating in the A direction is moved in the C direction, A straight groove in a certain direction is formed on the surface of the substrate.

도 4의 D1(도 6의 133 부분)은 BM(110)이 단차져 있기 때문에 배향막(100)이 인쇄되더라도 러빙이 되지 않는 영역으로써 액정표시장치를 완성하였을 때 빛이 노설되는 영역이 된다.In FIG. 4, D1 (the portion 133 in FIG. 6) is a region where the BM 110 is not rubbed even when the alignment film 100 is printed, and becomes a region where light is emitted when the liquid crystal display device is completed.

상기 BM(110)이 형성된 기판 위에 배향막(100)을 도포하고 러빙하였을 때 BM(110)의 패턴 주위에서 빛이 누설되는 영역은 도 4에서 잘나타내 주고 있다.A region where light is leaked around the pattern of the BM 110 when the alignment film 100 is applied on the substrate on which the BM 110 is formed and rubbed is well shown in FIG.

BM의 패턴의 주위를 따라 빛이 누설되는 상태를 보여주고 있는 도 4는 BM의 두께가 1~2.5㎛로 형성되어있을 때 D1의 폭은 1~2㎛정도로 형성된다.FIG. 4 shows a state in which light leaks along the periphery of the BM pattern. When the thickness of the BM is 1 to 2.5 占 퐉, the width of D1 is about 1 to 2 占 퐉.

이상의 설명으로 배향막이 단차지는 부분에서 빛의 누설이 일어나 액정표시장치의 표시품질 및 콘트라스트의 저하를 일으키는 것에 대하여 충분히 이해하였을 것이다.As described above, it has been understood that the leakage of light occurs at the stepped portion of the alignment film, and the display quality and the contrast of the liquid crystal display device are lowered.

물론 액정표시장치의 배향막으로 폴리비닐신나메이트(PVCN : poly Vinyl Cinnamate), 폴리비닐플루우오르신니메이트(PVCN-F), 폴리실록산계열 또는 폴리비닐클로라이드(PVC) 등을 사용하여 광배향함으로써 단차진 부분에서 빛 누설이 일어나지 않도록 할 수 있으나 이하에 설명하는 액정표시장치의 셀갭(Cell gap)의 불균일성은 여전히 해결해야 할 문제점으로 남게된다.Of course, by orienting the alignment film of the liquid crystal display device by using polyvinyl cinnamate (PVCN), polyvinyl fluoride nordinimate (PVCN-F), polysiloxane series or polyvinyl chloride (PVC) It is possible to prevent the light leakage from occurring in the liquid crystal display device, but the unevenness of the cell gap of the liquid crystal display device described below still remains as a problem to be solved.

둘째, 기판에 형성된 막이 평탄하지 못한 종래의 도 2a, 도 2b와 같은 제1기 판(3)의 구조에서는 BM(110)의 단차등으로 인하여 액정표시장치의 셀갭(Cell gap)을 균일하게 형성할 수 없기 때문에 액정주입 불량으로 인한 액정표시장치의 표시품질 및 수율을 떨어뜨린다.Second, in the structure of the first base plate 3 as shown in FIG. 2A and FIG. 2B in which the film formed on the substrate is not flat, the cell gap of the liquid crystal display device is uniformly formed The display quality and yield of the liquid crystal display device due to poor liquid crystal injection are reduced.

특히, 상기 BM은 일반적으로 고감도 네거티브(negative)형 감광 수지에 유기안료를 분산한 것으로써 도전성이 없는 안료분산형 흑색재료이고, 260℃까지는 내열성이 있는 재료를 사용하고 있는데, 종래의 도 2b와 같은 구조에서는 BM(110)을 코팅하고 패터닝할 때 생기는 BM의 불순물과 BM의 색소 등에 의하여 액정이 오염되기 때문에 액정표시장치의 표시품질을 저하시킨다.Particularly, the BM is generally a pigment-dispersed black material having no conductivity due to the dispersion of organic pigments in a high-sensitivity negative photosensitive resin, and a material having heat resistance up to 260 DEG C is used. In the same structure, since the liquid crystal is contaminated by impurities of BM and coloring matter of BM generated when the BM 110 is coated and patterned, the display quality of the liquid crystal display device is deteriorated.

셋째, 종래의 액정표시장치의 제1기판의 구조에서는 소자를 구성하는 막의 단차나 배향막의 러빙불량, 또는 무기졀연막의 높은 비유전율로인하여 화소전극을 이타버스라인 등에 중첩하여 형성할 수 없다.Thirdly, in the structure of the first substrate of the conventional liquid crystal display device, the pixel electrodes can not be formed by superimposing the pixel electrodes on the ITA bus line or the like due to the step difference of the film constituting the element, the rubbing defect of the orientation film, or the high dielectric constant of the inorganic film.

