KR100196290B1 - Tab carrier with molding dam and tab package using it - Google Patents

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KR100196290B1
KR100196290B1 KR1019960044180A KR19960044180A KR100196290B1 KR 100196290 B1 KR100196290 B1 KR 100196290B1 KR 1019960044180 A KR1019960044180 A KR 1019960044180A KR 19960044180 A KR19960044180 A KR 19960044180A KR 100196290 B1 KR100196290 B1 KR 100196290B1
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김형호
이승민
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윤종용
삼성전자주식회사
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    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
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    • H01L21/60Attaching or detaching leads or other conductive members, to be used for carrying current to or from the device in operation

Abstract

본 발명은 봉지 댐을 갖는 탭(TAB) 캐리어 및 그를 이용한 탭 패키지에 관한 것으로서, 종래의 탭 패키지의 봉지 공정에 있어서 봉지용 액상 수지의 제어 및 탭 캐리어 표면의 보호를 목적으로 탭 테이프 상에 형성된 보호층이 리드를 따라 물결 무늬로 형성되기 때문에, 액상 수지가 도포될 때나 도포 후 경화될 때 일정한 두께 및 분포를 유지할 수 없는 문제점을 해결하기 위한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a tab carrier having a sealing dam and a tab package using the tab dam, Since the protective layer is formed in a wavy pattern along the lead, it is impossible to maintain a constant thickness and distribution when the liquid resin is applied or cured after coating.

즉, 본 발명은 보호층 또는 액상 수지와 같은 재질로서 포팅 바늘과 같은 기구를 이용하여 보호층 상부면에 일정한 높이를 갖도록 별도의 봉지 댐을 형성함으로써, 보호층 밖으로 액상 수지가 흘러 넘치는 것을 방지하고 일정한 두께로서 고르게 봉지 영역이 분포될 수 있도록 제어해 줄 수 있기 때문에 봉지 공정의 신뢰성이 개선되는 이점이 있다.That is, according to the present invention, a separate sealing dam is formed to have a predetermined height on the upper surface of the protective layer by using a mechanism such as a potting needle as a material such as a protective layer or a liquid resin, thereby preventing the liquid resin from overflowing out of the protective layer It is possible to control the distribution of the sealing region evenly with a constant thickness, thereby improving the reliability of the sealing process.

Description

봉지 댐을 갖는 탭(TAB) 캐리어 및 그를 이용한 탭 패키지(TAB) carrier having a sealing dam and a tab package using the same

본 발명은 봉지 댐을 갖는 탭(TAB) 캐리어 및 그를 이용한 탭 패키지에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 탭 패키지의 봉지 공정 중에서 액상 수지의 흘러 넘침을 방지하고 일정한 두께로서 고르게 봉지 영역이 분포될 수 있도록 제어하기 위한 봉지 댐이 형성된 탭(TAB) 캐리어 및 그를 이용한 탭 패키지에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a TAB (Tab) carrier having a sealing dam and a tab package using the same, and more particularly, And a tab package using the tab carrier.

탭(TAB; Tape Automated Bonding, 이하 'TAB'이라 한다)은 반도체 칩과 인쇄회로기판(PCB)과의 전기적 접속 방식의 하나로서, 통상적인 와이어 본딩(Wire Bonding)과 비견된다. 즉, 와이어 본딩은 리드 프레임(Lead Frame)을 매개로 하여 칩 전극 패드들과 리드 프레임의 각 리드들이 금속 와이어에 의하여 개별적으로 접속되는 방식인데 반하여, 탭(TAB)은 테이프에 리드가 미리 패터닝(Patterning)된 캐리어를 사용하여 칩 전극 패드들과 리드들을 일괄적으로 접속(Gang Bonding)할 수 있다는 장점을 가진다.BACKGROUND ART TAB (Tape Automated Bonding) is a type of electrical connection between a semiconductor chip and a printed circuit board (PCB), and is comparable to conventional wire bonding. That is, the wire bonding is a method in which the chip electrode pads and the leads of the lead frame are individually connected to each other by metal wires via a lead frame, whereas the tabs are formed by patterning leads Patterned carriers can be used to gang bond the chip electrode pads and leads.

이와 같은 탭(TAB) 방식은 경박단소화를 요구하는 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display; LCD) 분야에서의 사용이 특히 두드러지며, 액정 표시 장치(LCD)가 부착되는 노트북 컴퓨터, 시계 및 계측기 등의 여러 제품에 응용되고 있다.Such a TAB method is particularly notable for use in the field of liquid crystal displays (LCDs) that require light weight and shortening, and is widely used in a notebook computer, a clock, and a meter equipped with a liquid crystal display (LCD) It is applied to various products.

