KR0161006B1 - Automatic measured checking apparatus for printed circuit board - Google Patents

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KR0161006B1 KR1019920019356A KR920019356A KR0161006B1 KR 0161006 B1 KR0161006 B1 KR 0161006B1 KR 1019920019356 A KR1019920019356 A KR 1019920019356A KR 920019356 A KR920019356 A KR 920019356A KR 0161006 B1 KR0161006 B1 KR 0161006B1
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윤종용
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Abstract

본 발명은 인쇄회로기판의 자동측정 검사장치에서의 피측정회로 기판상의 부품에 대한 측정을 행할 때 피측정회로 기판상의 부품이 측정신호원(전압 또는 전류)에 의해 손상되는 것을 방지할 수 있는 인쇄회로기판의 자동측정 검사장치의 피측정부품 보호장치에 관한 것으로써, 피측정기판상의 부품의 정격치를 측정하기 위하여 회로에 정전류를 공급하는 정전원부와, 상기 정전원부에서 출력되는 전류를 증폭해서 상기 피측정부품 양단에 걸리는 전압에 의거하여 전류흐름 방향을 제어하는 전류제어부와, 상기 전류제어부로부터 출력된 전압을 반전시키는 반전부와, 상기 반전부의 출력전압에 따라 피측정부품에 적합한 전류가 흐를 수 있도록 전류를 선택하는 전류선택부와, 피측정부품의 일측에 전류를 공급하는 전류버퍼와 상기 피측정기판상의 부품양단 전압을 측정하는 차동증폭부와, 전류의 흐름을 제어하도록 상기 차동증폭부의 출력전압을 감지하여 상기 전류제어부에 인가하는 전압센서로 이루어진 것을 특징으로 한다.The present invention provides a printing which can prevent a component on a circuit board under measurement from being damaged by a measurement signal source (voltage or current) when measuring a component on a circuit board under measurement in an automatic measurement inspection apparatus of a printed circuit board. An apparatus for protecting a component under test of an automatic measuring and inspecting apparatus of a circuit board, the apparatus comprising: an electrostatic source unit for supplying a constant current to a circuit for measuring a rated value of a component on a substrate under test; and amplifying a current output from the electrostatic source unit; The current control unit controls the direction of the current flow based on the voltage across the part to be measured, the inversion unit for inverting the voltage output from the current control unit, and the current suitable for the component under measurement according to the output voltage of the inversion unit. A current selector for selecting a current so as to select a current, a current buffer for supplying current to one side of the component under test, and a A differential amplifier for measuring the voltage across the component, and a voltage sensor for sensing the output voltage of the differential amplifier to apply the current control unit to control the flow of current.

Description

인쇄회로기판의 자동측정 검사장치에 있어서의 피측정부품 보호장치Device to be protected in automatic measuring inspection device of printed circuit board

제1도는 본 발명의 일실시예에 의한 피측정부품 보호장치의 블록도.1 is a block diagram of a device under protection according to an embodiment of the present invention.

제2도는 제1도의 상세 회로도.2 is a detailed circuit diagram of FIG.

제3도, 제4도는 본 발명의 전압센서의 출력 변화에 따른 회로 동작예시도.3 and 4 are examples of circuit operation according to the output change of the voltage sensor of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1 : 정전압원 2 : 전류제어부1: constant voltage source 2: current control unit

3 : 반전부 4 : 전류선택부3: Inverter 4: Current selector

5 : 전류버퍼 6 : 피측정기판상의 부품5: Current buffer 6: Parts on the substrate to be measured

7 : 차동앰프부 8 : 전압센서7: differential amplifier unit 8: voltage sensor

본 발명은 인쇄회로기판(Printed Circuit Board: 이하, PCB라 한다)의 자동측정 검사장치에 관한 것으로써, 특히 인쇄회로기판의 자동측정 검사장치에서의 피측정회로 기판상의 부품에 대한 측정을 행할 때 피측정 회로기판상의 부품이 측정신호원(전압 또는 전류)에 의해 손상되는 것을 방지할 수 있는 인쇄회로기판(PCB)의 자동측정 검사장치에 있어서의 피측정부품 보호장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to an automatic measurement inspection apparatus of a printed circuit board (hereinafter, referred to as a PCB), and particularly, when measuring a component on a circuit board under measurement in an automatic measurement inspection apparatus of a printed circuit board. A device for protection of a component under test in an automatic measurement inspection apparatus for a printed circuit board (PCB) capable of preventing damage to a component on a circuit under measurement by a measurement signal source (voltage or current).