만일 종래의 제1기판 구조에서 데이터버스라인 등에 화소전극이 무기절연막을 사이에 두고 중첩되도록하면 이 중첩되는 부분에서 데이터버스라인의 전압과 화소전극의 전압이 서로 왜곡현상을 일으키기 때문에 화면의 깜박임이 발생하고, 러빙불량으로인한 빛 누설이 발생한다.If the pixel electrodes are overlapped on the data bus line or the like in the conventional first substrate structure with the inorganic insulating film interposed therebetween, the voltage of the data bus line and the voltage of the pixel electrode in the overlapped portion cause a distortion phenomenon, And light leakage due to rubbing failure occurs.

따라서, 빛의 누설이나 화면의 깜박임이 발생하지 않는 화소전극을 형성하기 위하여 종래에는 데이타버스라인 등의 단차지는 부분에서 일정폭만큼 떨어지는 위치에 화소전극이 형성되도록 하였다.Therefore, in order to form a pixel electrode which does not cause leakage of light or flicker of a screen, conventionally, a pixel electrode is formed at a position spaced a predetermined distance from a step of a data bus line or the like.

이것은 액정표시장치의 개구율을 그만큼 작아지게하는 원인이 되는데, 이에 대한 단면구조를 하나의 예를들어 도 7에 나타냈다.This causes a decrease in the aperture ratio of the liquid crystal display device. The cross-sectional structure thereof is shown in Fig. 7 as one example.

상기 도 7은 종래의 액정표시장치의 평면도인 도 3의 VII-VII선을 따라 절단한 단면도이다.7 is a cross-sectional view taken along line VII-VII of FIG. 3, which is a plan view of a conventional liquid crystal display device.

도 7의 (13)은 기판이고 (115)는 데이타버스라인, (126)은 게이트절연막, (140)은 화소전극, (100)은 배향막, (110)은 BM이다.In FIG. 7, reference numeral 13 denotes a substrate, 115 denotes a data bus line, 126 denotes a gate insulating film, 140 denotes a pixel electrode, 100 denotes an alignment film, and 110 denotes a BM.

도 7에서 단차진 데이타버스라인(115)과 SiNx, SiOx 등의 무기절연막으로 된 게이트졀연막(123)이 단차진 데이타버스라인(115)을 덮고있고, 데이타버스라인( 115)에서 D2 만큼 떨어진 위치에 화소전극(140)이 형성되어 있는 것을 잘 보여주고 있다. D1은 차후의 모듈링 공정에서 제1기판과 제2기판의 합착오차 등을 고려하여 BM(110)의 폭을 넓게 형성한 영역이다.7, the monolithic data bus line 115 and the gate insulating film 123 made of an inorganic insulating film such as SiNx or SiOx cover the stepped data bus line 115 and are spaced apart from the data bus line 115 by D2 And the pixel electrode 140 is formed at a position where the pixel electrode 140 is formed. D1 is a region in which the width of the BM 110 is wide in consideration of the adhesion error between the first substrate and the second substrate in the subsequent modulating process.

따라서, D1과 D2를 합한 D3만큼의 개구율 손실이 발생한다는 것은 쉽게 이해할 수 있을 것이다.Therefore, it can be easily understood that an aperture ratio loss as much as D3 is obtained by adding D1 and D2.

이미 앞에서 상세히 언급한 것처럼 BM 등이 제1기판 위에 형성된 종래의 액정표시장치의 제조방법은 BM의 단차로 인하여 배향막이 도포되지않은 부분이 생기거나 배향막의 러빙불량이 발생하여 BM 주위에서 빛 누설이 생긴다.As described above in detail, a conventional method of manufacturing a liquid crystal display device in which a BM or the like is formed on a first substrate has a problem that a portion where an alignment film is not applied due to a step difference in the BM occurs and a rubbing defect occurs in the alignment film, It happens.

또, BM 주위에서 빛 누설이 생기는 것을 방지하기 위하여 도 2b와 같이 배향막을 먼저 형성하고 러빙한 후 BM을 형성할 수 있지만 BM의 불순물로 인하여 액정이 오염되는 문제가 있고, BM 단차로인한 셀갭(cell gap)불량은 여전히 해결해야할 과제로 남아 있다.In order to prevent light leakage around the BM, an alignment film may be formed first and rubbed to form a BM. However, there is a problem that a liquid crystal is contaminated by BM impurities, and a cell gap cell gap defects still remain to be solved.

또한, 막의 단차와 무기절연막의 높은 비유전율 때문에 액정표시장치의 개구율향상에는 한계가 있었다.In addition, there has been a limit to the improvement of the aperture ratio of the liquid crystal display device due to the step difference of the film and the high relative dielectric constant of the inorganic insulating film.