이하 도면을 참조하여, 일반적인 탭(TAB) 방식에 대하여 설명하겠다.Hereinafter, a general TAB method will be described with reference to the drawings.

도 1은 종래 기술의 실시예에 따른 탭(TAB) 캐리어와 반도체 칩이 내부 리드 본딩된 상태를 나타내는 사시도이다.1 is a perspective view showing a state in which a tab carrier and a semiconductor chip according to the prior art are internal lead-bonded.

도 2는 도 1의 2-2 선 단면도이다.2 is a sectional view taken along the line 2-2 in Fig.

도 1과 도 2를 참조하여 일반적인 탭 캐리어(10; TAB Carrier)에 대하여 설명하자면, 탭 캐리어(10)는 탭 테이프(11; TAB Tape) 상에 일단의 리드(12; Lead)들이 패터닝되어 있고, 탭 테이프(11)의 중앙부에는 리드(12)들과 반도체 칩(20) 간의 전기적 접속을 구현하기 위하여 제1 개구부(13a; Window)가 형성되어 있다. 제1 개구부(13a) 주위에는 네 개 또는 두 개의 제2 개구부(13b)가 형성되어 있으며, 리드(12)들이 제2 개구부(13b)를 가로질러 제1 개구부(13a) 안쪽까지 연장되어 있다. 이와 같이 제1 개구부(13a) 안쪽 영역까지 연장되어 반도체 칩(20)과 전기적 접속을 이루는 리드(12) 부분을 '내부 리드(Inner Lead)', 제2 개구부(13b) 영역에서 외부의 기판(도시되지 않음)과 접속되는 리드(12) 부분을 '외부 리드(Outer Lead)'라고 한다.Referring to FIGS. 1 and 2, a conventional TAB carrier 10 will be described in which a pair of leads 12 are patterned on a TAB tape 11 A first opening 13a is formed at the center of the tap tape 11 in order to realize electrical connection between the leads 12 and the semiconductor chip 20. [ Four or two second openings 13b are formed around the first openings 13a and the leads 12 extend to extend into the first openings 13a across the second openings 13b. The portion of the lead 12 that extends to the inner region of the first opening 13a and is electrically connected to the semiconductor chip 20 is called an'inner lead 'in the second opening 13b region, A portion of the lead 12 connected to the outer lead is referred to as an outer lead.

탭 캐리어(10)의 양쪽 측면에는 다수 개의 스프라켓 홀(Sprocket Hole)이 형성되어 있어서, 탭 캐리어(10)가 릴(Reel) 형태로 자동 공급될 수 있게 한다. 탭 테이프(11)는 통상적으로 폴리이미드(Polyimide)와 같은 플라스틱 수지 계열이며, 탭 테이프(11) 상에 패터닝된 리드(12)는 통상적인 리드 프레임과 같은 구리 합금 종류이다. 이상과 같이 리드(12)가 패터닝된 구조를 가지는 탭 캐리어(10)은 제1 개구부(13a)를 통하여 반도체 칩(20)과 전기적으로 접속된다. 반도체 칩(20)은 그 상면에 복수개의 칩 전극 패드(21)가 형성·배열되어 있으며, 그 칩 전극 패드(21) 상에는 범프(22)가 형성되어 있다. 제1 개구부(13a) 안쪽으로 연장·형성되어 있는 리드(12), 즉 내부 리드 하부에는 반도체 칩(20)이 위치되고, 리드(12)와 범프(21)가 정렬을 이룬 다음, 열 압착과 같은 방식으로 동시에 접속된다. 이를 내부 리드 접속(Inner Lead Bonding; ILB)이라 한다.A plurality of sprocket holes are formed on both side surfaces of the tab carrier 10 so that the tap carrier 10 can be automatically supplied in a reel shape. The tap tape 11 is typically of the plastic resin type such as polyimide and the lead 12 patterned on the tap tape 11 is a kind of copper alloy such as a conventional lead frame. As described above, the tab carrier 10 having the structure in which the leads 12 are patterned is electrically connected to the semiconductor chip 20 through the first opening 13a. A plurality of chip electrode pads 21 are formed and arranged on the upper surface of the semiconductor chip 20, and bumps 22 are formed on the chip electrode pads 21. The semiconductor chip 20 is positioned under the lead 12, that is, the inner lead extending and formed inside the first opening 13a, the lead 12 and the bump 21 are aligned with each other, They are simultaneously connected in the same manner. This is called Inner Lead Bonding (ILB).