일반적으로 피측정회로 기판상의 부품에 측정신호를 인가하여 측정을 행할 때 측정되어지는 피측정부품은 소형화되는 경향이므로 전기적인 내압이 매우 작다.In general, when a measurement signal is applied to a component on a circuit board under measurement, the component under measurement tends to be miniaturized, and thus the electrical breakdown voltage is very small.

예를들면, 현재 생산되는 1005칩(가로 1.0mm, 세로 0.5mm )중에서 저항은 전기적인 내압이 1/16W (0.06W)에 불과하므로 측정시 인가되는 전압 또는 전류에 의해서 피측정 기판상의 부품이 손상될 염려가 있다.For example, among the 1005 chips produced (1.0 mm wide and 0.5 mm wide), the resistance is only 1 / 16W (0.06W). There is a risk of damage.

즉, 측정시 인가되는 전류가 10CmA)이고, 피측정 기판상의 저항이 10(KΩ)이라면,That is, if the current applied at the time of measurement is 10 CmA) and the resistance on the substrate under measurement is 10 (KΩ),

P=I × E = I × (I×R) = 0.01 × (0.01 × 10.000) = 1(W)P = I × E = I × (I × R) = 0.01 × (0.01 × 10.000) = 1 (W)

가 되어 1005칩 저항의 내압을 훨씬 능가하므로 부품의 손상을 초래하는 것이다.This is much higher than the breakdown voltage of the 1005 chip resistor, resulting in component damage.

또한, 현재 새로이 등장하여 그 사용량이 날로 증가하고 있는 SMD의 경우에는 특히 저전류 또는 저전압의 측정이 요구되고 있으며 또한 측정모드의 선택이 잘못 되었을 때에도 피측정 기판상의 부품이 손상을 입지않도록 해야 한다.In addition, in the case of SMD, which is newly introduced and its usage is increasing day by day, a measurement of low current or low voltage is required, and the components on the substrate to be measured should not be damaged even when the measurement mode is incorrectly selected.

따라서, 본 발명은 이와같은 점을 감안해서 이루어진 것으로써, 본 발명의 목적은 인쇄회로기판의 자동측정 검사장치에 있어서, 피측정회로 기판상의 부품이 전기적인 피해 또는 손상을 입지 않는 범위내에서 측정을 행할 수 있는 인쇄회로기판의 자동측정 검사장치에 있어서의 피측정부품 보호장치를 제공하는데 있다.Accordingly, the present invention has been made in view of such a point, and an object of the present invention is to measure an automatic measurement inspection apparatus for a printed circuit board within a range in which the parts on the circuit board under measurement do not suffer electrical damage or damage. The present invention provides an apparatus for protecting a component under test in an automatic measurement inspection apparatus for a printed circuit board.

이와같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 의한 인쇄회로기판의 자동측정 검사장치에 있어서의 피측정부품 보호장치는, 피측정기판상의 부품의 정격치를 측정하기 위하여 회로에 정전류를 공급하는 정전원부와, 상기 전원부에서 출력되는 전류를 증폭해서 상기 피측정부품 양단에 걸리는 전압에 의거하여 전류흐름 방향을 제어하는 전류제어부와, 상기 전류제어부로부터 출력된 전압을 반전시키는 반전부와, 상기 반전부의 출력전압에 따라 피측정부품에 적합한 전류가 흐를수 있도록 각 저항값에 따른 전류를 선택하는 전류선택부와, 피측정부품의 일측에 전류를 공급하는 전류버퍼와, 상기 피측정기판상의 부품양단 전압을 측정하는 차동증폭부와, 전류의 흐름을 제어하도록 상기 차동증폭부의 출력전압을 감지하여 상기 전류제어부에 인가하는 전압센서로 이루어진 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the device to be measured protected in the automatic measuring inspection apparatus of the printed circuit board according to the present invention includes an electrostatic source unit for supplying a constant current to the circuit for measuring the rated value of the component on the substrate to be measured; A current control unit for amplifying the current output from the power supply unit and controlling the current flow direction based on the voltage across the part to be measured, an inverting unit for inverting the voltage output from the current control unit, and an output voltage of the inverting unit. A current selector for selecting a current according to each resistance value so that a current suitable for the component under test flows, a current buffer for supplying current to one side of the component under test, and a voltage across the component on the substrate to be measured. The differential amplifier and the output voltage of the differential amplifier to sense the current flow to control the flow of the current It is characterized by consisting of a voltage sensor.

