KR0179267B1 - Manufacturing method of liquid crystal display device - Google Patents

Manufacturing method of liquid crystal display device

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KR0179267B1
KR0179267B1 KR1019960006719D KR19960006719D KR0179267B1 KR 0179267 B1 KR0179267 B1 KR 0179267B1 KR 1019960006719 D KR1019960006719 D KR 1019960006719D KR 19960006719 D KR19960006719 D KR 19960006719D KR 0179267 B1 KR0179267 B1 KR 0179267B1
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semiconductor layer
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liquid crystal
crystal display
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한창욱
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구자홍
엘지전자주식회사
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Abstract

본 발명은 액정 표시장치에 관한 것으로 특히 스트레스(stress)를 감소시켜 액정 표시장치의 신뢰도를 향상시킨 액정 표시장치 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to a method of manufacturing a liquid crystal display device in which a stress is reduced to improve the reliability of the liquid crystal display device.

이와 같은 본 발명의 액정 표시장치의 제조방법은 기판에 게이트 전극 및 패드를 구비한 게이트 라인을 형성하는 단계, 상기 게이트 라인을 포함한 상기 기판 전면에 게이트 절연막과 반도체층 및 고농도 n형 반도체층을 차례로 증착하는 단계, 상기 패드 부분의 게이트 절연막과 반도체층 및 고농도 n형 반도체층을 선택적으로 제거하는 단계, 상기 고농도 n형 반도체층 위의 각 부위에 데이터 라인, 소오스/드레인 전극 및 패드전극을 형성하는 단계, 상기 소오스/드레인 전극보다 상기 더 넓은 폭을 갖도록 상기 고농도 n형 반도체층 및 반도체층을 패터닝하는 단계, 그리고 상기 데이터 라인 및 소오스/드레인 전극이 형성된 기판 전면에 보호막을 형성하고, 상기 패드전극과 상기 드레인 전극이 노출되도록 콘택홀을 형성한 뒤 상기 콘택홀을 통해 상기 패드전극 및 드레인 전극과 연결되는 투명전극을 형성하는 단계를 포함하여 이루어진다.The method of manufacturing the liquid crystal display device of the present invention comprises the steps of forming a gate line having a gate electrode and a pad on a substrate, and then sequentially forming a gate insulating film, a semiconductor layer, and a high concentration n-type semiconductor layer on the entire surface of the substrate including the gate line. Depositing, selectively removing the gate insulating film, the semiconductor layer, and the high concentration n-type semiconductor layer of the pad portion, and forming data lines, source / drain electrodes, and pad electrodes on each portion of the high concentration n-type semiconductor layer. Patterning the high concentration n-type semiconductor layer and the semiconductor layer to have a wider width than the source / drain electrode, and forming a passivation layer on an entire surface of the substrate on which the data line and the source / drain electrode are formed, and forming the pad electrode. And forming a contact hole to expose the drain electrode and the drain hole through the contact hole. De comprises the step of forming a transparent electrode that is connected to the electrode and a drain electrode.

Description

액정 표시장치의 제조방법Manufacturing Method of Liquid Crystal Display

제1도 (a)∼(b)는 일반적으로 유리기판상에 크롬을 증착했을 때의 스트레스 특성 설명도.1 (a) to 1 (b) are explanatory diagrams of stress characteristics when chromium is generally deposited on a glass substrate.

제2도 (a)∼(b)는 일반적으로 유리기판상에 비정질 실리콘을 증착했을 때의 스트레스 특성 설명도.2A to 2B are explanatory diagrams of stress characteristics when amorphous silicon is generally deposited on a glass substrate.

제3도는 일반적인 액정 표시장치의 박막트랜지스터와 화소전극 어레이 설명도.3 is an explanatory diagram of a thin film transistor and a pixel electrode array of a general liquid crystal display.

제4도는 일반적인 액정 표시장치의 박막트랜지스터의 레이 아웃도.4 is a layout view of a thin film transistor of a general liquid crystal display.