본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기위하여 BM이 형성된 기판 표면을 완전히 덮으면서 표면을 평탄화할 수 있는 막(이하 평탄화막이라한다)에 착안하였다.In order to solve the above problems, the present invention has focused on a film (hereinafter referred to as a flattening film) capable of flattening a surface while completely covering the surface of the BM formed substrate.

BM이 형성된 기판 위에 평탄화막을 도포하고, 상기 평탄화막 위에 배향막을 도포하고, 러빙을 실시하면 배향막에 단차진 부분이 없기 때문에 러빙 불량이 발생하지 않게 된다.When the flattening film is applied on the substrate on which the BM is formed, and the alignment film is coated on the flattening film and the rubbing is performed, no rubbing defect occurs because there is no step portion in the alignment film.

또, BM을 평탄화막이 완전히 덮고 있기 때문에 BM의 불순물로인한 액정의 오염을 억제할 수 있다.Further, since the planarizing film completely covers the BM, the contamination of the liquid crystal due to impurities of the BM can be suppressed.

또한, 비유전율이 무기절연막보다 높은 평탄화막을 사용함으로써 화소전극이 데이타버스라인 등과 겹치도록 형성하여도 절연성이 유지되므로 개구율을 극대화할 수 있다.Furthermore, even if the pixel electrode is formed so as to overlap with the data bus line or the like by using the planarizing film having a dielectric constant higher than that of the inorganic insulating film, the insulating property is maintained, thereby maximizing the aperture ratio.

상기 평탄화막을 적용한 본 발명의 제조방법을 간략히 요약하면 다음과 같다. 투명기판 위에 스위칭소자를 구성하고, 상기 스위칭소자를 덮도록 무기절연막을 일정두께로 증착하고, 상기 무기절연막 위에 상기 스위칭소자를 덮도록 BM를 형성하고, 상기 BM이 형성된 제1기판(3) 위에 단차를 타고넘는 레벨링 특성이 양호한 평탄화막을 도포하고, 상기 스위칭소자의 드레인전극부 위에 덮여있는 무기절연막과 평탄화막의 일부를 에칭 등의 방법으로 제거하여 콘택홀을 형성하고, 상기 콘택홀을 통하여 드레인전극과 연결되는 화소전극을 형성하고, 상기 화소전극이 형성된 제1기판(3) 위에 배향막을 형성하는 공정으로 되어 있다.The manufacturing method of the present invention using the planarizing film will be briefly summarized as follows. Forming a switching element on the transparent substrate; depositing an inorganic insulating film to a predetermined thickness to cover the switching element; forming BM on the inorganic insulating film so as to cover the switching element; A planarization film having a good leveling characteristic over the step difference is applied, and an inorganic insulating film and a part of the planarization film covered on the drain electrode portion of the switching element are removed by etching or the like to form a contact hole, And forming an alignment film on the first substrate 3 on which the pixel electrodes are formed.

상기 평탄화막으로는 벤조싸이클로부텐(benzocyclobutene : BCB) 등의 유기절연막 또는 SOG(Spin On Glass)를 사용하는데 이에 대한 특징 및 본 발명의 제조방법을 실시예에서 상세히 설명한다.As the planarizing film, an organic insulating film such as benzocyclobutene (BCB) or SOG (Spin On Glass) is used. The characteristics and the manufacturing method of the present invention will be described in detail in embodiments.

제1도는 일반적인 액정표시장치의 기본구조 사시도이다.FIG. 1 is a perspective view of a basic structure of a general liquid crystal display device.

제2도는 종래의 액정표시장치의 제1기판의 단면도이다.2 is a cross-sectional view of a first substrate of a conventional liquid crystal display device.

제3도는 종래의 블랙매트릭스의 패턴 형태를 나타내는 평면도이다.FIG. 3 is a plan view showing a pattern shape of a conventional black matrix. FIG.

제4도는 종래의 액정표시장치에서 블랙매트릭스 패턴 주위를 따라 빛이 누설되는 형태를 보여주눈 도면이다.FIG. 4 is a perspective view showing a mode in which light is leaked around the black matrix pattern in the conventional liquid crystal display device.

제5도는 일반적인 배향막의 도포과정을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 5 is a view for explaining a general alignment film application process.

제6도은 일반적인 배향막의 러빙공정을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 6 is a view for explaining a general rubbing process of an orientation film.

제7도는 제3도의 VII-VII선을 따라 절단한 단면도이다.7 is a cross-sectional view taken along line VII-VII of FIG. 3;

제8도은 본 발명에 의한 액정표시장치의 제1기판을 제조하는 공정도이다.FIG. 8 is a process diagram for manufacturing a first substrate of a liquid crystal display device according to the present invention.

제9도는 본 발명의 액정표시장치의 평면도이다.FIG. 9 is a plan view of the liquid crystal display device of the present invention. FIG.

