KR0179093B1 - Test adapter board checker - Google Patents
Test adapter board checker Download PDFInfo
- Publication number
- KR0179093B1 KR0179093B1 KR1019950068179A KR19950068179A KR0179093B1 KR 0179093 B1 KR0179093 B1 KR 0179093B1 KR 1019950068179 A KR1019950068179 A KR 1019950068179A KR 19950068179 A KR19950068179 A KR 19950068179A KR 0179093 B1 KR0179093 B1 KR 0179093B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- terminal
- relay control
- checking
- test
- board
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31905—Interface with the device under test [DUT], e.g. arrangements between the test head and the DUT, mechanical aspects, fixture
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31712—Input or output aspects
- G01R31/31715—Testing of input or output circuits; test of circuitry between the I/C pins and the functional core, e.g. testing of input or output driver, receiver, buffer
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
본 발명은 테스트 보드의 에러를 체크하기 위한 체크기에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 테스터, 케이블 및 어댑터의 이상 유무를 점검할 수 있도록 회로 소자를 이용하여 회로 보드를 제작함으로써 각각의 성능을 테스트하기 위한 옵션보드에 적합하도록 프로그램을 개발하여 테스터 설비를 자동적으로 점검하기 위한 테스트 어댑터 보드 체크기에 관한 것이다.The present invention relates to a checker for checking an error of a test board, and more particularly, to test the performance of each circuit by fabricating a circuit board using circuit elements to check for abnormalities of testers, cables, and adapters. It is a test adapter board checker for automatically checking the tester equipment by developing a program suitable for the option board.
본 발명은, 테스트 어댑터 보드 체크기에 있어서, (1) 저항 R0와 복수 개의 저항 R이 각각 연결되는 복수 개의 릴레이 콘트롤 단자로서, 상기 릴레이 콘트롤 단자 모두가 동작하지 않을 때는 상기 저항 R0에만 전류가 흐르고, 상기 릴레이 콘트롤 단자가 동작할 때에는 동작을 하는 상기 릴레이 콘트롤 단자에 연결된 상기 저항 R에만 전류가 흐르는 것을 특징으로 하는 릴레이 콘트롤 단자와, (2) 소정의 저항이 연결되는 매트릭스 핀 단자와, (3) 오디오 전원 단자, 오디오 미터 및 타이머에 접속하여 상기 오디오 전원 단자, 오디오 미터 및 타이머를 점검하기 위한 단자와, (4) 직류 전원을 점검하기 위해서 소정의 저항과 액정 표시판이 연결되는 단자를 구비하며, 상기 (1)의 릴레이 콘트롤 단자와 상기 (2)의 매트릭스 핀 단자와 상기 (3)의 단자와 상기 (4)의 단자는 각각 커넥터에 의해서 외부 장치와 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 테스트 어댑터 보드체크기를 제공한다.The present invention provides a test adapter board checker comprising: (1) a plurality of relay control terminals to which resistors R0 and a plurality of resistors R are respectively connected, and a current flows only in the resistors R0 when neither of the relay control terminals is operated; A relay control terminal characterized in that current flows only in the resistor R connected to the relay control terminal in operation when the relay control terminal is operated, (2) a matrix pin terminal to which a predetermined resistance is connected, and (3) A terminal connected to an audio power supply terminal, an audio meter and a timer for checking the audio power supply terminal, an audio meter and a timer, and (4) a terminal for connecting a predetermined resistance and a liquid crystal panel to check a DC power supply, The relay control terminal of (1), the matrix pin terminal of (2), the terminal of (3) and the stage of (4) Provides a test adapter board chekeugi, characterized in that electrically connected to the external device by the connector, respectively.
따라서, 상기 전술한 바에 의하면, 테스트 설비에 에러가 발생하였는지의 유무를 체크할 수 있으므로 반도체 칩의 특성을 점검하는데 있어서 정확도를 기할 수 있는 장점이 있고, 불량률을 줄임으로써 생산성이 향상되는 이점(利點)이 있다.Therefore, according to the above, it is possible to check whether or not an error has occurred in the test facility, and thus there is an advantage that accuracy can be determined in checking the characteristics of the semiconductor chip, and the productivity is improved by reducing the defective rate. I)
Description
제1도는 본 발명의 릴레이 콘트롤 단자를 점검하기 위한 회로 구성도.1 is a circuit diagram for checking the relay control terminal of the present invention.
제2도는 본 발명의 매트릭스 핀 단자를 점검하기 위한 회로 구성도.2 is a circuit diagram for checking a matrix pin terminal of the present invention.