그리고 나서 마찬가지의 방식으로 리드(12)의 외부 리드 부분이 외부 기판(도시되지 않음)과 제2 개구부(13b)를 통하여 물리적·전기적으로 접착·접속된다. 이를 외부 리드 접속(Outer Lead Bonding; OLB)이라 한다. 도 1은 내부 리드 접속이 완료되고 외부 리드 접속이 이루어지기 전의 형상이다.Then, in a similar manner, the outer lead portion of the lead 12 is physically and electrically connected and connected to the external substrate (not shown) through the second opening portion 13b. This is called Outer Lead Bonding (OLB). Fig. 1 shows a shape before internal lead connection is completed and external lead connection is made.

그런데 내부 리드 접속과 외부 리드 접속 공정 사이에, 반도체 칩(20)과 탭 캐리어(10)와의 전기적 접속 부분을 외부 환경으로부터 보호하기 위하여 봉지(Encapsulation) 공정이 진행되는데, 탭 패키지에서는 통상적인 플라스틱 패키지와 달리 액상의 봉지 수지를 도포(Potting)함으로써 봉지가 이루어진다. 이와 같은 봉지 공정은 반도체 소자의 수명을 결정하는 신뢰도와 밀접한 관계를 가지고 있기 때문에 그 중요성이 더욱 더 커지고 있다. 그러므로 탭 패키지의 봉지 공정에 있어서 도포된 액상 수지의 두께 및 분포의 균일성이 요구되며, 수지 내부에 기공(Void)이나 흘러 내림 등의 불량이 방지되어야 한다. 도 1에서 도면 부호 30번이 내부 리드 접속 공정 이후에 봉지되는 영역을 나타내고 있다.An encapsulation process is performed between the inner lead connection and the outer lead connection process in order to protect the electrical connection portion between the semiconductor chip 20 and the tab carrier 10 from the external environment. The encapsulation is performed by applying a liquid encapsulating resin. Such sealing process is becoming more important because it has a close relationship with the reliability of determining the lifetime of a semiconductor device. Therefore, uniformity in the thickness and distribution of the applied liquid resin is required in the sealing process of the tap package, and defects such as voids or run-off should be prevented in the resin. In FIG. 1, reference numeral 30 denotes an area sealed after the internal lead connecting process.

이하에서는 도면을 참조하여, 종래의 탭 캐리어의 내부 리드 부분의 구조 및 봉지 공정의 관계에 대하여 보다 상세하게 설명하고자 한다.Hereinafter, the structure of the inner lead portion of the conventional tap carrier and the relationship of the sealing process will be described in more detail with reference to the drawings.

도 3은 종래 기술의 실시예에 따른 탭(TAB) 캐리어의 내부 리드 부분을 상세하게 나타내는 부분 평면도이다.3 is a fragmentary plan view detailing an inner lead portion of a tab carrier according to a prior art embodiment;

도 4는 도 3의 4-4 선 단면도이다.4 is a cross-sectional view taken along line 4-4 of Fig.

도 3과 도 4를 참조하자면, 리드(12)는 전술한 바와 같이 탭 테이프(11) 상에 패터닝된다. 도면에 도시된 부분은 내부 리드 부분으로서, 반도체 칩(도 1의 20)과 접속되며 이후에 봉지되는 부분이다. 그런데 이 내부 리드 부분의 구조를 보다 상세하게 살펴보면, 탭 테이프(11) 상에 얇은 구리층(12a; Copper Foil)이 접착층(14)에 의하여 접합되며, 그 반대쪽인 구리층(12a)의 상부에는 보호층(15)이 형성된다. 그리고 제1 개구부(13a) 영역에 있는 구리층(12a)의 상·하부면에는 도금층(12b)이 형성된다.Referring to FIGS. 3 and 4, the lid 12 is patterned on the tap tape 11 as described above. The portion shown in the figure is an inner lead portion, which is connected to the semiconductor chip (20 in Fig. 1) and then sealed. A thin copper layer 12a (copper foil) is bonded to the tap tape 11 by the adhesive layer 14, and on the opposite side of the copper layer 12a, A protective layer 15 is formed. A plating layer 12b is formed on the upper and lower surfaces of the copper layer 12a in the region of the first opening 13a.