이하, 본 발명의 일실시예에 대하여 첨부 도면을 참조해서 상세히 설명한다.Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

제1도는 본 발명의 일실시예에 의한 피측정부품 보호장치의 블록도, 제2도는 제1도의 상세회로도, 제3도, 제4도는 본 발명의 전압센서의 출력변화에 따른 회로동작 예시도이다.1 is a block diagram of a device to be protected according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a detailed circuit diagram of FIG. 1, and FIG. 3 and FIG. 4 are circuit diagrams illustrating changes in output of the voltage sensor of the present invention. to be.

제1도 내지 제2도에 도시한 바와같이, 정전압원(1)은 피측정기판상의 부품의 정격치를 측정하기 위하여 -5V의 전압을 인가받아서 정전류를 공급하는 것이고, 전류제어부(2)는 상기 정전원부(1)으로부터 출력되는 전류를 증폭해서 상기 피측정부품의 양단에 걸리는 전압에 의거하여 전류의 흐름 방향을 제어하는 것으로써, 이 전류제어부(2)는 상기 정전원부(1)에서 출력되는 전류를 제한하는 저항(R1)과, 상기 저항(R1)을 통해서 정전원부(1)의 출력전류를 반전단자(-)에서 받음과 동시에 일측이 접지되고 타측이 비반전단자(+)에 접속된 저항(R2)에 접속되어서 상기 저항(R1)에 인가되는 전압을 증폭하는 제1의 연산증폭기(OP1)와, 증폭저항(R3)과, 상기 연산증폭기(OP1)의 출력전류를 저항(R21,R22)을 통해 받아서, 전류의 흐름방향을 제어하는 브리지정류회로(2a)로 구성되어 있다.As shown in Figs. 1 to 2, the constant voltage source 1 supplies a constant current by applying a voltage of -5V to measure the rated value of the component on the substrate under test, and the current control unit 2 By amplifying the current output from the electrostatic source unit 1 and controlling the flow direction of the current based on the voltage across the part to be measured, the current control unit 2 is output from the electrostatic source unit 1 Receiving the output current of the electrostatic source unit 1 from the inverting terminal (-) through the resistance (R1) and the limiting current, and one side is grounded and the other side is connected to the non-inverting terminal (+) The first operational amplifier OP1 connected to the resistor R2 and amplifying the voltage applied to the resistor R1, the amplifying resistor R3, and the output current of the operational amplifier OP1 are connected to the resistor R21, Received through R22), the bridge rectifier circuit (2a) for controlling the flow direction of the current It is.

그리고, 반전부(3)는 상기 전류제어부(2)로부터 출력되는 전압을 반전시키는 것으로서, 이 반전부(3)는 상기 전류제어부(2)로부터 출력되는 전류를 제한하는 저항(R4)과, 상기 저항(R4)에 걸리는 전압을 비반전단자(-)에서 받음과 동시에 일측이 접지되고 타측이 비반전단자(+)에 접속된 저항(R5)접속되어서 상기 저항(R4)에 걸리는 전압을 증폭하는 제2의 연산증폭기(OP2)와, 피이드백 저항(R6)으로 구성되어 있고, 전류선택부(4)는 상기 반전부(3)의 출력전압에 따라 피측정부품에 적합한 전류가 흐를 수 있도록 전류를 선택하는 것으로써, 이 전류선택부(4)는 상기 반전부(3)의 제2의 연산증폭기(OP2)에서 출력되는 전류를 선택하도록 병렬로 접속된 저항(R7~R11)과, 상기 저항(R7~R11)에 각각 접속된 스위치(S1~S5)로 구성되어 있고, 전류버퍼(5)는 피측정부품의 일측에 전류를 공급하는 전류버퍼로써, 이 전류버퍼(5)는 반전단자(-)에 상기 전류선택부(4)의 스위치(S1~S5)에 일측이 접속되어 피측정부품(Rx)에 공급되는 전류를 증폭하는 제3의 증폭기(OP3)와, 일측이 접지되고 타측이 상기 제3의 증폭기(OP3)의 비반전단자(+)에 접속되는 저항(R12)으로 구성되어 있다.The inverting unit 3 inverts the voltage output from the current control unit 2. The inverting unit 3 includes a resistor R4 for limiting the current output from the current control unit 2, and Receiving the voltage across the resistor R4 at the non-inverting terminal (-) and simultaneously amplifying the voltage applied to the resistor R4 by connecting a resistor R5 connected to the non-inverting terminal (+) on one side to the ground And a second operational amplifier OP2 and a feedback resistor R6. The current selector 4 is configured to allow a current suitable for the component under measurement according to the output voltage of the inverter 3. By selecting, the current selecting section 4 includes resistors R7 to R11 connected in parallel to select a current output from the second operational amplifier OP2 of the inverting section 3, and the resistor. It consists of switches S1 to S5 connected to R7 to R11, respectively, and the current buffer 5 has a current on one side of the component under measurement. As a current buffer for supplying the current buffer 5, one side of the current buffer 5 is connected to the inverting terminal (-) to the switches S1 to S5 of the current selection unit 4 to supply the current supplied to the component Rx to be measured. The third amplifier OP3 to be amplified and a resistor R12 connected to the non-inverting terminal + of the third amplifier OP3 on one side of the ground and the other side thereof.

그리고, 차동증폭부(7)는 상기 전류선택부(4)의 스위치(S1~S5)에 일측이 접속되어 전류를 제한하는 저항(R13)과, 상기 전류버퍼(5)의 출력단에 일측이 접속되고 타측이 접지저항(R16)과, 병렬된 저항(R14)과, 상기 저항(R13)을 통해서 피측정부품(Rx)의 일측을 경유해서 전류선택부(4)에서 선택된 전류를 반전단자(-)에서 받음과 동시에, 상기 저항(R14)을 통해서 피측정부품(Rx)의 타측을 경유해서 전류선택부(4)에서 출력되는 전류를 비반전단자(+)에서 받아서 이들의 차이값을 증폭하는 제4의 연산증폭기(OP4)로 구성되어 있고, 전압센서(8)는 피측정부품(Rx)에 인가되는 전류의 흐름을 제어하도록 상기 차동증폭부(7)의 출력전압을 감지하여 증폭해서 상기 전류제어부(2)에 인가하는 것으로써, 이 전압센서(8)는 상기 차동증폭부(7)의 제4의 연산증폭기(OP4)의 출력신호를 제한하는 저항(R18)과, 상기 저항(R18)을 통해서 상기 제4의 연산증폭기(OP4)의 출력신호를 반전단자(-)에서 받아 증폭하는 제5의 연산증폭기(OP5)와, 일측이 상기 제5의 연산증폭기(OP5)의 비반전단자(+)에 접속되며 타측이 접지되어 있는 저항(R20)과, 상기 제5의 연산증폭기(OP5) 및 저항(R18)에 일측이 접속되고 타측이 DC 전원에 접속된 저항(R17)으로 구성되어 있다.One side of the differential amplifier 7 is connected to the switches S1 to S5 of the current selector 4 to limit the current, and one side of the differential amplifier 7 is connected to an output terminal of the current buffer 5. And the other side of the inverting terminal (−) through the ground resistor R16, the parallel resistor R14, and the resistor R13 via one side of the component under test Rx. ) And at the same time receives the current output from the current selector 4 through the other side of the component Rx through the resistor R14 and receives the current from the non-inverting terminal (+) and amplifies the difference value thereof. And a fourth operational amplifier OP4, and the voltage sensor 8 senses and amplifies the output voltage of the differential amplifier 7 to control the flow of current applied to the component Rx to be measured. By applying to the current control unit 2, the voltage sensor 8 outputs the output signal of the fourth operational amplifier OP4 of the differential amplifier 7. A limiting resistor R18, a fifth operational amplifier OP5 which receives and amplifies the output signal of the fourth operational amplifier OP4 through the inverting terminal (-) through the resistor R18, and one side A resistor R20 connected to the non-inverting terminal (+) of the fifth operational amplifier OP5 and grounded on the other side thereof, and one side connected to the fifth operational amplifier OP5 and the resistor R18 on the other side thereof, It consists of the resistor R17 connected to the DC power supply.

이와같이 구성된 발명에 의한 피측정부품 보호장치에 있어서, 먼저 피측정부품 Rx(6)가 손상을 입는 원인을 고찰하면, 피측정 기판상의 부품Rx(6)에 대한 측정을 행할 때, 전류선택부의 저항(R7,R8,R9,R10,R11)중에서 한가지 모드가 선택되어 정전류가 흐르도록 한다.In the device to be protected according to the invention configured as described above, considering the cause of damage of the component Rx (6) first, when the measurement of the component Rx (6) on the substrate to be measured is performed, the resistance of the current selection unit is One mode is selected from (R7, R8, R9, R10, R11) to allow constant current to flow.

이때, 전류의 흐름방향을 제어하는 전류제어부(2)가 없다고 가정하면,At this time, assuming that there is no current control unit 2 for controlling the flow direction of the current,

가 되고,Become,

가 되도록 설정되어 있다.It is set to be.

여기서, Va 는 전류버퍼(5)의 제3의 연산증폭기(OP3)의 반전단자(-)에 연결되어 가상 그라운드(Virtual ground)가 되므로 전류는 Va=0(V) 로 부터 V2= -1(V)로 흐르게 된다.Here, since Va is connected to the inverting terminal (-) of the third operational amplifier OP3 of the current buffer 5 to become a virtual ground, the current is from V = 0 (V) to V2 = -1 ( V).

이때, 전류선택부(4)를 구성하는 저항(R7~R11) 중에서 만약 저항 R7 = 100(Ω) 이 선택되었다면,At this time, if the resistor R7 = 100 (Ω) of the resistors R7 to R11 constituting the current selection unit 4,

의 전류가 피측정부품 Rx(6)의 단자(B)에서 단자(A)로 흐르게 된다.Current flows from the terminal B to the terminal A of the component under test Rx (6).

여기서 상기 피측정부품 Rx(6)의 값이 1005칩으로 된 1(KΩ)이었다면,Here, if the value of the component Rx (6) to be measured was 1 (KΩ) of 1005 chips,

Vb = 100mA × 1KΩ = 10(V)Vb = 100 mA × 1 KΩ = 10 (V)

가 되고, 차동증폭부(7)의 저항(R13)과 저항(R14), 그리고 저항(R15)과 저항(R16)이 동일한 값이고, 이득(Gain)은 25 이므로, 제4연산증폭기(OP4)의 출력전압(Vad)은Since the resistance R13 and the resistor R14 of the differential amplifier 7 and the resistor R15 and the resistor R16 are the same value and the gain is 25, the fourth operational amplifier OP4 is obtained. The output voltage (Vad) of

가 된다.Becomes

그러나 상기 제4의 연산증폭기(OP4)의 최대 출력전압은 +15(V)까지로 설정되어 있으므로 출력전압(Vad)은 +15(V)가 출력된다.However, since the maximum output voltage of the fourth operational amplifier OP4 is set to +15 (V), the output voltage Vad is outputted with +15 (V).

따라서, 상기 피측정부품 Rx(6)에 걸리는 전력(P)은 P=I × V= 0.01 × 10 =1(W)가 되므로 피측정부품 Rx(6)가 전기적인 손상을 입게 된다.Therefore, the power P applied to the component Rx 6 to be measured is P = I × V = 0.01 × 10 = 1 = 1 (W), so that the component Rx 6 to be measured is electrically damaged.

이와같은 전기적인 손상을 방지하기 위해서, 제4의 연산증폭기(OP4)의 출력전압(Vad)이 일정범위를 벗어나면 Va에서 V2로 흐르는 전류의 방향을 V2에서 Va 로 흐르도록 변환시킴으로써 피측정부품 Rx(6)가 입을 수 있는 손상을 방지하는 것이다.To prevent such electrical damage, when the output voltage Va of the fourth operational amplifier OP4 is out of a certain range, the direction of the current flowing from Va to V2 is changed to flow from V2 to Va. This is to prevent damage that Rx (6) may cause.

이와같은 전류의 방향을 제어하기 위하여 차동증폭부(7)에 제4의 연산증폭기(OP4)의 출력(Vad)을 감지하는 전압센서부(8)는 제5의 연산증폭기(OP5)를 이용하여 비교기로서 사용하고 있다.In order to control the direction of the current, the voltage sensor unit 8 that detects the output Vad of the fourth operational amplifier OP4 to the differential amplifier 7 uses the fifth operational amplifier OP5. It is used as a comparator.

이때, 상기 제5의 연산증폭기(OP5)의 출력(V3)은 상기 제4의 연산증폭기(OP4)의 출력(Vad)이 10.7V 보다 작으면 (Vad 10.7), 제5의 연산증폭기(OP5)의 출력(V3)은 +15V로 포화되고, 제4의 연산증폭기(OP4)의 출력(Vad)이 10.7V 보다크면 (Vad 10.7), 제5의 연산증폭기(OP5)의 출력(V3)은 -15V 로 포화된다.At this time, when the output V3 of the fifth operational amplifier OP5 is less than 10.7 V, the output Vad of the fourth operational amplifier OP4 is lower than 10.7 V (Vad 10.7), and the fifth operational amplifier OP5 is output. Output V3 is saturated to + 15V, and if output Vad of fourth operational amplifier OP4 is greater than 10.7V (Vad 10.7), output V3 of fifth operational amplifier OP5 is-. Saturated to 15V.

각각을 분리해서 설명한다.Explain each separately.

1) 제4의 연산증폭기(OP4)의 출력(Vad)이 10.7V 보다 작아서 제5의 연산증폭기(OP5)의 출력(V3)이 +15V 로 포화되는 경우 이와같은 경우를 도시한 것이 제3도이며, 전류제어부(2)의 브리지 정류기(2a)를 구성하는 다이오드(D1~D4)중 다이오드(D1)와 다이오드(D3)는 오프되고, 다이오드(D2)와 다이오드(D4)는 온되므로 전류(i1)(i2)의 흐름방향이 각각 다르고, 반전부(3)의 연산증폭기(OP2)의 출력(V2)은 -1[V]가 되어 정상 동작을 행하게 되는 것이다.1) When the output Vad of the fourth operational amplifier OP4 is smaller than 10.7 V and the output V3 of the fifth operational amplifier OP5 is saturated to + 15V, FIG. The diodes D1 and D3 of the diodes D1 to D4 constituting the bridge rectifier 2a of the current control unit 2 are turned off, and the diodes D2 and D4 are turned on so that the current ( The flow directions of i1) and i2 are different from each other, and the output V2 of the operational amplifier OP2 of the inverting section 3 becomes -1 [V] to perform normal operation.

2) 제4의 연산증폭기(OP4)의 출력(Vad)이 10.7V 보다 커서 제5의 연산증폭기(OP5)의 출력이 -15로 포화되는 경우 이와같은 경우를 도시한 것이 제4도이며, 전류제어부(2)의 브리지 정류기(2a)를 구성하는 다이오드(D1~D4) 중 다이오드(D2)와 다이오드(D4)는 오프되고, 다이오드(D1)와 다이오드(D3)는 온된다.2) When the output Vad of the fourth operational amplifier OP4 is greater than 10.7 V and the output of the fifth operational amplifier OP5 saturates to -15, this is illustrated in FIG. 4. The diodes D2 and D4 of the diodes D1 to D4 constituting the bridge rectifier 2a of the controller 2 are turned off, and the diodes D1 and D3 are turned on.

이때, 전류제어부(2)의 제1의 연산증폭기(OP1)의 출력단으로부터 단차전압(V1)이 형성되는 부분으로의 전류흐름은 다이오드(D1)에 의해서 차단되므로 제4도에 도시한 회로구성 요소중 전류제어부(2)의 제1의 연산증폭기(OP1)와 브리지정류기(2a)의 다이오드(D1)(D3)와 저항(R21)(R22)은 없는 것과 마찬가지이다.At this time, since the current flow from the output terminal of the first operational amplifier OP1 of the current control unit 2 to the portion where the step voltage V1 is formed is blocked by the diode D1, the circuit components shown in FIG. The first operational amplifier OP1 of the current control unit 2 and the diodes D1 and D3 and the resistors R21 and R22 of the bridge rectifier 2a are the same.

따라서, 반전부(3)의 제2의 연산증폭기(OP2)의 출력(V2)은,Therefore, the output V2 of the second operational amplifier OP2 of the inversion unit 3 is

가 되도록 저항(R1,R3,R4,R6)의 값이 정해진다.The values of the resistors R1, R3, R4, and R6 are determined to be.

여기서 상기 0.45[V]하는 것은 전류 흐름방향 즉, 전류(i)가 V2=0.45[V]에서 Va=0[V]로 흐른다는 것을 의미한다.Here, 0.45 [V] means that the current flow direction, i.e., the current i flows from V2 = 0.45 [V] to Va = 0 [V].

한편, 제4의 연산증폭기(OP4)의 출력(Vad 1이 10.7[V]) 일 때, 피측정부품 Rx(6)의 일측단자전압(Vb)은On the other hand, when the output VAD 1 of the fourth operational amplifier OP4 is 10.7 [V], one terminal voltage Vb of the component Rx 6 to be measured is

가 된다.Becomes

그러므로, 피측정부품 Rx(6)에 걸리는 전력(P)은 P(w)=I × E = 10mA × 0.428V = 0.00428(w)가 되므로 1005칩의 전기적인 내압 0.0625(W)보다 작도록 전류의 흐름을 차단시키므로 피측정부품 Rx(6)의 손상을 방지하는 것이다.Therefore, the power P applied to the component Rx (6) to be measured is P (w) = I × E = 10mA × 0.428V = 0.00428 (w), so that the current is smaller than the electrical breakdown voltage 0.0625 (W) of the 1005 chip. This prevents damage to the component under test Rx (6) by blocking the flow of water.

이와같이 본 발명에 의하면, 인쇄회로기판의 자동측정검사장치에 있어서, 피측정회로 기판상의 부품이 전기적인 피해 또는 손상을 입지 않도록 하는 뛰어난 효과가 있는 것이다.As described above, according to the present invention, in the automatic measurement inspection apparatus of the printed circuit board, there is an excellent effect of preventing the parts on the circuit board under measurement from being damaged or damaged.

Claims (7)

피측정기판상의 부품의 정격치를 측정하기 위하여 회로에 정전류를 공급하는 정전압원과, 상기 정전압원에서 출력되는 전류를 증폭해서 상기 피측정부품 양단에 걸리는 전압에 의거하여 전류흐름 방향을 제어하는 전류제어부와, 상기 전류제어부로부터 출력된 전압을 반전시키는 반전부와, 상기 반전부의 출력전압에 따라 피측정부품에 적합한 전류가 흐를 수 있도록 전류를 선택하는 전류선택부와, 전류공급용 전류버퍼와 상기 피측정기판상의 부품양단 전압을 측정하는 차동증폭부와, 피측정부품에 인가되는 전류의 흐름을 제어하도록 상기 차동증폭부의 출력전압을 감지하여 증폭해서 상기 전류제어부에 인가하는 전압센서로 이루어진 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 자동측정 검사장치에 있어서의 피측정부품 보호장치.A constant voltage source for supplying a constant current to the circuit to measure the rated value of the component on the substrate under test, and a current control unit for amplifying the current output from the constant voltage source and controlling the current flow direction based on the voltage across the part to be measured. And an inverting unit for inverting the voltage output from the current control unit, a current selecting unit for selecting a current so that a suitable current flows according to the output voltage of the inverting unit, a current buffer for supplying current, and the And a differential amplifier for measuring the voltage across the component on the measurement board, and a voltage sensor for sensing and amplifying the output voltage of the differential amplifier to control the flow of current applied to the component under measurement. A device to be protected in an automatic measurement inspection device for a printed circuit board. 제1항에 있어서, 상기 전류제어부는 상기 정전원부(1)에서 출력되는 전류를 제한하는 저항(R1)과, 상기 저항(R1)을 통해서 정전원부(1)의 출력전류를 반전단자(-)에서 받음과 동시에 일측이 접지되고 타측이 비반전단자(+)에 접속된 저항(R2)에 접속되면서 상기 저항(R1)에 인가되는 전압을 증폭하는 제1의 연산증폭기(OP1)와, 증폭저항(R3)과, 상기 연산증폭기(OP1)의 출력전류를 저항(R21,R22)을 통해 받아서, 전류의 흐름방향을 제어하는 브리지정류회로(2a)로 이루어진 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 자동측정 검사장치에 있어서의 피측정부품 보호장치.According to claim 1, wherein the current control unit is a resistor (R1) for limiting the current output from the electrostatic source unit 1 and the output current of the electrostatic source unit 1 through the resistor (R1) inverting terminal (-) And a first operational amplifier OP1 for amplifying the voltage applied to the resistor R1 while being connected to a resistor R2 connected to a non-inverting terminal (+) on one side of which is grounded and the other side thereof, and an amplifying resistor. And a bridge rectifier circuit 2a for receiving the output current of the operational amplifier OP1 through the resistors R21 and R22 and controlling the flow direction of the current. Device to be protected in the inspection device. 제1항에 있어서, 상기 전류제어부(2)로부터 출력되는 전류를 제한하는 저항(R4)과, 상기 저항(R4)에 걸리는 전압을 비반전단자(-)에서 받음과 동시에 일측이 접지되고 타측이 비반전단자(+)에 접속된 저항(R5)접속되어서 상기 저항(R4)에 걸리는 전압을 증폭하는 제2의 연산증폭기(OP2)와, 풀업저항(R6)으로 이루어진 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 자동측정 검사장치에 있어서의 피측정부품 보호장치.According to claim 1, wherein the resistor (R4) for limiting the current output from the current control unit (2) and the voltage applied to the resistor (R4) at the same time the one side is grounded and the other side A printed circuit board comprising a second operational amplifier OP2 connected to a resistor R5 connected to the non-inverting terminal + to amplify a voltage applied to the resistor R4, and a pullup resistor R6. Protection device to be measured in automatic measuring and inspection device. 제1항에 있어서, 상기 전류선택부는 상기 반전부(3)의 출력전압에 따라 피측정부품(Rx)에 적합한 전류가 흐를 수 있도록 전류를 선택하는 것으로써, 이 전류선택부(4)는 상기 반전부(3)의 제2의 연산증폭기(OP2)에서 출력되는 전류를 선택하도록 병렬로 접속된 저항(R7~R11)과, 상기 저항(R7~R11)에 각각 접속된 스위치(S1~S5)로 이루어진 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 자동측정 검사장치에 있어서의 피측정부품 보호장치.2. The current selector (4) according to claim 1, wherein the current selector selects a current so that a current suitable for the component (Rx) can flow according to the output voltage of the inverter (3). Resistor R7 to R11 connected in parallel to select the current output from the second operational amplifier OP2 of the inverting section 3, and switches S1 to S5 connected to the resistors R7 to R11, respectively. A device to be measured protected in an automatic measurement inspection device for a printed circuit board, characterized in that consisting of. 제1항에 있어서, 상기 전류버퍼(5)는 반전단자(-)에 상기 전류선택부(4)의 스위치(S1~S5)에 일측이 접속되어 피측정부품(Rx)에 공급되는 전류를 증폭하는 제3의 증폭기(OP3)와, 일측이 접지되고 타측이 상기 제3의 증폭기(OP3)의 비반전단자(+)에 접속되는 저항(R12)으로 이루어진 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 자동측정 검사장치에 있어서의 피측정부품 보호장치.The current buffer 5 of claim 1, wherein one side of the current buffer 5 is connected to the inverting terminal (-) to the switches S1 to S5 of the current selection unit 4 to amplify the current supplied to the component Rx to be measured. A third amplifier OP3 and a resistor R12 connected to a non-inverting terminal (+) of the third amplifier OP3, one side of which is grounded and the other of which is an automatic measurement of the printed circuit board. Device to be protected in the inspection device. 제1항에 있어서, 상기 차동증폭부(7)는 상기 전류선택부(4)의 스위치(S1~S5)에 일측이 접속되어 전류를 제한하는 저항(R13)과, 상기 전류버퍼(5)의 출력단에 일측이 접속되고 타측이 접지저항(R16)과 병렬된 저항(R14)과, 상기 저항(R13)을 통해서 피측정부품(Rx)의 일측을 경유해서 전류선택부(4)에서 선택된 전류를 반전단자(-)에서 받음과 동시에, 상기 저항(R14)을 통해서 피측정부품(Rx)의 타측을 경유해서 전류버퍼(4)에서 출력되는 전류를 비반전단자(+)에서 받아서 이들의 차이값을 증폭하는 제4의 연산증폭기(OP4)로 이루어진 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 자동측정 검사장치에 있어서의 피측정부품 보호장치.2. The differential amplifier 7 according to claim 1, wherein one side of the differential amplifier 7 is connected to the switches S1 to S5 of the current selector 4 to limit the current, and the current buffer 5 One side is connected to the output terminal and the other side is connected to the grounding resistor R16 in parallel with the resistor R14, and through the resistor R13, the current selected by the current selecting section 4 via one side of the component under test Rx. In addition to receiving at the inverting terminal (-), the current output from the current buffer 4 is received from the non-inverting terminal (+) via the resistor R14 via the other side of the component Rx to be measured, and the difference value thereof. And a fourth operational amplifier (OP4) for amplifying the circuit. 제1항에 있어서, 상기 차동증폭부(7)의 제4의 연산증폭기(OP4)의 출력신호를 제한하는 저항(R18)과, 상기 저항(R18)을 통해서 상기 제4의 연산증폭기(OP4)의 출력신호를 반전단자(-)에서 받아 증폭하는 제5의 연산증폭기(OP5)와, 일측이 상기 제5의 연산증폭기(OP5)의 비반전단자(+)에 접속되며 타측이 접지되어 있는 저항(R20)과, 상기 제5의 연산증폭기(OP5) 및 저항(R18)에 일측이 접속되고 타측이 DC 전원에 접속된 저항(R17)으로 이루어진 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 자동측정 검사장치에 있어서의 피측정부품 보호장치.The fourth operational amplifier OP4 of claim 1, wherein the resistor R18 restricts an output signal of the fourth operational amplifier OP4 of the differential amplifier 7, and the fourth operational amplifier OP4 through the resistor R18. A fifth operational amplifier OP5 for receiving and amplifying the output signal at the inverting terminal (-), and one end of which is connected to the non-inverting terminal (+) of the fifth operational amplifier OP5, and the other side of which is grounded (R20) and a resistor (R17) connected at one side to the fifth operational amplifier (OP5) and a resistor (R18) and connected at the other side to a DC power supply. Device to be protected in measurement.
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