제3도는 본 발명의 오디오 전원 단자, 오디오 미터 및 타이머를 점검하기 위한 회로 구성도.3 is a circuit diagram for checking an audio power supply terminal, an audio meter, and a timer of the present invention.
제4도는 본 발명의 직류 전원을 점검하기 위한 회로 구성도.4 is a circuit diagram for checking the DC power supply of the present invention.
제5도는 본 발명의 테스트 어댑터 보드 체크기를 나타내는 정면도.5 is a front view showing the test adapter board checker of the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
10 : 액정 표시판 20 : 커넥터10: liquid crystal panel 20: connector
22 : 저항22: resistance
본 발명은 테스트 보드의 에러를 체크하기 위한 체크기에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 테스터, 케이블 및 어댑터의 이상 유무를 점검할 수 있도록 회로 소자를 이용하여 회로 보드를 제작함으로써 각각의 성능을 테스트하기 위한 옵션보드에 적합하도록 프로그램을 개발하여 테스터 설비를 자동적으로 점검하기 위한 테스트 어댑터 보드 체크기에 관한 것이다.The present invention relates to a checker for checking an error of a test board, and more particularly, to test the performance of each circuit by fabricating a circuit board using circuit elements to check for abnormalities of testers, cables, and adapters. It is a test adapter board checker for automatically checking the tester equipment by developing a program suitable for the option board.
현재 여러 형태의 패키지 형태는 각각의 필요성에 따라 상황에 맞게 개발되고 발전되어 왔으며, 지금도 계속하여 새로운 형태의 패키지 형태가 개발중에 있다. 따라서, 상기 패키지의 구성 요소로서 가장 중요한 반도체 칩의 특성을 검사하기 위해서는 특성 검사 기능을 갖춘 설비가 필요하게 되는데, 상기 반도체 칩의 특성을 검사하기 위해서는 제품 기능에 맞게 제작한 테스트 보드와 테스터와 어댑터가 필요하고 상기 테스터와 어댑터를 전기적으로 연결하여 주는 케이블이 사용된다.Currently, various types of packages have been developed and developed according to their needs, and new packages are still under development. Therefore, in order to inspect the characteristics of the semiconductor chip, which is the most important component of the package, a facility having a characteristic inspection function is required. In order to inspect the characteristics of the semiconductor chip, a test board, a tester, and an adapter manufactured according to a product function are required. And a cable is used to electrically connect the tester and the adapter.
그리고, 상기와 같은 구성에 의하여 반도체 칩 및 반도체 패키지를 검사하기 위하여 각각의 특성을 검사할 수 있는 테스트 보드가 구비된 테스터와 어댑터를 케이블에 의해 전기적으로 연결시킨 후 테스트 보드를 테스터에 셋업할 때 정상적인 신호가 발생하지 않게 되면 상기 문제점을 찾기 위하여 계측기를 사용하여 수작업을 해야 한다.In addition, when the test board is set up in the tester after electrically connecting a tester and an adapter having a test board capable of inspecting respective characteristics to check the characteristics of the semiconductor chip and the semiconductor package by a cable according to the above configuration. If a normal signal does not occur, manual measurement using a measuring instrument is required to find the problem.
그러므로, 상기와 같은 수작업을 하지 않고 테스터의 기능, 어댑터, 케이블의 이상 유무를 점검할 수 있도록 보드를 제작하고 테스트 보드의 회로에 적합한 프로그램을 개발하여 자동적으로 점검이 되도록 한다.Therefore, the board is manufactured to check the function of the tester, the adapter, and the cable without any manual work as described above, and a program suitable for the circuit of the test board is developed to be automatically checked.
종래의 기술은 테스터 설비에 구성되어 있는 옵션 모듈(예를 들어, 설비의 기능 직류 전원, 오디오, 타이머, 릴레이 제어 단자 보드 등)을 체크할 때 수정 프로그램을 시행하여 테스터 설비 내부의 옵션 보드를 점검하므로 상기 외장 설비 인 케이블, 어댑터 등에 문제가 발생 시에는 이상 유, 무의 점 검 이 안되었으므로 다른 계측기를 사용하여 오픈 쇼트 점검을 하여야 하는 문제점이 있었다.The prior art checks the option boards inside the tester facility by executing a modification program when checking the option modules (e.g., facility DC power, audio, timer, relay control terminal board, etc.) of the tester facility. Therefore, when a problem occurs in the external equipment such as cable, adapter, etc., there was a problem that the open short check using another measuring instrument because the abnormality or no check.