제10도는 제9도의 X-X선을 따라 절단한 단면도이다.10 is a cross-sectional view taken along the line X-X of FIG. 9;

제11도는 본 발명의 액정표시장치의 제1기판의 또 다른 예를 나타낸 단면도이다.11 is a sectional view showing still another example of the first substrate of the liquid crystal display device of the present invention.

본 발명의 액정표시장치의 제1기판(3)의 제조방법은 도 8의 공정단면도에 의하여 설명한다.A method of manufacturing the first substrate 3 of the liquid crystal display device of the present invention will be described with reference to the process sectional view of FIG.

[실시예 1][Example 1]

투명기판(11) 위에 A1(알루미늄)금속막 등을 증착하고, 상기 금속막 위에 포토레지스트를 도포하고, 상기 포토레지스트를 소정의 패턴이 되도록 현상하고, 상기 현상된 패턴에 따라 금속막을 웨트(wet)에칭 등의 방법으로 에칭하여 게이트버스라인에서 분기하는 게이트전극(117a)을 형성한다. 게이트전극(117a)은 단차를 개선하기 위하여 테이퍼진 형태로 형성하는 것이 바람직하다.(도 8a)An aluminum (Al) metal film or the like is deposited on the transparent substrate 11, a photoresist is coated on the metal film, the photoresist is developed to have a predetermined pattern, and the metal film is wet ) Etching or the like to form the gate electrode 117a which branches off from the gate bus line. It is preferable that the gate electrode 117a is formed in a tapered shape in order to improve the step (Fig. 8A)

이어서 절연성을 향상시키고 힐락을 방지하기 위하여 게이트전극(117a) 등에 양극산화막(135)을 형성한다(도 8b).Next, an anodic oxide film 135 is formed on the gate electrode 117a or the like to improve insulation and prevent hillock (FIG. 8B).

상기 공정에 이어서 게이트절연막(123)이 되는 SiNx, SiOx 등의 무기절연막과 반도체층(122)이 되는 a-Si층과 오믹접촉층(125)이 되는 n+형 a-Si층을 연속 증착하여 적층한다(도 8c).An a-Si layer serving as the semiconductor layer 122 and an n + a-Si layer serving as the ohmic contact layer 125 are successively deposited on the inorganic insulating film such as SiNx and SiOx to be the gate insulating film 123, (FIG. 8C).

이어서 n+형 a-Si층 위에 포토레지스트를 도포하고 상기 포토레지스트를 소정의 패턴이 되도록 현상하고 상기 현상된 패턴에 따라 n+형 a-Si층과 a-Si층을 동시에 에칭하여 오믹접촉층(125)과 반도체층(122)을 형상한다(도 8d).Subsequently, a photoresist is applied on the n + -type a-Si layer, the photoresist is developed to have a predetermined pattern, and the n + -type a-Si layer and the a-Si layer are simultaneously etched according to the developed pattern, The semiconductor layer 125 and the semiconductor layer 122 are formed (FIG. 8D).

이어서 Cr 또는 Al금속막 등을 기판의 전체면에 스퍼터링법 등으로 증착하고, 상기 금속막 위에 포토레지스트를 도포하고, 상기 포토레지스트를 소정의 패턴이 되도록 현상하고, 상기 현상된 패턴에 따라 금속막을 에칭하여 데이타버스라인에서 분기하는 소스전극(115a)와 드레인전극(115b)을 형성한 후, 상기 에칭에 의하여 형성된 소스전극(115a) 및 드레인전극(115b)이 에칭마스크가 되도록하여 오믹접촉층(125)이 양쪽으로 분리되도록 오믹접촉층(125)의 중앙부분을 에칭한다(도 8e).Then, a Cr or Al metal film or the like is deposited on the entire surface of the substrate by sputtering or the like, a photoresist is coated on the metal film, the photoresist is developed to have a predetermined pattern, The source electrode 115a and the drain electrode 115b which are branched from the data bus line are etched to form the source electrode 115a and the drain electrode 115b formed by the etching as an etching mask to form an ohmic contact layer The ohmic contact layer 125 is etched at the central portion thereof so as to separate the ohmic contact layer 125 and the ohmic contact layer 125 (FIG. 8E).

이어서 보호막(126)이 되는 SiNx, SiOx, 등의 무기절연막을 200~500Å정도의 두께로 증착한다(도 8f).Next, an inorganic insulating film such as SiNx, SiOx, or the like to be the protective film 126 is deposited to a thickness of about 200-500 Å (FIG. 8F).

상기 보호막(126)을 형성하지 않을 수도 있으나 이후의 공정에서 형성되는 BM이 반도체층에 영향을 미쳐 TFT특성이 불안정하게 되는 것을 방지하기 위하여 형성하였다.Although the protective layer 126 may not be formed, BM formed in the subsequent process is formed to prevent the TFT characteristics from becoming unstable due to the influence of the semiconductor layer.