구리층(12a)은 전기 신호의 전달 경로이며, 도금층(12b)은 칩 전극 패드(도 2의 21)에 형성된 금속 범프(도 2의 22)와의 접속이 용이하게 이루어질 수 있도록 형성된 것이다. 도금층(12b)을 이루는 재질로는 금(Au), 주석(Sn), 주석/납(Sn/Pb)의 합금 등이 가능하다. 이와 같이 도금층(12b)이 형성된 구리층(12a)을 앞에서 '리드(12)'라고 불러 왔으며, 이후에도 편의상 그렇게 호칭하기로 한다. 그리고 보호층(15)은 봉지 공정시 액상 수지가 봉지 영역을 벗어나지 않도록 하는 역할과, 탭 테이프 및 리드 표면의 보호 역할을 담당한다. 이와 같은 보호층(15)은 일종의 솔더 레지스트(Solder Resist)와 같은 것으로서, 열경화된 에폭시나 자외선 경화된 아크릴이 그 전형적인 예이다.The copper layer 12a is a transmission path of an electric signal and the plating layer 12b is formed so as to be easily connected to a metal bump (22 in Fig. 2) formed on a chip electrode pad (21 in Fig. 2). The material of the plating layer 12b may be gold (Au), tin (Sn), or an alloy of tin / lead (Sn / Pb). The copper layer 12a on which the plating layer 12b is formed has been referred to as a 'lead 12' in the front, and will be referred to as "copper layer 12a" for the sake of convenience. The protective layer 15 serves to prevent the liquid resin from escaping from the sealing region during the sealing step and to protect the tap tape and the lead surface. Such a protective layer 15 is a kind of solder resist, and thermosetting epoxy or ultraviolet cured acrylic is a typical example thereof.

그런데 봉지 수지의 제어를 목적으로 형성된 보호층(15)이 도 3에 도시된 바와 같이 모세관 현상에 의하여 리드(12)를 따라 물결 무늬처럼 형성되기 때문에, 액상 수지를 도포할 때 곧바르게 도포하기가 곤란하고, 또한 도포된 액상 수지를 경화할 때 봉지 수지의 두께를 일정하게 유지하기가 어려운 문제점이 있다. 전술했다시피 액상 수지의 두께 및 분포의 균일성이 봉지 공정에서의 중요한 요소 중의 하나인데, 이와 같이 보호층의 불균일 때문에 봉지 공정의 신뢰성에 문제가 발생하는 것이다.However, since the protective layer 15 formed for the purpose of controlling the sealing resin is formed like a waving pattern along the lead 12 by the capillary phenomenon as shown in FIG. 3, There is a problem that it is difficult to keep the thickness of the sealing resin constant when the coated liquid resin is cured. As described above, the uniformity of the thickness and the distribution of the liquid resin is one of the important factors in the sealing process. Thus, the reliability of the sealing process is problematic due to the unevenness of the protective layer.

따라서 본 발명의 목적은, 탭 패키지의 봉지 공정 중에서 액상 수지의 흘러 넘침을 방지하고, 일정한 두께로서 고르게 봉지 영역이 분포되도록 제어해 줄 수 있는 탭 캐리어와 그를 이용한 탭 패키지를 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the present invention to provide a tap carrier capable of preventing the overflow of the liquid resin during the sealing process of the tab package and controlling the distribution of the sealing area evenly with a constant thickness, and a tab package using the tab carrier.

도 1은 종래 기술의 실시예에 따른 탭(TAB) 캐리어와 반도체 칩이 내부 리드 본딩된 상태를 나타내는 사시도.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a perspective view showing a state in which a tab carrier and a semiconductor chip are internally lead-bonded according to a conventional technology. FIG.

도 2는 도 1의 2-2 선 단면도.2 is a sectional view taken along the line 2-2 in Fig.

도 3은 종래 기술의 실시예에 따른 탭(TAB) 캐리어의 내부 리드 부분을 상세하게 나타내는 부분 평면도.Figure 3 is a fragmentary plan view detailing an inner lead portion of a tab carrier according to a prior art embodiment;

도 4는 도 3의 4-4 선 단면도.4 is a sectional view taken along line 4-4 of Fig.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 탭(TAB) 캐리어의 내부 리드 부분을 상세하게 나타내는 부분 평면도.5 is a fragmentary plan view detailing an inner lead portion of a tab carrier according to an embodiment of the present invention;

도 6은 도 5의 6-6 선 단면도.6 is a sectional view taken along the line 6-6 of Fig.