따라서, 본 발명의 목적은 반도체 칩의 특성을 점검하기 위한 테스트 설비(예를 들어, 케이블, 어댑터, 테스터)등에 이상이 발생하여 반도체 칩의 특성을 정상적으로 체크하지 못할 때 설비를 측정하기 위한 테스트 어댑터 보드 체크기를 제공하는데 있다Accordingly, an object of the present invention is a test adapter for measuring a facility when an abnormality occurs in a test facility (for example, a cable, an adapter or a tester) for checking the characteristics of a semiconductor chip, and thus the characteristics of the semiconductor chip cannot be normally checked. Is to provide a board checker
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 테스트 어댑터 보드 체크기에 있어서, (1) 저항 R0와 복수 개의 저항 R이 각각 연결되는 복수 개의 릴레이 콘트롤 단자로서, 상기 릴레이 콘트롤 단자 모두가 동작하지 않을 때는 상기 저항 R0에만 전류가 흐르고, 상기 릴레이 콘트롤 단자가 동작할 때에는 동작을 하는 상기 릴레이 콘트롤 단자에 연결된 상기 저항 R에만 전류가 흐르는 것을 특징으로 하는 릴레이 콘트롤 단자와, (2) 소정의 저항이 연결되는 매트릭스 핀 단자와, (3) 오디오 전원 단자, 오디오 미터 및 타이머에 접속하여 상기 오디오 전원 단자, 오디오 미터 및 타이머를 점검하기 위한 단자와, (4) 직류 전원을 점검하기 위해서 소정의 저항과 액정 표시판이 연결되는 단자를 구비하며, 상기 (1)의 릴레이 콘트롤 단자와 상기 (2)의 매트릭스 핀 단자와 상기 (3)의 단자와 상기 (4)의 단자는 각각 커넥터에 의해서 외부 장치와 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 테스트 어댑터 보드 체크기를 제공한다.The present invention for achieving the above object, in the test adapter board checker, (1) a plurality of relay control terminals to which the resistor R0 and a plurality of resistors R are connected, respectively, when the relay control terminal does not operate the resistance; A current flows only in R0, and when the relay control terminal is operated, a current flows only in the resistor R connected to the relay control terminal in operation, and (2) a matrix pin to which a predetermined resistor is connected. Terminal, (3) an audio power supply terminal, an audio meter and a timer for checking the audio power supply terminal, an audio meter and a timer, and (4) a predetermined resistance and a liquid crystal panel for connecting the DC power supply. And a relay control terminal of (1), a matrix pin terminal of (2), and The terminal of (3) and the terminal of (4) each provide a test adapter board checker, which is electrically connected to an external device by a connector.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 테스트 어댑터 보드 체크기의 구성을 보다 상세하게 설명하고자 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in more detail the configuration of the test adapter board checker of the present invention.
제1도는 본 발명의 릴레이 콘트롤 단자를 점검하기 위한 회로 구성도이고, 제2도는 본 발명의 매트릭스 핀 단자를 점검하기 위한 회로 구성도이며, 제3도는 본 발명의 오디오 전원 단자, 오디오 미터 및 타이머를 점검하기 위한 회로 구성도이다.1 is a circuit diagram for checking the relay control terminal of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram for checking the matrix pin terminal of the present invention, and FIG. 3 is an audio power supply terminal, an audio meter and a timer of the present invention. This is a circuit diagram for checking.
그리고, 제4도는 본 발명의 직류 전원을 점검하기 위한 회로 구성도를 나타낸다.4 shows a circuit configuration diagram for checking the DC power supply of the present invention.
먼저, 제1도를 참조하면, 전원 단자에 5V의 전압을 인가하여 릴레이 콘트롤 단자가 동작하지 않을 때는 저항(R0)에만 전류가 흐르도록 구성되어 있고, 릴레이 콘트롤 단자가 동작하면 동작을 한 단자의 저항(R)에 전류가 흐르도록 구성되어 있다. 따라서, 이때 흐르는 전류를 미터를 이용하여 저항을 측정함으로써 이상 유무를 점검하게 된다.First, referring to FIG. 1, when a voltage of 5 V is applied to a power supply terminal, a current flows only in the resistor R0 when the relay control terminal is not operating. The current flows through the resistor R. Therefore, the presence of abnormality is checked by measuring the resistance of the current flowing through the meter.