이어서 고감도 네거티브(negative)형 감광 수지에 유기안료를 분산한 것으로써 도전성이 없는 안료분산형 흑색재료이고, 260℃까지는 내열성이 있는 검은색 폴리이미드수지 등으로 된 블랙레진을 1㎛이상의 두께로 상기 보호막(126) 위에 도포하고, 상기 BM막 위에 포토레지스트를 도포하고, 상기 포토레지스트를 소정의 패턴이 되도록 현상하고, 상기 현상된 패턴에 따라 상기 블랙레진을 에칭하여 BM(110)을 형성한다(도 8g).Then, a black pigment made of a pigment-dispersed black material having no conductivity by dispersing an organic pigment in a high-sensitivity negative photosensitive resin and a black polyimide resin having heat resistance up to 260 DEG C, The photoresist is coated on the BM film, the photoresist is developed to have a predetermined pattern, and the black resin is etched according to the developed pattern to form the BM 110 8g).

이어서 BM이 형성된 제1기판(3) 위에 유기절연막(156)으로써 Si결합 구조를 가지는 BCB, PFCB(Pefluorocyclobutane), F첨가바레인, 테프론(Teflon), 싸이토프, 불화폴리아라에테르 등과, SOG(Spin On Glass) 등에서 한 종류를 선택하여 도포한다. (도 8h). 상기 BM 위에 형성된 평탄화막인 유기절연막(156)은 단차를 타고 넘는 레벨링 특성이 양호하여 BM막의 단차를 평탄화할 수 있다.Subsequently, a BCB, a PFCB (Pefluorocyclobutane), an F-doped Bahrain, a Teflon, a Cytop, a fluorinated polyarylether and the like having an Si bonding structure and an SOG On Glass) or the like. (Fig. 8H). The organic insulating film 156, which is a planarizing film formed on the BM, has a leveling characteristic exceeding a level difference, so that the level difference of the BM film can be flattened.

상기 막의 평탄화로 얻어지는 이점을 이후의 공정에서 진행하는 배향막의 러빙불량을 방지할 수 있기 때문에 빛의 누설을 방지할 수 있고, 막이 평탄화된 만큼 셀갭을 균일하게 유지하여 액정의 주입을 균일하게 할 수 있기 때문에 화질이 향상된다.It is possible to prevent the rubbing failure of the alignment film which proceeds in the subsequent steps from the advantages obtained by the planarization of the film, so that light leakage can be prevented and the cell gap can be maintained uniformly as the film is flattened, The image quality is improved.

또 유기절연막은 무기절연막에 비하여 낮은 비유전율을 갖고있으므로 유기절연막 위에 형성되는 화소전극을 데이타버스라인 등에 중첩하여 화소전극을 극대화하여 형성하더라도 화소전극과 데이타버스라인 등이 중첩되는 부분에서 전압왜곡현상이 발생하지 않기 때문에 액정표시장치의 화면의 깜박임이 발생하지 않는다.In addition, since the organic insulating film has a lower relative dielectric constant than the inorganic insulating film, even if the pixel electrode formed on the organic insulating film is superimposed on the data bus line or the like to maximize the pixel electrode, a voltage distortion phenomenon The flicker of the screen of the liquid crystal display device does not occur.

BM 위에 유기절연막을 형상한 제1기판에서 데이타버스라인 등에 화소전극이 중첩되어 화소전극이 종래 보다 크게 형성된 구조를 도 9, 도 10에 의하여 설명한다.A structure in which a pixel electrode is overlapped on a data bus line or the like in a first substrate having an organic insulating film formed on a BM and a pixel electrode is formed larger than a conventional one will be described with reference to Figs.

도 9는 BM(110)을 데이타버스라인(115) 등과 정합성을 갖도록 형성하고 화소전극(140)을 데이타버스라인(115)에 중첩하여 개구율을 크게한 구조의 액정표시장치의 평면도를 나타내는 한 예이다.9 shows an example of a top view of a liquid crystal display device having a structure in which BM 110 is formed to have consistency with data bus line 115 or the like and pixel electrode 140 is superimposed on data bus line 115 to increase the aperture ratio to be.

도 9와 같은 구조에서 데이타버스라인(115)가 불투명한 경우에는 BM(110)을 형성하지 않을 수도 있지만 본 발명에서는 빛 누설을 확실하가 방지하기 위하여 데이타버스라인(115) 등에 정합성을 갖도록 BM(110)을 형성한다. 도 9a는 I자형 체널을 갖는 TFT(8)를 구비한 제1기판의 평면도이고, 도 9b는 L자형 체널을 갖는 TFT(8)를 구비한 제1기판의 평면도로써 상기 TFT(8)의 형태에 관계없이 본 발명을 적용할 수 있다.9, the BM 110 may not be formed when the data bus line 115 is opaque. However, in the present invention, in order to reliably prevent light leakage, a BM (110). 9A is a plan view of a first substrate provided with a TFT 8 having an I-shaped channel, and Fig. 9B is a plan view of a first substrate provided with a TFT 8 having an L- The present invention can be applied regardless of the above.

