KR0160925B1 - 광섬유 스트레인 분포 측정용 펄스광과 프로브광의 비트 주파수 안정화장치 - Google Patents

광섬유 스트레인 분포 측정용 펄스광과 프로브광의 비트 주파수 안정화장치 Download PDF

Info

Publication number
KR0160925B1
KR0160925B1 KR1019950034675A KR19950034675A KR0160925B1 KR 0160925 B1 KR0160925 B1 KR 0160925B1 KR 1019950034675 A KR1019950034675 A KR 1019950034675A KR 19950034675 A KR19950034675 A KR 19950034675A KR 0160925 B1 KR0160925 B1 KR 0160925B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
frequency
signal
laser diode
light
probe light
Prior art date
Application number
KR1019950034675A
Other languages
English (en)
Other versions
KR970022375A (ko
Inventor
정민호
무라카미 토모히로
송석용
김기열
이호범
조진기
조영기
Original Assignee
이준
한국전기통신공사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 이준, 한국전기통신공사 filed Critical 이준
Priority to KR1019950034675A priority Critical patent/KR0160925B1/ko
Priority to US08/728,441 priority patent/US5751413A/en
Publication of KR970022375A publication Critical patent/KR970022375A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0160925B1 publication Critical patent/KR0160925B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00Measuring force or stress, in general
    • G01L1/24Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet
    • G01L1/242Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet the material being an optical fibre
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/353Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells influencing the transmission properties of an optical fibre
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • H01S5/06226Modulation at ultra-high frequencies
    • H01S5/0623Modulation at ultra-high frequencies using the beating between two closely spaced optical frequencies, i.e. heterodyne mixing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/0683Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
    • H01S5/06837Stabilising otherwise than by an applied electric field or current, e.g. by controlling the temperature
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/0683Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
    • H01S5/0687Stabilising the frequency of the laser

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

본 발명은 스트레인 분포를 측정하는 장치에 사용되는 펄스광용 레이저 다디오드와 프로브광용 레이저 다이오드의 광출력 주파수가 외부영향에 의해 변화되는 것을 레이저 다이오드의 주입 전류를 제어하므로써 레이저 다이오드의 광출력 주파수를 고도로 안정화시키는 장치에 관한 것으로, 레이저 다이오드의 온도, 전류를 직접 제어하는 부분과 레이저 다이오드의 주파수 변화량을 검출하여 그 변화량에 해당되는 신호를 발생하여 이 신호를 레이저 다이오드의 주입 전류 신호로 사용하기 위하여 온도 전류 제어회로로 귀한시키는 부분으로 구성된다.