또한, 제2도는 매트릭스 핀을 점검하기 위한 구성 회로도로서, 각각의 매트릭스 핀 단자에 전원을 연결하여 전압을 인가한 후 각각의 저항(R)에 흐르는 전류를 측정함으로써 테스트 보드의 이상 유무를 점검한다.Also, FIG. 2 is a circuit diagram for checking a matrix pin. The test board is connected to a power supply to each matrix pin terminal, and a voltage is applied to the matrix pin terminal. .
제3도를 참조하여 살펴보면, 오디오 전원 단자에서 주파수와 진폭을 갖는 파형을 인가하여 진폭은 오디오 미터에서 측정하여 이상 유무를 점검하고, 주파수는 타이머로 측정할 수 있도록 구성되어 있다.Referring to FIG. 3, a waveform having a frequency and an amplitude is applied from an audio power supply terminal, the amplitude is measured by an audio meter to check for abnormality, and the frequency is measured by a timer.
계속해서, 제4도를 참조하여 보면, 각각의 전원으로 ±15V, 12V, 5V의 직류 전원 단자에 저항과 액정 표시판을 설치하여 이상 유무를 육안으로 점검할 수 있도록 구성되어 있다.Subsequently, referring to FIG. 4, a resistor and a liquid crystal display panel are provided at DC power supply terminals of ± 15V, 12V, and 5V for each power supply, so as to visually check for abnormality.
따라서, 상기 전술한 바에 의하면, 테스트 설비에 에러가 발생하였는지의 유무를 체크할 수 있으므로 반도체 칩의 특성을 점검하는데 있어서 정확도를 기할 수 있는 장점이 있고, 불량률을 줄임으로써 생산성이 향상되는 이점(利點)이 있다.Therefore, according to the above, it is possible to check whether or not an error has occurred in the test facility, and thus there is an advantage that accuracy can be determined in checking the characteristics of the semiconductor chip, and the productivity is improved by reducing the defective rate. I)
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950068179A KR0179093B1 (en) | 1995-12-30 | 1995-12-30 | Test adapter board checker |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950068179A KR0179093B1 (en) | 1995-12-30 | 1995-12-30 | Test adapter board checker |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR970048581A KR970048581A (en) | 1997-07-29 |
| KR0179093B1 true KR0179093B1 (en) | 1999-04-01 |
Family
ID=19447963
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019950068179A KR0179093B1 (en) | 1995-12-30 | 1995-12-30 | Test adapter board checker |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR0179093B1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102016224954A1 (en) | 2015-12-15 | 2017-07-13 | Hyundai Autron Co., Ltd. | Apparatus and method for optimizing an ultrasonic signal |
-
1995
- 1995-12-30 KR KR1019950068179A patent/KR0179093B1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102016224954A1 (en) | 2015-12-15 | 2017-07-13 | Hyundai Autron Co., Ltd. | Apparatus and method for optimizing an ultrasonic signal |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR970048581A (en) | 1997-07-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100187727B1 (en) | Contact checking apparatus for handler and ic test system having checker thereof | |
| KR0179093B1 (en) | Test adapter board checker | |
| US4931742A (en) | Self-protecting power bus testing system | |
| US11493549B2 (en) | System and method for performing loopback test on PCIe interface | |
| JP2006189340A (en) | Inspection system and inspection method for semiconductor device | |
| CN113406535B (en) | Test board and test method for detecting electronic wires between boards | |
| KR100251802B1 (en) | Cable inspection apparatus | |
| KR100355716B1 (en) | Test method of low resistor for in-circuit tester | |
| JPH04315068A (en) | Apparatus for inspecting printed circuit board | |
| JPH06194410A (en) | Burn-in apparatus | |
| KR20040080787A (en) | Test apparatus of Print Circuit Board | |
| JPS6317015Y2 (en) | ||
| JP2591453B2 (en) | Burn-in board inspection apparatus and burn-in board inspection method | |
| JPH10300823A (en) | Prober inspection method | |
| GB2268277A (en) | Testing electronic circuits | |
| JPS629276A (en) | Inspecting instrument for semiconductor integrated circuit | |
| JPS63256872A (en) | Two-point measurement type continuity tester | |
| KR19990034825A (en) | Vehicle Navigation System Main Board Inspection System | |
| KR20110007433U (en) | Test device for fpcb and cable | |
| JPH0326973A (en) | Method for inspecting integrated circuit inspecting apparatus | |
| JPS59145546A (en) | Device for inspection of semiconductor device | |
| JPH04343246A (en) | Method of inspecting semiconductor inspecting device | |
| JPH0249670B2 (en) | ||
| JPH04302453A (en) | Semiconductor tester | |
| JPH0277666A (en) | Method for testing wiring |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20061030 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |