KR0177235B1 - Method for controlling focus level of camera for chip component identification in mounting system - Google Patents

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KR0177235B1 KR1019950028082A KR19950028082A KR0177235B1 KR 0177235 B1 KR0177235 B1 KR 0177235B1 KR 1019950028082 A KR1019950028082 A KR 1019950028082A KR 19950028082 A KR19950028082 A KR 19950028082A KR 0177235 B1 KR0177235 B1 KR 0177235B1
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박형기
이성재
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배순훈
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    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/0404Pick-and-place heads or apparatus, e.g. with jaws
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    • H05K13/0409Sucking devices

Abstract

본 발명은 전자부품 장착용 칩 마운터에 있어서, PCB 기판으로의 장착을 위해 각 헤드에 구비된 흡착노즐에 흡착된 각종 칩 부품의 사이즈를 인식하는데 사용되는 부품 인식 카메라의 포커스 레벨 조정을 자동으로 수행할 수 있도록 한 포커스 레벨 조정방법에 관한 것으로, 이를 위하여 본 발명은, 사용자 인터페이스 수단을 통해 PCB 기판에 장착하고자 하는 N 개의 칩 부품에 대한 실측 사이즈 값의 기준 데이터를 메인 제어 블록에 내장된 소정 메모리에 저장하는 제1과정; 사용자 인터페이스 수단으로부터 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨 조정을 위한 모드신호가 입력되면, 메인 제어 블록으로부터 제공되는 구동 제어신호에 의거하여 서보 모터를 구동시켜 인덱스에 설치된 해당 헤드를 부품 인식용 카메라가 설치된 스테이션으로 이동시키는 제2과정; 카메라 구동용 펄스 모터를 구동하여 부품 인식용 카메라를 상하 방향으로 1펄스씩 이동시켜 가면서 상기 헤드내의 N개의 흡착노즐중 하나의 흡착노즐에 흡착되어 있는 해당 칩 부품을 연속적으로 촬상하여 얻어진 해당 칩 부품의 사이즈 값에 대한 측정 데이터들을 생성하는 제3과정; N개의 기준 데이터중 해당 칩 부품의 사이즈에 대한 기준 데이터와 사이즈 측정 데이터들을 연속적으로 비교하여 최소의 오차값을 갖는 측정 데이터와 기준 데이터간의 오프셋 값을 산출하여 소정의 메모리에 저장하는 제4과정; 산출된 오프셋 값의 개수와 N개의 칩 부품에 대한 기준 데이터의 개수를 비교하여 그 값이 동일하지 않는 것으로 판단되면 헤드 구동용 펄스 모터를 구동하여 헤드를 회전시킨 다음 다른 흡착노즐을 부품 인식용 카메라의 촬상위치로 세팅하여, 제3과정과 제4과정을 반복 수행함으로서 헤드내의 다른 흡착노즐들에 흡착되어 있는 칩 부품이 사이즈에 대한 측정 데이터와 그에 상응하는 사이즈 실측 데이터에 대한 기준 데이터간의 다른 오프셋 값들을 산출하여 소정의 메모리에 저장하는 제5과정; 산출된 오프셋 값의 개수와 N개의 칩 부품에 대한 기준 데이터의 개수를 비교하여 그 값이 동일한 것으로 판단되면 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨 조정작업을 종료하는 제6과정을 포함하며, 메인 제어 블록에 내장된 메모리에 저장되는 N개의 칩 부품에 대한 오프셋 값들을 PCB 기판에 장착되는 칩 부품들의 사이즈 인식을 위한 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨을 오차 보정하는데 이용하도록 한 것이다.In the chip mounter for mounting an electronic component, the focus level adjustment of the component recognition camera used to recognize the size of various chip components adsorbed on the suction nozzles provided in each head for mounting to a PCB substrate is automatically performed. The present invention relates to a method for adjusting a focus level, and to this, the present invention provides a predetermined memory having reference data of actual size values for N chip components to be mounted on a PCB board through a user interface means. Storing in the first process; When the mode signal for adjusting the focus level of the camera for component recognition is input from the user interface means, the servo motor is driven based on the driving control signal provided from the main control block, and the corresponding head installed in the index is installed at the station where the camera for component recognition is installed. Moving to the second process; The chip component obtained by continuously photographing the chip component adsorbed by one of the N adsorption nozzles in the head while moving the camera for component recognition by one pulse in the vertical direction by driving the camera driving pulse motor. Generating measurement data for a size value of? A fourth step of continuously comparing the reference data and the size measurement data of the size of the corresponding chip component among the N reference data to calculate an offset value between the measurement data having the minimum error value and the reference data and to store the offset data in a predetermined memory; When the calculated number of offset values is compared with the number of reference data for N chip parts, and the value is judged to be not the same, the head driving pulse motor is driven to rotate the head, and then another suction nozzle is used as a part recognition camera. By setting the imaging position of the chip, repeating the third and fourth processes, the chip components adsorbed on the other adsorption nozzles in the head are differently offset between the measurement data for the size and the reference data for the corresponding size measurement data. A fifth step of calculating values and storing the values in a predetermined memory; And comparing the calculated number of offset values with the number of reference data for the N chip parts, and if the value is determined to be the same, a sixth step of terminating the focus level adjustment of the camera for recognizing the part. The offset values of the N chip components stored in the internal memory are used to correct the focus level of the component recognition camera for the size recognition of the chip components mounted on the PCB board.

Description

칩 마운터용 부품 인식 카메라의 포커스 레벨 조정방법How to adjust the focus level of the part recognition camera for chip mounter

제1도는 본 발명에 따른 칩 마운터용 부품 인식 카메라의 포커스 레벨 오차 보상방법을 적용하기에 적합한 칩 마운터에 포함되는 칩 부품 공급 및 작업 계통에 대한 개략적인 계통도.1 is a schematic schematic diagram of a chip component supply and work system included in a chip mounter suitable for applying a focus level error compensation method of a component recognition camera for a chip mounter according to the present invention.

제2도는 본 발명에 따른 칩 부품 인식을 위한 포커스 레벨 조정시에 흡착노즐에 흡착된 테스트용 지그(또는 칩 부품)을 촬상하기 위한 부품 인식용 카메라의 구조를 개략적으로 도시한 도면.2 is a diagram schematically illustrating a structure of a component recognition camera for capturing a test jig (or chip component) adsorbed on a suction nozzle when adjusting a focus level for chip component recognition according to the present invention.

제3도는 본 발명에 따른 부품 인식 카메라의 포커스 레벨을 조정하는 방법을 수행하는데 적합한 칩 마운터용 제어시스템의 개략적인 블록구성도.3 is a schematic block diagram of a control system for a chip mounter suitable for carrying out a method for adjusting a focus level of a component recognition camera according to the present invention.

제4도는 본 발명에 따라 칩 마운터용 제어시스템을 이용하여 부품 인식을 위한 포커스 레벨을 조정하여 테스트용 지그(또는 칩 부품)의 사이즈 실측값과 측정값간의 오프셋 값을 산출하여 메모리에 저장하는 과정을 도시한 플로우챠트.4 is a process of calculating and storing an offset value between a measured value and a measured value of a test jig (or chip component) by adjusting a focus level for component recognition using a chip mounter control system according to the present invention. Flowchart showing the.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

10 : 칩 공급 계통 20 : 인덱스10: chip supply system 20: index

30 : PCB 공급/배출 계통 32 : 공급 컨베이어30: PCB supply / discharge system 32: supply conveyor

34 : X-Y 테이블(작업 테이블) 36 : 배출 컨베이어34: X-Y table (work table) 36: discharge conveyor

41 : 샤프트 43 : 흡착노즐41: shaft 43: suction nozzle

45 : 테스트용 지그 50 : 카메라45: test jig 50: camera

51 : 렌즈 53 : 미러51: Lens 53: Mirror

55, 57 : 하프미러 56 : 고배 카메라55, 57: half-mirror 56: high magnification camera

58 : 저배 카메라 102 : 키보드58: low-profile camera 102: keyboard

104 : 입출력 및 신호처리 제어 블록104: I / O and signal processing control block

106 : 메인 제어 블록 108 : 서보 모터 제어 블록106: main control block 108: servo motor control block

110 : 서보 모터 구동 블록 112 : 서보 모터110: servo motor drive block 112: servo motor

114 : 펄스 모터 구동 블록 116 : 펄스 모터 구동 블록114: pulse motor drive block 116: pulse motor drive block

118 : 펄스 모터 120 : 비젼 제어 블록118: pulse motor 120: vision control block

122 : 부품 인식용 카메라 124 : 모니터122: camera for component recognition 124: monitor

본 발명은 인쇄회로기판(이하 PCB라 약칭함)에 각종 형태의 전자부품을 자동으로 장착하는 장비인 칩 마운터에 사용되는 인식용 카메라의 포커스 레벨 조정방법에 관한 것으로, 특히 PCB 기판으로의 장착을 위해 각 헤드의 흡착노즐에 흡착되어 있는 칩 부품의 자세를 인식하는 부품 자세 인식용 카메라의 포커스 레벨 조정방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method of adjusting the focus level of a recognition camera used in a chip mounter, which is a device for automatically mounting various types of electronic components on a printed circuit board (hereinafter, referred to as PCB). The present invention relates to a method for adjusting the focus level of a component attitude recognition camera for recognizing the attitude of a chip component adsorbed by the suction nozzle of each head.

일반적으로 칩 마운터는 여러 가지 종류의 전자부품, 예를 들면 저항, 콘덴서, 다이오드, 집적회로(IC) 등의 부품을 작업자가 입력한 프로그램에 따라 PCB 기판상에 자동으로 장착하는 제조설비중의 하나이다. 이러한 칩 마운터의 현장 운용(라인 설치)에 있어서, 통상적으로 칩 마운터를 라인상에 최초 설치하는 경우 작업자가 라인 설치전 또는 후에 그 전반적인 각 기능들에 대한 동작상태를 테스트하거나 또는 라인에 설치된 칩 마운터의 작동(마운팅)중에 이상(고장 또는 오동작)이 발생했을 때 작업자(또는 사용자)는 이상발생의 종류에 따라 각종 테스트를 하게 된다.In general, the chip mounter is one of the manufacturing equipment that automatically mounts various kinds of electronic components, such as resistors, capacitors, diodes, integrated circuits (ICs), etc. on the PCB board according to a program input by the operator. . In the field operation (line installation) of such a chip mounter, when installing the chip mounter on the line for the first time, the operator tests the overall operation of each function before or after the line installation or the chip mounter installed on the line. When an error (failure or malfunction) occurs during operation (mounting), the operator (or user) performs various tests according to the type of the error.

상기한 바와 같은 칩 마운터를 라인상에 최초 설치할 때의 테스트 또는 그 설치후의 작동시의 이상에 의한 부분 테스트의 종류로서는 여러 가지가 있으나, 본 발명에서 다루고자 하는 것은 부품 자세 인식용 카메라의 포커스 레벨을 자동으로 조정하여 실제의 장착 작업시에 그 오차 보상을 수행할 수 있는 카메라의 포커스 레벨 조정방법에 관련된 것이다.Although there are various kinds of partial test due to the test when the chip mounter as described above is first installed on the line or the abnormal operation after the installation, what is addressed in the present invention is the focus level of the camera for recognizing the component posture. It is related to the method of adjusting the focus level of the camera that can automatically adjust the speed and perform the error compensation during the actual mounting operation.

본 발명의 목적은 전자부품 장착용 칩 마운터에 있어서, PCB 기판으로의 장착을 위해 각 헤드에 구비된 흡착노즐에 흡착된 각종 칩 부품의 사이즈를 인식하는 데 사용되는 부품 인식 카메라의 포커스 레벨 조정을 자동으로 수행할 수 있는 포커스 레벨 조정방법을 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to adjust the focus level of a component recognition camera used to recognize the size of various chip components adsorbed on an adsorption nozzle provided in each head in a chip mounter for mounting an electronic component. It is to provide a focus level adjustment method that can be performed automatically.

상기 목적을 달성하기 위한 일관점에 따른 본 발명은, 사용자 조작을 위한 키입력수단과 모니터를 구비한 사용자 인터페이스 수단, 상기 사용자 인터페이스 수단으로부터의 모드신호에 상응하는 각종 제어신호를 발생하는 메인 제어 블록, 이 메인 제어 블록으로부터의 구동 제어신호에 따라 구동되어 복수의 헤드를 갖는 인덱스를 시계 또는 반시계 방향으로 이동시키는 서보 모터, 상기메인 제어 블록으로부터의 구동 제어 신호에 따라 구동되어 상기 복수의 각 헤드에 각각 설치된 복수의 흡착노즐을 회전 이동시키는 제1펄스 모터, 상기 메인 제어 블록으로부터의 인식 제어신호에 따라 작동되어 상기 각 헤드내의 각 흡착노즐에 흡착되어 있는 칩 부품을 촬상하는 부품 인식용 카메라, 상기 메인 제어 블록으로부터의 구동 제어신호에 따라 구동되어 상기 부품 인식용 카메라를 상하 방향으로 1펄스씩 이동시키는 제2펄스 모터를 포함하는 칩 마운터용 부품 인식 카메라의 포커스 레벨 조정방법에 있어서, 상기 사용자 인터페이스 수단을 통해 PCB 기판에 장착하고자 하는 N개의 칩 부품에 대한 실측 사이즈 값의 기준 데이터를 상기 메인 제어 블록에 내장된 소정 메모리에 저장하는 제1과정; 상기 사용자 인터페이스 수단으로부터 상기 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨 조정을 위한 모드신호가 입력되면, 상기 메인 제어 블록으로부터 제공되는 구동 제어신호에 의거하여 상기 서보 모터를 구동시켜 상기 인덱스에 설치된 해당 헤드를 상기 부품 인식용 카메라가 설치된 스테이션으로 이동시키는 제2과정; 상기 제2펄스 모터를 구동하여 상기 부품 인식용 카메라를 상하 방향으로 1펄스씩 이동시켜 가면서 상기 헤드내의 N개의 흡착노즐중 하나의 흡착노즐에 흡착되어 있는 해당 칩 부품을 연속적으로 촬상하여 얻어진 상기 해당 칩 부품의 사이즈 값에 대한 측정 데이터들을 생성하는 제3과정; 상기 N개의 기준 데이터중 상기 해당 칩 부품의 사이즈에 대한 기준 데이터와 상기 사이즈 측정 데이터들을 연속적으로 비교하여 최소의 오차값을 갖는 측정 데이터와 상기 기준 데이터간의 오프셋값을 산출하여 소정의 메모리에 저장하는 제4과정; 상기 산출된 오프셋 값의 개수와 상기 N개의 칩 부품에 대한 기준 데이터의 개수를 비교하여 그 값이 동일하지 않는 것으로 판단되면 상기 제1펄스 모터를 구동하여 상기 헤드를 회전시킨 다음 다른 흡착노즐을 상기 부품 인식용 카메라의 촬상위치로 세팅하여, 상기 제3과정과 제4과정을 반복 수행함으로서 상기 헤드내의 다른 흡착노즐들에 흡착되어 있는 칩 부품이 사이즈에 대한 측정 데이터와 그에 상응하는 사이즈 실측 데이터에 대한 기준 데이터간의 다른 오프셋 값들을 산출하여 상기 소정의 메모리에 저장하는 제5과정; 상기 산출된 오프셋 값의 개수와 상기 N개의 칩 부품에 대한 기준 데이터의 개수를 비교하여 그 값이 동일한 것으로 판단되면 상기 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨 조정작업을 종료하는 제6과정을 포함하며, 상기 메인 제어 블록에 내장된 메모리에 저장되는 상기 N개의 칩 부품에 대한 상기 오프셋 값들을 상기 PCB 기판에 장착되는 칩 부품들의 사이즈 인식을 위한 상기 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨을 오차 보정하는데 이용하는 것을 특징으로 하는 칩 마운터용 부품 인식 카메라의 포커스 레벨 조정방법을 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a user interface means including a key input means and a monitor for user operation, and a main control block for generating various control signals corresponding to mode signals from the user interface means. And a servo motor which is driven in accordance with a drive control signal from the main control block to move an index having a plurality of heads in a clockwise or counterclockwise direction, and is driven in accordance with a drive control signal from the main control block. A first pulse motor for rotating the plurality of adsorption nozzles respectively installed in the plurality of suction nozzles, a part recognition camera operated according to a recognition control signal from the main control block to image chip components adsorbed to the respective adsorption nozzles in the respective heads; Driven according to a drive control signal from the main control block In the method for adjusting the focus level of the component recognition camera for a chip mounter including a second pulse motor for moving the component recognition camera by one pulse in the vertical direction, N chips to be mounted on the PCB substrate through the user interface means. A first step of storing reference data of an actual size value of the component in a predetermined memory embedded in the main control block; When a mode signal for adjusting the focus level of the component recognition camera is input from the user interface means, the servo motor is driven based on a driving control signal provided from the main control block so that the corresponding head installed at the index is replaced with the head. A second step of moving to a station where a recognition camera is installed; The second pulse motor is driven to move the component recognition camera by one pulse in a vertical direction while continuously imaging the corresponding chip component adsorbed by one of the N adsorption nozzles in the head. Generating measurement data on a size value of the chip component; Comparing the reference data for the size of the corresponding chip component of the N pieces of reference data and the size measurement data continuously to calculate the offset value between the measurement data having the minimum error value and the reference data and to store in a predetermined memory Fourth process; When the calculated number of offset values is compared with the number of reference data for the N chip components, and the value is determined to be not the same, the first pulse motor is driven to rotate the head, and then another suction nozzle is used. By setting the image pickup position of the component recognition camera, the third and fourth processes are repeatedly performed, so that the chip components adsorbed on the other adsorption nozzles in the head are measured on the size measurement data and the corresponding size measurement data. A fifth step of calculating different offset values between reference data for the reference data and storing the offset values in the predetermined memory; And a sixth process of comparing the calculated number of offset values with the number of reference data for the N chip parts and terminating the focus level adjustment of the camera for recognizing the parts if the value is determined to be the same. The offset values of the N chip components stored in a memory embedded in a main control block are used for error correction of a focus level of the component recognition camera for size recognition of chip components mounted on the PCB board. A method of adjusting the focus level of a component recognition camera for a chip mounter is provided.

상기 목적을 달성하기 위한 다른 관점에 따른 본 발명은, 사용자 조작을 위한 키입력수단과 모니터를 구비한 사용자 인터페이스 수단, 상기 사용자 인터페이스 수단으로부터의 모드 신호에 상응하는 각종 제어신호를 발생하는 메인제어블록, 이 메인 제어 블록으로부터의 구동 제어신호에 따라 구동되어 복수의 헤드를 갖는 인덱스를 시계 또는 반시계방향으로 이동시키는 서보 모터, 상기 메인 제어블록으로부터의 인식제어신호에 따라 작동되어 상기 각 헤드내의 각 흡착노즐에 흡착되어 있는 칩 부품을 촬상하는 부품인식용 카메라, 상기 메인 제어블록으로부터의 구동 제어신호에 따라 구동되어 상기 부품 인식용 카메라를 상하 방향으로 1펄스씩 이동시키는 펄스 모터를 포함하는 칩 마운터용 부품 인식카메라의 포커스 레벨 조정방법에 있어서, 상기 사용자 인터페이스 수단을 통해 PCB 기판에 장착하고자 하는 N 개의 칩 부품에 대한 실측 사이즈 값의 기준 데이터를 상기 메인 제어 블록에 내장된 소정 메모리에 저장하는 제1과정; 상기 사용자 인터페이스 수단으로부터 상기 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨 조정을 위한 모드신호가 입력되면, 상기 메인 제어 블록으로부터 제공되는 구동 제어신호에 의거하여 상기 서보 모터를 구동시켜 상기 인덱스에 설치된 해당 헤드를 상기 부품 인식용 카메라가 설치된 스테이션으로 이동시키는 제2과정; 상기 펄스 모터를 구동하여 상기 부품 인식용 카메라를 상하 방향으로 1펄스씩 이동시켜 가면서 상기 헤드내의 N개의 흡착노즐중 하나의 흡착노즐에 흡착되어 있는 해당 칩 부품을 연석적으로 촬상하여 얻어진 상기 해당 칩 부품의 사이즈 값에 대한 측정 데이터들을 생성하는 제3과정; 상기 N개의 기준 데이터중 상기 해당 칩 부품의 사이즈에 대한 기준 데이터와 상기 사이즈 측정 데이터들을 연속적으로 비교하여 최소의 오차값을 갖는 측정 데이터와 상기 기준 데이터간의 오프셋값을 산출하여 소정의 메모리에 저장하는 제4과정; 상기 산출된 오프셋 값의 개수와 상기 N개의 칩 부품에 대한 기준 데이터의 개수를 비교하여 그 값이 동일하지 않는 것으로 판단되면 상기 제2과정, 제3과정 및 제4과정을 반복 수행하여, 상기 인덱스에 설치된 다른 헤드내의 특정 흡착노즐들에 흡착되어 있는 칩 부품이 사이즈에 대한 측정 데이터와 그에 상응하는 사이즈 실측 데이터에 대한 기준 데이터간의 다른 오프셋 값들을 산출하여 상기 소정의 메모리에 저장하는 제5과정; 상기 산출된 오프셋 값의 개수와 상기 N개의 칩 부품에 대한 기준 데이터의 개수를 비교하여 그 값이 동일한 것으로 판단되면 상기 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨 조정작업을 종료하는 제6과정을 포함하며, 상기 메인 제어 블록에 내장된 메모리에 저장되는 상기 N개의 칩 부품에 대한 상기 오프셋 값들을 상기 PCB 기판에 장착되는 칩 부품들의 사이즈 인식을 위한 상기 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨을 오차 보정하는데 이용하는 것을 특징으로 하는 칩 마운터용 부품 인식 카메라의 포커스 레벨 조정방법을 제공한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a user interface means including a key input means and a monitor for user operation, and a main control block for generating various control signals corresponding to mode signals from the user interface means. A servo motor driven according to a drive control signal from the main control block to move an index having a plurality of heads in a clockwise or counterclockwise direction, and operated according to a recognition control signal from the main control block. A chip mounter including a component recognition camera for imaging a chip component adsorbed on an adsorption nozzle, and a pulse motor which is driven according to a driving control signal from the main control block and moves the component recognition camera by one pulse in a vertical direction In the focus level adjustment method of the component recognition camera for A first process of storing a predetermined built-in memory a reference data of the actual size value for the N number of chip components to be mounted to the PCB board via the user interface means based on the main control block diagram; When a mode signal for adjusting the focus level of the component recognition camera is input from the user interface means, the servo motor is driven based on a driving control signal provided from the main control block so that the corresponding head installed at the index is replaced with the head. A second step of moving to a station where a recognition camera is installed; The said chip obtained by carrying out the curb image of the said chip component adsorb | sucked to the adsorption nozzle of one of N adsorption nozzles in the said head by moving the said component recognition camera by 1 pulse up and down by driving the said pulse motor. Generating measurement data on a size value of the component; Comparing the reference data for the size of the corresponding chip component of the N pieces of reference data and the size measurement data continuously to calculate the offset value between the measurement data having the minimum error value and the reference data and to store in a predetermined memory Fourth process; When the calculated number of offset values is compared with the number of reference data for the N chip components and the value is determined to be not the same, the second process, the third process, and the fourth process are repeated to perform the index. A fifth step of calculating, by the chip component adsorbed to specific adsorption nozzles in other heads installed in the head, different offset values between the measurement data on the size and the reference data on the size measurement data corresponding thereto, and storing the offset values in the predetermined memory; And a sixth process of comparing the calculated number of offset values with the number of reference data for the N chip parts and terminating the focus level adjustment of the camera for recognizing the parts if the value is determined to be the same. The offset values of the N chip components stored in a memory embedded in a main control block are used for error correction of a focus level of the component recognition camera for size recognition of chip components mounted on the PCB board. A method of adjusting the focus level of a component recognition camera for a chip mounter is provided.

본 발명의 상기 및 기타 목적과 여러 가지 장점은 이 기술분야에 숙련된 사람들에 의 해 첨부된 도면을 참조하여 하기에 기술되는 본 발명의 바람직한 실시예로부터 더욱 명확하게 될 것이다.The above and other objects and various advantages of the present invention will become more apparent from the preferred embodiments of the present invention described below with reference to the accompanying drawings by those skilled in the art.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

제1도는 본 발명에 따른 칩 마운터용 카메라 포커스 레벨 조정방법을 적용하는데 적합한 칩 마운터에 있어서, 칩 공급 계통(10), 인덱스(20) 및 PCB 공급/배출 계통(30)을 개략적으로 보여주는 칩 부품 공급 및 작업 계통에 대한 개략적인 계통도를 나타낸다.1 is a chip component schematically showing a chip supply system 10, an index 20 and a PCB supply / discharge system 30 in a chip mounter suitable for applying a camera focus level adjustment method for a chip mounter according to the present invention. A schematic diagram of the supply and operation system is shown.

제1도에 있어서, 칩 공급 계통(10)은 복수의 각 테이프 카세트(도시생략)에 테이핑되는 형태로 각각 실려진 PCB 기판상에 장착하고자 하는 여러 가지 종류의 각 전자부품, 예를 들면 저항, 콘덴서, 다이오드, 집적회로(IC) 등의 전자부품을 조정작업을 위한 인덱스(20)에 공급하는 것이다.In FIG. 1, the chip supply system 10 includes various types of electronic components, such as resistors, to be mounted on PCB boards each mounted in a form of tapering to a plurality of tape cassettes (not shown). Electronic components such as capacitors, diodes, and integrated circuits (ICs) are supplied to the index 20 for adjustment.

또한, 인덱스(20)는 상기한 칩 공급 계통(10)내의 도시 생략된 각 테이프 카세트로부터 공급되는 각종 칩 부품들을 복수의 노즐을 갖는 헤드를 통해 각각 흡착하여 작업 테이블(X-Y 테이블)상에 안착된 PCB 기판상에 장착 가능하도록 부품 위치의 교정, 부품의 높낮이 조정 등 각종 조정작업을 수행하는 것이다.In addition, the index 20 is mounted on the work table (XY table) by absorbing the various chip components supplied from each tape cassette (not shown) in the chip supply system 10 through the head having a plurality of nozzles, respectively. It is to perform various adjustments such as correcting the position of parts and adjusting the height of parts so that they can be mounted on the PCB board.

여기에서, 본 발명을 적용하는데 적합한 칩 마운터에 사용되는 인덱스(20)는, 제1도로부터 알 수 있는 바와 같이, 인덱스(20)의 외경을 따라 일정 간격으로 형성된 총 12개의 스테이션(ST1-ST12)을 포함하며, 동도면에서의 상세한 도시는 생략되었으나 이들 각각의 스테이션에서는 시계 또는 반시계 방향으로 회전 가능한 헤드가 그 위치에 따른 각 공정, 예를들면 칩 부품의 유무 검출, 부품 자세 인식, 마운트 높낮이 제어 등을 수행하며, 또한 이들 각 헤드에는 복수의 노즐, 예를들면 칩 공급 계통(10)내의 각 테이프 카세트로부터 공급되는 서로 다른 형상(크기+두께)를 갖는 전자부품을 흡착 가능하도록 각각 형성되는 5개의 노즐이 구비된다.Here, the index 20 used in the chip mounter suitable for applying the present invention, as can be seen from Figure 1, a total of 12 stations formed at regular intervals along the outer diameter of the index 20 (ST1-ST12) Detailed illustration in the same drawing is omitted, but in each of these stations, the head which can be rotated clockwise or counterclockwise is used for each process according to its position, for example, detecting the presence of a chip component, recognizing component posture, and mounting. Height control and the like are carried out, and each of these heads is formed so as to adsorb a plurality of nozzles, for example, electronic components having different shapes (size + thickness) supplied from each tape cassette in the chip supply system 10. Five nozzles are provided.

여기에서, 본 발명에 따른 카메라의 포커스 레벨 조정방법은 실질적으로 인덱스(20)상의 3번 스테이션(3)에서 행해지는데, 이와같이 PCB로의 장착을 위해 각 헤드에 장착된 각 흡착노즐에 흡착되는 칩 부품의 자세를 인식하는 기능을 수행하는 3번 스테이션(3)의 소정 위치에는 칩 부품의 자세 인식을 위한 두 개의 카메라, 즉 흡착노즐에 흡착된 작은 사이즈의 칩 부품을 촬상하기 위한 고배 카메라와 큰 사이즈의 칩 부품을 촬상하기 위한 저배 카메라가 일체로 형성된 카메라가 구비되어 있으며, 이러한 카메라의 구성 및 동작과정에 대해서는 그 개략적인 구성을 도시한 제2도를 참조하여 후에 상세하게 기술될 것이다. 따라서, 본 발명에 따라 이러한 카메라의 포커스 레벨을 조정해 주므로서, 사이즈 실측값과 측정값간의 카메라 포커스 레벨의 오프셋 값 보상을 실현할 수 가 있게 될 것이다. 여기에서, 오프셋 값은 3차원 측정기를 이용하여 측정한 해당 칩 부품의 사이즈(면적)값과 부품 인식 카메라를 통해 촬상했을 때 얻어지는 영상 사이즈 측정값간의 가장 근접한 차이값을 의미한다.Here, the method of adjusting the focus level of the camera according to the present invention is substantially carried out at station 3 on the index 20. As such, the chip component adsorbed to each suction nozzle mounted on each head for mounting to the PCB At a predetermined position of the station 3 that performs the function of recognizing the posture of the camera, two cameras for recognizing the posture of the chip component, that is, a high magnification camera and a large size for imaging the small chip component adsorbed on the suction nozzle A camera is formed integrally with a low magnification camera for imaging a chip component of the present invention. The configuration and operation of such a camera will be described later in detail with reference to FIG. Accordingly, by adjusting the focus level of such a camera according to the present invention, the offset value compensation of the camera focus level between the size measured value and the measured value will be realized. Here, the offset value means the closest difference value between the size (area) value of the corresponding chip component measured using the 3D measuring instrument and the image size measurement value obtained when the image is captured by the component recognition camera.

한편, PCB 공급/배출 계통(30)은, 크게 구분해 볼 때, 공급 컨베이어(32), 작업 테이블(34), 배출 컨베이어(36)을 구비하며, 칩 부품 장착을 위한 PCB의 공급, 공급된 PCB 기판으로의 각종 전자부품 장착 및 칩 부품의 장착이 완료된 PCB의 배출 등에 대한 작업을 수행하는 것이다. 또한, 공급 컨베이어(32)와 X-Y 테이블(34)에서 참조부호 A로서 표시된 것은 부품 장착을 위한 PCB 기판을 나타낸다.On the other hand, the PCB supply / discharge system 30, when largely divided, having a supply conveyor 32, a work table 34, the discharge conveyor 36, the supply and supply of PCB for mounting chip components It is to perform work on mounting of various electronic components on the PCB board and discharging the PCB where the mounting of the chip components is completed. In addition, indicated as reference A in the feed conveyor 32 and the X-Y table 34 represents the PCB substrate for component mounting.

다라서, 상기한 바와같은, 칩 부품 공급 및 작업 계통에서는, 먼저 공급 컨베이어(32)를 통해 공급되는 PCB 기판이 X-Y 테이블(34)에 안착되어 PCB 기판의 위치 오차 보정작업이 완료되면, 제3도를 참조하여 후술되는 메인 제어 블록으로부터의 작동 제어신호에 의거하여 복수개의 스테이션을 갖는 인덱스(20)가 작동되므로서, 작업자에 의해 입력된 변경 가능한 프로그램에 따라 해당 PCB 기판으로의 칩 부품 장착작업이 시작된다.Therefore, in the chip component supply and work system as described above, when the PCB substrate supplied through the supply conveyor 32 is first seated on the XY table 34 to complete the position error correction operation of the PCB substrate, The index 20 having a plurality of stations is operated on the basis of an operation control signal from a main control block described later with reference to the drawings, so that the chip component mounting work on the PCB board in accordance with a changeable program input by an operator is performed. It begins.

따라서, 상기한 바와같은 PCB 기판으로의 칩 부품 장착 과정을 반복 수행하여 칩 부품의 장착작업이 완료되면, 칩 부품 장착이 모두 완료된 PCB 기판은 배출 컨베이어(36)을 통해 배출될 것이다.Therefore, when the chip component mounting process is completed by repeatedly performing the chip component mounting process on the PCB substrate as described above, the PCB substrate on which the chip component mounting is completed will be discharged through the discharge conveyor 36.

제2도는 본 발명에 따라 칩 부품의 자세를 인식하기 위한 카메라와 일예로서 하나의 흡착노즐을 도시한 개략적인 구성도를 나타낸다. 본 발명의 바람직한 실시예에서는 부품자세 인식을 위한 카메라의 포커스 레벨 조정을 위해 일예로서 칩 부품 대신에 테스트용 지그를 흡착노즐에 흡착한 경우를 일예로서 설명하고자 한다.2 is a schematic block diagram showing a camera for recognizing a posture of a chip component and one suction nozzle as an example according to the present invention. In the preferred embodiment of the present invention will be described as an example the case where the test jig is adsorbed to the adsorption nozzle in place of the chip component as an example for adjusting the focus level of the camera for component attitude recognition.

제2도에 있어서, 노즐을 취부하기 위한 샤프트(41)에 장착된 흡착노즐(43)에는 테스트용 지그(45)가 흡착된다. 동도면에서의 도시는 생략되었으나, 이러한 흡착노즐(43)이 장착된 샤프트(45)는 제1도에 도시된 각 스테이션에 구비된 각 헤드에 장착되어 지지된다.In Fig. 2, the test jig 45 is sucked to the suction nozzle 43 attached to the shaft 41 for mounting the nozzle. Although not shown in the drawings, the shaft 45 on which the suction nozzle 43 is mounted is supported by being mounted to each head provided in each station shown in FIG.

여기에서, 테스트용 지그로서는, 예를들면 사이즈 및 두께가 각각 다른 칩 부품들에 대응할 수 있도록 그 사이즈 및 두께가 각각 다른 복수의 테스트용 지그를 사용할 수 있다. 즉, 두께가 각각 2.0m, 4.5m, 6.5m인 테스트용 지그를 한 헤드내의 각 흡착노들에 각각 흡착시켜 포커스 레벨에 대한 오프셋 값을 산출하도록 할 수 있다. 이때, 포커스 레벨 조정시에 카메라(50)는 피측정 테스트용 지그들의 두께에 따라 펄스 모터의 구동에 의해 상하 방향으로 움직이게 될 것이다.Here, as the test jig, for example, a plurality of test jigs having different sizes and thicknesses may be used so as to correspond to chip components having different sizes and thicknesses. That is, a test jig having a thickness of 2.0 m, 4.5 m, and 6.5 m may be respectively adsorbed to each of the adsorption furnaces in one head to calculate an offset value with respect to the focus level. At this time, when the focus level is adjusted, the camera 50 may move in the vertical direction by driving the pulse motor according to the thickness of the test jig for measurement.

한편, 칩 부품의 자세 인식을 위해, 본 발명에 따라 흡착노즐(43)에 흡착된 테스트용 지그(45)(또는 칩 부품)를 촬상하는 카메라(50)는 흡착노즐(43)에 흡착된 테스트용 지그(45)의 아래 방향으로 소정의 간격(촬상을 위한 적정 간격)을 유지하도록 형성되며, 이러한 카메라(50)는 도시 생략된 펄스 모터의 구동에 의해 흡착노즐(43)에 흡착된 칩 부품의 두께에 따라 상하 방향으로 1펄스씩 구동된다.On the other hand, in order to recognize the attitude of the chip component, the camera 50 for imaging the test jig 45 (or the chip component) adsorbed to the suction nozzle 43 according to the present invention is a test adsorbed to the suction nozzle 43. It is formed to maintain a predetermined interval (appropriate interval for imaging) in the downward direction of the jig 45, such a camera 50 is a chip component adsorbed to the suction nozzle 43 by the driving of a pulse motor (not shown) It is driven by one pulse in the vertical direction depending on the thickness of.

제2도를 참조하면, 부품 자세 인식용 카메라(50)에는 렌즈(51), 미러(53), 두 개의 하프미러(55,57), 고배 카메라(56) 및 저배 카메라(58)가 구비되어 있다. 여기에서, 고배 카메라(56)는 흡착노즐(43)에 흡착되는 사이즈가 작은 칩 부품을 촬상하는 것이고, 저배 카메라(58)는 흡착노즐(43)에 흡착되는 사이즈가 큰 칩 부품을 촬상하는 것이며, 이러한 고배 및 저배 카메라(56,58)의 선택적인 작동은 후술되는 메인 제어 블록으로부터의 제어신호에 의거한다.Referring to FIG. 2, the component posture recognition camera 50 includes a lens 51, a mirror 53, two half mirrors 55 and 57, a high magnification camera 56, and a low magnification camera 58. have. Here, the high magnification camera 56 captures a small chip component adsorbed by the adsorption nozzle 43, and the low magnification camera 58 captures a large chip component adsorbed by the adsorption nozzle 43. The selective operation of such high and low cameras 56, 58 is based on control signals from the main control block described below.

즉, 제2도로부터 알 수 있는 바와 같이, 렌즈(51)는 흡착노즐(43)에 흡착된 테스트용 지그(45)에 대향하는 방향에서 테스트용 지그(45)에 대한 영상을 집속하며, 이와같이 집속된 테스트용 지그(45)에 대한 영상은 미러(52)을 통해 반사되어 제1하프미러(55)와 제2하프미러(57)로 전달되는데, 이때 렌즈(51)를 통해 집속되는 칩 부품(또는 흡착노즐(43)에 흡착된 테스트용 지그(45))의 사이즈가 작은 경우 고배 카메라(56)을 통해 촬상되고, 집속되는 칩 부품의 사이즈가 큰 경우 저배 카메라(58)를 통해 촬상된다. 그런다음, 이와같이 촬상된 영상신호(테스트용 지그 또는 칩 부품)는 제3도의 비젼 제어 블록을 경유하여 메인 제어 블록으로 제공된다.That is, as can be seen from FIG. 2, the lens 51 focuses an image of the test jig 45 in a direction opposite to the test jig 45 absorbed by the adsorption nozzle 43. The image of the focused test jig 45 is reflected through the mirror 52 and transmitted to the first half mirror 55 and the second half mirror 57, wherein the chip component focused through the lens 51. (Or the test jig 45 adsorbed to the suction nozzle 43) is small, the image is captured by the high magnification camera 56, and when the size of the focused chip component is large, the image is captured by the low magnification camera 58. . Then, the image signal (test jig or chip component) thus captured is provided to the main control block via the vision control block in FIG.

여기에서, 본 발명은 칩 부품 인식을 카메라의 포커스 레벨을 조정하여 기설정되는 사이즈 실측값(기준 데이터)과 카메라를 통해 촬상한 사이즈 측정값(측정 데이터)간의 오프셋 값을 검출하여 내장된 메모리에 저장하며, 이와같이 저장된 오프셋 값들은 칩 마운터의 장착작업시에 자동으로 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨값을 보상하는데 이용된다.Herein, in the present invention, chip component recognition is performed by adjusting a focus level of a camera to detect an offset value between a preset size measurement value (reference data) and a size measurement value (measurement data) captured by the camera, and to store an embedded memory. The offset values thus stored are used to automatically compensate the focus level value of the component recognition camera during the mounting operation of the chip mounter.

제3도는 상술한 바와같은 구성을 갖는 부품 자세 인식용 카메라를 이용하여 촬상되는 칩 부품의 사이즈 인식을 위한 카메라의 포커스 레벨을 오차 보상하기 위한 칩 마운터용 제어시스템의 개략적인 블럭구성도를 나타낸다.3 is a schematic block diagram of a chip mounter control system for compensating for error compensation of a focus level of a camera for size recognition of a chip component photographed using a component attitude recognition camera having the above-described configuration.

동도면에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 부품 인식을 위한 카메라의 포커스 레벨을 조정하는 데 적합한 제어시스템은 키보드(102), 입출력 및 신호처리 제어블럭(104), 메인 제어 블록(106), 서보 모터 제어 블록(108), 서보 모터 구동 블록(110), 서보 모터(112), 펄스 모터 제어 블록(114), 펄스 모터 구동 블록(116), 펄스 모터(118), 비젼 제어 블록(120), 인식용 카메라 세트(122) 및 모니터(124)를 포함하며, 이들 각 구성부재들은 시스템 버스(S-BUS)(100)를 통해 상호 연결된다.As shown in the figure, a control system suitable for adjusting the focus level of a camera for component recognition according to the present invention includes a keyboard 102, an input / output and signal processing control block 104, a main control block 106, Servo motor control block 108, servo motor drive block 110, servo motor 112, pulse motor control block 114, pulse motor drive block 116, pulse motor 118, vision control block 120 And a recognition camera set 122 and a monitor 124, each of which is interconnected via a system bus (S-BUS) 100.

제3도에 있어서, 키보드(102), 입출력 및 신호처리 제어 블록(104) 및 모니터(124)는 사용자 인터페이스를 위한 일종의 산업용 PC 시스템을 이루는 것으로, 사용자(또는 작업자)는 이러한 산업용 PC 시스템을 이용하여 본 발명에 따른 카메라의 포커스 레벨을 조정하기 위한 기준 데이터(예를 들면, 3차원 측정기를 이용하여 측정한 테스트용 지그(또는 칩 부품)에 대한 사이즈(가로×세로) 및 두께 값을 입력하고, 또한 각종 칩 부품을 PCB 기판에 장착하는데 적용되는프로그램을 입력하게 된다. 그리고, 모니터(124)에는 사용자의 선택에 따라 본 발명에 따른 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨 조정시에 카메라 세트(122)내의 카메라(50)을 통해 촬상된 피사체상(테스트용 지그 또는 칩 부품)의 영상에 대한 측정 데이터와 과기설정된 기준 데이터(실측값)와의 비교결과에 대한 오프셋값이 디스플레이 되면 또한 칩 마운터 각 부분들의 다른 테스트시에 그에 다른 각종 결과신호들이 디스플레이 된다.In FIG. 3, the keyboard 102, input / output and signal processing control block 104 and monitor 124 form a kind of industrial PC system for the user interface, and the user (or operator) uses such an industrial PC system. Inputting the size (width × length) and thickness values of the reference data (for example, a test jig (or a chip component) measured using a 3D measuring instrument) for adjusting the focus level of the camera according to the present invention. Also, a program applied to mounting various chip components on a PCB board is input, and the camera set 122 is input to the monitor 124 when the focus level of the camera for component recognition according to the present invention is adjusted according to a user's selection. Comparison between measurement data of an image on a subject (test jig or chip component) photographed through the camera 50 in the camera and reference data set in advance (actual values) If the offset value for the display is also displayed by other various result signal thereto upon other testing of chip parts mounter.

한편, 메인제어블록(106)은 카메라의 포커스 레벨 조정을 위한 사용자의 조작에 따라 시스템 버스(100)를 통해 입출력 및 신호처리 제어 블록(104)으로부터 조정 모드로의 절환을 위한 모드 절환신호가 입력되면, 인덱스(20)를 기설정 속도로 이동시키기 위한 제어신호를 발생하며, 해당 헤드(테스트용 지그가 각 흡착노즐에 흡착된 헤드)가 3번 스테이션에 이동 완료되면 테스트용 지그(또는 칩 부품)에 상응하는 고배 또는 저배 카메라를 작동시킨 다음 카메라(50)의 포커스 레벨을 조정해 가면서 각 흡착노즐에 흡착되어 있는 테스트용 지그(또는 칩 부품)들의 영상 촬상을 위한 제어를 실행하게 된다.Meanwhile, the main control block 106 receives a mode switching signal for switching from the input / output and signal processing control block 104 to the adjustment mode through the system bus 100 according to a user's operation for adjusting the focus level of the camera. When the index 20 is moved to a preset speed, a control signal is generated. When the head (head in which the test jig is sucked to each suction nozzle) is moved to station 3, the test jig (or chip component) is completed. The high or low magnification camera corresponding to the < RTI ID = 0.0 > 1) < / RTI > then adjusts the focus level of the camera 50, thereby performing control for imaging the test jig (or chip component) adsorbed on each suction nozzle.

즉, 메인 제어 블록(106)에서는, 예를들어 사이즈 및 두께가 각각 다른 3개의 테스트용 지그가 각 흡착노즐에 흡착되어 있는 경우, 하나의 테스트용 지그에 대해 고배 또는 저배 카메라(56,58)를 통해 촬상한 측정 데이터(사이즈 측정값)을 입력한 다음, 기설정된 기준 데이터(3차원 측정기를 이용하여 측정한 사이즈 실측값)와 입력된 측정 데이터간의 오프셋값(오차값)을 산출한 다음 내장된 메모리(도시 생략)에 저장하고, 이어서, 흡착노즐 이동을 위한 펄스 모터를 구동시켜 다른 테스트용 지그 및 또다른 테스트용 지그에 대한 오프셋 값을 연속적으로 산출하여 메모리에 각각 저장한다. 이러한 오프셋 값들은 여러 가지 요인으로 인해 부품 인식용 카메라의 포커스가 다소 틀어진 경우 실제 장착작업시에 상응하는 칩 부품들의 포커스 레벨을 오차 보상하는데 이용될 것이다.That is, in the main control block 106, for example, when three test jigs having different sizes and thicknesses are adsorbed to the respective adsorption nozzles, the high or low cameras 56 and 58 are applied to one test jig. After inputting the measurement data (size measurement value) captured by the camera, the offset value (error value) between the preset reference data (size measurement value measured using a three-dimensional measuring instrument) and the input measurement data is calculated, and then built-in. In the memory (not shown), the pulse motor for moving the suction nozzle is continuously driven, and the offset values for the other test jig and the other test jig are continuously calculated and stored in the memory, respectively. These offset values will be used to compensate for the focus level of the corresponding chip components in the actual mounting operation when the focus of the component recognition camera is slightly shifted due to various factors.

한편, 서보 모터 제어 블록(108)은 본 발명에 따른 카메라의 포커스 레벨 조정 모드시에 상술한 바와 같은 메인 제어 블록(106)으로부터 시스템 버스(100)를 통해 제공되는 제어신호에 의거하여 인덱스(20)를 구동하기 위한 제어신호를 발생하며, 이때 발생된 제어신호는 다음단의 서보 모터 구동 블록(110)에 제공된다.On the other hand, the servo motor control block 108 is an index 20 based on a control signal provided through the system bus 100 from the main control block 106 as described above in the focus level adjustment mode of the camera according to the present invention. ) Generates a control signal, and the generated control signal is provided to the next stage servo motor drive block 110.

또한, 서보 모터 구동 블록(110)에서는 상기한 서보 모터 제어 블록(108)으로 부터의 제어신호에 의거하여 외부로부터의 전원공급을 절환함으로서, 인덱스(20)를 움직이는데 필요한 구동력을 제공하는 서보 모터(112)에 정회전 또는 역회전을 위한 전원을 공급한다. 이때 서보 모터(112)는, 이 기술분야에 잘 알려진 바와같이, 도시 생략된 검출기를 구비하여 위치나 속도를 검출하고 그 검출결과에 따라 목표값을 수정, 제어하는 모터이다. 따라서, 이와같은 서보 모터 구동 블록(110)으로부터 공급되는 전원에 따라 서보 모터(112)가 정회전 또는 역회전하여 인덱스(20)가 구동되므로서, 카메라 포커스 레벨 조정을 위해 테스트용 지그들이 흡착된 흡착노즐을 갖는 헤드가 3번 스테이션으로 이동하게 된다.In addition, the servo motor driving block 110 switches the power supply from the outside based on the control signal from the servo motor control block 108 to provide the driving force necessary to move the index 20 ( Supply power for forward or reverse rotation to 112). At this time, the servo motor 112, as is well known in the art, is provided with a detector (not shown) to detect a position or a speed and to correct and control a target value according to the detection result. Therefore, the index motor 20 is driven by forward or reverse rotation of the servo motor 112 according to the power supplied from the servo motor driving block 110, and thus the test jigs are adsorbed for adjusting the camera focus level. The head with the suction nozzle is moved to station 3.

다음에, 상슬한 바와 같은 과정을 통해 테스트용 지그들이 흡착된 흡착노즐을 갖는 헤드가 3번 스테이션으로 이동 완료되면, 메인 제어 블록(106)에서는 시스템 버스(100)를 통해 테스트용 지그들의 인식을 위한 제어신호를 비젼 제어 블록(120)에 제공한다. 따라서,비젼 제어 블록(120)이 상기한 메인 제어 블록(106)으로부터의 제어신호에 따라 카메라(50)에 해당 테스트용 지그(세개의 지그중 제1지그)의 촬상을 위한 구동신호를 발생함으로서, 부품 인식용 카메라(50)내의 고배 또는 저배 카메라(56,58)가 선택되어 테스트용 지그를 촬상하게 된다.Next, when the head having the adsorption nozzle to which the test jig is adsorbed is completed to the station 3 through the procedure as described above, the main control block 106 recognizes the test jig through the system bus 100. Provides a control signal for the vision control block 120. Therefore, the vision control block 120 generates a drive signal for imaging the test jig (first jig of the three jigs) to the camera 50 according to the control signal from the main control block 106 described above. The high magnification or low magnification cameras 56 and 58 in the part recognition camera 50 are selected to image the test jig.

이때, 상기와 같이 고배 또는 저배 카메라(56,58)를 통해 촬상된 테스트용 지그에 대한 피사체상의 영상신호는 다시 비젼 제어 블록(120)을 통해 소정의 신호처리 과정을 거쳐 디지털 신호로 변환된 다음 시스템 버스(100)를 경유하여 메인 제어 블록(106)으로 입력된다.At this time, the image signal on the subject for the test jig captured by the high or low cameras 56 and 58 as described above is converted into a digital signal through a predetermined signal processing process through the vision control block 120 again. It is input to the main control block 106 via the system bus 100.

여기에서, 이 기술분야에 이미 잘 알려진 공지기술인 관계로 제3도에서의 상세한 도시는 생략 하였으나, 비젼 제어 블록(120)은, 부품 인식용 카메라(122)를 통해 촬상된 영상신호의 신호처리를 위해, 시스템 버스(100)를 통해 메인 제어 블록(106)으로부터 제공되는 촬상을 위한 디지털 형태의 제어신호를 아날로그 신호로 변환하고 또한 부품 인식용 카메라(122)로부터 촬상된 아날로그 영상신호를 디지털 신호로 변환하는 D/A 및 A/D 변환기와 제어신호 및 영상신호에 대한 소정의 신호처리를 수행하는 신호 처리회로를 포함한다.Here, although the detailed illustration of FIG. 3 is omitted since it is a well-known technique well known in the art, the vision control block 120 performs the signal processing of the image signal captured by the camera 122 for component recognition. In order to convert the control signal in the digital form provided from the main control block 106 through the system bus 100 into an analog signal, and convert the analog video signal captured from the component recognition camera 122 into a digital signal. And a signal processing circuit for performing predetermined signal processing on the control signal and the video signal.

따라서, 메인 제어 블록(106)에서는 상기한 바와같이 비젼 제어 블록(120)으로부터 카메라(122)의 상하 이동에 따라 발생되어 연속적으로 제공되는 어떤 특정 피사체(제1테스트용 지그)의 영상에 대한 측정 데이터(측정 사이즈 값)와 기설정된 기준 데이터(실측 사이즈 값)을 비교한다. 즉, 메인 제어 블록(106)은 펄스 모터 제어 블록(114)과 펄스 모터 구동 블록(116)의 제어를 통해 펄스 모터(118)를 1펄스씩 정 또는 역회전으로 구동하여 제2도의 카메라(50)를 상하 방향으로 움직이면서 얻어지는 측정 데이터들중 기설정된 기준 데이터에 가장 유사한 값을 갖는 측정 데이터를 결정하며, 이와같이 결정된 제1테스트용 지그의 측정 데이터와 기설정된 기준 데이터간의 오프셋 값(오차값)을 산출하여 내장된 메모리에 저장하게 된다.Therefore, in the main control block 106, as described above, the measurement of the image of a certain subject (the first test jig) generated in accordance with the vertical movement of the camera 122 from the vision control block 120 and provided continuously. Data (measurement size value) is compared with preset reference data (actual size value). That is, the main control block 106 drives the pulse motor 118 by one pulse by forward or reverse rotation by the control of the pulse motor control block 114 and the pulse motor driving block 116, so that the camera 50 of FIG. ) Determines the measurement data having the most similar value to the predetermined reference data among the measurement data obtained by moving the up and down direction, and the offset value (error value) between the measured data and the predetermined reference data of the first test jig It is calculated and stored in the built-in memory.

다음에, 메인 제어 블록(106)은 상기한 바와같이 제1테스트용 지그에 대한 포커스 레벨에 대한 오프셋 값의 산출이 완료되면, 펄스 모터 제어 블록(114)과 펄스 모터 구동 블록(116)의 제어를 통해 펄스 모터(118)를 정 또는 역회전 시켜 제2테스트용 지그가 카메라(50)의 촬상위치로 이동시킨 다음 상술한 제1테스트용 지그에서와 마찬가지로 동일한 과정을 통해 기준 데이터(실측값)와 그에 가장 유사한 측정 데이터간의 오프셋 값을 산출하여 내장된 메모리에 저장하며, 또한 제3테스트용 지그에 대해서도 동일한 제어과정을 통해 기준 데이터와 가장 유사한 측정 데이터간의 오프셋 값을 산출하여 내장된 메모리에 저장한다.Next, when the calculation of the offset value for the focus level for the first test jig is completed, the main control block 106 controls the pulse motor control block 114 and the pulse motor driving block 116. The second test jig is moved to the imaging position of the camera 50 by forward or reverse rotation of the pulse motor 118 through the same process as in the first test jig described above. Calculate and store the offset value between the measured data most similar to it in the built-in memory, and calculate the offset value between the measured data most similar to the reference data through the same control process for the third test jig and store it in the built-in memory. do.

한편, 상기에서의 설명과 제3도에 있어서, 하나의 펄스 모터만을 도시하였으나, 실질적으로 본 발명을 실현하는데 있어서는 적어도 두 개의 펄스 모터, 즉 제2도의 카메라(50)를 상하 방향으로 움직이는 카메라용 펄스 모터와 적어도 5개의 흡착노즐을 갖는 헤드를 시계 또는 반시계 방향으로 1펄스씩 회전시키기 위한 펄스 모터를 구비한다.Meanwhile, in the above description and FIG. 3, only one pulse motor is shown, but in practice, at least two pulse motors, that is, a camera for moving the camera 50 of FIG. And a pulse motor for rotating the head having a pulse motor and at least five suction nozzles by one pulse in a clockwise or counterclockwise direction.

따라서, 상술한 바와같은 과정을 통해 얻어진 특정 칩 부품(PCB 기판에 장착하고자 하는 칩 부품)에 대한 포커스 레벨에 대한 오프셋 값을 미리 산출하여 내장된 메모리에 저장해 두고, 장착작업시에 이 저장된 오프셋 값으로 실제 측정되는 각 칩 부품의 포커스 레벨을 오차 보상해 주므로서, 보다 고정밀한 부품 인식이 가능하게 될 것이다. 그 결과 부적격한 부품 판정에 대한 오판을 최소화함으로써, 칩 마운터의 생산효울이 보다 개선 또는 증진될 것이다.Therefore, the offset value for the focus level of the specific chip component (chip component to be mounted on the PCB substrate) obtained through the above process is calculated in advance and stored in the built-in memory, and the stored offset value during the mounting operation. By compensating for the error of the focus level of each chip component that is actually measured, more accurate component recognition will be possible. As a result, by minimizing the misunderstanding of inadequate part determination, the production efficiency of the chip mounter will be further improved or enhanced.

한편, 상기한 설명에서는 한 헤드에 구비도니 각 흡착노즐에 테스트하고자 하는 복수의 테스트용 지그를 동시에 흡착시켜 각 지그에 대해 오차 보상을 위한 포커스 레벨 조정을 수행하는 것으로 하여 기술하였으나, 실질적으로 본 발명을 실시하는데 있어서는 측정하고자 하는 복수개의 테스트용 지그를 각 헤드에 구비된 각 흡착노즐에 하나씩 흡착, 즉 한 헤드에 테스트용 지그를 하나씩 흡착시켜 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨 오차 보상을 위한 포커스 레벨 조정을 수행하더라도 실질적으로 동일한 결과를 얻을 수 있다.Meanwhile, in the above description, a plurality of test jigs to be tested are simultaneously adsorbed to each suction nozzle provided in one head to perform focus level adjustment for error compensation for each jig. In this process, a plurality of test jigs to be measured are adsorbed to each suction nozzle provided in each head, that is, one test jig is adsorbed to one head to adjust the focus level for compensating the focus level error of the camera for component recognition. The same result can be obtained even if

다음에, 상술한 바와 같은 구성을 갖는 칩 마운터용 제어시스템을 이용하여 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨을 자동으로 조정하는 동작과정에 대하여 그 흐름을 보여주는 제4도를 참조하여 상세하게 설명한다. 먼저 본 실시예에서는, 일예로서 그 두께와 사이즈가 각각 다른 세 개의 테스트용 지그에 대해 그 오차 보상을 위한 포커스 레벨을 조정하는 것이라 가정한다.Next, an operation process of automatically adjusting the focus level of the component recognition camera using the chip mounter control system having the above-described configuration will be described in detail with reference to FIG. 4 showing the flow thereof. First, in the present embodiment, as an example, it is assumed that the focus level for the error compensation is adjusted for three test jigs having different thicknesses and sizes.

제4도는 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨 조정을 위해 본 발명에 따라 칩 마운터용 제어시스템을 이용하여 부품 인식 카메라의 포커스 레벨을 자동으로 조정하여 부품에 대한 사이즈 실측값과 측정값간의 그 포커스 레벨에 대한 오프셋 값을 산출하여 저장하는 과정을 도시한 플로우챠프를 나타낸다.4 is to adjust the focus level of the component recognition camera to automatically adjust the focus level of the component recognition camera using the chip mounter control system according to the present invention to adjust the focus level of the component recognition camera. A flowchart illustrating a process of calculating and storing an offset value for a signal is shown.

제4도를 참조하면, 제3도에 도시된 키보드(102)를 통해 측정하고자 하는 N개의 테스트용 지그(즉, 세 개의 테스트용 지그)에 대한 기준 데이터(3차원 측정기로 측정한 지그의 실측 사이즈 값)을 입력한 상태에서 사용자(또는 작업자)가 제2도의 부품 인식카메라(50)의 포커스 레벨 조정을 위해 키보드(102)를 이용하여 포커스 레벨 조정 모드로 절환하면, 제어시스템은 카메라의 포커스 레벨 조정 모드상태로 세팅된다(단계 S40, S42).Referring to FIG. 4, measurement data of a jig measured by a three-dimensional measuring instrument for N test jigs (that is, three test jigs) to be measured through the keyboard 102 shown in FIG. When the user (or operator) switches to the focus level adjustment mode using the keyboard 102 to adjust the focus level of the part recognition camera 50 of FIG. The level adjustment mode is set (steps S40 and S42).

따라서, 메인 제어 블록(106)에서는, 서보 모터(112)를 구동하여 인덱스(20)를 시계 방향으로 한 피치씩 이동 시킴으로서, 측정하고자 하는 지그들이 흡착노즐에 흡착된 해당 헤드를 부품 인식용 카메라(50)가 설치된 3번 스테이션으로 이동시킨다(단계 S44).Therefore, in the main control block 106, the servo motor 112 is driven to move the index 20 clockwise by one pitch so that the corresponding head, in which the jigs to be measured are adsorbed to the suction nozzle, is used as a part recognition camera ( 50) is moved to the installed station 3 (step S44).

그런다음, 해당 헤드가 3번 스테이션으로 세팅되면, 메인 제어 블록(106)은 현재 촬상(인식)하고자 하는 위치에 있는 흡착노즐에 흡착된 테스트용 지그의 사이즈 데이터에 의거해 비젼제어블럭(120)을 통해 카메라(50)에서 고배 또는 저배 카메라(56,58)를 선택하여 작동시킨다(단계 S46).Then, when the head is set to station 3, the main control block 106 is a vision control block 120 based on the size data of the test jig adsorbed to the suction nozzle at the position to be imaged (recognized). The high and low cameras 56 and 58 are selected and operated by the camera 50 through step S46.

보다 상세하게는, 헤드에 설치된 복수개의 흡착노즐중, 제2도로부터 알 수 있는 바와같이, 현재 촬상 위치에 있는 흡착노즐(43)에 흡착된 테스트용 지그(45)가 기설정 가능한 기준치에 비해 작은 사이즈이면 고배 카메라(56)가 선택되고, 반대로 기준치에 비해 큰 사이즈이면 저배 카메라(58)가 선택되므로서(단계 S44), 선택된 카메라를 통해 촬상된 해당 테스트용 지그(45)에 대한 영상신호가 메인 제어 블럭(106)으로 입력된다(단계 S46), 즉, 사이즈가 기준치보다 작으면 고배 카메라(56)가 렌즈(51), 미러(53) 및 제1하프미러(55)를 통해 입력되는 테스트용 지그(45)에 대한 영상을 촬상하고, 이와같이 촬상된 영상신호는 비젼 제어 블록(120)을 통해 소정의 신호처리 과정을 거친 다음 메인 제어 블록(106)으로 입력될 것이다. 이와 반대로 사이즈가 기준치보다 크면 저배 카메라(58)가 렌즈(51), 미러(53) 및 제2하프미러(57)를 통해 입력되는 테스트용 지그(45)에 대한 영상을 촬상하고, 이와같이 촬상된 영상신호는 비젼 제어 블록(120)을 통해 소정의 신호처리 과정을 거친 다음 메인 제어 블록(106)으로 입력될 것이다.More specifically, of the plurality of adsorption nozzles installed in the head, as can be seen from FIG. 2, the test jig 45 adsorbed to the adsorption nozzle 43 at the current imaging position is compared with the preset value. If the size is small, the high magnification camera 56 is selected. On the contrary, if the size is larger than the reference value, the low magnification camera 58 is selected (step S44), so that the video signal for the test jig 45 photographed through the selected camera is selected. Is inputted to the main control block 106 (step S46), that is, if the size is smaller than the reference value, the high magnification camera 56 is inputted through the lens 51, the mirror 53, and the first half mirror 55. An image of the test jig 45 is photographed, and the image signal thus captured may be input to the main control block 106 after undergoing a predetermined signal processing process through the vision control block 120. On the contrary, if the size is larger than the reference value, the low magnification camera 58 captures an image of the test jig 45 input through the lens 51, the mirror 53, and the second half mirror 57, and the image is thus captured. The video signal may be input to the main control block 106 after undergoing a predetermined signal processing process through the vision control block 120.

한편, 상술한 바와 같은 과정을 통해 선택된 고배 또는 저배 카메라(56,58)를 통해 촬상된 영상신호(테스트용 지그에 대한 사이즈 측정 데이터)가 입력될 때, 메인 제어 블록(106)은 카메라 상하 구동용 펄스 모터(118)를 1펄스씩 정 또는 역회전 구동하여 카메라(50)를 상하 방향으로 이동시키면서 해당 지그(예를 들면, 제1테스트용 지그)에 대한 최적의 포커스 레벨을 조정하게 된다(단계 S50), 이러한 포커스 레벨 조정시에 촬상되는 영상에 대한 측정 데이터를 비젼제어블럭(120)을 통해 연속적으로 메인 제어 블록(106)에 제공되며, 메인 제어 블록(106)에서는 입력되는 해당 테스트용 지그에 대한 측정 데이터(사이즈 측정값)와 사전에 미리 입력되어 있는 기준 데이터(사이즈 실측값)을 연속적으로 비교하여 가장 최적의 측정 데이터, 즉 기준 데이터에 가장 유사한 값을 갖는 측정 데이터를 결정하며(단계 S52), 또한 이와같이 결정된 해당 테스트용 지그에 대한 측정 데이터와 기준 데이터간의 오프셋 값(오차값)을 산출하여 내장된 메모리에 저장한다(단계 S54).On the other hand, when the image signal (size measurement data for the test jig) captured by the selected high or low cameras 56 and 58 is input through the above-described process, the main control block 106 drives the camera up and down. The pulse motor 118 is driven forward or backward by 1 pulse to move the camera 50 in the up and down direction while adjusting the optimum focus level for the jig (for example, the first test jig) ( Step S50), the measurement data for the image captured at the time of adjusting the focus level is continuously provided to the main control block 106 through the vision control block 120, the main control block 106 for the corresponding test input The measurement data (size measurement value) for the jig is compared with the reference data (size measurement value) previously inputted in advance, and thus the most optimal measurement data, that is, most similar to the reference data The measurement data having one value is determined (step S52), and an offset value (error value) between the measurement data and reference data for the test jig thus determined is calculated and stored in the built-in memory (step S54).

다음에, 메인 제어 블록(106)은 상기한 바와같이 제1테스트용 지그에 대한 오프셋 값을 산출하여 내장된 메모리에 저장함과 동시에 메모리에 저장된 오프셋 값의 개수 m이 사전에 미리 입력되어 저장된 기준 데이터의 개수 N과 같은 지의 여부를 체크한다(단계 S56).Next, as described above, the main control block 106 calculates the offset value for the first test jig and stores the offset value in the built-in memory, and at the same time, the number m of offset values stored in the memory is previously input and stored in advance. It is checked whether or not the number N is equal to (step S56).

상기 단계(S56)에서의 체크결과, 메모리에 저장된 오프셋 값의 개수 m이 사전에 미리 입력되어 저장된 기준 데이터의 개수 N보다 작은 것으로 판단되면, 펄스 모터를 구동하여 해당 헤드를 회전시켜 다른 흡착노즐을 부품 인식용 카메라의 촬상위치로 세팅한 다음(단계 S58), 처리는 전술한 단계(S46)로 되돌아가 그 이후의 과정을 반복 수행하고, 메모리에 저장된 오프셋 값의 개수 m이 사전에 미리 입력되어 저장된 기준 데이터의 개수 N과 같은 것으로 판단, 즉 본 실시예에서와 같이 세 개의 테스트용 지그에 대한 각 오프셋 값이 모두 산출된 것으로 판단되면 카메라의 포커스 레벨 조정을 위한 모든 과정이 종료된다.As a result of the check in the step S56, when it is determined that the number m of offset values stored in the memory is smaller than the number N of reference data stored in advance, the pulse motor is driven to rotate the corresponding head to drive another suction nozzle. After setting to the imaging position of the part recognition camera (step S58), the process returns to step S46 described above and repeats the subsequent process, and the number m of offset values stored in the memory is input in advance. If it is determined that the number of stored reference data is equal to N, that is, it is determined that each offset value for all three test jigs is calculated as in the present embodiment, all processes for adjusting the focus level of the camera are completed.

한편, 상술한 바와같은 본 발명의 실시예에서는 테스트용 지그를 한 헤드내의 각 흡착노즐에 함께 흡착시킨 다음, 펄스 모터를 구동해 각 흡착노즐을 회전 이동시켜 가면서 각 지그들에 대한 측정 사이즈 값과 기준 사이즈 값간의 카메라포커스 레벨에 대한 오프셋 값을 산출하는 것으로 하여 설명하였으나, 본 발명이 반드시 이에 국한되지만은 않는 것으로 이해 되어야 할 것이다.On the other hand, in the embodiment of the present invention as described above, the test jig is adsorbed to each of the adsorption nozzles in one head, and then the pulse motor is driven to rotate and move each of the adsorption nozzles so as to measure the measured size value for each jig. Although the description has been made by calculating an offset value for a camera focus level between reference size values, it should be understood that the present invention is not necessarily limited thereto.

즉, 본 발명은 다른 실시예로서 복수의 테스트용 지그를 그에 사응하는 복수의 헤드내의 흡착노즐에 각각 흡착시킨 상태에서 각 지그의 포커스 레벨에 대한 오프셋 값을 산출할 수도 있으며, 이러한 경우에도 실질적으로 상술한 일실시예에서와 같은 동일한 결과를 얻을 수가 있다. 다면, 본 발명의 다른 실시예를 적용하고자 하는 경우에는 전술한 일실시예의 단계(S56)에서의 체크결과 메모리에 저장된 오프셋 값의 개수 m이 사전에 미리 입력되어 저장된 기준 데이터의 개수 N보다 작은 것으로 판단되면, 전술한 일실시예에서와는 달리 처리는 단계(S44)로 되돌아가 그 이후의 과정을 반복 수행하게 될 것이다.That is, in another embodiment, the present invention may calculate an offset value for the focus level of each jig in a state in which a plurality of test jigs are respectively adsorbed to a suction nozzle in a plurality of heads corresponding thereto. The same result as in the above-described embodiment can be obtained. If it is desired to apply another embodiment of the present invention, the number m of offset values stored in the memory as a result of the check in step S56 of the above-described embodiment is smaller than the number N of reference data stored in advance. If it is determined, unlike in the above-described embodiment, the process returns to step S44 to repeat the process thereafter.

또한, 상술한 바와같은 각 테스트용 지그들에 대한 포커스 레벨의 오프셋 값들은 그 조정시 또는 사용자의 선택적인 조작에 의해 모니터(124)를 통해 디스플레이 가능하다. 따라서, 사용자(또는 작업자)는 모니터(124)를 통해 각 테스트용 지그들(또는 칩 부품들)의 포커스 레벨에 대한 오프셋 값을 알 수 있게 될 것이다.In addition, the offset values of the focus level for each test jig as described above can be displayed through the monitor 124 at the time of its adjustment or by a user's selective operation. Thus, the user (or operator) will be able to know the offset value for the focus level of each test jig (or chip components) through the monitor 124.

한편, 본 실시예에서는 테스트용 지그를 이용하여 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨의 오차 보상을 위한 오프셋 값을 산출하는 과정에 대하여 기술하였으나, 실제적인 라인상에서의 적용에 있어서, 본 발명에 따라 산출되는 칩 부품들의 오프셋 값으로 해당 카메라의 포커스 레벨을 오차 보상하여 각 부품의 사이즈를 인식할 때, 부품 인식용 카메라를 통해 인식한 칩 부품의 사이즈가 불량인 것으로 판단되는 경우, 메인 제어 블록(106)에서는 해당 헤드를 스킵하기 위한 제어신호를 발생함과 동시에 에러 메시지를 입출력 및 신호처리 제어 블록(104)로 송출하며, 따라서, 모니터상에 칩 부품 사이즈 불량에 대한 에러신호가 디스플레이 되므로서 사용자는 칩 부품의 사이즈 불량을 쉽게 알 수 있게 될 것이다.Meanwhile, in the present embodiment, a process for calculating an offset value for error compensation of a focus level of a component recognition camera using a test jig has been described. However, in an application on a practical line, it is calculated according to the present invention. When recognizing the size of each component by error compensating the focus level of the corresponding camera with offset values of the chip components, and determining that the size of the chip component recognized by the component recognition camera is inferior, the main control block 106 Generates a control signal for skipping the head and sends an error message to the input / output and signal processing control block 104. Accordingly, an error signal for a defective chip part size is displayed on the monitor, so that the user It will be easy to see the size defects of the parts.

또한, 상기한 바와같은 칩 부품 사이즈 불량이 검출될 때, 모니터에서의 에러신호 디스플레이 뿐만 아니라 부저와 램프 등을 이용하여 사용자에게 불량검출을 경고하도록 하면, 사용자는 보다 신속하게 해당 칩 마운터에서의 칩 부품 사이즈 불량발생을 알 수 있게 될 것이다.In addition, when a chip component size defect as described above is detected, if the user is notified of the defect detection by using a buzzer and a lamp as well as an error signal display on the monitor, the user can more quickly determine the chip in the chip mounter. You will notice the component size defect.

따라서, 상술한 바와같은 본 발명에 따른 칩 마운터용 부품 인식 카메라의 포커스 레벨 조정방법에 따르면, 칩 마운터의 부품 장착작업시에 부품 인식용 카메라를 통한 부품 사이즈 이상 체크를 위한 카메라 촬상시에 그 부품 촬상용 카메라의 포커스 레벨을 본 발명에 따라 산출되어 메모리에 저장된 오프셋 값으로 보상해 주므로서, PCB 기판에 장착하고자 하는 칩 부품 사이즈의 고정밀한 이상 체크가 가능하게 될 것이다.Therefore, according to the focus level adjustment method of the chip mounter part recognition camera according to the present invention as described above, the component during the camera image pickup for checking the abnormal size of the part through the part recognition camera during the component mounting operation of the chip mounter By compensating the focus level of the imaging camera with the offset value calculated in accordance with the present invention and stored in the memory, high precision abnormality check of the chip component size to be mounted on the PCB substrate will be possible.

Claims (6)

사용자 조작을 위한 키입력수단과 모니터를 구비한 사용자 인터페이스 수단, 상기 사용자 인터페이스 수단으로부터의 모드신호에 상응하는 각종 제어신호를 발생하는 메인 제어 블록, 이 메인 제어 블록으로부터의 구동 제어신호에 따라 구동되어 복수의 헤드를 갖는 인덱스를 시계 또는 반시계 방향으로 이동시키는 서보 모터, 상기 메인 제어 블록으로부터의 구동 제어 신호에 따라 구동되어 상기 복수의 각 헤드에 각각 설치된 복수의 흡착노즐을 회전 이동시키는 제1펄스 모터, 상기 메인 제어 블록으로부터의 인식 제어신호에 따라 작동되어 상기 각 헤드내의 각 흡착노즐에 흡착되어 있는 칩 부품을 촬상하는 부품 인식용 카메라, 상기 메인 제어 블록으로부터의 구동 제어신호에 따라 구동되어 상기 부품 인식용 카메라를 상하 방향으로 1펄스씩 이동시키는 제2펄스 모터를 포함하는 칩 마운터용 부품 인식 카메라의 포커스 레벨 조정방법에 있어서, 상기 사용자 인터페이스 수단을 통해 PCB 기판에 장착하고자 하는 N개의 칩 부품에 대한 실측 사이즈 값의 기준 데이터를 상기 메인 제어 블록에 내장된 소정 메모리에 저장하는 제1과정; 상기 사용자 인터페이스 수단으로부터 상기 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨 조정을 위한 모드신호가 입력되면, 상기 메인 제어 블록으로부터 제공되는 구동 제어신호에 의거하여 상기 서보 모터를 구동시켜 상기 인덱스에 설치된 해당 헤드를 상기 부품 인식용 카메라가 설치된 스테이션으로 이동시키는 제2과정; 상기 제2펄스 모터를 구동하여 상기 부품 인식용 카메라를 상하 방향으로 1펄스씩 이동시켜 가면서 상기 헤드내의 N개의 흡착노즐중 하나의 흡착노즐에 흡착되어 있는 해당 칩 부품을 연속적으로 촬상하여 얻어진 상기 해당 칩 부품의 사이즈 값에 대한 측정 데이터들을 생성하는 제3과정; 상기 N개의 기준 데이터중 상기 해당 칩 부품의 사이즈에 대한 기준 데이터와 상기 사이즈 측정 데이터들을 연속적으로 비교하여 최소의 오차값을 갖는 측정 데이터와 상기 기준 데이터간의 오프셋값을 산출하여 소정의 메모리에 저장하는 제4과정; 상기 산출된 오프셋 값의 개수와 상기 N개의 칩 부품에 대한 기준 데이터의 개수를 비교하여 그 값이 동일하지 않는 것으로 판단되면 상기 제1펄스 모터를 구동하여 상기 헤드를 회전시킨 다음 다른 흡착노즐을 상기 부품 인식용 카메라의 촬상위치로 세팅하여, 상기 제3과정과 제4과정을 반복 수행함으로서 상기 헤드내의 다른 흡착노즐들에 흡착되어 있는 칩 부품이 사이즈에 대한 측정 데이터와 그에 상응하는 사이즈 실측 데이터에 대한 기준 데이터간의 다른 오프셋 값들을 산출하여 상기 소정의 메모리에 저장하는 제5과정; 상기 산출된 오프셋 값의 개수와 상기 N개의 칩 부품에 대한 기준 데이터의 개수를 비교하여 그 값이 동일한 것으로 판단되면 상기 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨 조정작업을 종료하는 제6과정을 포함하며, 상기 메인 제어 블록에 내장된 메모리에 저장되는 상기 N개의 칩 부품에 대한 상기 오프셋 값들을 상기 PCB 기판에 장착되는 칩 부품들의 사이즈 인식을 위한 상기 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨을 오차 보정하는데 이용하는 것을 특징으로 하는 칩 마운터용 부품 인식 카메라의 포커스 레벨 조정방법.A user interface means having a key input means and a monitor for user operation, a main control block for generating various control signals corresponding to a mode signal from the user interface means, and driven according to a drive control signal from the main control block Servo motor for moving the index having a plurality of heads in a clockwise or counterclockwise direction, and a first pulse driven by a drive control signal from the main control block to rotate and move a plurality of suction nozzles respectively installed in the plurality of heads. A camera for component recognition which is operated according to a motor, a recognition control signal from the main control block, and photographs a chip component adsorbed to each suction nozzle in each head, and is driven according to a drive control signal from the main control block. Each pulse of the component recognition camera in the vertical direction In the focus level adjustment method of the chip mounter component recognition camera including a second pulse motor to move, the main data is the reference data of the measurement size value for the N chip components to be mounted on the PCB substrate through the user interface means; A first step of storing in a predetermined memory embedded in a control block; When a mode signal for adjusting the focus level of the component recognition camera is input from the user interface means, the servo motor is driven based on a driving control signal provided from the main control block so that the corresponding head installed at the index is replaced with the head. A second step of moving to a station where a recognition camera is installed; The second pulse motor is driven to move the component recognition camera by one pulse in a vertical direction while continuously imaging the corresponding chip component adsorbed by one of the N adsorption nozzles in the head. Generating measurement data on a size value of the chip component; Comparing the reference data for the size of the corresponding chip component of the N pieces of reference data and the size measurement data continuously to calculate the offset value between the measurement data having the minimum error value and the reference data and to store in a predetermined memory Fourth process; When the calculated number of offset values is compared with the number of reference data for the N chip components, and the value is determined to be not the same, the first pulse motor is driven to rotate the head, and then another suction nozzle is used. By setting the image pickup position of the component recognition camera, the third and fourth processes are repeatedly performed, so that the chip components adsorbed on the other adsorption nozzles in the head are measured on the size measurement data and the corresponding size measurement data. A fifth step of calculating different offset values between the reference data for the reference data and storing the offset values in the predetermined memory; And a sixth process of comparing the calculated number of offset values with the number of reference data for the N chip parts and terminating the focus level adjustment of the camera for recognizing the parts if the value is determined to be the same. The offset values of the N chip components stored in a memory embedded in a main control block are used for error correction of a focus level of the component recognition camera for size recognition of chip components mounted on the PCB board. How to adjust the focus level of the component recognition camera for chip mounter. 제1항에 있어서, 상기 인덱스에 구비된 복수의 헤드는 12개의 헤드인 것을 특징으로 하는 칩 마운터용 부품 인식 카메라의 포커스 레벨 조정방법.The method of claim 1, wherein the plurality of heads included in the index are 12 heads. 제2항에 있어서, 상기 각 헤드에는 5개의 흡착노즐이 장착되는 것을 특징으로 하는 칩 마운터용 부품 인식 카메라의 포커스 레벨 조정방법.The method of claim 2, wherein each of the heads is equipped with five suction nozzles. 사용자 조작을 위한 키입력수단과 모니터를 구비한 사용자 인터페이스 수단, 상기 사용자 인터페이스 수단으로부터의 모드 신호에 상응하는 각종 제어신호를 발생하는 메인제어블록, 이 메인 제어 블록으로부터의 구동 제어신호에 따라 구동되어 복수의 헤드를 갖는 인덱스를 시계 또는 반시계방향으로 이동시키는 서보 모터, 상기 메인 제어블록으로부터의 인식제어신호에 따라 작동되어 상기 각 헤드내의 각 흡착노즐에 흡착되어 있는 칩 부품을 촬상하는 부품인식용 카메라, 상기 메인 제어블록으로부터의 구동 제어신호에 따라 구동되어 상기 부품 인식용 카메라를 상하 방향으로 1펄스씩 이동시키는 펄스 모터를 포함하는 칩 마운터용 부품 인식카메라의 포커스 레벨 조정방법에 있어서, 상기 사용자 인터페이스 수단을 통해 PCB 기판에 장착하고자 하는 N개의 칩 부품에 대한 실측 사이즈 값의 기준 데이터를 상기 메인 제어 블록에 내장된 소정 메모리에 저장하는 제1과정; 상기 사용자 인터페이스 수단으로부터 상기 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨 조정을 위한 모드신호가 입력되면, 상기 메인 제어 블록으로부터 제공되는 구동 제어신호에 의거하여 상기 서보 모터를 구동시켜 상기 인덱스에 설치된 해당 헤드를 상기 부품 인식용 카메라가 설치된 스테이션으로 이동시키는 제2과정; 상기 펄스 모터를 구동하여 상기 부품 인식용 카메라를 상하 방향으로 1펄스씩 이동시켜 가면서 상기 헤드내의 N개의 흡착노즐중 하나의 흡착노즐에 흡착되어 있는 해당 칩 부품을 연속적으로 촬상하여 얻어진 상기 해당 칩 부품의 사이즈 값에 대한 측정 데이터들을 생성하는 제3과정; 상기 N개의 기준 데이터중 상기 해당 칩 부품의 사이즈에 대한 기준 데이터와 상기 사이즈 측정 데이터들을 연속적으로 비교하여 최소의 오차값을 갖는 측정 데이터와 상기 기준 데이터간의 오프셋값을 산출하여 소정의 메모리에 저장하는 제4과정; 상기 산출된 오프셋 값의 개수와 상기 N개의 칩 부품에 대한 기준 데이터의 개수를 비교하여 그 값이 동일하지 않는 것으로 판단되면 상기 제2과정, 제3과정 및 제4과정을 반복 수행하여, 상기 인덱스에 설치된 다른 헤드내의 특정 흡착노즐들에 흡착되어 있는 칩 부품이 사이즈에 대한 측정 데이터와 그에 상응하는 사이즈 실측 데이터에 대한 기준 데이터간의 다른 오프셋 값들을 산출하여 상기 소정의 메모리에 저장하는 제5과정; 상기 산출된 오프셋 값의 개수와 상기 N개의 칩 부품에 대한 기준 데이터의 개수를 비교하여 그 값이 동일한 것으로 판단되면 상기 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨 조정작업을 종료하는 제6과정을 포함하며, 상기 메인 제어 블록에 내장된 메모리에 저장되는 상기 N개의 칩 부품에 대한 상기 오프셋 값들을 상기 PCB 기판에 장착되는 칩 부품들의 사이즈 인식을 위한 상기 부품 인식용 카메라의 포커스 레벨을 오차 보정하는데 이용하는 것을 특징으로 하는 칩 마운터용 부품 인식 카메라의 포커스 레벨 조정방법.A user interface means having a key input means and a monitor for user operation, a main control block for generating various control signals corresponding to mode signals from the user interface means, and driven according to a drive control signal from the main control block Servo motor for moving the index having a plurality of heads in a clockwise or counterclockwise direction, and a component recognition for imaging a chip component which is operated according to a recognition control signal from the main control block and adsorbed to each suction nozzle in each head. A focus level adjustment method of a component mounting camera for a chip mounter comprising a camera and a pulse motor driven by a driving control signal from the main control block to move the component recognition camera by one pulse in the vertical direction. Mounted on the PCB board via interface means A first process of storing the reference data on the actual size value for the N number of chip components in a predetermined memory incorporated in the main control block diagram; When a mode signal for adjusting the focus level of the component recognition camera is input from the user interface means, the servo motor is driven based on a driving control signal provided from the main control block so that the corresponding head installed at the index is replaced with the head. A second step of moving to a station where a recognition camera is installed; The chip component obtained by continuously imaging the chip component adsorbed by one of the N adsorption nozzles in the head while moving the pulse recognition camera by one pulse in the vertical direction by driving the pulse motor. Generating measurement data for a size value of? Comparing the reference data for the size of the corresponding chip component of the N pieces of reference data and the size measurement data continuously to calculate the offset value between the measurement data having the minimum error value and the reference data and to store in a predetermined memory Fourth process; When the calculated number of offset values is compared with the number of reference data for the N chip components and the value is determined to be not the same, the second process, the third process, and the fourth process are repeated to perform the index. A fifth step of calculating, by the chip component adsorbed to specific adsorption nozzles in other heads installed in the head, different offset values between the measurement data on the size and the reference data on the size measurement data corresponding thereto, and storing the offset values in the predetermined memory; And a sixth process of comparing the calculated number of offset values with the number of reference data for the N chip parts and terminating the focus level adjustment of the camera for recognizing the parts if the value is determined to be the same. The offset values of the N chip components stored in a memory embedded in a main control block are used for error correction of a focus level of the component recognition camera for size recognition of chip components mounted on the PCB board. How to adjust the focus level of the component recognition camera for chip mounter. 제1항에 있어서, 상기 인덱스에 구비된 복수의 헤드는 12개의 헤드인 것을 특징으로 하는 칩 마운터용 부품 인식 카메라의 포커스 레벨 조정방법.The method of claim 1, wherein the plurality of heads included in the index are 12 heads. 제2항에 있어서, 상기 각 헤드에는 5개의 흡착노즐이 장착되는 것을 특징으로 하는 칩 마운터용 부품 인식 카메라의 포커스 레벨 조정방법.The method of claim 2, wherein each of the heads is equipped with five suction nozzles.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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