Description

광섬유 스트레인 분포 측정용 펄스광과 프로브광의 비트 주파수 안정화장치
제1도는 본 발명에 따른 비트 주파수 안정화장치의 구성도.
제2a도는 제1도에 도시된 펄스광용 분배형 피드백 레이저다이오드의 주파수 특성도.
제2b도는 제1도에 도시된 프로브광용 분배형 피드백 레이저다이오드의 주파수 특성도.
제2c도는 제1도에 도시돤 광 검출기의 주파수 특성도.
제2d도는 제1도에 도시된 국부 발진기의 주파수 특성도.
제2e도는 제1도에 도시된 믹서의 주파수 특성도.
제2f도는 제1도에 도시된 주파수 판별기의 주파수 특성도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
11, 12 : 온도 전류 제어회로
13, 14 : 분배형 피드백 레이저다이오드(DFB LD)
15 : 편광 유지커플러 16 : 광검출기
17 : 증폭기 18 : 국부 발진기
19 : 믹서 20 : 주파수 판별기
21 : 비례 적분회로
본 발명은 광섬유에 곤한 것으로, 특히 광섬유에 인가되는 스트레인 분포를 측정하는 장치에서 펄스광과 프로브광을 생성하는 두 레이저다이오드의 비트 주파수를 안정화하는 장치에 관한 것이다.
광섬유는 빛의 진행을 가는 선에 제한하여 유리층으로 된 섬유로 감싼 것으로, 빛은 유리와의 경계면에서 전반사 또는 굴절하여 축 방향으로 진행한다. 광섬유는 석영 유리를 기본 재료로 하여 높은 굴절률의 심을 낮은 굴절률 부분이 감싸고 있는데, 그 지름은 0.1 ∼ 0.2mm로서 피복을 하더라도 1mm 이하로 가능하다. 이 섬유의 장점은 동축 케이블에 비해 전송 손실이 아주 작고 전자계의 유도를 받지 않고 부피가 작고 석영을 사용하므로 자원이 풍부하고 광대역이라는 점이다.
따라서 근래에 들어 광섬유는 데이타 통신용 전용회선으로 각광 받고 있으며 광 모뎀도 등장하게 되었다.
광섬유에 인가되는 스트레인 분포의 측정을 위해서는 측정할 광섬유의 양단에서 펄스광과 프로브광을 입사하여야 한다. 이렇게 펄스광과 프로브광을 광섬유의 양단에서 입사하면 펄스광에 의해 광섬유의 고유 브릴리언 주파수 시프트만큼 주파수가 이동한 후방 산란광이 펄스광의 진행방향과 반대의 방향으로 진행한다. 즉 프로브광의 진행방향과 동일한 방향으로 진행하게 되며 이로 인해 후방 산란광은 광 증폭된다. 여기서 후방 산란광이 프로브광과 상호 작용하여 광 증폭되기 위해서는 프로브광의 광주파수가 후방 산란광의 광주파수와 일치하여야 한다.
펄스광에 의한 후방 산란광의 광주파수 천이량은 광섬유의 고유 브릴리언 주파수 시프트와 광섬유에 인가되는 스트레인의 크기에 의존하며 항상 펄스광의 광주파수보다 높게 된다. 따라서 프로브광의 광주파수를 펄스광의 광주파수 보다 브릴리언 주파수 시프트 만큼 높게 하면 스트레인이 없는 상태에서 후방 산란광과 프로브광은 상호 작용에 의해 광 증폭을 일으키게 된다.
광섬유에 인가되는 스트레인의 크기를 정확히 측정하기 위해서는 펄스광과 프로브광의 비트 주파수(차 주파수)를 정밀하게 제어할 필요가 있다. 즉 펄스광과 프로브광을 생성하는 레이저 다이오드의 출력 주파수를 안정화시켜야 한다.
그러나 레이저 다이오드의 출력 주파수는 주입 전류와 주위 온도에 의하여 크게 영향을 받으므로 제1도에 도시된 온도, 전류제어회로만으로는 광섬유의 스트레인을 정확하게 측정하기 위한 비트 주파수의 안정도를 수 MHz 이내로 제어하기가 어려운 문제점이 있다.