제5도 (a)∼(e)는 종래의 액정 표시장치의 공정단면도.5A to 5E are process cross-sectional views of a conventional liquid crystal display device.

제6도 (a)∼(f)는 본 발명의 액정 표시장치의 공정단면도.6 (a) to 6 (f) are process cross-sectional views of the liquid crystal display device of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1 : 유리기판 4 : 게이트 전극1 glass substrate 4 gate electrode

5 : 패드 6 : 게이트 절연막5 pad 6 gate insulating film

7 : 비정질 실리콘층 8 : 고농도 n형 비정질 실리콘층7: amorphous silicon layer 8: high concentration n-type amorphous silicon layer

9a : 패드 전극 9b : 데이터 라인9a: pad electrode 9b: data line

9c : 소오스/드레인 전극 10 : 보호막9c: source / drain electrode 10: protective film

11 : 투명전극11: transparent electrode

본 발명은 액정 표시장치에 관한 것으로 특히 기판의 스트레스(stress)를 최소화하여 액정 표시장치의 신뢰도를 향상시키는데 적당한 액정 표시장치 및 그 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same, which are suitable for minimizing the stress of a substrate and improving the reliability of the liquid crystal display device.

일반적으로 액정 표시장치는 박막트랜지스터와 화소전극이 배열되는 하측기판과, 색상을 나타내기 위한 칼라필터(color filter) 및 공통전극이 형성되는 상측기판과, 그리고 상기 두 기판 사이에 채워져 있는 액정으로 구성된다.In general, a liquid crystal display device includes a lower substrate on which a thin film transistor and a pixel electrode are arranged, an upper substrate on which a color filter and a common electrode are formed to display color, and a liquid crystal filled between the two substrates. do.

여기서, 기판으로는 유리 또는 석영을 많이 사용하고 있다.Here, a glass or quartz is used a lot as a board | substrate.

석영 기판은 고온 공정이 용이한 반면, 대면적을 표시장치로 만들기가 어렵고 가격이 비싸다는 단점을 가지고 있다.While quartz substrates are easy to process at high temperatures, they are difficult to make large areas into displays and are expensive.

반면에, 유리기판을 가격은 비교적 저렴하나, 고온공정을 할 수 없으며 스트레스에 영향을 많이 받기 때문에 신뢰도가 저하되는 단점을 가지고 있다.On the other hand, glass substrates are relatively inexpensive, but cannot be subjected to a high temperature process and have a disadvantage in that reliability is lowered because they are affected by stress a lot.

즉, 유리기판에 크롬(Cr)막을 증착할 경우와 비정질 실리콘을 증착할 경우의 스트레스가 다르다.In other words, when the chromium (Cr) film is deposited on the glass substrate, the stress when the amorphous silicon is deposited is different.

제1도는 일반적으로 유리기판에 크롬을 증착했을 때의 스트레스 특성 설명도이고, 제2도는 일반적으로 유리기판에 비정질 실리콘을 증착했을 때의 스트레스 특성 설명도이다.1 is an explanatory diagram of stress characteristics when chromium is deposited on a glass substrate, and FIG. 2 is an explanatory diagram of stress characteristics when amorphous silicon is deposited on a glass substrate.

제1도 (a)와 같이, 유리기판(1)에 크롬막(2)을 증착했을 경우에는 장력(Tensile stress)을 받기 때문에 제1도 (b)와 같이 유리기판(1)이 윗쪽으로 휘게 된다.As shown in FIG. 1 (a), when the chromium film 2 is deposited on the glass substrate 1, the glass substrate 1 is bent upward as shown in FIG. do.

그리고 제2도 (a)와 같이, 유리기판(1)에 비정질 실리콘(3)을 증착하였을 경우에는 제2도 (b)와 같이, 유리기판(1)이 아랫방향으로 휘게 된다.When the amorphous silicon 3 is deposited on the glass substrate 1 as shown in FIG. 2A, the glass substrate 1 is bent downward as shown in FIG. 2B.

따라서, 액정 표시장치에서 데이터 라인을 크롬으로 형성하였을 경우 제1도와 같이 장력에 의해 유리기판이 휘어지는 반면에 유리기판은 원래의 모양으로 되돌아 가려는 성질을 갖고 있으므로 데이터 라인의 취약한 부분이 오픈(open)되는 경우가 발생한다.Therefore, when the data line is formed of chromium in the liquid crystal display, the glass substrate is bent due to tension as shown in FIG. 1 while the glass substrate has a property of returning to its original shape, so that the weak part of the data line is open. It happens.

이하, 종래의 액정 표시장치를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a conventional liquid crystal display will be described with reference to the accompanying drawings.

제3도는 일반적인 액정 표시장치의 박막트랜지스터와 화소전극 어레이 설명도이고, 제4도는 일반적인 액정 표시장치의 박막트랜지스터의 레이 아웃도이며, 제5도 (a)∼(e)는 종래의 액정 표시장치의 공정단면도이다.3 is an explanatory view of a thin film transistor and a pixel electrode array of a general liquid crystal display device, and FIG. 4 is a layout view of a thin film transistor of a general liquid crystal display device, and FIGS. 5A to 5E are conventional liquid crystal display devices. Process cross section of

일반적으로 액정 표시장치에서 하판에는 제3도와 같이, 박막트랜지스터와 화소전극이 배열되는 액티브 디스플레이 영역(active display area)과, 상기 액티브 디스플레이 영역의 박막트랜지스터 게이트 전극에 구동신호를 인가하기 위한 게이트 라인 패드(gate pad)부와, 박막트랜지스터의 소오스 전극에 데이터 신호를 인가하기 위한 데이터 라인 패드(data pad)부로 구분되어 형성된다.In general, as shown in FIG. 3, a lower display panel includes an active display area in which a thin film transistor and a pixel electrode are arranged, and a gate line pad for applying a driving signal to the thin film transistor gate electrode of the active display area. The gate pad portion is divided into a data line pad portion for applying a data signal to a source electrode of the thin film transistor.

그리고 이와 같이, 형성된 액티브 디스플레이 영역의 박막트랜지스터 및 화소전극은 제4도와 같다.As described above, the thin film transistor and the pixel electrode of the formed active display region are shown in FIG. 4.

즉, 게이트 라인(gate line)과 데이터 라인(data line)이 교차하는 부분에 게이트 라인을 게이트 전극으로 하고, 데이터 라인을 소오스 전극으로 하여 드레인 전극은 화소전극(ITO Pixel)에 연결되도록 박막트랜지스터가 형성된다.That is, the thin film transistor is connected to the pixel electrode (ITO Pixel) so that the drain electrode is connected to the pixel electrode with the gate line as the gate electrode and the data line as the source electrode at the portion where the gate line and the data line intersect. Is formed.

여기서, 박막트랜지스터의 활성영역으로 비정질 실리콘이 사용되어 게이트 전극과 소오스/드레인 전극 사이에 형성됨은 물론, 데이터 라인 하측에도 데이터 라인의 폭 보다 더 넓게 형성된다.Here, amorphous silicon is used as an active region of the thin film transistor, and is formed between the gate electrode and the source / drain electrode, and is formed wider than the width of the data line under the data line.

이와 같은 구조를 갖는 종래의 액정 표시장치의 제조방법은 제5도 (a)와 같이, 유리기판(1)에 알루미늄(Al) 등의 금속을 증착하고 선택적으로 식각하여 게이트 전극(4) 및 패드(5)를 구비한 게이트 라인을 형성한다.In the conventional manufacturing method of the liquid crystal display device having such a structure, as shown in FIG. 5 (a), a metal such as aluminum (Al) is deposited on the glass substrate 1 and selectively etched to form a gate electrode 4 and a pad. A gate line having (5) is formed.

제5도 (b)와 같이, 상기 게이트 라인을 포함한 상기 유리기판(1) 전면에 게이트 절연막(6)(실리콘 질화막)과 비정질 실리콘층(7) 및 고농도 n형 비정질 실리콘층(8)을 차례로 증착한다.As shown in FIG. 5B, a gate insulating film 6 (silicon nitride film), an amorphous silicon layer 7, and a high concentration n-type amorphous silicon layer 8 are sequentially placed on the entire surface of the glass substrate 1 including the gate line. Deposit.

제5도 (c)와 같이, 박막트랜지스터의 활성영역과 데이터 라인 형성영역에만 남도록 상기 비정질 실리콘층(7) 및 고농도 n형 비정질 실리콘층(8)을 선택적으로 제거하고 패드(5) 부분의 게이트 절연막(6)을 선택적으로 제거한다.As shown in FIG. 5 (c), the amorphous silicon layer 7 and the highly concentrated n-type amorphous silicon layer 8 are selectively removed to remain only in the active region and the data line forming region of the thin film transistor, and the gate of the pad 5 portion is removed. The insulating film 6 is selectively removed.

제5도 (d)와 같이, 전면에 크롬(Cr)막(9)을 증착하고, 상기 패드 및 데이터 라인 형성영역의 고농도 n형 비정질 실리콘층(8) 위와 활성영역의 비정질 실리콘층(7) 및 고농도 n형 비정질 실리콘층(8) 양측에만 남도록 선택적으로 제거하여 데이터 라인 및 박막트랜지스터의 소오스/드레인 전극을 형성한다.As shown in FIG. 5 (d), a chromium (Cr) film 9 is deposited on the entire surface, and the high concentration n-type amorphous silicon layer 8 of the pad and data line forming region and the amorphous silicon layer 7 of the active region are formed. And the source / drain electrodes of the data line and the thin film transistor are selectively removed so as to remain only on both sides of the high concentration n-type amorphous silicon layer 8.

그리고 상기 소오스/드레인 전극의 크롬막을 마스크로 이용하여 노출된 고농도 n형 비정질 실리콘층(8)을 제거한다.The exposed high concentration n-type amorphous silicon layer 8 is removed using the chromium film of the source / drain electrode as a mask.

여기서, 도면에는 도시하지 못하였지만, 데이터 라인과 소오스 전극은 일체형으로 형성된다.Although not shown in the drawing, the data line and the source electrode are integrally formed.

제5도 (e)와 같이, 크롬막(9)이 형성된 기판 전면에 보호막(10)을 형성하고, 패드(5) 부분과 드레인 전극의 크롬막(9)상의 보호막(10)을 선택적으로 제거하여 콘택홀을 형성한다.As shown in FIG. 5E, the protective film 10 is formed on the entire surface of the substrate on which the chromium film 9 is formed, and the protective film 10 on the pad 5 and the drain electrode chromium film 9 is selectively removed. To form contact holes.

그리고 전면에 투명 도전막을 증착하고, 패드 영역과 화소영역에만 남도록 선택적으로 식각하여 투명전극(11)을 형성한다.A transparent conductive film is deposited on the entire surface, and selectively etched to remain only in the pad region and the pixel region to form the transparent electrode 11.

여기서, 화소영역의 투명전극(11)은 상기 드레인 전극의 크롬막(9)에 전기적으로 연결된다.Here, the transparent electrode 11 of the pixel region is electrically connected to the chromium film 9 of the drain electrode.

그러나 이와 같은 종래의 액정 표시장치에 있어서는 다음과 같은 문제점이 있었다.However, such a conventional liquid crystal display device has the following problems.