보다 더 상세한 설명을 위하여 도 9의 X-X 단면을 나타내는 도 10을 참고하면 데이타버스라인(115)과 BM(110)이 정합성을 갖도록 형성되어 있는데 이것은 화소전극(140)을 데이타버스라인에 중첩되게 형성할 수 있고 또한 화소전극으로 기능하는 영역에서 배향막의 러빙불량이발생하지 않기 때문에 가능하다.9, the data bus line 115 and the BM 110 are formed to be in conformity with each other. In this case, the pixel electrode 140 is formed to overlap the data bus line And the rubbing failure of the alignment film does not occur in the region functioning as the pixel electrode.

도 10에서 설명되지 않은(13)은 투명기판, (100)은 배향막, (126)은 게이트절연막, (156)은 유기절연막이다.13, reference numeral 13 denotes a transparent substrate, reference numeral 100 denotes an alignment film, reference numeral 126 denotes a gate insulating film, and reference numeral 156 denotes an organic insulating film.

이해를 돕기 위하여 본 발명의 구조를 나타내는 도 10과 종래의 구조를 나타내는 도 7을 비교하여 설명한다.10 for illustrating the structure of the present invention and FIG. 7 for illustrating the conventional structure will be described in order to facilitate understanding.

여기서, 도 10과 도 7의 데이타버스라인(115)는 같은 폭으로 형성되었다고 가정한다.Here, it is assumed that the data bus lines 115 of FIGS. 10 and 7 are formed to have the same width.

도 10과 도 7을 비교하면 도 10에서 화소전극(140)이 도 7의 화소전극(140) 보다 D3만큼 더 커짐을 알 수 있다.10 and FIG. 7, it can be seen that the pixel electrode 140 is larger by D3 than the pixel electrode 140 of FIG. 7 in FIG.

도 10의 d 는 BM에 의하여 빛이 차단되기 때문에 화소전극이 형성되어 있어도 화소의 개구영역에는 포함되지 않으며, 이와 같이 화소전극(140)을 BM(110)위에 중첩하여 형성함으로써 개구율을 극대화할 수 있다.10D, since the light is blocked by the BM, even if the pixel electrode is formed, the pixel electrode 140 is not included in the opening region of the pixel. By thus forming the pixel electrode 140 on the BM 110, the aperture ratio can be maximized have.

상기 데이타버스라인 이외에 TFT, 게이트버스라인 등과 BM이 정합성을 갖도록 형성할 수 있으며, 이에 대한 상세한 공정설명은 생략한다.In addition to the data bus lines, TFTs, gate bus lines, and BMs may be formed to have conformity, and a detailed process description thereof will be omitted.

이상의 설명에서 알 수 있 듯이 BM 위에 평탄화막인 유기절연막 등을 형성함으로써 액정표시장치의 개구율을 크게 할 수 있다.As can be seen from the above description, the organic insulating film or the like, which is a planarization film, is formed on the BM to increase the aperture ratio of the liquid crystal display device.

또한, 상기 BM 위에 유기절연막을 형상함으로써 얻을 수 있는 또다른 이점은 BM이 유기절연막으로 완전히 차단되어 BM 재료 자체에서 나오는 색소 등의 오염물질이 액정과 접촉하지 않기 때문에 얼룩이 없는 깨끗한 화질의 액정표시장치를 제공할 수 있다.Another advantage obtained by forming the organic insulating film on the BM is that since the BM is completely blocked by the organic insulating film and contaminants such as pigment coming from the BM material itself do not come into contact with the liquid crystal, Can be provided.

이어서 유기절연막(156) 위에 포토레지스트를 도포하고, 상기 포토레지스트를 소정의 패턴이 되도록 현상하고, 상기 현상된 패턴에 따라 유기절연막(156)을 에칭하여 콘택홀(131)을 형성한후 유기절연막(156) 위에 ITO(Indium Tin Oxide)을 증착하고, 사진식각 공정으로 상기 ITO막을 패터닝하여 화소전극(140)을 형성한다(도 8i).Subsequently, a photoresist is coated on the organic insulating film 156, the photoresist is developed to have a predetermined pattern, and the organic insulating film 156 is etched according to the developed pattern to form a contact hole 131, ITO (Indium Tin Oxide) is deposited on the gate insulating layer 156 and the ITO layer is patterned by a photolithography process to form a pixel electrode 140 (FIG. 8I).

상기 화소전극(140)을 형성한 후에 폴리이미드(polyimide), 폴리아미드(poly amide), 또는 실리콘 산화물(SiO2) 등에서 하나를 선택하여 배향막(100)을 형성한 후 러빙하여 골(microwave)을 형성한다(도 8j). 또 다른 방법으로 배향막에 골(microw ave)을 형성하는 방법은 폴리비닐신나메이트(PVCN : poly Vinyl Cinnamate), 폴리비닐 플루우오르신니메이트(FVCN-F), 폴리실록산계열 또는 폴리비닐클로라이드( PVC) 등을 사용하여 광배향한다.After the pixel electrode 140 is formed, one of polyimide, poly amide, or silicon oxide (SiO 2 ) is selected to form an alignment layer 100, and then rubbed to form a microwave. (Fig. 8J). Another method for forming a microwave in an alignment layer is polyvinyl cinnamate (PVCN), polyvinylfluorouxiniminate (FVCN-F), polysiloxane-based or polyvinyl chloride (PVC) And so on.

이상 본 발명의 실시예는 IOP(ITO on Passivation)구조를 갖는 제1기판(3) 예로 들어 설명하였지만 도 11 등과 같이 화소전극(140)을 형성할 수도 있다.Although the embodiment of the present invention has been described as an example of the first substrate 3 having an IOP (on-passivation) structure, the pixel electrode 140 may be formed as shown in FIG.

BM을 제1기판(3)에 형성하는 액정표시장치의 제조방법에 있어서 스위칭 소자가 형성된 기판 위에 SiNx 등의 무기절연막을 일정두께로 증착한 후 스위칭 소자 등을 덮도록 BM을 형성하고 상기 블랙매트릭스 위에 benzocyclobutene(BCB) 등의 유기절연막을 코팅한 후 배향막을 형성함으로써 도 4와 같이 BM 주위에서 빛이 누설되는 문제를 근본적으로 해결하여 종래의 액정표시장치보다 콘트라스트를 향상하여 선명한 화질을 제공한다. 그리고, 개구율을 향상할 수 있어 종래보다 밝은 화면을 제공할 수 있다. 더욱이 액정표시장치의 기판표면이 평탄화된 만큼 셀갭을 균일하게 유지하여 액정의 주입불량으로 인한 문제점을 해결할 수 있다.In the method of manufacturing a liquid crystal display device in which a BM is formed on a first substrate 3, an inorganic insulating film such as SiNx is deposited on a substrate having a switching element formed thereon to a predetermined thickness, a BM is formed to cover the switching elements, An organic insulating film such as benzocyclobutene (BCB) is coated thereon and an alignment film is formed thereon. As a result, as shown in FIG. 4, the problem of light leakage around the BM is fundamentally solved to provide a clearer image quality by improving contrast than conventional liquid crystal display devices. Further, the aperture ratio can be improved, and a bright screen can be provided. Furthermore, since the surface of the substrate of the liquid crystal display device is planarized, the cell gap can be uniformly maintained, thereby solving the problem caused by poor liquid crystal injection.

또 BM이 유기절연막으로 완전히 차단되어 BM 재료 자체에서 나오는 색소 등의 오염물질이 액정과 접촉하지 않기 때문에 얼룩이 없는 깨끗한 화질의 액정표시장치를 제공할 수 있다.In addition, since the BM is completely blocked by the organic insulating film, contaminants such as pigments coming from the BM material itself do not come into contact with the liquid crystal, so that a clean image quality liquid crystal display device free from unevenness can be provided.

Claims (18)

투명기판 위에 데이타버스라인 및 게이트버스라인을 형상하는 공정과, 상기 투명기판 위에 상기 데이타버스라인 및 게이트버스라인에 연결되게 스위칭 소자를 형성하는 공정과, 싱기 스위칭소자를 덮도록 블랙매트릭스를 형성하는 공정과, 상기 데이타버스라인, 게이트버스라인 및 블랙매트릭스를 포함하여 덮는 평탄화막을 투명기판 위에 형성하는 공정과, 상기 평탄화막 위에 배향막을 형성하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 제1기판의 제조방법Forming a data bus line and a gate bus line on a transparent substrate; forming a switching element on the transparent substrate so as to be connected to the data bus line and the gate bus line; forming a black matrix A step of forming a planarization film covering the data bus line, the gate bus line and the black matrix on the transparent substrate, and a step of forming an alignment film on the planarization film, 청구항 1에 있어서; 상기 블랙매트릭스가 상기 게이트버스라인, 데이타버스라인도 덮이도록 형성되는 것을 특징으로 하는 제1기판의 제조방법.The method of claim 1, Wherein the black matrix is formed so as to cover the gate bus line and the data bus line. 청구항 1에 있어서; 상기 블랙매트릭스를 형성하기 전에 상기 스위칭 소자가 덮이도록 무기절연막을 도포하는 공정이 더 추가되는 것을 특징으로 하는 제1기판의 제조방법.The method of claim 1, Further comprising the step of applying an inorganic insulating film so as to cover the switching element before forming the black matrix. 청구항 3에 있어서; 상기 무기절연막은 SiNx, SiOx 중 선택되는 어느 하나인 것을 특징으로 하는 제1기판의 제조방법.The method of claim 3, Wherein the inorganic insulating film is any one selected from the group consisting of SiNx and SiOx. 청구항 1 내지 청구항 4중 어느 한 항에 있어서; 상기 배향막을 형성하기 전에 상기 평탄화막 위에 화소전극을 형성하는 공정이 더 추가되는 것을 특징으로 하는 제1기판의 제조방법.The method according to any one of claims 1 to 4, Wherein a step of forming a pixel electrode on the planarizing film before forming the alignment film is further added. 청구항 5에 있어서; 상기 화소전극이 상기 데이타버스라인과 게이트버스라인에 선택적으로 중첩되어 형성되는 것을 특징으로 하는 제1기판의 제조방법.The method of claim 5, further comprising: Wherein the pixel electrode is formed by selectively overlapping the data bus line and the gate bus line. 청구항 1 내지 청구항 4중에 어느 한 항에 있어서; 상기 평탄화막은 유기절연막인 것을 특징으로 하는 제1기판의 제조방법.The method according to any one of claims 1 to 4, Wherein the planarizing film is an organic insulating film. 청구항 7에 있어서; 상기 유기절연막은 BCB인 것을 특징으로 하는 제1기판의 제조방법.The method of claim 7, Wherein the organic insulating film is a BCB. 청구항 1 내지 청구항 4중 어느 한 항에 있어서; 상기 평탄화막은 SOG인 것을 특징으로 하는 제1기판의 제조방법.The method according to any one of claims 1 to 4, Wherein the planarization film is SOG. 투명기판과, 투명기판 위에 형성된 데이타버스라인 및 게이트버스라인에 연결된 스위칭 소자와, 상기 스위칭소자를 덮도록 블랙매트릭스와, 상기 블랙매트릭스, 상기 데이타버스라인, 상기 게이트버스라인, 상기 투명기판을 덮는 평탄화막과, 상기 평탄화막 위에 형성된 배향막을 포함하는 것을 특징으로 하는 제1기판.A switching element connected to a data bus line and a gate bus line formed on a transparent substrate; a black matrix for covering the switching element; and a black matrix for covering the black matrix, the data bus line, the gate bus line, A planarizing film, and an alignment film formed on the planarizing film. 청구항 10에 있어서; 상기 블랙매트릭스가 게이트버스라인, 데이타버스라인도 덮이는 것을 특징으로 하는 제1기판.The method of claim 10, Wherein said black matrix also covers gate bus lines and data bus lines. 청구항 10에 있어서; 상기 스위칭 소자와 블랙매트릭스를 사이에 무기절연막이 더 추가되는 것을 특징으로 하는 제1기판.The method of claim 10, Wherein an inorganic insulating film is further added between the switching element and the black matrix. 청구항 12에 있어서; 상기 무기절연막은 SiNx, SiOx 중 선택되는 어느 하나인 것을 특징으로 하는 제1기판.The method of claim 12, Wherein the inorganic insulating film is any one selected from the group consisting of SiNx and SiOx. 청구항 10 내지 청구항 13중 어느 한 항에 있어서; 상기 평탄화막과 배향막 사이에 화소전극이 더 추가되는 것을 특징으로 하는 제1기판.The method according to any one of claims 10 to 13, And a pixel electrode is further added between the planarization film and the alignment film. 청구항 14에 있어서; 상기 화소전극이 상기 데이타버스라인과 게이트버스라인에 선택적으로 중첩되어 형성되는 것을 특징으로 하는 제1기판.15. The method of claim 14, Wherein the pixel electrode is formed by selectively overlapping the data bus line and the gate bus line. 청구항 10 내지 청구항 13중 어느 한 항에 있어서; 상기 평탄화막은 유기절연막인 것을 특징으로 하는 제1기판.The method according to any one of claims 10 to 13, Wherein the planarizing film is an organic insulating film. 청구항 16에 있어서; 상기 유기절연막은 BCB인 것을 특징으로 하는 제1기판.The system of claim 16, Wherein the organic insulating film is a BCB. 청구항 10 내지 청구항 13중 어느 한 항에 있어서; 상기 평탄화막은 SOG인 것을 특징으로 하는 제1기판.The method according to any one of claims 10 to 13, Wherein the planarizing film is SOG.
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