도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명DESCRIPTION OF THE REFERENCE NUMERALS

10, 40 : 탭 캐리어(TAB Carrier) 11 : 탭 테이프(TAB Tape)10, 40: TAB CARRIER, 11: TAB TAPE,

12 : 리드(Lead) 12a : 구리층12: Lead 12a: Copper layer

12b : 도금층 13a, 13b : 개구부(Window)12b: Plating layer 13a, 13b: Window (window)

14 : 접착층 15 : 보호층14: adhesive layer 15: protective layer

16 : 봉지 댐 20 : 반도체 칩16: sealing dam 20: semiconductor chip

21 : 칩 전극 패드 22 : 범프(Bump)21: chip electrode pad 22: bump

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 개구부가 중앙부에 형성된 탭 테이프와; 상기 탭 테이프 상에 접착되며 상기 개구부 내부까지 연장되어 형성된 복수개의 리드와; 상기 탭 테이프와 리드 상부의 일부에 형성된 보호층;을 포함하는 탭 캐리어에 있어서, 상기 보호층의 상부면 일부에 봉지 댐이 형성되는 것을 특징으로 하는 탭(TAB) 캐리어를 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a tape cassette comprising: a tap tape having an opening formed at a central portion thereof; A plurality of leads adhered on the tap tapes and extending to the inside of the openings; And a protective layer formed on the tap tape and a part of the upper portion of the lead, wherein a sealing dam is formed on a part of the upper surface of the protective layer.

또한 상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 복수개의 칩 전극 패드를 가지는 반도체 칩; 상기 반도체 칩이 위치되기 위한 개구부가 중앙부에 형성된 탭 테이프와, 상기 탭 테이프 상에 접착되며 상기 개구부 내부까지 연장되어 형성된 복수개의 리드와, 상기 탭 테이프와 리드 상부의 일부에 형성된 보호층을 포함하는 탭 캐리어; 상기 칩 전극 패드와 상기 리드 간의 전기적 접속 수단인 금속 범프; 상기 반도체 칩 및 상기 칩 전극 패드와 상기 리드 간의 전기적 접속 부분을 외부로부터 보호하기 위하여 상기 보호층의 안쪽에 형성되는 봉지 영역;을 포함하는 탭(TAB) 패키지에 있어서, 상기 보호층의 상부면 일부에 봉지 댐이 형성되는 것을 특징으로 하는 탭(TAB) 패키지를 제공한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a semiconductor device comprising: a semiconductor chip having a plurality of chip electrode pads; A plurality of leads formed on the tab tapes and extending to the inside of the openings; and a protective layer formed on a part of the tab tapes and the upper portions of the leads, Tab carrier; A metal bump which is an electrical connection means between the chip electrode pad and the lead; And an encapsulation region formed on the inner side of the protection layer to protect an electrical connection portion between the semiconductor chip and the chip electrode pad and the lead from the outside, And a sealing dam is formed in the TAB package.

이하 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다.Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 탭(TAB) 캐리어의 내부 리드 부분을 상세하게 나타내는 부분 평면도이다.5 is a fragmentary plan view showing in detail the inner lead portion of a tab carrier according to an embodiment of the present invention.

도 6은 도 5의 6-6 선 단면도이다.6 is a sectional view taken along the line 6-6 in Fig.

도 5와 도 6을 참조하면, 본 발명에 따른 탭 캐리어(40)의 구조는 전술한 종래의 탭 캐리어(도 3 및 도 4의 10)의 구조와 대부분이 동일하나, 액상 수지를 제어하고 봉지 영역을 결정지으며 탭 테이프(11) 및 리드(12) 표면의 보호 역할을 하는 보호층(15)의 구조가 상이하다. 즉, 종래의 보호층(15)은 전술했다시피 그 내부 경계가 리드(12)를 따라 물결 무늬처럼 형성되기 때문에 액상 수지의 제어라든지 봉지 영역의 결정이라는 소정의 역할을 제대로 수행하지 못하기 때문에, 본 발명에서는 보호층(15)의 상부면에 별도의 봉지 댐(16; Encapsulation Dam)을 형성하는 것이다.5 and 6, the structure of the tab carrier 40 according to the present invention is largely the same as the structure of the above-described conventional tab carrier (10 in FIGS. 3 and 4) The structure of the protective layer 15 which serves to protect the tab tape 11 and the surface of the lead 12 is different. That is, since the conventional protective layer 15 does not properly perform the predetermined role of controlling the liquid resin or determining the sealing region because its inner boundary is formed like a wavy pattern along the lead 12, as described above, In the present invention, a separate encapsulation dam 16 is formed on the upper surface of the protective layer 15.