따라서 본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 그 목적은 광섬유에 인가되는 스트레인 분포의 측정을 위하여 광섬유에 입사되는 펄스광과 프로브광을 생성하는 레이저 다이오드의 출력 주파수를 안정화하기 위한 광섬유 스트레인 분포 측정용 펄스광과 프로브광의 비트 주파수 안정화장치를 제공하는데 있다.
상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 스트레인 분포 측정용 광섬유에 인가되는 제1중심 주파수를 갖는 펄스광을 발생하기 위한 펄스광용 분배형 피드백 레이저 다이오드와, 상기 광섬유에 인가되는 상기 제1중심 주파수보다 브릴리언 주파수 시프트만큼 높은 제2중심 주파수를 갖는 프로브광을 발생하기 위한 프로브광용 분배형 피드백 레이저 다이오드와, 상기 펄스광용 분배형 피드백 레이저 다이오드가 제1중심 주파수를 가지도록 상기 펄스광용 분배형 피드백 레이저 다이오드의 구동전류 및 온도를 설정 제어하기 위한 제1온도 전류 제어회로와, 상기 프로브광용 분배형 피드백 레이저 다이오드가 제2중심주파수를 가지도록 상기 프로브광용 분배형 피드백 레이저 다이오드의 구동전류 및 온도를 설정 제어하기 위한 제2온도 전류 제어회로와, 상기 펄스광용 분배형 피드백 레이저 다이오드의 출려과 프로브광용 분배형 피드백 레이저 다이오드의 출력을 합성하여 펄스광과 프로브광의 차주파수를 갖는 비트 광신호를 발생하기 위한 편광 유지커플러와, 상기 편광 유지커플러의 합성 광신호를 전기신호로 변환하기 위한 광검출기와, 상기 광검출기의 전기신호를 증폭하기 위한 증폭기와, 상기 증폭기를 통하여 증폭된 전기신호와 혼합될 상기 광검출기의 출력주파수부다 1GHz 높은 발진주파수의 신호를 발생하기 위한 국부 발진기와, 상기 증폭기의 증폭신호와 국부 발진기의 발진신호를 혼합하여 상기 증폭기의 증폭신호와 국부발진기의 발진신호의 차주파수를 갖는 신호를 발생하기 위한 믹서와, 상기 믹서의 출력신호와 중심주파수를 비교하고 비교결과에 따라 출력전압을 제어하는 주파수 판별기와, 상기 주파수 판별기의 출력전압을 적분하여 비례전류를 상기 제2온도 전류 제어회로로 부귀환하기 위한 비례 적분회로로 구성되는 것을 특징으로 하는 광섬유 스트레인 분포 측정용 펄스광과 프로브광의 비트 주파수 안정화장치를 제공한다.
이하 본 발명을 첨부도면을 참조하여 상세히 설명한다.
제1도는 본 발명에 따른 비트 주파수 안정화장치의 구성도이고, 제2a도는 제1도에 도시된 펄스광용 분배형 피드백 레이저다이오드의 주파수 특성도이고, 제2b도는 제1도에 도시된 프로브광용 분배형 패드백 레이저다이오드의 주파수 특성도이고, 제2c도는 제1도에 도시된 광검출기의 주파수 특성도이고, 제2d도는 제1도에 도시된 국부 발진기의 주파수 특성도이고, 제2e도는 제1도에 도시된 믹서의 주파수 특성도이고, 제2f도는 제1도에 도시된 주파수 판별기의 주파수 특성도이다.
본 발명에 따른 광섬유 스트레인 분포 측정용 펄스광과 프로브광의 비트 주파수 안정화장치는 스트레인 분포 측정용 광섬유에 인가되는 제1중심주파수(f1)를 갖는 펄스광을 발생하기 위한 펄스광용 분배형 피드백 레이저 다이오드(13, Distributed Feedback Laser Diod, 이하 DFB LD라 함)와, 상기 광섬유에 인가되는 상기 제1중심주파수(f1) 보다 브릴리언 주파수 시프트(fB)만큼 높은 제2중심주파수(f2)를 갖는 프로브광을 발생하기 위한 프로브광용 DFB LD(14)와, 상기 펄스광용 DFB LD(13)가 제1중심주파수(f1)를 가지도록 상기 플스광용 DFB LD(13)의 구동전류 및 온도를 설정 제어하기 위한 제1온도 전류 제어회로(11)와,
상기 프로브광용 DFB LD(14)가 제2중심주파수(f2)를 가지도록 상기 프롭광용 DFB LD(14)의 구동전류 및 온도를 설정 제어하기 위한 제2온도 전류 제어회로(12)와, 상기 펄스광용 DFB LD(13)의 출력과 프로브광용 DFB LD(14)의 출력을 합성하여 상기 펄스광의 제1중심주파수(f1)와 상기 프로브광의 제2중심주파수(f2)의 차주파수를 갖는 광신호를 발생하기 위한 편광 유지(Phase Modulation, 이하 PM라 함) 커플러(15)와, 상기 PM 커플러(17)의 합성 광신호를 전기신호로 변환하기 이한 광검출기(16)의 전기신호를 증폭하기 위한 증폭기(17)와, 상기 증폭기(17)를 통하여 증폭된 전기신호와 혼합될 상기 광검출기(16)의 출력주파수보다 1GHz 높은 발진주파수의 신호를 발생하기 위한 국부 발진기(18)와, 상기 증폭기(17)의 증폭신호와 국부 발진기(18)의 발진신호를 혼합하여 상기 증폭기(17)의 증폭신호와 국부발진기(18)의 발진신호의 차주파수를 갖는 신호를 발생하기 위한 믹서(19)와, 상기 믹서(19)의 출력신호와 중심주파수를 비교하고 비교결과에 따라 출력전압을 제어하는 주파수 판별기(20)와, 상기 주파수 판별기(20)의 출력전압을 적분하여 비례전류를 상기 제2온도 전류 제어회로(12)로 부귀환하기 위한 비례 적분회로(21)로 구성된다.
상기와 같이 구성된 본 발명의 작용을 이하에 설명하면 다음과 같다.
먼저 펄스광용 및 프로브광용 DFB LD(13,14)로 부터 출력광을 얻기 위하여 제1 및 제2온도 전류 제어회로(11,12)에 의해 구동전류 및 온도는 설정된다. 이때 온도 및 전류는 기 측정된 프로브광용 DFB LD(14)의 광주파수가 펄스광용 DFB LD(13)의 광주파수 보다 측정용 광섬유의 브릴리언 주파수시프트 10.915 GHz 만큼 높도록 설정된다.
이때 펄스광용 DFB LD(13)에서 출력되는 광주파수의 특성은 제2도의 a에 도시된 바와 같이 중심주파수가 f1(=193THz), 선폭이 △f1가 되고 프로브광용 DFB LD(14)에서 출력되는 광주파수의 특성은 제2b도에 도시된 바와 같이 중심주파수가 f2=f1+10.915 GHz, 선폭이 △f2가 된다.
이렇게 얻어진 두개의 광출력신호는 PM 커플러(15)에 의해 합성된다.
그 후 상기 PM 커플러(15)의 합성신호는 광검출기(16)에 의해 전기신호로 변환된다.
즉 광대역 광검출기(16)에서 얻어지는 신호의 주파수는 두개의 DFB LD(13,14)의 비트 주파수가 되고 출력주파수의 파형은 제2도의 c와 같이 중심주파수 fB=10.915GHz, 선폭이 △f1+△f2가 된다.
이와 같이 비트주파수가 얻어지는 것은 커플러에서 두개의 광이 합파되는 과정에서 그 차주파수의 신호로 변환되기 때문이다.
결국 펄스광용 DFB LD(13)에서 출력되는 신호가 193THz의 높은 광주파수에서 10.915GHz의 낮은 주파수로 1차 변환된다. 그러나 이 신호의 주파수는 아직도 전기적 처리를 위해서는 높으므로 낮은 주파수로 변화시킬 필요가 있다.
그 후 상기 증폭기(17)의 신호는 국부발진기(18)에서 발생한 발진주파수의 신호와 믹서(19)에서 혼합되어 그 차신호가 중심주파수가 되는 얻어진다. 상기 국부발진기(18)에서 출력되는 주파수 파형은 제2도에 도시된 바와 같이 상기 광검출기(16)의 중심주파수보다 만큼 설정되어 있다.
즉 10.915GHz의 높은 주파수는 1GHz의 낮은 주파수로 변환된다.
그후 중심주파수 fD가 1GHz인 믹서(19)의 출력신호는 주파수 판별기에 입력된다.
상기 주파수 판별기(20)의 동작은 주파수 판별기(20) 고유의 중심주파수를 기준으로 하여 입력주파수가 일치하면 0볼트의 출력전압이, 입력신호의 중심주파수가 낮으면 차주파수에 비례하여 음전압이, 그리고 입력신호의 중심주파수가 높으면 그 차에 비례하여 양전압이 출력된다.
따라서 주파수 판별기(20)의 고유 중심주파수를 기준으로 주파수가 변화하는 입력신호가 주파수 판별기(20)에 입력되면 그 주파수 변화량에 비례하는 출력 전압이 주파수 판별기(20)에서 비례적분회로(21)에 입력되고 비례 적분식에 의해 변화량이 제1온도 전류 제어회로(11)로 부귀환되어 프로브광용 DFB LD(14)의 주입 전류를 조절하여 프로브광용 DFB LD(14)의 광출력 주파수를 안정화시키게 된다.
레이저 다이오드는 주입 전류의 변화에 따라 광출력 주파수가 변하는 특성이 있으므로 레이저 다이오드의 주입 전류를 조절하므로서 항상 안정된 광출력 주파수를 얻을 수 있다.
이하 최초에 설정된 레이저 다이오드의 광 출력 주파수가 외부 조건등에 의해 변화될 경우, 즉 비트주파수가 설정된 값을 벗어났을 경우 그 오차를 보정하여 설정치를 유지하여 레이저 다이오드의 광출력 주파수를 안정화시키는 방법을 설명한다.
최초에 펄스광용 및 프로브광용 DFB LD(13,14)의 온도 및 전류가 온도 전류제어회로의 설정에 의해 두개의 DFB LD(13,14)의 광출력 주파수차, 즉 광검출기(16)에서 출력되는 비트 주파수가 10.915GHz로 설정되었으나 외부의 영향으로 인하여 레이저 다이오드의 광출력 주파수가 10MHz정도 벗어났다고 하면 편광 유지커플러(15)를 통하여 합파된 후 광검출기(16)에서 출력되는 비트주파수의 중심주파수는 10.925GHz가 된다.
따라서 10.925GHz의 광검출기(16)의 출력신호와 국부발진기(18)의 11.915GHz 출력신호가 믹서(19)에 혼합되면 두 입력 주파수의 차에 해당하는 1.010GHz 주파수 출력신호가 얻어진다.
그 후 상기 1.010GHz 신호가 주파수 판별기(20)에 입력되면 주파수 판별기(20)의 고유 중심주파수가 1GHz이므로 0.010GHz 만큼 높은 입력 주파수에 해당하는 양 출력전압이 얻어진다.
그 후 상기 변화량은 비례 적분회로(21)를 통하여 제2온도 전류 제어회로(12)로 귀환되고 그에 따라 레이저 다이오드의 주입전류가 높아지고 주입전류가 높아지면 광출력 주파수가 낮아지므로 최초의 설정된 비트주파수로 안정화하게 된다.
상기한 바와 같이 본 발명에 따른 광섬유 스트레인 분포 측정용 펄스광과 프로브광의 비트 주파수 안정화장치는 펄스광과 프로브광을 생성하는 두 레이저 다이오드의 주입 전류를 조절하므로써 항상 안정된 광 출력 주파수를 얻을 수 있으므로 광섬유에 인가되는 스트레인 분포의 측정을 용이하게 할 수 있도록 한다. 또한 본 발명은 계속적으로 비트 주파수의 변화를 감시하여 보정함으로써 대단히 안정된 레이저 다이오드의 광출력 주파수를 얻는 것이 가능하다.

Claims (1)

  1. 스트레인 분포 측정용 광섬유에 인가되는 제1중심 주파수를 갖는 펄스광을 발생하기 위한 펄스광용 분배형 피드백 레이저 다이오드와, 상기 광섬유에 인가되는 상기 제1중심 주파수보다 브릴리언 주파수 시프트만큼 높은 제2중심 주파수를 갖는 프로브광을 발생하기 위한 프로브광용 분배형 피드백 레이저 다이오드와, 상기 펄스광용 분배형 피드백 레이저 다이오드가 제1중심 주파수를 가지도록 상기 펄스광용 분배형 피드백 레이저 다이오드의 구동전류 및 온도를 설정 제어하기 위한 제1온도 전류 제어회로와, 상기 프로브광용 분배형 피드백 레이저 다이오드가 제2중심주파수를 가지도록 상기 프로브광용 분배형 피드백 레이저 다이오드의 구동전류 및 온도를 설정 제어하기 위한 제2온도 전류 제어회로와, 상기 펄스광용 분배형 피드백 레이저 다이오드의 출력과 프로브광용 분배형 피드백 레이저 다이오드의 출력을 합성하여 펄스광과 프로브광의 차주파수를 갖는 비트 광신호를 발생하기 위한 편광 유지커플러와, 상기 편광 유지커플러의 합성 광신호를 전기신호로 변환하기 위한 광검출기와, 상기 광검출기의 전기신호를 증폭하기 위한 증폭기와, 상기 증폭기를 통하여 증폭된 전기신호와 혼합될 상기 광검출기의 출력주파수부다 1GHz 높은 발진주파수의 신호를 발생하기 위한 국부 발진기와, 상기 증폭기의 증폭신호와 국부 발진기의 발진신호를 혼합하여 상기 증폭기의 증폭신호와 국부발진기의 발진신호의 차주파수를 갖는 신호를 발생하기 위한 믹서와, 상기 믹서의 출력신호와 중심주파수를 비교하고 비교결과에 따라 출력전압을 제어하는 주파수 판별기와, 상기 주파수 판별기의 출력전압을 적분하여 비례전류를 상기 제2온도 전류 제어회로로 부귀환하기 위한 비례 적분회로로 구성되는 것을 특징으로 하는 광섬유 스트레인 분포 측정용 펄스광과 프로브광의 비트 주파수 안정화장치.
KR1019950034675A 1995-10-10 1995-10-10 광섬유 스트레인 분포 측정용 펄스광과 프로브광의 비트 주파수 안정화장치 KR0160925B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950034675A KR0160925B1 (ko) 1995-10-10 1995-10-10 광섬유 스트레인 분포 측정용 펄스광과 프로브광의 비트 주파수 안정화장치
US08/728,441 US5751413A (en) 1995-10-10 1996-10-10 Beat frequency stabilizing apparatus of pulse light and probe light for measuring strain distribution of optical fiber

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950034675A KR0160925B1 (ko) 1995-10-10 1995-10-10 광섬유 스트레인 분포 측정용 펄스광과 프로브광의 비트 주파수 안정화장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970022375A KR970022375A (ko) 1997-05-28
KR0160925B1 true KR0160925B1 (ko) 1998-12-15

Family

ID=19429703

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950034675A KR0160925B1 (ko) 1995-10-10 1995-10-10 광섬유 스트레인 분포 측정용 펄스광과 프로브광의 비트 주파수 안정화장치

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5751413A (ko)
KR (1) KR0160925B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100324798B1 (ko) * 2000-03-28 2002-02-20 이재승 고밀도 파장분할다중화 광통신 시스템의 광파장 제어 장치

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100291670B1 (ko) * 1999-03-13 2001-05-15 권문구 협대역 광섬유 커플러를 이용한 레이저 다이오드 출력광파장 안정화회로
US6917635B2 (en) * 2002-09-30 2005-07-12 Anthony Stanley Pruszenski, Jr. Producing radiation of a desired frequency with multiple sources
US7499151B2 (en) * 2006-06-05 2009-03-03 University Of Ottawa Distributed Brillouin sensor system based on DFB lasers using offset locking
US7548313B2 (en) * 2006-08-02 2009-06-16 Quang-Viet Nguyen Compact and rugged imaging Raman spectrograph
CN103759841A (zh) * 2014-01-23 2014-04-30 中国科学院半导体研究所 激光器频率稳定度测试装置
WO2017139873A1 (en) 2016-02-15 2017-08-24 Hyperion Sensors Inc. Optical sensing methods and systems for power applications, and the construction thereof
US10073006B2 (en) 2016-04-15 2018-09-11 Viavi Solutions Inc. Brillouin and rayleigh distributed sensor
US9983094B2 (en) 2016-09-09 2018-05-29 Viavi Solutions Inc. Temperature or strain distribution sensor comprising a coherent receiver to determine a temperature or a strain associated with a device under test
CA3107955A1 (en) 2017-08-01 2019-02-07 Hyperion Sensors Inc. Optical sensing methods and systems for transformers, and the construction thereof
CN110187216B (zh) * 2019-06-28 2024-09-20 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司广州局海口分局 一种海底电缆载流量岸上模拟实验装置及方法
US11329722B2 (en) 2020-03-27 2022-05-10 Relative Dynamics Incorporated Optical terminals

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4856011A (en) * 1985-01-30 1989-08-08 Ricoh Company, Ltd. Semiconductor laser control circuit
JP3500582B2 (ja) * 1992-11-05 2004-02-23 富士通株式会社 光周波数基準光源発生装置
JP3112595B2 (ja) * 1993-03-17 2000-11-27 安藤電気株式会社 光周波数シフタを用いる光ファイバ歪位置測定装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100324798B1 (ko) * 2000-03-28 2002-02-20 이재승 고밀도 파장분할다중화 광통신 시스템의 광파장 제어 장치

Also Published As

Publication number Publication date
US5751413A (en) 1998-05-12
KR970022375A (ko) 1997-05-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Kourogi et al. Wide-span optical frequency comb generator for accurate optical frequency difference measurement
US6891149B1 (en) Optical phase detector
KR0160925B1 (ko) 광섬유 스트레인 분포 측정용 펄스광과 프로브광의 비트 주파수 안정화장치
JPH05275786A (ja) イン・ファイバー格子共振器に周波数ロックした光信号源
EP0500357A2 (en) Optical fiber dispersion-compensating device
CN107490822B (zh) 光器件、可调光源和光发送器
US5164954A (en) Wavelength-tunable traveling-wave semiconductor ring-laser
EP0222810B1 (en) Optical homodyne detection
EP3999837A1 (en) Chirped laser dispersion spectrometer and method
US6108465A (en) Optical pulse generator
CN111490438B (zh) 一种可调谐微波信号产生系统及方法
JP2018032822A (ja) 周波数安定化レーザ
US4979178A (en) Tunable narrow-linewidth semiconductor laser
US5305087A (en) Optical ring resonator sensor
JPH06101604B2 (ja) 複数の光源周波数の安定化方法
CN107655506B (zh) 一种基于微波混频技术的光纤光栅传感解调装置
Olsson et al. Relation between chirp and linewidth reduction in external Bragg reflector semiconductor lasers
EP0060033A1 (en) Improvements in or relating to laser light sources
Liu et al. Highly‐Linear and Wavelength‐Tunable Frequency‐Modulated Continuous‐Wave Hybrid‐Integrated Laser
JP3165193B2 (ja) 狭線幅周波数安定化光源
US4765738A (en) Method and apparatus of measuring frequency response in an optical receiving system
Sun et al. Inter-modal laser based RF output stabilization using forced SILPLL technique
Ohtsu et al. A simple interferometric method for monitoring mode hopping in tunable external-cavity semiconductor lasers
KR102620196B1 (ko) 발진할 레이저의 주파수 특성을 안정화시킬 수 있는 레이저 발진 장치
JPS61102081A (ja) 半導体レ−ザの周波数安定化方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120807

Year of fee payment: 15

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130805

Year of fee payment: 16

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140804

Year of fee payment: 17

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150804

Year of fee payment: 18

EXPY Expiration of term