크롬막 증착시 비정질 실리콘층 및 고농도 n형 비정질 실리콘층을 활성영역과 데이터 라인 형성영역에만 남겨 놓고 나머지 부분을 모두 제거한 상태에서 크롬막을 증착하므로 유리기판이 장력을 받아 휘어지게 되고, 반대로 유리기판을 원래의 상태로 복원될려는 성질에 의해 데이터 라인이 오픈되는 경우가 발생하므로 액정 표시장치의 신뢰도가 저하된다.When the chromium film is deposited, the chromium film is deposited while the amorphous silicon layer and the high concentration n-type amorphous silicon layer are left only in the active region and the data line forming region, and the remaining portions are removed, and thus the glass substrate is bent under tension. Since the data line is opened due to the property to be restored to its original state, the reliability of the liquid crystal display is degraded.

본 발명은 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로, 크롬막 증착시의 장력을 최소화하여 데이터 라인의 오픈을 방지하는데 그 목적이 있다.The present invention has been made to solve the above problems, and the object of the present invention is to prevent the opening of a data line by minimizing the tension during chromium film deposition.

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 액정 표시장치의 제조방법은 기판에 게이트 전극 및 패드를 구비한 게이트 라인을 형성하는 단계, 상기 게이트 라인을 포함한 상기 기판 전면에 게이트 절연막과 반도체층 및 고농도 n형 반도체층을 차례로 증착하는 단계, 상기 패드 부분의 게이트 절연막과 반도체층 및 고농도 n형 반도체층을 선택적으로 제거하는 단계, 상기 고농도 n형 반도체층 위의 각 부위에 데이터 라인, 소오스/드레인 전극 및 패드전극을 형성하는 단계, 상기 소오스/드레인 전극보다 상기 더 넓은 폭을 갖도록 상기 고농도 n형 반도체층 및 반도체층을 패터닝하는 단계, 그리고 상기 데이터 라인 및 소오스/드레인 전극이 형성된 기판 전면에 보호막을 형성하고, 상기 패드전극과 상기 드레인 전극이 노출되도록 콘택홀을 형성한 뒤 상기 콘택홀을 통해 상기 패드전극 및 드레인 전극과 연결되는 투명전극을 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a liquid crystal display device, the method including: forming a gate line including a gate electrode and a pad on a substrate; Depositing a semiconductor semiconductor layer in sequence, selectively removing a gate insulating film, a semiconductor layer, and a high concentration n-type semiconductor layer of the pad portion, a data line, a source / drain electrode at each portion of the high concentration n-type semiconductor layer, and Forming a pad electrode, patterning the high concentration n-type semiconductor layer and the semiconductor layer to have a wider width than the source / drain electrode, and forming a passivation layer on an entire surface of the substrate on which the data line and the source / drain electrode are formed And forming a contact hole so that the pad electrode and the drain electrode are exposed. Through a contact hole characterized by comprising a step of forming a transparent electrode connected with the pad electrode and the drain electrode.

상기와 같은 본 발명의 액정 표시장치의 제조방법을 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.The manufacturing method of the liquid crystal display device according to the present invention as described above will be described with reference to the accompanying drawings.

제6도 (a)∼(f)는 본 발명의 액정 표시장치의 제조방법을 설명하기 위한 공정단면도이다.6 (a) to 6 (f) are cross-sectional views for explaining the manufacturing method of the liquid crystal display device of the present invention.

먼저, 본 발명의 액정 표시장치의 구조는 제3도 및 제4도와 동일하다.First, the structure of the liquid crystal display of the present invention is the same as FIG. 3 and FIG.

본 발명의 액정 표시장치의 제조방법은 제6도 (a)와 같이, 유리기판(1)에 알루미늄(Al) 등의 금속을 증착하고, 선택적으로 식각하여 게이트 전극(4) 및 패드(5)를 구비한 게이트 라인을 형성한다.In the method of manufacturing the liquid crystal display of the present invention, as shown in FIG. 6 (a), a metal such as aluminum (Al) is deposited on the glass substrate 1, and selectively etched to form the gate electrode 4 and the pad 5. To form a gate line having a.

제6도 (b)와 같이, 상기 게이트 라인을 포함한 상기 유리기판(1) 전면에 게이트 절연막(6)(실리콘 질화막)과 비정질 실리콘층(7) 및 고농도 n형 비정질 실리콘층(8)을 차례로 증착한다.As shown in FIG. 6B, a gate insulating film 6 (silicon nitride film), an amorphous silicon layer 7, and a high concentration n-type amorphous silicon layer 8 are sequentially placed on the entire surface of the glass substrate 1 including the gate line. Deposit.

제6도 (c)와 같이, 패드(5) 부분의 게이트 절연막(6)과 비정질 실리콘층(7) 및 고농도 n형 비정질 실리콘층(8)을 차례로 증착한다.As shown in FIG. 6C, the gate insulating film 6 of the pad 5 portion, the amorphous silicon layer 7, and the high concentration n-type amorphous silicon layer 8 are sequentially deposited.

제6도 (c)와 같이, 패드(5) 부분의 게이트 절연막(6)과 비정질 실리콘층(7) 및 고농도 n형 비정질 실리콘층(8)을 선택적으로 제거한다.As shown in FIG. 6C, the gate insulating film 6, the amorphous silicon layer 7, and the high concentration n-type amorphous silicon layer 8 in the pad 5 are selectively removed.

제6도 (d)와 같이, 전면에 크롬(Cr)막을 증착하고, 상기 패드(5) 영역과 데이터 라인 형성영역 및 소오스/드레인 영역에만 남도록 선택적으로 제거하여 패드 전극(9a) 및 데이터 라인(9b), 박막트랜지스터의 소오스/드레인 전극(9c)을 형성한다.As shown in FIG. 6 (d), a chromium (Cr) film is deposited on the entire surface, and selectively removed so as to remain only in the pad 5 region, the data line forming region, and the source / drain region. 9b), the source / drain electrodes 9c of the thin film transistor are formed.

그리고 제6도 (e)와 같이, 사진석판술을 이용하여 상기 박막트랜지스터의 소오스/드레인 전극보다 더 넓은 폭으로 남도록 상기 고농도 n형 비정질 실리콘층(8) 및 비정질 실리콘층(7)을 패터닝한다.As shown in FIG. 6E, the high concentration n-type amorphous silicon layer 8 and the amorphous silicon layer 7 are patterned using photolithography so as to remain wider than the source / drain electrodes of the thin film transistor. .

이때, 활성영역중 박막트랜지스터의 채널영역에 해당되는 고농도 n형 비정질 실리콘층(8)도 제거된다.At this time, the high concentration n-type amorphous silicon layer 8 corresponding to the channel region of the thin film transistor in the active region is also removed.

여기서, 도면에는 도시하지 않았지만, 데이터 라인과 소오스 전극은 일체형으로 형성되고, 데이터 라인 하측의 고농도 n형 비정질 실리콘층(8) 및 비정질 실리콘층(7)은 데이터 라인의 폭보다 더 넓다.Although not shown in the drawing, the data line and the source electrode are integrally formed, and the high concentration n-type amorphous silicon layer 8 and the amorphous silicon layer 7 below the data line are wider than the width of the data line.

제6도 (f)와 같이, 상기 데이터 라인(9b) 및 소오스/드레인 전극(9c)이 형성된 기판 전면에 보호막(10)을 형성하고, 패드 부분과 드레인 전극 상의 보호막(10)을 선택적으로 식각하여 투명전극(11)을 형성한다.As shown in FIG. 6 (f), the passivation layer 10 is formed on the entire surface of the substrate on which the data line 9b and the source / drain electrode 9c are formed, and the passivation layer 10 on the pad portion and the drain electrode is selectively etched. Thus, the transparent electrode 11 is formed.

그리고 전면에 투명 도전막을 증착하고, 패드영역과 화소영역에만 남도록 선택적으로 식각하여 투명전극을 형성한다.A transparent conductive film is deposited on the entire surface, and selectively etched to remain only in the pad region and the pixel region to form a transparent electrode.

여기서, 화소영역의 투명전극(11)은 상기 드레인 전극(9c)에 전기적으로 연결된다.Here, the transparent electrode 11 of the pixel region is electrically connected to the drain electrode 9c.

이상에서 설명한 바와 같은 본 발명의 액정 표시장치의 제조방법에 있어서는 다음과 같은 효과가 있다.As described above, the manufacturing method of the liquid crystal display device of the present invention has the following effects.

즉, 본 발명의 액정 표시장치 제조방법은 데이터 라인 및 소오스/드레인 전극을 형성하기 위하여 크롬막 증착시 유리기판 전면에 비정질 실리콘이 증착된 상태에서 크롬막을 증착한다.That is, in the method of manufacturing a liquid crystal display of the present invention, a chromium film is deposited in a state in which amorphous silicon is deposited on the entire glass substrate during chromium film deposition to form data lines and source / drain electrodes.

따라서 유리기판에 비정질 실리콘이 증착되어 있으므로 유리기판은 아랫쪽으로 휘게 되고, 그 상태에서 크롬막이 증착되므로 보상효과가 발생하여 유리기판이 장력을 받더라도 데이터 라인이 오픈되는 경우가 훨씬 적게 발생하므로 장치의 신뢰도가 향상된다.Therefore, because amorphous silicon is deposited on the glass substrate, the glass substrate is bent downwards, and since the chromium film is deposited in that state, a compensation effect occurs, so that even when the glass substrate is tensioned, data lines are much less open, so the reliability of the device is increased. Is improved.

Claims (3)

기판에 게이트 전극 및 패드를 구비한 게이트 라인을 형성하는 단계, 상기 게이트 라인을 포함한 상기 기판 전면에 게이트 절연막과 반도체층 및 고농도 n형 반도체층을 차례로 증착하는 단계, 상기 패드 부분의 게이트 절연막과 반도체층 및 고농도 n형 반도체층을 선택적으로 제거하는 단계, 상기 고농도 n형 반도체층 위의 각 부위에 데이터 라인, 소오스/드레인 전극 및 패드전극을 형성하는 단계, 상기 소오스/드레인 전극보다 상기 더 넓은 폭을 갖도록 상기 고농도 n형 반도체층 및 반도체층을 패터닝하는 단계, 그리고 상기 데이터 라인 및 소오스/드레인 전극이 형성된 기판 전면에 보호막을 형성하고, 상기 패드전극과 상기 드레인 전극이 노출되도록 콘택홀을 형성한 뒤 상기 콘택홀을 통해 상기 패드전극 및 드레인 전극과 연결되는 투명전극을 형성하는 단계를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 액정 표시장치의 제조방법.Forming a gate line having a gate electrode and a pad on the substrate, sequentially depositing a gate insulating film, a semiconductor layer, and a high concentration n-type semiconductor layer on the entire surface of the substrate including the gate line; Selectively removing the layer and the high concentration n-type semiconductor layer, forming a data line, a source / drain electrode and a pad electrode at each portion of the high concentration n-type semiconductor layer, the wider width than the source / drain electrode Patterning the high-concentration n-type semiconductor layer and the semiconductor layer to form a passivation layer, and forming a protective film on an entire surface of the substrate on which the data line and the source / drain electrodes are formed, and forming contact holes to expose the pad electrode and the drain electrode. A transparent electrode connected to the pad electrode and the drain electrode through the contact hole Method for manufacturing a liquid crystal display device, characterized by comprising the yirueojim sex. 제1항에 있어서, 상기 반도체층 및 고농도 n형 반도체층은 상기 데이터 라인 하측에서 상기 데이터 라인보다 더 넓은 폭을 갖도록 패터닝하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 제조방법.The method of claim 1, wherein the semiconductor layer and the high concentration n-type semiconductor layer are patterned to have a width wider than the data line below the data line. 제1항에 있어서, 상기 반도체층 및 고농도 n형 반도체층은 비정질 실리콘인 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 제조방법.The method of claim 1, wherein the semiconductor layer and the high concentration n-type semiconductor layer are amorphous silicon.
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