봉지 댐(16)은 보호층(15)과 같은 재질이거나 액상 수지와 같은 재질로 형성될 수 있다. 그 형성 방법은 포팅 바늘과 같은 기구를 이용하여 보호층(15) 상부면에 일정한 높이를 갖도록 형성한다. 따라서 봉지 댐(16)은 보호층(15) 밖으로 액상 수지가 흘러 넘치는 것을 막고, 봉지 공정의 용이성 및 안정성을 부여해 준다.The sealing dam 16 may be made of the same material as the protective layer 15 or a material such as liquid resin. The forming method is formed to have a constant height on the upper surface of the protective layer 15 by using a mechanism such as a potting needle. Therefore, the sealing dam 16 prevents the liquid resin from overflowing out of the protective layer 15 and gives easiness and stability of the sealing process.

이상 설명한 바와 같이 본 발명의 구조에 따르면, 탭 패키지의 봉지 공정시에 액상 수지의 흘러 넘침을 방지하고, 일정한 두께로서 고르게 봉지 영역이 분포될 수 있도록 제어해 줄 수 있기 때문에, 봉지 공정의 신뢰성이 개선되는 이점이 있다.As described above, according to the structure of the present invention, it is possible to prevent the overflow of the liquid resin during the sealing process of the tab package and to control the sealing area to be evenly distributed with a constant thickness. There is an advantage to be improved.

Claims (5)

개구부가 중앙부에 형성된 탭 테이프와;A tap tape having an opening formed at a central portion thereof; 상기 탭 테이프 상에 접착되며 상기 개구부 내부까지 연장되어 형성된 복수개의 리드와;A plurality of leads adhered on the tap tapes and extending to the inside of the openings; 상기 탭 테이프와 리드 상부의 일부에 형성된 보호층;A protective layer formed on the tap tape and a part of the upper portion of the lead; 을 포함하는 탭 캐리어에 있어서,Wherein the tab carrier comprises: 상기 보호층의 상부면 일부에 봉지 댐이 형성되는 것을 특징으로 하는 탭(TAB) 캐리어.And a sealing dam is formed on a part of the upper surface of the protective layer. 제 1 항에 있어서, 상기 봉지 댐은 에폭시 수지로 이루어지는 것을 특징으로 하는 탭(TAB) 캐리어.The TAB carrier according to claim 1, wherein the sealing dam is made of an epoxy resin. 제 1 항에 있어서, 상기 리드는 얇은 구리층으로 이루어지며 상기 개구부 내부에 형성된 리드에는 도금층이 포함되는 것을 특징으로 하는 탭(TAB) 캐리어.The TAB carrier of claim 1, wherein the lead comprises a thin copper layer, and the lead formed in the opening includes a plating layer. 복수개의 칩 전극 패드를 가지는 반도체 칩;A semiconductor chip having a plurality of chip electrode pads; 상기 반도체 칩이 위치되기 위한 개구부가 중앙부에 형성된 탭 테이프와, 상기 탭 테이프 상에 접착되며 상기 개구부 내부까지 연장되어 형성된 복수개의 리드와, 상기 탭 테이프와 리드 상부의 일부에 형성된 보호층을 포함하는 탭 캐리어;A plurality of leads formed on the tab tapes and extending to the inside of the openings; and a protective layer formed on a part of the tab tapes and the upper portions of the leads, Tab carrier; 상기 칩 전극 패드와 상기 리드 간의 전기적 접속 수단인 금속 범프;A metal bump which is an electrical connection means between the chip electrode pad and the lead; 상기 반도체 칩 및 상기 칩 전극 패드와 상기 리드 간의 전기적 접속 부분을 외부로부터 보호하기 위하여 상기 보호층의 안쪽에 형성되는 봉지 영역;An encapsulation region formed on the inner side of the protection layer to protect an electrical connection portion between the semiconductor chip and the chip electrode pad and the lead from the outside; 을 포함하는 탭(TAB) 패키지에 있어서,(TAB) package, 상기 보호층의 상부면 일부에 봉지 댐이 형성되는 것을 특징으로 하는 탭(TAB) 패키지.And a sealing dam is formed on a part of the upper surface of the protective layer. 제 4 항에 있어서, 상기 봉지 댐은 에폭시 수지로 이루어지는 것을 특징으로 하는 탭(TAB) 패키지.The TAB package according to claim 4, wherein the sealing dam is made of an epoxy resin.
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